DE3150056A1 - "maske zur verwendung bei lithopraphischen verfahren" - Google Patents
"maske zur verwendung bei lithopraphischen verfahren"Info
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 20
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 10
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 12
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 9
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 4
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 241000533867 Fordia Species 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000011253 protective coating Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
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Description
- f"- WS 292 P - 2422
Maske zur Verwendung bei lithographischen Verfahren
Die Erfindung bezieht sich auf die Bearbeitung von Halbleitern, insbesondere auf lithographische Verfahren, bei
denen mit u/eichen Röntgenstrahlen oder mit Ionenstrahlen gearbeitet uiirti.
Ein grundsätzlicher Grenzu/ert für hohe Integrationsdichte
bei Halbleiterschaltungen ist durch die bei dem lithographischen Prozeß arzielbare Auflösung gegeben. Die größten
Aussichten für Fortschritte bei der Lithographie bieten heute das sogenannte Elektronenstrahlschreiben und Verfahren,
bai denen gerichtete kurzuiellige Strahlung, z3 Röntgenstrahlung oder gerichtete Ionenstrahlung eingesetzt warden.
Das Elektronenstrahlschreiben ergibt zwar hohe Auflösung, ist aber wegen des für den Strahlschreibvorgang erforderlichen
hohen Zeitaufwands ein verhältnismäßig langsames Verfahren. Lithographie mit Röntgenstrahlung und gerichteter
Ionenstrahlung bietet Schwierigkeiten, weil die Masken brüchig sind, denn bei der bevorzugten Maske handelt
2Q es sich um dünne Metallfolien, beispielsweise aus Beryllium,
Diese Maske ist aber nicht nur zerbrechlich, sondern sie läßt sich auch nur mit großer Mühe ausrichten, weil zur Ausrichtung
optische Techniken bevorzugt werden (zB Anwendung sichtbaren Lichts) und die aus Metallfolie bestehende Maske
im Sichtbaren undurchsichtig ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, eine lithographische Maske zu entwickeln, die mit optischen Mitteln
ausrichtbar ist.
- r- WS 292 P - 2422
Die Maske meist einen für sichtbares Licht durchlässigen
Tragrahmen mit daran angebrachten', Mustern auf, die Markierungen für die optische Ausrichtung darstellen. Eine vorzugsweise
aus Metall bestehende Folie, die für weiche Röntgenstrahlung oder für Ionan durchlässig ist, ist an dem
Bleirahmen befestigt und wird von ihm in gespanntem Zustand gehalten. Eine vorzugsweise aus einem zweiten Metall be- .
stehende, mit Mustsr versehene Schicht ist an der Folie angebracht,
um ausgewählte Bereiche der Folie für weiche Röntgenstrahlung oder Ionsnstrahlung undurchlässig zu machen.
Bsi der Ausübung des beschriebenen lithographischen Verfahrens
wird die Maske dazu benutzt, Resistschichtan, deren chemischer Aufbau je nach der Belichtung durch weiche Röntgenstrahlung
oder Iononstrahlan verändert warden kann, solektiv
zu belichten. Nach der Belichtung werden dia Rssistschichten
entwickelt, so daß sich ein mit Huster versehener Schutzüberzug ergibt, der bsi dsm lithographischen Verfahren
3ingesstzt werden kann.
Die Erfindung wird nachstehend an einem Ausführungsbsispiei
und an Hand der Zeichnungen erläutert.
Fig.1 ist ein Querschnitt durch den tragenden Maskenrahmsn
und dia daran angebrachte Folie;
Fig.2 zeigt die Herstellungsweise der ebenen Fläche, die
aus Teilen des tragenden Rahmens und der Folie besteht; Fig.3 verdeutlicht dan Vorgang des Verbindens der Folie mit
dem tragenden Rahmen;
Fig.4 ist ein Querschnitt durch den tragenden Rahmen mit
daran befestigter Folia und darüberlisgenden Schichten aines
Metalls und des Photorasists;
Fig.5 zeigt den Vorgang des Einschreibens mit dem Elektronenstrahl,
welches Verfahren für die Herstellung der Maske benutzt wird;
Fig.6 ist ein Querschnitt durch die fertige Maske.
Fig.6 ist ein Querschnitt durch die fertige Maske.
- *5" - WS 292 P - 2422
" S-
Fig.1 zeigt als Schnittbild den Tragrahmen 10 und die dünne
ι1 jf.allfolie 12, die vorzugsweise aus Beryllium besteht
und e.ne Dicke von größenordnungsmäßig 25^m hat; sie ist
mit dem Tragrahmen fest verbunden. Bei der bevorzugten Ausführungsform
können die äußere bzw die innere Umgrenzung 11 bzui 13 des Tragrahmens Kreis- oder RechteckPorm oder eine
anaere geeignete Form haben. Da der Tragrahmen 10 aus Glas
besteht, ist sr normalerweise für weiche Röntgenstrahlung
nicht durchlässig. Dadurch wird die für die Herstellung von Maskenmustern, die für die lithographische Technik mit
tuaichcr Röntgenstrahlung geeignet sind, nutzbare Fläche auf
das Fenster begrenzt, das von der inneren Umgrenzung 13 des Tragrahmens 10 gebildet luird. Bereiche des Tragrahmens 10,
die über dsn äußaran Rand 15 der Folie 12 hinausreichen,
warden zur Anbringung von Markierungen für das Ausrichten
dar Maske mit sichtbarem Licht benutzt.
Dia Oberfläche der Folie 12 und dar Tragrahmen 10 bilden
ains praktisch ebene, gemeinsame Unterseite 14. Die Folie
12 ist unter solchen Bedingungen mit dem Tragrahmen 10 verbunden morden, daß die Folie 12 ständig in allen Richtungen
unter Spannung steht, so daß eine stabile ebene Flächa der Folie entstanden ist.
Fig.2 zeigt den ersten Schritt des Vorgangs, durch den die
Folie 12 mit dem Tragrahmen 10 verbunden uiird. Eine erste,
praktisch abene, beispielsweise aus rostfreiem Stahl gefertigte Platte 16 wird als Unterlage für die Folie 12 benutzt.
Der Tragrahmen 10 aus Glas wird so angeordnet, daß die innere
Umgranzung 13 des Tragrahmens 10 über den Außanrand 15
der Folie 12 nach innen übergreift. Eine zweite ebene Platte 13 wird auf den Tragrahmen 10 aus Glas gelegt. Dann tuird
auf die beidan Platten 16 und 18 Druck ausgeübt, und der
ganze Aufbau luird bis zum Erweichungspunkt des gläsernen Tragrahmans 10 erhitzt. Unter diesen Bedingungen wird der
Glasrahman 10 darart varformt, daß seine unteren Kanten
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praktisch bündig mit der Untarseita der Folis 12 liegen.
Dadurch entsteht die praktisch ebene Unterseite, die in Fig.1 gezeichnet ist und oben erwähnt luurde.
Fig.3 erläutert das Vorgehen zum Verbinden der Folie 12 mit
dem Glasteil 10. Die Folie 12 ist von Haus aus leitend, ujsil dafür vorzugsweise Beryllium oder ein anderes Metall
verwendet uird. Durch Erhitzen des Glasrahmens 10 bis auf
die Temperatur, bei der er plastisch verformbar ist, iuird
dieses Teil auch geringfügig elektrisch leitend. Eine ausraichsnd
große Spannungsquella 17 wird so angeschlossen, daß **·" :ine Spannung zu/ischen der Folie 12 und dem Tragrahmsn 10
liegt; jetzt fließt zwischen diesen Teilen ein elektrischer
Strom. Die für das Verbinden arfordarlicha Zeit hängt von
der Temperatur und dam StromfluÖ ab. Diese Art des Varbindens
ist an sich bekannt und wird im einzelnen in dsr
US-Patentschrift 3 397 278 (D.I.Pomerantz) beschrieben.
~ Als Erläuterung für die Art und Waisa der Herstellung dar
Glas/Metall-Verbindung wird auf die genannte US-Patentschrift ausdrücklich Bezug genommen,
Das obanbeschriebena Verbinden findet, ja nach der für den Tragrahmen 10 gewählten Glasart, normalerweise bai ainer
Temperatur zwischen 300 und 800eC statt. Der Glasrahmen
—" hat im allgemeinen einen geringfügig kleineren Wärmeaus
dehnungskoeffizienten als die Metallfolie 12. Wann der
Varbindevorgang abgeschlossen ist und der Glasrahman 10
und dia Folie 12 abgekühlt sind, wird in der Folia 12 sin
Spannungszustand aufrechterhalten, dar dazu führt, da3 die
gemeinsama Oberfläche 14 von Glasrahman 10 und Folia 12 praktisch eben ist, wie das oban im Zusammenhang mit Fig.1
3rörtart wurde.
Mach dgm Abkühlen das Tragrahmens 10 und der Folie 12 wird
dia von dam Tragrahmen 10 und dsr Folie 12 gebildets Unt-3rs^it^
mit einer dünnen Schicht Gold 20 bslsgt, dio vorzu.jsw..;iso
eine Dicke zwischen 0,5 und 1 lim hat. Damit din
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Goldschicht 20 besser haftet, kann die Unterseite von Tragrahmt.-'
10 aus Glas und Folie 12 aus Beryllium zunächst mit ainer äußerst dünnen Beschichtung, beispielsweise aus Titan,
versehen werden. Auf die Oberseite der Goldschicht 20 wird
sine dünne Schicht 22 aus Photoresist aufgetragen.
Das schamatisch dargestallte Elektronanstrahlgerät 24 wird
zum selektiven Belichten das Photoresists 22 benutzt. Das für Zwecks der Röntganstrahl-Photolithographie zu verwendende
Muster ist beschränkt auf einen Bereich innerhalb des
Fanstars, das durch die innere Umgrenzung 13 des Tragrah-.Tiäna
13 definiert ist, weil der Tragrahmen aus Glas für dia uiaicha .Töntgenstrahlung nicht durchlässig ist. Die auf dan
Tindarn d3s Tragrahmens 10 aufliegenden Bereiche des Photoresists,
die über die Kante der Folie 12 hinausgreifen,
warden zur Anbringung von Markierungen für die optische Ausrichtung ausgenutzt; diese Markierungen werden dazu varwendat,
in an sich bekannter Waise die Maske mit Hilfe von sichtbarem Licht auszurichten. Das Elektranenstrahl-Einschrüibgerät
24 kann in üblicher Weise gesteuert werden und kann sowohl das geforderte Muster für die lithographischen
Techniken als auch die Markierungen für die Ausrichtung erzeugen.
Nach d-3tn Elektronsnstrahlschreiben wird die Photoresistschicht
22 in üblicher Weise entwickelt, und die GoIdschicht 20 wird geätzt, so daß ein Muster für lithographische
Verfahransschritte innerhalb des durch die innere
Umgrenzung 13 dos Tragrahmens 10 definierten Fensters entstaht; außerdam werden Markierungen für die optische Ausrichtung
in dam über den Außenrand 15 dar Folie 12 hinausgreifenden
Bereich gebildet. Die fertige Maske ist in Fig.6 uiadergageban.
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-8-
Die Goldbilder lassen sich auch durch Sperrverfahren oder Galvanisierverfahren herstellen. Die technischen Schritte
zur Herstellung dsr Goldbilder sind in Jedem Falle bekannt.
Die in Fig.6 dargastelLte Maske ist besonders geeignet für
lithographische Verfahren zur Bearbeitung von Halbleiterplättchen mit Röntgenstrahlung und gerichteter Ionenstrahlung,
Ein typisches lithographisches Verfahren ist schematisch in Fig.7 dargestellt. Auf ein Halbleitersubstrat wird nach einer
der üblichen Methoden eins dünne Schicht 28 von Photo-IQ resist aufgetragen. Dann wird die Maske so ausgerichtet,
daß die Musterschicht 20 aus Gold sich in dar Nähe der Photoresistschicht 28 befindet oder sie sogar berührt. Die
Ausrichtungsmarken und diB Kanten der Maske werden dazu benutzt, die Maske gegenüber dem Substrat richtig auszuricnten;
bai diesem Vorgang bedient man sich der üblichen Methoden zur optischen Ausrichtung. Anschließend wird sine weiche
Röntgenstrahlung oder eine Ionenstrahlung gegen die Oberseita
der Maske gerichtet. Die iueich-3 Röntgenstrahlung oder die
Ionenstrahlung durchdringt weder das den Tragrahmen 10 bildende
Glas noch die Teile der Metallfolie 12, dia von der gemusterten Goldschicht 20 bedeckt werden. An den Stallen
aber, ujo sich Öffnungen in der Musterschicht 20 aus Gold bsfinden,
soiuait diese öffnungen innerhalb der inneren Umgrenzung
13 des Tragrahmens 10 liegen, durchdringen die u/eichen Röntganstrahlen oder die Ionenstrahlen die Folie 12 und treffen
auf die Photoresistschicht 28. Der chemische Aufbau dsr Photoresistschicht wird von den Röntgenstrahlen oder dan
Iononstrahlan verändert. Dann wird die Photoresistschicht
entwickelt und weiterbahandelt, damit sis in üblicher Weise
verwendbar ist.
3ai dam obenbeschriebenen Verfahren werden weiche Röntgenstrahlung
und Ionenstrahlung eingesetzt, weil die heute verfügbaren Resistarten für die Anwendung harter Röntgenstrahlung
nicht geeignet sind. Bei der photolithographischan Her-
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stellung von Halbleiterplättchen ist die eru/ähnte Ausrichtung
iw \tisch nur während des zweiten und u/eiterer photolithographischer
Herstellungsschritte. Die erste Maske sollte daher so aufgebaut sein, daß die innere Umgrenzung
das Tragrahmens 10 weiter ausgedehnt ist als die aktive Fläche d r Schaltung. Während des ersten Herstellungsschrittes
müssen Ausrichtungsmuster Für das Ausrichten mit den Ausrichtungsmarkierungen hergestellt werden. Daraus ergibt
sich ohne weiteres, daß die obenbeschriebene Maske dem Typ zuzurechnen ist, der bei dem zweiten und bei u/eiteren Herstallungsschritten
benutzt wird, u/eil sie Ausrichtungsmarkierungen in den Teilen des Tragrahmens 10 aufweist, die
über den Rand 15 der Folie 12 hinausragen.
Claims (1)
- 15Maske zur Verwendung bei lithographischen Verfahren, mit einem Tragrahmen (10), an dem ein gemustertes Element angebracht ist, dadurch gekennzeichnet,daß der Tragrahmen strahlungsdurchlässig innerhalb eines ersten Frequenzbandes und strahlungsundurchlässig innerhalb eines zweiten Frequenzbandes ist,daß eine Folie (12), die strahlungsundurchlässig innerhalb des ersten Frequenzbandes und strahlungsdurchlässig innerhalb des zweiten Frequenzbandes ist, an dem Tragrahmen angeordnet ist, der über den Rand der Folie hinausragt,und daß eine in beiden Frequenzbändern undurchlässige, mit P4uster versehene Schicht (20) die Maske bedeckt.2.) Maske nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dar Tragrahmen aus Glas besteht.• · * ■-ί-WS 292 P - 24223.) Maske nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Folie aus Metall bastsht.4.) Maske nach Anspruch 1, 2 odsr 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Folie aus Beryllium bsstaht.5.) Maske nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Berylliumfolie ständig gespannt ist, und daß dia Spannung dadurch hervorgerufen wird, daß die Bbrylliumfalie mit dam Glasrahman bei einer über 20DcC lieganden Temperatur verbundan ist.5.) Maske nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,daß die Teile des Tragrahmens, die über den Umriß d3r Folie hinausragen, Muster in einer strahlungsundurchlässigen Schicht aufweisen, die Markiarungsn für die Ausrichtung bilden.7.) Maske nach einem der vorhergehenden Ansprüche., dadurch gekennzeichnet,daß der Tragrahmen für sichtbares Licht durchlässig ist, so daß die Maske nach einem mit sichtbarem Licht arbeitenden Verfahren ausgerichtet werden kann.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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---|---|
DE3150056A1 true DE3150056A1 (de) | 1982-07-15 |
Family
ID=22810664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813150056 Ceased DE3150056A1 (de) | 1980-12-17 | 1981-12-17 | "maske zur verwendung bei lithopraphischen verfahren" |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57124352A (de) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8131 | Rejection |