JP3222522B2 - 検査システムおよびその方法 - Google Patents
検査システムおよびその方法Info
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像処理装置の処理機
能を検査する検査システムおよびその方法に関する。
能を検査する検査システムおよびその方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像処理装置を検査する工程は、ＬＳＩ
メーカによる画像処理ＬＳＩの特性検査（以下「ＬＳＩ
検査」という）、実装済みプリント板の特性検査（以下
「プリント板検査」という）、画像処理装置を実際に動
作させた特性検査（以下「実動検査」という）の３段階
に別けられる。
メーカによる画像処理ＬＳＩの特性検査（以下「ＬＳＩ
検査」という）、実装済みプリント板の特性検査（以下
「プリント板検査」という）、画像処理装置を実際に動
作させた特性検査（以下「実動検査」という）の３段階
に別けられる。
【０００３】しかし、画像処理および同機能の進歩によ
つて、ＬＳＩ検査やプリント板検査では、画像処理装置
のもつ機能を充分に検査できず、実動検査の比重が近年
増大している。すなわち、ＬＳＩ検査結果と、プリント
板検査結果とが正常であつても、最終的な実動検査にお
いて異常が認められることが多い。そこで従来は、最終
品質を保証する画像出力工程で、画像品質を確認する画
像と、画像処理機能を確認する画像とを併せて出力させ
ることで、画像処理装置の検査を行つていた。
つて、ＬＳＩ検査やプリント板検査では、画像処理装置
のもつ機能を充分に検査できず、実動検査の比重が近年
増大している。すなわち、ＬＳＩ検査結果と、プリント
板検査結果とが正常であつても、最終的な実動検査にお
いて異常が認められることが多い。そこで従来は、最終
品質を保証する画像出力工程で、画像品質を確認する画
像と、画像処理機能を確認する画像とを併せて出力させ
ることで、画像処理装置の検査を行つていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例に
おいては、次のような問題点があつた。すなわち、 （１）画像出力による画像処理機能確認は、画像処理機
能毎に画像出力が必要であり、用紙に画像を出力させる
複写装置などにおいては、紙資源を無駄に消費しかねな
い。
おいては、次のような問題点があつた。すなわち、 （１）画像出力による画像処理機能確認は、画像処理機
能毎に画像出力が必要であり、用紙に画像を出力させる
複写装置などにおいては、紙資源を無駄に消費しかねな
い。
【０００５】（２）画像出力が低速な装置であれば、画
像出力に要する時間が大きくなり、検査コストが上昇す
る。 （３）人間が出力画像の良否判定を行うので、検査者に
よる判定結果のばらつきが生じるのを避けられない。 （４）不良原因が、電気系にあるのかメカニズム系にあ
るのか特定し難い。
像出力に要する時間が大きくなり、検査コストが上昇す
る。 （３）人間が出力画像の良否判定を行うので、検査者に
よる判定結果のばらつきが生じるのを避けられない。 （４）不良原因が、電気系にあるのかメカニズム系にあ
るのか特定し難い。
【０００６】以上の背景から、画像処理装置の実際の動
作と充分な対応がとれ、かつ短時間で画像処理装置を検
査できる検査システムおよび方法が求められている。
作と充分な対応がとれ、かつ短時間で画像処理装置を検
査できる検査システムおよび方法が求められている。
【０００７】本発明は、上述の問題を解決するためのも
のであり、画像処理装置の処理機能ごとに画像出力を必
要としない検査を行うことを目的とする。また、短時間
に画像処理装置の処理機能を検査することを他の目的と
する。
のであり、画像処理装置の処理機能ごとに画像出力を必
要としない検査を行うことを目的とする。また、短時間
に画像処理装置の処理機能を検査することを他の目的と
する。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記の目的を
達成する一手段として、以下の構成を備える。本発明に
かかる検査システムは、画像処理装置を検査する検査シ
ステムであって、前記画像処理装置の画像処理領域を複
数に分割し、分割したそれぞれの領域ごとに画像処理機
能を独立に設定する設定手段と、複数のデータを記憶す
る記憶手段と、前記設定手段により分割された領域の一
つへ前記記憶手段が記憶する複数のデータの一つを注入
する注入手段と、前記注入手段により注入されたデータ
を前記画像処理装置が処理した結果と、前記記憶手段が
記憶する複数のデータの一つとを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記画像処理装置の
良否を判定する判定手段とを有することを特徴とする。
達成する一手段として、以下の構成を備える。本発明に
かかる検査システムは、画像処理装置を検査する検査シ
ステムであって、前記画像処理装置の画像処理領域を複
数に分割し、分割したそれぞれの領域ごとに画像処理機
能を独立に設定する設定手段と、複数のデータを記憶す
る記憶手段と、前記設定手段により分割された領域の一
つへ前記記憶手段が記憶する複数のデータの一つを注入
する注入手段と、前記注入手段により注入されたデータ
を前記画像処理装置が処理した結果と、前記記憶手段が
記憶する複数のデータの一つとを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記画像処理装置の
良否を判定する判定手段とを有することを特徴とする。
【０００９】本発明にかかる検査方法は、画像処理装置
を検査する検査方法であって、前記画像処理装置の画像
処理領域を複数の分割領域に分割し、前記分割領域ごと
に画像処理機能を独立に設定し、前記分割領域の一つへ
メモリが記憶する複数のデータの一つを注入し、注入さ
れたデータを前記画像処理装置が処理した結果と、前記
メモリが記憶する複数のデータの一つとを比較し、その
比較結果に基づき前記画像処理装置の良否を判定するこ
とを特徴とする。
を検査する検査方法であって、前記画像処理装置の画像
処理領域を複数の分割領域に分割し、前記分割領域ごと
に画像処理機能を独立に設定し、前記分割領域の一つへ
メモリが記憶する複数のデータの一つを注入し、注入さ
れたデータを前記画像処理装置が処理した結果と、前記
メモリが記憶する複数のデータの一つとを比較し、その
比較結果に基づき前記画像処理装置の良否を判定するこ
とを特徴とする。
【００１０】
【実施例】以下、本発明に係る一実施例を図面を参照し
て詳細に説明する。図１は本実施例の構成例を示すブロ
ツク図である。図１において、１はワークステーシヨン
（以下「ＷＳ」という）で、例えばその内部には、所定
の処理プログラムを格納するプログラムメモリ１５、基
準データを格納する基準データメモリ１６、後述の抽出
データを格納する抽出データメモリａ１７、後述の注入
データを格納する注入データメモリａ１８、作業領域と
して用いるワークメモリ１９などが含まれる。
て詳細に説明する。図１は本実施例の構成例を示すブロ
ツク図である。図１において、１はワークステーシヨン
（以下「ＷＳ」という）で、例えばその内部には、所定
の処理プログラムを格納するプログラムメモリ１５、基
準データを格納する基準データメモリ１６、後述の抽出
データを格納する抽出データメモリａ１７、後述の注入
データを格納する注入データメモリａ１８、作業領域と
して用いるワークメモリ１９などが含まれる。
【００１１】２はＩ／Ｆ部で、ＷＳ１と被検査物との間
の画像のやり取りや、被検査物の制御を行う。Ｉ／Ｆ部
２には、例えば、注入データメモリｂ２１，抽出データ
メモリｂ２２，制御回路２３などが含まれる。３は被検
査物で、例えば実装済みのプリント板など、画像処理装
置の画像処理回路ブロツクで、複数の画像処理ＬＳＩ３
１〜３３などを含む。
の画像のやり取りや、被検査物の制御を行う。Ｉ／Ｆ部
２には、例えば、注入データメモリｂ２１，抽出データ
メモリｂ２２，制御回路２３などが含まれる。３は被検
査物で、例えば実装済みのプリント板など、画像処理装
置の画像処理回路ブロツクで、複数の画像処理ＬＳＩ３
１〜３３などを含む。
【００１２】４はハードデイスク（以下「ＨＤ」とよ
ぶ）で、例えばＳＣＳＩなどの汎用インタフエース４１
を介してＷＳ１に接続され、例えば、基準データ（良品
の被検査物が出力した画像データ）、注入データ（被検
査物３へ注入する画像データ）、および制御プログラム
などが記憶されている。なお、基準データや注入データ
は、例えば、Ａ４フルサイズではなくて、２１０mm×８
０mmサイズの多値カラー画像データとし、それぞれ約５
０種類をＨＤ４に記憶させておく。
ぶ）で、例えばＳＣＳＩなどの汎用インタフエース４１
を介してＷＳ１に接続され、例えば、基準データ（良品
の被検査物が出力した画像データ）、注入データ（被検
査物３へ注入する画像データ）、および制御プログラム
などが記憶されている。なお、基準データや注入データ
は、例えば、Ａ４フルサイズではなくて、２１０mm×８
０mmサイズの多値カラー画像データとし、それぞれ約５
０種類をＨＤ４に記憶させておく。
【００１３】次に、検査シーケンスを説明するが、検査
シーケンスは、（１）準備シーケンス，（２）制御シー
ケンス，（３）注入／抽出シーケンス，（４）判定シー
ケンスに別けられる。
シーケンスは、（１）準備シーケンス，（２）制御シー
ケンス，（３）注入／抽出シーケンス，（４）判定シー
ケンスに別けられる。
【００１４】（１）まず準備シーケンスを説明する。Ｗ
Ｓ１とＩ／Ｆ部２をＯＮすると、ＨＤ４に記憶された制
御プログラムが、ＷＳ１のプログラムメモリ１５へロー
ドされる。次に、被検査物３をＯＮすると、制御回路２
３は、制御ライン４４を介して、被検査物３の状態をチ
エツクし、さらに、被検査物３が有する画像処理機能を
示す情報（以下「機能情報」とよぶ）を得て、チエツク
結果と機能情報をＷＳ１へ送る。ＷＳ１は、制御回路２
３から送られてきたチエツク結果によつて、被検査物３
が待機状態にあることを確認するが、もし被検査物３が
待機状態にないときは、エラーメツセージを出力して検
査シーケンスを終了する。
Ｓ１とＩ／Ｆ部２をＯＮすると、ＨＤ４に記憶された制
御プログラムが、ＷＳ１のプログラムメモリ１５へロー
ドされる。次に、被検査物３をＯＮすると、制御回路２
３は、制御ライン４４を介して、被検査物３の状態をチ
エツクし、さらに、被検査物３が有する画像処理機能を
示す情報（以下「機能情報」とよぶ）を得て、チエツク
結果と機能情報をＷＳ１へ送る。ＷＳ１は、制御回路２
３から送られてきたチエツク結果によつて、被検査物３
が待機状態にあることを確認するが、もし被検査物３が
待機状態にないときは、エラーメツセージを出力して検
査シーケンスを終了する。
【００１５】（２）以上で、準備シーケンスが終了し、
続いて、制御シーケンスを説明する。ＷＳ１に接続され
たマウスやキーボード（不図示）などによつて、検査開
始が指示されると、ＷＳ１は、データライン４２，制御
ライン４３を介して、プログラムメモリ１５に記憶され
ている制御プログラムの一部を送出し、送出された同プ
ログラムは、制御回路２３内のプログラムメモリ（不図
示）へロードされる。なお、制御プログラムの他の一部
は、プログラムメモリ１５に常駐して、ＷＳ１，ＨＤ
４，Ｉ／Ｆ部２などを制御する。
続いて、制御シーケンスを説明する。ＷＳ１に接続され
たマウスやキーボード（不図示）などによつて、検査開
始が指示されると、ＷＳ１は、データライン４２，制御
ライン４３を介して、プログラムメモリ１５に記憶され
ている制御プログラムの一部を送出し、送出された同プ
ログラムは、制御回路２３内のプログラムメモリ（不図
示）へロードされる。なお、制御プログラムの他の一部
は、プログラムメモリ１５に常駐して、ＷＳ１，ＨＤ
４，Ｉ／Ｆ部２などを制御する。
【００１６】制御プログラムがロードされた制御回路２
３は、同プログラムに従つて動作し、被検査物３，注入
データメモリｂ２１，抽出データメモリｂ２２の制御信
号である区間信号や同期クロツクなども発生する。さら
に、制御回路２３は、前述の機能情報に基づいて、被検
査物３の動作モードや検査画像領域の設定を行い、また
ＬＳＩ３１〜３３それぞれの画像処理機能などのＯＮ／
ＯＦＦ制御を行う。
３は、同プログラムに従つて動作し、被検査物３，注入
データメモリｂ２１，抽出データメモリｂ２２の制御信
号である区間信号や同期クロツクなども発生する。さら
に、制御回路２３は、前述の機能情報に基づいて、被検
査物３の動作モードや検査画像領域の設定を行い、また
ＬＳＩ３１〜３３それぞれの画像処理機能などのＯＮ／
ＯＦＦ制御を行う。
【００１７】また、制御回路２３は、前述の機能情報に
基づいて、被検査物３へ注入する注入データを、データ
ライン４２，制御ライン４３を介してＷＳ１へ要求す
る。注入データの要求を受けたＷＳ１は、該注入データ
と、該注入データに対応する基準データとを、ＨＤ４か
らそれぞれ注入データメモリａ１８と基準データメモリ
１６へロードし、注入データメモリａ１８に一旦記憶さ
れた注入データを、データライン４２を介して、Ｉ／Ｆ
部２の注入データメモリｂ２１へロードする。
基づいて、被検査物３へ注入する注入データを、データ
ライン４２，制御ライン４３を介してＷＳ１へ要求す
る。注入データの要求を受けたＷＳ１は、該注入データ
と、該注入データに対応する基準データとを、ＨＤ４か
らそれぞれ注入データメモリａ１８と基準データメモリ
１６へロードし、注入データメモリａ１８に一旦記憶さ
れた注入データを、データライン４２を介して、Ｉ／Ｆ
部２の注入データメモリｂ２１へロードする。
【００１８】なお、注入データをＨＤ４から注入データ
メモリｂ２１へロードするのに、注入データメモリａ１
８を介在させるのは、ＷＳ１とＩ／Ｆ部２を接続するデ
ータライン４２と制御ライン４３に、データ転送速度が
遅い方式のものも利用可能とするためであり、本実施例
はこれに限定されるものではなく、データ転送速度が速
い方式のものも利用する場合は、注入データメモリａ１
８を介在させることなく、注入データをＨＤ４から注入
データメモリｂ２１へロードすることもできる。
メモリｂ２１へロードするのに、注入データメモリａ１
８を介在させるのは、ＷＳ１とＩ／Ｆ部２を接続するデ
ータライン４２と制御ライン４３に、データ転送速度が
遅い方式のものも利用可能とするためであり、本実施例
はこれに限定されるものではなく、データ転送速度が速
い方式のものも利用する場合は、注入データメモリａ１
８を介在させることなく、注入データをＨＤ４から注入
データメモリｂ２１へロードすることもできる。
【００１９】（３）以上で、制御シーケンスが終了し、
続いて、注入／抽出シーケンスを説明する。制御回路２
３は、区間信号がＯＮの期間、同期クロツクに同期し
て、注入データを、注入データメモリｂ２１から、デー
タライン４５を介して、被検査物３へ送り、同期クロツ
クに同期して、被検査物３が出力する画像データを、デ
ータライン４６を介して、抽出データメモリｂ２２へ記
憶させる。なお、被検査物３が出力する画像データは、
被検査物３が、注入データを画像処理したものである。
また、区間信号は検査画像領域の範囲でＯＮになる。
続いて、注入／抽出シーケンスを説明する。制御回路２
３は、区間信号がＯＮの期間、同期クロツクに同期し
て、注入データを、注入データメモリｂ２１から、デー
タライン４５を介して、被検査物３へ送り、同期クロツ
クに同期して、被検査物３が出力する画像データを、デ
ータライン４６を介して、抽出データメモリｂ２２へ記
憶させる。なお、被検査物３が出力する画像データは、
被検査物３が、注入データを画像処理したものである。
また、区間信号は検査画像領域の範囲でＯＮになる。
【００２０】（４）以上で、注入／抽出シーケンスが終
了し、続いて、判定シーケンスを説明する。区間信号が
ＯＦＦになると、制御回路２３は、抽出データメモリｂ
２２に記憶された画像データを、データライン４２を介
して、ＷＳ１の抽出データメモリａ１７へ送る。
了し、続いて、判定シーケンスを説明する。区間信号が
ＯＦＦになると、制御回路２３は、抽出データメモリｂ
２２に記憶された画像データを、データライン４２を介
して、ＷＳ１の抽出データメモリａ１７へ送る。
【００２１】なお、抽出データを被検査物３から抽出デ
ータメモリａ１７へロードするのに、抽出データメモリ
ｂ２２を介在させるのは、ＷＳ１とＩ／Ｆ部２を接続す
るデータライン４２と制御ライン４３に、データ転送速
度が遅い方式のものも利用可能とするためであり、本実
施例はこれに限定されるものではなく、データ転送速度
が速い方式のものも利用する場合は、抽出データメモリ
ｂ２２を介在させることなく、抽出データを被検査物３
から抽出データメモリａ１７へロードすることもでき
る。
ータメモリａ１７へロードするのに、抽出データメモリ
ｂ２２を介在させるのは、ＷＳ１とＩ／Ｆ部２を接続す
るデータライン４２と制御ライン４３に、データ転送速
度が遅い方式のものも利用可能とするためであり、本実
施例はこれに限定されるものではなく、データ転送速度
が速い方式のものも利用する場合は、抽出データメモリ
ｂ２２を介在させることなく、抽出データを被検査物３
から抽出データメモリａ１７へロードすることもでき
る。
【００２２】続いて、ＷＳ１において、基準データメモ
リ１６に記憶されたデータと、抽出データメモリａ１７
に記憶されたデータとを比較して、被検査物３の良否判
定を行う。ただし、前述したように、被検査物３は複数
の機能をもつているので（つまり複数の画像処理ＬＳＩ
が含まれるので）、検査シーケンス１回で、すべての機
能（ＬＳＩ）を検査することはできない。そこで、例え
ば、現在の検査シーケンスが第１の機能（例えばＬＳＩ
１３）を検査するためものであれば、第１の機能（ＬＳ
Ｉ１３）の良否判定が終了することになり、続けて、他
の機能（ＬＳＩ）の検査シーケンスを実行し、すべての
機能（ＬＳＩ）の検査シーケンスが終了した時点で、被
検査物３の良否判定が行われることになる。
リ１６に記憶されたデータと、抽出データメモリａ１７
に記憶されたデータとを比較して、被検査物３の良否判
定を行う。ただし、前述したように、被検査物３は複数
の機能をもつているので（つまり複数の画像処理ＬＳＩ
が含まれるので）、検査シーケンス１回で、すべての機
能（ＬＳＩ）を検査することはできない。そこで、例え
ば、現在の検査シーケンスが第１の機能（例えばＬＳＩ
１３）を検査するためものであれば、第１の機能（ＬＳ
Ｉ１３）の良否判定が終了することになり、続けて、他
の機能（ＬＳＩ）の検査シーケンスを実行し、すべての
機能（ＬＳＩ）の検査シーケンスが終了した時点で、被
検査物３の良否判定が行われることになる。
【００２３】なお、ＬＳＩを個別に検査するためには、
前後のＬＳＩの画像処理機能を透過にしておき、注目す
る画像処理機能検査の独立性を保たねばならない。ま
た、被検査物３内にフアームウエアとして存在するプロ
グラムには、被検査物３に関連するセンサやモータなど
の負荷が接続されていなくとも、略実際の動作状態とす
ることができる検査モードをもたせておく。
前後のＬＳＩの画像処理機能を透過にしておき、注目す
る画像処理機能検査の独立性を保たねばならない。ま
た、被検査物３内にフアームウエアとして存在するプロ
グラムには、被検査物３に関連するセンサやモータなど
の負荷が接続されていなくとも、略実際の動作状態とす
ることができる検査モードをもたせておく。
【００２４】以上では、ハードウエアの構成例に沿つて
検査シーケンスを説明したが、検査の流れに沿つて検査
シーケンスの一例を示すと図２，図３のフローチヤート
となる。図２，図３においては、図の左側はＷＳ１が主
体となる処理であり、図の右側は制御回路２３が主体と
なる処理である。また、同図のＳ１からＳ６までが準備
シーケンスに、Ｓ７からＳ１１までが制御シーケンス
に、Ｓ１２からＳ１５までが注入／抽出シーケンスに、
Ｓ１６からＳ２１までが判定シーケンスに相当する。
検査シーケンスを説明したが、検査の流れに沿つて検査
シーケンスの一例を示すと図２，図３のフローチヤート
となる。図２，図３においては、図の左側はＷＳ１が主
体となる処理であり、図の右側は制御回路２３が主体と
なる処理である。また、同図のＳ１からＳ６までが準備
シーケンスに、Ｓ７からＳ１１までが制御シーケンス
に、Ｓ１２からＳ１５までが注入／抽出シーケンスに、
Ｓ１６からＳ２１までが判定シーケンスに相当する。
【００２５】Ｓ１でＷＳ１とＩ／Ｆ部２がＯＮすると、
Ｓ２で制御プログラムがプログラムメモリ１５へロード
される。さらに、Ｓ３で被検査物３がＯＮすると、制御
回路２３は、Ｓ４で被検査物３をチエツクし、Ｓ５で機
能情報を取得する。ＷＳ１は、Ｓ６で制御回路２３のチ
エツク結果から被検査物３が待機状態にあるか判断す
る。待機状態と判断した場合は次のステツプに進み、も
し待機状態でないと判断した場合は、Ｓ２２でエラーメ
ツセージを表示するなどして検査シーケンスを終了す
る。
Ｓ２で制御プログラムがプログラムメモリ１５へロード
される。さらに、Ｓ３で被検査物３がＯＮすると、制御
回路２３は、Ｓ４で被検査物３をチエツクし、Ｓ５で機
能情報を取得する。ＷＳ１は、Ｓ６で制御回路２３のチ
エツク結果から被検査物３が待機状態にあるか判断す
る。待機状態と判断した場合は次のステツプに進み、も
し待機状態でないと判断した場合は、Ｓ２２でエラーメ
ツセージを表示するなどして検査シーケンスを終了す
る。
【００２６】ＷＳ１はＳ７で検査開始の指示を待ち、検
査開始の指示があると、Ｓ８で制御プログラムの一部を
制御回路２３に送る。制御回路２３は、送られてきた制
御プログラムに従つて動作し、Ｓ９で被検査物３の動作
モードや検査画像領域などを設定し、さらにＳ１０で、
取得した機能情報に対応する注入データをＷＳ１に要求
する。ＷＳ１は、Ｓ１１で、要求された注入データと注
入データに対応する基準データとを、それぞれ注入デー
タメモリａ１８と基準データメモリ１６にロードし、さ
らに注入データを注入データメモリｂ２１へロードす
る。
査開始の指示があると、Ｓ８で制御プログラムの一部を
制御回路２３に送る。制御回路２３は、送られてきた制
御プログラムに従つて動作し、Ｓ９で被検査物３の動作
モードや検査画像領域などを設定し、さらにＳ１０で、
取得した機能情報に対応する注入データをＷＳ１に要求
する。ＷＳ１は、Ｓ１１で、要求された注入データと注
入データに対応する基準データとを、それぞれ注入デー
タメモリａ１８と基準データメモリ１６にロードし、さ
らに注入データを注入データメモリｂ２１へロードす
る。
【００２７】制御回路２３は、Ｓ１２で区間信号がＯＮ
になると、Ｓ１３で注入データメモリｂ２１の注入デー
タを被検査物３へ注入し、Ｓ１４で被検査物３が出力し
た画像データを抽出データメモリｂ２２へ格納し、Ｓ１
５で区間信号がＯＦＦでないときは、再びＳ１３とＳ１
４を繰返す。Ｓ１５で区間信がＯＦＦのときは次のステ
ツプへ進む。
になると、Ｓ１３で注入データメモリｂ２１の注入デー
タを被検査物３へ注入し、Ｓ１４で被検査物３が出力し
た画像データを抽出データメモリｂ２２へ格納し、Ｓ１
５で区間信号がＯＦＦでないときは、再びＳ１３とＳ１
４を繰返す。Ｓ１５で区間信がＯＦＦのときは次のステ
ツプへ進む。
【００２８】制御回路２３は、Ｓ１６で、抽出データメ
モリｂ２１の抽出データを、ＷＳ１の抽出データメモリ
ａ１７へ送る。ＷＳ１は、Ｓ１７で基準データと抽出デ
ータを比較し、Ｓ１８で良否判定を行い、Ｓ１９で例え
ばワークメモリへ判定結果を格納する。なお、Ｓ１７と
Ｓ１８における比較および判定方法としては、例えば、
基準データメモリ１６と抽出データメモリａ１７の同一
アドレスのデータを、ひとつひとつ比較して一致／不一
致を調べ、不一致のデータ数が予め設定された上限数を
超えた場合、不良と判定する方法などがある。
モリｂ２１の抽出データを、ＷＳ１の抽出データメモリ
ａ１７へ送る。ＷＳ１は、Ｓ１７で基準データと抽出デ
ータを比較し、Ｓ１８で良否判定を行い、Ｓ１９で例え
ばワークメモリへ判定結果を格納する。なお、Ｓ１７と
Ｓ１８における比較および判定方法としては、例えば、
基準データメモリ１６と抽出データメモリａ１７の同一
アドレスのデータを、ひとつひとつ比較して一致／不一
致を調べ、不一致のデータ数が予め設定された上限数を
超えた場合、不良と判定する方法などがある。
【００２９】続いて、ＷＳ１は、機能情報に基づいて、
Ｓ２０ですべての機能（ＬＳＩ）の検査が終了したか判
定し、まだ検査すべき機能（ＬＳＩ）があると判断され
た場合はＳ９へ進み、すべての検査が終了したと判断さ
れた場合は、Ｓ２１でワークメモリ１９に格納した判定
結果を表示するなどして、検査シーケンスを終了する。
Ｓ２０ですべての機能（ＬＳＩ）の検査が終了したか判
定し、まだ検査すべき機能（ＬＳＩ）があると判断され
た場合はＳ９へ進み、すべての検査が終了したと判断さ
れた場合は、Ｓ２１でワークメモリ１９に格納した判定
結果を表示するなどして、検査シーケンスを終了する。
【００３０】図４は注入データの一例を示す図で、ｘ軸
およびｙ軸はデータの座標を、ｚ軸はデータの輝度を表
す。なお、図４は８ビツトカラー画像データの一例を示
しているが、本実施例はこれに限定されるものではな
い。画像処理機能の大多数は、主走査依存型か副走査依
存型であるので、図４に示すような、簡単な注入データ
で、各走査方向にＲＧＢすべての輝度データを注入する
ことができ、充分な検査を行うことができる。ただし、
誤差拡散法，特異点除去，平均濃度保存法などによる画
像処理では、周辺の画像による影響が大きいので、それ
ぞれの画像処理方法にあつた注入データを用意する。
およびｙ軸はデータの座標を、ｚ軸はデータの輝度を表
す。なお、図４は８ビツトカラー画像データの一例を示
しているが、本実施例はこれに限定されるものではな
い。画像処理機能の大多数は、主走査依存型か副走査依
存型であるので、図４に示すような、簡単な注入データ
で、各走査方向にＲＧＢすべての輝度データを注入する
ことができ、充分な検査を行うことができる。ただし、
誤差拡散法，特異点除去，平均濃度保存法などによる画
像処理では、周辺の画像による影響が大きいので、それ
ぞれの画像処理方法にあつた注入データを用意する。
【００３１】本発明の対象となる画像処理としては、下
記のようなものがある。ＣＣＤセンサ出力の白レベル／
黒レベルの補正，ＭＴＦ補正，色ずれ補正、例えば所謂
ＢＪ方式のインクジエツトプリンタにおいて、マルチノ
ズル印刷を行う際のバンド間つなぎ補正やヘツドシエー
デイング、拡大／縮小などの画像編集処理、ｌｏｇ変
換、γ変換、マスキングなどである。
記のようなものがある。ＣＣＤセンサ出力の白レベル／
黒レベルの補正，ＭＴＦ補正，色ずれ補正、例えば所謂
ＢＪ方式のインクジエツトプリンタにおいて、マルチノ
ズル印刷を行う際のバンド間つなぎ補正やヘツドシエー
デイング、拡大／縮小などの画像編集処理、ｌｏｇ変
換、γ変換、マスキングなどである。
【００３２】なお、前述の説明および図１では、ＷＳ１
とＩ／Ｆ部２が分離された例を説明したが、例えば、両
者を一体化した検査システムとすることもできる。ま
た、前述の説明および図１では、ＨＤ４に制御プログラ
ムや注入データを記憶させておく例を説明したが、例え
ば、バツテリバツクアツプされたＲＡＭデイスク，光デ
イスクや光磁気デイスクなどの記憶メデイアをＨＤ４の
代わりに使うこともできる。
とＩ／Ｆ部２が分離された例を説明したが、例えば、両
者を一体化した検査システムとすることもできる。ま
た、前述の説明および図１では、ＨＤ４に制御プログラ
ムや注入データを記憶させておく例を説明したが、例え
ば、バツテリバツクアツプされたＲＡＭデイスク，光デ
イスクや光磁気デイスクなどの記憶メデイアをＨＤ４の
代わりに使うこともできる。
【００３３】さらに、前述の説明および図１では、被検
査物３の検査モードの設定を、制御回路２３が制御ライ
ン４４を介して行う例を説明したが、例えば、被検査物
３が内蔵するＤＩＰスイツチやテンキーを人間が操作す
ることで行つてもよい。以上説明したように、本実施例
には以下の効果がある。 （１）画像処理機能毎に画像を出力する必要がなく、用
紙に画像を出力させる複写装置などにおいては、紙資源
を節約できる。
査物３の検査モードの設定を、制御回路２３が制御ライ
ン４４を介して行う例を説明したが、例えば、被検査物
３が内蔵するＤＩＰスイツチやテンキーを人間が操作す
ることで行つてもよい。以上説明したように、本実施例
には以下の効果がある。 （１）画像処理機能毎に画像を出力する必要がなく、用
紙に画像を出力させる複写装置などにおいては、紙資源
を節約できる。
【００３４】（２）画像出力が低速な装置であつても、
画像出力が不要なので、検査時間の増加はなく、検査コ
ストの上昇を防げる。 （３）ＷＳと制御プログラムの組合せで画像処理結果の
良否判定を行うので、判定結果にばらつきが生じない。
また、基準データと、画像処理結果の抽出データとを、
１データずつ比較できるので、画像出力を目視検査する
場合には発見できないような不具合を発見でき、被検査
物の品質向上が図れる。
画像出力が不要なので、検査時間の増加はなく、検査コ
ストの上昇を防げる。 （３）ＷＳと制御プログラムの組合せで画像処理結果の
良否判定を行うので、判定結果にばらつきが生じない。
また、基準データと、画像処理結果の抽出データとを、
１データずつ比較できるので、画像出力を目視検査する
場合には発見できないような不具合を発見でき、被検査
物の品質向上が図れる。
【００３５】（４）画像処理機能（ＬＳＩ）単位で検査
を行えるので、不良原因を特定し易い。 （５）画像処理領域を分割して検査するので、画像処理
領域全体を一括で検査するのに比べ、小容量のメモリで
検査を行える。 （６）複数に分割された領域毎に独立に画像処理機能を
設定して検査することができ、複数の領域を組合わせて
全領域を構成することにより、１枚の画像出力工数と略
同等な時間で、数十種類の画像処理機能の検査を行え
る。
を行えるので、不良原因を特定し易い。 （５）画像処理領域を分割して検査するので、画像処理
領域全体を一括で検査するのに比べ、小容量のメモリで
検査を行える。 （６）複数に分割された領域毎に独立に画像処理機能を
設定して検査することができ、複数の領域を組合わせて
全領域を構成することにより、１枚の画像出力工数と略
同等な時間で、数十種類の画像処理機能の検査を行え
る。
【００３６】なお、本発明は、複数の機器から構成され
るシステムに適用しても、１つの機器からなる装置に適
用してもよい。また、本発明は、システムあるいは装置
にプログラムを供給することによつて達成される場合に
も適用できることはいうまでもない。
るシステムに適用しても、１つの機器からなる装置に適
用してもよい。また、本発明は、システムあるいは装置
にプログラムを供給することによつて達成される場合に
も適用できることはいうまでもない。
【００３７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
画像処理装置の処理機能ごとに画像出力を必要としない
検査を行うことができる。また、短時間に画像処理装置
の処理機能を検査することができる。
画像処理装置の処理機能ごとに画像出力を必要としない
検査を行うことができる。また、短時間に画像処理装置
の処理機能を検査することができる。
【図１】本発明に係る一実施例の構成例を示すブロツク
図である。
図である。
【図２】，
【図３】本実施例の検査の流れの一例を示すフローチヤ
ートである。
ートである。
【図４】本実施例の注入データの一例を示す図である。
１ ＷＳ ２ Ｉ／Ｆ部 ３ 被検査物 ４ ＨＤ １５ プログラムメモリ １６ 基準データメモリ １７，２２ 抽出データメモリ １８，２１ 注入データメモリ ２３ 制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−263130（ＪＰ，Ａ) 実開 平３−119248（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06T 1/00 G06F 11/22 - 11/277
Claims (4)
- 【請求項１】 画像処理装置を検査する検査システムで
あって、 前記画像処理装置の画像処理領域を複数に分割し、分割
したそれぞれの領域ごとに画像処理機能を独立に設定す
る設定手段と、 複数のデータを記憶する記憶手段と、 前記設定手段により分割された領域の一つへ前記記憶手
段が記憶する複数のデータの一つを注入する注入手段
と、 前記注入手段により注入されたデータを前記画像処理装
置が処理した結果と、前記記憶手段が記憶する複数のデ
ータの一つとを比較する比較手段と、 前記比較手段の比較結果に基づいて前記画像処理装置の
良否を判定する判定手段とを有することを特徴とする検
査システム。 - 【請求項２】 前記注入手段により注入されるデータ
は、輝度もしくは濃度が単調増加し単調減少する画像デ
ータであることを特徴とする請求項1に記載された検査
システム。 - 【請求項３】 画像処理装置を検査する検査方法であっ
て、前記画像処理装置の画像処理領域を複数の分割領域に分
割し、前記分割領域ごとに画像処理機能を独立に設定
し、 前記分割領域の一つへメモリが記憶する複数のデータの
一つを注入し、 注入されたデータを前記画像処理装置が処理した結果
と、前記メモリが記憶する複数のデータの一つとを比較
し、 その比較結果に基づき前記画像処理装置の良否を判定す
る ことを特徴とする検査方法。 - 【請求項４】 前記分割領域へ注入されるデータは、輝
度もしくは濃度が単調増加し単調減少する画像データで
あることを特徴とする請求項3に記載された検査方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02242292A JP3222522B2 (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | 検査システムおよびその方法 |
| US08/414,959 US5894528A (en) | 1992-02-07 | 1995-03-31 | Apparatus and method for inspecting image processing functions |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02242292A JP3222522B2 (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | 検査システムおよびその方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05225296A JPH05225296A (ja) | 1993-09-03 |
| JP3222522B2 true JP3222522B2 (ja) | 2001-10-29 |
Family
ID=12082246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02242292A Expired - Fee Related JP3222522B2 (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | 検査システムおよびその方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5894528A (ja) |
| JP (1) | JP3222522B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007116670A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-05-10 | Fuji Xerox Co Ltd | 故障診断システム、画像形成装置及び故障診断方法 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3879359B2 (ja) * | 2000-03-17 | 2007-02-14 | オムロン株式会社 | 画像記録装置 |
| JP4062226B2 (ja) * | 2003-09-30 | 2008-03-19 | 株式会社リコー | 基板検査装置 |
| JP4063207B2 (ja) * | 2003-12-04 | 2008-03-19 | 株式会社リコー | 画像処理装置検査システムと方法およびプログラム |
| JP5505953B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2014-05-28 | Ｎｅｃシステムテクノロジー株式会社 | 画像判別システム、その方法及びそのプログラム |
| IT1402852B1 (it) * | 2010-10-07 | 2013-09-27 | Meccanotecnica Spa | Controllo produzione articoli da legatoria tramite riconoscimento immagini da file di stampa |
| JP6287180B2 (ja) * | 2013-03-15 | 2018-03-07 | 株式会社リコー | 画像検査装置、画像検査システム及び画像検査方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6125263A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-04 | Sony Corp | 電子機器制御システム |
| JPH0743773B2 (ja) * | 1986-02-27 | 1995-05-15 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置 |
| DE69129929T2 (de) * | 1990-09-21 | 1999-01-14 | Canon Kk | Abdruckbewertungsvorrichtung |
| CA2100322C (en) * | 1992-08-06 | 2004-06-22 | Christoph Eisenbarth | Method and apparatus for monitoring image processing operations |
-
1992
- 1992-02-07 JP JP02242292A patent/JP3222522B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-03-31 US US08/414,959 patent/US5894528A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007116670A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-05-10 | Fuji Xerox Co Ltd | 故障診断システム、画像形成装置及び故障診断方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05225296A (ja) | 1993-09-03 |
| US5894528A (en) | 1999-04-13 |
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