JP3232700B2 - 高純度テレフタル酸の製造方法 - Google Patents
高純度テレフタル酸の製造方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は高純度テレフタル酸の製
造方法に関するものである。詳しくは、水溶液中の微量
不溶物を効率よく溶解させて精製処理することができる
工業的に有利な高純度テレフタル酸の製造方法に関する
ものである。
造方法に関するものである。詳しくは、水溶液中の微量
不溶物を効率よく溶解させて精製処理することができる
工業的に有利な高純度テレフタル酸の製造方法に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】パラキシレンの液相酸化反応により得ら
れたテレフタル酸を更に高純度化するため、粗テレフタ
ル酸結晶を高温、高圧下で水中に溶解し、このテレフタ
ル酸の水溶液を、例えば、パラジウム／カーボン等の白
金族金属触媒の存在下、水素により処理する精製法は公
知である（特公昭４１−１６８６０号等）。この精製法
を工業的に実施する場合には、通常、予め、チューブ型
加熱器により、粗テレフタル酸結晶を所定割合の水に高
圧下、例えば２６０℃以上の高温下で溶解処理するが、
テレフタル酸の溶解速度の関係から、粗テレフタル酸の
結晶粒子径によっては、溶解が不十分の場合が有り得
る。もし、未溶解のテレフタル酸結晶が白金族金属触媒
の充填層に流れた場合には、安定した連続運転が不可能
になる。
れたテレフタル酸を更に高純度化するため、粗テレフタ
ル酸結晶を高温、高圧下で水中に溶解し、このテレフタ
ル酸の水溶液を、例えば、パラジウム／カーボン等の白
金族金属触媒の存在下、水素により処理する精製法は公
知である（特公昭４１−１６８６０号等）。この精製法
を工業的に実施する場合には、通常、予め、チューブ型
加熱器により、粗テレフタル酸結晶を所定割合の水に高
圧下、例えば２６０℃以上の高温下で溶解処理するが、
テレフタル酸の溶解速度の関係から、粗テレフタル酸の
結晶粒子径によっては、溶解が不十分の場合が有り得
る。もし、未溶解のテレフタル酸結晶が白金族金属触媒
の充填層に流れた場合には、安定した連続運転が不可能
になる。
【０００３】このため、従来粗テレフタル酸を完全溶解
させる方法として、通常、チューブ型加熱器と触媒の充
填層から成る反応器との間に、別に、バッファー溶解槽
を設け、ここで、完全溶解させている（特公昭５１−３
２６１８号等）。このバッファー溶解槽での滞留時間
は、通常、数分〜数十分程度となるが、この場合、テレ
フタル酸水溶液を精製反応とは関係のない工程で２６０
℃以上の高温下に余けいに保持することとなり、そのた
め、最終的に得られる精製テレフタル酸の品質上の問題
において好ましいことではない。
させる方法として、通常、チューブ型加熱器と触媒の充
填層から成る反応器との間に、別に、バッファー溶解槽
を設け、ここで、完全溶解させている（特公昭５１−３
２６１８号等）。このバッファー溶解槽での滞留時間
は、通常、数分〜数十分程度となるが、この場合、テレ
フタル酸水溶液を精製反応とは関係のない工程で２６０
℃以上の高温下に余けいに保持することとなり、そのた
め、最終的に得られる精製テレフタル酸の品質上の問題
において好ましいことではない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記実情に鑑
み、粗テレフタル酸の溶解処理をバッファー溶解槽を設
けなくても短時間で確実に行い、未溶解の結晶が触媒充
填層に通液されることのないテレフタル酸結晶の溶解方
法を提供し、かつ、熱履歴をなるべく少なくした優れた
品質の高純度テレフタル酸を製造する方法を提供しよう
とするものである。
み、粗テレフタル酸の溶解処理をバッファー溶解槽を設
けなくても短時間で確実に行い、未溶解の結晶が触媒充
填層に通液されることのないテレフタル酸結晶の溶解方
法を提供し、かつ、熱履歴をなるべく少なくした優れた
品質の高純度テレフタル酸を製造する方法を提供しよう
とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明者等は上記目的を
達成するために鋭意検討を行った結果、粗テレフタル酸
をチューブ型加熱器で溶解処理した後の水溶液を特定構
造を有する充填塔型反応器に直接供給することにより粗
テレフタル酸水溶液中の微量不溶物を効率よく溶解させ
ることができ、処理量も増大することができることを見
いだし本発明を完成した。
達成するために鋭意検討を行った結果、粗テレフタル酸
をチューブ型加熱器で溶解処理した後の水溶液を特定構
造を有する充填塔型反応器に直接供給することにより粗
テレフタル酸水溶液中の微量不溶物を効率よく溶解させ
ることができ、処理量も増大することができることを見
いだし本発明を完成した。
【０００６】すなわち、本発明の要旨は、パラキシレン
の酸化反応により得られた粗テレフタル酸を、高温高圧
下で水中に溶解し、次いで該粗テレフタル酸水溶液を水
素の供給下、白金族金属を含む触媒層を有する充填塔型
反応器に通過させることにより高純度テレフタル酸を製
造する方法において、充填塔型反応器上部入口部分にオ
ーバーフロー壁により仕切られて形成された滞留ゾーン
を設け、該滞留ゾーンに粗テレフタル酸水溶液を供給
し、オーバーフロー壁をオーバーフローさせることによ
り該滞留ゾーンの下部に位置する充填層に通液すること
を特徴とする高純度テレフタル酸の製造方法に存する。
の酸化反応により得られた粗テレフタル酸を、高温高圧
下で水中に溶解し、次いで該粗テレフタル酸水溶液を水
素の供給下、白金族金属を含む触媒層を有する充填塔型
反応器に通過させることにより高純度テレフタル酸を製
造する方法において、充填塔型反応器上部入口部分にオ
ーバーフロー壁により仕切られて形成された滞留ゾーン
を設け、該滞留ゾーンに粗テレフタル酸水溶液を供給
し、オーバーフロー壁をオーバーフローさせることによ
り該滞留ゾーンの下部に位置する充填層に通液すること
を特徴とする高純度テレフタル酸の製造方法に存する。
【０００７】以下、本発明を詳細に説明する。パラキシ
レンの酸化反応としては、通常、パラキシレンを酢酸溶
媒中、例えば、コバルト、マンガン及び臭素を含む触媒
の存在下で、通常１７０〜２３０℃の温度条件下で、分
子状酸素と反応させる、いわゆるＳＤ法が採用される。
かかる反応により得られる粗テレフタル酸とは、不純物
として４−カルボキシベンズアルデヒド（以下「４ＣＢ
Ａ」という）を重量基準で通常１０００〜５０００ｐｐ
ｍ含有する結晶性のものである。
レンの酸化反応としては、通常、パラキシレンを酢酸溶
媒中、例えば、コバルト、マンガン及び臭素を含む触媒
の存在下で、通常１７０〜２３０℃の温度条件下で、分
子状酸素と反応させる、いわゆるＳＤ法が採用される。
かかる反応により得られる粗テレフタル酸とは、不純物
として４−カルボキシベンズアルデヒド（以下「４ＣＢ
Ａ」という）を重量基準で通常１０００〜５０００ｐｐ
ｍ含有する結晶性のものである。
【０００８】テレフタル酸は常温常圧では低溶解性であ
り、テレフタル酸の溶解度を高めるためには高温高圧と
する必要がある。粗テレフタル酸の水溶液を得る一般的
な方法としては次のような方法が例示される。粗テレフ
タル酸を水に対して１０〜４０重量％の割合で混合し、
スラリーとする。次に、このスラリーは昇圧ポンプによ
り反応圧力プラスαの圧力（プラスαとは反応器に到達
するまでの圧力損失を考慮した圧力である）まで加圧さ
れ、多管式熱交換器を組み合わせた加熱溶解工程へ供給
される。加熱による昇温は所定の反応温度まで、好まし
くは、複数の熱交換器群により段階的に行われる。この
加熱溶解工程におけるスラリーの滞留時間は、通常、粗
テレフタル酸の結晶粒子が完全溶解するのに必要充分な
ものとして設計され、この加熱器内における滞留時間は
加熱方式により異なるが、通常６０〜９０秒である。
り、テレフタル酸の溶解度を高めるためには高温高圧と
する必要がある。粗テレフタル酸の水溶液を得る一般的
な方法としては次のような方法が例示される。粗テレフ
タル酸を水に対して１０〜４０重量％の割合で混合し、
スラリーとする。次に、このスラリーは昇圧ポンプによ
り反応圧力プラスαの圧力（プラスαとは反応器に到達
するまでの圧力損失を考慮した圧力である）まで加圧さ
れ、多管式熱交換器を組み合わせた加熱溶解工程へ供給
される。加熱による昇温は所定の反応温度まで、好まし
くは、複数の熱交換器群により段階的に行われる。この
加熱溶解工程におけるスラリーの滞留時間は、通常、粗
テレフタル酸の結晶粒子が完全溶解するのに必要充分な
ものとして設計され、この加熱器内における滞留時間は
加熱方式により異なるが、通常６０〜９０秒である。
【０００９】上記のように得られた粗テレフタル酸水溶
液を白金族金属を含む触媒層を有する充填塔型反応器に
通過させ、該反応器内で水素添加反応処理により粗テレ
フタル酸を精製する。白金族金属を含む触媒としては、
パラジウム、ルテニウム、ロジウム、オスミウム、イリ
ジウム、白金等あるいはこれらの金属酸化物から選ばれ
る。これらの金属もしくは金属酸化物は触媒としてその
まま使用することもできるが、活性炭のごとき担体に、
通常０．５〜１０重量％担持したものが特に有効であ
る。反応条件としては、温度が、通常２００〜４００
℃、好ましくは２５０〜３５０℃、圧力は、通常７０ｋ
ｇ／ｃｍ2 Ｇ以上、好ましくは８０〜１００ｋｇ／ｃｍ
2 Ｇである。水素は反応器内に反応圧以上に加圧されて
反応器内に供給されることになる。
液を白金族金属を含む触媒層を有する充填塔型反応器に
通過させ、該反応器内で水素添加反応処理により粗テレ
フタル酸を精製する。白金族金属を含む触媒としては、
パラジウム、ルテニウム、ロジウム、オスミウム、イリ
ジウム、白金等あるいはこれらの金属酸化物から選ばれ
る。これらの金属もしくは金属酸化物は触媒としてその
まま使用することもできるが、活性炭のごとき担体に、
通常０．５〜１０重量％担持したものが特に有効であ
る。反応条件としては、温度が、通常２００〜４００
℃、好ましくは２５０〜３５０℃、圧力は、通常７０ｋ
ｇ／ｃｍ2 Ｇ以上、好ましくは８０〜１００ｋｇ／ｃｍ
2 Ｇである。水素は反応器内に反応圧以上に加圧されて
反応器内に供給されることになる。
【００１０】本発明は、上記の粗テレフタル酸の精製に
おいて特定の構造の充填塔型反応器を用いる点に特徴を
有するものである。本発明で用いられる充填塔型反応器
は、上部入口部分にオーバーフロー壁により仕切られた
粗テレフタル酸水溶液の滞留ゾーンを設け、該滞留ゾー
ンの下部に触媒充填層を有する反応ゾーンを持つ構造で
ある。若干の未溶解結晶粒子を含む可能性のあるこの粗
テレフタル酸水溶液は、まず、上部の滞留ゾーンに加
圧、供給され反応器上部より下部に向かって流れ塔底よ
り流出する。水素も上部より供給され、液相中に溶解し
ていく。反応器内部は上方に水蒸気と水素ガスの気相部
分が存在し、下方の触媒充填層の全体を含む大部分が液
相部となる。そして、テレフタル酸水溶液の反応器内の
液相部の平均滞留時間は通常５〜３０分である。
おいて特定の構造の充填塔型反応器を用いる点に特徴を
有するものである。本発明で用いられる充填塔型反応器
は、上部入口部分にオーバーフロー壁により仕切られた
粗テレフタル酸水溶液の滞留ゾーンを設け、該滞留ゾー
ンの下部に触媒充填層を有する反応ゾーンを持つ構造で
ある。若干の未溶解結晶粒子を含む可能性のあるこの粗
テレフタル酸水溶液は、まず、上部の滞留ゾーンに加
圧、供給され反応器上部より下部に向かって流れ塔底よ
り流出する。水素も上部より供給され、液相中に溶解し
ていく。反応器内部は上方に水蒸気と水素ガスの気相部
分が存在し、下方の触媒充填層の全体を含む大部分が液
相部となる。そして、テレフタル酸水溶液の反応器内の
液相部の平均滞留時間は通常５〜３０分である。
【００１１】上記反応器の構造について、特に、反応器
の上部の構造について、図面を用いて更に説明する。図
１は、本発明に用いられる反応器の一例の構造を示すも
のである。１は水素供給口、２は粗テレフタル酸水溶液
供給口、３はオーバーフロー壁、４は仕切板、５は触媒
充填層、６はテレフタル酸水溶液の出口および７はテレ
フタル酸水溶液の流路を示す。そして、反応を行う場
合、仕切板４と触媒充填層５との間に液相と気相の界面
部分が存在する。
の上部の構造について、図面を用いて更に説明する。図
１は、本発明に用いられる反応器の一例の構造を示すも
のである。１は水素供給口、２は粗テレフタル酸水溶液
供給口、３はオーバーフロー壁、４は仕切板、５は触媒
充填層、６はテレフタル酸水溶液の出口および７はテレ
フタル酸水溶液の流路を示す。そして、反応を行う場
合、仕切板４と触媒充填層５との間に液相と気相の界面
部分が存在する。
【００１２】水素は塔頂付近の供給口１より供給され
る。水素は、高温高圧の塔内においてテレフタル酸水溶
液中に充分溶解するが、溶解効率を高めるためには、オ
ーバーフローして下降するテレフタル酸水溶液の流路に
沿って水素ガスを供給し、液中に巻き込み易くすると好
ましい。粗テレフタル酸水溶液は供給口２より供給され
る。供給口２の位置は、仕切板４からオーバーフロー壁
３の通常０．２〜０．４倍の高さに設置し、オーバーフ
ロー壁３と仕切板４に囲まれた部分が滞留ゾーンを形成
する。従って、オーバーフロー壁３の高さは、滞留ゾー
ンでの水溶液の滞留時間を考慮して適宜設定され、ま
た、滞留ゾーンの温度は、通常、反応ゾーンと同様に設
定される。この滞留ゾーンの主な意義は粗テレフタル酸
水溶液をなるべく短時間で反応ゾーンへ供給し、かつ、
この水溶液中にわずかに混在する未溶解の比較的大きな
結晶粒子を該滞留ゾーンに滞留させ、ここで完全溶解さ
せることにある。
る。水素は、高温高圧の塔内においてテレフタル酸水溶
液中に充分溶解するが、溶解効率を高めるためには、オ
ーバーフローして下降するテレフタル酸水溶液の流路に
沿って水素ガスを供給し、液中に巻き込み易くすると好
ましい。粗テレフタル酸水溶液は供給口２より供給され
る。供給口２の位置は、仕切板４からオーバーフロー壁
３の通常０．２〜０．４倍の高さに設置し、オーバーフ
ロー壁３と仕切板４に囲まれた部分が滞留ゾーンを形成
する。従って、オーバーフロー壁３の高さは、滞留ゾー
ンでの水溶液の滞留時間を考慮して適宜設定され、ま
た、滞留ゾーンの温度は、通常、反応ゾーンと同様に設
定される。この滞留ゾーンの主な意義は粗テレフタル酸
水溶液をなるべく短時間で反応ゾーンへ供給し、かつ、
この水溶液中にわずかに混在する未溶解の比較的大きな
結晶粒子を該滞留ゾーンに滞留させ、ここで完全溶解さ
せることにある。
【００１３】滞留ゾーン内に供給された水溶液はオーバ
ーフロー壁３に沿って上昇し、最後にオーバーフロー
し、仕切板４の下側の反応ゾーンへ供給されることにな
る。従って、もし、未溶解結晶粒子があっても、該粒子
は、オーバーフローすることなく滞留ゾーンの下部へ沈
降して滞留し、そこで供給液や水素の流れによる混合に
供され速やかに溶解されることとなる。未溶解粒子の滞
留は溶液の上昇流と重力の作用による沈降との関係から
生ずるので溶液の上昇流の速度をなるべく小さくし、か
つ、滞留ゾーンの容量はなるべく小さくすることが好ま
しい。滞留ゾーンでの滞留時間は装置の大きさによって
も異なるが、例えば、０．５〜５分程度である。
ーフロー壁３に沿って上昇し、最後にオーバーフロー
し、仕切板４の下側の反応ゾーンへ供給されることにな
る。従って、もし、未溶解結晶粒子があっても、該粒子
は、オーバーフローすることなく滞留ゾーンの下部へ沈
降して滞留し、そこで供給液や水素の流れによる混合に
供され速やかに溶解されることとなる。未溶解粒子の滞
留は溶液の上昇流と重力の作用による沈降との関係から
生ずるので溶液の上昇流の速度をなるべく小さくし、か
つ、滞留ゾーンの容量はなるべく小さくすることが好ま
しい。滞留ゾーンでの滞留時間は装置の大きさによって
も異なるが、例えば、０．５〜５分程度である。
【００１４】このため溶液が上昇する部分の水平方向の
断面積をなるべく大きくする方が好ましい。例えば、図
１の反応器における滞留ゾーン内の場合は、水溶液が上
昇する円筒部分の径と反応ゾーンの径とが同一円筒であ
り、オーバーフローし下降する流路が反応ゾーン内径と
同心円の円筒形をしているが、反応器内径をＤとすると
オーバーフロー壁３の長さがＤの０．３〜０．９倍、水
溶液がオーバーフローし下降する流路の円筒部分の直径
がＤの０．２〜０．４倍の範囲に設置すると好ましい。
断面積をなるべく大きくする方が好ましい。例えば、図
１の反応器における滞留ゾーン内の場合は、水溶液が上
昇する円筒部分の径と反応ゾーンの径とが同一円筒であ
り、オーバーフローし下降する流路が反応ゾーン内径と
同心円の円筒形をしているが、反応器内径をＤとすると
オーバーフロー壁３の長さがＤの０．３〜０．９倍、水
溶液がオーバーフローし下降する流路の円筒部分の直径
がＤの０．２〜０．４倍の範囲に設置すると好ましい。
【００１５】以上のような原理に基づく構造の反応器で
あれば、図１のものに限定されるものではなく、例え
ば、図２に示したように、塔頂付近の供給口２より粗テ
レフタル酸水溶液を供給し、該供給口２の先端部を包含
するようなかたちで、オーバーフロー壁３と仕切板４包
含によって成る滞留ゾーンを設ける構造のものでもよ
い。以上のような方法でオーバーフローさせたテレフタ
ル酸水溶液は、反応ゾーン、具体的には触媒充填層５を
経て精製され、反応器の下部の出口６より系外に流出さ
せる。該流出液は、通常、晶析、乾燥工程を経て精製テ
レフタル酸結晶として回収される。
あれば、図１のものに限定されるものではなく、例え
ば、図２に示したように、塔頂付近の供給口２より粗テ
レフタル酸水溶液を供給し、該供給口２の先端部を包含
するようなかたちで、オーバーフロー壁３と仕切板４包
含によって成る滞留ゾーンを設ける構造のものでもよ
い。以上のような方法でオーバーフローさせたテレフタ
ル酸水溶液は、反応ゾーン、具体的には触媒充填層５を
経て精製され、反応器の下部の出口６より系外に流出さ
せる。該流出液は、通常、晶析、乾燥工程を経て精製テ
レフタル酸結晶として回収される。
【００１６】
【実施例】次に本発明について実施例をあげて、更に具
体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、
以下の実施例に限定されるものではない。図−１に示す
ような構造の反応器を実際に用いてテレフタル酸の製造
を行った。
体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、
以下の実施例に限定されるものではない。図−１に示す
ような構造の反応器を実際に用いてテレフタル酸の製造
を行った。
【００１７】即ち、原料粗テレフタル酸（４ＣＢＡをテ
レフタル酸に対して２７００ｐｐｍ含む）を水溶液濃度
で３０重量％のスラリーとし、これを圧力９０ｋｇ／ｃ
ｍ2Ｇに昇圧し、多管式熱交換器により２８５℃まで昇
温した。ここでの滞留時間は約９０秒とした。スラリー
は流量で４５ｍ3 ／ｈで本発明の充填塔型反応器に供給
した。反応器は図１のような構造で、塔径１２６０ｍ／
ｍ、高さ１０ｍ、触媒層の高さは７ｍである。滞留ゾー
ンの構造は、オーバーフロー壁の高さ７００ｍ／ｍ下降
管の直径は３００ｍ／ｍである。ここでの滞留時間は約
１分とした。反応条件は、圧力８０ｋｇ／ｃｍ2 Ｇ、温
度２８５℃、水素分圧８ｋｇ／ｃｍ2 とし、触媒は０．
５％パラジウム／カーボンを用いた。このような条件で
約１７０日間連続運転を行ったが、反応器内での閉塞に
よるトラブルもなく、得られた精製テレフタル酸は、４
ＣＢＡ濃度で６ｐｐｍ以下という品質を維持できた。
レフタル酸に対して２７００ｐｐｍ含む）を水溶液濃度
で３０重量％のスラリーとし、これを圧力９０ｋｇ／ｃ
ｍ2Ｇに昇圧し、多管式熱交換器により２８５℃まで昇
温した。ここでの滞留時間は約９０秒とした。スラリー
は流量で４５ｍ3 ／ｈで本発明の充填塔型反応器に供給
した。反応器は図１のような構造で、塔径１２６０ｍ／
ｍ、高さ１０ｍ、触媒層の高さは７ｍである。滞留ゾー
ンの構造は、オーバーフロー壁の高さ７００ｍ／ｍ下降
管の直径は３００ｍ／ｍである。ここでの滞留時間は約
１分とした。反応条件は、圧力８０ｋｇ／ｃｍ2 Ｇ、温
度２８５℃、水素分圧８ｋｇ／ｃｍ2 とし、触媒は０．
５％パラジウム／カーボンを用いた。このような条件で
約１７０日間連続運転を行ったが、反応器内での閉塞に
よるトラブルもなく、得られた精製テレフタル酸は、４
ＣＢＡ濃度で６ｐｐｍ以下という品質を維持できた。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、未溶解の粗テレフタル
酸結晶粒子による閉塞などのトラブルもなく品質の優れ
た高純度テレフタル酸を製造することができる。
酸結晶粒子による閉塞などのトラブルもなく品質の優れ
た高純度テレフタル酸を製造することができる。
【図１】本発明に用いられる充填型反応器の一例の構造
を示す図である。
を示す図である。
【図２】本発明に用いられる充填型反応器の一例の構造
を示す図である。
を示す図である。
１ 水素の供給口 ２ 粗テレフタル酸水溶液供給口 ３ オーバーフロー壁 ４ 仕切板 ５ 触媒充填層 ６ テレフタル酸水溶液出口 ７ テレフタル酸水溶液の流路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 仰木 啓訓 福岡県北九州市八幡西区黒崎城石１番１ 号 三菱化成株式会社黒崎工場内 (56)参考文献 特開 昭56−79635（ＪＰ，Ａ) 特公 昭51−32618（ＪＰ，Ｂ１) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) C07C 63/26 C07C 51/487
Claims (1)
- 【請求項１】 パラキシレンの酸化反応により得られた
粗テレフタル酸を、高温高圧下で水中に溶解し、次いで
該粗テレフタル酸水溶液を水素の供給下、白金族金属を
含む触媒層を有する充填塔型反応器を通過させることに
より高純度テレフタル酸を製造する方法において、充填
塔型反応器の上部入口部分にオーバーフロー壁により仕
切られて形成された滞留ゾーンを設け、該滞留ゾーンに
粗テレフタル酸水溶液を供給し、オーバーフロー壁をオ
ーバーフローさせた後、該滞留ゾーンの下部に位置する
触媒充填層に通液することを特徴とする高純度テレフタ
ル酸の製造方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27457192A JP3232700B2 (ja) | 1992-10-13 | 1992-10-13 | 高純度テレフタル酸の製造方法 |
| DE4334100A DE4334100C2 (de) | 1992-10-13 | 1993-10-06 | Verfahren zur Herstellung hochreiner Terephthalsäure |
| TW082108289A TW225520B (ja) | 1992-10-13 | 1993-10-07 | |
| KR1019930021132A KR100267897B1 (ko) | 1992-10-13 | 1993-10-12 | 고순도 테레프탈산의 제조방법 |
| GB9320992A GB2271568B (en) | 1992-10-13 | 1993-10-12 | Process for producing highly pure terephthalic acid |
| US08/134,907 US5420344A (en) | 1992-10-13 | 1993-10-13 | Process for producing highly pure terephthalic acid |
| CN93119113.0A CN1035763C (zh) | 1992-10-13 | 1993-10-13 | 生产高纯度对苯二甲酸的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27457192A JP3232700B2 (ja) | 1992-10-13 | 1992-10-13 | 高純度テレフタル酸の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06128191A JPH06128191A (ja) | 1994-05-10 |
| JP3232700B2 true JP3232700B2 (ja) | 2001-11-26 |
Family
ID=17543599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27457192A Expired - Lifetime JP3232700B2 (ja) | 1992-10-13 | 1992-10-13 | 高純度テレフタル酸の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3232700B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1318371C (zh) * | 2002-12-09 | 2007-05-30 | 三菱化学株式会社 | 向反应器内供应粗对苯二甲酸溶液的方法 |
| JP2008162958A (ja) * | 2006-12-28 | 2008-07-17 | Mitsui Chemicals Inc | 高純度テレフタル酸の製造方法 |
-
1992
- 1992-10-13 JP JP27457192A patent/JP3232700B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06128191A (ja) | 1994-05-10 |
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