JP2016217821A - 変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置 - Google Patents

変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2016217821A
JP2016217821A JP2015101566A JP2015101566A JP2016217821A JP 2016217821 A JP2016217821 A JP 2016217821A JP 2015101566 A JP2015101566 A JP 2015101566A JP 2015101566 A JP2015101566 A JP 2015101566A JP 2016217821 A JP2016217821 A JP 2016217821A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
detection
displacement
detection electrode
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015101566A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6611467B2 (ja
Inventor
和宏 野口
Kazuhiro Noguchi
和宏 野口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2015101566A priority Critical patent/JP6611467B2/ja
Priority to CN201610323480.4A priority patent/CN106170056B/zh
Priority to US15/156,758 priority patent/US10274813B2/en
Publication of JP2016217821A publication Critical patent/JP2016217821A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6611467B2 publication Critical patent/JP6611467B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B17/00Details of cameras or camera bodies; Accessories therefor
    • G03B17/02Bodies
    • G03B17/12Bodies with means for supporting objectives, supplementary lenses, filters, masks, or turrets
    • G03B17/14Bodies with means for supporting objectives, supplementary lenses, filters, masks, or turrets interchangeably
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/55Optical parts specially adapted for electronic image sensors; Mounting thereof
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/04Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/04Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
    • G02B7/08Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification adapted to co-operate with a remote control mechanism
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B3/00Focusing arrangements of general interest for cameras, projectors or printers
    • G03B3/10Power-operated focusing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B2205/00Adjustment of optical system relative to image or object surface other than for focusing
    • G03B2205/0053Driving means for the movement of one or more optical element

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Structure And Mechanism Of Cameras (AREA)

Abstract

【課題】光学機器のレンズ筒の位置を検知するために、レンズの回転を掲出するエンコーダ型センサであり、低消費電力かつ高分解能な変位検出装置を提供する。【解決手段】変位検出装置は、基準電極部13aおよび複数の検出電極部13b〜13gを有する第1電極13と、所定の周期パターンを有し、第1電極に対して相対移動可能な第2電極11と、第1電極と第2電極との間の静電容量に基づいて変位を検出する検出手段17とを有する。【選択図】図6

Description

本発明は、ビデオカメラやデジタルスチルカメラなどの光学機器に搭載可能なレンズ鏡筒に関する。
従来から、電気的手段により操作リングの回転を検出し、その回転に応じて電動で合焦用レンズを駆動する、いわゆるマニュアルフォーカス(MF)機能を有するレンズ鏡筒が知られている。
特許文献1には、回転操作部の周方向に所定の間隔で設けられた複数のスリット(切り欠き)の通過を一対のフォトインタラプタで検出し、その検出信号に基づいて回転操作部の回転方向および回転量を検出するレンズ鏡筒が開示されている。特許文献1のレンズ鏡筒は、回転操作部の回転情報(回転方向および回転量)に応じてステッピングモータでスクリューを回転させ、スクリューに螺合するナットの動きに従動させることで手動合焦動作モード(MF機能)を実現している。
特開2012−255899号公報
ところで、特許文献1のレンズ鏡筒は、MF機能を実現するため、一対のフォトインタラプタを用いた非接触式の構成で、回転操作部の回転を検出する。しかしながら、フォトインタラプタは、比較的大きな消費電流が必要となる。また、一対のフォトインタラプタのいずれの出力も変化しない範囲では、回転操作部の回転を検出することができないため、回転検出の分解能を更に高めることは困難である。
そこで本発明は、低消費電力かつ高分解能な変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置を提供する。
本発明の一側面としての変位検出装置は、基準電極部および複数の検出電極部を有する第1電極と、所定の周期パターンを有し、前記第1電極に対して相対移動可能な第2電極と、前記第1電極と前記第2電極との間の静電容量に基づいて変位を検出する検出手段とを有する。
本発明の他の側面としてのレンズ鏡筒は、固定部材と、前記固定部材に対して相対移動可能に支持された可動部材と、基準電極部および複数の検出電極部を有する第1電極と、所定の周期パターンを有し、前記第1電極に対して相対移動可能な第2電極と、前記第1電極と前記第2電極との間の静電容量に基づいて前記可動部材の変位を検出する検出手段とを有する。
本発明の他の側面としての撮像装置は、前記レンズ鏡筒と、前記レンズ鏡筒の光学系を介して形成された光学像を光電変換する撮像手段とを有する
本発明の他の目的及び特徴は、以下の実施例において説明される。
本発明によれば、低消費電力かつ高分解能な変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置を提供することができる。
各実施例における撮像装置のブロック図である。 実施例1における交換レンズの構成図である。 実施例1における可動電極および固定電極の分解斜視図である。 実施例1における可動電極および固定電極の詳細図である。 実施例1における固定電極と可動電極との関係図である。 実施例1における固定電極と可動電極との等価回路図および信号処理ブロック図である。 実施例1における固定電極と可動電極とにより形成される静電容量に基づく信号を示すグラフである。 実施例1における固定電極と可動電極とにより形成される静電容量に基づく変位信号を示すグラフである。 実施例2における固定電極と可動電極との等価回路図である。 実施例3における交換レンズの構成図である。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
まず、図1を参照して、本発明の実施例1における撮像装置(撮像装置本体(一眼レフカメラ)、および、撮像装置本体に着脱可能なレンズ鏡筒(交換レンズ))の構成について説明する。図1は、本実施例における撮像装置100のブロック図である。図1中において、各ブロックを繋ぐ実線は電気的な接続を示し、破線は機械的な接続を示している。
撮像装置100は、カメラ2(撮像装置本体)と、カメラ2に着脱可能な交換レンズ1(レンズ鏡筒)とを備えて構成される。201はカメラマイコン(制御手段)、202は接点である。カメラマイコン201は、後述のようにカメラ2の各部を制御すると共に、交換レンズ1の装着時には接点202を介して交換レンズ1との通信を行う。
203は、2段ストローク式のレリーズスイッチである。レリーズスイッチ203から出力された信号は、カメラマイコン201に入力される。カメラマイコン201は、レリーズスイッチ203から入力された信号に従い、1段目ストロークスイッチ(SW1)がONであれば、測光装置(不図示)による露光量の決定や後述のAF動作などを行い、撮影準備状態に入る。またカメラマイコン201は、2段目ストロークスイッチ(SW2)がONになるまでレリーズスイッチ203が操作されたことを検出すると、撮像部204に撮影開始命令を送信して実際の露光動作を行わせる。撮像部204は、CMOSセンサやCCDセンサなどの撮像素子を有し、交換レンズ1(光学系)を介して形成された光学像を光電変換して画像信号を出力する。
205は焦点検出部である。焦点検出部205は、カメラ2が後述のAFモードに設定されている場合にレリーズスイッチ203のSW1がONされると、カメラマイコン201から送信される焦点検出開始命令に従い、焦点検出エリア内に存在する物体(被写体)に対して焦点検出を行う。焦点検出部205は、焦点検出の結果、この物体に焦点を合せるために必要な、フォーカスレンズ106の光軸方向における移動情報(移動方向および移動量)を決定する。206は表示部であり、撮像部204により得られた撮影画像などを表示する。
101は、交換レンズ1のレンズマイコン(制御手段)である。レンズマイコン101は、後述のように交換レンズ1の各部の制御を行うと共に、接点102を介してカメラ2との通信を行う。103は、オートフォーカスとマニュアルフォーカスとを切り替えるAF/MFスイッチであり、使用者がAF(オートフォーカス)モードとMF(マニュアルフォーカス)モードからフォーカスモードの選択をするために用いられる。
AFモードにおいて、カメラマイコン201は、レリーズスイッチ203のSW1のONに応じて焦点検出部205により決定された焦点検出結果を、レンズマイコン101へ送信する。レンズマイコン101は、この焦点検出結果に基づいて、電気エネルギーにより駆動力を発生するフォーカス駆動モータ104を起動する。フォーカス駆動モータ104の駆動力は、フォーカス駆動機構105へ伝達される。そしてフォーカス駆動機構105は、フォーカス駆動モータ104の駆動力に従い、フォーカスレンズ106が光軸方向に必要移動量だけ駆動される。フォーカス駆動モータ104としては、ステッピングモータや超音波モータなどが適用可能である。フォーカス駆動機構105としては、いわゆるバー・スリーブ支持の直動機構や、3本のカム溝を有するカム環と固定部に設けられた3本の直進溝との協働による、いわゆる回転カム機構などが適用可能である。
107は位置検出エンコーダ(位置検出手段)である。位置検出エンコーダ107は、例えば、フォーカスレンズ106の光軸方向における位置に対応する情報を出力する絶対値エンコーダである。位置検出エンコーダ107としては、基準位置を決定するフォトインタラプタを有し、微細間隔のインクリメンタル信号(例えば、ステッピングモータの駆動パルス数やMRセンサのような繰り返し信号)の積算値で絶対位置を検出可能な構成が適用可能である。
AFモードにおいて、レンズマイコン101は、焦点検出部205の焦点検出結果に基づいて決定されたフォーカスレンズ106の必要移動量に応じて、フォーカス駆動モータ104を駆動制御する。フォーカスレンズ106の必要移動量と、位置検出エンコーダ107の検出結果である実際の移動量とが互いに等しくなると、レンズマイコン101は、フォーカス駆動モータ104を停止し、フォーカス制御が終了したことをカメラマイコン201に送信する。
一方、MFモードにおいて、使用者はMF操作リング108(可動部材)を操作することにより、フォーカス制御が可能である。109は、MF操作リング108の回転角度(変位)を検出する操作角検出器(変位検出装置)である。使用者が表示部206により被写体の焦点状態を確認しながらMF操作リング108を回転させると、レンズマイコン101は、操作角検出器109の出力信号を読み取りフォーカス駆動モータ104を駆動し、フォーカスレンズ106を光軸方向に移動させる。MF操作リング108の回転を操作角検出器109で細かく検出することにより、使用者は微妙なフォーカス制御を行うが可能であり、MFモードにおける操作性が向上する。操作角検出器109による検出の詳細については、後述する。
次に、図2を参照して、交換レンズ1の構成について説明する。図2は、交換レンズ1の構成図である。図2(a)は、交換レンズ1の外観図である。図2(a)に示されるように、AF/MFスイッチ103は、交換レンズ1の後端部(図2(a)中の右側)の側面に配置されている。回転可能に支持されたMF操作リング108は、交換レンズ1の先端部(図2(a)中の左側)に配置されている。
図2(b)は、図2(a)中の楕円Aの範囲の拡大図であり、MF操作リング108の周辺の要部断面図を示す。11は可動電極(第2電極)である。可動電極11は、MF操作リング108の回転中心軸と同軸の内周壁に一体的に設けられた導電性の電極である。12は案内筒(固定部材)である。13は、可動電極11に対向して案内筒12と一体的に設けられた固定電極(第1電極)である。14は前枠であり、図示しない部分において案内筒12と一体化している。MF操作リング108は、案内筒12および前枠14により、光軸OAの前後方向の面12a、14aに対して所定の隙間を有して挟み込まれ、円筒面12b、14bの嵌合支持により定位置での回転が可能である。本実施例において、可動電極11は、導電性の電極としての別部品の金属リングをMF操作リング108の内周壁に配置し、この金属リングをMF操作リング108と一体的に構成されている。固定電極13は、フレキシブル基板の銅箔パターンを電極として、案内筒12の外周壁に粘着テープや接着により固定されている。ただし本実施例はこれに限定されるものではなく、メッキや蒸着、導電物質のスクリーン印刷などの技術を用いてMF操作リング108の内周壁や案内筒12の外周壁に後述する電極パターンを直接形成してもよい。
次に、図3を参照して、可動電極11および固定電極13の構成について説明する。図3は、可動電極11および固定電極13の分解斜視図である。図3(a)は、MF操作リング108と可動電極11と固定電極13との関係図を示す。図3(b)は、図3(a)からMF操作リング108を省略した図を示す。図3に示されるように、可動電極11は、導電性を有する短冊状の電極部の有無の繰り返しパターンを光軸周りの方向の全周において繋がった円筒形状を有する。固定電極13は、可動電極11に対向して設けられ、可動電極11と同軸の円筒形状を有する有限角度範囲のフレキシブル基板である。
次に、図4を参照して、MF操作リング108の回転角度を検出する操作角検出器109の検出原理について詳述する。説明および理解を容易にするため、検出方向である回転方向に展開した平面状態で説明を進める。図4は、可動電極11および固定電極13の詳細図である。図4(a)は固定電極13の平面図、図4(b)は可動電極11の平面図、図4(c)は固定電極13と可動電極11とを重ねた平面図をそれぞれ示している。図4中の矢印Bで示される方向が検出方向(回転方向)である。
まず、図4(a)を参照して、固定電極13の電極パターンについて説明する。ただし、各電極の検出方向の長さについては、図5を参照して後述する。図4(a)に示されるように、固定電極13は、基準電極13a(GND電極)、および、検出電極13b、13c、13d、13e、13f、13gを有する。検出電極13b、13c、13d、13e、13f、13gは、それぞれ、S1+電極、S1−電極、M1電極、M2電極、S2+電極、S2−電極である。図4(a)において、各電極の境界は互いに隣接して描かれているが、実際にはわずかの隙間を空けて互いに絶縁されている。
図4(b)は、図3に示される円筒形状の可動電極11の展開図である。可動電極11のうち黒い領域は、導電性を有する電極部である。11aは、検出出力を変化させる役割を有する繰り返しパターン電極であり、11b、11cは、繰り返しパターン電極11aのそれぞれを繋げて導通させる導通電極である。図4(c)は、固定電極13と可動電極11とを重ねて示している。図4(c)において、可動電極11は破線で示されている。図4(c)において、長さhは繰り返しパターン電極11aと検出電極13b、13c、13d、13e、13f、13gとが検出方向Bに対して直交する方向において互いに重なっている領域(長さ)を示し、コンデンサとして静電容量を形成する領域である。図4(d)は、固定電極13および可動電極11を検出方向Bに対して直交する厚さ方向(検出方向Bおよび長さhの方向の両方向に直交する方向)から見た図である。図4(d)において、長さdはコンデンサとしてのギャップ(間隔)である。静電容量Cは、対向する電極が互いに重なっている面積とギャップの誘電率とに比例し、ギャップdに反比例する。すなわち、C=ε・S÷d(C:静電容量、ε:誘電率、S:面積、d:ギャップ)のように表される。
次に、図5を参照して、固定電極13と可動電極11との関係について説明する。図5は、固定電極13と可動電極11との関係図である。図5中の上側において、図4(a)と同様に、固定電極13の各電極パターンが示されている。図5中の下側において、可動電極11のパターン電極11aが黒く示されている。パターン電極11aは、図4(c)に示されるように検出電極13b〜13gのそれぞれと重なった長さhの領域によりコンデンサを形成する。図5は、ステータス0〜7、および、ステータス0の順に、可動電極11が検出方向Bにおいて左側から右側に移動していく過程での特徴的な8つの状態を示している。可動電極11および固定電極13は、図4(c)に示されるように重なることによりコンデンサを形成するが、理解を容易にするため、これらを並べた図5を参照して説明する。
電極部である繰り返しパターン11aの繰り返しのピッチをPとし、本実施例では、1ピッチ内の電極の有無(割合)は半々であるとして説明する。以下の説明では、黒く示される繰り返しパターン電極11aの一つを便宜的に面積「1」とする。各ステータス間での可動電極11の移動量は(1/8)Pであり、ステータス0とステータス4はピッチPに対して位相が互いに180度ずれた(異なる)状態である。
固定電極13の基準電極13a(GND電極)は、可動電極11の繰り返しパターン電極11aと、主に、左右のそれぞれ2Pの長さの合計4Pの長さで重なっている。また基準電極13a(GND電極)の一部は、長さ14Pのうち、左右の長さ2Pの間の長さ10Pの領域において、繰り返しパターン電極11aと重なっている。すなわち、基準電極13aは、検出方向BにおいてL×P(L:自然数)の長さを有し、本実施例においてLは4(左右の長さ2P×2=4P)または14(全体の長さ14P)である。なお、基準電極13aの一部が繰り返しパターン電極11aと重なっている長さ10Pの領域の効果については、後述する。
基準電極13a(GND電極)の長さは、ピッチPの倍数である。このため、基準電極13a(GND電極)と可動電極11の電極部(繰り返しパターン電極11a)との重なり領域の面積は常に一定である。従って、ギャップdが一定であれば、静電容量Cも一定である。検出電極13b(S1+電極)および検出電極13c(S1−電極)は共に、1.5Pの長さであり、互いに180度の位相差を有する。すなわち、(M+0.5)×P(Mは0または自然数)の式で表される長さにおいて、Mが1の場合に相当する。検出電極13b(S1+電極)と繰り返しパターン電極11aとの重なり領域の面積は、ステータス0では「2」、ステータス4では「1」、ステータス7を経てステータス0の面積「2」に戻る。以降、この変化を繰り返す。
一方、検出電極13c(S1−電極)は、検出電極13b(S1+電極)に対して180度の位相差を有する。このため、検出電極13c(S1−電極)と繰り返しパターン電極11aとの重なり領域の面積は、ステータス0では「1」、ステータス4では「2」となる。このように、検出電極13b(S1+電極)および検出電極13c(S1−電極)に関し、静電容量Cは互いに逆に変化する。本実施例において、検出電極13b(S1+電極)および検出電極13c(S1−電極)は、一組の変位検出電極対である。可動電極11の移動に対して、検出電極13b(S1+電極)と繰り返しパターン電極11aとの重なり領域の面積変化量は比例するため、静電容量Cの変化も線形となる。この点は、検出電極13c(S1−)に関しても同様である。
検出電極13f(S2+電極)および検出電極13g(S2−電極)もそれぞれ(M+0.5)×P(Mは0または自然数)の式で表される長さを有し、互いに180度の位相差を有する一組の変位検出電極対である。また、検出電極13f(S2+電極)および検出電極13g(S2−電極)に関し、前式中のMは検出電極13b(S1+電極)および検出電極13c(S1−電極)と同様に1である。
これらの二組の変位検出電極対は、検出方向Bにおける位相ずれは、図5に示されるように、ピッチPに換算して6P+(1/8)Pの位相ずれを有し、静電容量Cは(1/8)Pだけずれた変化を示す。すなわち、検出電極13f(S2+電極)と繰り返しパターン電極11aとの重なり領域の面積は、ステータス1では「2」であり、ステータス5では「1」となる。一方、検出電極13g(S2−電極)は、検出電極13f(S2+電極)に対して180度の位相差を有する。このため、検出電極13f(S2+電極)および検出電極13g(S2−電極)の同ステータスにおける重なり領域の面積は、互いに逆の関係となる。
検出電極13d(M1電極)は、2Pの長さを有する。また、検出電極13d(M1電極)と繰り返しパターン電極11aとの重なり領域の面積は、ステータス0からステータス7まで常に「2」であり、変化しない。検出電極13e(M2電極)は、1Pの長さを有する。また、検出電極13e(M2電極)と繰り返しパターン電極11aとの重なり領域の面積は、ステータス0からステータス7まで常に「1」であり、変化しない。検出電極13e(M2電極)および検出電極13d(M1電極)は、N×Pおよび(N+Q)×P(N、Qは自然数)の式でそれぞれ表される長さの一組の参照電極対であり、本実施例ではN、Qが共に1の場合に相当する。
次に、図6を参照して、本実施例における固定電極13と可動電極11とにより形成されるコンデンサの等価回路および信号処理部について説明する。図6は、固定電極13と可動電極11との等価回路図および信号処理ブロック図である。
固定電極13は、基準電極13a(GND電極)、検出電極13b(S1+電極)、検出電極13c(S1−電極)、検出電極13d(M1電極)、検出電極13e(M2電極)、検出電極13f(S2+電極)、および、検出電極13g(S2−電極)を有する。図6に示されるように、固定電極13を構成する各電極は、可動電極11に対してコンデンサを形成する。ここで、基準電極13aおよび検出電極13b〜13gにより形成されるコンデンサの静電容量をそれぞれC、CS1、CS2、CS3、CS4、CS5、CS6とする。ギャップdが一定である場合、静電容量CS1、CS2、CS5、CS6は、可動電極11の移動により変化する可変コンデンサである。一方、静電容量C、CS3、CS4は、可動電極11の移動により変化しない固定値のコンデンサである。
15はアナログスイッチアレイ、16は静電容量検出回路、および、17は演算回路(検出手段または信号処理手段)である。アナログスイッチアレイ15は、アナログスイッチ15b、15c、15d、15e、15f、15gを有する。本実施例において、アナログスイッチ15b〜15gは、検出電極13b〜13gに直列でそれぞれ接続されている。演算回路17は、時分割で、アナログスイッチ15b〜15gを一つずつ短絡状態に設定する。静電容量検出回路16は、静電容量Cと、静電容量Cと直列に繋がっている静電容量CS1、CS2、CS3、CS4、CS5、CS6のそれぞれとを合成した静電容量(合成静電容量)を検出する。演算回路17は、静電容量検出回路16による検出結果に基づいて、信号S、S、S1P、S2P、INTをそれぞれ出力する。これらの信号の詳細については、後述する。
次に、図7を参照して、固定電極13と可動電極11とにより形成されるコンデンサの静電容量に基づく出力信号(変位検出電極対および参照電極対の出力信号)について説明する。図7は、固定電極13と可動電極11とにより形成される静電容量に基づく出力信号を示すグラフである。図7は、特に、検出電極13b(S1+電極)、検出電極13c(S1−電極)、検出電極13d(M1電極)、および、検出電極13e(M2電極)に対応するコンデンサの静電容量に関して示している。図7(a)〜(c)において、横軸は図5を参照して説明したステータス0〜4、縦軸は静電容量(合成容量(図7(a))、差動信号(図7(b))、正規化信号(図7(c))をそれぞれ示している。各コンデンサの静電容量は、図5にて便宜的に面積「1」と称した面積でギャップdの場合に0.1pFであるとしている。また図7(a)、(b)において、静電容量Cは、0.1pF、0.4pF(図5に示される長さ4Pに相当)、4.0pFの3種類の場合に関して示している。
図7(a)は、静電容量CとCS1との合成容量CG_S1、および、静電容量CとCS2との合成容量G_S2を示すグラフである。直列に繋がった二つのコンデンサの合成容量CG_S1、CG_S2は、それぞれ、その逆数が二つのコンデンサの逆数の和に等しい。すなわち、1/CG_S1=1/C+1/CS1、および、1/CG_S2=1/C+1/CS2が成立する。例えば、C=0.4pF、CS1=0.2pF(図5でのステータス0)の場合、CG_S1=0.133pFとなる。また、C=0.4pF、CS1=0.1pF(図5でのステータス4)の場合、CG_S1=0.080pFとなる。これは、図7(a)中の実線71bで示される合成容量に相当する。
図7(a)において、実線71a、71b、71cは、検出電極13b(S1+電極)と基準電極13a(GND電極)との合成容量を示す。また、実線71aはC=4.0pF、実線71bはC=0.4pF、実線71cはC=0.1pFの場合をそれぞれ示している。図7(a)において、破線72a、72b、72cは、検出電極13c(S1−電極)と基準電極13a(GND電極)との合成容量を示す。検出電極13c(S1−電極)は、検出電極13b(S1+電極)に対して180度の位相差を有するため、破線72a、72b、72cは、実線71a、71b、71cのそれぞれと左右反転したグラフとなっている。図7(a)から分かるように、直列に繋がれたコンデンサの合成容量の大きさは、小さい静電容量のほうにより大きく依存する。このため合成容量は、基準電極13a(GND電極)の静電容量Cが大きくなると、可変コンデンサである検出電極13b(S1+電極)または検出電極13c(S1−電極)の静電容量CS1、CS2の変化がより反映され、大きな静電容量変化が得られる。図5に示されるように、基準電極13a(GND電極)の繰り返しパターン電極11aと一部で重なっている長さ10Pの領域は、静電容量Cを大きくするために設けられている。
図7(b)は、変位検出電極対および参照電極対のそれぞれの差動出力(差動信号)を示すグラフである。図7(b)において、実線73a、73b、73cは、合成容量CG_S1、CG_S2の差動信号を示す。すなわち、実線73a、73b、73cは、実線71aから破線72a、実線71bから破線72b、実線71cから破線72cをそれぞれ減算した信号に相当する。また図7(b)において、実線74a、74b、74cは、検出電極13d(M1電極)と検出電極13e(M2電極)との差動信号であり、図7(a)と同様の静電容量Cの大きさに対応している。CS3=0.2pF、CS4=0.1pFであるため、実線74a、74b、74cは、実線73a、73b、73cのそれぞれの最大値と一致した一定値となる。これらの差動演算は、図6に示される演算回路17により行われる。
図7(c)中の実線75bは、図7(b)中の実線73bを実線74bで割った値を1000倍して正規化して得られた正規化信号(変位信号)である。また、図7(b)中の実線73aを実線74aで割った値、および、実線73cを実線74cで割った値も、差動演算により、最大値、最小値、および、それらの中間値(0)は演算上同じ値になる。ただし、これらの間の値は若干の非線形性を有する。実際の数値は、ステータス1(およびステータス3)の状態で最も非線形性が大きく、静電容量Cが0.1pF、0.4pF、4.0pFの場合、それぞれ、真値500に対して、−3.03%、−0.62%、−0.01%である。図7(c)においては、静電容量Cが0.4pFの場合を示しているが、他の場合を同じグラフ上に示しても互いに重なる程度の相違しかないため、他の場合の表示は省略する。図7(c)に示されるように正規化を行うと、静電容量Cの大きさに関わらず、略同一の特性が得られる。このとき、静電容量Cを大きく確保することにより生の出力が大きくなり、S/N(ノイズ対信号)比が向上するため、分解能が高くなる。このような正規化演算は、図6に示される演算回路17により行われる。
図8は、固定電極13と可動電極11とにより形成される静電容量に基づく変位信号(二組の変位検出電極対の出力信号)を示すグラフである。図8(a)は、検出電極13b、13cで構成される第一の変位検出電極対と、検出電極13f、13gとで構成される第二の変位検出電極対の静電容量に対して、図7(b)、(c)に示される差動演算および正規化演算を行った結果を示している。図8(a)の横軸は、図5で示されるステータスであり、2回の繰り返し範囲を示している。図8(a)の縦軸は、正規化された静電容量変化に対応する値である。
図8(a)において、実線81は、第一の変位検出電極対に基づく変位信号Sである。破線82は、第二の変位検出電極対に基づく変位信号Sである。変位信号S、Sは、図6に示されるように、演算回路17から出力される。変位信号Sは、変位信号Sに対して(1/8)Pの位相差(1ステータス分:45度)を有する。実線83は中間値(0)、破線84は正の閾値、破線85は負の閾値をそれぞれ示す。
図8(b)は、図8(a)中の実線81および破線82でそれぞれ示される変位信号S、Sを、破線84、85でそれぞれ示される正の閾値および負の閾値により離散化して得られた値を示すグラフである。図8(b)において、破線84で示される正の閾値より大きい部分は「H」、破線85で示される負の閾値(破線85)よりも小さい部分は「L」、両閾値の間は「M」となる。実線86は変位信号Sを離散化して得られた変位信号S1P、破線87は変位信号Sを離散化して得られた変位信号S2Pである。変位信号S1P、S2Pは、図6に示されるように、演算回路17から出力される。図8(c)は、図8(b)に示される変位信号S1P、S2Pをステータスごとに示した表である。ステータス0〜7の8ステートで同じパターンは現れないため、本実施例によれば、(1/8)Pごとの角度を分離して検出することが可能である。
本実施例において、変位信号S、Sが、図8(a)に示される正の閾値(破線84)または負の閾値(破線85)を上から下または下から上方向に跨いだ場合、演算回路17が割り込み信号INTを出力するように設定してもよい。これにより、図1に示されるレンズマイコン101に割り込みをかけて、離散化された変位信号S1P、S2PからMF操作リング108の回転角度および回転方向をレンズマイコン101に容易に認識させることが可能となる。また、レンズマイコン101が演算回路17から変位信号S、Sを随時読み込むことにより、MF操作リング108の回転をより細かく検出することが可能となるため、MFモードでの操作性を更に向上させることができる。
正および負の閾値を有して線形に変化する出力信号を「H」、「M」、「L」の三段階に離散化する場合、二つの変位信号の位相差を(1/8)P、すなわち45度とすることにより、パルスの切り替わりを均等にすることができる(45度が有意な位相差となる)。また、三組の変位検出電極対を設けて同じように三段階で離散化する場合、それぞれの位相差を(1/12)P、すなわち30度とすることにより、パルス間隔が均等となり、12の異なるステータスを得ることができる。この場合、30度および60度が有意な位相差となる。本実施例は三段階に離散化する場合について説明したが、一つの閾値で「H」、「L」の2段階に離散化する2相信号の場合、均等な4つの異なるステータスを得るための位相差は(1/4)P、すなわち90度である。また、3相信号の場合、均等な6つの異なるステータスを得るための位相差は(1/6)P、すなわち60度であり、60度と120度が有意な位相差となる。
また本実施例において、変位検出のための複数の変位検出電極対および参照電極対からの静電容量情報は、差動演算により得られる。このため、浮遊容量や各電極間や近辺の物質間に生じる寄生容量に対してより安定した変位検出を行うことができる。また、周囲環境の変化や可動電極と固定電極との間のギャップ変動が生じた場合でも、参照電極対の出力で図7(c)に示されるような正規化演算を行うことにより、安定した変位検出が可能となる。
次に、図9を参照して、本発明の実施例2について説明する。本実施例は、並列に接続された各検出電極に一度に電圧を印加して静電容量を検出する点で、アナログスイッチアレイ15を用いて時分割で静電容量を検出する実施例1とは異なる。
図9は、固定電極13および可動電極11の等価回路図であり、本実施例では並列接続になっている各検出電極に一度に電圧を印加した状態について説明する。なお本実施例において、可動電極11および固定電極13に関するハード構成は、実施例1と同様であるため、それらの説明は省略する。
図9に示されるように、本実施例では、基準電極13a(GND電極)と各検出電極13b〜13g(S1+電極、S1−電極、M1電極、M2電極、S2+電極、S2−電極)との間に電圧Vを印加する。ここで、静電容量Cの両端の電圧はV、並列に接続された静電容量CS1、CS2、CS3、CS4、CS5、CS6(コンデンサ)の両端の電圧はVであるとする。このとき、図9中の式(1)で示されるように、V=V+Vが成立する。また、このときに静電容量CS1、CS2、CS3、CS4、CS5、CS6に充電される電荷量をQS1、QS2、QS3、QS4、QS5、QS6とする。各コンデンサの両端の電圧はVであるため、図9中の式(3)に示されるように、各コンデンサの電荷量は、それぞれの静電容量CS1〜CS6に比例する。
また、基準電極13aによる静電容量Cに充電される電荷量Qは、図9中の式(2)に示されるように、静電容量CS1、CS2、CS3、CS4、CS5、CS6に充電される電荷量QS1、QS2、QS3、QS4、QS5、QS6の合計値(和)と等しい。可変コンデンサを形成する静電容量CS1、CS2の変化、および、静電容量CS5、CS6の変化はそれぞれ、180度の位相差を有する。このため、(QS1+QS2)および(QS5+QS6)は、常に一定値となる。したがって、静電容量Cに充電される電荷量Qも一定値となる。すなわち、静電容量CS1、CS2、CS3、CS4、CS5、CS6に充電された電荷量QS1、QS2、QS3、QS4、QS5、QS6を個別に検出する検出手段(不図示)を設けることにより、各静電容量に比例した情報を得ることができる。本実施例によれば、実施例1で説明した非線形性をより効果的に低減することができるため、より正確な変位検出が可能となる。
次に、図10を参照して、本発明の実施例3について説明する。図10は、本実施例における交換レンズ1aの構成図である。
図10(a)は、交換レンズ1aの外観図である。108aは、MF操作リング(可動部材)である。図10(b)は、MF操作リング108aの斜視図である。111は可動電極である。実施例1の可動電極11は円筒形状の電極であるが、本実施例の可動電極111は円盤状の電極である。図10(b)に示されるように、可動電極111は、放射方向に延びた電極が円周方向に扇状電極の有無の繰り返しパターンを有して構成されており、可動電極111のうちいわゆる櫛歯部分は外側で繋がって互いの扇状電極が導通している。
図10(c)は、可動電極111が一体化されたMF操作リング108aと、基準電極および検出電極を含む固定電極113とを光軸方向から見た図である。図10(d)は、固定電極113を含むハード基板のみを示している。周方向に長い扇状の固定電極113には、実施例1にて説明した基準電極および検出電極が周方向に沿って同様に配置されている。可動電極111および固定電極113は、光軸方向に一定のギャップを保って対向して設けられている。本実施例の構成においても、実施例1と同様の変位検出が可能である。
なお各実施例において、回転の検出について説明しているが、図4および図5を参照して説明したように直線方向の変位検出についても同様の構成で同様の効果を得ることが可能である。また各実施例において、固定電極と可動電極は、互いにギャップ(間隔)を設けて配置することによりコンデンサ(静電容量)を形成しているが、電気的にギャップを有していれば、絶縁層を介して機械的に互いに接触していてもよい。
このように各実施例において、変位検出装置(操作角検出器109)は、第1電極(固定電極13)、第2電極(可動電極11)、および、検出手段(演算回路17を含む信号処理手段)を有する。第1電極は、基準電極部(基準電極13a)および複数の検出電極部(検出電極13b〜13g)を有する。第2電極は、所定の周期パターンを有し、第1電極に対して相対移動可能である。検出手段は、第1電極と第2電極との間の静電容量に基づいて変位(回転角度)を検出する。
好ましくは、第2電極の所定の周期パターンは、所定の方向(変位方向、検出方向)において所定の周期(ピッチP)を有する繰り返しパターンである。第1電極の基準電極部は、所定の方向において所定の周期の整数倍の長さ(L×P(L:自然数))を有する。
好ましくは、複数の検出電極部は、第1検出電極部(検出電極13b)および第2検出電極部(検出電極13c)を含む。そして第1検出電極部および第2検出電極部は、第2電極の所定の周期パターンに関して、互いに180度異なる位相差を有する。より好ましくは、第1検出電極部および第2検出電極部はそれぞれ、所定の方向において(M+0.5)×P(M:0以上の整数、P:前記第2電極の周期)の長さを有する一組の検出電極対である。より好ましくは、複数の検出電極部は、所定の方向において、一組の検出電極対として、複数の組の検出電極対を有する。そして、複数の組の検出電極対のそれぞれは、所定の方向において第2電極の周期に対して有意な位相差を有する。
好ましくは、複数の検出電極部は、第3検出電極部(検出電極13d)および第4検出電極部(検出電極13e)を含む。そして第3検出電極部および第4検出電極部は、所定の方向において、N×Pおよび(N+Q)×P(N、Q:自然数、P:前記第2電極の周期)の長さをそれぞれ有する一組の参照電極対である。より好ましくは、複数の検出電極部は、第5検出電極部(検出電極13f)および第6検出電極部(検出電極13g)を含む。そして第5検出電極部および第6検出電極部は、第2電極の所定の周期パターンに関して、互いに180度異なる位相差を有する。
好ましくは、複数の検出電極部は、所定の方向に沿って配置されている。基準電極部は、所定の方向における複数の検出電極部の片端側(図5中の左右の長さ2Pの領域の一方)または両端側(図5中の左右の長さ2Pの領域の両方)に配置されている。また基準電極部は、所定の方向と直交する方向における複数の検出電極部のそれぞれの少なくとも一端側(図5中の検出電極13b〜13gの上側の長さ10Pの領域)に配置されている。すなわち基準電極部の一部は、所定の方向における全体の長さ14Pのうち、左右の長さ2Pの間の長さ10Pの領域において、第2電極の周期パターン(繰り返しパターン電極11a)と重なっている。また好ましくは、検出手段は、静電容量として、基準電極部と複数の検出電極部のそれぞれとの合成容量(基準電極部と各検出電極部とから形成される直列接続されたコンデンサの合成容量)に基づいて変位を検出する。
好ましくは、複数の検出電極部は、第1検出電極部(検出電極13b)および第2検出電極部(検出電極13c)を含む。基準電極部および第1検出電極部は、合成容量として第1合成容量CG_S1(1/CG_S1=1/C+1/CS1)を形成する。基準電極部および第2検出電極部は、合成容量として第2合成容量CG_S2(1/CG_S2=1/C+1/CS2)を形成する。第1合成容量および第2合成容量はそれぞれ、第1電極と第2電極との相対移動に応じて変化する。より好ましくは、第1検出電極部および第2検出電極部は、第2電極の所定の周期パターンに関して、互いに180度異なる位相差を有する。また好ましくは、第1検出電極部および前記第2検出電極部はそれぞれ、所定の方向において(M+0.5)×P(M:0以上の整数、P:第2電極の周期)の長さを有する一組の検出電極対である。また好ましくは、検出手段は、第1合成容量と第2合成容量との第1差動信号(CG_S1−CG_S2)に基づいて変位を検出する。
好ましくは、複数の検出電極部は、第3検出電極部(検出電極13d)および第4検出電極部(検出電極13e)を含む。基準電極部および第3検出電極部は、合成容量として第3合成容量CG_S3(1/CG_S3=1/C+1/CS3)を形成する。基準電極部および第4検出電極部は、合成容量として第4合成容量CG_S4(1/CG_S4=1/C+1/CS4)を形成する。検出手段は、第1差動信号(CG_S1−CG_S2)、および、第3合成容量と第4合成容量との第2差動信号(CG_S3−CG_S4)を用いて得られた変位信号(図7(c)中の実線75bで示される正規化信号)に基づいて、変位を検出する。より好ましくは、第3検出電極部および第4検出電極部は、所定の方向においてN×Pおよび(N+Q)×P(N、Q:自然数)の長さをそれぞれ有する一組の参照電極対である。
好ましくは、複数の検出電極部は、第5検出電極部(検出電極13f)および第6検出電極部(検出電極13g)を含む。基準電極部および第5検出電極部は、合成容量として第5合成容量CG_S5(1/CG_S5=1/C+1/CS5)を形成する。基準電極部および第6検出電極部は、合成容量として第6合成容量CG_S6(1/CG_S6=1/C+1/CS6)を形成する。第5合成容量および第6合成容量はそれぞれ、第1電極と前記第2電極との相対移動に応じて変化する。また好ましくは、変位検出装置は、合成容量として、第1合成容量、第2合成容量、第3合成容量、第4合成容量、第5合成容量、および、第6合成容量のうち一つを選択する選択手段(アナログスイッチアレイ15)を更に有する。
各実施例によれば、低消費電力かつ高分解能な変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置を提供することができる。
以上、本発明の好ましい実施例について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
例えば、各実施例において、第1電極(固定電極13)は固定部材(案内筒12)に設けられており、第2電極(可動電極11)は可動部材(MF操作リング108)に設けられている。ただし各実施例はこれに限定されるものではなく、第1電極を可動部材に設け、第2電極を固定部材に設けてもよい。
11 可動電極(第2電極)
13 固定電極(第1電極)
17 演算回路(検出手段)
109 操作角検出器(変位検出装置)

Claims (12)

  1. 基準電極部および複数の検出電極部を有する第1電極と、
    所定の周期パターンを有し、前記第1電極に対して相対移動可能な第2電極と、
    前記第1電極と前記第2電極との間の静電容量に基づいて変位を検出する検出手段と、を有することを特徴とする変位検出装置。
  2. 前記第2電極の前記所定の周期パターンは、所定の方向において所定の周期を有する繰り返しパターンであり、
    前記第1電極の前記基準電極部は、前記所定の方向において前記所定の周期の整数倍の長さを有することを特徴とする請求項1に記載の変位検出装置。
  3. 前記複数の検出電極部は、第1検出電極部および第2検出電極部を含み、
    前記第1検出電極部および前記第2検出電極部は、前記第2電極の前記所定の周期パターンに関して、互いに180度異なる位相差を有することを特徴とする請求項1または2に記載の変位検出装置。
  4. 前記第1検出電極部および前記第2検出電極部はそれぞれ、所定の方向において(M+0.5)×P(M:0以上の整数、P:前記第2電極の周期)の長さを有する一組の検出電極対であることを特徴とする請求項3に記載の変位検出装置。
  5. 前記複数の検出電極部は、前記所定の方向において、前記一組の検出電極対として、複数の組の検出電極対を有し、
    前記複数の組の検出電極対のそれぞれは、前記所定の方向において前記第2電極の周期に対して有意な位相差を有することを特徴とする請求項4に記載の変位検出装置。
  6. 前記複数の検出電極部は、第3検出電極部および第4検出電極部を含み、
    前記第3検出電極部および前記第4検出電極部は、所定の方向において、N×Pおよび(N+Q)×P(N、Q:自然数、P:前記第2電極の周期)の長さをそれぞれ有する一組の参照電極対であることを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載の変位検出装置。
  7. 前記複数の検出電極部は、第5検出電極部および第6検出電極部を含み、
    前記第5検出電極部および前記第6検出電極部は、前記第2電極の前記所定の周期パターンに関して、互いに180度異なる位相差を有することを特徴とする請求項6に記載の変位検出装置。
  8. 前記複数の検出電極部は、所定の方向に沿って配置されており、
    前記基準電極部は、前記所定の方向における前記複数の検出電極部の片端側または両端側、および、該所定の方向と直交する方向における該複数の検出電極部のそれぞれの少なくとも一端側に配置されていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の変位検出装置。
  9. 固定部材と、
    前記固定部材に対して相対移動可能に支持された可動部材と、
    基準電極部および複数の検出電極部を有する第1電極と、
    所定の周期パターンを有し、前記第1電極に対して相対移動可能な第2電極と、
    前記第1電極と前記第2電極との間の静電容量に基づいて前記可動部材の変位を検出する検出手段と、を有することを特徴とするレンズ鏡筒。
  10. 前記第1電極は、前記固定部材に設けられており、
    前記第2電極は、前記可動部材に設けられていることを特徴とする請求項9に記載のレンズ鏡筒。
  11. 前記第2電極の前記所定の周期パターンは、前記可動部材の回転方向において所定の周期を有する繰り返しパターンであり、
    前記第1電極の前記基準電極部は、前記回転方向において前記所定の周期の整数倍の長さを有することを特徴とする請求項9または10に記載のレンズ鏡筒。
  12. 請求項9乃至11のいずれか1項に記載のレンズ鏡筒と、
    前記レンズ鏡筒の光学系を介して形成された光学像を光電変換する撮像手段と、を有することを特徴とする撮像装置。
JP2015101566A 2015-05-19 2015-05-19 変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置 Expired - Fee Related JP6611467B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015101566A JP6611467B2 (ja) 2015-05-19 2015-05-19 変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置
CN201610323480.4A CN106170056B (zh) 2015-05-19 2016-05-16 移位检测装置、镜头镜筒和图像拾取装置
US15/156,758 US10274813B2 (en) 2015-05-19 2016-05-17 Displacement detecting apparatus, lens barrel, and image pickup apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015101566A JP6611467B2 (ja) 2015-05-19 2015-05-19 変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016217821A true JP2016217821A (ja) 2016-12-22
JP6611467B2 JP6611467B2 (ja) 2019-11-27

Family

ID=57325807

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015101566A Expired - Fee Related JP6611467B2 (ja) 2015-05-19 2015-05-19 変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10274813B2 (ja)
JP (1) JP6611467B2 (ja)
CN (1) CN106170056B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018189827A (ja) * 2017-05-08 2018-11-29 キヤノン株式会社 変位検出装置、レンズ鏡筒、および撮像装置
JP2019179205A (ja) * 2018-03-30 2019-10-17 キヤノン株式会社 操作装置、レンズ装置、および撮像装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6838928B2 (ja) * 2016-10-18 2021-03-03 キヤノン株式会社 撮像装置およびマウントアダプタ
JP1613801S (ja) * 2017-12-27 2018-09-18
USD896872S1 (en) * 2018-01-22 2020-09-22 Samyang Optics Co., Ltd Interchangeable lens for camera
CN115443432A (zh) * 2020-04-09 2022-12-06 佳能株式会社 电子设备和配件

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62262009A (ja) * 1986-05-08 1987-11-14 Chinon Kk レンズ鏡筒
US4998103A (en) * 1989-04-25 1991-03-05 Cummins Electronics Company, Inc. Electrostatic position sensing angle resolver
JP2000146508A (ja) * 1998-11-13 2000-05-26 Mitsutoyo Corp 静電容量式変位検出器及び測定装置
JP2012255899A (ja) * 2011-06-08 2012-12-27 Olympus Imaging Corp カメラシステム及びレンズ鏡筒

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59180462A (ja) 1983-03-31 1984-10-13 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 静電容量型エンコ−ダ
DE3340782C2 (de) * 1983-11-11 1985-12-05 Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf Kapazitive Längen- und Winkelmeßeinrichtung
USRE34741E (en) * 1986-04-04 1994-09-27 Mitutoyo Corporation Electrode structure for capacitance-type measurement transducers
JPS6324125A (ja) 1986-06-30 1988-02-01 Mitsutoyo Corp 容量型位置測定トランスデユ−サ
CH670306A5 (ja) 1986-11-13 1989-05-31 Hans Ulrich Meyer
JPH0769333B2 (ja) 1987-07-27 1995-07-26 日本電気株式会社 モ−タ用パルスジェネレ−タ
US5317351A (en) * 1990-12-21 1994-05-31 Canon Kabushiki Kaisha Position detecting device
JP2916291B2 (ja) 1991-03-27 1999-07-05 株式会社ミツトヨ アブソリュートエンコーダ装置
CH685214A5 (fr) * 1991-10-15 1995-04-28 Hans Ulrich Meyer Capteur capacitif de position.
JPH05223510A (ja) 1992-02-14 1993-08-31 Tokyo Keisoku Kk レール上走行物体の移動距離測定方法及び装置
JPH08278105A (ja) 1995-04-03 1996-10-22 Mitsutoyo Corp 静電容量式センサ
JPH08327306A (ja) 1995-05-29 1996-12-13 Mitsutoyo Corp 静電容量式変位検出装置
DE69530074T2 (de) * 1995-06-07 2004-03-04 Brown & Sharpe Tesa S.A. Kapazitive Messvorrichtung
JP3625530B2 (ja) 1995-06-12 2005-03-02 ヒューレット・パッカード・カンパニー 位置検出装置及び位置検出方法
JP3243407B2 (ja) 1995-12-22 2002-01-07 株式会社ミツトヨ 静電容量式変位検出装置
JPH10148503A (ja) 1996-11-19 1998-06-02 Nitta Ind Corp 容量変位センサ
JP2001249001A (ja) 2000-03-03 2001-09-14 Mitsutoyo Corp 静電容量式変位検出装置
JP4605087B2 (ja) * 2006-04-28 2011-01-05 パナソニック電工株式会社 静電容量式センサ
JP2009037774A (ja) 2007-07-31 2009-02-19 Hosiden Corp 回転入力装置、及び回転角測定装置
JP2010043894A (ja) 2008-08-11 2010-02-25 Yamaha Corp スライド操作装置
JP2010101729A (ja) 2008-10-23 2010-05-06 Seidensha Co Ltd 静電型エンコーダ
JP5161398B2 (ja) * 2011-06-08 2013-03-13 オリンパスイメージング株式会社 カメラシステム及びレンズ鏡筒
JP5790296B2 (ja) * 2011-08-17 2015-10-07 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー及び電子機器
JP5932285B2 (ja) * 2011-10-14 2016-06-08 キヤノン株式会社 エンコーダおよびこれを備えた装置
JP5935986B2 (ja) * 2012-04-06 2016-06-15 セイコーエプソン株式会社 物理量センサーおよび電子機器
JP6316087B2 (ja) * 2014-05-12 2018-04-25 キヤノン株式会社 エンコーダ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62262009A (ja) * 1986-05-08 1987-11-14 Chinon Kk レンズ鏡筒
US4998103A (en) * 1989-04-25 1991-03-05 Cummins Electronics Company, Inc. Electrostatic position sensing angle resolver
JP2000146508A (ja) * 1998-11-13 2000-05-26 Mitsutoyo Corp 静電容量式変位検出器及び測定装置
JP2012255899A (ja) * 2011-06-08 2012-12-27 Olympus Imaging Corp カメラシステム及びレンズ鏡筒

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018189827A (ja) * 2017-05-08 2018-11-29 キヤノン株式会社 変位検出装置、レンズ鏡筒、および撮像装置
JP2019179205A (ja) * 2018-03-30 2019-10-17 キヤノン株式会社 操作装置、レンズ装置、および撮像装置
JP7079131B2 (ja) 2018-03-30 2022-06-01 キヤノン株式会社 フォーカスデマンド、および撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN106170056B (zh) 2020-10-27
CN106170056A (zh) 2016-11-30
US20160344909A1 (en) 2016-11-24
US10274813B2 (en) 2019-04-30
JP6611467B2 (ja) 2019-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6611467B2 (ja) 変位検出装置、レンズ鏡筒、および、撮像装置
WO2014057726A1 (ja) 位置検出装置、レンズ鏡筒、撮像装置
US20190271573A1 (en) Displacement detection apparatus and lens barrel provided with this, and imaging apparatus
JP4769473B2 (ja) 光学機器
EP2372430A2 (en) Image pickup lens, image pickup apparatus, and lens controlling method
JP2018084455A (ja) 変位検出装置およびこれを備えたレンズ鏡筒、撮像装置
JP2010243195A (ja) 静電型エンコーダおよび内視鏡
JP2018189827A (ja) 変位検出装置、レンズ鏡筒、および撮像装置
JP6949684B2 (ja) レンズ装置および撮像装置
JP2018084454A (ja) 変位検出装置およびこれを備えたレンズ鏡筒、撮像装置
JP2564117B2 (ja) レンズ鏡筒
JP5384320B2 (ja) レンズ装置の位置検出装置
JP4072220B2 (ja) フォーカス操作装置
JPH0511163A (ja) カメラのレンズ移動機構
US9749527B2 (en) Lens barrel and camera system
JP2009015023A (ja) 駆動装置及びこれを備えた撮像装置
JP2015175863A (ja) 位置制御方法および光学機器
US5844726A (en) Position detecting device
JPH0812314B2 (ja) 焦点調節装置
JP2016206565A (ja) レンズ鏡筒
JP4129411B2 (ja) レンズ位置検出装置
JP2733585B2 (ja) レンズ鏡筒
JPH07159666A (ja) ズームレンズ
JP2006047703A (ja) レンズ装置及び撮像装置
JP4180454B2 (ja) 画像安定化レンズ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180509

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190129

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190130

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190401

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190708

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191001

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191029

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6611467

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees