AT261272B - Prüfeinrichtung für Lochkarten - Google Patents

Prüfeinrichtung für Lochkarten

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AT261272B
AT261272B AT536466A AT536466A AT261272B AT 261272 B AT261272 B AT 261272B AT 536466 A AT536466 A AT 536466A AT 536466 A AT536466 A AT 536466A AT 261272 B AT261272 B AT 261272B
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Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Prüfeinrichtung für Lochkarten 
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 jedoch ist ihr Einsatz in Verbindung mit den übrigen Merkmalen der Erfindung von besonderem Vorteil. Weiterhin ist in der USA-Patentschrift   Nr. 2, 921, 736 die Kombination   eines optischen Abtastsystems und eines Senderades zur Abgabe von Taktimpulsen in der Anwendung für Lochkartenmaschinen beschrieben. Die Erfindung stellt jedoch demgegenüber eine äusserst vorteilhafte Kombination jener Elemente dar, deren Zusammenwirken ausserordentlich schnell ablaufende Prüfvorgänge bei kontinuierlich bewegtem Aufzeichnungsträger ermöglicht. 



   Gemäss einer besonders vorteilhaften Massnahme sind die Lichtquelle und die ihr zugeordneten Enden der optischen Leitungen in einem von den Schwingungen der Maschine isolierten Gestell angeordnet. Dadurch erhalten die optischen Leitungen von selbst eine Länge, die eine Übertragung der Wärmeabstrahlung der Lichtquelle zu den photoelektrischen Elementen verhindert. Eine besonders vorteilhafte Ausführungsform der Erfindung besteht darin, dass die photoelektrischen Elemente als Phototransistoren ausgebildet sind. 



   Die Erfindung wird im folgenden an Hand der Zeichnungen in einem Ausführungsbeispiel erläutert. 



  Es zeigen : Fig. l die Vorderansicht   einer Lochkartenprüfmaschine, Fig. 2   die Lochkartentransporteinrichtung der Maschine gemäss   Fig. l   in ihren wesentlichen Teilen, Fig. 3 einen Schnitt durch einen Teil der Programmtrommel und die Sternradabfühleinrichtung, Fig. 4 eine schematische Darstellung der optischen Abfühlung in der Prüfstation und der Abtaststation, Fig. 5a-5f das Schaltbild einer Prüfeinrichtung für eine Lochkartenprüfmaschine und Fig. 6 ein Zeitdiagramm für bestimmte Teile der Prüfeinrichtung. 



   Die in Fig. 1 dargestellte Kartenprüfmaschine enthält ein Kartenmagazin 16, aus dem die Karten einzeln entnommen und über eine Transportbahn 18 durch eine Prüfstation 20 und eine Ab- 
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 ger 76 befestigt. Im Inneren der optischen Leitungen 73-75 befinden sich langgestreckte, unzusammenhängend orientierte flexible Glasfasern, die eine verlustarme Weiterleitung des Lichtes auch durch Krümmungen ermöglichen. 



   Die oberen Enden der optischen Leitungen 73 und 74 sind in zwölf Teile aufgespalten und mit 
 EMI3.1 
 und in Ausrichtung mit den Lochreihen der Karten angeordnet sind. Die Karten laufen zwischen den Enden der optischen Leitungen 73 und 74 und den Lichtkanälen 84 hindurch. Dabei ist der Durchmesser der Leitungsenden 73 und 74 etwa halb so gross wie die Breite der in der Karte befindlichen Löcher, so dass das zugeführte Licht ungehindert durch ein gestanztes Loch hindurchtreten kann. Zur verlustfreien Übertragung des Lichtes zu den Phototransistoren haben demgegenüber die Lichtkanäle 84 einen grösseren Durchmesser. 



   Das obere Ende der optischen Leitung 75 ist in zwei Teile aufgespalten, die das Licht zur Innenseite des Senderades 52 leiten, an dessen Aussenseite zwei Phototransistoren Tl und T2 angeordnet sind. Das Senderad 52 besteht aus nichttransparentem Material und weist mehrere kurze Schlitze 88 und einen langen Schlitz 92 zur Lichtsteuerung des Phototransistors Tl sowie einen weiteren langen Schlitz 90 zur Steuerung des Phototransistors T2 auf. Mittels der Schlitze 88, deren Zahl der Anzahl der Spalten einer Lochkarte entspricht, werden Taktsignale erzeugt, während die Schlitze 90 und 92 zur Steuerung weiterer Funktionen der Einrichtung dienen. Das Senderad 52 ist zur Programmtrommel 28 so ausgerichtet, dass die Schlitze 88 mit den Spalten in der Programmkarte 54 sowie in den Haupt- und Detailkarten ausgerichtet sind.

   Die Schlitze 90 und 92 erstrecken sich dagegen von den Spalten 80 1/3 - 88 1/4 bzw.   821/2     - 88   1/4 der Programmtrommel, so dass durch das Senderad 52 bei der Bewegung der Karten durch die Einrichtung entsprechende Taktimpulse und Steuerimpulse abgegeben werden, wie noch beschrieben werden wird. 



   Die folgende Beschreibung der in den Fig. 5a-f dargestellten Schaltung erfolgt an Hand von drei Arbeitsarten, u. zw. der Eingabe der Daten, Vergleichen der Haupt-und Detailkarten unter Steuerung der Tastatur und automatischer Vergleich von Haupt- und Detailkarten unter Programmsteuerung. Bei den beiden zuerst genannten Betriebsarten werden die Lochkarten schrittweise fortbewegt, während bei der zuletzt genannten Betriebsart, dem Vergleich von Haupt- und Detailkarten unter Programmsteuerung, die Karten kontinuierlich durch die einzelnen Stationen fortbewegt werden.

   Erläuternd wird bemerkt, dass in den Zeichnungen Relais, die nur einen Kontakt steuern, mit der gleichen Bezugsziffer wie der 
 EMI3.2 
 

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 EMI4.1 
 

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 Taste zur Erregung eines der Abtastrelais R fällt daher das Schriftzeichenrelais 111 ab und schliesst seinen Kontakt, so dass das Reihenfolge-Startrelais 105 anspricht, was über dessen Kontakt 105-2 aufrecht erhalten wird, der in Reihe mit dem Kontakt eines Wertzifferrelais 114 geschaltet ist. Das Reihenfolge-Startrelais 105 fällt ab, sobald der Senderkontakt 101-2 geöffnet wird. Das Relais   105   kann auch über die Kontakte VD2 oder AV2 erregt werden, die beim Drücken der Taste VER-DUP bzw. bei programmierter Schnellprüfung geschlossen werden (Fig. 5b). 



   Die Taste VER-DUP (Fig. 5b) ist über die Kontakte   98-2 und CL3   mit der Spannungsleitung A verbunden und liegt in Reihe mit dem Sperr-Relaiskontakt 116, dem Senderkontakt 101-3, dem 
 EMI5.1 
 lais 112 sowie der Senderkontakt 101-2 erregt gehalten, wodurch das Relais VD generell durch das Senderrelais 101 gesteuert   wird. Bei längerem Drücken der VER-DUP-Taste und der dabei beste-   henden Abhängigkeit des Relais VD   vom Senderrelais   101 stellt der Kontakt VD2 das Reihenfolge-Startrelais 105 unter die Steuerung des Senderrelais 101, so dass die Prüfung einer Detailkarte bis zu ihrem Ende oder bis zum Auftreten eines Fehlers bzw. bis zum Loslassen der Taste fortgesetzt wird. 



   Wie aus Fig. 5c ersichtlich, wird der Schaltmagnet 38   vom Schaltrelaiskontakt 123-1   und vom Kerbungskontakt 122-1 gesteuert. Das Schaltrelais 123 ist in Reihe mit dem KerbungssperrRelaiskontakt 125 und dem Kontakt OK-2 sowie dem Kontakt 122-1 an die Spannungsleitung A angeschlossen. Sobald daher das Relais OK als Ergebnis der Übereinstimmung erregt wird, spricht das Schaltrelais 123 an und schliesst den Kontakt 123-1 und dadurch den Erregungsstromkreis für den Schaltmagneten 38, so dass die Karte um eine Spalte vorgerückt wird. Während dessen fällt das Senderrelais 101 und dadurch auch das Relais OK ab, so dass sich der Kontakt OK2 öffnet und das Schaltrelais 123 und der Schaltmagnet 38 stromlos werden. Dadurch gelangt die Schaltklinke   hinter den nächsten Schaltzahn und begrenzt   das Vorrücken der Karte auf eine Spalte.

   Der Kontakt OK2 ist parallel zum Kontakt 118-2 des Sprungrelais 118 gelegt. Während der automatischen Sprungvorgänge wird das Schaltrelais 123 ununterbrochen erregt und bewirkt die kontinuierliche Fortbewegung der Karten durch die Abtast- und Prüfstation. 



   Gemäss Fig. 5c steuern die Phototransistoren   Tl   und T2 ein Sender-Abtastrelais 127 und ein 
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 Leitung 75 austretende Licht das zugeordnete Relais anspricht. Die Kontakte des Sender-Abtastrelais 127 steuern das Senderrelais 101. Der Kontakt des   ECC-1-Abtastrelais   129 steuert das PCC-1-Relais 98 und das PCC-2-Relais 130, welch letzteres durch den Kontakt 101-4 zum Relais 98 parallelgeschaltet und mit dem Kontakt des Relais 129 verbunden ist. Die Relais 98 und 130 steuern den Kartenabstand in bekannter Weise. 



   Bei Betätigung der Tastatur 26 kann jeweils nur eine Taste gedrückt werden. Dabei werden 
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 reitet auch einen Erregungsstromkreis für das Relais AV vor. 



   Beim Ansprechen des Senderrelais 101 wird das Relais AV durch den vorbereiteten Stromkreis erregt, der   vom Kontakt STWO   über die Relaiskontakte 137-1,101-5 und 120-2 verläuft, und das AUTO-Sprungrelais 118 wird durch einen Stromkreis erregt, der über die Relaiskontakte CL4, 101-6, die Kontakte der Relais 134 und 135, den AUTO-SKIP-Schalter und die Relaiskontakte 137-2, 101-7 und 120-3 verläuft. Die Erregung der Relais 118 und AV wird durch den Haltestromkreis über ihre Haltekontakte   118-3 und AV-3 sowie über den Sternradkontakt   STW12 aufrecht erhalten.

   Rückt die Programmkarte aus der Startspalte des Kartenfeldes vor, so schliesst der Kontakt STW12 vor dem Öffnen der Kontakte STW3 und STWO, um die Relais 118 und AV nach der Unterbrechung ihrer Erregungsstromkreise bis zum Ende des Feldes oder bis zum Auftreten eines Fehlers erregt zu halten. 



   Der Kontakt 118-2   (Fig. 5c) schliesst sich bei Erregung des Relais   118, erregt den Schaltmagnet 38 und löst dadurch die Schaltklinke 36 aus, wodurch der kontinuierliche Kartenvorschub freigegeben wird. Während dessen erregt das Senderad 52 das Senderrelais 101, das durch seinen Kontakt 101-2   (Fig. 5b) den Erregungsstromkreis für das Reihenfolge-Staltrelais 105   über den Kontakt AV2 taktweise schliesst, um jede Spalte in der vorher beschriebenen Weise zu prüfen, bis das Ende des Kartenfeldes erreicht oder ein Fehler festgestellt ist. Sollte das Prüfrelais TR zur Anzeige eines Fehlers ansprechen, so wird die Detailkarte in der Spalte angehalten, die der Spalte mit dem festgestellten Fehler folgt. Dies wird mit Hilfe der in der Fig. 5e gezeigten Schaltungsmittel erreicht.

   Der bei Erregung des Prüfrelais TR geschlossene Kontakt TR2 vervollständigt den Erregungsstromkreis für das Fehlerfeststellrelais 141 über die Kontakte CL6 und 101-8, und gleichzeitig errichtet der Kontakt TR-2 den Stromkreis über den jetzt geschlossenen AUTO-Sprungkontakt 118-1 und über den normalerweise geschlossenen Fehlerkontakt 142-2 zum Fehlerschnellrelais 103, dessen Erregung dann über den eigenen Kontakt 103-4 und den Kontakt CL5 aufrecht erhalten wird. Wie aus Fig. 5f ersichtlich, schaltet der bei der Erregung des Fehlerschnellrelais 103 geschlossene Kontakt 103-5 eine Signallampe 143 ein, die einen Schnellprüffehler anzeigt. Mit bekannten Mitteln kann nun die Karte in der fehlerhaft gelochten Spalte gekerbt oder ohne Kerbe aus der Einrichtung herausgenommen werden. 
 EMI6.1 
 

**WARNUNG** Ende DESC Feld kannt Anfang CLMS uberlappen**.

Claims (1)

  1. <Desc/Clms Page number 7> an eine einzige Lichtquelle (72) angeschlossene und am entgegengesetzten Ende in eine entsprechende Anzahl Einzelleitungen verzweigte optische Leitung (73, 74) belichtbares photoelektrisches Element (RT12-RT9, VT12-VT9) zur Steuerung der zugehörigen Schaltelemente zugeordnet ist und dass ein weiterer Zweig (75) der optischen Leitung zum Zusammenwirken mit einem synchron mit der Programmkarte (54) und dem Vorschub (30, 42, 44, 46) der zu prüfenden Lochkarten umlaufenden, mit Schlitzen (88, 90, 92) versehenen Senderad (52) und zugehörigen photoelektrischen Elementen (Tl, T2) zur Taktsteuerung und Rückstellung der wirksamen Schaltelemente angeordnet ist.
    2. Einrichtung nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (72) und die ihr zugekehrten Enden der optischen Leitungen (73,74, 75) in einem von den Schwingungen der Maschine isolierten Gestell (82) angeordnet sind.
    3. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Leitung (73-75) von einer die Wärmeabstrahlung der Lichtquelle (72) im wesentlichen nicht übertragenden Länge ist.
    4. Einrichtung nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass die photoelektrischen Elemente als Phototransistoren (RT, VT, Tl, T2) ausgebildet sind.
    5. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der Lochkarte und den Phototransistoren in der Abtaststation (22) und in der Prüfstation (20) im Strahlengang des durch die Lochungen durchtretenden Lichts Lichtkanäle (84) angeordnet sind.
AT536466A 1965-06-21 1966-06-06 Prüfeinrichtung für Lochkarten AT261272B (de)

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