JP3469369B2 - 電気計測器 - Google Patents
電気計測器Info
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＣＰＵ（中央処理装
置）を備えた演算制御部等の微弱電流動作部から電源を
引き離すことのできる電気計測器に関する。 【０００２】 【従来の技術】従来、実装基板等の良否を判定する場
合、インサーキットテスタ等の計測器を用いて、被測定
物の電気的測定を行なっている。その際、抵抗値等の真
値を直接測定することができない。何故なら、図６に示
すように実際の測定値は電源周波数の影響を受け、求め
るべき真値に電源周波数がノイズとして乗った状態の波
形となって変化しているからである。このような問題は
高抵抗測定器或いは高入力インピダンス測定器を使用す
る場合等にも同様に起きる。そこで、電源周波数を検出
するため、図７に示すような電源周波数検出回路を用い
ている。図中、１０が電源周波数検出回路、１２がその
商用交流電源、１４が抵抗、１６がサージアブソーバ、
１８がダイオード、２０が発光ダイオード２２と受光ト
ランジスタ２４とからなるフォトカプラである。なお、
フォトカプラ２０を用いるのは電源１２の側とＣＰＵを
備えた演算制御部２６等の微弱電流動作部の側とを絶縁
するためである。 【０００３】このような電源周波数検出回路１０を用い
ると、電源電圧を抵抗１４で発光ダイオード２２に印加
できる電圧レベルまで制限し、サージアブソーバ１６で
電源に含まれるノイズを吸収し、ダイオード１８によっ
て電源周波数の一周期の半波分を発光ダイオード２２に
印加して受光トランジスタ２４に伝達できる。すると、
電源周波数検出回路１０の出力として、図８に示すよう
なパルス波形が発生するので、Ａ−Ｄコンバータ２８で
アナログ・デジタル変換した後、演算制御部２６で
“Ｈ”の状態を読み取る。その際、電源周波数が６０Ｈ
ｚか５０Ｈｚかによって１周期に相当するＴの時間が異
なり、例えば６０Ｈｚの場合にはＴが１６．６ｍｓ、５
０Ｈｚの場合には２０ｍｓとなるので、演算制御部２６
で電源周波数を判定できる。なお、演算制御部２６に取
り込む電圧は低電圧例えば５Ｖに落す。そして、判定し
た電源周波数に基づき被測定物に対し、図９に示すよう
に一周期分の時間内をΔｔの時間毎にサンプリングし
て、それ等のＮ回の測定値を平均化すると真値が求ま
る。尤も、電源周波数が６０Ｈｚ或いは５０Ｈｚの場合
には測定値をアナログ−デジタル変換するＡ−Ｄコンバ
ータに積分形のものを使用すれば、６０Ｈｚでは６周
期、５０Ｈｚでは５周期に当る１００ｍｓ間の測定信号
を積分することにより、先に電源周波数を求めることな
く真値を求めることができる。但し、この方法では測定
時間が１００ｍｓと長くなり過ぎる。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな電源周波数検出回路１０を用いると、ＣＰＵを備え
た演算制御部２６等の微弱電流動作部の近くに１００Ｖ
等の商用交流電源１２を引き込まなければならず、微弱
電流動作部が電源ノイズの影響を受けて誤動作し易くな
る。しかも、専用の電源周波数検出回路１０を備えるこ
とにより、製品が高価になる。又、電源周波数検出不必
要型のものでは測定時間が長くなり過ぎる。 【０００５】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、ＣＰＵを備えた演算制御部等の
微弱電流動作部が電源ノイズの影響を受け難く、製品も
安価で、測定時間の短い電気計測器を提供することを課
題とする。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の手段を、本発明を明示する図１を用いて説明する。こ
の電気計測器はその前段に、同一の被測定物に付き、任
意の時点、及びその任意時点から８．３ｍｓ後、１０ｍ
ｓ後、１６．６ｍｓ後の同種の各電気値を測定する測定
手段４０を備えている。 【０００７】そして、中段にその任意時点の測定値と
８．３ｍｓ後の測定値との平均値を算出し、更に８．３
ｍｓ後の測定値と１６．６ｍｓ後の測定値との平均値を
算出する平均値算出手段４２と、それ等の両平均値が等
しいか判定する平均値比較手段４４とを備え、後段に両
平均値が等しい時、その平均値を真値と決定し、両平均
値が異なるとき、任意時点の測定値と１０ｍｓ後の測定
値との平均値を算出して、その平均値を真値と決定する
真値決定手段４６とを備えている。 【０００８】 【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づいて、本発
明の実施の形態を説明する。図２は本発明を適用したイ
ンサーキットテスタの測定時における機能構成を示すブ
ロック図である。図中、３０が演算制御部、３２が計測
部、３４がスキャナ、３６がＡ−Ｄコンバータ、３８が
被測定物である。この演算制御部３０は測定時に計測部
３２、スキャナ３４、Ａ−Ｄコンバータ３６等にそれぞ
れ制御信号を与えて測定を制御し、演算を実施する部分
であり、ＣＰＵ、ＲＯＭ（読取り専用メモリ）、ＲＡＭ
（読取り書込み可能メモリ）等を備えている。 【０００９】又、計測部３２はスキャナ３４を介して被
測定物３８に定電圧を印加し、或いは定電流を流す等し
て種々の電気的測定を行なう部分であり、定電圧源、定
電流源等を備えている。又、スキャナ３４は多数の被測
定物３８の測定に当り、計測部３２と多数の被測定物３
８を接続する測定用の電線を共通化し、順次被測定物３
８と切り換えて測定を行なう装置であり、多数のリレー
を備えている。Ａ−Ｄコンバータ３６は計測部３２で測
定したアナログ値をデジタル値に変換して演算制御部３
０に与える装置である。因みに、被測定物３８は抵抗、
コンデンサ、コイル等である。 【００１０】次に、インサーキットテスタの測定時にお
ける動作を説明する。図３は演算制御部３０に備えたＲ
ＡＭ或いはＲＯＭ中に格納する真値決定処理プログラム
による動作を示すＰ１〜Ｐ１１のステップからなるフロ
ーチャートである。測定に当っては、スキャナ３４の各
測定用支線に接続されたプローブピン（図示なし）の先
端を多数の各被測定物３８の指定箇所にそれぞれ接触す
る。そして、プログラムによる処理を開始し、測定を実
施しようとしている一つの被測定物３８につき、先ずＰ
１で任意の時点ｔ0 の電気的値Ｍ1 を測定する。その
際、演算制御部３０により計測部３２で発生した定電圧
値Ｖと測定した電流値Ｉから例えば抵抗値ＲをＲ＝Ｖ／
Ｉの式より算出する。次にＰ２へ行き、同一の被測定物
３８につき、その任意時点ｔ0 から８．３ｍｓ後の同種
の電気的値Ｍ2 を測定する。 【００１１】そして、更にＰ３へ行き、同様に測定して
任意時点ｔ0 から１０ｍｓ後の測定値Ｍ3 を得る。又、
Ｐ４へ行き、任意時点ｔ0 から１６．６ｍｓ後の測定値
Ｍ4を得る。このように、任意時点ｔ0 から８．３ｍ
ｓ、１０ｍｓ、１６．６ｍｓ後の各測定値Ｍ2 、Ｍ3 、
Ｍ4 を得るのは、電源周波数が６０Ｈｚの場合に一周期
が１６．６ｍｓ、半周期が８．３ｍｓであり、５０Ｈｚ
の場合に一周期が２０ｍｓ、半周期が１０ｍｓであるこ
とを考慮したからである。そこで、図４により時間ｔの
経過に従って測定値Ｍをつらねた波形を用い、各測定時
点ｔ0 、ｔ0 ＋８．３ｍｓ、ｔ0 ＋１０ｍｓ、ｔ0 ＋１
６．６ｍｓと各測定値Ｍ1 、Ｍ2 、Ｍ3 、Ｍ4 との対応
関係を示しておく。なお、がｔ0 、がｔ0 ＋８．３
ｍｓ、がｔ0 ＋１０ｍｓ、がｔ0 ＋１６．６ｍｓの
各時点である。 【００１２】次にＰ５へ行き、任意時点ｔ0 の測定値Ｍ
1 と任意時点ｔ0 より８．３ｍｓ後の測定値Ｍ2 とから
それ等の平均値Ｍ12をＭ12＝（Ｍ1 ＋Ｍ2 ）／２の式よ
り算出する。次にＰ６へ行き、任意時点ｔ0 より８．３
ｍｓ後の測定値Ｍ2 と任意時点ｔ0 より１６．６ｍｓ後
の測定値Ｍ4 とからそれ等の平均値Ｍ24をＭ24＝（Ｍ2
＋Ｍ4 ）／２の式より算出する。次にＰ７へ行き、それ
等の両平均値Ｍ12、Ｍ24が等しいか判定する。 【００１３】すると、図５に示すように測定値Ｍ1 とＭ
4 が等しい場合、電源周波数は６０Ｈｚであり、ＹＥｓ
と判定される。そこで、Ｐ８へ行き、電源周波数は６０
Ｈｚと決定する。次にＰ９へ行き、先のステップＰ５で
算出した平均値Ｍ12を真値Ｍ0 と決定する。なお、平均
値Ｍ24を真値Ｍ0 と決定してもよい。ＮＯの場合、電源
周波数は５０Ｈｚであり、Ｐ10へ行き、電源周波数は５
０Ｈｚと決定する。次にＰ１１へ行き、任意時点ｔ0 の
測定値Ｍ1 と１0ｍｓ後の測定値Ｍ3 とからそれ等の平
均値Ｍ13をＭ13＝（Ｍ1 ＋Ｍ3 ）／２の式より算出し、
その平均値Ｍ13を真値Ｍ0 と決定する。なお、必ずしも
Ｐ８、Ｐ１０のステップを設けて電源周波数を決定する
必要なく、Ｐ７の判定結果に基づいて、直接真値Ｍ0 を
求めてもよい。 【００1４】 【発明の効果】以上説明した本発明によれば、電源周波
数が分からなくても４回のサンプリングで真値を求める
ことができる。それ故、専用の電源周波数検出回路等を
必要とせず、ノイズ源たる商用交流電源を微弱電流動作
部から引き離すことが可能になり、測定精度が向上す
る。又、製品が安価となり、測定時間も短くなる。
置）を備えた演算制御部等の微弱電流動作部から電源を
引き離すことのできる電気計測器に関する。 【０００２】 【従来の技術】従来、実装基板等の良否を判定する場
合、インサーキットテスタ等の計測器を用いて、被測定
物の電気的測定を行なっている。その際、抵抗値等の真
値を直接測定することができない。何故なら、図６に示
すように実際の測定値は電源周波数の影響を受け、求め
るべき真値に電源周波数がノイズとして乗った状態の波
形となって変化しているからである。このような問題は
高抵抗測定器或いは高入力インピダンス測定器を使用す
る場合等にも同様に起きる。そこで、電源周波数を検出
するため、図７に示すような電源周波数検出回路を用い
ている。図中、１０が電源周波数検出回路、１２がその
商用交流電源、１４が抵抗、１６がサージアブソーバ、
１８がダイオード、２０が発光ダイオード２２と受光ト
ランジスタ２４とからなるフォトカプラである。なお、
フォトカプラ２０を用いるのは電源１２の側とＣＰＵを
備えた演算制御部２６等の微弱電流動作部の側とを絶縁
するためである。 【０００３】このような電源周波数検出回路１０を用い
ると、電源電圧を抵抗１４で発光ダイオード２２に印加
できる電圧レベルまで制限し、サージアブソーバ１６で
電源に含まれるノイズを吸収し、ダイオード１８によっ
て電源周波数の一周期の半波分を発光ダイオード２２に
印加して受光トランジスタ２４に伝達できる。すると、
電源周波数検出回路１０の出力として、図８に示すよう
なパルス波形が発生するので、Ａ−Ｄコンバータ２８で
アナログ・デジタル変換した後、演算制御部２６で
“Ｈ”の状態を読み取る。その際、電源周波数が６０Ｈ
ｚか５０Ｈｚかによって１周期に相当するＴの時間が異
なり、例えば６０Ｈｚの場合にはＴが１６．６ｍｓ、５
０Ｈｚの場合には２０ｍｓとなるので、演算制御部２６
で電源周波数を判定できる。なお、演算制御部２６に取
り込む電圧は低電圧例えば５Ｖに落す。そして、判定し
た電源周波数に基づき被測定物に対し、図９に示すよう
に一周期分の時間内をΔｔの時間毎にサンプリングし
て、それ等のＮ回の測定値を平均化すると真値が求ま
る。尤も、電源周波数が６０Ｈｚ或いは５０Ｈｚの場合
には測定値をアナログ−デジタル変換するＡ−Ｄコンバ
ータに積分形のものを使用すれば、６０Ｈｚでは６周
期、５０Ｈｚでは５周期に当る１００ｍｓ間の測定信号
を積分することにより、先に電源周波数を求めることな
く真値を求めることができる。但し、この方法では測定
時間が１００ｍｓと長くなり過ぎる。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな電源周波数検出回路１０を用いると、ＣＰＵを備え
た演算制御部２６等の微弱電流動作部の近くに１００Ｖ
等の商用交流電源１２を引き込まなければならず、微弱
電流動作部が電源ノイズの影響を受けて誤動作し易くな
る。しかも、専用の電源周波数検出回路１０を備えるこ
とにより、製品が高価になる。又、電源周波数検出不必
要型のものでは測定時間が長くなり過ぎる。 【０００５】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、ＣＰＵを備えた演算制御部等の
微弱電流動作部が電源ノイズの影響を受け難く、製品も
安価で、測定時間の短い電気計測器を提供することを課
題とする。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の手段を、本発明を明示する図１を用いて説明する。こ
の電気計測器はその前段に、同一の被測定物に付き、任
意の時点、及びその任意時点から８．３ｍｓ後、１０ｍ
ｓ後、１６．６ｍｓ後の同種の各電気値を測定する測定
手段４０を備えている。 【０００７】そして、中段にその任意時点の測定値と
８．３ｍｓ後の測定値との平均値を算出し、更に８．３
ｍｓ後の測定値と１６．６ｍｓ後の測定値との平均値を
算出する平均値算出手段４２と、それ等の両平均値が等
しいか判定する平均値比較手段４４とを備え、後段に両
平均値が等しい時、その平均値を真値と決定し、両平均
値が異なるとき、任意時点の測定値と１０ｍｓ後の測定
値との平均値を算出して、その平均値を真値と決定する
真値決定手段４６とを備えている。 【０００８】 【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づいて、本発
明の実施の形態を説明する。図２は本発明を適用したイ
ンサーキットテスタの測定時における機能構成を示すブ
ロック図である。図中、３０が演算制御部、３２が計測
部、３４がスキャナ、３６がＡ−Ｄコンバータ、３８が
被測定物である。この演算制御部３０は測定時に計測部
３２、スキャナ３４、Ａ−Ｄコンバータ３６等にそれぞ
れ制御信号を与えて測定を制御し、演算を実施する部分
であり、ＣＰＵ、ＲＯＭ（読取り専用メモリ）、ＲＡＭ
（読取り書込み可能メモリ）等を備えている。 【０００９】又、計測部３２はスキャナ３４を介して被
測定物３８に定電圧を印加し、或いは定電流を流す等し
て種々の電気的測定を行なう部分であり、定電圧源、定
電流源等を備えている。又、スキャナ３４は多数の被測
定物３８の測定に当り、計測部３２と多数の被測定物３
８を接続する測定用の電線を共通化し、順次被測定物３
８と切り換えて測定を行なう装置であり、多数のリレー
を備えている。Ａ−Ｄコンバータ３６は計測部３２で測
定したアナログ値をデジタル値に変換して演算制御部３
０に与える装置である。因みに、被測定物３８は抵抗、
コンデンサ、コイル等である。 【００１０】次に、インサーキットテスタの測定時にお
ける動作を説明する。図３は演算制御部３０に備えたＲ
ＡＭ或いはＲＯＭ中に格納する真値決定処理プログラム
による動作を示すＰ１〜Ｐ１１のステップからなるフロ
ーチャートである。測定に当っては、スキャナ３４の各
測定用支線に接続されたプローブピン（図示なし）の先
端を多数の各被測定物３８の指定箇所にそれぞれ接触す
る。そして、プログラムによる処理を開始し、測定を実
施しようとしている一つの被測定物３８につき、先ずＰ
１で任意の時点ｔ0 の電気的値Ｍ1 を測定する。その
際、演算制御部３０により計測部３２で発生した定電圧
値Ｖと測定した電流値Ｉから例えば抵抗値ＲをＲ＝Ｖ／
Ｉの式より算出する。次にＰ２へ行き、同一の被測定物
３８につき、その任意時点ｔ0 から８．３ｍｓ後の同種
の電気的値Ｍ2 を測定する。 【００１１】そして、更にＰ３へ行き、同様に測定して
任意時点ｔ0 から１０ｍｓ後の測定値Ｍ3 を得る。又、
Ｐ４へ行き、任意時点ｔ0 から１６．６ｍｓ後の測定値
Ｍ4を得る。このように、任意時点ｔ0 から８．３ｍ
ｓ、１０ｍｓ、１６．６ｍｓ後の各測定値Ｍ2 、Ｍ3 、
Ｍ4 を得るのは、電源周波数が６０Ｈｚの場合に一周期
が１６．６ｍｓ、半周期が８．３ｍｓであり、５０Ｈｚ
の場合に一周期が２０ｍｓ、半周期が１０ｍｓであるこ
とを考慮したからである。そこで、図４により時間ｔの
経過に従って測定値Ｍをつらねた波形を用い、各測定時
点ｔ0 、ｔ0 ＋８．３ｍｓ、ｔ0 ＋１０ｍｓ、ｔ0 ＋１
６．６ｍｓと各測定値Ｍ1 、Ｍ2 、Ｍ3 、Ｍ4 との対応
関係を示しておく。なお、がｔ0 、がｔ0 ＋８．３
ｍｓ、がｔ0 ＋１０ｍｓ、がｔ0 ＋１６．６ｍｓの
各時点である。 【００１２】次にＰ５へ行き、任意時点ｔ0 の測定値Ｍ
1 と任意時点ｔ0 より８．３ｍｓ後の測定値Ｍ2 とから
それ等の平均値Ｍ12をＭ12＝（Ｍ1 ＋Ｍ2 ）／２の式よ
り算出する。次にＰ６へ行き、任意時点ｔ0 より８．３
ｍｓ後の測定値Ｍ2 と任意時点ｔ0 より１６．６ｍｓ後
の測定値Ｍ4 とからそれ等の平均値Ｍ24をＭ24＝（Ｍ2
＋Ｍ4 ）／２の式より算出する。次にＰ７へ行き、それ
等の両平均値Ｍ12、Ｍ24が等しいか判定する。 【００１３】すると、図５に示すように測定値Ｍ1 とＭ
4 が等しい場合、電源周波数は６０Ｈｚであり、ＹＥｓ
と判定される。そこで、Ｐ８へ行き、電源周波数は６０
Ｈｚと決定する。次にＰ９へ行き、先のステップＰ５で
算出した平均値Ｍ12を真値Ｍ0 と決定する。なお、平均
値Ｍ24を真値Ｍ0 と決定してもよい。ＮＯの場合、電源
周波数は５０Ｈｚであり、Ｐ10へ行き、電源周波数は５
０Ｈｚと決定する。次にＰ１１へ行き、任意時点ｔ0 の
測定値Ｍ1 と１0ｍｓ後の測定値Ｍ3 とからそれ等の平
均値Ｍ13をＭ13＝（Ｍ1 ＋Ｍ3 ）／２の式より算出し、
その平均値Ｍ13を真値Ｍ0 と決定する。なお、必ずしも
Ｐ８、Ｐ１０のステップを設けて電源周波数を決定する
必要なく、Ｐ７の判定結果に基づいて、直接真値Ｍ0 を
求めてもよい。 【００1４】 【発明の効果】以上説明した本発明によれば、電源周波
数が分からなくても４回のサンプリングで真値を求める
ことができる。それ故、専用の電源周波数検出回路等を
必要とせず、ノイズ源たる商用交流電源を微弱電流動作
部から引き離すことが可能になり、測定精度が向上す
る。又、製品が安価となり、測定時間も短くなる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による電気計測器の構成を示すブロック
図である。 【図２】本発明を適用したインサーキットテスタの測定
時における機能構成を示すブロック図である。 【図３】同インサーキットテスタの演算制御部に備えた
メモリに格納する真値決定処理プログラムによる動作を
示すフローチャートである。 【図４】同インサーキットテスタによる測定値波形につ
き、各指定した測定時点と各測定値との対応関係を示す
図である。 【図５】同インサーキットテスタによる電源周波数が６
０Ｈｚの場合の測定値波形につき、任意時点の測定点値
と１６．６ｍｓ後の測定値とが等しいことを示す図であ
る。 【図６】電源周波数の影響を受けた実際の測定波形と求
めるべき測定値である真値との関係を示す図である。 【図７】従来の測定に必要な電源周波数を検出する専用
回路とその電源周波数を取り込む演算制御部との接続関
係を示す図である。 【図８】同電源周波数検出回路の出力波形を示す図であ
る。 【図９】一周期分の測定波形につき、真値を求めるため
に実施するサンプリング時点を示す図である。 【符号の説明】 ３０…演算制御部 ３２…計測部 ３４…スキャナ ３
６…Ａ−Ｄコンバータ３８…被測定物 ４０…測定手段
４２…平均値算出手段 ４４…平均値比較手段 ４６
…真値決定手段
図である。 【図２】本発明を適用したインサーキットテスタの測定
時における機能構成を示すブロック図である。 【図３】同インサーキットテスタの演算制御部に備えた
メモリに格納する真値決定処理プログラムによる動作を
示すフローチャートである。 【図４】同インサーキットテスタによる測定値波形につ
き、各指定した測定時点と各測定値との対応関係を示す
図である。 【図５】同インサーキットテスタによる電源周波数が６
０Ｈｚの場合の測定値波形につき、任意時点の測定点値
と１６．６ｍｓ後の測定値とが等しいことを示す図であ
る。 【図６】電源周波数の影響を受けた実際の測定波形と求
めるべき測定値である真値との関係を示す図である。 【図７】従来の測定に必要な電源周波数を検出する専用
回路とその電源周波数を取り込む演算制御部との接続関
係を示す図である。 【図８】同電源周波数検出回路の出力波形を示す図であ
る。 【図９】一周期分の測定波形につき、真値を求めるため
に実施するサンプリング時点を示す図である。 【符号の説明】 ３０…演算制御部 ３２…計測部 ３４…スキャナ ３
６…Ａ−Ｄコンバータ３８…被測定物 ４０…測定手段
４２…平均値算出手段 ４４…平均値比較手段 ４６
…真値決定手段
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 同一の被測定物につき、任意の時点、及
びその任意時点から８．３ｍｓ後、１０ｍｓ後、１６．
６ｍｓ後の同種の各電気値を測定する測定手段と、その
任意時点の測定値と８．３ｍｓ後の測定値との平均値を
算出し、更に８．３ｍｓ後の測定値と１６．６ｍｓ後の
測定値との平均値を算出する平均値算出手段と、それ等
の両平均値が等しいか判定する平均値比較手段と、その
両平均値が等しい時、平均値を真値と決定し、両平均値
が異なる時、任意時点の測定値と１０ｍｓ後の測定値と
の平均値を算出して、その平均値を真値と決定する真値
決定手段とを備えることを特徴とする電気計測器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21662495A JP3469369B2 (ja) | 1995-08-02 | 1995-08-02 | 電気計測器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21662495A JP3469369B2 (ja) | 1995-08-02 | 1995-08-02 | 電気計測器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0943280A JPH0943280A (ja) | 1997-02-14 |
| JP3469369B2 true JP3469369B2 (ja) | 2003-11-25 |
Family
ID=16691357
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21662495A Expired - Lifetime JP3469369B2 (ja) | 1995-08-02 | 1995-08-02 | 電気計測器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3469369B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015179012A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 日置電機株式会社 | 周波数検出装置および測定装置 |
-
1995
- 1995-08-02 JP JP21662495A patent/JP3469369B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0943280A (ja) | 1997-02-14 |
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