JP3390652B2 - 放電加工装置 - Google Patents
放電加工装置Info
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- JP3390652B2 JP3390652B2 JP04431398A JP4431398A JP3390652B2 JP 3390652 B2 JP3390652 B2 JP 3390652B2 JP 04431398 A JP04431398 A JP 04431398A JP 4431398 A JP4431398 A JP 4431398A JP 3390652 B2 JP3390652 B2 JP 3390652B2
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- electric discharge
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H1/00—Electrical discharge machining, i.e. removing metal with a series of rapidly recurring electrical discharges between an electrode and a workpiece in the presence of a fluid dielectric
- B23H1/02—Electric circuits specially adapted therefor, e.g. power supply, control, preventing short circuits or other abnormal discharges
- B23H1/022—Electric circuits specially adapted therefor, e.g. power supply, control, preventing short circuits or other abnormal discharges for shaping the discharge pulse train
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H2500/00—Holding and positioning of tool electrodes
- B23H2500/20—Methods or devices for detecting wire or workpiece position
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、両極性のパルスを
加工間隙に供給して放電加工を行う放電加工装置に関
し、特に簡単な構成で両極性パルスを供給して放電加工
及び電極と被加工物の接触検出を行うことができる放電
加工装置に関する。
加工間隙に供給して放電加工を行う放電加工装置に関
し、特に簡単な構成で両極性パルスを供給して放電加工
及び電極と被加工物の接触検出を行うことができる放電
加工装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】放電加工装置は、電極と被加工物間に形
成される加工間隙に加工電圧を印加し、加工液を介して
放電を発生させることにより加工を行う装置である。前
記加工液には、一般的に鉱油系の加工液と水系の加工液
が用いられる。
成される加工間隙に加工電圧を印加し、加工液を介して
放電を発生させることにより加工を行う装置である。前
記加工液には、一般的に鉱油系の加工液と水系の加工液
が用いられる。
【０００３】水系加工液を用いる場合には、前記電極と
被加工物間に電圧を印加するため、放電が発生していな
い時に両者の電位差により電解が起こる。特にワイヤカ
ット放電加工装置では、加工液に５〜１０万オーム／ｃ
ｍ程度のイオン交換水を用いることから、この電解によ
る腐蝕現象はより顕著なものとなる。この電解腐食が生
じると材料中の金属が溶出して被加工物の品質を著しく
低下させる。さらにこの現象は、被加工物のみにととま
らず作業テーブルや電源出力供給ケーブルにまで及び装
置のメンテナンスが必要となる。
被加工物間に電圧を印加するため、放電が発生していな
い時に両者の電位差により電解が起こる。特にワイヤカ
ット放電加工装置では、加工液に５〜１０万オーム／ｃ
ｍ程度のイオン交換水を用いることから、この電解によ
る腐蝕現象はより顕著なものとなる。この電解腐食が生
じると材料中の金属が溶出して被加工物の品質を著しく
低下させる。さらにこの現象は、被加工物のみにととま
らず作業テーブルや電源出力供給ケーブルにまで及び装
置のメンテナンスが必要となる。
【０００４】そこで、電極と被加工物間の加工間隙に印
加するパルス電圧を正と負の両極性パルスとして、電極
または被加工物の極性が一方の極性に偏ることがないよ
うに電圧を印加する電源回路を備えた放電加工電源装置
が最近では多く使用されている。
加するパルス電圧を正と負の両極性パルスとして、電極
または被加工物の極性が一方の極性に偏ることがないよ
うに電圧を印加する電源回路を備えた放電加工電源装置
が最近では多く使用されている。
【０００５】ところで、ワイヤカット放電加工では被加
工物の所望の位置に加工を施す目的で、電極と被加工物
の位置関係を決めるための位置決め作業も行われる。こ
の作業は、被加工物が載置されているXY軸加工テーブル
を移動させるXまたはY軸駆動モータを数値制御装置によ
り制御して被加工物と電極を相対移動させ、被加工物と
電極が接触したことを検出することにより行われる。
工物の所望の位置に加工を施す目的で、電極と被加工物
の位置関係を決めるための位置決め作業も行われる。こ
の作業は、被加工物が載置されているXY軸加工テーブル
を移動させるXまたはY軸駆動モータを数値制御装置によ
り制御して被加工物と電極を相対移動させ、被加工物と
電極が接触したことを検出することにより行われる。
【０００６】この両者の接触の検出は、電極と被加工物
間に接触検出用電源装置から電圧を印加し、接触した時
両者間の電位が０Ｖになることを検出して行われる。し
かし、この位置決め作業は加工液中で行われることもあ
り、前述のように電極と被加工物間には検出用電圧が印
加されるので、この印加電圧によりやはり電食を起こ
す。そこで、この問題を解決するため放電加工を行う際
と同様に、電極と被加工物の極性が一方に偏ることがな
いよう交流パルス発生電源装置を設けた放電加工装置が
知られている。
間に接触検出用電源装置から電圧を印加し、接触した時
両者間の電位が０Ｖになることを検出して行われる。し
かし、この位置決め作業は加工液中で行われることもあ
り、前述のように電極と被加工物間には検出用電圧が印
加されるので、この印加電圧によりやはり電食を起こ
す。そこで、この問題を解決するため放電加工を行う際
と同様に、電極と被加工物の極性が一方に偏ることがな
いよう交流パルス発生電源装置を設けた放電加工装置が
知られている。
【０００７】上述の先行技術では、放電加工電源装置と
接触検出用電源装置が加工間隙に対し並列に接続されて
おり、放電加工電源装置の出力電圧は接触検出用電源装
置のそれに比べかなり高く設定されている。このため、
放電加工中に接触検出用電源回路の破損を防止するため
の保護回路の構成が必要となる。そこで、上記接触検出
用電圧を微分して間隙に供給する回路なども特公平１−
２００１７号公報で提案されている。
接触検出用電源装置が加工間隙に対し並列に接続されて
おり、放電加工電源装置の出力電圧は接触検出用電源装
置のそれに比べかなり高く設定されている。このため、
放電加工中に接触検出用電源回路の破損を防止するため
の保護回路の構成が必要となる。そこで、上記接触検出
用電圧を微分して間隙に供給する回路なども特公平１−
２００１７号公報で提案されている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】従来の接触検出用電源
装置は、加工を目的としていないので低電圧出力で小電
流容量のもが用いられる。そして、接触検出用電源装置
は、間隙に両極性のパルスを供給する放電加工用電源回
路や補助電源出力回路等とともに加工間隙に対し並列に
接続されている。
装置は、加工を目的としていないので低電圧出力で小電
流容量のもが用いられる。そして、接触検出用電源装置
は、間隙に両極性のパルスを供給する放電加工用電源回
路や補助電源出力回路等とともに加工間隙に対し並列に
接続されている。
【０００９】このため、接触検出用電源装置が放電加工
中に間隙に接続されていると、接触検出用電源装置が破
損してしまうので、加工中には電磁開閉器などにより加
工間隙から切り離しておく必要がある。しかしながら、
放電加工後接触検出作業を行うため、電磁開閉器を閉じ
る際には、加工間隙の電圧が自然放電するまでの時間を
待たなければならない。したがって、その時間の最大値
を予想してタイマー回路や数値制御装置により制御する
必要もある。
中に間隙に接続されていると、接触検出用電源装置が破
損してしまうので、加工中には電磁開閉器などにより加
工間隙から切り離しておく必要がある。しかしながら、
放電加工後接触検出作業を行うため、電磁開閉器を閉じ
る際には、加工間隙の電圧が自然放電するまでの時間を
待たなければならない。したがって、その時間の最大値
を予想してタイマー回路や数値制御装置により制御する
必要もある。
【００１０】さらに、放電加工の加工条件によっては、
加工間隙にコンデンサーなどが接続され、この放電時間
が非常に長くなり時間設定が足りないと回路が徐々に劣
化し破損に至る場合もある。このため、接触検出用電源
装置の保護回路の構成も複雑になりその分信頼性が低下
したり製造コスト面でも高価なものになってしまう。
加工間隙にコンデンサーなどが接続され、この放電時間
が非常に長くなり時間設定が足りないと回路が徐々に劣
化し破損に至る場合もある。このため、接触検出用電源
装置の保護回路の構成も複雑になりその分信頼性が低下
したり製造コスト面でも高価なものになってしまう。
【００１１】本発明は上記の問題を解決するために創案
されたもので、本発明の目的は、保護回路や複雑な制御
を用いることなく簡単な構成で両極性パルスを加工間隙
に供給して電解腐蝕を防ぎつつ放電加工及び接触検出を
行うことができる電源出力供給部と高応答性の検出回路
を備えた放電加工装置を提供することにある。
されたもので、本発明の目的は、保護回路や複雑な制御
を用いることなく簡単な構成で両極性パルスを加工間隙
に供給して電解腐蝕を防ぎつつ放電加工及び接触検出を
行うことができる電源出力供給部と高応答性の検出回路
を備えた放電加工装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
の本発明の装置は、電極（Ｅ）と被加工物（Ｗ）により
形成される加工間隙に放電加工エネルギーを供給する第
１の電源（Ｖ１）と、出力電圧が２０Ｖ以下の接触検出
用の第２の電源（Ｖ２）と前記被加工物に損傷を与えな
い程度の電流を供給する電流制限抵抗（Ｒ２）との直列
回路と、第１の電源（Ｖ１）および第２の電源（Ｖ２）
と電流制限抵抗（Ｒ２）との直列回路をと加工間隙との
間に接続されるトランジスタブリッジ回路（１Ａ）と、
トランジスタブリッジ回路（１Ａ）の接続を第１の電源
（Ｖ１）または第２の電源（Ｖ２）に切換える接続切換
スイッチ（Ｓ１）と、電極（Ｅ）と被加工物（Ｗ）の相
対移動が加工を伴う場合には接続切換スイッチ（Ｓ１）
を切り換えてトランジスタブリッジ回路（１Ａ）に第１
の電源（Ｖ１）を接続し、電極（Ｅ）と被加工物（Ｗ）
間の相対移動が加工を伴わない場合には前記接続切換ス
イッチ（Ｓ１）を切り換えてトランジスタブリッジ回路
（１Ａ）に第２の電源（Ｖ２）と電流制限抵抗（Ｒ２）
との直列回路を接続すると共にトランジスタブリッジ回
路（１Ａ）を所定の設定条件でオンオフ制御させる制御
装置（２）と、トランジスタブリッジ回路（１Ａ）から
供給される正極と負極のパルス電圧を検出し加工間隙の
電圧が所定値以下になったことを検出する検出回路
（５）と、を含んでなる。
の本発明の装置は、電極（Ｅ）と被加工物（Ｗ）により
形成される加工間隙に放電加工エネルギーを供給する第
１の電源（Ｖ１）と、出力電圧が２０Ｖ以下の接触検出
用の第２の電源（Ｖ２）と前記被加工物に損傷を与えな
い程度の電流を供給する電流制限抵抗（Ｒ２）との直列
回路と、第１の電源（Ｖ１）および第２の電源（Ｖ２）
と電流制限抵抗（Ｒ２）との直列回路をと加工間隙との
間に接続されるトランジスタブリッジ回路（１Ａ）と、
トランジスタブリッジ回路（１Ａ）の接続を第１の電源
（Ｖ１）または第２の電源（Ｖ２）に切換える接続切換
スイッチ（Ｓ１）と、電極（Ｅ）と被加工物（Ｗ）の相
対移動が加工を伴う場合には接続切換スイッチ（Ｓ１）
を切り換えてトランジスタブリッジ回路（１Ａ）に第１
の電源（Ｖ１）を接続し、電極（Ｅ）と被加工物（Ｗ）
間の相対移動が加工を伴わない場合には前記接続切換ス
イッチ（Ｓ１）を切り換えてトランジスタブリッジ回路
（１Ａ）に第２の電源（Ｖ２）と電流制限抵抗（Ｒ２）
との直列回路を接続すると共にトランジスタブリッジ回
路（１Ａ）を所定の設定条件でオンオフ制御させる制御
装置（２）と、トランジスタブリッジ回路（１Ａ）から
供給される正極と負極のパルス電圧を検出し加工間隙の
電圧が所定値以下になったことを検出する検出回路
（５）と、を含んでなる。
【００１３】また、前記検出回路が、基準電圧と入力電
圧を比較する比較器と、比較した信号を所定の時間保持
するワンショットマルチバイブレーターとで構成された
放電加工装置である。
圧を比較する比較器と、比較した信号を所定の時間保持
するワンショットマルチバイブレーターとで構成された
放電加工装置である。
【００１４】本発明によれば、放電加工間隙に正極と負
極のパルスを供給して放電加工を行う場合は、放電加工
エネルギーを供給する第１の電源（Ｖ１）から両極性パ
ルスがスイッチング回路を介して加工間隙に供給され
る。また、電極と被加工物の移動が放電を伴わない相対
移動の場合には、前記スイッチング回路の入力側の接続
が、出力電圧２０V以下の第２の電源（Ｖ２）に切換ら
れ、所定の設定条件の両極性パルスが、電極と被加工物
間に供給される。そして、前記間隙の電圧が所定値以下
になったことを検出回路が検出し両者の接触信号として
数値制御装置に出力する。
極のパルスを供給して放電加工を行う場合は、放電加工
エネルギーを供給する第１の電源（Ｖ１）から両極性パ
ルスがスイッチング回路を介して加工間隙に供給され
る。また、電極と被加工物の移動が放電を伴わない相対
移動の場合には、前記スイッチング回路の入力側の接続
が、出力電圧２０V以下の第２の電源（Ｖ２）に切換ら
れ、所定の設定条件の両極性パルスが、電極と被加工物
間に供給される。そして、前記間隙の電圧が所定値以下
になったことを検出回路が検出し両者の接触信号として
数値制御装置に出力する。
【００１５】また、検出回路は、基準電圧と検出電圧を
比較器で比較し、検出電圧が基準電圧以上になる信号を
ワンショットマルチバイブレータにおくる。ワンショッ
トマルチバイブレータは、前記信号で動作し所定の時間
出力を保持する。電極と被加工物が接触状態になりワン
ショットマルチバイブレータの所定の保持時間以上とな
ると両者の接触として検出される。
比較器で比較し、検出電圧が基準電圧以上になる信号を
ワンショットマルチバイブレータにおくる。ワンショッ
トマルチバイブレータは、前記信号で動作し所定の時間
出力を保持する。電極と被加工物が接触状態になりワン
ショットマルチバイブレータの所定の保持時間以上とな
ると両者の接触として検出される。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施例について説明する。図１は、本発明の全体構成
を示す図で、ワイヤカット放電加工装置に本発明を適用
した一例を示している。図２は、図１中の検出回路５を
より詳細に示す図である。
の実施例について説明する。図１は、本発明の全体構成
を示す図で、ワイヤカット放電加工装置に本発明を適用
した一例を示している。図２は、図１中の検出回路５を
より詳細に示す図である。
【００１７】図１において、Ｅは、直径０．０３から
０．３ｍｍの真鍮、銅等の線材からなるワイヤ電極で、
図示しない一対のワイヤガイドによって軸方向に移動可
能な状態で案内されている。Ｗは、所望の加工を施すた
めの鋼材あるいは焼結金属などの被加工物であり、特に
焼結金属の場合は電解腐食の問題が大きい。ＳＰａとＳ
Ｐｂは、ワイヤ電極Ｅに電気エネルギーを供給する一対
の給電体であり、電源出力供給部１からの電源出力が接
続されている。
０．３ｍｍの真鍮、銅等の線材からなるワイヤ電極で、
図示しない一対のワイヤガイドによって軸方向に移動可
能な状態で案内されている。Ｗは、所望の加工を施すた
めの鋼材あるいは焼結金属などの被加工物であり、特に
焼結金属の場合は電解腐食の問題が大きい。ＳＰａとＳ
Ｐｂは、ワイヤ電極Ｅに電気エネルギーを供給する一対
の給電体であり、電源出力供給部１からの電源出力が接
続されている。
【００１８】１は、ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗとの間に
形成される間隙に両極性パルスを供給する電源出力供給
部で、電源出力供給部１は、出力電圧が８０から１５０
Vの放電加工用の第１の電源Ｖ１、出力電圧５から２０V
の低電圧の接触検出用の第２の電源Ｖ２（好ましくは５
V）、電流制限抵抗回路Ｒ１と電流制限抵抗Ｒ２、逆流
止めダイオードＤ１、接続切換スイッチＳ１及びスイッ
チング回路１Aにより構成されている。
形成される間隙に両極性パルスを供給する電源出力供給
部で、電源出力供給部１は、出力電圧が８０から１５０
Vの放電加工用の第１の電源Ｖ１、出力電圧５から２０V
の低電圧の接触検出用の第２の電源Ｖ２（好ましくは５
V）、電流制限抵抗回路Ｒ１と電流制限抵抗Ｒ２、逆流
止めダイオードＤ１、接続切換スイッチＳ１及びスイッ
チング回路１Aにより構成されている。
【００１９】スイッチング回路１Aでは４個のＭＯＳ−
ＦＥＴ型トランジスタ素子ＴＲ１〜ＴＲ４が図示のごと
く接続されトランジスタブリッジ回路を構成している。
スイッチング回路１Aは、両極性のパルスを出力するた
めの回路で、このスイッチング回路１Aは、ＴＲ制御回
路４からの信号により制御される。
ＦＥＴ型トランジスタ素子ＴＲ１〜ＴＲ４が図示のごと
く接続されトランジスタブリッジ回路を構成している。
スイッチング回路１Aは、両極性のパルスを出力するた
めの回路で、このスイッチング回路１Aは、ＴＲ制御回
路４からの信号により制御される。
【００２０】Ｒ１は、目的の放電加工電流を設定する制
限抵抗切換回路で、可変抵抗として示してある。電流制
限抵抗回路Ｒ１の抵抗値は、数値制御装置２からの指令
により所望の加工電流となるようＩ／Ｏ回路３を介して
設定される。Ｒ２は１００Ωから２００Ω程度の抵抗
で、被加工物Ｗとワイヤ電極Ｅが接触したときに損傷を
与えない程度の電流を供給するための制限抵抗である。
Ｄ１は単極性主電源回路１０や図示しない他の高電圧重
畳回路などの回り込みを防止するダイオードである。な
お、単極性主電源回路１０や図示しない他の高電圧重畳
回路は、電源出力供給部１と並列に間隙に接続されてお
り、それらの構成については、従来の技術を利用するこ
とができるので詳細な説明は省略する。
限抵抗切換回路で、可変抵抗として示してある。電流制
限抵抗回路Ｒ１の抵抗値は、数値制御装置２からの指令
により所望の加工電流となるようＩ／Ｏ回路３を介して
設定される。Ｒ２は１００Ωから２００Ω程度の抵抗
で、被加工物Ｗとワイヤ電極Ｅが接触したときに損傷を
与えない程度の電流を供給するための制限抵抗である。
Ｄ１は単極性主電源回路１０や図示しない他の高電圧重
畳回路などの回り込みを防止するダイオードである。な
お、単極性主電源回路１０や図示しない他の高電圧重畳
回路は、電源出力供給部１と並列に間隙に接続されてお
り、それらの構成については、従来の技術を利用するこ
とができるので詳細な説明は省略する。
【００２１】Ｓ１は電磁開閉器などで構成される接続切
換スイッチで、接続切換スイッチＳ１によりスイッチン
グ回路１Aの接続を電源Ｖ１またはＶ２に切換える。接
続切換スイッチＳ１の切換制御信号は、Ｉ／Ｏ回路３を
介して数値制御装置２から出力される。
換スイッチで、接続切換スイッチＳ１によりスイッチン
グ回路１Aの接続を電源Ｖ１またはＶ２に切換える。接
続切換スイッチＳ１の切換制御信号は、Ｉ／Ｏ回路３を
介して数値制御装置２から出力される。
【００２２】数値制御装置２は、作業者がプログラムや
図示しないキーボードから入力した指令に基づき放電加
工条件の出力や機械装置の動作を制御する装置である。
数値制御装置２において、２０は表示部や入力装置など
を備えた数値制御部で従来技術の数値制御装置の構成と
同じであるので詳細な説明は省略する。２１はモード制
御部、２２は設定記憶部で放電を伴わないワイヤ電極Ｅ
と被加工物Ｗの相対移動の時に所定の周期の両極性パル
スを発生させる設定条件を記憶しているメモリーであ
る。モード制御部２１、設定記憶部２２の詳細な説明に
ついては後述する。
図示しないキーボードから入力した指令に基づき放電加
工条件の出力や機械装置の動作を制御する装置である。
数値制御装置２において、２０は表示部や入力装置など
を備えた数値制御部で従来技術の数値制御装置の構成と
同じであるので詳細な説明は省略する。２１はモード制
御部、２２は設定記憶部で放電を伴わないワイヤ電極Ｅ
と被加工物Ｗの相対移動の時に所定の周期の両極性パル
スを発生させる設定条件を記憶しているメモリーであ
る。モード制御部２１、設定記憶部２２の詳細な説明に
ついては後述する。
【００２３】Ｉ／Ｏ回路３は、電源出力供給部１、ＴＲ
制御回路４、検出回路５、モータドライブ６などと数値
制御装置２とのインターフェイス回路で、数値制御装置
２と他の構成部分との入出力制御信号は、このＩ／Ｏ回
路３を介して行われる。
制御回路４、検出回路５、モータドライブ６などと数値
制御装置２とのインターフェイス回路で、数値制御装置
２と他の構成部分との入出力制御信号は、このＩ／Ｏ回
路３を介して行われる。
【００２４】ＴＲ制御回路４は、電源出力供給部１のス
イッチング回路１AのＴＲ１から４のオンオフ制御信号
を出力する制御回路で、Ｉ／Ｏ回路３を介しての数値制
御装置２からの加工条件設定信号に基づき、間隙に供給
する正パルスと負パルスのパルス幅制御信号を出力す
る。この制御信号により次のようにスイッチング回路１
Aから両極性パルスが発生する。
イッチング回路１AのＴＲ１から４のオンオフ制御信号
を出力する制御回路で、Ｉ／Ｏ回路３を介しての数値制
御装置２からの加工条件設定信号に基づき、間隙に供給
する正パルスと負パルスのパルス幅制御信号を出力す
る。この制御信号により次のようにスイッチング回路１
Aから両極性パルスが発生する。
【００２５】ここでは、接続切換スイッチＳ１が、電源
の接続が電源Ｖ１側に接続されている場合ついて説明す
る。ＴＲ制御回路４のPGから正極ゲートパルス信号Pgat
eがスイッチング回路１Aに出力されると、まず、ＴＲ１
とＴＲ４が導通する。電源Ｖ１の正極側は、逆流止めダ
イオードＤ１、電流制限抵抗回路Ｒ１、ＴＲ１を介して
ワイヤ電極Ｅに接続され、ワイヤ電極Ｅが正極となり、
被加工物Ｗは、ＴＲ4が導通しているので電源VIの負極
側に接続されることになる。所定時間の電極側正極パル
ス時間経過後、Ｐgate信号が終わりＴＲ1とＴＲ4は非導
通となる。次に、NG側からNgate信号が出力される。こ
のNgate信号によりＴＲ２とＴＲ３がＴＲ1とＴＲ4に代
わり導通する。そして、ワイヤ電極ＥがＴＲ3を介して
電源Ｖ１の負極側に接続され、被加工物Ｗは、逆流止め
ダイオードＤ１、電流制限抵抗回路Ｒ１、ＴＲ２を介し
て、電源Ｖ１の正極側に接続され、被加工物Ｗは正極と
なる。
の接続が電源Ｖ１側に接続されている場合ついて説明す
る。ＴＲ制御回路４のPGから正極ゲートパルス信号Pgat
eがスイッチング回路１Aに出力されると、まず、ＴＲ１
とＴＲ４が導通する。電源Ｖ１の正極側は、逆流止めダ
イオードＤ１、電流制限抵抗回路Ｒ１、ＴＲ１を介して
ワイヤ電極Ｅに接続され、ワイヤ電極Ｅが正極となり、
被加工物Ｗは、ＴＲ4が導通しているので電源VIの負極
側に接続されることになる。所定時間の電極側正極パル
ス時間経過後、Ｐgate信号が終わりＴＲ1とＴＲ4は非導
通となる。次に、NG側からNgate信号が出力される。こ
のNgate信号によりＴＲ２とＴＲ３がＴＲ1とＴＲ4に代
わり導通する。そして、ワイヤ電極ＥがＴＲ3を介して
電源Ｖ１の負極側に接続され、被加工物Ｗは、逆流止め
ダイオードＤ１、電流制限抵抗回路Ｒ１、ＴＲ２を介し
て、電源Ｖ１の正極側に接続され、被加工物Ｗは正極と
なる。
【００２６】この様にPGとNGから所定の周期でPgateとN
gate信号が交互に出力されることにより、ワイヤ電極Ｅ
と被加工物Ｗ間に両極性のパルス電圧が印加される。こ
の間、接続切換スイッチＳ１は放電加工エネルギーを出
力する電源Ｖ１に接続されているから、加工間隙で放電
が発生すると電流制限抵抗回路Ｒ１で制限された所定の
電流が流れ放電加工が行われる。
gate信号が交互に出力されることにより、ワイヤ電極Ｅ
と被加工物Ｗ間に両極性のパルス電圧が印加される。こ
の間、接続切換スイッチＳ１は放電加工エネルギーを出
力する電源Ｖ１に接続されているから、加工間隙で放電
が発生すると電流制限抵抗回路Ｒ１で制限された所定の
電流が流れ放電加工が行われる。
【００２７】接続切換スイッチＳ１が電源Ｖ２に接続さ
れている場合も同様に、ＴＲ制御回路からは、所定の周
期のPgateとNgate信号が交互に出力され、スイッチング
回路１Aは、上述の放電加工を行う場合と同様に動作す
る。この場合で上記と相違する点は、電源Ｖ２の出力電
圧を極力小さい電圧、好ましくは５Ｖとし、さらに電源
Ｖ２と接続切換スイッチＳ１の接点の間に電流制限抵抗
Ｒ２を追加して両極性パルス供給するように構成して位
置決め動作の際、被加工物Ｗに放電による損傷を与えな
いように配慮されていることである。
れている場合も同様に、ＴＲ制御回路からは、所定の周
期のPgateとNgate信号が交互に出力され、スイッチング
回路１Aは、上述の放電加工を行う場合と同様に動作す
る。この場合で上記と相違する点は、電源Ｖ２の出力電
圧を極力小さい電圧、好ましくは５Ｖとし、さらに電源
Ｖ２と接続切換スイッチＳ１の接点の間に電流制限抵抗
Ｒ２を追加して両極性パルス供給するように構成して位
置決め動作の際、被加工物Ｗに放電による損傷を与えな
いように配慮されていることである。
【００２８】次に、図２に基づいて、本発明の検出回路
５について説明する。検出回路５は、ワイヤ電極Ｅと被
加工物Ｗ間の電圧を検出し基準電圧と比較して基準値以
下の時に信号を出力する検出回路である。従来技術で
は、交流波形のため、絶対値回路、フィルター、バッフ
ァー等で構成されているが、周波数が高くなると回路が
複雑になる。そこで、本発明の実施例検出回路では、オ
ペーアンプを使用した比較器５０、基準電圧電源５３、
抵抗Ｒ５０ないしＲ５２、信号を所定時間保持するマル
チバイブレーター５１及びバッファー５２とで構成して
いる。
５について説明する。検出回路５は、ワイヤ電極Ｅと被
加工物Ｗ間の電圧を検出し基準電圧と比較して基準値以
下の時に信号を出力する検出回路である。従来技術で
は、交流波形のため、絶対値回路、フィルター、バッフ
ァー等で構成されているが、周波数が高くなると回路が
複雑になる。そこで、本発明の実施例検出回路では、オ
ペーアンプを使用した比較器５０、基準電圧電源５３、
抵抗Ｒ５０ないしＲ５２、信号を所定時間保持するマル
チバイブレーター５１及びバッファー５２とで構成して
いる。
【００２９】ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗに接続された間
隙からの入力線DT1は、R５０とR５１の間に接続され、R
５１は比較器５０の＋側に接続されている。もう一方の
入力線DT２は、R５０と共に検出回路のグランドに接続
されている。比較器５０の−側には１から１．５Vの基
準電圧電源５３がR５２を介して接続されている。比較
器の出力OUTは、DT1からの入力が基準電圧より高い時オ
ペーアンプの出力がハイレベルとなり、基準電圧より低
い時ローレベル出力が出力されるように抵抗の値が決め
られている。
隙からの入力線DT1は、R５０とR５１の間に接続され、R
５１は比較器５０の＋側に接続されている。もう一方の
入力線DT２は、R５０と共に検出回路のグランドに接続
されている。比較器５０の−側には１から１．５Vの基
準電圧電源５３がR５２を介して接続されている。比較
器の出力OUTは、DT1からの入力が基準電圧より高い時オ
ペーアンプの出力がハイレベルとなり、基準電圧より低
い時ローレベル出力が出力されるように抵抗の値が決め
られている。
【００３０】比較器の出力OUTは、ワンショットマルチ
バイブレータ５１のA端子に接続され、本実施例では、
比較器のOUT信号がローレベルからハイレベルに立ち上
がる時点で動作し、１００μsecの間Q出力がハイレベル
を保持するようになっている。
バイブレータ５１のA端子に接続され、本実施例では、
比較器のOUT信号がローレベルからハイレベルに立ち上
がる時点で動作し、１００μsecの間Q出力がハイレベル
を保持するようになっている。
【００３１】ワンショットマルチバイブレータ５１の出
力Qは、インバーター５２の入力側に接続されており、
インバーター５２の出力ＳＴは、Ｉ／Ｏ回路３を介して
数値制御装置２に送られる。なお、インバーター５２は
論理を合わせるためのもので、特に必要では無い。
力Qは、インバーター５２の入力側に接続されており、
インバーター５２の出力ＳＴは、Ｉ／Ｏ回路３を介して
数値制御装置２に送られる。なお、インバーター５２は
論理を合わせるためのもので、特に必要では無い。
【００３２】図３は、検出装置５のタイムチャートであ
る。図３において、ＩＮは、間隙からの入力DT１とDT２
間の接触検出用電圧の波形で、Vrfは基準電圧レベルを
示している。Ａは、DT1とDT２間の入力電圧を基準電圧
Ｖｒｆと比較した結果出力される比較器５０のOUT出力
波形で、ワンショットマルチバイブレータ５１の入力波
形である。Ｑは、信号Ａの立ち上がりで動作するワンシ
ョットマルチバイブレータ５１の出力波形である。
る。図３において、ＩＮは、間隙からの入力DT１とDT２
間の接触検出用電圧の波形で、Vrfは基準電圧レベルを
示している。Ａは、DT1とDT２間の入力電圧を基準電圧
Ｖｒｆと比較した結果出力される比較器５０のOUT出力
波形で、ワンショットマルチバイブレータ５１の入力波
形である。Ｑは、信号Ａの立ち上がりで動作するワンシ
ョットマルチバイブレータ５１の出力波形である。
【００３３】本実施例では、間隙に供給する両極性パル
スの周期、つまりINに示す接触検出用電圧の周期を６０
μsecとしている。これは、接触検出をするときの環境
で、即ち、接触検出用電圧を５Ｖ、間隙の距離を２μｍ
として、ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗの単位電場を計算す
ると、単位電場が、２．５×１０4（V/cm）となる。こ
こで、ＯＨ（−）の移動速度は、ＯＨ（−）の移動度を
２０．５×１０-4（ｃｍ2・Ｓ-1・Ｖ-1）として、ＯＨ
（−）移動速度を算出すると、約０．５（μｍ／μse
c）となる。ここで、電解腐食影響距離を２０μｍ程度
と考えると、４０μsec以下であればＯＨ（−）イオン
が２０μｍの距離を移動して電荷を伝達することはない
と考えられ、１周期８０μsecあれば電解を防止できる
と考えられる。本実施例では、多少マージンをみて１周
期６０μsecとしている。
スの周期、つまりINに示す接触検出用電圧の周期を６０
μsecとしている。これは、接触検出をするときの環境
で、即ち、接触検出用電圧を５Ｖ、間隙の距離を２μｍ
として、ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗの単位電場を計算す
ると、単位電場が、２．５×１０4（V/cm）となる。こ
こで、ＯＨ（−）の移動速度は、ＯＨ（−）の移動度を
２０．５×１０-4（ｃｍ2・Ｓ-1・Ｖ-1）として、ＯＨ
（−）移動速度を算出すると、約０．５（μｍ／μse
c）となる。ここで、電解腐食影響距離を２０μｍ程度
と考えると、４０μsec以下であればＯＨ（−）イオン
が２０μｍの距離を移動して電荷を伝達することはない
と考えられ、１周期８０μsecあれば電解を防止できる
と考えられる。本実施例では、多少マージンをみて１周
期６０μsecとしている。
【００３４】図３のタイムチャートにおいて、時点Ｔ１
からＴ２までは、ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗが非接触の
状態を示している。前述のように、ワンショットマルチ
バイブレータ５１の設定時間は１００μｓとしてあるの
で、入力信号Ａが、６０μｓの周期でも間隙が非接触状
態では、ハイレベルを保持している。
からＴ２までは、ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗが非接触の
状態を示している。前述のように、ワンショットマルチ
バイブレータ５１の設定時間は１００μｓとしてあるの
で、入力信号Ａが、６０μｓの周期でも間隙が非接触状
態では、ハイレベルを保持している。
【００３５】時点T2は、ワイヤ電極Ｅ被加工物Ｗが、接
近移動し両者が接触した時点を示しており、INの電圧波
形は０Vを示す。この時点では、ワンショットマルチバ
イブレータ５１のQ出力が１００μsecに達していないの
でハイレベルのままである。時点T3では、A出力がロー
レベルのままであるため、ワンショットマルチバイブレ
ータ５１が新たにセットされずQ出力がローレベルにこ
の時点で変化する。Q出力がローレベルに変化するとイ
ンバーター５１の出力ＳＴはハイレベルに変化し数値制
御装置２に接触検出信号ＳＴが出力される。
近移動し両者が接触した時点を示しており、INの電圧波
形は０Vを示す。この時点では、ワンショットマルチバ
イブレータ５１のQ出力が１００μsecに達していないの
でハイレベルのままである。時点T3では、A出力がロー
レベルのままであるため、ワンショットマルチバイブレ
ータ５１が新たにセットされずQ出力がローレベルにこ
の時点で変化する。Q出力がローレベルに変化するとイ
ンバーター５１の出力ＳＴはハイレベルに変化し数値制
御装置２に接触検出信号ＳＴが出力される。
【００３６】この様に、信号の遅れ時間は最大１００μ
ｓであるため、直ちに接触検出信号を出力できる。ま
た、間隙に供給する接触検出用両極性パルスを１０ＫＨ
ｚ以上で出せるので、電解防止の効果が上がる。
ｓであるため、直ちに接触検出信号を出力できる。ま
た、間隙に供給する接触検出用両極性パルスを１０ＫＨ
ｚ以上で出せるので、電解防止の効果が上がる。
【００３７】なお、本実施例ではワンショットマルチバ
イブレータ５１の出力時間を１００μsec、スイッチン
グ回路１Aから間隙に供給する両極性パルスの周期を６
０μsecとしたが、これらの設定時間を更に短くして検
出速度を上げるように構成することも可能である。ま
た、ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗの電圧が０Vになった時
を接触として検出しても良いが、好ましくはVrfを１か
ら１．５Vに設定して、電極表面に付着したパラフィン
などの不純物の影響によりワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗが
接触しても両者間の電圧が０Vとならず検出精度が低下
することを防ぐことが望ましい。
イブレータ５１の出力時間を１００μsec、スイッチン
グ回路１Aから間隙に供給する両極性パルスの周期を６
０μsecとしたが、これらの設定時間を更に短くして検
出速度を上げるように構成することも可能である。ま
た、ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗの電圧が０Vになった時
を接触として検出しても良いが、好ましくはVrfを１か
ら１．５Vに設定して、電極表面に付着したパラフィン
などの不純物の影響によりワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗが
接触しても両者間の電圧が０Vとならず検出精度が低下
することを防ぐことが望ましい。
【００３８】次に本発明の放電加工装置の動作について
説明する。ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗとの相対移動は、
数値制御装置２からの軸移動指令に基づき、前記テーブ
ルを移動するＸ軸モータ７ｘおよびＹ軸モータ７ｙが、
モータドライブ６により駆動制御されることにより行わ
れる。また、モータドライブ６は、エンコダーあるいは
リニヤスケールからのXYテーブル位置情報をＩ／Ｏ回路
３を介して数値制御装置２にフィードバックする。ワイ
ヤ電極Ｅと被加工物Ｗの相対位置は、このフィードバッ
ク信号から数値制御装置２により座標値に変換され図示
しない表示装置に表示される。
説明する。ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗとの相対移動は、
数値制御装置２からの軸移動指令に基づき、前記テーブ
ルを移動するＸ軸モータ７ｘおよびＹ軸モータ７ｙが、
モータドライブ６により駆動制御されることにより行わ
れる。また、モータドライブ６は、エンコダーあるいは
リニヤスケールからのXYテーブル位置情報をＩ／Ｏ回路
３を介して数値制御装置２にフィードバックする。ワイ
ヤ電極Ｅと被加工物Ｗの相対位置は、このフィードバッ
ク信号から数値制御装置２により座標値に変換され図示
しない表示装置に表示される。
【００３９】ワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗの移動は、放電
加工電圧を加工間隙に印加した状態で、入力されたプロ
グラムに基づいて輪郭形状に沿って数値制御装置2によ
りサーボ制御されながら行われる移動と、ワイヤ電極Ｅ
を被加工物Ｗの所定の位置に移動する場合や両者を接触
させて位置決めを行うための移動とがある。ここでは、
以下前者を放電加工モードと呼び後者を移動モードと呼
ぶこととする。
加工電圧を加工間隙に印加した状態で、入力されたプロ
グラムに基づいて輪郭形状に沿って数値制御装置2によ
りサーボ制御されながら行われる移動と、ワイヤ電極Ｅ
を被加工物Ｗの所定の位置に移動する場合や両者を接触
させて位置決めを行うための移動とがある。ここでは、
以下前者を放電加工モードと呼び後者を移動モードと呼
ぶこととする。
【００４０】放電加工モードは、放電加工電圧を印加し
ながらＸＹ軸を移動させるプログラムコード、例えばG
０１（直線補間）、G０２（時計回り円弧補間）、G０３
（反時計回り円弧補間）などで指定される。また、放電
加工を伴わない移動モードは、G００（直線移動）、G８
０（接触検出移動）などのプログラムコードで指定され
る。
ながらＸＹ軸を移動させるプログラムコード、例えばG
０１（直線補間）、G０２（時計回り円弧補間）、G０３
（反時計回り円弧補間）などで指定される。また、放電
加工を伴わない移動モードは、G００（直線移動）、G８
０（接触検出移動）などのプログラムコードで指定され
る。
【００４１】以下、図４のフローチャートを基に説明す
る。ＳＴ1では、モード制御部２１は、数値制御部２０か
らの移動指令があるか否かを判断し、なければＮＯとな
って待機状態にある。数値制御部２０が入力されたNCプ
ログラムを先頭部分から解読し、順次プログラムを実行
していく。そして、前述の放電加工モードあるいは移動
モードを示すプログラムコードを読み込むと、モード制
御部２１に軸移動指令信号をモード情報と共に送る。こ
の信号を受け取ると判断がＹＥＳとなりＳＴ２へ進む。
る。ＳＴ1では、モード制御部２１は、数値制御部２０か
らの移動指令があるか否かを判断し、なければＮＯとな
って待機状態にある。数値制御部２０が入力されたNCプ
ログラムを先頭部分から解読し、順次プログラムを実行
していく。そして、前述の放電加工モードあるいは移動
モードを示すプログラムコードを読み込むと、モード制
御部２１に軸移動指令信号をモード情報と共に送る。こ
の信号を受け取ると判断がＹＥＳとなりＳＴ２へ進む。
【００４２】ＳＴ2では、モード制御部２１において軸
移動指令が放電加工モードか移動モードかを判断し、放
電加工モードであればＹＥＳとなりＳＴ3Aに進む。ＳＴ
3Aでは、接続切換スイッチＳ１を放電加工用の電源Ｖ１
側に接続する信号ＷＨをI/O回路3を通して出力して処理
を終わる。数値制御部2０は、目的の加工エネルギーを
間隙に供給する設定信号IPと両極性パルス幅設定信号HS
をI/O回路3介して、電流制限抵抗回路Ｒ１とＴＲ制御回
路４に夫々送る。そして設定された条件で放電加工が行
われる。
移動指令が放電加工モードか移動モードかを判断し、放
電加工モードであればＹＥＳとなりＳＴ3Aに進む。ＳＴ
3Aでは、接続切換スイッチＳ１を放電加工用の電源Ｖ１
側に接続する信号ＷＨをI/O回路3を通して出力して処理
を終わる。数値制御部2０は、目的の加工エネルギーを
間隙に供給する設定信号IPと両極性パルス幅設定信号HS
をI/O回路3介して、電流制限抵抗回路Ｒ１とＴＲ制御回
路４に夫々送る。そして設定された条件で放電加工が行
われる。
【００４３】ＳＴ2で、移動モードと判断された場合に
は、判断がＮＯとなりＳＴ3に進み、モード制御部２１
が接続切換スイッチＳ１を電源Ｖ２側に接続する制御信
号ＷＯＨをI/O回路3を介して出力してＳＴ４に進む。
は、判断がＮＯとなりＳＴ3に進み、モード制御部２１
が接続切換スイッチＳ１を電源Ｖ２側に接続する制御信
号ＷＯＨをI/O回路3を介して出力してＳＴ４に進む。
【００４４】ＳＴ4では、設定記憶部２２に記憶されて
いる両極性パルス幅設定条件を読み出し、Ｉ／Ｏ回路３
を介してＴＲ制御回路４に設定信号MSを出力する。この
設定に信号により、先述のようにスイッチング回路１A
が制御されワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗ間に図３のINに示
す波形が供給される。
いる両極性パルス幅設定条件を読み出し、Ｉ／Ｏ回路３
を介してＴＲ制御回路４に設定信号MSを出力する。この
設定に信号により、先述のようにスイッチング回路１A
が制御されワイヤ電極Ｅと被加工物Ｗ間に図３のINに示
す波形が供給される。
【００４５】ＳＴ５では、ＳＴ４の処理が完了した時点
で、数値制御部２０に移動開始指令が送られ、ワイヤ電
極Ｅと被加工物Ｗの相対移動が行われる。この移動の間
モード制御部２１はＳＴ6の判断を行う。
で、数値制御部２０に移動開始指令が送られ、ワイヤ電
極Ｅと被加工物Ｗの相対移動が行われる。この移動の間
モード制御部２１はＳＴ6の判断を行う。
【００４６】ＳＴ6の判断では、ＳＴ信号が検出回路５
から出力されているかどうかを相対移動中常に監視する
処理である。ＳＴ6の判断でＳＴ信号が検出回路５から
出力されていれば、ＳＴ７の処理で数値制御部２０へ両
者が接触したものとして接触信号を送る。数値制御部２
０はこの信号を受けて、移動の停止、座標値の読み込み
など必要とされる処理を行う。ＳＴ6の判断結果がＮＯ
の場合には、ＳＴ８に進み指定された移動量に達してい
なければなＳＴ6に戻り、再びＳＴ6とＳＴ8の処理を繰
り返す。ＳＴ信号がないまま指定された移動量に達すれ
ば処理を終了する。
から出力されているかどうかを相対移動中常に監視する
処理である。ＳＴ6の判断でＳＴ信号が検出回路５から
出力されていれば、ＳＴ７の処理で数値制御部２０へ両
者が接触したものとして接触信号を送る。数値制御部２
０はこの信号を受けて、移動の停止、座標値の読み込み
など必要とされる処理を行う。ＳＴ6の判断結果がＮＯ
の場合には、ＳＴ８に進み指定された移動量に達してい
なければなＳＴ6に戻り、再びＳＴ6とＳＴ8の処理を繰
り返す。ＳＴ信号がないまま指定された移動量に達すれ
ば処理を終了する。
【００４７】なお、この実施例では、１つのフローで終
了するものとして説明したが、再びＳＴ１の処理に戻し
て待機状態にしておくことができる。また、本実施例で
は、モード制御部２１を数値制御部２０と区別して説明
したが、数値制御装置２の一つの機能として一連の処理
を実行させることができる。
了するものとして説明したが、再びＳＴ１の処理に戻し
て待機状態にしておくことができる。また、本実施例で
は、モード制御部２１を数値制御部２０と区別して説明
したが、数値制御装置２の一つの機能として一連の処理
を実行させることができる。
【００４８】以上、本発明の実施例から理解できるよう
に、本発明の放電加工装置では従来の装置のように、放
電用電源装置と接触検出用電源装置の２つの電源装置を
必要とせず、そのため、接触検出用電源装置とその保護
回路が不要となり製造コストも大幅に削減できること、
また、両極性パルスの検出回路も簡単な構成で高い応答
性を持つ検出が行えるので確実な位置決めが行えること
が容易に理解されるであろう。
に、本発明の放電加工装置では従来の装置のように、放
電用電源装置と接触検出用電源装置の２つの電源装置を
必要とせず、そのため、接触検出用電源装置とその保護
回路が不要となり製造コストも大幅に削減できること、
また、両極性パルスの検出回路も簡単な構成で高い応答
性を持つ検出が行えるので確実な位置決めが行えること
が容易に理解されるであろう。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように本発明の装置では、
放電加工時あるいは位置決め作業時に、高周波の両極性
パルス電圧を間隙に供給できる電源供給部を有している
ので、電解腐食を効果的に防止することができ、また、
その構成が複雑にならずシンプルであるので、部品点数
の少ない構成となり破損の心配もない信頼性が高い装置
が低コストで製作できる。また、本発明の検出回路は、
単な構成で高い応答性の検出が行えるので確実な位置決
めが行える。
放電加工時あるいは位置決め作業時に、高周波の両極性
パルス電圧を間隙に供給できる電源供給部を有している
ので、電解腐食を効果的に防止することができ、また、
その構成が複雑にならずシンプルであるので、部品点数
の少ない構成となり破損の心配もない信頼性が高い装置
が低コストで製作できる。また、本発明の検出回路は、
単な構成で高い応答性の検出が行えるので確実な位置決
めが行える。
【図１】ワイヤカット放電加工装置に本発明を適用した
場合の全体構成図。
場合の全体構成図。
【図２】図１に示した検出回路５を詳細に示す図。
【図３】検出装置５のタイムチャート。
【図４】本発明の装置の動作を説明するフローチャー
ト。
ト。
１ 電源出力供給部
１Ａ スイッチング回路
２ 数値制御装置
３ Ｉ／Ｏ回路
４ ＴＲ制御回路
５ 検出回路
６ モータドライブ
7x,7y X,Y軸モータ
Ｅ ワイヤ電極
Ｗ 被加工物
Ｄ１ 逆流止めダイオード
Ｒ１ 電流制限抵抗回路
Ｒ２ 電流制限抵抗
SPa，SPb 給電体
Ｖ１ 第１の電源
Ｖ２ 第２の電源
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平８−281516（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−281150（ＪＰ，Ａ)
特開 昭60−29246（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−51945（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−127820（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−288630（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
B23H 7/26
B23H 1/02
B23H 7/04
Claims (2)
- 【請求項１】 電極と被加工物により形成される加工間
隙に放電加工エネルギーを供給する第１の電源と、出力
電圧が２０Ｖ以下の接触検出用の第２の電源と前記被加
工物に損傷を与えない程度の電流を供給する電流制限抵
抗との直列回路と、前記第１の電源および前記直列回路
と前記加工間隙との間に接続されるトランジスタブリッ
ジ回路と、前記トランジスタブリッジ回路の接続を前記
第１の電源または前記第２の電源に切換える接続切換ス
イッチと、電極と被加工物の相対移動が加工を伴う場合
には前記接続切換スイッチを切り換えて前記トランジス
タブリッジ回路に前記第１の電源を接続し、前記相対移
動が加工を伴わない場合には前記接続切換スイッチを切
り換えて前記トランジスタブリッジ回路に前記直列回路
を接続するとともに前記トランジスタブリッジ回路を所
定の設定条件でオンオフ制御させる制御装置と、前記ト
ランジスタブリッジ回路から供給される正極と負極のパ
ルス電圧を検出し前記加工間隙の電圧が所定値以下にな
ったことを検出する検出回路と、を含んでなる放電加工
装置。 - 【請求項２】 請求項1に記載の放電加工装置におい
て、前記検出回路が、基準電圧と入力電圧を比較する比
較器と、比較した信号を所定の時間保持するワンショッ
トマルチバイブレータとで構成された放電加工装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04431398A JP3390652B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 放電加工装置 |
| US09/247,564 US6140600A (en) | 1998-02-10 | 1999-02-10 | Electric discharge machining apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04431398A JP3390652B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 放電加工装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11226818A JPH11226818A (ja) | 1999-08-24 |
| JP3390652B2 true JP3390652B2 (ja) | 2003-03-24 |
Family
ID=12688007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04431398A Expired - Fee Related JP3390652B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 放電加工装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6140600A (ja) |
| JP (1) | JP3390652B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3715034A1 (en) | 2019-03-27 | 2020-09-30 | Fanuc Corporation | Wire electrical discharge machine and endface position determining method |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19753812C2 (de) * | 1997-12-04 | 2000-05-18 | Agie Sa | Verfahren und Vorrichtung zum funkenerosiven Feinbearbeiten |
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| KR100496399B1 (ko) * | 2002-06-12 | 2005-06-17 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 와이어 방전가공기의 가공전원장치 |
| US6717094B2 (en) | 2002-07-22 | 2004-04-06 | Edward L. Beaumont | Electrical discharge machine and methods of establishing zero set conditions for operation thereof |
| JP2006263907A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Tokyo Univ Of Agriculture & Technology | 放電加工機 |
| JP4921481B2 (ja) * | 2006-10-24 | 2012-04-25 | 三菱電機株式会社 | ワイヤ放電加工装置 |
| JP2009056582A (ja) * | 2007-08-07 | 2009-03-19 | Sodick Co Ltd | 形彫放電加工方法および形彫放電加工装置 |
| JP5088975B2 (ja) * | 2010-10-19 | 2012-12-05 | 株式会社ソディック | ワイヤ放電加工装置 |
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