JP2010525313A - 蛍光測定 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図2
Description
(1)試料表面のプロファイルを計算する。
(2)試料表面のプロファイルから、試料表面におけるエバネッセント場の強さ分布(つまり試料表面に入射する励起用の放射の強度の空間分布)を計算する。
(3)測定された各強度を空間的な位置での試料表面のエバネッセント場強さで除すことによって、測定された蛍光の強度値を変更もしくは「規格化」する。
Claims (17)
- 試料からの蛍光を測定する方法であって、
試料の表面であって軸を実質的に横切って伸張する表面、の少なくとも部分の少なくともひとつのプロファイルを測定するステップと、
蛍光を励起するために前記試料の表面の前記部分を前記軸に沿った位置によってその強度が変化する放射で照射するステップと、
前記試料表面の前記部分から発せられる蛍光の空間強度分布を表す値を測定するステップと、
前記測定されたプロファイルを使用して、前記表面に入射する放射の強度の空間的な変動を考慮するように前記測定された蛍光の値を変更するステップと、を含む方法。 - 前記変更するステップは、前記測定されたプロファイルと前記軸に沿った位置による放射ビーム強度の変化を表す情報とから前記表面に入射する放射の強度の空間的な変動を計算することを含む請求項1に記載の方法。
- 前記試料は光学要素に隣接して配置され、
前記照射するステップは、前記光学要素で全反射するような放射ビームを生成し、前記試料表面上のフルオロフォアを励起するための放射のエバネッセント場を生成することを含む請求項1または2に記載の方法。 - 前記放射ビームは2つのサブビームに分割され、そのそれぞれが対応する反射面で全反射する請求項3に記載の方法。
- 前記試料表面の前記部分を照射するステップは、前記放射を第1偏光状態で提供することを含み、
前記値を測定するステップは、
前記試料表面の前記部分から第1偏光状態で発せられる蛍光の空間強度分布を表す値を測定することと、
前記試料表面の前記部分から第1偏光状態とは異なる第2偏光状態で発せられる蛍光の空間強度分布を表す値を測定することと、を含む請求項1から4のいずれかに記載の方法。 - 前記試料表面の前記部分を照射するステップはさらに、蛍光を励起するために続いて前記放射を第1偏光状態とは異なる第2偏光状態で提供することを含む請求項5に記載の方法。
- 前記値を測定するステップは、
前記試料表面の前記部分から第1波長範囲で発せられる蛍光の空間強度分布を表す値を測定することと、
前記試料表面の前記部分から第1波長範囲とは異なる第2波長範囲で発せられる蛍光の空間強度分布を表す値を測定することと、を含む請求項1から6のいずれかに記載の方法。 - 前記プロファイルを測定するステップと前記蛍光の空間強度分布を表す値を測定するステップの両方は、前記試料の形状の変化を監視するために、ある期間にわたり繰り返される請求項1から7のいずれかに記載の方法。
- 前記プロファイルを測定するステップと前記蛍光の空間強度分布を表す値を測定するステップとは同時に行われる請求項1から8のいずれかに記載の方法。
- 前記プロファイルを測定するステップは、
前記試料の前記部分を放射ビームで照射することと、
反射された放射ビームの強度の空間的な変動を測定することと、を含む請求項1から9のいずれかに記載の方法。 - 前記プロファイルを測定するステップは、前記試料の表面の少なくとも部分のトポグラフィを測定することを含む請求項1から10のいずれかに記載の方法。
- 前記トポグラフィは非干渉広視野光学形状測定法によって測定される請求項11に記載の方法。
- 前記トポグラフィは広視野光学断層顕微鏡検査法によって測定される請求項11に記載の方法。
- 前記試料は生物の細胞であり、その細胞の表面は細胞膜によって定義される請求項1から13のいずれかに記載の方法。
- 試料からの蛍光を測定する装置であって、
前記試料の表面の少なくとも部分が所定の軸を実質的に横切って伸張するように試料を保持する試料ホルダと、
前記試料の表面の部分の少なくともひとつのプロファイルを測定するプロフィルメータと、
蛍光を励起するために前記試料の表面の前記部分を前記軸に沿った位置によってその強度が変化する放射で照射する放射源と、
前記試料表面の前記部分から発せられる蛍光の空間強度分布を表す値を測定する検出器と、
前記測定されたプロファイルを使用して、前記表面に入射する放射の強度の空間的な変動を考慮するように前記測定された蛍光の値を変更するプロセッサと、を備える装置。 - 蛍光測定を実行するように光学装置を制御するデバイスであって、
プロセッサで読み取り可能なインストラクションを含むプログラムメモリと、
前記プログラムメモリに記憶されるインストラクションを読み出して実行するプロセッサと、を備え、
前記プロセッサで読み取り可能なインストラクションは、請求項1から14のいずれかに記載の方法を実行するように前記装置を制御するインストラクションを含むデバイス。 - コンピュータに請求項1から14のいずれかに記載の方法を実行せしめるコンピュータ読み取り可能なコードを運ぶキャリア媒体。
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