JPH01262485A - 電子回路装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、信号処理回路を有する電子回路装置に関し、
更に詳しくは、信号処理回路の故障を検査することが可
能な電子回路装置に関する。

（発明の背景） 近年、信号処理回路には、ＩＣ（ゲートアレイ。

ＰＬＡ等も含む）が多数使用されている。この様なＩＣ
等の内部の故障あるいは周辺回路との接続部の不良の検
査については、以下の方法がある。

（１）生産工程に於ける故障検査方法 （ａ）部品が取り付けられた基板を目視あるいはテスタ
で調べ、半田付は不良、ショートが無いか等調べる。

（ｂ）又は、部品が取り付けられた基板を専用ボードテ
スタで調べ、所定の電圧が得られているか等を調べる。

（２）動作時における検査方法 （ａ）ＩＩ電子回路装置正常に動作しなくなった場合、
固接的に判断する。

（ｂ）人間が、基板を目視あるいはテスタで検査する。

（３）ＩＣ単体の故障検査方法 （ａ）ＩＣに所定のテストパターンの信号を印加し、そ
の処理出力により判断する。

（ｂ）順序回路のテスト法とし工、スキャンバス法と呼
ばれる方法がある。これは、回路全体を７リツプフロツ
ブのような記憶素子と組み合わせ回路とに分け、記憶素
子にテストパターンをスキャン入力し、組み合わせ回路
で動作させた後に、記憶素子の内容を順次読出して判断
する方法である。

（ｃ）特開昭６１−１６００７１号公報に記載のように
、同一の回路構成を持つ２回路を１チツプ内に配置し、
それぞれに同一の入力を印加し、出力が異なる場合に故
障を検出する方法もある。

（発明が解決しようとする課題） 上記した方法によれば、以下に述べるような欠点がある
。その欠点について、上記の項目に合わせて説明する。

（１）生産工程に於ける故障検査方法 （ａ）人間の経験に頼るため、故障の発見率を高くでき
ない。また、熟練や多くの工数を要する。

（１））専用の装置（専用ボードテスタ）を必要とする
ため、費用がかかる。また、専用のプログラムの作成な
どの工数を要する。

フラットパッケージのＩＣを使用している場合は、その
ままでは検査することができない。また、高密度実装の
基板では使用不可能である。

（２）動作時における検査方法 （ａ）故障発生から対処までの間に、異常動作をし、部
品の破壊、事故をもたらす恐れがある。

（ｂ）人間の経験に頼るため、故障の発見率を高（でき
ない。また、熟練や多くの工数を要する。

（３）ＩＣ単体の故障検査方法 （ａ）適切なテストパターンを作成することが極めて難
しい。また、多くのパターンを必要とする。

（ｂ）回路設計の作業が極めて困難であり、多くの工数
を必要とする。

（Ｃ）回路規模が通常の場合と比較して、２倍以上にな
る。また、出力に影響を与えないような故障の場合、発
見が困難である。

本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、簡単な構成で、信号処理回路内部の故
障検査が容易にできる電子回路装置を実現することにあ
る。

（課題を解決するための手段） 上記課題を解決する本発明は、信号処理を行うための複
数の信号処理手段を有する電子回路装置であって、これ
ら複数の信号処理手段に故障検査のためのテストデータ
を印加するテストデータ発生手段と、テストデータが印
加されたときの前記複数の信号処理手段のそれぞれの出
力を比較することにより故障検査を行う故障検査手段と
を具備し、前記故障検査手段は複数の信号処理手段の出
力が一致しないときに故障と判断するよう構成したこと
を特徴とするものである。

（作用） 本発明では、テスト信号発生手段がテストデータを各信
号処理手段に送出し、故障検出手段は信号処理手段から
の処理結果を受信し、比較を行い故障の検査を行う。

（実施例） 以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。

第１図は本発明の一実施例の要部の構成を示すブロック
図である。

図において、１．２．３はそれぞれ処理すべき入力信号
とテストデータとを切り替えるセレクタ、４．５．６は
それぞれセレクタ１．２．３を通過した信号にそれぞれ
所定の処理を施し、出力するための信号処理回路である
。本実施例では信号処理回路４，５．６は同一回路構成
である。７は各部を統括制御するＣＰＬＪである。この
ＣＰＵ７は所定のタイミングで、故障検査のためのテス
トデータを発生して前記セレクタ１，２．３のそれぞれ
に供給すると共に、セレクタ及び故障検出回路を故障検
出モードに切り替える。８は前記信号処理回路４．５．
６のそれぞれにテストデータが印加されたときの処理結
果を比較す、ることで、信号処理回路の故障の発生を検
出する故障検出回路である。この故障検出回路８は、故
障検出信号（例えば、故障検出時にハイレベルになるよ
うな信号）を前記ＣＰＵ７に送出する。９は表示部であ
り、前記ＣＰｔＪ７からの指示にもとづいて、各種表示
を行うと共に、信号処理回路の故障時には故障である旨
の表示を行う。　第２図は、前記信号処理回路をＩＣ化
した場合の電気的構成を示すブロック図である。第１図
と同一物には同一番号を付し説明は省略する。１０は前
記複数のセレクタ、複数の信号処理回路、故障検出回路
を搭載したＩＣである。ＣＰＵ７と１０１０はこの図の
ように接続され、テストデータ、故障検出モード切換デ
ータ、故障検出データの交換を行っている。

第３図はＣＰＵ７の故障検査時の動作を示すフローチャ
ートである。以下、第１図から第３図までを用いて本発
明の動作の概略を説明する。

電子回路装置の電源投入直後あるいは信号処理の動作終
了後等に、ＣＰＵ７はＩＣ１０に故障検出モード切換デ
ータを送信する。これにより、ＩＣ１０内のセレクタ１
〜３はＣＰＵ７からのテストデータを通過させるように
切替わり、ＩＣ１０は故障検出モードになる（ステップ
■）。この債、ＣＰｔＪ７は所定のテストデータを送信
する（ステップ■）。尚、信号処理回路が順序回路であ
る場合は記憶素子にリセットをかける必要がある。ＩＣ
１０内の各信号処理回路４〜６は、このテストデータに
、所定の信号処理を行う。それぞれの処理結果は故障検
出回路８で比較される。ここで、故障検出回路８は、信
号処理回路４〜６の出力のそれぞれ（出力が複数ビット
であれば、各ビット毎）を比較し、１つでも異なる出力
があれば、故障有りと判断する。例えば、故障検出回路
は故障有りのときは１（または故障検出信号有り）、故
障なしのときは０を出力する。ここで、ｎ個の信号処理
回路がｍビットの信号を処理するものとし、ｉ番目（１
≦ｉ≦ｎ）の信号処理回路のｊビット目（１≦ｊ≦ｍ）
の出力をＯｌｊとすれば、この故障検出回路８の出力Ｔ
は、 と表すことができる。

この時、ＣＰＵ７は、故障検出回路８からの応答を監視
しており（ステップ■）、故障検出信号有りのときはＩ
Ｃｌ０内の信号処理回路のいづれかの故障と判断して、
表示部９に故障表示を行い、故障と判断されたＩＣの動
作を停止させる（ステップ■）。また、故障検出信号が
出力されなければ、ＩＣを正常と判断して検査を終了す
る。

通常の信号処理時には、［Ｃ１０内の各信号処理回路は
それぞれ入力信号を処理し、出力している。

尚、この説明では、便宜上セレクタ、信号処理回路を３
組設けた場合について説明したが、２個以上であればい
くつであっても良い。

また、以上の説明では信号処理回路は同一回路構成とし
たが、同一でなくとも、テストデータ。

回路構成に若干の変更を加えれば良い。

次に、本発明の電子回路装置を画一処理装置に適用した
場合についての動作を第４図を用いて説明する。

図において、第１図と同一のものについては同一番号を
付し、説明は省略する。１１は、ダイクロイックミラー
（図示せず）により色分解されたレッドＲの色分解像を
電気信号に変換するためのＣＯＤ、１２は同様にシアン
Ｃの色分解像を電気信号に変換するためのＣＯＤ、１３
はＣＣ［）１１゜１２の出力をＡ／Ｄ変換するためのＡ
／Ｄ変換回路、１４はＡ／Ｄ変換された画像信号のうち
有効領域のみを抜き取るゲート回路、１５は画像信号（
６ピツト）をカラーコード〈２ビツト）と濃度データ（
６ビツト）とに分離する色分離回路、１６は画像信号に
含まれるカラーゴーストを補正するカラーゴースト補正
回路、１７は解像度の補正を行うＭＴＦ補正回路、１８
は濃度を選択するための濃度選択回路、１９は画像信号
を多値化するための多値化回路である。これらＭＴＦ補
正回路１７．濃度選択回路１８．多値化回路１９は１チ
ツプのｒＣによって構成されており、第１図に示した構
成（ＣＰＵと表示部は除く）を内部に有している（以下
、ｒＣｂという）。そして、ＩＣ内に複数ｐ１類の回路
を内部に有していてもかまわない。２０は画像のうち一
部分の色を変換する部分色変換回路であり、１チツプの
ＩＣによって構成されており、第１図に示した構成（Ｃ
ＰＵと表示部は除く）を内部に有している（以下、ＩＯ
Ｃという）。２１は画像の変倍を行う変倍回路、２２は
画像信号をプリンタ出力用の信号に変換するプリンタイ
ンターフェース回路である。これら変倍回路２１．プリ
ンタインターフェース回路２２は１チツプのＩＣによっ
て構成されており、第１図に示した構成〈ＣＰＵと表示
部は除く）を内部に有している（以下、ＩＣｄという）
。２３は各部を駆動するためのタイミング発生回路であ
る。

このタイミング発生回路２３は１チツプのＩＣによって
構成されており、第１図に示した構成（ＣＰＵと表示部
は除く）を内部に有している（以下、ＩＣａという）。

尚、このタイミング発生回路２３から各部への配線は省
略しである。

以下、動作を説明する。スキャナ（図示せず）によって
Ｉｌ＠された光学像は、ダイクロイックミラーによりレ
ッドＲの色分解像とシアンＣの色分解像とに分離されて
、それぞれＣＧＤｌｌ、１２で読み取られる。そして、
Ａ／Ｄ変挽回路１３でＡ／Ｄ変換された侵、ゲート回路
１４で有効領域のみの画像信号が抜き取られる。このゲ
ート回路１４にはＣＰｔＪ７から有効領域を示す信号（
８４若しくはＡ３）が与えられている。この画像信号は
色分離回路１５で、カラーコードと濃度データとに分離
される。このカラーコードと濃度データとは、カラーゴ
ースト補正回路１６に送られてカラーゴースト補正が行
われる。このカラーゴースト補正回路は、主走査方向、
ｎ１走査方向でカラーゴースト補正を実行する。カラー
ゴースト補正された濃度データは解像度補正、８１度選
択がなされる。また、カラーコードは部分色変換回路２
０に与えられ、ＣＰ（Ｊ７から指示があった場合は部分
色変換が実行される。濃度選択回路１８の出力は変倍回
路２１により、ＣＰＵ７からの変倍データに基づいて、
変倍が実行される。この後、　ＣＰＬＪ７からの閾値デ
ータを基準にして、多値化回路１９が変倍回路２１から
の濃度データを多値化してプリンタインターフェースに
送る。この多値化信号はプリンタインターフェース２２
からプリンタ（図示せず）に送出される。尚、この様な
動作を行っているときは、タイミング回路２３はＣＰＵ
７からのタイミング発生データを受けて、各回路にタイ
ミング信号を与えている。

ところで、以上の画像処理装置において、ＩＣａはタイ
ミング発生回路を構成するカスタムＩＣ１ＩＣｂはＭＴ
Ｆ補正回路、１度選択回路、多値化回路を構成するカス
タムＩＣ，ＩＯＣは部分色変換回路を構成するカスタム
ＩＣ，ＩＣｄは変倍回路、プリンタインターフェースを
構成するカスタムＩＣである。そして、それぞれのＩＣ
はセレクタ、信号処理回路、故障検出回路を有しており
、ＣＰＵ７とは信号線を介して直接データの授受を行う
。また、この画像処理装置はレッドとシアンの信号を処
理する必要があるために、各ＩＣ内のセレクタ及び信号
処理回路はレッド用及びシアン用の２組配置されている
ものとする。すなわち、故障検査モードではない場合（
通常動作モード）では、コ（７）　ＣＰ　Ｕ　３及びＥ
Ｃａ−ｒｃｄＧ、を通常の動作をしている。

ここで、ＩＣａの故障検査について説明する。

画像処理装置の電源投入直後あるいは画像処理動作終了
後（例えば１秒後）に、ＣＰＵ７から故障検出モード切
換データを、タイミング発生データ線を介してＩＣａに
送出する。これにより、ｆｃａは、通常の画像処理動作
から故障検出モードに切り替わる。その後、ＣＰＵ７は
テストデータをタイミング発生データ線を介してＩＣａ
に送出する。ＩＣａは各信号処理回路により信号処理を
行い、故障検出回路８で各処理結果を比較判定する。そ
の結果（故障検出信号）をタイミング発生データ線を介
してＣＰＵ７に送り返す。ＣＰＵ７は応答結果によりＩ
Ｃａの状態を判定し、故障があれば表示部９にその旨の
表示を行い、ＩＣａ（タイミング発生回路２３）の動作
を停止させる。

故障がなければ、検査は終了し、通常の信号処理動作に
戻る。

ＩＣｂ、Ｉｃｅ、ＩＣｄについても同様の故障検査を実
行する。この為、詳細については省略する。

尚、ＣＰＵ７は、通常動作で用いるＣＰＵと別であって
もかまわない。また、適当な手段を施せば、ＣＰＵ７は
なくてもかまわない。

以上のような構成にすることにより、人間の経験に頼ら
ず故障を発見できるので、発見率は極めて高い。また、
部品の追加を要しないので、部品追加（部品の増加）に
起因する信頼性の低下を防止できる。この為、基板面積
の増加も抑えられる。

更に、本発明は、最近多用されているフラットパッケー
ジのＩＣや高密度実装基板にも使用できる。

そして、故障検査を一定期間毎に実行すれば、動作中に
故障が発生しても、故障発生とほぼ同時に検出が可能で
ある。この為、異常動作９部品の破壊、事故を防止する
ことも可能になる。

尚、上記した実施例では故障検出の機能に絞って説明を
行ったが、故障診断を行わせることも可能である。この
場合にはＣＰＵに変更を加える必要がある。また、上記
した実施例では、画像処理装置に適用した場合について
説明したが、これに限定されるものではなく、種々の電
子回路装置に適用できることは言うまでもない。

（発明の効果） 以上詳細に説明したように、本発明では、複数の信号処
理回路を備えた電子回路装置において、ＣＰＵは特定の
信号（テストデータ）を複数の信号処理装置に送出し、
故障検出回路がこれら信号処理装置からの処理結果を受
信して故障の判定を行うよう構成している。この為、信
号処理装置内部の故障を、簡単な回路構成で検査し、確
実に発見することのできる電子回路装置を実現すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の要部構成を示すブロック図
、第２図は第１図の回路をＩＣ化した場合の要部構成を
示すブロック図、第３図は故障検査を説明するためのフ
ローチャート、第４図は本発明の応用例の構成を示すブ
ロック図である。 １．２．３・・・セレクタ ４．５．６・・・信号処理回路 ７・・・ＣＰＬＩ　　　　　　　８・・・故障検出回路
９・・・表示部　　　　　　１０・・・ＩＣ１１，１２
・・・ＣＣＤ　　　１３・・・Ａ／Ｄ変換回路１４・・
・ゲート　　　　　１５・・・色分離回路１６・・・カ
ラーゴースト補正回路 １７・・・Ｍ丁Ｆ補正回路　１８・・・濃度選択回路１
９・・・多値化回路　　　２０・・・部分色変換回路２
１・・・変倍回路 ２２・・・プリンタインターフェース ２３・・・タイミング発生回路 特許出願人　　　コ　　ニ　　カ　　株　　式　　会　
　礼式　　理　　人　　　　　弁理士　　　　井　　島
　　藤　　冶外１名 第１　区

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 信号処理を行うための複数の信号処理手段を有する電子
   回路装置であつて、これら複数の信号処理手段に故障検
   査のためのテストデータを印加するテストデータ発生手
   段と、テストデータが印加されたときの前記複数の信号
   処理手段のそれぞれの出力を比較することにより故障検
   査を行う故障検査手段とを具備し、前記故障検査手段は
   複数の信号処理手段の出力が一致しないときに故障と判
   断するよう構成したことを特徴とする電子回路装置。