JP2014068009A - 半導体処理装置に関する方法およびシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ウエハキャリア104,106から個々のウエハ110を引き出すよう構成されたフロントエンドロボット102;フロントエンドロボット102と動作関係にあり、細長経路112,114に沿ってウエハ110を移動させるよう構成されたリニアロボット108;および、リニアロボット108と動作関係にある第1の処理クラスタ130は、第1の処理チャンバ138と;第2の処理チャンバ140と;第1および第2処理チャンバ138,140の間に配置された第1のクラスタロボット142と、を備えてよい。第1のクラスタロボット142は、リニアロボット108から処理チャンバ138,140にウエハ110を移送するよう構成されると共に、処理チャンバ138,140からリニアロボット108にウエハ110を移送するよう構成される。
【選択図】図1
Description
以下の説明および請求項において、特定のシステム要素を指すために、いくつかの用語が用いられている。当業者であればわかる通り、異なる会社が、1つの要素を異なる名称で呼ぶことがある。本文書では、名前が異なるが機能は異ならない要素の間の区別を行わないこととする。
Claims (18)
- システムであって、
少なくとも1つのウエハキャリアから個々のウエハを引き出すよう構成されたフロントエンドロボットと、
前記フロントエンドロボットと動作関係にあるリニアロボットであって、前記リニアロボットは、細長経路に沿ってウエハを移動させるよう構成され、前記細長経路および前記リニアロボットは、前記リニアロボットおよび別のロボットの間でウエハのやり取りが行われる第1、第2、および、第3の位置を規定する、リニアロボットと、
前記第1の位置で前記リニアロボットと動作関係にある第1の処理クラスタと、
を備え、
前記第1の処理クラスタは、
第1の処理チャンバと、
第2の処理チャンバと、
前記第1および第2の処理チャンバの間に配置された第1のクラスタロボットと、を備え、
前記第1のクラスタロボットは、前記リニアロボットから前記処理チャンバにウエハを移送するよう構成されると共に、前記処理チャンバから前記リニアロボットにウエハを移送するよう構成されている、システム。 - 請求項1に記載のシステムであって、さらに、
前記第2の位置で前記リニアロボットと動作関係にある第2の処理クラスタを備え、
前記第2の処理クラスタは、
第3の処理チャンバと、
第4の処理チャンバと、
前記第3および第4の処理チャンバの間に配置された第2のクラスタロボットと、を備え、
前記第2のクラスタロボットは、前記リニアロボットから前記第3および第4の処理チャンバにウエハを移送するよう構成されると共に、前記第3および第4の処理チャンバから前記リニアロボットにウエハを移送するよう構成されている、システム。 - 請求項2に記載のシステムであって、さらに、
前記第3の位置で前記リニアロボットと動作関係にある第3の処理クラスタを備え、
前記第2の処理クラスタは、
第5の処理チャンバと、
第6の処理チャンバと、
前記第5および第6の処理チャンバの間に配置された第3のクラスタロボットと、を備え、
前記第3のクラスタロボットは、前記リニアロボットから前記第5および第6の処理チャンバにウエハを移送するよう構成されると共に、前記第5および第6の処理チャンバから前記リニアロボットにウエハを移送するよう構成されている、システム。 - 請求項1に記載のシステムであって、
前記第1の処理クラスタは、さらに、
前記第1のクラスタロボットと動作関係にある緩衝領域を備え、
前記第1のクラスタロボットは、さらに、前記リニアロボットから前記緩衝領域にウエハを移送すること;前記緩衝領域から前記リニアロボットにウエハを移送すること;前記緩衝領域から前記第1の処理チャンバにウエハを移送すること;前記第1の処理チャンバから前記緩衝領域にウエハを移送すること;前記緩衝領域から前記第2の処理チャンバにウエハを移送すること;および、前記第2の処理チャンバから前記緩衝領域にウエハを移送すること、からなる群より選択された少なくとも1つを実行するよう構成されている、システム。 - 請求項4に記載のシステムであって、
前記緩衝領域は、さらに、少なくとも2つのウエハを収容するよう構成されたラック部材を備える、システム。 - 請求項1に記載のシステムであって、さらに、
内部空間を備えた移送チャンバであって、前記内部空間は、前記細長経路を規定し、前記移送チャンバは、前記内部空間内で大気圧未満の圧力で作動されるよう設計され、前記リニアロボットの少なくとも一部が前記移送チャンバ内に存在する、移送チャンバと、
前記移送チャンバ内に規定された第1の開口部と動作関係にある第1のドアであって、前記第1のドアおよび第1の開口部は前記第1の位置を規定する、第1のドアと、
前記移送チャンバ内に規定された第2の開口部と動作関係にある第2のドアであって、前記第2のドアおよび第2の開口部は前記第2の位置を規定する、第2のドアと、
前記移送チャンバ内に規定された第3の開口部と動作関係にある第3のドアであって、前記第3のドアおよび第3の開口部は前記第3の位置を規定する、第3のドアと、
を備える、システム。 - 請求項6に記載のシステムであって、
前記移送チャンバは、さらに、
第1の側壁と、
前記第1の側壁に平行な第2の側壁と、
前記第1および第2の側壁の両方に直交する端壁と、
を備え、
前記第1のドアおよび第1の開口部は、前記第1の側壁に規定され、
前記第2のドアおよび第2の開口部は、前記第2の側壁に規定され、
前記第3のドアおよび第3の開口部は、前記端壁に規定される、システム。 - 請求項6に記載のシステムであって、
前記移送チャンバは、さらに、
第1の側壁と、
前記第1の側壁に平行な第2の側壁と、
前記第1および第2の側壁の両方に直交する端壁と、
を備え、
前記第1のドアおよび第1の開口部は、前記端壁から第1の距離で前記第1の側壁に規定され、
前記第2のドアおよび第2の開口部は、前記端壁から第2の距離で前記第1の側壁に規定され、
前記第3のドアおよび第3の開口部は、前記第2の側壁に規定される、システム。 - 請求項6に記載のシステムであって、さらに、
大気圧未満の圧力で作動されるよう設計された内部空間を備えたクラスタチャンバを備え、
前記クラスタチャンバは、前記第1のドアおよび第1の開口部によって前記移送チャンバの前記内部空間と選択的に流体接続され、
前記第1のクラスタロボットは、少なくとも部分的に前記クラスタチャンバ内に配置されている、システム。 - 請求項1に記載のシステムであって、
前記細長経路は、大気圧で作動されるよう設計されている、システム。 - 方法であって、
半導体処理装置を設置する工程であって、前記半導体処理装置は、少なくとも2つの処理チャンバと、前記少なくとも2つの処理チャンバの間に配置された第1のクラスタロボットとを備えた第1の処理クラスタを備え、前記第1の処理クラスタは、リニアロボットと動作可能に結合されている、工程と、
前記リニアロボットによって前記第1の処理クラスタにウエハを移送する工程と、
第2の処理クラスタを前記半導体処理装置と動作関係になるように配置する工程であって、前記第2の処理クラスタは、少なくとも2つの処理チャンバと、前記第2の処理クラスタの前記少なくとも2つの処理チャンバの間に配置された第2のクラスタロボットとを備え、前記第2の処理クラスタは、前記リニアロボットに動作可能に結合されている、工程と、
前記リニアロボットによって前記第1および第2の処理クラスタの両方にウエハを移送する工程と、
を備える、方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
ウエハを移送する工程は、さらに、真空チャンバ内に少なくとも一部が配置された前記リニアロボットによって移送する工程を含む、方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
ウエハを移送する工程は、さらに、前記リニアロボットによって経路に沿ってウエハを移送する工程を含み、
前記経路は、大気圧である、方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
設置する工程は、さらに、2つのエッチングチャンバを規定する前記第1の処理クラスタを備える前記半導体処理装置を設置する工程を含む、方法。 - 請求項14に記載の方法であって、
前記第2の処理クラスタを配置する工程は、さらに、少なくとも2つの洗浄チャンバのみを備える前記第2の処理クラスタを動作関係になるよう配置する工程を含む、方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
設置する工程は、さらに、2つの蒸着チャンバを規定する前記第1の処理クラスタを備える前記半導体処理装置を設置する工程を含む、方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
前記第1および第2の処理クラスタの両方にウエハを移送する工程は、さらに、
前記リニアロボットによって前記第1のクラスタロボットの近くにウエハを移動させる工程と、
前記第1のクラスタロボットによって、前記リニアロボットから前記ウエハを取り出して、前記第1の処理クラスタの選択された処理チャンバ内に前記ウエハを配置する工程と、
前記第1のクラスタロボットによって、前記選択された処理チャンバから前記ウエハを取り出して、前記リニアロボット上に前記ウエハを配置する工程と、
前記リニアロボットによって前記第2の処理クラスタの近くに前記ウエハを移動させる工程と、
前記第2のクラスタロボットによって、前記リニアロボットから前記ウエハを取り出して、前記第2の処理クラスタの選択された処理チャンバ内に前記ウエハを配置する工程と、
を含む、方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
前記第1の処理クラスタにウエハを移送する工程は、さらに、
前記リニアロボットによって前記第1のクラスタロボットの近くにウエハを移動させる工程と、
前記第1のクラスタロボットによって、前記リニアロボットから前記ウエハを取り出して、前記処理チャンバの少なくとも1つに前記ウエハを配置する工程と、
を含む、方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/610,990 US9293317B2 (en) | 2012-09-12 | 2012-09-12 | Method and system related to semiconductor processing equipment |
US13/610,990 | 2012-09-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014068009A true JP2014068009A (ja) | 2014-04-17 |
JP2014068009A5 JP2014068009A5 (ja) | 2016-09-23 |
Family
ID=50233440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013188116A Pending JP2014068009A (ja) | 2012-09-12 | 2013-09-11 | 半導体処理装置に関する方法およびシステム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9293317B2 (ja) |
JP (1) | JP2014068009A (ja) |
KR (1) | KR20140035280A (ja) |
CN (1) | CN103681419A (ja) |
SG (2) | SG10201602863SA (ja) |
TW (1) | TWI606539B (ja) |
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KR20180111592A (ko) | 2017-03-31 | 2018-10-11 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 기판 처리 장치 |
US10679878B2 (en) | 2017-03-31 | 2020-06-09 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus |
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US11701785B2 (en) | 2020-05-21 | 2023-07-18 | Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki | Substrate transport with mobile buffer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9293317B2 (en) | 2016-03-22 |
SG10201602863SA (en) | 2016-05-30 |
KR20140035280A (ko) | 2014-03-21 |
SG2013069463A (en) | 2014-04-28 |
US20140072397A1 (en) | 2014-03-13 |
US20160163572A1 (en) | 2016-06-09 |
TW201417209A (zh) | 2014-05-01 |
US10256124B2 (en) | 2019-04-09 |
CN103681419A (zh) | 2014-03-26 |
TWI606539B (zh) | 2017-11-21 |
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