JP2002214788A - ポジ型レジスト組成物 - Google Patents

ポジ型レジスト組成物

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JP2002214788A
JP2002214788A JP2001254106A JP2001254106A JP2002214788A JP 2002214788 A JP2002214788 A JP 2002214788A JP 2001254106 A JP2001254106 A JP 2001254106A JP 2001254106 A JP2001254106 A JP 2001254106A JP 2002214788 A JP2002214788 A JP 2002214788A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】露光時の解像度および170nm以下の波長の
光に対する透過率に優れたポジ型レジスト組成物を提供
する。 【解決手段】[1]バインダー樹脂及び感放射線化合物
を含有してなり、該バインダー樹脂が、ヒドロキシフル
オロアルキル化スチレン誘導体由来の重合単位と、アク
リル酸エステル誘導体由来の重合単位とを含み、放射線
照射後の該感放射線化合物の作用によりアルカリ可溶性
となるポジ型レジスト組成物。 [2]バインダー樹脂が、さらにニトリル基を有する重
合単位を含む[1]記載のポジ型レジスト組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バインダー樹脂及
び感放射線化合物を含有してなるポジ型レジスト組成物
に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体の微細加工には通常、レジスト組
成物を用いたリソグラフィプロセスが採用されている。
リソグラフィ用露光光源としては、波長157nmのF
2エキシマレーザーが次世代の露光光源として有望視さ
れている。
【0003】しかしながら、波長248nmのKrFエ
キシマレーザー露光用や波長193nmのArFエキシ
マレーザー露光用のレジストに用いられている樹脂は、
170nm以下の波長の光、例えば、波長157nmのF2
エキシマレーザーに対して、充分な透過率を有していな
いため、露光時の解像度が十分満足できるレベルにない
という問題があった。
【0004】例えば、Proc. SPIE vol. 1672 500 (199
2)、ドイツ国特許 4207261号には、下式の重合
単位を含む樹脂を用いたレジスト組成物が開示されてい
る。しかしながら、得られるレジストは、露光時の解像
度が十分満足できるものではなかった。
【0005】また、J. Photopolym. Sci. Technol. , V
ol.13, No.3, 459, (2000)、1996年秋季第57回応
用物理学会学術講演会公演予稿集 474ページ、Pro
c. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. (1998) 3333、特開平6
−16730号公報、特開平7−234511号公報、
特開平10−301285号公報、特開平11−258
809号公報、特開平11−352694号公報には、
ニトリル基を有する重合単位を含む樹脂を用いたレジス
ト組成物が開示されている。さらに、特開平9−731
73号公報には、メタクリル酸2−メチルー2−アダマ
ンチルおよびアクリロニトリルを重合単位として有する
樹脂を用いたレジスト組成物が開示されている。しかし
ながら、これらの重合単位を含む樹脂を用いた組成物か
ら得られるレジストは、波長157nmのF2エキシマレ
ーザーに対して、充分な透過率を有していないという問
題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、露光
時の解像度および170nm以下の波長の光に対する透
過率に優れたポジ型レジスト組成物を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記した
ような問題点がないポジ型レジスト組成物を見出すべく
鋭意検討を重ねた結果、レジスト組成物を構成する樹脂
として、ヒドロキシフルオロアルキル化スチレン誘導体
由来の重合単位と、アクリル酸エステル誘導体由来の重
合単位とを有する樹脂を含有するレジスト組成物が、露
光時の解像度および170nm以下の波長の光に対する
透過率に優れていることを見出し、本発明を完成するに
至った。
【0008】即ち、本発明は、バインダー樹脂及び感放
射線化合物を含有してなり、該バインダー樹脂が、下式
(I)で表される重合単位と下式(II)で表される重合
単位を含み、放射線照射後の該感放射線化合物の作用に
よりアルカリ可溶性となることを特徴とするポジ型レジ
スト組成物を提供するものである。 (式中、R1、R2はそれぞれ独立に少なくとも1個のフ
ッ素原子を有する炭素数1〜12のフルオロアルキル基
を表し、R3は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭
素数1〜3のアルキル基、又は少なくとも1個のフッ素
原子を有する炭素数1〜3のフルオロアルキル基を表
す) (式中、 R4は酸の作用で解裂する基を表し、 R5は水
素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭素数1〜3のアル
キル基、又は少なくとも1個のフッ素原子を有する炭素
数1〜3のフルオロアルキル基を表す)
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
本発明においては、バインダー樹脂としては、上記の式
(I)で表される重合単位および式(II)で表される
重合単位を含む樹脂を用いる。式(I)で表される重合
単位は、下式(III)で表される重合単位であること
が好ましい。
【0010】式(I)及び式(III)中のR1、R
2は、それぞれ少なくとも1個のフッ素原子を有する炭
素数1〜12のフルオロアルキル基を表す。R1、R2
しては、例えば、フルオロメチル基、ジフルオロメチル
基、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、
1−トリフルオロメチル−2,2,2−トリフルオロエ
チル基などが挙げられる。R1、R2で表されるフルオロ
アルキル基は、炭素数3以上の場合は分岐していてもよ
い。なかでも、R1及びR2が共にトリフルオロメチル基
であることが好ましい。R3は、水素原子、フッ素原
子、塩素原子、臭素原子などのハロゲン原子、シアノ
基、メチル基、エチル基、n−プロピル基などの炭素数
1〜3のアルキル基、又はトリフルオロメチル基などの
少なくとも1個のフッ素原子を有する炭素数1〜3のフ
ルオロアルキル基を表す。
【0011】式(II)中、R4はアルカリ現像液に対し
溶解抑止能を有するが、酸に対して不安定な酸開裂基で
ある。該酸開裂基としては、例えば、tert−ブチル基、
tert−ブトキシカルボニル基又はtert−ブトキシカルボ
ニルメチル基などの4級炭素が酸素原子に結合した基;
テトラヒドロ−2−ピラニル基、テトラヒドロ−2−フ
リル基、1−エトキシエチル基、1−(2−メチルプロ
ポキシ)エチル基、1−(2−メトキシエトキシ)エチ
ル基、1−(2−アセトキシエトキシ)エチル基、1−
〔2−(1−アダマンチルオキシ)エトキシ〕エチル基
又は1−〔2−(1−アダマンタンカルボニルオキシ)
エトキシ〕エチル基などのアセタール型の基;3−オキ
ソシクロヘキシル基、4−メチルテトラヒドロ−2−ピ
ロン−4−イル基(メバロニックラクトンから導かれ
る)、1−アダマンチル−1−アルキルアルキル基又は
2−アルキル−2−アダマンチル基などの非芳香族環状
化合物の基などが挙げられる。中でも、2−アルキル−
2−アダマンチル基が好ましい。
【0012】R5は、水素原子、フッ素原子、塩素原
子、臭素原子などのハロゲン原子、シアノ基、メチル
基、エチル基、n−プロピル基などの炭素数1〜3のア
ルキル基、又はトリフルオロメチル基などの少なくとも
1個のフッ素原子を有する炭素数1〜3のフルオロアル
キル基を表す。
【0013】バインダー樹脂は、例えば、下式(VI)
で表されるモノマーとアクリル酸エステルモノマー C
2=CR5COOR4(式中、 R4、 R5は式(II)
における定義と同じである)とを重合することにより得
られる。式(VI)の化合物は、例えば、J. Macromol.
Sci. Chem., A21, 1181 (1984)に記載の方法により製
造することができる。 (R1、R2、R3は、前記と同じ意味を表す。) 式(VI)において、R1及びR2が共にトリフルオロメ
チル基である化合物は、市場から容易に入手できるヘキ
サフルオロアセトンより誘導できるため、工業生産の観
点から好ましい。
【0014】また、アクリル酸エステルモノマーの
4、R5は、式(II)と同じ意味を表すアクリル酸エ
ステルモノマーとしては、アクリル酸2−アルキル−2
−アダマンチルが好ましい。アクリル酸2−アルキル−
2−アダマンチルは、下式(VII)で表され、下式(V
IIa)の重合単位を形成することができる。
【0015】
【0016】式(VII)、式(VIIa)中、R9はアル
キル基を表し、該アルキル基としては、炭素数1〜8で
あることが好ましく、通常は直鎖が有利であるが、炭素
数3以上の場合は分岐していてもよい。具体的なR9
しては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イ
ソプロピル基、ブチル基などが挙げられる。
【0017】本発明に用いるバインダー樹脂は、それ自
身アルカリ不溶性であるが、放射線照射後に感放射線化
合物の作用により化学変化を起こしてアルカリ可溶性と
なるものである。当該バインダー樹脂を含むレジスト膜
の放射線照射部がアルカリ可溶性になっているのでアル
カリによって除去されて(以後、アルカリ現像と呼ぶ場
合がある)、ポジ型レジストとなる。すなわち、化学増
幅型のポジ型レジストは、放射線照射部で感放射線化合
物から発生した酸が、その後の熱処理(post exposure
bake)によって拡散し、樹脂等の保護基を解裂させて、
その放射線照射部をアルカリ可溶化する。
【0018】例えば、式(VIIa)で示されるメタク
リル酸2−アルキル−2−アダマンチルの重合単位を有
する樹脂は、感放射線化合物から発生した酸により2−
アルキル−2−アダマンチル基が解裂して、アルカリ可
溶性となるのでポジ型レジストとして好ましい。
【0019】また、本発明のバインダー樹脂には、式
(I)及び式(II)の重合単位に加えて、さらに下式
(IV)で表されるアクリロニトリルから導かれる重合
単位を含む樹脂を使用することもできる。 式中、R6は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭素
数1〜3のアルキル基、又は少なくとも1個のフッ素原
子を有する炭素数1〜3のフルオロアルキル基を表す。
炭素数1〜3のアルキル基としては、例えばメチル基、
エチル基、プロピル基、イソプロピル基などが挙げられ
るが、重合の容易さからメチル基が好ましい。炭素数1
〜3のフルオロアルキル基としては、例えば、フルオロ
メチル基、ジフルオロメチル基、トリフルオロメチル
基、ペンタフルオロエチル基、1−トリフルオロメチル
−2,2,2−トリフルオロエチル基などが挙げられ
る。具体的には、式(IV)で表される重合単位として
は、アクリロニトリル、メタクリロニトリルに由来する
重合単位がなど挙げられる。
【0020】また、本発明のバインダー樹脂には、式
(I)及び式(II)の重合単位に加えて、さらに下式
(V)で表されるビニルフェノールから導かれる重合単位
を含む樹脂を使用することもできる。 式中、R7は前記R4と同じ意味を表し、R8は水素原
子、ハロゲン原子、シアノ基、炭素数1〜3のアルキル
基、又は少なくとも1個のフッ素原子を有する炭素数1
〜3のフルオロアルキル基を表す。炭素数1〜3のアル
キル基としては、例えばメチル基、エチル基、プロピル
基、イソプロピル基などが挙げられる。炭素数1〜3の
フルオロアルキル基としては、例えば、フルオロメチル
基、ジフルオロメチル基、トリフルオロメチル基、ペン
タフルオロエチル基、1−トリフルオロメチル−2,
2,2−トリフルオロエチル基などが挙げられる。
【0021】さらに、本発明のバインダー樹脂には、式
(I)及び式(II)の重合単位に加えて、さらに上記
の式(IV)及び式(V)で表される重合単位を含む樹脂
を使用することもできる。
【0022】本発明で用いるバインダー樹脂において、
式(I)で表される重合単位はアルカリ可溶性部位とし
て機能するが、他のアルカリ可溶性の重合単位を加えて
もよく、該重合単位としては、例えば、フェノール骨格
を有する重合単位、(メタ)アクリル酸エステル骨格を
有し、エステルのアルコール側に脂環式環及びカルボキ
シル基を有する重合単位、不飽和カルボン酸の重合単
位、式(I)で表される以外の−C(CF32OHを有
する重合単位などが挙げられる。
【0023】具体的には、ビニルフェノール単位、イソ
プロペニルフェノール単位、(メタ)アクリル酸単位、
J.photopolym.Sci.Technol.
Vol13 p451に記載の−CH2−C(CF3)O
H−で表される重合単位、同書p657に記載の3−
(5−ビシクロ〔2.2.1〕ヘプテン−2−イル)−
1,1,1−トリフルオロ−2−(トリフルオロメチ
ル)−2−プロパノールから導かれる重合単位などが挙
げられる。
【0024】また、上記で示されるアルカリ可溶性部位
のうち、その一部が酸の作用で解裂する基で保護されて
いるものを使用してもよい。アルカリ可溶性部位を保護
する基としては、前記R4と同じものが挙げられる。
【0025】さらに、バインダー樹脂全体として放射線
照射後に感放射線化合物の作用による化学変化によりア
ルカリ可溶性となってさえいれば、アルカリ不溶性の重
合単位が存在していてもよい。バインダー樹脂中のアル
カリ不溶性の重合単位は、それ自体は放射線照射後に感
放射線化合物の作用により化学変化を起こさないもので
あるが、放射線照射後のバインダー樹脂全体のアルカリ
可溶性を損なわないものであれば特に限定されない。具
体例としては、例えば、ビニルフェノール単位又はイソ
プロペニルフェノール単位の水酸基の一部がアルキルエ
ーテル化された重合単位、(メタ)アクリル酸の脂環式
エステルによって得られる重合単位、ノルボルネン等の
シクロオレフィンまたはその誘導体の重合単位(メタ)
アクリル酸のアルキルエステルのうち一部もしくは全部
の水素原子がフッ素に置換された重合単位、アルケンの
一部もしくは全部の水素原子がフッ素で置換された重合
単位などが挙げられる。
【0026】本発明では、バインダー樹脂中に、前記式
(I)で示される重合単位、式(II)で示される重合
単位に加えて、式(IV)で示される重合単位、式
(V)で示される重合単位、及び前記のアルカリ可溶性
基を有する重合単位、該アルカリ可溶性部位の一部が酸
の作用で開裂する基で保護されている重合単位、アルカ
リ不溶性の重合単位を存在させることができる。該バイ
ンダー樹脂は、例えば、通常、式(I)で表される重合
単位と、式(II)で示される重合単位を有する重合性
不飽和化合物を含み、更に、必要に応じて、式(IV)
で示される重合単位を導く重合性不飽和化合物、式
(V)で示される重合単位を導く重合性不飽和化合物、
アルカリ可溶性基、該アルカリ可溶性部位の一部が酸の
作用で開裂する基で保護されている重合単位、アルカリ
不溶性基などを含む重合単位を導く重合性不飽和化合物
と共重合を行うことにより製造することができる。共重
合反応は、常法に従って行うことができ、例えば、適当
な溶媒中に各モノマーを溶解し、重合開始剤の存在下に
重合を開始して、反応を開始する方法などが挙げられ
る。
【0027】式(I)及び式(II)の重合単位をバイ
ンダー樹脂中に組み込むことにより、バインダー樹脂
は、170nm以下の波長の光、例えば、波長157n
mのF2エキシマレーザーに対する透過率に優れたもの
となる。式(I)及び式(II)の重合単位の割合は、
バインダー樹脂自身はアルカリ現像液に不溶または難溶
であるが、放射線照射後に感放射線化合物の作用により
アルカリ可溶性となる範囲とすることが好ましい。
【0028】レジストの種類やタイプにもよるが、一般
的には、式(I)で表される重合単位と式(II)で表さ
れる重合単位とを5/95〜95/5の割合で含むこと
が好ましく、より好ましくは50/50〜90/10、
さらに好ましくは60/40〜85/15である。式
(I)で表される重合単位が、式(III)で表される
重合単位である場合も、式(III)と式(II)との
割合は、上記と同じであることが好ましい。また、バイ
ンダー樹脂は、式(IV)で表される重合単位、式
(V)であらわされる重合単位、前記した式(I)以外
のアルカリ可溶性の重合単位、アルカリ不溶性の重合単
位を含有してもよく、これらの重合単位の割合は、バイ
ンダー樹脂全体のうち、合計で0〜50モル%が好まし
く、より好ましくは0〜40モル%である。
【0029】式(I)及び式(II)の重合単位が組み
込まれ、放射線照射後の感放射線化合物の作用により化
学変化を起こしてアルカリ可溶性となるバインダー樹脂
としては、具体例として以下のものなどが挙げられる。
【0030】
【0031】
【0032】
【0033】
【0034】
【0035】
【0036】
【0037】
【0038】
【0039】
【0040】
【0041】
【0042】
【0043】
【0044】
【0045】
【0046】
【0047】
【0048】
【0049】
【0050】本発明のポジ型レジストは、上記のアルカ
リ可溶性となりうる樹脂をバインダー樹脂、及び放射線
の作用により分解する感放射線化合物を含有してなる。
バインダー樹脂は、酸の作用により解裂する基を有し、
それ自身はアルカリに不溶又は難溶であるが、酸の作用
により解裂する基が解裂した後はアルカリ可溶性とな
る。感放射線化合物としては、放射線の作用により酸を
発生する酸発生剤が用いられる。
【0051】感放射線化合物としては、例えば、オニウ
ム塩、ハロゲン化アルキルトリアジン系化合物、ジスル
ホン系化合物、ジアゾメタンスルホニル骨格を有する化
合物、スルホン酸エステル系化合物などが挙げられる。
【0052】具体的には、オニウム塩としては、例え
ば、ジフェニルヨードニウム トリフルオロメタンスル
ホネート、4−メトキシフェニルフェニルヨードニウム
ヘキサフルオロアンチモネート、4−メトキシフェニ
ルフェニルヨードニウム トリフルオロメタンスルホネ
ート、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム
テトラフルオロボレート、ビス(4−tert−ブチルフ
ェニル)ヨードニウム ヘキサフルオロホスフェート、
ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム ヘキ
サフルオロアンチモネート、ビス(4−tert−ブチルフ
ェニル)ヨードニウム トリフルオロメタンスルホネー
ト、トリフェニルスルホニウム ヘキサフルオロホスフ
ェート、トリフェニルスルホニウム ヘキサフルオロア
ンチモネート、トリフェニルスルホニウム トリフルオ
ロメタンスルホネート、4−メトキシフェニルジフェニ
ルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネート、4−
メトキシフェニルジフェニルスルホニウム トリフルオ
ロメタンスルホネート、p−トリルジフェニルスルホニ
ウム トリフルオロメタンスルホネート、2,4,6−
トリメチルフェニルジフェニルスルホニウム トリフル
オロメタンスルホネート、4−tert−ブチルフェニルジ
フェニルスルホニウム トリフルオロメタンスルホネー
ト、4−フェニルチオフェニルジフェニルスルホニウム
ヘキサフルオロホスフェート、4−フェニルチオフェ
ニルジフェニルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモ
ネート、1−(2−ナフトイルメチル)チオラニウム
ヘキサフルオロアンチモネート、1−(2−ナフトイ
ルメチル)チオラニウム トリフルオロメタンスルホネ
ート、4−ヒドロキシ−1−ナフチルジメチルスルホニ
ウム ヘキサフルオロアンチモネート、4−ヒドロキシ
−1−ナフチルジメチルスルホニウム トリフルオロメ
タンスルホネートなどが挙げられる。
【0053】ハロゲン化アルキルトリアジン系化合物と
しては、例えば、2−メチル−4,6−ビス(トリクロ
ロメチル)−1,3,5−トリアジン、2,4,6−ト
リス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン、
2−フェニル−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,
3,5−トリアジン、2−(4−クロロフェニル)−
4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリ
アジン、2−(4−メトキシフェニル)−4,6−ビス
(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−
(4−メトキシ−1−ナフチル)−4,6−ビス(トリ
クロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−(ベン
ゾ[d][1,3]ジオキソラン−5−イル)−4,6
−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジ
ン、2−(4−メトキシスチリル)−4,6−ビス(ト
リクロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−
(3,4,5−トリメトキシスチリル)−4,6−ビス
(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−
(3,4−ジメトキシスチリル)−4,6−ビス(トリ
クロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−(2,
4−ジメトキシスチリル)−4,6−ビス(トリクロロ
メチル)−1,3,5−トリアジン、2−(2−メトキ
シスチリル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,
3,5−トリアジン、2−(4−ブトキシスチリル)−
4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリア
ジン、2−(4−ペンチルオキシスチリル)−4,6−
ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジンな
どが挙げられる。
【0054】ジスルホン系化合物としては、例えば、ジ
フェニルジスルホン、ジ−p−トリルジスルホン、フェ
ニルp−トリルジスルホン、フェニルp−メトキシフェ
ニルジスルホンなどが挙げられる。
【0055】ジアゾメタンスルホニル骨格を有する化合
物としては、例えば、ビス(フェニルスルホニル)ジア
ゾメタン、ビス(4−クロロフェニルスルホニル)ジア
ゾメタン、ビス(p−トリルスルホニル)ジアゾメタ
ン、ビス(4−tert−ブチルフェニルスルホニル)ジア
ゾメタン、ビス(2,4−キシリルスルホニル)ジアゾ
メタン、ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメタ
ン、(ベンゾイル)(フェニルスルホニル)ジアゾメタ
ンなどが挙げられる。
【0056】スルホン酸エステル系化合物としては、例
えば、1−ベンゾイル−1−フェニルメチル p−トル
エンスルホネート(通称ベンゾイントシレート)、2−
ベンゾイル−2−ヒドロキシ−2−フェニルエチル p
−トルエンスルホネート(通称α−メチロールベンゾイ
ントシレート)、1,2,3−ベンゼントリイル トリ
スメタンスルホネート、2,6−ジニトロベンジル p
−トルエンスルホネート、2−ニトロベンジル p−ト
ルエンスルホネート、4−ニトロベンジル p−トルエ
ンスルホネート、N−(フェニルスルホニルオキシ)ス
クシンイミド、N−(p−トリルスルホニルオキシ)ス
クシンイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオ
キシ)スクシンイミド、N−(イソプロピルスルホニル
オキシ)スクシンイミド N−(n−ブチルスルホニルオキシ)スクシンイミド、
N−(n−ヘキシルスルホニルオキシ)スクシンイミ
ド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)スクシ
ンイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキ
シ)フタルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニ
ルオキシ)−5−ノルボルネン−2,3−ジカルボキシ
イミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)
ナフタルイミド、N−(10−カンファースルホニルオ
キシ)ナフタルイミドなどが挙げられる。
【0057】また、本願のポジ型レジスト組成物には、
塩基性化合物、特にアミン類などの塩基性含窒素有機化
合物をクェンチャーとして添加することが好ましい。該
塩基性化合物の具体的な例としては、以下の各式で表さ
れる化合物が挙げられる。
【0058】
【0059】式中、R11及びR12は互いに独立に、水素
原子、水酸基で置換されていてもよいアルキル基、シク
ロアルキル基又はアリール基を表し、R13、R14及びR
15は互いに独立に、水素原子、水酸基で置換されていて
もよいアルキル基、シクロアルキル基、アリール基又は
アルコキシ基を表し、R16は水酸基で置換されていても
よいアルキル基又はシクロアルキル基を表し、Aはアル
キレン基、カルボニル基又はイミノ基を表す。R11〜R
16で表されるアルキル基及びR11〜R15で表されるアル
コキシ基は、それぞれ炭素数1〜6、R11〜R16で表さ
れるシクロアルキル基は、炭素数5〜10、R11〜R15
で表されるアリール基は、炭素数6〜10であることが
好ましい。また、Aで表されるアルキレン基は、炭素数
1〜6であることが好ましく、直鎖であっても分岐して
いてもよい。
【0060】さらに、本願のポジ型レジスト組成物に
は、ピペリジン骨格を有するヒンダードアミン化合物を
クエンチャーとして添加してもよい。該ヒンダードアミ
ン化合物としては、特開平11−52575号公報に開
示されている化合物などが挙げられる。
【0061】本発明のポジ型レジスト組成物は、その全
固形分量を基準として、バインダー成分を好ましくは6
0〜99.9重量%、より好ましくは80〜99.9重
量%、感放射線化合物を好ましくは0.1〜40重量
%、より好ましくは0.1〜20重量%程度含有してな
る。
【0062】また、本願のように感放射線化合物が酸発
生剤で、クェンチャーとして塩基性化合物を用いる場合
には、同じくレジスト組成物の全固形分重量を基準とし
て、塩基性化合物を0.01〜1重量%程度含有するこ
とが好ましい。該レジスト組成物はまた、必要に応じ
て、増感剤、他の樹脂、界面活性剤、安定剤、染料な
ど、各種の添加物を本願の目的を損ねない範囲で少量含
有してもよい。
【0063】本発明のレジスト組成物は、通常、上記の
各成分が溶剤に溶解された状態でレジスト液となり、シ
リコンウェハーなどの基体上に、スピンコーティングな
どの常法に従って塗布される。ここで用いられる溶剤
は、各成分を溶解し、適当な乾燥速度を有し、溶剤が蒸
発した後に均一で平滑な塗膜を与えるものであればよ
く、この分野で一般に用いられている溶剤を使用し得
る。
【0064】該溶剤としては、例えば、エチルセロソル
ブアセテート、メチルセロソルブアセテート及びプロピ
レングリコールモノメチルエーテルアセテートなどのグ
リコールエーテルエステル類、ジエチレングリコールジ
メチルエーテルなどのエーテル類、乳酸エチル、酢酸ブ
チル、酢酸アミル、ピルビン酸エチルなどのエステル
類、アセトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノ
ン、シクロヘキサノンなどのケトン類、γ−ブチロラク
トンなどの環状エステル類などを挙げることができる。
これらの溶剤は、それぞれ単独でも、又は2種以上組み
合わせて用いることもできる。
【0065】基体上に塗布され、乾燥されたレジスト膜
には、パターニングのための露光処理が施され、次いで
脱保護基反応を促進するための加熱処理を行った後、ア
ルカリ現像液で現像される。アルカリ現像液は、この分
野で通常用いられる各種のアルカリ性水溶液を用いるこ
とができる。アルカリ現像液としては、例えば、テトラ
メチルアンモニウムヒドロキシドや(2−ヒドロキシエ
チル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド(通称コリ
ン)などの水溶液が好ましく使用される。このようにし
て得られたレジスト膜は、露光時の解像度および170
nm以下の波長の光に対する透過率に優れ、特にF2
キシマレーザーリソグラフィに適している。
【0066】
【実施例】次に実施例に基いて本発明をさらに具体的に
説明するが、本発明が実施例により限定されるものでは
ないことは言うまでもない。実施例中に記載の「部」
は、特記しないかぎり重量基準である。また重量平均分
子量は、ポリスチレンを標準品として、ゲルパーミェー
ションクロマトグラフィーにより求めた値である。
【0067】単量体製造例1 磁気攪拌子、ドライアイス/アセトン冷却管、温度計、
窒素導入管を備えた300mL三つ口フラスコに、マグ
ネシウム6.8g、テトラヒドロフラン(THF)25
mlを加え窒素雰囲気下にした。この溶液を攪拌しなが
ら、p−ブロモスチレン6.8gを溶解したTHF20
mlをゆっくり滴下した。続いてp−ブロモスチレン2
9.8gを溶解したTHF90mlを反応温度35℃を
保つようにゆっくり滴下した。滴下終了後1時間還流
し、次に反応溶液にヘキサフルオロアセトンガス66g
を6時間かけてゆっくり通じた。反応終了後大量の氷水
にあけ、得られた個景物を5%塩酸水溶液で洗い、5%
水酸化ナトリウム水溶液に抽出し、5%塩酸水溶液で中
和し、乾燥後減圧蒸留によりp−(1,1,1,3,
3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロピル)ス
チレンを得た。得量35.2g。この化合物を単量体A
とする。
【0068】単量体製造例2 磁気攪拌子、単蒸留装置を備えた100mL三ツ口フラ
スコに、α-トリフルオロメチルアクリル酸16.0g、フタ
ル酸クロリド34.8gを加え、130℃〜150℃に加熱しなが
ら蒸留を行ない、溜出液を乾燥THF10mLで希釈した。
別の磁気攪拌子、冷却管、滴下漏斗を備えた200mL
三ツ口フラスコに、2-エチル-2-アダマンタノール18.0
g、乾燥THF100mL、ピリジン7.9gを仕込み-40℃
に冷却し、先の反応で得られた溜出液のTHF溶液を3分間
掛けて滴下した。その後2時間かけて5℃まで昇温した。
反応液をヘキサンで希釈し、水洗、濃縮を行い、カラム
精製により2-エチルアダマンチル α-トリフルオロメ
チルアクリル酸を得た。得量9.5g この化合物を単量体
Bとする。
【0069】樹脂製造例1 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、単量体A4.4g、スチレン
0.5g、メタクリル酸 2−メチル−2−アダマンチ
ル2.1g、1,4−ジオキサン7gを加え75℃に昇
温し、アゾビスイソブチロニトリル0.2gを1,4−
ジオキサン2gに溶解した溶液を30分かけて滴下し
た。その後75℃に保ったまま8時間保温した。その後
メタノール100g、水350gの混合溶液に反応液を
注ぎ、析出した樹脂を濾別、減圧乾燥を行い樹脂を得
た。得量5.1g。重量平均分子量40000。この樹
脂を樹脂1とする。
【0070】樹脂製造例2 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、単量体A4.7g、メタクリ
ル酸 2−メチル−2−アダマンチル1.8g、1,4
−ジオキサン7gを加え75℃に昇温し、アゾビスイソ
ブチロニトリル0.16gを1,4−ジオキサン2gに
溶解した溶液を30分かけて滴下した。その後75℃に
保ったまま8時間保温した。その後メタノール100
g、水350gの混合溶液に反応液を注ぎ、析出した樹
脂を濾別、減圧乾燥を行い樹脂を得た。得量5.1g。
重量平均分子量20000。この樹脂を樹脂2とする。
【0071】樹脂製造例3 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、単量体A5.4g、メタクリ
ル酸 2−メチル−2−アダマンチル1.2g、1,4
−ジオキサン7gを加え75℃に昇温し、アゾビスイソ
ブチロニトリル0.16gを1,4−ジオキサン2gに
溶解した溶液を30分かけて滴下した。その後75℃に
保ったまま8時間保温した。その後メタノール100
g、水350gの混合溶液に反応液を注ぎ、析出した樹
脂を濾別、減圧乾燥を行い樹脂を得た。得量5.1g。
重量平均分子量15000。この樹脂を樹脂3とする。
【0072】樹脂製造例4 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、メチルイソブチルケトン5.
3gを仕込み75℃に昇温し、単量体A3.4g、メタ
クリロニトリル0.4g、メタクリル酸 2−メチル−
2−アダマンチル1.5g、アゾビスイソブチロニトリ
ル0.25g、メチルイソブチルケトン5.3gを混合
した溶液を30分かけて滴下した。その後75℃に保っ
たまま8時間保温した。その後ヘキサン500mLに反
応液を注ぎ、析出した樹脂を濾別、減圧乾燥を行い樹脂
を得た。得量3.8g。重量平均分子量6900。この
樹脂を樹脂4とする。
【0073】樹脂製造例5 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、メチルイソブチルケトン6.
4gを仕込み75℃に昇温し、単量体A4.1g、メタ
クリロニトリル0.5g、メタクリル酸 2−エチル−
2−アダマンチル1.9g、アゾビスイソブチロニトリ
ル0.30g、メチルイソブチルケトン6.4gを混合
した溶液を30分かけて滴下した。その後75℃に保っ
たまま8時間保温した。その後ヘキサン500mLに反
応液を注ぎ、析出した樹脂を濾別、減圧乾燥を行い樹脂
を得た。得量4.9g。重量平均分子量9400。この
樹脂を樹脂5とする。
【0074】樹脂製造例6 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、2−プロパノール5.3gを
仕込み75℃に昇温し、単量体A6.5g、メタクリル
酸 2−エチル−2−アダマンチル1.5g、アゾビス
イソブチロニトリル0.12g、2−プロパノール2.
7gを混合した溶液を30分かけて滴下した。その後7
5℃に保ったまま8時間保温した。その後水500mL
に反応液を注ぎ、析出した樹脂を濾別、減圧乾燥を行い
樹脂を得た。得量7.7g。重量平均分子量2640
0。この樹脂を樹脂6とする。
【0075】樹脂製造例7 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、メチルイソブチルケトン8.
0gを仕込み75℃に昇温し、単量体A5.7g、メタ
クリル酸 2−エチル−2−アダマンチル2.3g、ア
ゾビスイソブチロニトリル0.3g、メチルイソブチル
ケトン8.0gを混合した溶液を30分かけて滴下し
た。その後75℃に保ったまま8時間保温した。その後
ヘキサン500mLに反応液を注ぎ、析出した樹脂を濾
別、減圧乾燥を行い樹脂を得た。得量7.0g。重量平
均分子量8800。この樹脂を樹脂7とする。
【0076】樹脂製造例8 磁気攪拌子、冷却管、温度計、窒素導入管を備えた10
0mL三つ口フラスコに、メチルイソブチルケトン7.8
gを仕込み75℃に昇温し、単量体A5.0g、単量体
B2.2g、アゾビスイソブチロニトリル0.4g、メ
チルイソブチルケトン7.8gを混合した溶液を30分
かけて滴下した。その後75℃に保ったまま8時間保温
した。その後ヘキサン500mLに反応液を注ぎ、析出
した樹脂を濾別、減圧乾燥を行い樹脂を得た。得量6.
0g。重量平均分子量7000。この樹脂を樹脂8とす
る。
【0077】樹脂Xの製造 (1) フラスコに、 メタクリル酸2−アダマンチル
−2−メチル24.6g(0.105モル)とp−アセ
トキシスチレン39.7g(0.245モル)とイソプ
ロパノール128.6gを仕込んで窒素置換をし、75
℃まで昇温した。その溶液に、ジメチル2、2−アゾビ
ス(2−メチルプロピオネート)4.84g(0.02
1モル)をイソプロパノール9.7gに溶かしてから滴
下した。75℃で約0.5時間、還流下で約11時間熟
成した後、アセトンで希釈し、ヘプタンにチャージし、
晶析させ、濾過により結晶を取り出し、得られた結晶を
乾燥した。得られたメタクリル酸2−アダマンチル−2
−メチルとp−アセトキシスチレン共重合体の結晶は5
4.1gであった。
【0078】(2) フラスコに、上記で得られたメタ
クリル酸2−アダマンチル−2−メチルとp−アセトキ
シスチレン共重合体(30:70)53.2g(モノマ
ー単位として0.29モル)と4−ジメチルアミノピリ
ジン5.3g(0.043 モル)とメタノール15
9.5gを仕込んで、還流下、20時間熟成した。冷却
後、氷酢酸3.92g(0.065モル)で中和し、水
にチャージし、晶析させ、濾過により結晶を取り出し
た。その後、結晶をアセトンに溶かし、水にチャージ
し、晶析させ、濾過により結晶を取り出し、この一連の
操作を計3回繰り返した後、得られた結晶を乾燥した。
得られたメタクリル酸2−アダマンチル−2−メチルと
p−ヒドロキシスチレン共重合体の結晶は41.2gで
あった。また、重量平均分子量は約8100、分散度
1.68(GPC法:ポリスチレン換算)であり、共重
合比は核磁気共鳴(13C−NMR)分光計により、約3
0:70と求められた。この樹脂を樹脂Xとする。
【0079】樹脂Yの製造 (1) フラスコに、メタクリル酸2−アダマンチル−
2−メチル16.4g(0.07モル)とp−アセトキ
シスチレン45.4g(0.28モル)とイソプロパノ
ール123.6gを仕込んで窒素置換をし、75℃まで
昇温した。その溶液に、ジメチル2‘2−アゾビス(2
−メチルプロピオネート)4.84g(0.021モ
ル)をイソプロパノール9.7gに溶かしてから滴下し
た。75℃で約0.5時間、還流下で約11時間熟成し
た後、アセトンで希釈し、ヘプタンにチャージし、晶析
させ、濾過により結晶を取り出し、得られた結晶を乾燥
した。得られたメタクリル酸2−アダマンチル−2−メ
チルとp−アセトキシスチレン共重合体の結晶は54.
2gであった。
【0080】(2)フラスコに、上記で得られたメタク
リル酸2−アダマンチル−2−メチルとp−アセトキシ
スチレン共重合体(20:80)53.0g(モノマー
単位として0.30モル)と4−ジメチルアミノピリジ
ン5.3g(0.043 モル)とメタノール159.
0gを仕込んで、還流下、20時間熟成した。冷却後、
氷酢酸3.13g(0.052モル)で中和し、水にチ
ャージし、晶析させ、濾過により結晶を取り出した。そ
の後、結晶をアセトンに溶かし、水にチャージし、晶析
させ、濾過により結晶を取り出し、この一連の操作を計
3回繰り返した後、得られた結晶を乾燥した。得られた
メタクリル酸2−アダマンチル−2−メチルとp−ヒド
ロキシスチレン共重合体の結晶は37.8gであった。
また、重量平均分子量は約7900、分散度1.72
(GPC法:ポリスチレン換算)であり、共重合比は核
磁気共鳴(13C−NMR)分光計により、約20:80
と求められた。 この樹脂を樹脂Yとする。
【0081】次に、以上の樹脂製造例で得られた各樹脂
のほか、以下に示す酸発生剤及びクェンチャーを用いて
レジスト組成物を調製した。
【0082】<酸発生剤> B1:ビス(4-t-ブチルフェニルヨードニウム カンフ
ァースルホネート、 <クェンチャー> C1:2,6−ジイソプロピルアニリン、
【0083】実施例1〜7及び比較例1〜3 以下の各成分を混合して溶解し、さらに孔径0.2μmの
フッ素樹脂製フィルターで濾過して、レジスト液を調製
した。
【0084】 樹脂(種類は表1記載) 10重量部 酸発生剤(B1) 0.52重量部 クェンチャー(C1) (量は表1記載) 溶剤:メチルアミルケトン 50重量部
【0085】透過率の測定 一方、フッ化マグネシウムウエハーに、先に調整したレ
ジスト液を乾燥後の膜厚が0.1μmとなるよう塗布
し、130℃60秒の条件で、ダイレクトホットプレー
ト上にてプリベークして、レジスト膜を形成させた。こ
うして形成されたレジスト膜の波長157nmにおける透
過率を、真空紫外分光光度計((株)日本分光社製)を
用いて測定し、表1に示す結果を得た。
【0086】KrF露光 膜抜け感度の測定 Brewer社製の有機反射防止膜用組成物である“D
UV−42”を塗布して215℃、60秒の条件でベー
クしてすることによって厚さ600Åの有機反射防止膜
を形成させたシリコンウェハーに、上で調製したレジス
ト液を乾燥後の膜厚が0.523μmとなるようにスピ
ンコートした。レジスト液塗布後は、ダイレクトホット
プレート上にて、表1に記載の温度で60秒間プリベー
ク(PB)した。こうしてレジスト膜を形成したウェハ
ーに、KrFエキシマステッパー〔(株)ニコン製の
“NSR 2205EX−12B”、NA=0.55、
σ=0.8〕を用い、露光量を段階的に変化させてライ
ンアンドスペースパターンを露光した。露光後は、ホッ
トプレート上にて表1に記載の温度で60秒間ポストエ
キスポジャーベーク(PEB)を行い、さらに2.38
重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で
60秒間のパドル現像を行った。現像後のウェハーを目
視観察して、レジストが膜抜けする最少露光量(膜抜け
感度)を求め、表1の結果を得た。
【0087】F2露光 膜抜け感度、γ値の測定 ヘキサメチルジシラザンを用いて23℃で20秒間処理
したシリコンウェハーに、上で調製したレジスト液を乾
燥後の膜厚が0.1μmとなるよう塗布した。表1に記
載の温度で60秒間のプリベークを、ダイレクトホット
プレート上にて行った。こうしてレジスト膜を形成した
ウェハーに、簡易型F2 エキシマレーザー露光機〔リ
ソテックジャパン(株)から入手した“VUVES−4
500”〕を用い、露光量を段階的に変化させてオープ
ンフレーム露光した。露光後は、ダイレクトホットプレ
ート上にて、表1の温度で60秒間のポストエキスポジ
ャーベーク(PEB)を行い、さらに2.38重量%テ
トラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で60秒間
のパドル現像を行った。現像後のウェハーを目視観察し
て、レジストが膜抜けする最少露光量(膜抜け感度)を
求めた。結果を表1示す。
【0088】また、露光量に対する残膜厚をラムダエー
ス膜厚測定計(大日本スクリーン製造(株)社製)にて
測定し、横軸を露光量の対数、縦軸をPEB後の膜厚に
対して規格化した値をプロットした。得られた感度曲線
の斜面部の傾き(tanθ)をγ値とする。γ値は、解
像度の指標となり、値が大きいほど未露光部と露光部の
コントラストが高く、解像度が良いことを意味する。
【0089】
【表1】
【0090】
【発明の効果】本発明によれば、露光時の解像度および
170nm以下の波長の光、例えば波長157nmのF
2エキシマレーザーに対する透過率に優れたポジ型レジ
スト組成物を提供することが可能となる
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮 芳子 大阪府大阪市此花区春日出中3丁目1番98 号 住友化学工業株式会社内 Fターム(参考) 2H025 AA00 AA02 AB16 AC04 AC08 AD03 BE00 BG00 FA03 FA12 FA17 4J100 AB07P AB07S AL08Q AM02R BA02S BA03P BA40P BB00P BB07P BB17P BB18P BC09Q CA04 CA05 CA06 JA38

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】バインダー樹脂及び感放射線化合物を含有
    してなり、該バインダー樹脂が、下式(I)で表される
    重合単位と下式(II)で表される重合単位を含み、放射
    線照射後の該感放射線化合物の作用によりアルカリ可溶
    性となることを特徴とするポジ型レジスト組成物。 (式中、R1、R2はそれぞれ独立に少なくとも1個のフ
    ッ素原子を有する炭素数1〜12のフルオロアルキル基
    を表し、R3は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭
    素数1〜3のアルキル基、又は少なくとも1個のフッ素
    原子を有する炭素数1〜3のフルオロアルキル基を表
    す) (式中、 R4は酸の作用で解裂する基を表し、 R5は水
    素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭素数1〜3のアル
    キル基、又は少なくとも1個のフッ素原子を有する炭素
    数1〜3のフルオロアルキル基を表す)
  2. 【請求項2】バインダー樹脂が、式(I)で表される重
    合単位と式(II)で表される重合単位とを5/95〜9
    5/5の割合で含む請求項1記載の組成物。
  3. 【請求項3】式(I)で表される重合単位が、下式(I
    II)で表される重合単位である請求項1記載の組成
    物。 (式中、R1、R2、R3は前記と同じものを表す)
  4. 【請求項4】バインダー樹脂が、式(III)で表され
    る重合単位と式(II)で表される重合単位とを5/95
    〜95/5の割合で含む請求項3記載の組成物。
  5. 【請求項5】R1、R2がいずれもトリフルオロメチル基
    である請求項1または3記載の組成物。
  6. 【請求項6】感放射線化合物が、放射線の作用により酸
    を発生する活性化合物であって、ポジ型に作用する請求
    項1〜5のいずれかに記載の組成物。
  7. 【請求項7】R4が2−アルキル−2−アダマンチル基
    である請求項1〜6のいずれかに記載の組成物。
  8. 【請求項8】バインダー樹脂が、さらに下式(IV)で表
    される重合単位を含む請求項1〜7のいずれかに記載の
    組成物。 (式中、 R6は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭
    素数1〜3のアルキル基、又は少なくとも1個のフッ素
    原子を有する炭素数1〜3のフルオロアルキル基を表
    す)
  9. 【請求項9】バインダー樹脂が、さらに下式(V)で表さ
    れる重合単位を含む請求項1〜8のいずれかに記載の組
    成物。 (式中、 R7は酸の作用で解裂する基又は水素原子を表
    し、R8は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭素数
    1〜3のアルキル基、又は少なくとも1個のフッ素原子
    を有する炭素数1〜3のフルオロアルキル基を表す)
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