DE1524404A1

DE1524404A1 - Pruefeinrichtung fuer Lochkarten

Info

Publication number: DE1524404A1
Application number: DE19661524404
Authority: DE
Inventors: Hendrickson Thomas Allen; Stahl William Leonard
Original assignee: International Business Machines Corp
Current assignee: International Business Machines Corp
Priority date: 1965-05-03
Filing date: 1966-06-04
Publication date: 1970-04-30
Also published as: NL149017B; FR1479804A; SE319928B; US3348411A; CH443735A; CH447674A; NL149306B; BE676862A; US3481195A; GB1078594A; US3464265A; DE1524406A1; CH439813A; NL6608554A; DE1524397A1; FR1483567A; GB1079453A; GB1081828A; SE305559B; NL6605608A

Description

Die Erfindung bezieht sieh auf eine Prüfeinrichtung für Lochkarten, die unter der Steuerung durch eine spaltenweise synchron abtastbare Programmkarte bzw, über eine Tastatur, steht und bei der die Abtastung der In der Lochkarte enthaltenen Daten auf optischem Wege erfolgt.

Zur Prüfung der Richtigkeit der in einer Lochkarte enthaltenen Lochungen werden in bekannten Lochkartenprüfmaschinen die einzelnen Karten durch eine Prüfstation und eine Abtaststation bewegt, wobei der PrüfVorgang entweder unter der Steuerung der in eine tadtatür eingegebenen Daten steht oder durch eine auf eine Programmtrommel, die synchron mit der zu prüfenden Karte' bewegt wird, aufgespannte Programmkarte gesteuert wird. Je nach

ORIßf&AL INSPECTED

ά&Η Priifvör&iriges wird bei i&sfcglistiiliter Richtigkeit die betreff enäe Karte -Mft iitfet* k&skliMfäh ÜäMpöäitibü &- kerbfc, während bei feätStöiitin'g- Miitös FiM&rs öii. Karte m oberen Rand ii&r feitreffäiidiflf imriöittii g#iööHfcÖH S^Üfei pkefbt wiixi.

Bekannte Löchkartenprüfmaschinen arbeiten mit Stiftäbfiihiürigibei U&p- ztir F^stsfceii&ni der iti fe liehen LiJCiier ein Satt vori SÜftdü itif öii Kartö gesenkt von denen diö eiii LöCli vorfliidähdlln Stifte eiüeri Kontakt schließen. Wegen der Naehtöiie diesär ÄbfuMirti diö htir ein schrittweises Vorrücken der Karte eriätibt ifrid inföiise der Bewegten Teile Äbnlitzüngsersöfieinungefi zeigli sind bptisähe tuftgen bekannt gew'ördehi ZiB. dürck die ÜSÄ-Pätentschrift 2 J2Ö 238. Die optische Abtastung von Lochkarten und ähnlichen Aufzeichnungsträgern ermöglicht ein, wenn notwendig» kohtihuieriiehes Vorrücken des AuΓζθichnungsträgere und somit elno wesentlich schnellere Arbeitsweise bei der Verarbeitungi Ätiswertung bzw; Prüfung von gelochter! ÄUizeiehhtih^strigerri. Außerdem arbeiten derartige Abtaste inrichtungen ruhig und erfordern nahezu keine Wartung.

Bekannte Lochkartenprüfmaschinen verwenden außerdem zur Taktsteuerung zum Zwecke der Anschaltung und Abschaltung der einzelnen Schaltelemente für den transport der Aufzeichnungsträger, den Kerbvorgang, den Stoppvorgang bei Erkennen eines Fehlers usw. eine Nockensteuerung. Bekanntlich ist auch eine Steuerung mittels einer Nockenwelle gewissen Abnutzungsersohoinungen unterworfen und wirft

ORlGWAi INSPECTED

außerdem zahlreiche Probleme der Massenbeschleunigung auf, die einer Steigerung der Arbeitsgeschwindigkeit im Wege stehen.

Durch die Erfindung ist eine wesentlich verbesserte Prüfeinrichtung für Lochkarten geschaffen worden, bei der die genannten Nachteile sämtlich vermieden sind. Die Erfindung wird darin gesehen, daß sowohl in der Abtaststation als auch in der Prüfstation jeder Lochreihe der Lochkarte ein beim Auftreten einer Lochung über eine anrieh bekannte, an eine einzige Lichtquelle angeschlossene und am entgegengesetzten Ende in eine entsprechende Anzahl Einzelleitungen verzweigte optische Leitung belichtbares photoelektrisches Element zur Steuerung der zugehörigen Schaltelemente augeordnet ist und daß ein weiterer Zweig der optischen Leitung zur·; Zusammenwirken mit einem synchron mit der Programmkarte und dem Vorschub der zu prüfenden Lochkarten umlaufenden, mit Schlitzen versehenen Senderad und zugehörigen photoelektrischen Elementen zur Taktsteuerung und Rückstellung der wirksamen Schaltelemente angeordnet ist.

Sogenannte optische Leitungen sind durch die USA-Patentschrift 1 751 584 an sich bekannt, Jedoch ist ihr Einsatz in Verbindung mit den übrigen Merkmalen der Erfindung von besonderem Vorteil. Weiterhin ist in der USA-Patentschrift 2 921 736 die Kombination eines optischen Abtaetsystems und eines Senderadee zur Abgabe von Taktimpuloen in der Anwendung für Lochkartenmaßchineη

0 0 9 8 1 8/0

'beschrieben-» Die Erfindung stellt Jedoch demgegenüber eine äußerst vorteilhafte Kombination jener Elemente dar« deren Zusammenwirken außerordentlich schnell ablaufende PrUfvorgänge bei kontinuierlich bewegtem Aufzeichnungsträger ermöglicht.

Gemäß einer besondersvorteilhaften Maßnahme sind die Lichtquelle und die ihr zugeordneten Enden der optischen Leitungen in einem von den Schwingungen der Maschine isolierten Gestell angeordnet. Dadurch erhalten die optischen Leitungen von selbst eine Länge, die eine Übertragung der Wärmeabstrahlung der Lichtquelle zu den photoelektrischen Elementen verhindert. Eine besonders vorteilhafte Ausführungsform der Erfindung besteht darin, daß die photoelektrischen Elemente als Phototransistoren ausgebildet sind.

Die Erfindung wird Im folgenden anhand der Zeichnungen in einem AusfUhrungsbeispiel erläutert. Es zeigen:

) Fig. 1 die Vorderansicht einer Loohkartenprüfmaschine,

FIg* 2 die Lochkartentransporteinriohtung der Maschine gemäß Fig. t in ihren wesentlichen Teilen,

Fig. ^ einen Schnitt duroh einen Teil der Programmtrommel und die SternradabfUhleinriohtung,

0098187 0712

I .#ifts §£te#M'fe4seh8 Darstellung 4©r-

S^a' *' Öii fehaltebilfi ©ine-r Prllfsinrlehtung,

■ ' ' ■ i

ift PiJh 1 iapgssfeöll&g KartßrjprüFmaiäGhine enthält ein Karten»·

\&t ixuB Sem aiß garten einzeln entnommen und über eine fj»anspörfebahn Ii OUr¹Oh eine Prtlfstafcion 20 und eine Abtaststatien SB einem Kar lenaisiage fach 24 zugeführt werden, Der Prüf Vorgang wird durch eihP fajäfeatur 26 und durph eine Programmtrommel 28 gesteuert* Während des Durchlaufee einer Karte durch die Prüf^ elafeien gö gilt dis !üotreffende Karte als "Potailkarfco", während öle beim ßurehgang durch diö Abtaststatipn 22 als "Hauptkarte" bezeichnet wird,, aus der Daten abgetastet und mit denjenigen tier nHöhsten Detaiikarte yerglichen werden können. In der Prüfstation 20 sind eine optische Abtasteinrichtung sowie eine bekannte Kerbungseinrichtung vorgesehen. Nach dem Betätigen einer Quaste der Tastatur 26 wird diese blockiert, bis die Tasten durch einen Rückstellmagneten wieder frei gegeben werden.

Die Haupt- und Detaiikartön gelangen mittels der in Fig. 2 gezeigten Tranoportelnrichtung durch die verschiedenen Stationen.

Im₁ Elfigpiff, lei eipef J|upagßi|is_:.§|i grp

fpei, $1μ

ύβη o?iß^i;|eri iaiifi 4pö gGjial||»adep JH zum ßirigrifi.* bringt, diese Ani3ri|nurig; wii»d di0 Karle schrifefeweise, ueti awar Spalte auf Bpalfie duPGiii di0 ÄbtasirstaHpn ^ü^4 die Frllfatafeipn bewegt.

Sin wpibßpes Sternrad 48 dient; zum Antrieb einer Welle 50* auf der die PrcjgröinmfePömmöl.ii Ijsbaz? b^fijstiiai isfe. ?sv- synchronen Umdröhia^g mit 4er Frograram|rqiiimpl 29 ist ebenfalis auf¹ der Welle 5.0 ein Seriderad 52 angpördnöt. Auf der Prpgrammtroraiiiel 28 ist eine Programrnka?^® 5& aufgespannt, mit der eine Störnradabfühleinrichtung $6 zusaminenwlrkt, bestehand aus ,je alnem Sternrad STV/ (Eig, 5) für jedeLochreihe der Programmkarte 54. Die Steuerung der Sternradabfühleinrichtung 56 erfolgt über einen Programmschalter 58 (Fig. 5e). GemliQ Pig, 3 ist jedcg Sternrad STW schwenk Dar an dem einen Ende eine? AbtasthebeIs 60 befestigt, an dessen anderem Ende Ki)TitaKfcffdern 62 aniiegön, die beim Einfallen des Sternrades in ein hß$h UQf Progriwnmlcartß 5^ ein Kontaktstück 64

1524U04

berühren und dadurch eine elektrische Verbindung zwischen diesem und.einer AnschluSplatte 66 herstellen. Der der Lochkennzeichnung "12" eier Karte nä^crdnote Abtaatheloei 60 ist gegenüber den anderen um eine halbe Kartenspalte vorher elngestellti der Zweck dieser Maßnahme wird später beschrieben werden. In der Sternradabfühieinrichtung 56 sind weiterhin eine Freigabeschwinge 68 und eine Sternrad-Ausrichtplatte 70 angeordnet.

Gemäß Fig. 1 ist der die Prüfeinrichtung tragende Rahmen 78 an | Trägern 79 befestigt, die in am Gestell 82 befestigten Schwinggummilagern 80 ruhen.

Gemäß Fig. k enthält die^Abtasteinrichtungeine Lichtquelle 72 mit drei optischen Leitungen 73, 74 und 75. Die Lichtquelle 72 ist am Gestell 82 gelagert (Fig. 1), die unteren Enden der optischen Leitungen 73 -75-8lnd an einem im Intereese höchster Lichtintensität verstellbaren Träger 76 befestigt. Im Inneren der optischen Leitungen 73 - 75befinden sich langgestreckte, unzusammenhängend orientierte flexible Glasfasern, die eine verlustarme Weiterleitung des Lichtes auch durch Krümmungen ermöglichen* ■

Die oberen Enden der optischen Leitungen 72 und 7^ sind in zwölf Teile aufgespalten und mit Liohtkanälen 84 ausgerichtet. Diese richten das ankommende Licht auf Abtast- und Prüfphototransistoren VT12_ - VT9 und RT12 - RT9, die quer zur Vorschubrichtung der

\_m 00 9 818/0 71 2

Lochkarten in einer Ebene und in Ausrichtung mit den Lochreihen der Karten angeordnet sind. Die Karten laufen zwischen den Enden der optischen Leitungen 73 und 74 und den Lichtkanälen 84 hindurch. Dabei ist der Durchmesser der Leitungsenden 72 und 74 etwa halb so groß wie die Breite der in der Karte befindlichen Löcher, so daß das zugeführte Licht ungehindert durch ein gestanztes Loch hindurohtreten kann. Zur verlustfreien Übertragung des Lichtes zu den Phototransistoren haben demgegenüber die Lichtkanäle 84 einen größeren Durchmesser.

Das obere Ende der optischen Leitung 75 ist in zwei Teile aufgespalten, die das Licht zur Innenseite des Sonderades 52 .leiten, an dessen Außenseite zwei Phototransistoren T1 und T2 angeordnet sind. Das Senderad 52 besteht aus nichttransparentem Material und weist mehrere kurze Schlitze 88 und einen langen Schlitz 92 zur Lionteteuerung des Phototransifitors T1 sowie einen weiteren langen Schlitz 90 zur Steuerung des Phototransistors T2 auf. Mittels der Schlitze 88, deren Zahl der Anzahl der Spalten einer Lochkarte entspricht, werden Taktsignale erzeugt, während die Schlitze 90 und 92 zur Steuerung weiterer Funktionen der Einrichtung dienen. Das Senderad 52 ist zur Programmtrommel 28 so ausgerichtet, daß die Schlitze88 mit den Spalten in der Programmkarte 54 sowie in den Haupt- und Detailkarten ausgerichtet sind. Die Schlitze 90 und 92 erstrecken sich dagegen von den Spalten 80 1/J5-88 1/4 bzw. 82 1/2 - 88 1/4 der Programm trommel, so ύ.ιΖ durch das Senderad 52 bei der Bewegung der Karten durch die

009818/Ö7T2

unä werden, wife noch beschrieben werden wird»

Die folgende ßesöhreibung der in den J?igk 5a - f dargestellten Schaltung erfolgt anhand von drei Ärbeitsarten, und zwar der Eingabe der Daten» Vergleichen der Haupt- und Detailkarten unter Steuerung der Tastatur und automatischer Vergleich von Haupt- und Detailkarten unter Programmsteuerung. Bei den beiden zuerst genannten Betriebsarten werden die Lochkarten schrittweise fortbewegt, während bei der zuletzt genannten Betriebsart, dem Vergleich von Haupt- und Detailkarten unter Programmsteuerung, die Karten kontinuierlich ,durch die einzelnen Stationen fortbewegt werden. Erläuternd wird bemerkt» daß in den Zeichnungen Relais, die nur einen Kontakt steuern, mit der gleichen Bezugsziffer wie der betreffende Kontakt bezeichnet sind, während bei Relai« mit mehreren Kontakten zusHtzliöhe fortlaufende Ziffern verwendet werden.

Eine durch die Einrichtung transportierte Detialkarte betätigt einen Kartenhebel, der seinerseits ein Kartenhebelrelais CL erregt, dessen Ärbeitskontakte CL1 - CL7 normalerweise offen sind, in den Figuren Jedoch geschlossen dargestellt sind, da das Vorhandensein einer Detailkarte angenommen ist. Die Emitter der PrüfphototransistorenVT12 - VT9 (Pig. 5a) sind untereinander verbunden, und die Kollektoren sind einzeln mit den entsprechen* den Prüfrelais V12 - V9 verbunden« Die Emitter sind über die in Reihe liegenden Kontakte CL2, 101-T, ^8-1 und 120-1 mit der Spannungeleitung A verbunden« Die zwölf Haltekontakte V12-1 - V9~1

«^, 0098 T 8/07 12 _{8A0 OTiaiNAL}

-■".. -, 15244

- 1Θ -■*,,

der Prüf relais, sintt au je einem der P>ürtränsisfcorö"ri VT12 - VT9 parallel geschaltet* Wiihrtiid der Prüfung lültiör Karte ohne !feststellung tiifies Ftihiörö steuert tier Kontakt i-oi«t tieä ,isentier-Relais 1 Öl (I¹Ig* 5c) die Phototransistoren VTtS * Vfy uhü tile Prülrelalö YIi - V9» ist der Konfciikfc 101 *-1 gesehloüBfeiii öq isfe jeder Phototransistor VT Zwischen selrnen Kollektor und Emitter vorgespannt* so daS das du^ch ein abgetastbtieü Luth dringt ntiü k Llüht den efttspreöhenden Transistor wirksam tnadht Mir Errt des zugeordneten HeläiSi Dessen Haltekontakt■ ööhlieüfc soüanh einen Kurzschluöstromkreis für den zugehörigen Phototransj s;tor und ebenso für den-selben einen von der Lichte tcirke unabhängigen Haltestromkrela. Beim darauffolgenden Öffnen dea Senderkontakt.es 101-1 fallen alle Vorher erregt gehaltenen Relais V ab und das Kurzschließen der Prufphototransistoren YT wird aufgehoben, ßs wird also die Eiiipfindliehkeit dei* PrÜiphötötranaiBtoren dazu öönutäfc, du Prüfrelaiö ohm Verfiturkurig unwiuteibar au emetin* und ohne die Notwendigkeit eines Taktimpulses, nHmlich beim öffnen des Kontaktes 1,01-1, fallen die Relais ab.

Entsprechend sind die Abtastrelais R12 - Ry in R^the mit den Kollektoren der Abtasttransistoren RT12 - RT9 geschaltet, deren Emitter über den Kontakt des Hauptkarten-Hebelrelais MGL und über einen der parallel geschalteten Kontakte VD-1 oder AV-I mit den Emittern üör Transistoren VT verbunden sind (Fig»- i>a). Durch einen Hauptkartenhebei» der das Hauptkarten-Hebelrelais MGL erregt» wird die Äbtaötstätion ssum Abtasten einer Hauptkarte vorbereitet» Der Kontakt VÖ-1 wird vom Beiais VD (Fig. ^

betätigt, das seinerseits bei der Betätigung der Taste VER-DUP erregt wird, und der Kontakt AV-1 wird durch die Programmierung eines automatischen.-Prüfrelais AV betätigt (Fig. 5e). Haltekontakte RI2-1 - R9-1 der Abtastreuais R sind parallel zu den Abtasttransistoren RT und in Reihe mit den Abtastrelais R geschaltet und wirken ähnlich wie die Kontakte V12-1 - V9-I, um die Abtastrelais erregt zu halten, so lange das Senderelais 101 erregt ist.

Die Abtastrelais können entweder über die Tastatur oder durch Abtasttransistoren RT betätigt werden. Zu diesem Zweck ist die Tastatur 26 parallel mit den Transistoren verbunden und enthält die notwendigen Sperren/ um ein gleichzeitiges Wirksamwerden beider Einrichtungen zu verhindern. Hierzu ist die Tastatur 26 über die in Reihe liegenden Kontakte CL1/ 102-1 eines Relais 102 und den Kontakt iqj-i eines FehlQr-Schnellrelalg 1OJ mit der Spannungsieitunt; A verbunden, und das Relais 102 bleibt nur so lange erregt, wie solche Funktionen ausgeführt werden, die

nicht die Abtasttransistoren benötigen. Das Relais 10> (Fig. 5e) ' wird Jeweils erregt, wenn während der Sehne11prüfung ein Fehler auftritt. Die Tastatur 26 hat codierte Ausgänge und bewirkt die wahlweise Erregung der Relais R12 - R9, die sodann über ihren Haltekontakt erregt gehalten bleiben.

Wie aus Fig. 5b ersichtlich, steuert jedes der Abtast- und Prüfrelais einen Satz Rühe- bzw. Arbeitskontakte R12-2, R12-2 VI2-2, VI2.-3 usw., die in Reihenparallelschaltung angeordnet

: 009818/0712

sind und eine Prüfschaltung bilden, durch die die Gegenwicklung BC eines Prüfrelais TR und ein OK-Relais erregt werden, wenn Übereinstimmung bei den geprüften Daten festgestellt wird; bei Nicht-Übereinstimmung hingegen wird die Erregung der genannten Relais verhindert. Die Prüfschaltung enthält zwölf den Kartenreihen 1.2-9 entsprechende, in Reihe geschaltete Kontaktgruppen, in denen die normalerweise offenen Kontakte der Abtast- und PrUfrelais in Reihe miteinander und parallel mit den in Reihe ^ liegenden normalerweise geschlossenen Kontakten verbunden sind* Es liegt beispielsweise der Kontakt R12-2 in Reihe mit V12-2, der Kontakt R12-^ in Reihe mit VI2-3, und die Kontakte RI2-2 und. V12-2 sind parallel zu den Kontakten R1.2-3.und V12-2 geschaltet. Um daher durch die Prüfschaltung VN einen Stromdurchgang zu erhalten, müssen die Relais V und R jeweils im gleichen Zustand, also entweder beide erregt oder beide stromlos sein. . Das Prüfrelais TR hat außerdem eine zur. Spulo IiC entgegenjcüetzt gewickelte Spule TC, so daß sich bei Erregung beider Wicklungen ihre Wirkungen gegenseitig aufheben und das Relais TR nicht an-' spricht, während bei der Erregung der -Wicklung TC allein das Relais TR anspricht. Die Prüfwicklung TC liegt parallel zur Kombination der Kontakte der Netzschaltung VN mit dem Kontakt TR-1 und der Parallelanordnung der Wicklung. DC und des Relais OK; dieser Parallelstromkreis 1st in Reihe mit dem Kontakt eines Verzögerungsrelais 104 (Fig. 5c) geschaltet, das die Arbeit der Prüfeohaltung VN steuert*

009818/0712

Der Kontakt QK1 des Relais OK liegt parallel zur Prüfschaltung VN. Wenn das Verzögerungsrelais 104 abfällt, wird in Abhängigkeit von der Übereinstimmung der Daten entweder das Relais OK erregt und Über seinen Kontakt OKI erregt gehalten, oder es wird das Relais TR erregt. Spricht das Relais OK an, so werden die Karten weiter vorgerückt, während bei der Erregung des Relais TR der Kartentransport verhindert und ein Fehlerarbeitstakt eingeleitet wird.

Das Verzögerungsrelais 104 wird von einem Reihenfolge-Startrelais 105 gesteuert, dessen Kontakt 105-I (Fig. 5c) in Reihe mit der Erregungs- und Halte-Wicklung des Verzögerungsrelais 104 liegt. Eine Drosselspule 107 ist in Reihe mit dem Verzögerungsrelais 104 geschaltet, und ein Widerstand .10.6 und* ein Kondensator 108 parallel zum Relais 104, so daß eine Zeitverzögerung von etwa 2 Millisekunden erzielt wird, wenn sich der Kontakt 105-I öffnet und bevor das Verzögerungsrelais 104 abfällt; auf diese Weise wird ein prallfreies Schließen der Prüf- und Abtastrelaiskontakte erreioht, bevor das Verzögerungsrelais 104 abfällt. Der Kontakt des Relais 104 (Fig. 5b) ist über den Kontakt des Fehler-RUckstellrelais 112, die Senderkontakte 101-2 und 98-2 sowie über den Kontakt CLjJ mit der Spannungsleitung A verbunden. Das Reihenfolge-Startrelais 105 leitet den Vorgang der ersten Datenprüfung ein und ermöglicht bei Übereinstimmung das VorrUoken der Karte mittels der Transporteinrichtung zur nachaten Spalte. Es erfolgt also zunäohat die Prüfung und erst dann das VorrUoken der Kart·, wodurch wesentliche Zelt eingespart wird*

'-,.....■■■'■■ ■ 8AD ORIGINAL

"■'.'* ^? ''■■*■- 009818/0712

Boi der Eingabe von Daten über die Tastatur 26 wird das Reihen- _y. folge-Startrelais 105-durch den Kontakt 102-2 des Fuldrelais. 102 und durch den Kontakt des Schriftzeichenrelais 111 gesteuert. Letzteres liegt, wie aus Fig. 5d ersichtlich, in Reihe mit den Ruhekontakten R12-4 - R9-4 der Abtastrelais R, Bis zum Eintasten der Daten ist daher das Relais 111 erregt und sein Ruhekontakt ist geöffnet. Wie erwähnt, wird das Feldrelais 102 während des Eintastens erregt, so daß der In Reihe mit dem Kontakt des RiLaIs 111 liegende Kontakt 102-2 geschlossen ist. Beim Drücken einer Taste zur Erregung eines der Abtastx*elais R fällt daher das Schriftzeichenrelais 111 ab und schließt seinen Kontakt, so daß das Reihenfolge-Startrelais 105 anspricht, was über dessen Kontakt 105-2 aufrechterhalten wird, der in Relho mit dem Kontakt eines Wertzifferrelais 114 geschaltet ist. Das Reihenfolge-Startrelais 105 fällt ab, sobald der Senderkontakt 101-2 geöffnet wird. Das Relais T05 kann auah über die Kontakte VD2 oder AV2 erregt werden, die beim Drücken der Taste VER-DUP bzw. bei programmierter Sciinellprüfung geschlossen werden (Flg. 5b).

Die¹Taste VER-DUP (Fig. 5b) ist über die Kontakte 98-2 und CL} mit der Spannungsleitung A verbunden und liegt in Reihe mit dem Sperr-Relaisköntakt 116, dem Senderkontakt 101-JJ, dem Fehler-Eins-Relaiskontakt 120-1 und mit der Erregerwicklung des.-VER-DUP.t« Relais VD. Das erregte Relais VD wird über seinen Haltekontakt VDJ5 und über den Kontakt des FehlerrUokstellrelais 112 sowie den Senderkontakt 101-2 erregt gehalten» wodurch das Relais VD generell duroh das Senderrelais TOl gesteuert wird. Bei längerem

DrUcken der VER-DUP-Taste,. und der dabei bestehenden Abhängigkeit des Relais VD vom Sanderrelais 101 stellt der Kontakt VD2 das Reihenfolge-Startrelais 105 unter die Steuerung des Senderrelais 101, so daß die Prüfung einer Detailkarte bis zu ihrem Ende oder bis zum Auftreten eines Fehlers bzw. bis zum Loslassen der Taste fortgesetzt wird*

Wie aus Fig. 5c ersichtlich, wird der Schaltmagnet 38 vom Schaltrelaiskontakt 123-I und vom .Kerbungskantakt 122-1 gesteuert. Das Schaltrelais 12^ ist in Reihe mit dem Kerbungssperr-Relalskontakt 125 Und dem Kontakt CK-2 sowie dem Kontakt 122-1 an die SpanrKingsleitung A angesc'vlossen» Sobald daher das Relais OK als -"Ergebnis der Übereinstimmung- erregt wird, spricht das Schaltrelais 123 ^n und schließt den Kontakt -123-Γ und dadurch den Erregungsstromkreis für den Schaltma^neten 38, so daß die Karte um eine Spalte vorgerückt wird«. WKh'->-ii'id dessen jällt das Senderrelais 101 und daiurch auch das Relais CK ab, so daß sich der Kontakt 0K2 öffnet uri das Schaltrelaic- J2J und der Schaltsia^net 38 stromlos werden. Dadurch gelangt die Schaltklinke hinter den nächsten'Schaltzaun und begrenzt das Vorrücken der Karte auf eine Spalte. Der Kontakt 0K2 ist parallel sum' Kontakt 118-2 des Sprungrelais 118 gelebt« Wärend^:der automatischen Sprungvorgänge wird das Schaltrelais 123 ununterbrochen erregtjUnd bewirkt die kontinuierliche Fortbewegung der:Kartendirch öle Abtast- und Prüfstation»

Gemäß Fig. 5c «'tuern die Phototransistoren T1 und T2 ein Seridor-Abtaeferflilaiß 127* -and ein PCC-I -Abtastrelals 129, so daß beim

_s . -00-9 8 1-8/07 1-2 ■■,. 6AuOFUOIMAf

Anschalten eines der Transistoren durch das von der optischen Leitung 75 austretende Licht das zugeordnete Relais anspricht. Die Kontakte des Sender-Abtastrelais 127 steuern das Senderrelais 101. Der Kontakt des ECC-1-Abtastrelais 129 steuert das PCC-1-Relais 98 und das PCC-2-Relais 13Q, welch letzteres durch den Kontakt 101-4 zum Relais 98 parallel geschaltet und mit dem Kontakt des Relais 129 verbunden 1st. Die Relais 98 und I30 steuern den Kartenabstand in bekannter Weise.

Bei Betätigung der Tastatur 26 kann Jeweils nur eine Taste gedrückt werden. Dabei werden sämtliche anderen Tasten blockiert, bis durch den in Fig. 5d gezeigten Tastatur-RÜckstellmagneten 132 die Rückstellung durchgeführt ist. Diese Magnete werden durch die Rücksteli-Relaiskontakte .132-1. und 123-2 gesteuert. Das Rückstellrelais 133 spricht beim Schließen des Kontaktes 0K3 an und wird auch über die Kontakte CL7, 102-1 und 12.0-4. gesteuert, von denen der Kontakt 102-1 des Feldrelais 102 geschlossen ist, wenn ein anderer Vorgang als Dateneingabe abläuft, wie z.B. automatisches Springen, automatisches Prüfen und PrUfduplizleren.

Beim Ansprechen des PrUfrelals TR unter der Steuerung der Tastatur leitet dieses ein Fehlerprogramm ein, das die Möglichkeit bietet, die Ursache des Fehlers dreimal zu prüfen. Nach der dritten Prüfung wird die Kante der Karte am oberen Rand der fehlerhaft gelochten Spalte gekerbt und die Karte weitergerückt.

009818/07 12

Bei programmgesteuerter automatischer Sohne11prüfung wird zur Vorbereitung der Programmfunktionen der Programmschalter 58 (Fig. 5e) eingeschaltet, und nach dem Einlegen einer Hauptkarte werden die Schalter AUTO-VER und AUTO-SKIP ebenfalls in ihre EIN-Stellung bewegt. Der Vorgang beginnt in der gewünschten Spalte einer Detailkarte durch Abtastung der '¹¹O"- und ">"-Löcher in der entsprechenden Spalte der Programmkarte 54; durch "12"-Löcher in den folgenden Spalten der Programmkarte wird diese Funktion aufrechterhalten. Die Sternradkontakte sind über den ä Programmschalter 5.8 und die Kontakte CIA, 103-3 und 98-3 mit der Spannungsleitung A verbunden/Kurz vor dem Ansprechen des Senderrelais 101 schließen die Sternradkontakte STW3 und STWO, worauf die Relais 135 und 134 ansprechen und einen Erregungsstromkreis für das AUTO-Sprungrelais II8 errichten, so daß dieses beim Ansprechen des Senderrelais 101 erregt wird. Der Kontakt STWQ bereitet auch einen Erregungsstromkreis für das Relais AV vor. ,

Beim Ansprechen des Senderrelais 101 wird das Relais AV durch den vorbereiteten Stromkreis erregt/ der vom Kontakt STWO über die Relaiskontakte 137-1, 101-5 und 120-2 verläuft, und das AUTO-Sprungrelais II8 wird durch einen Stromkreis erregt, der über die Relaiskontakte CIA, 101-6, die Kontakte der Relais und 135, den AUTO-SKIP-Schalter und die Relaiekontakte 137-2» 101-7 und 120-3 verläuft. Die Erregung der Relais 118 und AV wird durch den Haltestromkreis über ihre Haltekontakte 118-3 · und AV-3 sowie über den Sternradkontakt STW1.2 aufrecht erhalten.

009818/0712

Rückt die Programmkarte aus der Startspalte des Kartenfeldes vor, so schließt der Kontakt .STW12 vor dem öffnen der Kontakte STW3 und STWO, um die Relais 118 und AV nach der Unterbrechung ihrer Erregungsstromkreise bis zum Ende des F_eldes oder bis zum Auftreten eines Fehlers erregt: zu halten.

Der Kontakt 118-2 (Fig. 5c) schließt sich bei Erregung des Relais 118, erregt den Schaltmagnet jj8 und löst daduroh die Schaltklinke 36 aus, woduroh der kontinuierliche Kartenvorschub freigegeben wird. Währenddessen erregt das Senderad 52 das Senderrelais 101, das durch seinen Kontakt 101-2 (Flg. 5b) den Erregungsstromkreis für das Reihenfolge-Startrelais 105 über den Kontakt AV2 taktweise schließt, um Jede Spalte in der vorher beschriebenen Weise zu prüfen, bis das Ende des Kartenfeldes erreicht oder ein Fehler festgestellt ist. Sollte das PrUfr.elaia TR zur Anzeige eines Fehlers ansprechen, so wird die Detailkarte in der Spalte angehalten, die der Spalte mit dem festgestellten Fehler folgt. Dies wird mit Hilfe der in der Fig. 5e gezeigten Schaltungsmittel erreicht. Der bei Erregung des Prüfrelais TR geschlossene Kontakt TR2 vervollständigt den Erregungsstromkreis für das Fehlerfeststellrelais IAi;über die Kontakte CLÖ und 101-8, und gleichzeitig errichtet der Kontakt TR-2 den Stromkreis über den jetzt geschlossenen AUTQ-Sprungkontakt118-1 und über den normalerweise geschlossenen Fehlerkontakt 142-2 zum Fehlersohnellrelaie 10>, dessen Erregung dann über den eigenen Kontakt 1OJ5-4 und den Kontakt CL5 aufrecht erhalten wird. Wie aus Fig» 5f ersichtlich, schaltet der bei der Erregung des Fehlersohnellrelaie .103

009818/0712

.V₉. ■ 152Λ40Λ

gosohloöeene Kontakt 102-5 eine Signallampe i4> ein, die einen Schnellprüffehler anzeigt. Mit bekannten Mitteln kann nun die Karte in der fehlerhaft gelochten Spalte gekerbt oder ohne Kerbe aus der Einrichtung herausgenommen werden. - '

Im Zeitdiagramm gemäß Fig. 6 sind die Zähne des Schaltrades >4 als Grundteilung verwendet, .und die Zahnteilung ist in zwölf gleich große Einheiten unterteilt. Rückt das Schaltrad J4 um* 80 Spalten pro Sekunde vor, so bedeutet Jede Einheit eine Zeit- λ spanne von etwa einer Millisekunde. Die Schaltklinke 36 wirkt mit den Zahnflächen 34a - 3^c zusammen und in ihrer unwirksamen Lage bewegen sich die Zähne in Richtung des Pfeiles, nämlich in Flg. 6 von rechts nach links. Die vertikale, gestrichelte, mit der Zahnflache 24b fluchtende Linie ist relativ zu allen in den ausgerichteten Spalten der Haupt-, Detail- und Programmkarten gestanzten Löchern zentrisch gedacht.

Anhand der Fig. 5e und 6 ist ersichtlich, daß beim Vorrücken einer Detailkarte und bei Bewegung der ersten Spalte im programmierten Kartenfeld gegen die Prüflinie die Kontakte STWO und STWJ etwa 5 Millisekunden früher schließen, bevor die Spalte hinsichtlich der Prüflinie zentriert ist; dann spricht das Senderrelais 101 an, wordurch das Relais 118 das Ausheben der Schaltklinke 36 bewirkt und dadurch das Schaltrad 34 frei gibt. Die Erregung des Relais 101 bewirkt das Ansprechen des Reihenfolge-Startrelais 105 zur Einleitung des Abschaltes des Verzögerungsrelais 104, das abfällt, sobald die Löcher in der

0098 18/07 12

Prüflinie zentriert sind» Zu diesem Zeitpunkt schließt der Kontakt STW12. wodurch das Schließen der Kontakte STWO und STWjJ überlappt wird und die Relais AV und 118 Über das ganze Kartenfeld erregt gehalten werden. Der Senderkontakt 101-6 ist über die Leitung 1jj8 parallel zum Kontakt STW12 geschaltet, so daß der Senderkontakt so lange geschlossen ist« wie sich das Zwölf-Sternrad zum Kartenloch bewegt, wodurch ein evtl. Prellen des Kontaktes STV/12 in dieser Zeit kein Abfallen der erregt gehaltenen Relais bewirken kann.

In Flg. 5 ist auch die erwähnte Sperre der Tastatur 26 gezeigt. Das Relais 102 ist über die in Reihe geschalteten Ruhekontakte VD4, AV4 und 118-4 mit der Spannungsleitung A verbunden, so daß bei Erregung der Relais VD, AV oder 11-8 das Relais 102 abfällt.

009818/0712

Claims

■. ili Patentansprüche

1. Prüfeinrichtung für Lochkarten, unter Steuerung durch eine spaltenweise synchron abtastbare Programmtrommel bzw. Über eine Tastatur und mit optischer Abtastung der in den Lochkarten enthaltenen Daten, dadurch gekennzeichnet» daß sowohl in der Abtaststation (22) als auch in der PrUfstation (20) Jeder Lochreihe- der Lochkarte ein beim Auftreten einer Lochung über eine an sich bekannte, an eine einzige Lichtquelle (72) angeschlossene und am entgegengesetzten Ende in eine entsprechende Anzahl Einzelleitungen verzweigte optische Leitung (73* 74) belichtbares photoelektrisches Element (RT12 RT9, VTI2 - VT9) zur Steuerung der zugehörigen Schaltelemente zugeordnet ist und daß ein weiterer Zweig (75) der optischen Leitung zum Zusammenwirken mit einem synchron mit der Programmkarte (54) und dem Vorschub (20, 42, 44, 46) der zur prüfen- i den Lochkarten umlaufenden, mit Schlitzen (88, 90, 92) versehenen Senderad (52) und zugehörigen photoelektrischen Elementen (T1, T2) zur Taktsteuerung und Rückstellung der wirksamen Schaltelemente angeordnet ist.

2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (72) und die ihr zugekehrten Enden der optischen . Leitungen (72# 74/ 75) in einem von den Schwingungen der

BAD 009818/0712

Maschine Isolierten Gestell (82) angeordnet sind.

3· Einrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Leitung (72 - 75) von einer die Wärmeabstrahlung der Lichtquelle (72) im wesentlichen nicht übertragenden Länge ist»

4. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die photoelektrischen Elemente als Phototransistoren (RT, VT, Tt,

T2) ausgebildet sind.

5. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
zwischen der Loohkarte und den Photοtransistoren in der Abtaststation (22) und in der Prüfstation (20) im Strahlengang des durch dl« Loohungen durehtretenden Lichte Lichtkanäle
(§4)

00 9 8 1 8/0712