DE69427107T2 - Halbleiterspeicheranordnung - Google Patents

Halbleiterspeicheranordnung

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Description

    HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiter-Speichervorrichtung gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1 und insbesondere auf eine Halbleiter-Speichervorrichtung, die ein Paar Datenleitungen zur Ausgabe eines Inhalts einer Speicherzelle in Form eines Differentialsignals aufweist.
  • 2. Beschreibung des zugehörigen Standes der Technik
  • Aus der EP-A-0 449 282 ist eine Halbleiter-Speichervorrichtung bekannt, die ein Paar komplementärer Datenleitungen zur Ausgabe eines Inhalts einer Speicherzelle aufweist. Wenn ein Paar Datenleitungen zu der Zeit, wenn neue Daten auf diese aufgebracht werden sollen, eine Potentialdifferenz führt, dauert es relativ lange, bis die Potentiale auf den Datenleitungen die neuen Daten widerspiegeln, da möglicherweise die Polarität der Differentialspannung umgekehrt werden muß.
  • Aus der US-A-4 272 834 und aus dem IEEE Journal of Solid-State- Circuits, Band 28, Nr. 4, April 1993, New York, USA, Seiten 484-489, Yokomizo: "Design Techniques for High-Throughput BiCMOS Self-Timed SRAMs" ("Konstruktionsverfahren für selbstgetaktete SRAMs mit Hoch-Durchlauf-BiCMOS") ist ein Einstell-Schaltkreis für ein Datenleitungspotential bekannt, der ein Datenleitungspaar vor dem Empfang neuer Daten kurzschließt.
  • Andererseits wäre es wünschenswert, die Möglichkeiten beim Hochleistungsbetrieb und der erhöhten Speicher-Integrationsdichte zu erweitern und somit die Zeit zu verringern, bis korrekte Auslese-Potentialinformationen auf der Datenleitung eingestellt sind.
  • Unter Bezugnahme auf die beigefügte Fig. 1 ist ein Schaltkreisdiagramm, das einem Bit entspricht, eines Beispiels einer herkömmlichen Halbleiter-Speichervorrichtung gezeigt, bei der ein bipolarer Differential-Verstärkerschaltkreis mit einer statischen Speicherzelle verbunden ist. Bei dem gezeigten Beispiel wird ein Paar komplementärer Zahlenleitungen D und DB durch Widerstände R1 und R2 auf eine Hochspannungs-Netzspannung Vcc hochgezogen, und eine Speicherzelle MC ist zwischen dem Paar von Zahlenleitungen D und DB angeschlossen und auch mit einer Wortleitung WL verbunden, so daß, wenn die Speicherzelle MC durch die Wortleitung WL ausgewählt wird, ein Inhalt der Speicherzelle MC in Form eines Differentialspannungs-Signals an das Paar von Zahlenleitungen D und DB ausgegeben wird.
  • Das Paar Zahlenleitungen D und DB ist auch mit einem Leseverstärker 10 verbunden, der das auf dem Paar Zahlenleitungen D und DB ausgelesene Ausgangssignal der Speicherzelle MC verstärkt und das verstärkte Ausgangssignal einem Multiplexer- und Strom/Spannungsrichter-Verstärkerschaltkreis 12 zuführt.
  • Der Leseverstärker 10 weist ein Paar bipolarer NPN-Transistoren Q11 und Q12 auf, deren Basen mit dem Paar Zahlenleitungen D bzw. DB verbunden sind. Ein Kollektor von jedem der bipolaren Transistoren Q11 und Q12 ist an eine Hochspannungs-Netzspannung Vcc angeschlossen. Ein Emitter der bipolaren Transistoren Q11 und Q12 ist mit einem Paar komplementärer Datenleitungen W bzw. WB verbunden. Das Paar Datenleitungen W und WB ist mit einem Drain- Anschluß eines Paares Source-geerdeter N-Kanal-MOS-Transistoren M11 bzw. M12 verbunden, bei denen ein Gate zum Empfang eines Leseverstärker-Auswahlsignals YS angeschlossen ist, so daß jeder der N-Kanal-MOS-Transistoren M11 und M12 für die bipolaren Transistoren Q11 und Q12 eine konstante Stromquelle darstellt. Deshalb stellen der bipolare Transistor Q11 und der N-Kanal-MOS- Transistor M11 einen Emitterfolger-Schaltkreis dar, und der bipolare Transistor Q12 und der N-Kanal-MOS-Transistor M12 stellen einen weiteren Emitterfolger-Schaltkreis dar.
  • Zusätzlich ist das Paar Datenleitungen W und WB jeweils mit einer Basis eines Paares bipolarer NPN-Transistoren Q13 und Q14 verbunden, deren Emitter gemeinsam mit einem Drain-Anschluß eines Source-geerdeten N-Kanal-MOS-Transistors M13 verbunden sind. Ein Gate des MOS-Transistors M13 ist zum Empfang des Auswahlsignals YS angeschlossen, so daß der N-Kanal-MOS-Transistor M13 eine konstante Stromquelle darstellt. Ein Kollektor von jedem des Paares bipolarer NPN-Transistoren Q13 und Q14 ist mit dem Multiplexer- und Verstärkerschaltkreis 12 verbunden. Deshalb stellen die bipolaren NPN-Transistoren Q13 und Q14 einen Differentialverstärker dar, so daß vom Kollektor der bipolaren NPN- Transistoren Q13 und Q14 ein Ausgangssignal in Form eines Differentialstroms ausgegeben wird. Das Ausgangssignal wird im Multiplexer- und Strom/Spannungsrichter-Verstärkerschaltkreis 12 ausgewählt und eingepegelt, so daß vorn Multiplexer- und Verstärkerschaltkreis 12 ein Auslese-Datensignal DOUT ausgegeben wird.
  • Nun wird der Betrieb der oben genannten Halbleiter-Speichervorrichtung erklärt.
  • Eine Spannungsamplitude eines von der Speicherzelle MC auf die Zahlenleitungen D und DB, die sich auf einer Betriebsspannung nahe der Hochspannungs-Netzspannung Vcc befinden, ausgelesenen Signals ist so extrem niedrig wie einige zehn Millivolt bis einige hundert Millivolt. Der Leseverstärker 10, der die extrem niedrige Spannung empfängt, wandelt die extrem niedrige Spannung durch die Funktion eines Pegelverschiebungs-Emitterfolger- Schaltkreises, der die N-Kanal-MOS-Transistoren M11 und M12 aufweist, in eine niedrige Spannung in der Größenordnung von etwa 0,8 V um. Die niedrige Spannung erscheint auf dem Paar Datenleitungen W und WB und wird in den Differentialverstärker eingegeben, der aus den bipolaren Transistoren Q13 und Q14 aufgebaut ist.
  • Eine Spannungsdifferenz zwischen dem Paar Datenleitungen W und WB ist jedoch, ähnlich der Spannungsdifferenz zwischen dem Paar Zahlenleitungen D und DB, extrem gering. Deshalb kann man durch Aufbau des Differentialverstärkers aus hochempfindlichen bipolaren Transistoren einen effektiven Schaltkreis erhalten. Andererseits werden die Emitterfolger-Schaltkreise, die die N-Kanal- MOS-Transistoren aufweisen, eingefügt, um die für den Differentialverstärker geeignete Eingangsspannung zu erhalten und um eine Signalleitungs-Last des Differentialverstärker- Schaltkreises von der Zahlenleitung elektrisch zu trennen.
  • Das Ausgangssignal des Differentialverstärkers wird vom Kollektor der bipolaren Transistoren Q13 und Q14 dem Multiplexer- und Verstärkerschaltkreis 12 in Form eines Differentialstroms zugeführt. Im Multiplexer- und Verstärkerschaltkreis 12 ist eine Vielzahl von Verstärkerschaltkreisen vorgesehen, und zum Zwecke der Auswahl eines Signals aus den Eingangssignalen und Übertragung des ausgewählten Eingangssignals läßt man nur in einem ausgewählten der Vielzahl von Verstärkerschaltkreisen einen konstanten Strom fließen. Natürlich ist eine Stromquelle für den Differential-Ausgangsstrom durch den Schaltkreis für eine konstante Stromquelle gegeben, der aus dem N-Kanal-MOS-Transistor M13 für den Differentialverstärker aufgebaut ist. Wenn jedoch der Leseverstärker nicht ausgewählt wird, werden die Schaltkreise für eine konstante Stromquelle für die Emitterfolger ausgeschaltet, und deshalb wird der verbrauchte elektrische Strom vermindert. Ansonsten würde ein Strom durch die Emitterfolger- Schaltkreise aller einer großen Anzahl von Differentialverstärker-Schaltkreise fließen, so daß der verbrauchte elektrische Strom einer gesamten Halbleitervorrichtung unvermeidbar ansteigen würde.
  • Bei der oben genannten herkömmlichen Halbleiter-Speichervorrichtung beginnt, wenn der Leseverstärker-Schaltkreis 10 durch das Auswahlsignal YS ausgewählt wird, der konstante Strom durch die Emitterfolger-Schaltkreise zu fließen. Dementsprechend beginnt, nachdem jeweilige Potentiale der Datenleitungen W und WB der Emitterfolger-Schaltkreise, die die dem Differentialverstärker zugeführten Eingangssignale sind, festgesetzt oder eingestellt worden sind, der Differentialverstärker zu arbeiten.
  • Andererseits befinden sich bei nicht ausgewählten Emitterfolger- Schaltkreisen, in denen der konstante Strom nicht fließt, die bipolaren Transistoren Q11 und Q12 in einem Aus-Zustand und deshalb werden die Potentiale der Datenleitungen W und WB nicht festgesetzt. Dies bedeutet, daß die letzten Auslese-Potentialinformationen auf den Datenleitungen W und WB bleiben oder die Datenleitungen W und WB aufgrund von Störungen und anderen Faktoren ein unbestimmtes Potential annehmen. Dies bedeutet nämlich, daß sich die Potentiale der Datenleitungen W und WB in einem schwebenden Zustand befinden. In diesem Zustand tritt, wenn der Leseverstärker ausgewählt wird, eine zeitliche Verzögerung auf, bis normale oder korrekte Auslese-Potentialinformationen auf den Datenleitungen W und WB festgesetzt oder eingestellt sind.
  • Eine neuere erhöhte Speicher-Integrationsdichte bringt eine erhöhte Lastkapazität der Signalleitungen des Emitterfolger- Schaltkreises mit sich, und deshalb nimmt die Zeit für eine Potentialfestsetzung oder -einstellung zu. Dies ist ein großes Hindernis bei der Verwirklichung eines Hochleistungs-Betriebs.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Dementsprechend ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Halbleiter-Speichervorrichtung zu schaffen, die den oben genannten Mangel der herkömmlichen überwunden hat.
  • Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Halbleiter-Speichervorrichtung zu schaffen, die in der Lage ist, die Zeit für eine Potentialfestsetzung der Datenleitungen, wenn der entsprechende Leseverstärker ausgewählt wird, zu verkürzen.
  • Die oben genannte und andere Aufgaben der vorliegenden Erfindung werden gemäß der vorliegenden Erfindung durch eine Halbleiter- Speichervorrichtung erfüllt, die ein Paar komplementärer Datenleitungen zur Ausgabe eines Inhalts einer Speicherzelle in Form eines Paares von Differentialsignalen, eine Verstärkervorrichtung zur Erfassung und Verstärkung des Paares von Differentialsignalen, eine Freigabevorrichtung zur wahlweisen Freigabe und Abschaltung der Verstärkervorrichtung, eine Schwebevorrichtung zum Halten des Paares komplementärer Datenleitungen in einem Schwebezustand, wenn die Verstärkervorrichtung durch die Freigabevorrichtung in einen abgeschalteten Zustand versetzt wird, und eine Kurzschlußvorrichtung zum Kurzschließen des Paares kompelementärer Datenleitungen im Schwebezustand, wenn die Verstärkervorrichtung in den abgeschalteten Zustand versetzt wird, aufweist.
  • Die Kurzschlußvorrichtung schließt das Paar komplementärer Datenleitungen synchron mit einem Freigabesignal zur Versetzung der Verstärkervorrichtung in einen freigegebenen Zustand kurz. Die Verstärkervorrichtung weist einen Differential-Schaltkreis auf, der aus einem Paar bipolarer Transistoren aufgebaut ist, deren Basen jeweils mit dem Paar komplementärer Datenleitungen verbunden sind, und die Freigabevorrichtung weist eine Pegelumsetzer-Vorrichtung auf, die das Freigabesignal empfängt, um einen Pegel des Freigabesignals umzusetzen. Die Halbleiter-Speichervorrichtung weist weiterhin eine Verzögerungsvorrichtung auf, die das Freigabesignal empfängt, um das Freigabesignal entsprechend einer Verzögerungszeit, die in der Pegelumsetzer-Vorrichtung auftritt, zu verzögern, wobei das verzögerte Freigabesignal der Kurzschlußvorrichtung zugeführt wird.
  • Bei einer Ausführungsform weist die Schwebevorrichtung ein Paar Emitterfolger-Transistoren, deren Basen angeschlossen sind, um ein Paar Differentialsignale, das jeweils aus der Speicherzelle ausgelesen wird, zu empfangen, und ein Paar Stromquellen auf, das mit einem Emitter der Emitterfolger-Transistoren verbunden und ansprechend auf das Freigabesignal Ein-Aus geregelt ist. Weiterhin kann das Paar komplementärer Datenleitungen durch ein verdrahtetes ODER mit einer Vielzahl von Paaren von Emitterfolger-Transistoren verbunden sein.
  • Zusätzlich kann die Halbleiter-Speichervorrichtung weiterhin eine Kurzschluß-Aufhebevorrichtung zur Aufhebung des Kurzschließens zwischen dem Paar komplementärer Datenleitungen, nachdem sich ein Potential auf dem Paar komplementärer Datenleitungen gemäß dem aus der Speicherzelle ausgelesenen Paar von Differentialsignalen ändert, aufweisen.
  • Vorzugsweise dient die Kurzschlußvorrichtung zum Kurzschließen des Paares kompelementärer Datenleitungen, wenn sich die Differential-Verstärkervorrichtung in einem abgeschalteten Zustand befindet, auch der Einstellung des Paares komplementärer Datenleitungen auf eine vorher festgelegte Spannung.
  • Diese vorher festgelegte Spannung ist vorzugsweise eine Spannung nahe einer Emitter-Vorspannung der Emitterfolgervorrichtung, wenn die Emitterfolgervorrichtung in Betrieb ist.
  • Die oben genannte und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung gehen aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen der Erfindung unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen hervor.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Es zeigen:
  • Fig. 1 ein Schaltkreisdiagramm eines wesentlichen Bestandteils, das einem Bit entspricht, einer herkömmlichen Halbleiter- Speichervorrichtung;
  • Fig. 2 ein Schaltkreisdiagramm einer anderen Halbleiter-Speichervorrichtung;
  • Fig. 3 ein Schaltkreisdiagramm noch einer weiteren Halbleiter- Speichervorrichtung;
  • Fig. 4 ein Wellenform-Diagramm, das einen Betrieb der Halbleiter-Speichervorrichtung zeigt; und
  • Fig. 5 ein Schaltkreisdiagramm eines wesentlichen Bestandteils, das einem Bit entspricht, einer Ausführungsform der Halbleiter-Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
  • Unter Bezugnahme auf Fig. 2 ist ein Schaltkreisdiagramm eines wesentlichen Bestandteils, das einem Bit entspricht, einer Halbleiter-Speichervorrichtung gezeigt. In Fig. 2 erhalten Elemente, die den in Fig. 1 gezeigten entsprechen, dieselben Bezugszeichen, und zur Vereinfachung der Beschreibung entfällt eine Erklärung dieser.
  • Wie es aus einem Vergleich zwischen Fig. 1 und 2 hervorgeht, unterscheidet sich die Ausführungsform aus Fig. 2 vom herkömmlichen Beispiel dadurch, daß zwischen dem Paar komplementärer Datenleitungen W und WB ein P-Kanal-MOS-Transistor M14 angeschlossen ist, wobei ein Gate des MOS-Transistors M14 zum Empfang des Auswahlsignals YS angeschlossen ist. Wenn der Leseverstärker 10 nicht ausgewählt wird, da sich das Auswahlsignal YS auf einem niedrigen logischen Pegel befindet, wird der P-Kanal-MOS-Transistor M14 eingeschaltet, so daß das Paar komplementärer Datenleitungen W und WB kurzgeschlossen wird.
  • Mit der oben genannten Anordnung befindet sich das Auswahlsignal YS auf einem hohen logischen Pegel, um einen Leseverstärker IO aus einer (nicht gezeigten) Vielzahl von Leseverstärkern auszuwählen. Eine Spannungsamplitude eines aus der Speicherzelle MC auf die Zahlenleitungen D und DB (in Fig. 1 gezeigt), die sich auf einer Betriebsspannung nahe der Hochspannungs-Netzspannung Vcc befinden, ausgelesenen Signals ist so extrem niedrig wie einige zehn Millivolt bis einige hundert Millivolt, wie es oben in Verbindung mit dem herkömmlichen Beispiel erwähnt wurde. Der Leseverstärker 10, der die extrem niedrige Spannung empfängt, wandelt die extrem niedrige Spannung durch die Funktion eines Pegelverschiebungs-Emitterfolger-Schaltkreises in eine niedrige Spannung in der Größenordnung von etwa 0,8 V um. Diese niedrige Spannung, die auf dem Paar Datenleitungen W und WB erscheint, wird in den Differentialverstärker eingegeben, der aus den bipolaren Transistoren Q13 und Q14 aufgebaut ist. Zu dieser Zeit ist, da sich das Auswahlsignal YS, wie es oben erwähnt wurde, auf dem hohen logischen Pegel befindet, der P-Kanal-MOS-Transistor M14 aus und deshalb unterliegt das Ausgangssignal, das auf dem Paar Datenleitungen W und WB erscheint, keinem Einfluß des P-Kanal-MOS-Transistors M14.
  • Eine Spannungsdifferenz zwischen dem Paar Datenleitungen W und WB wird an den bipolaren Differentialverstärker-Schaltkreis angelegt, der aus den bipolaren Transistoren Q13 und Q14 aufgebaut ist. Dieser bipolare Differentialverstärker-Schaltkreis arbeitet zur Ausgabe des konstanten Stroms, der vom Transistor für einen konstanten Strom M13, vom Kollektor von nur einem der bipolaren Transistoren Q13 und Q14, bestimmt durch die geringe Spannungsdifferenz zwischen den Basis-Eingangspotentialen der bipolaren Transistoren Q13 und Q14, zugeführt wird. Zu dieser Zeit werden, da sich nur das Auswahlsignal YS, das dem auszuwählenden Leseverstärker entspricht, auf einem hohen logischen Pegel befindet, um einen aus einer Vielzahl von Leseverstärkern auszuwählen, die aus der Speicherzelle ausgelesenen Informationen dadurch ausgewählt und übertragen, daß der konstante Strom dazu veranlaßt wird, durch den Leseverstärker zu fließen.
  • Andererseits wird, wenn der Leseverstärker 10 nicht ausgewählt werden soll, das entsprechende Auswahlsignal YS auf dem niedrigen logischen Pegel gehalten und deshalb ist nicht nur der MOS- Transistor für einen konstanten Strom M13 für den bipolaren Differentialverstärker-Schaltkreis, sondern sind auch die MOS-Transistoren für einen konstanten Strom M11 und M12 für die Emitterfolger-Schaltkreise aus, so daß der verbrauchte elektrische Strom vermindert ist. Zu dieser Zeit werden, da die bipolaren Transistoren Q11 und Q12 der Emitterfolger-Schaltkreise ebenfalls aus sind, die letzten Potentiale, als die bipolaren Transistoren Q11 und Q12 an waren, gehalten. Wenn jedoch der Leseverstärker 10 nicht ausgewählt werden soll, werden, da der P-Kanal-MOS-Transistor M14 eingeschaltet wird, die Datenleitungen W und WB der Emitterfolger-Schaltkreise kurzgeschlossen und deshalb auf denselben Potentialpegel gebracht.
  • D. h., bei einem nicht ausgewählten Zustand werden die Datenleitungen W und WB zwangsläufig in einen vollständigen Zwischendatenzustand versetzt, so daß, wenn die Datenleitungen W und WB künftig ausgewählt werden, der Einfluß der letzten Datenpotentiale, als die bipolaren Transistoren Q11 und Q12 an waren, bereits vollständig ausgeschaltet worden ist.
  • Übrigens genügt es, wenn der MOS-Transistor M14 eine ausreichende Größe aufweist, um die extrem niedrige Spannungsamplitude auf den Datenleitungen W und WB (oder die extrem geringe Spannungsdifferenz zwischen den Datenleitungen W und WB) während jedes Zyklus' (Leseverstärker-Auswahlperiode) zu löschen oder zu neutralisieren. Deshalb versteht es sich, daß der MOS-Transistor M14 nicht groß sein muß. Dementsprechend tritt aufgrund dieses MOS-Transistors M14, der mit den Datenleitungen W und WB verbunden ist, fast keine Verzögerung auf.
  • Unter Bezugnahme auf Fig. 3 ist ein Schaltkreisdiagramm eines wesentlichen Bestandteils, das einem Bit entspricht, einer anderen Halbleiter-Speichervorrichtung gezeigt. In Fig. 3 erhalten Elemente, die den in Fig. 1 und 2 gezeigten entsprechen, dieselben Bezugszeichen, und zur Vereinfachung der Beschreibung entfällt eine Erklärung dieser.
  • Bei der zweiten Ausführungsform ist das Paar Zahlenleitungen D und DB mit dem Leseverstärker 10 verbunden, aber das Paar Emitterfolger-Schaltkreise ist nicht nur aus den bipolaren Transistoren Q11 und Q12, deren Basis mit den Zahlenleitungen D und DB verbunden ist und deren Emitter mit den Datenleitungen W bzw. WB verbunden ist, sondern auch aus einer (nicht gezeigten) Vielzahl von Paaren bipolarer Transistoren aufgebaut. Mit anderen Worten, die nicht invertierte Datenleitung W ist nicht nur mit dem Emitter des Transistors Q11, sondern auch mit einem Emitter (nicht gezeigter) anderer bipolarer Transistoren verbunden, von denen jeder eine Basis aufweist, die mit einer (nicht gezeigten) anderen nicht invertierten Zahlenleitung verbunden ist, und die invertierte Datenleitung WB ist nicht nur mit dem Emitter des Transistors Q12, sondern auch mit einem Emitter (nicht gezeigter) anderer bipolarer Transistoren verbunden, von denen jeder eine Basis aufweist, die mit einer (nicht gezeigten) anderen invertierten Zahlenleitung verbunden ist.
  • Deshalb ist ein bekanntes verdrahtetes ODER auf dem Verbindungspunkt zwischen der Datenleitung W oder WB und dem Emitter des Transistors Q11 oder Q12 und dem Emitter der (nicht gezeigten) anderen bipolaren Transistoren aufgebaut. Dementsprechend weist jede der Datenleitungen W und WB eine Lastkapazität auf, die bei weitem größer ist als diejenige der Datenleitungen W und WB in der ersten Ausführungsform. In diesem Fall haben die vorher ausgelesenen Daten, die auf den Datenleitungen W und WB bleiben, einen weiteren großen Einfluß.
  • Angesichts dieses Umstands und um es zu ermöglichen, Daten bei der Auswahl mit einer höheren Geschwindigkeit zu lesen, ist nicht nur der P-Kanal-MOS-Transistor M14 zwischen dem Paar Datenleitungen W und WB angeschlossen, sondern ist auch eine konstante Spannung WSL, die durch einen Erzeugungsschaltkreis 14 für eine konstante Spannung erzeugt wird, durch P-Kanal-MOS- Transistoren M15 bzw. M16 mit den Datenleitungen W und WB verbunden.
  • Dieser Erzeugungsschaltkreis 14 für eine konstante Spannung ist aus einer Diode DI aufgebaut, deren Anode mit einer Hochspannungs-Netzspannung Vcc verbunden ist und deren Kathode durch eine Stromquelle IS mit Masse verbunden ist, wobei ein Verbindungspunkt zwischen der Diode DI und der Stromquelle IS die oben genannte konstante Spannung WSL erzeugt, die durch eine Abfallspannung in Vorwärtsrichtung der Diode DI niedriger ist als die Hochspannungs-Netzspannung Vcc. Diese konstante Spannung WSL soll im wesentlichen gleich der Spannung sein, die auf den Datenleitungen erscheint, wenn der Leseverstärker ausgewählt wird.
  • Gates der P-Kanal-Transistoren M15 und M16 sind zum Empfang des Auswahlsignals YS angeschlossen, das bei dieser zweiten Ausführungsform von einem UND-Gatter 16 ausgegeben wird, das ein Dekodiersignal DEC und ein Taktsignal CLK empfängt, die in der Speichervorrichtung erzeugt oder von außen zugeführt werden.
  • Selbst bei der zweiten Ausführungsform, bei der die Datenleitungen W und WB durch die verdrahteten ODER-Schaltkreise mit einer Vielzahl von Paaren von Zahlenleitungen, die die Zahlenleitungen D und DB aufweisen, verbunden sind und deshalb eine hohe Lastkapazität halten, ist es, da der Leseverstärker aus den bipolaren Transistoren aufgebaut ist, möglich, Daten mit einer höheren Geschwindigkeit als derjenigen eines Leseverstärkers, der nur aus MOS-Transistoren aufgebaut ist, zu lesen. Zusätzlich weist, da der Leseverstärker aus den bipolaren Transistoren aufgebaut ist, der Leseverstärker eine Verstärkungsleistung auf, die höher ist als diejenige eines Leseverstärkers, der nur aus MOS-Transistoren augebaut ist.
  • Dementsprechend genügt es, wenn der Pegel des an den Leseverstärker angelegten Eingangssignals in der Größenordnung von 1/10 bis 1/100 des Pegels eines an einen Leseverstärker, der nur aus MOS-Transistoren aufgebaut ist, angelegten Eingangssignals liegt. Mit anderen Worten, da der Pegel des an den Leseverstärker angelegten Eingangssignals bei weitem niedriger sein kann als bei einem Leseverstärker, der nur aus MOS-Transistoren aufgebaut ist, tritt selbst, wenn ein Vorlast-Pegel der Datenleitungen unterschiedlich ist, keine Änderung der Ausgabegeschwindigkeit aus dem Leseverstärker auf.
  • Wie es oben erwähnt worden ist, wird, ähnlich dem MOS-Transistor M14, das Auswahlsignal YS an das Gate von jedem der MOS-Transistoren M15 und M16 angelegt. Deshalb werden beim nicht ausgewählten Zustand die MOS-Transistoren M15 und M16 eingeschaltet. Dementsprechend werden die Datenleitungen W und WB auf die konstante Spannung WSL festgelegt oder eingestellt und deshalb ändert sich das Potential der Datenleitungen W und WB nie unter dem Einfluß von Störungen oder anderen Faktoren von außen. Danach, wenn der Leseverstärker ausgewählt wird, können, da es nicht notwendig ist, das Potential der Datenleitungen W und WB auf einen Betriebspotentialbereich anzuheben, die Auslese- Potentialinformationen sofort ausgegeben werden.
  • Unter Bezugnahme auf Fig. 4 ist ein Wellenform-Diagramm gezeigt, das eine Spannungsänderung an verschiedenen Punkten in dem in Fig. 3 gezeigten Schaltkreis darstellt. Fig. 4 zeigt, daß das Auswahlsignal YS während einer Zykluszeit Tcyc auf einem Nicht- Auswahl-Pegel oder auf einem niedrigen logischen Pegel gehalten und dann, während eines Zyklus' neben der Zykluszeit Tcyc, auf einen Auswahl-Pegel oder einen hohen logischen Pegel gebracht wird.
  • Das Paar Zahlenleitungen D und DB arbeitet auf einem Potential nahe Vcc = 5 V mit einer Spannungsdifferenz in der Größenordnung von 100 mv. Beim nicht ausgewählten Zustand erscheint selbst, wenn der Potentialpegel auf den Zahlenleitungen D und DB kippt oder umkehrt, wie es in Fig. 4 gezeigt ist, diese Potentialinversion nicht auf den Datenleitungen W und WB, die sich auf einem Pegel von {VCC-0,8V} befinden.
  • Beim herkömmlichen Schaltkreis, wie er in Fig. 1 gezeigt ist, steigt, wenn das Auswahlsignal YS in einen abgeschalteten Zustand (d. h., auf den niedrigen logischen Pegel) versetzt wird, da der durch die bipolaren Transistoren fließende Strom abnimmt, das Potential auf den Datenleitungen W und WB langsam mit einer großen Zeitkonstante an, während die Spannungsdifferenz zwischen den Datenleitungen W und WB, als der Leseverstärker ausgewählt wurde, gehalten wird, wie es durch die gepunkteten Linien A in Fig. 4 gezeigt ist. Dementsprechend wird, wenn in einem nächsten ausgewählten Zustand die Daten gegenüber den im gerade vorhergehenden ausgewählten Zustand ausgelesenen Daten ausgelesen werden, eine beträchtliche Inversionszeit tD2 von dem Moment, in dem das Auswahlsignal freigegeben wird, bis zu dem Moment, in dem das Groß/Klein-Verhältnis der Spannung zwischen den Datenleitungen W und WB kippt oder umkehrt, benötigt.
  • Bei der zweiten Ausführungsform werden andererseits, gleich nachdem der Leseverstärker in einen nicht ausgewählten Zustand versetzt wird (oder gleich nachdem das Auswahlsignal YS auf den niedrigen logischen Pegel abgeschaltet wird), die Datenleitungen W und WB durch den P-Kanal-MOS-Transistor M14 kurzgeschlossen und werden auch durch die P-Kanal-MOS-Transistoren M15 und M16 mit einer Zeit ts auf einen Äquipotentialpegel nahe der Hochspannungs-Netzspannung Vcc festgesetzt, wie es durch eine durchgehende Linie B in Fig. 4 gezeigt ist. Wie es in Fig. 4 dargestellt ist, ist diese Zeit ts vorzugsweise hinreichend kürzer als eine Länge eines Lesezyklus' Tcyc, aber es kann ausreichend sein, wenn die Zeit ts im wesentlichen kürzer ist als die Länge eines Lesezyklus' Tcyc.
  • Dementsprechend beginnt, wenn der Leseverstärker in einem Zyklus neben dem nicht ausgewählten Zyklus Tcyc ausgewählt wird, eine Potentialdifferenz, die den Auslesedaten entspricht, sofort, mit nur einer sehr kurzen Verzögerungszeit tD1, zwischen den Datenleitungen W und WB zu erscheinen. Bei dieser Ausführungsform kann die Zeit von dem Moment, in dem der Leseverstärker ausgewählt wird, bis zu dem Moment, in dem die Auslesedaten an den Verstärker und Multiplexer 12 ausgegeben werden, im Vergleich mit dem herkömmlichen Schaltkreis um 20% bis 50% verkürzt werden.
  • Unter Bezugnahme auf Fig. 5 ist ein Schaltkreisdiagramm eines wesentlichen Bestandteils, das einem Bit entspricht, einer Ausführungsform der Halbleiter-Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung gezeigt. In Fig. 5 erhalten Elemente, die den in Fig. 1, 2 und 3 gezeigten entsprechen, dieselben Bezugszeichen, und zur Vereinfachung der Beschreibung entfällt eine Erklärung dieser.
  • Wie es aus einem Vergleich zwischen Fig. 2 und 5 hervorgeht, ist die dritte Ausführungsform dadurch gekennzeichnet, daß ein Pegelumsetzungs-Schaltkreis 18 vorgesehen ist, der das Auswahlsignal YS empfängt, um den Spannungspegel des Auswahlsignals YS in einen anderen Spannungspegel umzusetzen, der tatsächlich an das Gate der MOS-Transistoren für einen konstanten Strom M11, M12 und M13 angelegt wird. Dieser Pegelumsetzungs-Schaltkreis 18 weist ein Paar N-Kanal-MOS-Transistoren M17 und M18, die zwischen einer konstanten Spannung VB und Masse (VEE) in Reihe geschaltet sind, wobei ein Gate des Transistors M17 zum direkten Empfang des Auswahlsignals YS angeschlossen ist, und einen Inverter INV auf, dessen Eingang zum Empfang des Auswahlsignals YS angeschlossen ist und dessen Ausgang mit einem Gate des Transistors M18 verbunden ist. Die konstante Spannung VB ist niedriger als die Hochspannungs-Netzspannung Vcc.
  • Zusätzlich wird das Auswahlsignal YS durch einen Verzögerungsschaltkreis 20 dem Gate des P-Kanal-MOS-Transistors M14 zugeführt.
  • Mit dem oben genannten Aufbau wird der Pegel des Auswahlsignals YS zur Auswahl des Leseverstärkers, der die bipolaren Transistoren Q13 und Q14 aufweist, durch den Pegelumsetzungs-Schaltkreis 18 umgesetzt und dann wird es an das Gate der N-Kanal-MOS- Transistoren für einen konstanten Strom M11, M12 und M13 für die Emitterfolger und den Differentialverstärker angelegt. Hier weist der Pegelumsetzungs-Schaltkreis 18 einen Schalt-Schaltkreis auf, der aus den N-Kanal-MOS-Transistoren M17 und M18 aufgebaut ist, die zwischen der konstanten Spannung VB und Masse (VEE) in Reihe geschaltet sind, wobei das Gate des MOS-Transistors M17 das Auswahlsignal YS empfängt und das Gate des MOS- Transistors M18 ein invertiertes Signal des Auswahlsignals YS empfängt.
  • Andererseits wird das Auswahlsignal YS durch den Verzögerungsschaltkreis 20 auch an das Gate des P-Kanal-MOS-Transistors M14 zum Kurzschließen zwischen den Datenleitungen W und WB angelegt. Dieser Verzögerungsschaltkreis 20 dient der Einstellung der Verzögerungszeit des an das Gate des P-Kanal-MOS-Transistors M14 angelegten Auswahlsignals YS, um den Lesebetrieb des Leseverstärkers zu erleichtern.
  • D. h., im Falle des Vorsehens des Pegelumsetzungs-Schaltkreises 18 weicht die Ausschalt/Einschalt-Zeitsteuerung des MOS-Transistors M13 von der Freigabe/Abschalt-Zeitsteuerung des Leseverstärkers ab oder ist von dieser verschoben. Insbesondere ist in manchen Fällen die Zeitsteuerung der Datenübertragung von den Zahlenleitungen D und DB auf die Datenleitungen W und WB von der Pegelübergangs-Zeitsteuerung des Auswahlsignals YS verzögert. Unter Bezugnahme auf Fig. 4 kippen hier die Daten auf den Zahlenleitungen D und DB, bevor das Auswahlsignal YS auf den hohen logischen Pegel freigegeben wird. Das Vorsehen des Pegelumsetzungs-Schaltkreises 18 bewirkt jedoch die Möglichkeit, daß die Daten auf den Zahlenleitungen D und DB nach der Freigabe des Auswahlsignals YS auf den hohen logischen Pegel kippen. In diesem Fall werden die Daten, bevor die Daten auf den Zahlenleitungen D und DB kippen, den Datenleitungen W und WB zugeführt und für eine Zeit ausgelesen.
  • Zur Vermeidung des oben genannten Umstands wird der Verzögerungsschaltkreis 20 so eingestellt, das er eine lange Verzögerungszeit aufweist, um sicherzustellen, daß die Datenleitungen W und WB für eine Zeit, nachdem der Leseverstärker ausgewählt worden ist (d. h., das Auswahlsignal YS auf den hohen logischen Pegel freigegeben worden ist) auf einem Äquipotential gehalten werden, und danach wird der Transistor M14 ausgeschaltet, d. h., das Kurzschließen zwischen den Datenleitungen W und WB wird synchron mit dem Kippen der Daten auf den Zahlenleitungen D und DB aufgehoben. Mit dieser Anordnung ist es möglich, die Daten auszulesen, sobald die Daten auf den Zahlenleitungen D und DB festgesetzt oder eingestellt sind, ohne einer Möglichkeit des Auslesens der vorhergehenden Daten. Dementsprechend wird ein Lesen mit hoher Geschwindigkeit möglich.
  • Andererseits wird in dem Fall, daß, wie es in Fig. 4 gezeigt ist, die Daten auf den Zahlenleitungen D und DB kippen, bevor das Auswahlsignal YS auf den hohen logischen Pegel freigegeben wird, die Verzögerungszeit des Verzögerungschaltkreises 20 kurz gemacht, so daß während eines Zeitabschnitts von dem Moment, in dem die Daten auf den Zahlenleitungen D und DB kippen, bis zu dem Moment, in dem das Auswahlsignal YS auf den hohen logischen Pegel freigegeben wird, der Transistor M14 ausgeschaltet wird (d. h., das Kurzschließen zwischen den Datenleitungen W und WB aufgehoben wird). In dieser Situation wird ein Lesen mit hoher Geschwindigkeit möglich.
  • Wie es Fachleuten wohlbekannt ist, kann der Verzögerungsschaltkreis 20 aus einem CMOS- (Komplementär-MOS-) Schaltkreis aufgebaut sein. Wenn es notwendig ist, die Verzögerungszeit der Einschalt-Zeitsteuerung des Transistors M14 und die Verzögerungszeit der Ausschalt-Zeitsteuerung des Transistors M14 unabhängig voneinander einzustellen, genügt es, wenn die Größe eines N-Kanal-MOS-Transistors und die Größe eines P-Kanal-MOS- Transistors im CMOS-Schaltkreis unabhängig voneinander festgelegt werden.
  • Wie es aus dem oben genannten hervorgeht, ist die vorliegende Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß, wenn die Speicherzelle nicht ausgewählt wird, die mit der Speicherzelle verbundenen komplementären Datenleitungen kurzgeschlossen werden, um auf dasselbe Potential gebracht zu werden, und, wenn die Speicherzelle ausgewählt wird, das Kurzschließen aufgehoben wird.
  • Dementsprechend werden die Daten schnell festgelegt oder eingestellt, ohne durch vorhergehende Auslesedaten beinflußt zu werden.
  • Zusätzlich ist, da die komplementären Datenleitungen durch Verwendung des Auswahlsignals ansprechend auf die Zeitsteuerung, bei der das Auswahlsignal abgeschaltet wird, kurzgeschlossen werden, ein separater Impuls zum Kurzschließen der komplementären Datenleitungen unnötig und deshalb ist es nicht notwendig, einen Schaltkreis zur Erzeugung des Impulses zum Kurzschließen vorzusehen. Dementsprechend unterliegt die Chipgröße fast keinem Einfluß.
  • Weiterhin wird, nachdem die Potentiale auf dem Paar komplementärer Zahlenleitungen umgekehrt oder gekippt sind, das Kurzschließen zwischen den komplementären Datenleitungen aufgehoben. Deshalb ist es möglich ein Lesen mit hoher Geschwindigkeit ohne ein Lesen der vorhergehenden Daten zu verwirklichen.
  • Die Erfindung wurde somit unter Bezugnahme auf die speziellen Ausführungsformen gezeigt und beschrieben. Es ist jedoch festzuhalten, daß die vorliegende Erfindung in keiner Weise auf die Details der gezeigten Aufbauten beschränkt ist, sondern Änderungen und Abänderungen innerhalb des Umfangs der beigefügten Ansprüche vorgenommen werden können.

Claims (6)

1. Eine Halbleiter-Speichervorrichtung, die ein Paar komplementärer Datenleitungen (W, WB) zur Ausgabe eines Inhalts einer Speicherzelle in Form eines Paares von Differentialsignalen, eine Verstärkervorrichtung (Q13, Q14) zur Erfassung und Verstärkung des Paares von Differentialsignalen, eine Freigabevorrichtung (16) zur wahlweisen Freigabe und Abschaltung der Verstärkervorrichtung (Q13, Q14), eine Schwebevorrichtung zum Halten des Paares komplementärer Datenleitungen in einem Schwebezustand, wenn die Verstärkervorrichtung (Q13, Q14) durch die Freigabevorrichtung in einen abgeschalteten Zustand versetzt wird, aufweist, gekennzeichnet durch eine Kurzschlußvorrichtung zum Kurzschließen des Paares kompelementärer Datenleitungen, wenn die Verstärkervorrichtung (Q13, Q14) in den abgeschalteten Zustand versetzt wird, wobei die Kurzschlußvorrichtung das Paar komplementärer Datenleitungen (W, WB) synchron mit einem Freigabesignal zur Versetzung der Verstärkervorrichtung (Q13, Q14) in den abgeschalteten Zustand kurzschließt, wobei die Verstärkervorrichtung (Q13, Q14) einen Differential-Schaltkreis mit einem Paar bipolarer Transistoren (Q13, Q14) aufweist, deren Basen mit dem Paar komplementärer Datenleitungen (W bzw. WB) verbunden sind, und wobei die Freigabevorrichtung (16) eine Pegelumsetzer-Vorrichtung (18) zum Empfangen des Freigabesignals und zur Umsetzung eines Pegels des Freigabesignals aufweist und weiterhin eine Verzögerungsvorrichtung (20) zum Empfangen des Freigabesignals aufweist, um das Freigabesignal entsprechend einer Verzögerungszeit, die in der Pegelumsetzer-Vorrichtung (18) auftritt, zu verzögern, wobei das verzögerte Freigabesignal der Kurzschlußvorrichtung zugeführt wird.
2. Halbleiter-Speichervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schwebevorrichtung ein Paar Emitterfolger-Transistoren (Q11, Q12), deren Basen angeschlossen sind, um das Paar von Differentialsignalen, die jeweils aus der Speicherzelle (MC) ausgelesen werden, zu empfangen, und ein Paar Stromquellen (M11, M12) aufweist, das mit einem Emitter der Emitterfolger-Transistoren verbunden und ansprechend auf das Freigabesignal Ein-Aus geregelt ist.
3. Halbleiter-Speichervorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Paar komplementärer Datenleitungen durch ein verdrahtetes ODER mit einer Vielzahl von Paaren von Emitterfolger-Transistoren (Q11, Q12) verbunden ist.
4. Halbleiter-Speichervorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß diese weiterhin eine Kurzschluß-Aufhebevorrichtung zur Aufhebung des Kurzschließens zwischen dem Paar komplementärer Datenleitungen, nachdem sich ein Potential auf dem Paar komplementärer Datenleitungen gemäß dem aus der Speicherzelle ausgelesenen Paar von Differentialsignalen ändert, aufweist.
5. Halbleiter-Speichervorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Kurzschlußvorrichtung auch der Einstellung des Paares komplementärer Datenleitungen auf eine vorher festgelegte Spannung dient.
6. Halbleiter-Speichervorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die vorher festgelegte Spannung eine Spannung nahe einer Emitter-Vorspannung der Emitterfolger- Transistoren (Q11, Q12), wenn die Emitterfolger-Transistoren in Betrieb sind, ist.
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5467300A (en) * 1990-06-14 1995-11-14 Creative Integrated Systems, Inc. Grounded memory core for Roms, Eproms, and EEpproms having an address decoder, and sense amplifier
JPH0798985A (ja) * 1993-09-29 1995-04-11 Nec Corp 半導体記憶回路
KR100494097B1 (ko) * 1997-12-31 2005-08-24 주식회사 하이닉스반도체 글리취(Glitch)방지용데이터감지회로
KR100430825B1 (ko) * 1999-06-29 2004-05-10 주식회사 엘지 종이 코팅용 라텍스
KR100405308B1 (ko) * 2000-12-18 2003-11-12 주식회사 엘지화학 인조안료 및 그의 제조방법
US7415291B1 (en) 2001-09-28 2008-08-19 At&T Delaware Intellectual Property, Inc. Device and method for augmenting cellular telephone audio signals
JPWO2004042821A1 (ja) 2002-11-08 2006-03-09 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
GB2428149B (en) * 2005-07-07 2009-10-28 Agilent Technologies Inc Multimode optical fibre communication system
US20110286271A1 (en) * 2010-05-21 2011-11-24 Mediatek Inc. Memory systems and methods for reading data stored in a memory cell of a memory device
CN104603169B (zh) 2013-06-19 2018-01-05 Lg化学株式会社 多层核壳结构的橡胶聚合物胶乳及其制备方法,以及含有它的丙烯腈‑丁二烯‑苯乙烯接枝共聚物
KR20220010256A (ko) 2020-07-17 2022-01-25 주식회사 엘지화학 그라프트 공중합체의 제조방법

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4272834A (en) * 1978-10-06 1981-06-09 Hitachi, Ltd. Data line potential setting circuit and MIS memory circuit using the same
JPS58169958A (ja) * 1982-03-31 1983-10-06 Fujitsu Ltd Misスタテイツク・ランダムアクセスメモリ
JPS59120597U (ja) * 1983-01-31 1984-08-14 カ−ル事務器株式会社 パンチ
JPS639095A (ja) * 1986-06-30 1988-01-14 Toshiba Corp スタテイツク型半導体メモリ
JPS63311690A (ja) * 1987-06-15 1988-12-20 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US4939693A (en) * 1989-02-14 1990-07-03 Texas Instruments Incorporated BiCMOS static memory with improved performance stability
JPH03142781A (ja) * 1989-10-27 1991-06-18 Nec Corp 読み出し回路
JP2550743B2 (ja) * 1990-03-27 1996-11-06 日本電気株式会社 半導体メモリ回路

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