JP2573652B2 - 信号処理装置の故障検査方法 - Google Patents
信号処理装置の故障検査方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、IC,CPUを有する信号処理装置の故障検査方
法に関し、更に詳しくは、回路の検査をすることが可能
な信号処理装置の故障検査方法に関する。
法に関し、更に詳しくは、回路の検査をすることが可能
な信号処理装置の故障検査方法に関する。
（発明の背景） 近年、信号処理装置には、IC（ゲートアレイ,PLA等も
含む）が多数使用されている。この様なIC等の内部の故
障あるいは周辺回路との接続部の不良については、以下
の方法がある。
含む）が多数使用されている。この様なIC等の内部の故
障あるいは周辺回路との接続部の不良については、以下
の方法がある。
（１）生産工程に於ける故障検査方法 （ａ）部品が取り付けられた基板を目視あるいはテスタ
で調べ、半田付け不良，ショートが無いか等調べる。
で調べ、半田付け不良，ショートが無いか等調べる。
（ｂ）又は、部品が取り付けられた基板を専用ボードテ
スタで調べ、所定の電圧が得られているか等を調べる。
スタで調べ、所定の電圧が得られているか等を調べる。
（２）動作時における検査方法 （ａ）信号処理装置が正常に動作しなくなった場合、間
接的に判断する。
接的に判断する。
（ｂ）人間が、基板を目視あるいはテスタで検査する。
（３）IC単体の故障検査方法 （ａ）ICに所定のテストパターンの信号を印加し、その
処理出力により判断する。
処理出力により判断する。
（ｂ）順序回路のテスト法として、スキャンパス法と呼
ばれる方法がある。これは、回路全体をフリップフロッ
プのような記憶素子と組み合わせ回路とに分け、記憶素
子にテストパターンをスキャン入力し、組み合わせ回路
で動作させた後に、記憶素子の内容を順次読出して判断
する方法である。
ばれる方法がある。これは、回路全体をフリップフロッ
プのような記憶素子と組み合わせ回路とに分け、記憶素
子にテストパターンをスキャン入力し、組み合わせ回路
で動作させた後に、記憶素子の内容を順次読出して判断
する方法である。
（ｃ）特開昭61−160071号公報に記載のように、同一の
回路構成を持つ２回路を１チップ内に配置し、それぞれ
に同一の入力を印加し、出力が異なる場合に故障を検出
する方法もある。
回路構成を持つ２回路を１チップ内に配置し、それぞれ
に同一の入力を印加し、出力が異なる場合に故障を検出
する方法もある。
（発明が解決しようとする課題） 上記した方法によれば、以下に述べるような欠点があ
る。その欠点について、上記の項目に合わせて説明す
る。
る。その欠点について、上記の項目に合わせて説明す
る。
（１）生産工程に於ける故障検査方法 （ａ）人間の経験に頼るため、故障の発見率を高くでき
ない。また、熟練や多くの工数を要する。
ない。また、熟練や多くの工数を要する。
（ｂ）専用の装置（専用ボードテスタ）を必要とするた
め、費用がかかる。また、専用のプログラムの作成など
の工数を要する。
め、費用がかかる。また、専用のプログラムの作成など
の工数を要する。
フラットパッケージのICを使用している場合は、その
ままでは検査することができない。また、高密度実装の
基板では使用不可能である。
ままでは検査することができない。また、高密度実装の
基板では使用不可能である。
（２）動作時における検査方法 （ａ）故障発生から対処までの間に、異常動作をし、部
品の破壊，事故をもたらす恐れがある。
品の破壊，事故をもたらす恐れがある。
（ｂ）人間の経験に頼るため、故障の発見率を高くでき
ない。また、熟練や多くの工数を要する。
ない。また、熟練や多くの工数を要する。
（３）IC単体の故障検査方法 （ａ）適切なテストパターンを作成することが極めて難
しい。また、多くのパターンを必要とする。
しい。また、多くのパターンを必要とする。
（ｂ）回路設計の作業が極めて困難であり、多くの工数
を必要とする。
を必要とする。
（ｃ）回路規模が通常の場合と比較して、２倍以上にな
る。また、出力に影響を与えないような故障の場合、発
見が困難である。
る。また、出力に影響を与えないような故障の場合、発
見が困難である。
本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、簡単な構成で、IC内部の故障あるい
は周辺接続部での故障を検査して発見することのできる
信号処理装置の故障検査方法を実現することにある。
的とするところは、簡単な構成で、IC内部の故障あるい
は周辺接続部での故障を検査して発見することのできる
信号処理装置の故障検査方法を実現することにある。
（課題を解決するための手段） 上記課題を解決する本発明は、信号処理を行うための
少なくとも１個のICと、このICに接続されたCPUとを有
する信号処理装置の故障検査方法において、前記ICは故
障検査回路を具備し、前記CPUは特定の信号を前記ICに
具備された故障検査回路に送出し、前記ICに具備された
前記故障検査回路は前記特定の信号を受信して所定の信
号処理を行い処理結果を前記CPUに送信し、前記CPUは前
記所定の信号の処理結果を受信し、前記ICからの応答の
有無により前記ICまたは周辺接続部の故障の判定を行う
第１の故障判定と、前記ICからの応答があった場合には
応答結果と予想値を比較して前記ICの故障の判定を行う
第２の故障判定とを行うことを特徴とするものである。
少なくとも１個のICと、このICに接続されたCPUとを有
する信号処理装置の故障検査方法において、前記ICは故
障検査回路を具備し、前記CPUは特定の信号を前記ICに
具備された故障検査回路に送出し、前記ICに具備された
前記故障検査回路は前記特定の信号を受信して所定の信
号処理を行い処理結果を前記CPUに送信し、前記CPUは前
記所定の信号の処理結果を受信し、前記ICからの応答の
有無により前記ICまたは周辺接続部の故障の判定を行う
第１の故障判定と、前記ICからの応答があった場合には
応答結果と予想値を比較して前記ICの故障の判定を行う
第２の故障判定とを行うことを特徴とするものである。
（作用） 本発明では、CPUは特定の信号をICに送出し、ICから
の処理結果を受信して故障の判定を行う。
の処理結果を受信して故障の判定を行う。
（実施例） 以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明
する。
する。
第１図は本発明の一実施例の要部の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
図において、１及び２は信号処理を行うための信号処
理IC（以下、単にICという）である。このICには、外部
から与えられる信号と出力信号との関係から故障を判別
するための故障検査用回路が搭載されている。３は各部
を制御するためのCPUである。このCPU3には、検査デー
タを前記故障検査用回路に送出するため及び、故障検査
用回路からの戻り信号によりICの故障を判定する故障検
査用プログラムが組み込まれている。４は信号処理にお
ける各種表示及び故障時の表示を行うための表示部であ
る。
理IC（以下、単にICという）である。このICには、外部
から与えられる信号と出力信号との関係から故障を判別
するための故障検査用回路が搭載されている。３は各部
を制御するためのCPUである。このCPU3には、検査デー
タを前記故障検査用回路に送出するため及び、故障検査
用回路からの戻り信号によりICの故障を判定する故障検
査用プログラムが組み込まれている。４は信号処理にお
ける各種表示及び故障時の表示を行うための表示部であ
る。
第２図は、CPU2の故障検査用プログラムの概略を説明
するためのフローチャートである。
するためのフローチャートである。
以下、本装置の動作の概略を第１図及び第２図を用い
て説明する。
て説明する。
信号処理装置の電源投入直後あるいは信号処理の動作
終了後等にテストモードに入るようにし、CPU3はIC1,IC
2に所定の検査データを送信する（ステップ）。IC1,2
内の故障検査用回路は、この検査データを受信して、所
定の信号処理を行い、処理結果をCPU3に送信する。この
時、CPU3は、故障検出回路からの応答を監視しており
（ステップ）、応答がなければIC1若しくはIC2,また
は周辺接続部の故障と判断して、表示部３に故障表示を
行い、故障と判断されたICの動作を停止させる（ステッ
プ）。また、故障検出回路から応答があった場合に
も、この応答結果を正常動作時に予想される応答結果と
比較を行う（ステップ）。両者が一致すれば、ICを正
常と判断して検査を終了する。一致していなければ、IC
の故障と判断して、表示部３に故障の表示を行うと共
に、ICの動作を停止させる。
終了後等にテストモードに入るようにし、CPU3はIC1,IC
2に所定の検査データを送信する（ステップ）。IC1,2
内の故障検査用回路は、この検査データを受信して、所
定の信号処理を行い、処理結果をCPU3に送信する。この
時、CPU3は、故障検出回路からの応答を監視しており
（ステップ）、応答がなければIC1若しくはIC2,また
は周辺接続部の故障と判断して、表示部３に故障表示を
行い、故障と判断されたICの動作を停止させる（ステッ
プ）。また、故障検出回路から応答があった場合に
も、この応答結果を正常動作時に予想される応答結果と
比較を行う（ステップ）。両者が一致すれば、ICを正
常と判断して検査を終了する。一致していなければ、IC
の故障と判断して、表示部３に故障の表示を行うと共
に、ICの動作を停止させる。
次に、本発明を画像処理装置に適用した場合について
第３図を用いて説明する。
第３図を用いて説明する。
図において、第１図と同一のものについては同一番号
を付し、説明は省略する。10は被写体の光学像をレッド
Ｒの色分解像とシアンＣの色分解像とに分離するダイク
ロイックミラー、11及び12はそれぞれレッドＲの色分解
像とシアンＣの色分解像とを電気信号に変換するための
CCD、13はCCD11,12の出力をA/D変換するためのA/D変換
回路、14はA/D変換された画像信号のうち有効領域のみ
を抜き取るゲート回路、15は画像信号をカラーコートと
濃度データとに分離する色分離回路、16は画像信号に含
まれるカラーゴーストを補正するカラーゴースト補正回
路、17は解像度の補正を行うMTF補正回路、18は濃度を
選択するための濃度選択回路、19は画像信号を多値化す
るための多値化回路である。これらMTF補正回路17,濃度
選択回路18,多値化回路19は１チップのICによって構成
されており、故障検査用回路が設けられている（以下、
ICbという）。20は画像のうち一部分の色を変換する部
分色変換回路であり、１チップのICによって構成されて
おり、故障検査用回路が設けられている（以下、ICcと
いう）。21は画像の変倍を行う変倍回路、22は画像信号
をプリンタ出力用の信号に変換するプリンタインターフ
ェース回路である。これら変倍回路21,プリンタインタ
ーフェース回路22は１チップのICによって構成されてお
り、故障検査用回路が設けられている（以下、ICdとい
う）。23は各部を駆動するためのタイミング発生回路で
ある。このタイミング発生回路23は１チップのICによっ
て構成されており、故障検査回路が設けられている（以
下、ICaという）。尚、このタイミング発生回路23から
各部への配線は省略してある。
を付し、説明は省略する。10は被写体の光学像をレッド
Ｒの色分解像とシアンＣの色分解像とに分離するダイク
ロイックミラー、11及び12はそれぞれレッドＲの色分解
像とシアンＣの色分解像とを電気信号に変換するための
CCD、13はCCD11,12の出力をA/D変換するためのA/D変換
回路、14はA/D変換された画像信号のうち有効領域のみ
を抜き取るゲート回路、15は画像信号をカラーコートと
濃度データとに分離する色分離回路、16は画像信号に含
まれるカラーゴーストを補正するカラーゴースト補正回
路、17は解像度の補正を行うMTF補正回路、18は濃度を
選択するための濃度選択回路、19は画像信号を多値化す
るための多値化回路である。これらMTF補正回路17,濃度
選択回路18,多値化回路19は１チップのICによって構成
されており、故障検査用回路が設けられている（以下、
ICbという）。20は画像のうち一部分の色を変換する部
分色変換回路であり、１チップのICによって構成されて
おり、故障検査用回路が設けられている（以下、ICcと
いう）。21は画像の変倍を行う変倍回路、22は画像信号
をプリンタ出力用の信号に変換するプリンタインターフ
ェース回路である。これら変倍回路21,プリンタインタ
ーフェース回路22は１チップのICによって構成されてお
り、故障検査用回路が設けられている（以下、ICdとい
う）。23は各部を駆動するためのタイミング発生回路で
ある。このタイミング発生回路23は１チップのICによっ
て構成されており、故障検査回路が設けられている（以
下、ICaという）。尚、このタイミング発生回路23から
各部への配線は省略してある。
以下、動作を説明する。スキャナ（図示せず）によっ
て撮像された光学像は、ダイクロイックミラー10により
レッドＲの色分解像とシアンＣの色分解像とに分離され
て、それぞれCCD11,12で読み取られる。そして、A/D変
換回路13でA/D変換された後、ゲート回路14で有効領域
のみの画像信号が抜き取られる。このゲート回路14には
CPU3から有効領域を示す信号（B4若しくはA3）が与えら
れている。この画像信号は色分離回路15で、カラーコー
ドと濃度データとに分離される。このカラーコードと濃
度データとは、カラーゴースト補正回路16に送られてカ
ラーゴースト補正が行われる。このカラーゴースト補正
回路は、主走査方向,,副走査方向でカラーゴースト補正
を実行する。カラーゴースト補正された濃度データは解
像度補正，濃度選択がなされる。また、カラーコードは
部分色変換回路20に与えられ、CPU3から指示があった場
合は部分色変換が実行される。濃度選択回路18の出力は
変倍回路21により、CPU3からの変倍データに基づいて、
変倍が実行される。この後、CPU3からの閾値データを基
準にして、多値化回路19が変倍回路21からの濃度データ
を多値化してプリンタインターフェースに送る。この多
値化信号はプリンタインターフェース22からプリンタ
（図示せず）に送出される。尚、この様な動作を行って
いるときは、タイミング回路23はCPU3からのタイミング
発生データを受けて、各回路にタイミング信号を与えて
いる。
て撮像された光学像は、ダイクロイックミラー10により
レッドＲの色分解像とシアンＣの色分解像とに分離され
て、それぞれCCD11,12で読み取られる。そして、A/D変
換回路13でA/D変換された後、ゲート回路14で有効領域
のみの画像信号が抜き取られる。このゲート回路14には
CPU3から有効領域を示す信号（B4若しくはA3）が与えら
れている。この画像信号は色分離回路15で、カラーコー
ドと濃度データとに分離される。このカラーコードと濃
度データとは、カラーゴースト補正回路16に送られてカ
ラーゴースト補正が行われる。このカラーゴースト補正
回路は、主走査方向,,副走査方向でカラーゴースト補正
を実行する。カラーゴースト補正された濃度データは解
像度補正，濃度選択がなされる。また、カラーコードは
部分色変換回路20に与えられ、CPU3から指示があった場
合は部分色変換が実行される。濃度選択回路18の出力は
変倍回路21により、CPU3からの変倍データに基づいて、
変倍が実行される。この後、CPU3からの閾値データを基
準にして、多値化回路19が変倍回路21からの濃度データ
を多値化してプリンタインターフェースに送る。この多
値化信号はプリンタインターフェース22からプリンタ
（図示せず）に送出される。尚、この様な動作を行って
いるときは、タイミング回路23はCPU3からのタイミング
発生データを受けて、各回路にタイミング信号を与えて
いる。
ところで、以上の画像処理装置において、ICaはタイ
ミング発生回路を構成するカスタムIC、ICbはMTF補正回
路，濃度選択回路，多値化回路を構成するカスタムIC、
ICcは部分色変換回路を構成するカスタムIC、ICdは変倍
回路，プリンタインターフェースを構成するカスタムIC
である。そして、それぞれのICは故障検査用回路を有し
ており、CPU3とは信号線を介して直接データの授受を行
う。すなわち、故障検査モードではない場合（通常動作
モード）では、このCPU3及びICa〜ICdは通常の動作をし
ている。
ミング発生回路を構成するカスタムIC、ICbはMTF補正回
路，濃度選択回路，多値化回路を構成するカスタムIC、
ICcは部分色変換回路を構成するカスタムIC、ICdは変倍
回路，プリンタインターフェースを構成するカスタムIC
である。そして、それぞれのICは故障検査用回路を有し
ており、CPU3とは信号線を介して直接データの授受を行
う。すなわち、故障検査モードではない場合（通常動作
モード）では、このCPU3及びICa〜ICdは通常の動作をし
ている。
ここで、ICaの故障検査について説明する。画像領域
装置の電源投入直後あるいは画像処理動作終了後（例え
ば１秒後）に、CPU3から故障検査用プログラムを、タイ
ミング発生データ線を介してICaに送出する。ICaは、内
蔵している故障検査用回路により故障検査を行い、その
結果をタイミング発生データ線を介してCPU3に送り返
す。CPU3は応答結果によりICaの状態を判定し、故障が
あれば表示部３にその旨の表示を行い、ICa（タイミン
グ発生回路23）の動作を停止させる。故障がなければ、
検査は終了し、通常の動作を続ける。
装置の電源投入直後あるいは画像処理動作終了後（例え
ば１秒後）に、CPU3から故障検査用プログラムを、タイ
ミング発生データ線を介してICaに送出する。ICaは、内
蔵している故障検査用回路により故障検査を行い、その
結果をタイミング発生データ線を介してCPU3に送り返
す。CPU3は応答結果によりICaの状態を判定し、故障が
あれば表示部３にその旨の表示を行い、ICa（タイミン
グ発生回路23）の動作を停止させる。故障がなければ、
検査は終了し、通常の動作を続ける。
ICb,ICc,ICdについても同様の故障検査を実行する。
この為、詳細については省略する。
この為、詳細については省略する。
尚、CPU3は、通常動作で用いるCPUと別であってもか
まわない。
まわない。
以上のような構成にすることにより、人間の経験に頼
らず故障を発見できるので、発見率は極めて高い。ま
た、部品の追加を要しないので、部品追加（部品の増
加）に起因する信頼性の低下を防止できる。この為、基
板面積の増加も抑えられる。更に、本発明は、最近多用
されているフラットパッケージのICや高密度実装基板に
も使用できる。そして、故障検査を一定期間毎に実行す
れば、動作中に故障が発生しても、故障発生とほぼ同時
に検出が可能である。この為、異常動作，部品の破壊，
事故を防止することも可能になる。
らず故障を発見できるので、発見率は極めて高い。ま
た、部品の追加を要しないので、部品追加（部品の増
加）に起因する信頼性の低下を防止できる。この為、基
板面積の増加も抑えられる。更に、本発明は、最近多用
されているフラットパッケージのICや高密度実装基板に
も使用できる。そして、故障検査を一定期間毎に実行す
れば、動作中に故障が発生しても、故障発生とほぼ同時
に検出が可能である。この為、異常動作，部品の破壊，
事故を防止することも可能になる。
尚、上記した実施例では、画像処理装置に適用した場
合について説明したが、これに限定されるものではな
く、種々の信号処理装置に適用できることは言うまでも
ない。
合について説明したが、これに限定されるものではな
く、種々の信号処理装置に適用できることは言うまでも
ない。
（発明の効果） 以上詳細に説明したように、本発明では、信号処理を
行うためのICを備えた信号処理装置の故障検査方法にお
いて、ICに接続されたCPUは故障検出用プログラムを有
し、このCPUは特定の信号（故障検出データ）をICに送
出し、ICからの処理結果を受信して故障の判定を行うよ
うにしている。この為、IC内部の故障あるいは周辺接続
部での故障を、簡単な回路構成で検査し、確実に発見す
ることのできる信号処理装置の故障検査方法を実現する
ことができる。
行うためのICを備えた信号処理装置の故障検査方法にお
いて、ICに接続されたCPUは故障検出用プログラムを有
し、このCPUは特定の信号（故障検出データ）をICに送
出し、ICからの処理結果を受信して故障の判定を行うよ
うにしている。この為、IC内部の故障あるいは周辺接続
部での故障を、簡単な回路構成で検査し、確実に発見す
ることのできる信号処理装置の故障検査方法を実現する
ことができる。
第１図は本発明の一実施例の要部構成を示すブロック
図、第２図は故障検査を説明するためのフローチャー
ト、第３図は本発明の応用例の構成を示すブロック図で
ある。 1,2……信号処理IC ３……CPU ４……表示部 10……ダイクロイックミラー 11,12……CCD 13……A/D変換回路 14……ゲート 15……色分離回路 16……カラーゴースト補正回路 17……MTF補正回路 18……濃度選択回路 19……多値化回路 20……部分色変換回路 21……変倍回路 22……プリンタインターフェース 23……タイミング発生回路
図、第２図は故障検査を説明するためのフローチャー
ト、第３図は本発明の応用例の構成を示すブロック図で
ある。 1,2……信号処理IC ３……CPU ４……表示部 10……ダイクロイックミラー 11,12……CCD 13……A/D変換回路 14……ゲート 15……色分離回路 16……カラーゴースト補正回路 17……MTF補正回路 18……濃度選択回路 19……多値化回路 20……部分色変換回路 21……変倍回路 22……プリンタインターフェース 23……タイミング発生回路
Claims (3)
- 【請求項１】信号処理を行うための少なくとも１個のIC
と、このICに接続されたCPUとを有する信号処理装置の
故障検査方法において、 前記ICは故障検査回路を具備し、前記CPUは特定の信号
を前記ICに具備された故障検査回路に送出し、前記ICに
具備された前記故障検査回路は前記特定の信号を受信し
て所定の信号処理を行い処理結果を前記CPUに送信し、
前記CPUは前記所定の信号の処理結果を受信し、前記IC
からの応答の有無により前記ICまたは周辺接続部の故障
の判定を行う第１の故障判定と、前記ICからの応答があ
った場合には応答結果と予想値を比較して前記ICの故障
の判定を行う第２の故障判定とを行うことを特徴とする
信号処理装置の故障検査方法。 - 【請求項２】前記第１の故障判定または前記第２の故障
判定で故障と判定された場合には、表示部に表示を行う
と共に前記ICの動作を停止させることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の信号処理装置の故障検査方法。 - 【請求項３】信号処理装置の電源投入直後あるいは信号
処理の動作終了後にテストモードに入り、故障検査を行
うことを特徴とする特許請求の範囲第１項また第２項記
載の信号処理装置の故障検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63090900A JP2573652B2 (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 信号処理装置の故障検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63090900A JP2573652B2 (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 信号処理装置の故障検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01261731A JPH01261731A (ja) | 1989-10-18 |
| JP2573652B2 true JP2573652B2 (ja) | 1997-01-22 |
Family
ID=14011273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63090900A Expired - Fee Related JP2573652B2 (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 信号処理装置の故障検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2573652B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4644966B2 (ja) * | 2001-04-13 | 2011-03-09 | ソニー株式会社 | 半導体試験方法 |
-
1988
- 1988-04-12 JP JP63090900A patent/JP2573652B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01261731A (ja) | 1989-10-18 |
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