JP2006258606A - 蛍光分析装置 - Google Patents
蛍光分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006258606A JP2006258606A JP2005076380A JP2005076380A JP2006258606A JP 2006258606 A JP2006258606 A JP 2006258606A JP 2005076380 A JP2005076380 A JP 2005076380A JP 2005076380 A JP2005076380 A JP 2005076380A JP 2006258606 A JP2006258606 A JP 2006258606A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- excitation light
- signal
- converter
- amplification degree
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
【解決手段】蛍光光量信号と励起光量信号とADC12、13でAD変換してデータ処理部14に取込む度に、蛍光光量信号と励起光量信号のAD変換データが同じ精度のデータになるように励起光信号の増幅器9の増幅度(G)を演算する。演算された増幅度(G)により励起光信号を増幅しAD変換する。これにより、同じ精度の励起光データと蛍光データが得られる。得られた蛍光データを励起光データで割算することにより得られたデータに、増幅度(G)を乗算する。この処理により、スペクトルデータを低ノイズで得ることが可能になる。
【選択図】 図1
Description
(2)試料による蛍光発光量の違いが配慮されていないために蛍光信号と、励起光信号の大きさが大きく異なる測定条件が発生する。この場合に両者の信号の分解能が異なり、励起光変動の補正精度を悪化させてしまう。
図9は、図7に示した蛍光スペクトル測定と同等の条件において、励起光量信号を50倍に増幅して測定した結果である。定量信号=(蛍光光量信号)/(励起光量信号)×50になるために、定量値信号ピーク波長の値は、図7に示したピーク波長の1/50の値になってしまう。
図1は、本発明の一実施形態である蛍光分析装置の概略構成図である。図1において、光源1からの光は、分光器2により分光される。この分光器2はモータ15により回転され、分光波長を変えることができる。また、モータ15はモータ駆動回路17により駆動される。このモータ駆動回路17は、データ処理部14により回転速度と回転角度が指定され、指定された回転速度と回転角度となるようにモータ15を駆動する。
データ処理部14は、図3の(1)に示す初期分光波長を設定するためにモータ駆動回路17、18を制御する。次に、図3の(2)に示すAMP9の増幅度を1にするために、AMP増幅度可変回路10を制御する。次に、図3の(3)に示すAD変換周期時間の設定を行うためにタイマー19を制御する。これにより、タイマー19は、ADC12及びADC13の高速AD変換スタート信号を出力する(図3の(4))。この例においては、高速AD変換は、例えば、16ビット、10μs〜50μsとする。
図4において、まず、励起光AMP9の増幅度が1に設定され(ステップ(a))、ADC12とADC13において高速AD変換が行われる(ステップ(b))。
2 分光器
3 ミラー
4 石英板
5 検知器
6 試料
7 分光器
8 検知器
9、11 AMP
10 AMP増幅度可変回路
12、13 ADC
14 データ処理部
15、16 モータ
17、18 モータ駆動回路
19 タイマー
20 表示装置
21、22 スリット
51、53 大小比較部
52 増幅度設定処理部
54 割算処理部
55 メモリ
56 乗算部
57 タイマー制御部
Claims (6)
- 光源と、この光源から発せられる光を分光し、励起光として、その波長を変更させて試料に照射する分光手段と、上記励起光の一部を励起光検知器に照射する手段と、上記励起光検知器からの信号を増幅する励起光信号増幅器と、この励起光信号増幅器からの信号をAD変換する励起光AD変換器と、上記試料が発する蛍光を検出する蛍光検知器と、この蛍光検知器からの蛍光信号を増幅する蛍光信号増幅器と、この蛍光信号増幅器からの信号をAD変換する蛍光AD変換器とを有し、上記蛍光AD変換器からの蛍光信号に基づいて、試料を分析する蛍光分析装置において、
上記励起光AD変換器の出力データと上記蛍光AD変換器の出力データとに基づいて上記励起光信号増幅器の増幅度を、上記励起光の波長変更毎に算出する増幅度手段と、
上記算出した増幅度を記憶する記憶手段と、
上記励起光信号増幅器の増幅度を上記算出した増幅度とする増幅度変更手段と、
上記算出した増幅度の励起光信号増幅器により増幅された励起光信号が上記励起光AD変換器によりAD変換されたデータにより、上記蛍光AD変換器によりAD変換されたデータを割算し、この割算により得られたデータに、上記記憶手段に記憶された増幅度を乗算し、試料を分析するデータ処理手段と、
を備えることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、
上記蛍光AD変換器の出力信号を所定値と比較する手段と、
上記比較手段の比較結果に従って、上記励起光信号増幅器の増幅度を、上記励起光AD変換器の出力データと上記蛍光AD変換器の出力データとが同等の精度となるための増幅度にするか、所定の固定増幅度値にするかを決定する手段とを備えることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項2記載の蛍光分析装置において、
上記励起光AD変換器の出力信号を所定値と比較する手段と、
上記比較手段の比較結果、上記励起光AD変換器の出力信号が所定値より小さい場合は、上記励起光信号増幅器の増幅度を所定の固定増幅度値にする手段とを備えることを特徴とする蛍光分析装置。 - 請求項1記載の蛍光分析装置において、上記増幅度を算出する手段により増幅度を算出する期間における上記励起光AD変換器及び蛍光AD変換器のAD変換速度は、上記励起光信号増幅器の増幅度が算出された増幅度に変更された後の、上記励起光AD変換器及び蛍光AD変換器のAD変換速度より速いことを特徴とする蛍光分析装置。
- 請求項1記載の蛍光分析装置において、上記分光手段からの励起光を通過し、上記試料に照射させるスリット手段を備え、このスリット手段は、スリット幅を変更でき、上記増幅度算出手段は、上記波長変更毎及びスリット幅変更毎に上記増幅度を算出することを特徴とする蛍光分析装置。
- 光源と、この光源から発せられる光を分光し、励起光として、その波長を変更させて試料に照射する手段と、上記励起光の一部を励起光検知器に照射する手段と、上記励起光検知器からの信号を増幅する励起光信号増幅器と、この励起光信号増幅器からの信号をAD変換する励起光AD変換器と、上記試料が発する蛍光を検出する蛍光検知器と、この蛍光検知器からの蛍光信号を増幅する蛍光信号増幅器と、この蛍光信号増幅器からの信号をAD変換する蛍光AD変換器とを用いて、上記蛍光AD変換器からの蛍光信号に基づいて、試料を分析する蛍光分析方法において、
上記励起光AD変換器の出力データと上記蛍光AD変換器の出力データとに基づいて上記励起光信号増幅器の増幅度を算出し、
上記励起光信号増幅器の増幅度を上記算出した増幅度とし、
上記算出した増幅度の励起光信号増幅器により増幅された励起光信号が上記励起光AD変換器によりAD変換されたデータにより、上記蛍光AD変換器によりAD変換されたデータを割算し、この割算により得られたデータに、上記算出した増幅度を乗算し、試料を分析することを特徴とする蛍光分析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005076380A JP4450750B2 (ja) | 2005-03-17 | 2005-03-17 | 蛍光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005076380A JP4450750B2 (ja) | 2005-03-17 | 2005-03-17 | 蛍光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006258606A true JP2006258606A (ja) | 2006-09-28 |
JP4450750B2 JP4450750B2 (ja) | 2010-04-14 |
Family
ID=37098038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005076380A Expired - Fee Related JP4450750B2 (ja) | 2005-03-17 | 2005-03-17 | 蛍光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4450750B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008197088A (ja) * | 2007-01-19 | 2008-08-28 | Shimadzu Corp | 蛍光検出器 |
JP2010525313A (ja) * | 2007-04-18 | 2010-07-22 | ザ サイエンス アンド テクノロジー ファシリティーズ カウンシル | 蛍光測定 |
-
2005
- 2005-03-17 JP JP2005076380A patent/JP4450750B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008197088A (ja) * | 2007-01-19 | 2008-08-28 | Shimadzu Corp | 蛍光検出器 |
JP2010525313A (ja) * | 2007-04-18 | 2010-07-22 | ザ サイエンス アンド テクノロジー ファシリティーズ カウンシル | 蛍光測定 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4450750B2 (ja) | 2010-04-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9816934B2 (en) | Laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) apparatus with automatic wavelength calibration | |
JP6139327B2 (ja) | テラヘルツ波分光測定装置及び方法、非線形光学結晶の検査装置及び方法 | |
WO2014106940A1 (ja) | ガス吸収分光装置及びガス吸収分光方法 | |
US8482735B2 (en) | Laser gas analyzer | |
CN106770190A (zh) | 一种校正激光诱导击穿光谱中谱线自吸收效应的方法 | |
JP2011232106A (ja) | Icp発光分光分析装置 | |
JP4324701B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
JP4450750B2 (ja) | 蛍光分析装置 | |
JP2009098106A (ja) | 光周波数の測定方法および装置 | |
JP4754888B2 (ja) | 発光分光分析方法及び発光分光分析装置 | |
JP2003232681A (ja) | 分光光度計 | |
JP4523958B2 (ja) | 蛍光x線分析装置およびそれに用いるプログラム | |
JP4146697B2 (ja) | 温度計測方法および温度計測装置 | |
JP4506524B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
JP2010008238A (ja) | 分光光度計および分光分析方法 | |
JP4233423B2 (ja) | 定量方法及びスペクトル測定装置 | |
JP3142018U (ja) | 分光分析装置 | |
JP3004748B2 (ja) | フーリエ変換赤外分光計を用いた定量分析方法 | |
JP3624587B2 (ja) | 蛍光測定装置 | |
JP2007322405A (ja) | 検査装置 | |
JP2956713B2 (ja) | X線分析方法 | |
JP3011613B2 (ja) | 外径測定装置 | |
JP3128163U (ja) | 分光光度計 | |
JP2005172670A (ja) | ラマン散乱測定方法およびその測定装置 | |
JP2006250833A (ja) | 分光測定装置の温度補償方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070216 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090825 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091022 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100119 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100126 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130205 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130205 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140205 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |