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本願校正方法の発明は、上記流量校正試験のテスト結果を基にして創案されたものであり、請求項1の発明は、複数種のガスを各流量制御器を通して切換え可能にガス使用箇所へ供給するガス供給装置に於いて、前記ガス供給装置のガス供給路Lに、内容積VのビルドアップタンクBTとタンクBTの入口側開閉弁V及び出口側開閉弁VとタンクBT内ガスのガス圧力検出器Pd及びガス温度検出器Tdとから成る流量制御器校正ユニット5を分岐状に連結すると共に、当該流量制御器校正ユニット5の出口側開閉弁Vを真空排気装置に接続し、先ず、前記流量制御装置の各流量制御器の出口側開閉弁Vo〜Vo及びガス使用箇所の入口開閉弁Vを閉鎖すると共に前記校正ユニット5の出口側開閉弁V及び入口側開閉弁Vを開放し、次に、被校正流量制御器の出口側開閉弁のみを開放して設定流量のガスを前記校正ユニット5へ流入させ、前記タンク内のガス圧力及びガス温度が安定した時刻に第1回のタンク内のガス温度T及びガス圧力Pを計測し、そして、時刻t に於いて前記校正ユニット5の出口側開閉弁V を閉鎖してタンクBT内へのガスのビルドアップを行い、その後、時刻tに於いて出口側開閉弁Vを閉鎖すると共に、当該入口側開閉弁Vの閉鎖後の時刻tに於いて第2回のガス温度T及びガス圧力Pを計測し、前記各計測値からガス流量QをQ=(22.4V/R・Δt)×(P/T−P/T)(但し、VはタンクBTの内容積、Rはガス定数、Δtはビルドアップ時間t−tである)として演算し、前記設定ガス流量と演算ガス流量Qとの対比により被校正流量制御器の流量校正を行うことを発明の基本構成とするものである。

Claims (3)

  1. 複数種のガスを各流量制御器を通して切換え可能にガス使用箇所へ供給するガス供給装置に於いて、前記ガス供給装置のガス供給路Lに、内容積VのビルドアップタンクBTとタンクBTの入口側開閉弁V及び出口側開閉弁VとタンクBT内ガスのガス圧力検出器Pd及びガス温度検出器Tdとから成る流量制御器校正ユニット5を分岐状に連結すると共に、当該流量制御器校正ユニット5の出口側開閉弁Vを真空排気装置に接続し、先ず、前記流量制御装置の各流量制御器の出口側開閉弁Vo〜Vo及びガス使用箇所の入口開閉弁Vを閉鎖すると共に前記校正ユニット5の出口側開閉弁V及び入口側開閉弁Vを開放し、次に、被校正流量制御器の出口側開閉弁のみを開放して設定流量のガスを前記校正ユニット5へ流入させ、前記タンク内のガス圧力及びガス温度が安定した時刻に第1回のタンク内のガス温度T及びガス圧力Pを計測し、そして、時刻t に於いて前記校正ユニット5の出口側開閉弁V を閉鎖してタンクBT内へのガスのビルドアップを行い、その後、時刻tに於いて出口側開閉弁Vを閉鎖すると共に、前記入口側開閉弁Vの閉鎖後の時刻tに於いて第2回のガス温度T及びガス圧力Pを計測し、前記各計測値からガス流量QをQ=(22.4V/R・Δt)×(P/T−P/T)(但し、VはタンクBTの内容積、Rはガス定数、Δtはビルドアップ時間t−tである)として演算し、前記設定ガス流量と演算ガス流量Qとの対比により被校正流量制御器の流量校正を行うことを特徴とするガス供給装置用流量制御器の校正方法。
  2. ガス供給装置を半導体製造装置用のガスボックスとすると共に、校正ユニット5をガス供給装置のガスボックス内に設けるようにした請求項1に記載のガス供給装置用流量制御器の校正方法。
  3. 流体供給源から流れる流体を制御する流量制御器の流量を計測する方法において、前記流量制御器の下流にある内容積VのビルドアップタンクBTと、タンクBTの入口側及び出口側に配置される入口側開閉弁V及び出口側開閉弁Vと、タンクBT内に配置されるガス圧力検出器Pd及び温度検出器Tdとからなり、前記流量制御器から流体を流した状態で入口側開閉弁V及び出口側開閉弁Vを開放してガスをタンクBT内に流入させるステップ、ガス圧力及びガス温度が安定した時のガス圧力P及びガス温度Tを測定するステップ、時刻tに於いて出口側開閉弁Vのみを閉鎖してタンクBT内へガスを充填するステップ、時刻tに入口側開閉弁Vを閉鎖するステップ、その後時刻tまで前記入口側開閉弁V及び出口側開閉弁V入口側開閉弁V及び出口側開閉弁V入口側開閉弁V及び出口側開閉弁Vの閉鎖を保持するステップ、前記入口側開閉弁V及び出口側開閉弁Vの閉鎖中に再びガス温度T及びガス圧力Pを計測するステップ、各計測結果からガス流量QをQ=(22.4V/R・Δt)×(P/T−P/T)(但し、VはタンクBTの内容積、Rはガス定数、Δtはビルドアップ時間t−tである)として演算するステップ、とを備える流量計測方法。
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