JPH05121499A - 回路接続試験装置 - Google Patents
回路接続試験装置Info
- Publication number
- JPH05121499A JPH05121499A JP28123191A JP28123191A JPH05121499A JP H05121499 A JPH05121499 A JP H05121499A JP 28123191 A JP28123191 A JP 28123191A JP 28123191 A JP28123191 A JP 28123191A JP H05121499 A JPH05121499 A JP H05121499A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- circuit
- measured
- switch
- current value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は回路接続試験装置に関し、たとえ小
数枚のプリント配線板のチェックであっても、容易に、
しかも低コストで検査可能な回路接続試験装置を提供す
ることを目的としている。 【構成】 被測定物である電子回路プリント配線板の基
定実装ピッチに基づいて、抵抗を接続した複数の試験端
子を所定間隔で格子状に設けてなるプローブ群と、該プ
ローブ群の各試験端子の一方端に直列に接続した複数の
スイッチからなるスイッチ群と、該スイッチ群を介して
該プローブ群に電流を流し、流れる電流値を測定する電
流値測定手段とを有し、前記プローブ群を前記電子回路
プリント配線板に当接した状態で前記スイッチ群の各ス
イッチを順次閉じ、該スイッチ群の閉じたスイッチに対
応する前記電流値測定手段によって測定した電流値を測
定データとして記憶保持することにより、該測定データ
に基づいて該電子回路の接続状態を試験するように構成
する。
数枚のプリント配線板のチェックであっても、容易に、
しかも低コストで検査可能な回路接続試験装置を提供す
ることを目的としている。 【構成】 被測定物である電子回路プリント配線板の基
定実装ピッチに基づいて、抵抗を接続した複数の試験端
子を所定間隔で格子状に設けてなるプローブ群と、該プ
ローブ群の各試験端子の一方端に直列に接続した複数の
スイッチからなるスイッチ群と、該スイッチ群を介して
該プローブ群に電流を流し、流れる電流値を測定する電
流値測定手段とを有し、前記プローブ群を前記電子回路
プリント配線板に当接した状態で前記スイッチ群の各ス
イッチを順次閉じ、該スイッチ群の閉じたスイッチに対
応する前記電流値測定手段によって測定した電流値を測
定データとして記憶保持することにより、該測定データ
に基づいて該電子回路の接続状態を試験するように構成
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回路接続試験装置に係
り、詳しくは、例えば、電子回路等における回路の接続
状態を検査する回路接続試験装置に関する。近年、電子
回路は、プリント配線板上の所定位置に配置されるとと
もに、半田付けによる電気的に接続された電子部品から
構成されるのが一般的である。
り、詳しくは、例えば、電子回路等における回路の接続
状態を検査する回路接続試験装置に関する。近年、電子
回路は、プリント配線板上の所定位置に配置されるとと
もに、半田付けによる電気的に接続された電子部品から
構成されるのが一般的である。
【0002】しかし、半田の量や、半田付けの条件の制
御は難しく、例えば、半田ブリッジ等の発生により、電
子回路がショートしたり、接続端子が外れて断線してし
まう場合がある。このため、このような状態で通電する
と、実装した電子部品や電源を破損してしまう危険性が
生じる。そこで、インサーキットテスタ等の回路接続試
験装置によって、電子回路にショートがないか、実装部
品の付け間違いがないか等を通電前にチェックすること
が必要となる。
御は難しく、例えば、半田ブリッジ等の発生により、電
子回路がショートしたり、接続端子が外れて断線してし
まう場合がある。このため、このような状態で通電する
と、実装した電子部品や電源を破損してしまう危険性が
生じる。そこで、インサーキットテスタ等の回路接続試
験装置によって、電子回路にショートがないか、実装部
品の付け間違いがないか等を通電前にチェックすること
が必要となる。
【0003】
【従来の技術】従来のこの種の回路接続試験装置として
は、例えば、図5,6に示すようなインサーキットテス
タがある。インサーキットテスタ1は、大別して、ベッ
ドオブネール(以下、BON:Bed Of Nail と記す)
2、マトリクス回路3、測定器4から構成されている。
は、例えば、図5,6に示すようなインサーキットテス
タがある。インサーキットテスタ1は、大別して、ベッ
ドオブネール(以下、BON:Bed Of Nail と記す)
2、マトリクス回路3、測定器4から構成されている。
【0004】なお、5は被測定物となる電子回路をなす
プリント配線板、6(6a〜6c)は電子部品であり、
7はBON2のプローブ針、8はBON2からの配線で
ある。以上の構成において、インサーキットテスタ1に
よりプリント配線板5の試験が行われる場合、まず、被
測定物であるプリント配線板5、詳しくは、プリント配
線板5に実装された電子部品6の位置に対応するBON
2が作成され、図6に示すように、BON2のプローブ
針7がプリント配線板5の所定の位置(電子部品6との
接続点)に当接されることにより、マトリクス回路3に
よってプリント配線板5に実装された電子部品6が電気
的に分離されて抜き出され、各電子部品6が測定器4に
よりチェックされる。
プリント配線板、6(6a〜6c)は電子部品であり、
7はBON2のプローブ針、8はBON2からの配線で
ある。以上の構成において、インサーキットテスタ1に
よりプリント配線板5の試験が行われる場合、まず、被
測定物であるプリント配線板5、詳しくは、プリント配
線板5に実装された電子部品6の位置に対応するBON
2が作成され、図6に示すように、BON2のプローブ
針7がプリント配線板5の所定の位置(電子部品6との
接続点)に当接されることにより、マトリクス回路3に
よってプリント配線板5に実装された電子部品6が電気
的に分離されて抜き出され、各電子部品6が測定器4に
よりチェックされる。
【0005】すなわち、インサーキットテスタ1は、プ
リント配線板5に実装される電子部品6について、個別
に、例えば、抵抗値、容量値等の回路定数の測定を行う
ものであり、回路部品のチェックのためには、インサー
キットテスタ1は実装されている電子部品6の品種を予
め知っておかなければならないという条件がある。
リント配線板5に実装される電子部品6について、個別
に、例えば、抵抗値、容量値等の回路定数の測定を行う
ものであり、回路部品のチェックのためには、インサー
キットテスタ1は実装されている電子部品6の品種を予
め知っておかなければならないという条件がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のインサーキットテスタにあっては、被測定物
であるプリント配線板5に対応するBON2を作成する
という構成となっていたため、被測定プリント配線板5
の種類だけBON2をオプションとして準備しなければ
ならないという問題点があった。
うな従来のインサーキットテスタにあっては、被測定物
であるプリント配線板5に対応するBON2を作成する
という構成となっていたため、被測定プリント配線板5
の種類だけBON2をオプションとして準備しなければ
ならないという問題点があった。
【0007】BON2の作成にはかなりのコストを有す
るため、被測定プリント配線板5の種類だけBON2を
オプションとして準備するということは、運用コストが
高くなることを意味し、一方、BON2の枚数が増える
と、BON2自体の管理も大変になるため、結果とし
て、プリント配線板5の生産枚数が少ない場合は利用す
ることができなかった。
るため、被測定プリント配線板5の種類だけBON2を
オプションとして準備するということは、運用コストが
高くなることを意味し、一方、BON2の枚数が増える
と、BON2自体の管理も大変になるため、結果とし
て、プリント配線板5の生産枚数が少ない場合は利用す
ることができなかった。
【0008】また、インサーキットテスタ1の性質上、
回路部品のチェックのために、実装されている電子部品
6の品種を予め知っておかなければならないため、例え
ば、比較的簡単な構成であるため、CAD等を用いずに
直接作成されたプリント配線板5等にあっては、システ
ムから回路中の電子部品6の位置や規格が参照できない
ために、これらチェック用のデータを新たに作成する必
要が出てくる。
回路部品のチェックのために、実装されている電子部品
6の品種を予め知っておかなければならないため、例え
ば、比較的簡単な構成であるため、CAD等を用いずに
直接作成されたプリント配線板5等にあっては、システ
ムから回路中の電子部品6の位置や規格が参照できない
ために、これらチェック用のデータを新たに作成する必
要が出てくる。
【0009】すなわち、小数枚のプリント配線板5のチ
ェックには、今だ目視による検査が主体であり、目視検
査では、検査に時間がかかるとともに、見落としや見誤
りの他、部品下部でのショート等のように検出不可能な
ものもあり、検査品質の維持が難しいという問題点があ
った。 [目的]そこで本発明は、たとえ小数枚のプリント配線
板のチェックであっても、容易に、しかも低コストで検
査可能な回路接続試験装置を提供することを目的として
いる。
ェックには、今だ目視による検査が主体であり、目視検
査では、検査に時間がかかるとともに、見落としや見誤
りの他、部品下部でのショート等のように検出不可能な
ものもあり、検査品質の維持が難しいという問題点があ
った。 [目的]そこで本発明は、たとえ小数枚のプリント配線
板のチェックであっても、容易に、しかも低コストで検
査可能な回路接続試験装置を提供することを目的として
いる。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明による回路接続試
験装置は上記目的達成のため、被測定物である電子回路
プリント配線板の基定実装ピッチに基づいて、抵抗を接
続した複数の試験端子を所定間隔で格子状に設けてなる
プローブ群と、該プローブ群の各試験端子の一方端に直
列に接続した複数のスイッチからなるスイッチ群と、該
スイッチ群を介して該プローブ群に電流を流し、流れる
電流値を測定する電流値測定手段とを有し、前記プロー
ブ群を前記電子回路プリント配線板に当接した状態で前
記スイッチ群の各スイッチを順次閉じ、該スイッチ群の
閉じたスイッチに対応する前記電流値測定手段によって
測定した電流値を測定データとして記憶保持することに
より、該測定データに基づいて該電子回路の接続状態を
試験するように構成している。
験装置は上記目的達成のため、被測定物である電子回路
プリント配線板の基定実装ピッチに基づいて、抵抗を接
続した複数の試験端子を所定間隔で格子状に設けてなる
プローブ群と、該プローブ群の各試験端子の一方端に直
列に接続した複数のスイッチからなるスイッチ群と、該
スイッチ群を介して該プローブ群に電流を流し、流れる
電流値を測定する電流値測定手段とを有し、前記プロー
ブ群を前記電子回路プリント配線板に当接した状態で前
記スイッチ群の各スイッチを順次閉じ、該スイッチ群の
閉じたスイッチに対応する前記電流値測定手段によって
測定した電流値を測定データとして記憶保持することに
より、該測定データに基づいて該電子回路の接続状態を
試験するように構成している。
【0011】なお、この場合、予め良品と判断された電
子回路の前測定データを記憶保持するデータ保持手段を
設け、新たな被測定物である電子回路の測定データと比
較することにより、新たな被測定物である電子回路の接
続状態を試験することが好ましい。
子回路の前測定データを記憶保持するデータ保持手段を
設け、新たな被測定物である電子回路の測定データと比
較することにより、新たな被測定物である電子回路の接
続状態を試験することが好ましい。
【0012】
【作用】本発明では、プローブ群が電子回路の回路接点
に当接された状態で、スイッチ群の各スイッチが順次閉
じられ、さらにスイッチ群の閉じたスイッチに対応する
電流値測定手段によって測定した電流値が測定データと
して記憶保持されることで、被測定物である電子回路に
おける合成抵抗値が求められ、予め良品と判断された電
子回路の測定データが比較基準値として用意されること
で、電子回路の接続状態が試験される。
に当接された状態で、スイッチ群の各スイッチが順次閉
じられ、さらにスイッチ群の閉じたスイッチに対応する
電流値測定手段によって測定した電流値が測定データと
して記憶保持されることで、被測定物である電子回路に
おける合成抵抗値が求められ、予め良品と判断された電
子回路の測定データが比較基準値として用意されること
で、電子回路の接続状態が試験される。
【0013】すなわち、たとえ小数枚の電子回路のチェ
ックであっても容易に検査され、しかも通常、共通な電
子回路プリント配線板の基定実装ピッチは一定であるた
め、プローブ群の再利用により低コストで検査される。
ックであっても容易に検査され、しかも通常、共通な電
子回路プリント配線板の基定実装ピッチは一定であるた
め、プローブ群の再利用により低コストで検査される。
【0014】
【実施例】以下、本発明を図面に基づいて説明する。図
1〜3は本発明に係る回路接続試験装置の一実施例を示
す図であり、図1は本実施例の全体構成を示すブロック
図、図2は本実施例の要部構成を示す斜視図、図3は本
実施例の要部構成を示す回路図である。
1〜3は本発明に係る回路接続試験装置の一実施例を示
す図であり、図1は本実施例の全体構成を示すブロック
図、図2は本実施例の要部構成を示す斜視図、図3は本
実施例の要部構成を示す回路図である。
【0015】まず、構成を説明する。なお、図1〜3に
おいて、図5,6に示した従来例に付された番号と同一
番号は同一部分を示す。本実施例の回路接続試験装置
は、大別して、制御部9、データ保持手段である測定デ
ータ記憶部10、プローブ群11、スイッチ群12、電
流値測定手段である定電圧直流電源及び電流計13、プ
リント配線板移動ステージ14、ステージ駆動装置15
から構成されている。なお、5はプリント配線板であ
る。
おいて、図5,6に示した従来例に付された番号と同一
番号は同一部分を示す。本実施例の回路接続試験装置
は、大別して、制御部9、データ保持手段である測定デ
ータ記憶部10、プローブ群11、スイッチ群12、電
流値測定手段である定電圧直流電源及び電流計13、プ
リント配線板移動ステージ14、ステージ駆動装置15
から構成されている。なお、5はプリント配線板であ
る。
【0016】制御部9は、回路接続試験装置全体を制御
するものであり、測定データ記憶部10は、測定データ
を記憶するためのメモリである。プローブ群11は、図
2に示すように、プリント配線板5における配線ピッチ
と同じ間隔で格子状に配設された複数の試験端子である
プローブ針7を有する測定物であり、各プローブ針7に
は既知の抵抗Rが並列に接続されている。
するものであり、測定データ記憶部10は、測定データ
を記憶するためのメモリである。プローブ群11は、図
2に示すように、プリント配線板5における配線ピッチ
と同じ間隔で格子状に配設された複数の試験端子である
プローブ針7を有する測定物であり、各プローブ針7に
は既知の抵抗Rが並列に接続されている。
【0017】スイッチ群12は、プローブ群11の任意
のプローブ針7の一端に設けられ、プローブ針7におれ
る電流経路の開閉を行うことにより測定点を切り換える
ものである。定電圧直流電源及び電流計13は、各プロ
ーブ針7に電流を供給するととともに、流れる電流を測
定するものである。
のプローブ針7の一端に設けられ、プローブ針7におれ
る電流経路の開閉を行うことにより測定点を切り換える
ものである。定電圧直流電源及び電流計13は、各プロ
ーブ針7に電流を供給するととともに、流れる電流を測
定するものである。
【0018】プリント配線板移動ステージ14は、ステ
ージ駆動装置15によって被測定物であるプリント配線
板5をX,Y,Z方向に移動するものである。次に作用
を説明する。まず、ステージ駆動装置15により、プリ
ント配線板移動ステージ14がZ方向に移動されること
によって、プローブ群11のプローブ針7がプリント配
線板5中の電子部品6との接続点に当接される。
ージ駆動装置15によって被測定物であるプリント配線
板5をX,Y,Z方向に移動するものである。次に作用
を説明する。まず、ステージ駆動装置15により、プリ
ント配線板移動ステージ14がZ方向に移動されること
によって、プローブ群11のプローブ針7がプリント配
線板5中の電子部品6との接続点に当接される。
【0019】回路接続の良否の試験は、以下の手順でな
される。すなわち、プローブ針7の当接状態において、
定電圧直流電源及び電流計13からスイッチ群12を介
して電流が流されるとともに、流された電流値が測定さ
れ、プリント配線板5の合成抵抗値が求められる。次
に、この求められた値が予め良品の測定データが記憶保
持されている測定データ記憶部10内の合成抵抗値と比
較され、規定範囲内に収まっていれば異常なしの良品、
規定範囲外であれば、異常ありの不良品と判断され、検
査結果が制御部9に出力される。
される。すなわち、プローブ針7の当接状態において、
定電圧直流電源及び電流計13からスイッチ群12を介
して電流が流されるとともに、流された電流値が測定さ
れ、プリント配線板5の合成抵抗値が求められる。次
に、この求められた値が予め良品の測定データが記憶保
持されている測定データ記憶部10内の合成抵抗値と比
較され、規定範囲内に収まっていれば異常なしの良品、
規定範囲外であれば、異常ありの不良品と判断され、検
査結果が制御部9に出力される。
【0020】そして、制御部9に出力された検査結果に
基づいて作業者により異常箇所が取り除かれ、以上の処
理が制御部9によって異常なしと判断されるまで繰り返
される。ここで、前述の合成抵抗値の測定を、図3に基
づいて詳しく説明する。なお、図3において、被測定物
であるプリント配線板5は、点A〜Eでプローブ針7a
〜7eと接触しており、点A,Cにて電子部品6(この
場合、抵抗)の端子とプローブ針7a,7cとが接触し
ているとする。
基づいて作業者により異常箇所が取り除かれ、以上の処
理が制御部9によって異常なしと判断されるまで繰り返
される。ここで、前述の合成抵抗値の測定を、図3に基
づいて詳しく説明する。なお、図3において、被測定物
であるプリント配線板5は、点A〜Eでプローブ針7a
〜7eと接触しており、点A,Cにて電子部品6(この
場合、抵抗)の端子とプローブ針7a,7cとが接触し
ているとする。
【0021】以上の状態で、スイッチ群12中のスイッ
チSaが閉じられると、定電圧直流電源及び電流計13
中の定電圧直流電源Eから電流が抵抗Raに流れるとと
もに、図中、一点鎖線で示すように、プローブ針7aを
介して点Aに電流が供給され、電子部品6(抵抗)を経
由して点Cから、さらに抵抗Rc、電流計Iを介して電
流が流れる。
チSaが閉じられると、定電圧直流電源及び電流計13
中の定電圧直流電源Eから電流が抵抗Raに流れるとと
もに、図中、一点鎖線で示すように、プローブ針7aを
介して点Aに電流が供給され、電子部品6(抵抗)を経
由して点Cから、さらに抵抗Rc、電流計Iを介して電
流が流れる。
【0022】したがって、スイッチSaを閉じた場合の
合成抵抗値は、 1/R=1/r+1/(r+X)、すなわち、 R={r(r+X)}/(2r+X) (但し、rは抵
抗Ra〜Reの値、Xは電子部品の抵抗値である) であり、電流計Iの値により、R=V/Iとして算出さ
れる。
合成抵抗値は、 1/R=1/r+1/(r+X)、すなわち、 R={r(r+X)}/(2r+X) (但し、rは抵
抗Ra〜Reの値、Xは電子部品の抵抗値である) であり、電流計Iの値により、R=V/Iとして算出さ
れる。
【0023】スイッチScが閉じられる場合も同じ値と
して測定され、スイッチSbが閉じられる場合は、抵抗
Xが0である場合を考えて、合成抵抗値はR=r/2で
あり、電流は回路接続がない場合の2倍となる。このよ
うにして、他のスイッチSd,Seについても同様に測
定される。ここで、点Dと点Eとがショートした場合を
考える。
して測定され、スイッチSbが閉じられる場合は、抵抗
Xが0である場合を考えて、合成抵抗値はR=r/2で
あり、電流は回路接続がない場合の2倍となる。このよ
うにして、他のスイッチSd,Seについても同様に測
定される。ここで、点Dと点Eとがショートした場合を
考える。
【0024】スイッチSbが閉じられると、抵抗Reに
流れる電流が増すために抵抗値が下がり、電流計Iで正
規の状態よりも多くの電流が検出されて異常があったこ
とが分かる。同様にして、スイッチSd,Seが閉じら
れた場合も同じことが起こるため、点B,D,Eに関係
した障害(この場合、ショート)の存在が確認される。
流れる電流が増すために抵抗値が下がり、電流計Iで正
規の状態よりも多くの電流が検出されて異常があったこ
とが分かる。同様にして、スイッチSd,Seが閉じら
れた場合も同じことが起こるため、点B,D,Eに関係
した障害(この場合、ショート)の存在が確認される。
【0025】すなわち、検査の実行前に、良品のプリン
ト配線板5で同様の測定を実施することにより、後は未
知のプリント配線板5を測定することで、不良プリント
配線板の検出と回路の異常箇所の検出とが行われる。図
4は本発明に係る回路接続試験装置の他の実施例を示す
図であり、本実施例を説明するための概略図である。
ト配線板5で同様の測定を実施することにより、後は未
知のプリント配線板5を測定することで、不良プリント
配線板の検出と回路の異常箇所の検出とが行われる。図
4は本発明に係る回路接続試験装置の他の実施例を示す
図であり、本実施例を説明するための概略図である。
【0026】なお、図4において、図1〜3に示した実
施例に付された番号と同一番号は同一部分を示す。被測
定物であるプリント配線板5がプローブ群11よりも大
きい場合、図4に示すように、プリント配線板5の左上
から右上、右下、左下と順次移動させて測定す
ることにより、プローブ群11よりも大きなプリント配
線板5の測定が可能となる。
施例に付された番号と同一番号は同一部分を示す。被測
定物であるプリント配線板5がプローブ群11よりも大
きい場合、図4に示すように、プリント配線板5の左上
から右上、右下、左下と順次移動させて測定す
ることにより、プローブ群11よりも大きなプリント配
線板5の測定が可能となる。
【0027】プリント配線板5は、通常、標準グリッド
と呼ばれる基準となる所定ピッチ(例えば、0.1イン
チピッチ)でランド(回路接続部)、部品実装が行われ
ており、プローブ針7は予めこのピッチで並べられてい
るため、プローブ群11の移動による測定が可能とな
る。この場合、プローブ群11は、被測定物であるプリ
ント配線板5のサイズの最大公約数で構成すると効率が
良いがこれにこだわらず、任意サイズで構わない。
と呼ばれる基準となる所定ピッチ(例えば、0.1イン
チピッチ)でランド(回路接続部)、部品実装が行われ
ており、プローブ針7は予めこのピッチで並べられてい
るため、プローブ群11の移動による測定が可能とな
る。この場合、プローブ群11は、被測定物であるプリ
ント配線板5のサイズの最大公約数で構成すると効率が
良いがこれにこだわらず、任意サイズで構わない。
【0028】このように本実施例では、プローブ群11
をプリント配線板5の回路接点に当接した状態で、スイ
ッチ群12の各スイッチSa〜Seを順次閉じ、さらに
スイッチ群12の閉じたスイッチに対応する定電圧直流
電源及び電流計13によって測定した電流値を測定デー
タとして記憶保持することにより、被測定物であるプリ
ント配線板5における合成抵抗値を求めることができ、
予め良品と判断されたプリント配線板5の測定データを
比較基準値として用意することで、部品と配線板5の接
続状態を容易に試験できる。
をプリント配線板5の回路接点に当接した状態で、スイ
ッチ群12の各スイッチSa〜Seを順次閉じ、さらに
スイッチ群12の閉じたスイッチに対応する定電圧直流
電源及び電流計13によって測定した電流値を測定デー
タとして記憶保持することにより、被測定物であるプリ
ント配線板5における合成抵抗値を求めることができ、
予め良品と判断されたプリント配線板5の測定データを
比較基準値として用意することで、部品と配線板5の接
続状態を容易に試験できる。
【0029】したがって、たとえ小数枚のプリント配線
板5のチェックであっても容易に検査でき、しかも通
常、共通なプリント配線板5の配線ピッチは一定である
ため、プローブ群11の再利用により低コストで検査で
きる。また、試験データとしても、CADデータ等を用
いる必要がないため、インサーキットテスタのような高
価な試験装置を用いることなく製造現場ですぐに利用で
きる。
板5のチェックであっても容易に検査でき、しかも通
常、共通なプリント配線板5の配線ピッチは一定である
ため、プローブ群11の再利用により低コストで検査で
きる。また、試験データとしても、CADデータ等を用
いる必要がないため、インサーキットテスタのような高
価な試験装置を用いることなく製造現場ですぐに利用で
きる。
【0030】
【発明の効果】本発明では、プローブ群を電子回路の回
路接点に当接した状態で、スイッチ群の各スイッチを順
次閉じ、さらにスイッチ群の閉じたスイッチに対応する
電流値測定手段によって測定した電流値を測定データと
して記憶保持することで、被測定物である電子回路にお
ける合成抵抗値を求めることができ、予め良品と判断さ
れた電子回路の測定データを比較基準値として用意する
ことで、電子回路の接続状態を容易に試験できる。
路接点に当接した状態で、スイッチ群の各スイッチを順
次閉じ、さらにスイッチ群の閉じたスイッチに対応する
電流値測定手段によって測定した電流値を測定データと
して記憶保持することで、被測定物である電子回路にお
ける合成抵抗値を求めることができ、予め良品と判断さ
れた電子回路の測定データを比較基準値として用意する
ことで、電子回路の接続状態を容易に試験できる。
【0031】したがって、たとえ小数枚の電子回路のチ
ェックであっても容易に検査でき、しかも通常、共通な
電子回路の配線ピッチは一定であるため、プローブ群の
再利用により低コストで検査できる。
ェックであっても容易に検査でき、しかも通常、共通な
電子回路の配線ピッチは一定であるため、プローブ群の
再利用により低コストで検査できる。
【図1】本実施例の全体構成を示すブロック図である。
【図2】本実施例の要部構成を示す斜視図である。
【図3】本実施例の要部構成を示す回路図である。
【図4】他の実施例を説明するための概略図である。
【図5】従来例の要部構成を示す斜視図である。
【図6】従来例の要部構成を示す断面図である。
1 インサーキットテスタ 2 BON(ベッドオブネール) 3 マトリクス回路 4 測定器 5 プリント配線板(電子回路) 6 電子部品 7 プローブ針(試験端子) 8 配線 9 制御部 10 測定データ記憶部(データ保持手段) 11 プローブ群 12 スイッチ群 13 定電圧直流電源及び電流計(電流値測定手段) 14 プリント配線板移動ステージ 15 ステージ駆動装置
Claims (2)
- 【請求項1】被測定物である電子回路プリント配線板の
基定実装ピッチに基づいて、抵抗を接続した複数の試験
端子を所定間隔で格子状に設けてなるプローブ群と、 該プローブ群の各試験端子の一方端に直列に接続した複
数のスイッチからなるスイッチ群と、 該スイッチ群を介して該プローブ群に電流を流し、流れ
る電流値を測定する電流値測定手段と、 を有し、 前記プローブ群を前記電子回路プリント配線板に当接し
た状態で前記スイッチ群の各スイッチを順次閉じ、該ス
イッチ群の閉じたスイッチに対応する前記電流値測定手
段によって測定した電流値を測定データとして記憶保持
することにより、該測定データに基づいて該電子回路の
接続状態を試験することを特徴とする回路接続試験装
置。 - 【請求項2】予め良品と判断された電子回路の前測定デ
ータを記憶保持するデータ保持手段を設け、新たな被測
定物である電子回路の測定データと比較することによ
り、新たな被測定物である電子回路の接続状態を試験す
ることを特徴とする請求項1記載の回路接続試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28123191A JPH05121499A (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 回路接続試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28123191A JPH05121499A (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 回路接続試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05121499A true JPH05121499A (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=17636195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28123191A Pending JPH05121499A (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 回路接続試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05121499A (ja) |
-
1991
- 1991-10-28 JP JP28123191A patent/JPH05121499A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH04309875A (ja) | インサーキット試験装置 | |
JP2009244077A (ja) | 基板検査装置及びその方法 | |
US5432460A (en) | Apparatus and method for opens and shorts testing of a circuit board | |
KR101499851B1 (ko) | 번인 보드의 테스트 시스템 | |
JP5208787B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JPH09230005A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JPH05121499A (ja) | 回路接続試験装置 | |
CN113506755A (zh) | 自动检测测试通道的校验图形结构及测试方法 | |
JP2000206166A (ja) | Ecu機能検査装置の評価システム | |
JP2000040014A (ja) | Ecu機能検査装置の評価システム | |
JPH06347502A (ja) | プリント基板試験方法 | |
KR20140009027A (ko) | 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 | |
JPH04315068A (ja) | プリント回路板の検査装置 | |
JPH0412468Y2 (ja) | ||
JPH07244105A (ja) | 実装基板の基板検査装置によるブリッジ半田検出方法 | |
KR100584262B1 (ko) | 인쇄회로기판 및 그 검사방법 | |
JP2591453B2 (ja) | バーンインボード検査装置およびバーンインボード検査方法 | |
KR100385398B1 (ko) | 접속 점검 기능을 가진 집적 회로 번인 장치, 검사용 기판 및 접속 점검 방법 | |
KR20020094117A (ko) | 인쇄회로기판상의 저항 인덕터 및 커패시터 병렬 회로의검사를 위한 방법 | |
JP2575640Y2 (ja) | 半導体素子の検査装置 | |
JPH0511022A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JPH0269683A (ja) | 回路基板検査方法 | |
KR20030092211A (ko) | 아이알 인서키트 테스트시스템 | |
JP2001108728A (ja) | 半導体製品の検査装置 | |
JP4062424B2 (ja) | メモリテストシステム及びメモリテスト方法 |