JP4063207B2 - 画像処理装置検査システムと方法およびプログラム - Google Patents
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Claims (11)
- 入力された画像データに対して各々要素データ毎に異なる画像処理を行う一つ以上の画像処理機能を具備する画像処理装置の検査を行うシステムであって、
上記画像処理機能による画像処理の実行対象となるそれぞれの要素データを予め定められたエリア別に含む検査用画像データを検査対象の画像処理装置に入力する検査データ入力手段と、
入力された上記検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置で画像処理され出力された画像データを受け取る画像データ受信手段と、
該画像データ受信手段で受け取った画像データと、予め記憶装置に記憶された上記検査用画像データに対して正常な画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する比較手段と、
該比較手段による比較でデータ不一致となるエリアを検出する検出手段と、
該検出手段でデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアに含まれる要素データを画像処理の実行対象とする画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する良否判定手段と
を有することを特徴とする画像処理装置検査システム。 - 入力された画像データに対して各々要素データ毎に異なる画像処理を行う一つ以上の画像処理機能と、各画像処理機能による画像処理を上記入力された画像データにおける各々指定されたエリアに対して行う機能とを具備する画像処理装置の検査を行うシステムであって、
上記画像処理機能のそれぞれによる画像処理の実行対象となる各要素データを各々含む複数のエリアからなる検査用画像データを検査対象の画像処理装置に入力する検査データ入力手段と、
入力された上記検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置でエリア毎に指定された各画像処理機能により画像処理され出力された画像データを受け取る画像データ受信手段と、
該画像データ受信手段で受け取った画像データと、予め記憶装置に記憶された上記検査用画像データに対して上記エリア毎に指定された各画像処理機能により正常に画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する比較手段と、
該比較手段による比較でデータ不一致となる上記エリアを検出する検出手段と、
該検出手段でデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアが指定された画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する良否判定手段と
を有することを特徴とする画像処理装置検査システム。 - 入力された画像データに対して各々要素データ毎に異なる画像処理を行う一つ以上の画像処理機能と、各画像処理機能による画像処理を上記入力された画像データにおける各々指定されたエリアに対して行う機能とを具備する画像処理装置の検査を行うシステムであって、
上記画像処理機能による画像処理の実行対象となるそれぞれの要素データを予め定められたエリア別に含む第1の検査用画像データ、もしくは、上記画像処理機能のそれぞれによる画像処理の実行対象となる各要素データを各々含む複数のエリアからなる第2の検査用画像データを検査対象の画像処理装置に入力する検査データ入力手段と、
入力された上記第1の検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置で画像処理され出力された第1の画像データ、もしくは、入力された上記第2の検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置でエリア毎に指定された各画像処理機能により画像処理され出力された第2の画像データを受け取る画像データ受信手段と、
該画像データ受信手段で受け取った上記第1の画像データと、予め記憶装置に記憶された上記第1の検査用画像データに対して正常な画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する、もしくは、上記画像データ受信手段で受け取った上記第2の画像データと、予め記憶装置に記憶された上記第2の検査用画像データに対して上記エリア毎に指定された各画像処理機能により正常に画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する比較手段と、
該比較手段による比較でデータ不一致となるエリアを検出する検出手段と、
該検出手段で上記第1の検査用画像データに対するデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアに含まれる要素データを画像処理の実行対象とする画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する、もしくは、上記検出手段で上記第2の検査用画像データに対するデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアが指定された画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する良否判定手段と
を有することを特徴とする画像処理装置検査システム。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載の画像処理装置検査システムであって、
上記検査データ入力手段で入力する上記検査用画像データは、文字データ、絵柄データ、ゴミまたは傷もしくは異物を含むオリジナル画像および原稿とは異なるノイズデータ、紙幣もしくは証券を含む有価証券データの少なくともいずれか1つを含み、
上記検査対象の画像処理装置における、上記文字データ、絵柄データ、ノイズデータ、有価証券データのいずれかを画像処理の実行対象とする画像処理機能の検査を行うことを特徴とする画像処理装置検査システム。 - 請求項1から請求項4のいずれかに記載の画像処理装置検査システムであって、
上記検査データ入力手段は、予め用意された原稿から上記検査用画像データを読み取る手段、もしくは、予め記録媒体に記録された上記検査用画像データを読み取る手段、あるいは、ネットワークを介して上記検査用画像データを取得する手段の少なくともいずれか1つを有することを特徴とする画像処理装置検査システム。 - コンピュータを、請求項1から請求項5のいずれかに記載の画像処理装置検査システムにおける各手段として機能させるためのプログラム。
- 入力された画像データに対して各々要素データ毎に異なる画像処理を行う一つ以上の画像処理機能を具備する画像処理装置の検査を、プログラムされたコンピュータ処理により行うシステムの画像処理装置検査方法であって、
プログラムされたコンピュータ処理を実行する手段として、検査データ入力手段と、画像データ受信手段と、比較手段と、検出手段と、良否判定手段とを具備し、
上記検査データ入力手段は、上記画像処理機能による画像処理の実行対象となるそれぞれの要素データを予め定められたエリア別に含む検査用画像データを検査対象の画像処理装置に入力する第1の手順を、
上記画像データ受信手段は、入力された上記検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置で画像処理され出力された画像データを受け取る第2の手順を、
上記比較手段は、上記第2の手順で受け取った画像データと、予め記憶装置に記憶された上記検査用画像データに対して正常な画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する第3の手順を、
上記検出手段は、上記第3の手順での比較でデータ不一致となるエリアを検出する第4の手順を、
上記良否判定手段は、上記第4の手順でデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアに含まれる要素データを画像処理の実行対象とする画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する第5の手順を
実行することを特徴とする画像処理装置検査方法。 - 入力された画像データに対して各々要素データ毎に異なる画像処理を行う一つ以上の画像処理機能と、各画像処理機能による画像処理を上記入力された画像データにおける各々指定されたエリアに対して行う機能とを具備する画像処理装置の検査を、プログラムされたコンピュータ処理により行うシステムの画像処理装置検査方法であって、
プログラムされたコンピュータ処理を実行する手段として、検査データ入力手段と、画像データ受信手段と、比較手段と、検出手段と、良否判定手段とを具備し、
上記検査データ入力手段は、上記画像処理機能のそれぞれによる画像処理の実行対象となる各要素データを各々含む複数のエリアからなる検査用画像データを検査対象の画像処理装置に入力する第1の手順を、
上記画像データ受信手段は、入力された上記検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置でエリア毎に指定された各画像処理機能により画像処理され出力された画像データを受け取る第2の手順を、
上記比較手段は、上記第2の手順で受け取った画像データと、予め記憶装置に記憶された上記検査用画像データに対して上記エリア毎に指定された各画像処理機能により正常に画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する第3の手順を、
上記検出手段は、上記第3の手順での比較でデータ不一致となる上記エリアを検出する第4の手順を、
上記良否判定手段は、上記第4の手順でデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアが指定された画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する第5の手順を
実行することを特徴とする画像処理装置検査方法。 - 入力された画像データに対して各々要素データ毎に異なる画像処理を行う一つ以上の画像処理機能と、各画像処理機能による画像処理を上記入力された画像データにおける各々指定されたエリアに対して行う機能とを具備する画像処理装置の検査を、プログラムされたコンピュータ処理により行うシステムの画像処理装置検査方法であって、
プログラムされたコンピュータ処理を実行する手段として、検査データ入力手段と、画像データ受信手段と、比較手段と、検出手段と、良否判定手段とを具備し、
上記検査データ入力手段は、
上記画像処理機能による画像処理の実行対象となるそれぞれの要素データを予め定められたエリア別に含む第1の検査用画像データ、もしくは、上記画像処理機能のそれぞれによる画像処理の実行対象となる各要素データを各々含む複数のエリアからなる第2の検査用画像データを検査対象の画像処理装置に入力する第1の手順を、
上記画像データ受信手段は、入力された上記第1の検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置で画像処理され出力された第1の画像データ、もしくは、入力された上記第2の検査用画像データに対して上記検査対象の画像処理装置でエリア毎に指定された各画像処理機能により画像処理され出力された第2の画像データを受け取る第2の手順を、
上記比較手段は、上記第2の手順で受け取った上記第1の画像データと、予め記憶装置に記憶された上記第1の検査用画像データに対して正常な画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する、もしくは、上記第2の手順で受け取った上記第2の画像データと、予め記憶装置に記憶された上記第2の検査用画像データに対して上記エリア毎に指定された各画像処理機能により正常に画像処理が行われた際の参照用画像データとを比較する第3の手順を、
上記検出手段は、上記第3の手順での比較でデータ不一致となる上記エリアを検出する第4の手順を、
上記良否判定手段は、上記第4の手順で上記第1の検査用画像データに対するデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアが指定された画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する、もしくは、上記第4の手順で上記第2の検査用画像データに対するデータ不一致のエリアを検出すると当該エリアが指定された画像処理機能を特定し該画像処理機能が不良であると判定する第5の手順を
実行することを特徴とする画像処理装置検査方法。 - 請求項7から請求項9のいずれかに記載の画像処理装置検査方法であって、
上記検査データ入力手段で入力する上記検査用画像データは、文字データ、絵柄データ、ゴミまたは傷もしくは異物を含むオリジナル画像および原稿とは異なるノイズデータ、紙幣もしくは証券を含む有価証券データの少なくともいずれか1つを含み、
上記検査対象の画像処理装置における、上記文字データ、絵柄データ、ノイズデータ、有価証券データのいずれかを画像処理の実行対象とする画像処理機能の検査を行うことを特徴とする画像処理装置検査方法。 - 請求項7から請求項10のいずれかに記載の画像処理装置検査方法であって、
上記検査データ入力手段は、予め用意された原稿から上記検査用画像データを読み取る手順、もしくは、予め記録媒体に記録された上記検査用画像データを読み取る手順、あるいは、ネットワークを介して上記検査用画像データを取得する手順の少なくともいずれか1つを実行することを特徴とする画像処理装置検査方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003405575A JP4063207B2 (ja) | 2003-12-04 | 2003-12-04 | 画像処理装置検査システムと方法およびプログラム |
CNB2004101001934A CN100423528C (zh) | 2003-12-04 | 2004-12-03 | 被检验装置是否合格以及不良部分的判定 |
US11/002,589 US7222038B2 (en) | 2003-12-04 | 2004-12-03 | Detecting a defective area of an inspected apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003405575A JP4063207B2 (ja) | 2003-12-04 | 2003-12-04 | 画像処理装置検査システムと方法およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005167767A JP2005167767A (ja) | 2005-06-23 |
JP4063207B2 true JP4063207B2 (ja) | 2008-03-19 |
Family
ID=34674856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003405575A Expired - Fee Related JP4063207B2 (ja) | 2003-12-04 | 2003-12-04 | 画像処理装置検査システムと方法およびプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7222038B2 (ja) |
JP (1) | JP4063207B2 (ja) |
CN (1) | CN100423528C (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4687614B2 (ja) * | 2005-09-20 | 2011-05-25 | 富士ゼロックス株式会社 | 故障診断システム、画像形成装置及び故障診断方法 |
JP4631865B2 (ja) * | 2007-03-13 | 2011-02-16 | 富士ゼロックス株式会社 | 電子回路装置、故障診断装置、故障診断システム、及び故障診断プログラム。 |
TW201351131A (zh) * | 2012-06-07 | 2013-12-16 | Askey Computer Corp | 驗證測試系統 |
JP5772801B2 (ja) * | 2012-11-28 | 2015-09-02 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置、画像形成装置の制御方法、及び画像形成装置の制御プログラム |
JP6295113B2 (ja) * | 2014-03-17 | 2018-03-14 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 自己診断装置及び自己診断方法 |
US10176073B2 (en) * | 2017-02-24 | 2019-01-08 | International Business Machines Corporation | Controlling a system under test using a cognitive control based test runner |
CN109064704B (zh) * | 2018-08-23 | 2021-06-22 | 广州列丰信息科技有限公司 | 一种基于家庭物联网网关的远程消防监测管理方法及*** |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5535331A (en) * | 1987-09-04 | 1996-07-09 | Texas Instruments Incorporated | Processor condition sensing circuits, systems and methods |
JPH03297262A (ja) | 1990-04-16 | 1991-12-27 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像処理システムの検査装置 |
JP3222522B2 (ja) * | 1992-02-07 | 2001-10-29 | キヤノン株式会社 | 検査システムおよびその方法 |
JPH0764817A (ja) * | 1993-08-30 | 1995-03-10 | Mitsubishi Electric Corp | 故障検出システム |
JPH08248096A (ja) * | 1995-03-13 | 1996-09-27 | Advantest Corp | 回路試験装置 |
JPH09102839A (ja) | 1995-10-05 | 1997-04-15 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
US5745501A (en) * | 1995-10-20 | 1998-04-28 | Motorola, Inc. | Apparatus and method for generating integrated circuit test patterns |
JP3579182B2 (ja) * | 1996-05-27 | 2004-10-20 | 株式会社東芝 | 印刷物の目視検査補助装置 |
EP0969289B1 (en) * | 1997-03-21 | 2006-12-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Testing the functional blocks in a semiconductor integrated circuit |
KR100295050B1 (ko) * | 1998-08-13 | 2001-08-07 | 윤종용 | 선형궤환쉬프트레지스터를사용한내장자기진단장치 |
JP4011276B2 (ja) * | 1999-09-24 | 2007-11-21 | 株式会社リコー | 画像処理装置、画像処理方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
AU2001227892A1 (en) * | 2000-01-14 | 2001-07-24 | Parthus Technologies Plc | An algorithmic test pattern generator, with built-in-self-test (bist) capabilities, for functional testing of a circuit |
JP4062226B2 (ja) * | 2003-09-30 | 2008-03-19 | 株式会社リコー | 基板検査装置 |
-
2003
- 2003-12-04 JP JP2003405575A patent/JP4063207B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-12-03 US US11/002,589 patent/US7222038B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050137818A1 (en) | 2005-06-23 |
CN1625211A (zh) | 2005-06-08 |
CN100423528C (zh) | 2008-10-01 |
US7222038B2 (en) | 2007-05-22 |
JP2005167767A (ja) | 2005-06-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051124 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070906 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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