JP3128163U - 分光光度計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
波長ずれに由来する測定値のあいまいさを求める機能を備える。評価に利用するスペクトルと波長ずれから、選択される波長によって、測定値にどのくらいの大きさの波長ずれに由来するあいまいさがあるのかを計算する。波長ごとのあいまいさを表示する。また、あいまいさの大きな波長を選択した場合には警告を発するようにしてもよい。
【選択図】 図1
Description
2...光源
3...分光器
8...試料セル
9...対照セル
13...光検出器
17...制御部
18...メモリ
19...操作部
20...表示部
21...表による表示部
22...警告部
R...対照側光束
S...試料側光束
Claims (3)
- 選択された波長での測定値により測定試料の評価を行うための分光光度計であって、測定試料のスペクトルと波長ずれの値から、各波長における波長ずれに由来する測定値のあいまいさを求める制御部と、前記あいまいさを保存するメモリを備えたことを特徴とする分光光度計。
- 請求項1の分光光度計であって、さらに、前記各波長における波長ずれに由来する測定値のあいまいさを表示する表示部を備えたことを特徴とする分光光度計。
- 請求項1または2の分光光度計であって、さらに前記制御部は、前記選択された波長における、測定値のあいまいさが閾値を越えたときには警告を発する警告部を備えたことを特徴とする分光光度計。
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JP2006008377U JP3128163U (ja) | 2006-10-16 | 2006-10-16 | 分光光度計 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2014002677A1 (ja) * | 2012-06-25 | 2014-01-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び試料測定方法 |
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2006
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WO2014002677A1 (ja) * | 2012-06-25 | 2014-01-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び試料測定方法 |
JP2014006160A (ja) * | 2012-06-25 | 2014-01-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び試料測定方法 |
US10168345B2 (en) | 2012-06-25 | 2019-01-01 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis apparatus and sample measuring method |
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