JP3142018U - 分光分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ピークを検出するために、スムージングされた分光スペクトルC2を使用するため、ピークの検出に際してノイズの影響を受け難い。スムージングを強く施したスペクトルでは、ピークやベース位置の吸光度がオリジナルの分光スペクトルC1とは異なる場合があるが、本考案では吸光度は分光スペクトルC1から得るため問題は生起しない。スムージングおよび極大・極小の検出は単純なアルゴリズムであり、カーブフィッティングに比べて操作が簡単で演算時間も短い。
【選択図】図1
Description
2 表示器
3 制御器
4 光源部
5 分光器
6 光電変換器
7 増幅器
A1 ベース吸光度
A2 ピーク吸光度
A3 ベース吸光度
C1 分光スペクトル
C2 分光スペクトル
W1 ベース波長
W2 ピーク波長
W3 ベース波長
Claims (2)
- 試料の分光スペクトルを測定する機構と、前記分光スペクトルのピークとベースを検出し前記試料中の物質の濃度を測定するデータ処理部を備えた分光分析装置において、測定された分光スペクトルを平滑化する平滑化手段と、平滑化された分光スペクトルがピークを示すピーク波長とベースを示すベース波長とを検出するピーク・ベース波長検出手段を備え、平滑化される前の分光スペクトルの前記ピーク波長における値と前記ベース波長における値から試料中の物質の濃度を測定するデータ処理部を有することを特徴とする分光分析装置。
- 試料の分光スペクトルを測定する機構と、前記分光スペクトルのピークとベースを検出し前記試料中の物質の濃度を測定するデータ処理部を備えた分光分析装置において、測定された分光スペクトルを平滑化する平滑化手段と、平滑化された分光スペクトルのピークの両側でベースを示す2個のベース波長を検出するベース波長検出手段を備え、前記2個のベース波長における平滑化される前の分光スペクトルの値で示される2個の座標を結ぶ直線より上部の前記分光スペクトルの面積から試料中の物質の濃度を測定するデータ処理部を有することを特徴とする分光分析装置。
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JP2008001565U JP3142018U (ja) | 2008-03-17 | 2008-03-17 | 分光分析装置 |
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JP2008001565U JP3142018U (ja) | 2008-03-17 | 2008-03-17 | 分光分析装置 |
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Family Applications (1)
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009294059A (ja) * | 2008-06-05 | 2009-12-17 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 皮膜付き合金化溶融亜鉛めっき鋼板の皮膜付着量測定方法及び装置 |
JP2018091675A (ja) * | 2016-12-01 | 2018-06-14 | 株式会社島津製作所 | 試料の吸光度分布を近似式により推定する方法、および分光分析装置 |
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2008
- 2008-03-17 JP JP2008001565U patent/JP3142018U/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2009294059A (ja) * | 2008-06-05 | 2009-12-17 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 皮膜付き合金化溶融亜鉛めっき鋼板の皮膜付着量測定方法及び装置 |
JP2018091675A (ja) * | 2016-12-01 | 2018-06-14 | 株式会社島津製作所 | 試料の吸光度分布を近似式により推定する方法、および分光分析装置 |
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