DE1269178B - Verfahren zur Fehlerpruefung an Informationsspeichern und Einrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens - Google Patents

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND

DEUTSCHES

PATENTAMT

AUSLEGESCHRIFT

Int. α.:

GlIc

Deutsche Kl.: 21 al -37/00

Nummer:
Aktenzeichen:
Anmeldetag:
Auslegetag:

1 269 178
P 12 69 178.0-53
26. Oktober 1955
30. Mai 1968

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fehlerprüfung an Informationsspeichern, an denen durch parallelgeschaltete Eingangs-Ausgangs-Leitungen binär codierte, parallel dargestellte Informationszeichen ein- und ausgegeben werden, und eine Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens.

Für Einrichtungen der elektronischen Datenverarbeitung ist es von großer Bedeutung, daß die in der Einrichtung vorhandenen Informationsspeicher betriebssicher arbeiten, d. h., es ist notwendig, daß sämtliche Informationsteile, die dem Speicher zugeführt wurden, auch in der richtigen Wertigkeit wieder an diesem abgetastet werden. Bei einem fehlerhaften Betrieb des Speichers, der z. B. durch das Versagen des Aufzeichnungsmediums oder der Mittel zur Aufzeichnung und Abtastung der Informationen hervorgerufen sein kann, besteht die Möglichkeit, daß durch die Datenverarbeitung falsche Zahlenwerte ausgewertet werden.

Das oben bezeichnete Verfahren zur Fehlerprüfung an Informationsspeichern ergibt sich gemäß der Erfindung dadurch, daß bei der Informationseingabe einer Gruppe von Informationszeichen in jeder Eingangs-Ausgangs-Leitung serienweise übertragene Informationsbits in einem ersten Zählumlauf durch eine mit jeder Eingangs-Ausgangs-Leitung verbundene Modulo-2-Prüfschaltung gezählt werden, und daß während einer Prüfabtastung des Informationsspeichers die durch Informationsausgabe der Gruppe von Informationszeichen in jeder Eingangs-Ausgangs-Leitung serienweise übertragenen Informationsbits in einem zweiten Zählumlauf durch die Modulo-2-Prüfschaltung gezählt werden, und daß eine jeder Eingangs-Ausgangs-Leitung zugeordnete Lampe den Verlust eines Informationsbits anzeigt, wenn nach der Prüfabtastung die Modulo-2-Prüfschaltung die Ausgangsstellung nicht erreicht.

Dieses Verfahren zur Fehlerprüfung hat den Vorteil, daß nach der Einspeicherung einer Gruppe von Informationswörtern die Fehlerprüfung zu einem beliebigen Zeitpunkt vorgenommen werden kann, z. B. dann, wenn das Bedienungspersonal eine solche Prüfung für notwendig hält.

Das beanspruchte Verfahren und ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vorrichtung werden an Hand der Abbildung näher erläutert.

Der in der Abbildung dargestellte Informationsspeicher D 375 besteht aus einer Anzahl von Elektrodenstrahlröhren, an deren Schinnelektroden die Informationsbits elektrostatisch gespeichert werden. Der Speicher ist mit Eingangs-Ausgangs-Leitungen DLl bis DLn verbunden, von denen jede im Spei-Verfahren zur Fehlerprüfung an
Informationsspeichern und Einrichtung zur
Durchführung des Verfahrens

Anmelder:

IBM Deutschland Internationale
Büro-Maschinen Gesellschaft m. b. H.,
7032 Sindelfingen, Tübinger Allee 49

Als Erfinder benannt: '

Williams James Deerhake, Dumont, N. J.;

Charles Robert Borders, Alpine, N. J. (V. St. A.)

Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 27. Oktober 1954
(465 076)

eher mindestens einer Elektronenstrahlröhre zugeordnet ist. Für das beschriebene Ausführungsbeispiel

as werden für die Eingangs-Ausgangs-LeitungenDLl bis DLn 66 Übertragungsleitungen verwendet, die dazu dienen, die Informationsbits der Informationszeichen zu und von dem Speicher zu übertragen. Auf 64 Eingangs-Ausgabe-Leitungen des Systems werden 16 binär-dezimal-codierte Informationszeichen, die ein Informationswort bilden, in den Speicher gleichzeitig ein- oder ausgegeben. Jedes Informationszeichen besteht somit aus 4 Bits. Das Informationswort wird ergänzt durch zwei Prüfbits, die über die

65. und 66. Leitung übertragen werden. In der Abbildung sind nur die Übertragungsleitungen DLl, DL2, DL3 ..., die dem ersten Informationszeichen entsprechen, die Leitungen von zwei Informationsbits, die dem 16. Infonnationszeichen und die Lei- tungen DL η — 1, DLn, die den gleichen Prüfbits zugeordnet sind, dargestellt.

Im Speicher D 375 können die Informationswörter serienweise gespeichert werden. Im Speicher ist jeder Übertragungsleitung eine Gruppe von vier Kathoden-Strahlrohren zugeordnet, von denen jede 500 Speicherplätze aufweist. Es können also nacheinander 4 · 500 = 2000 Speicherplätze der Nummernfolge 0 bis 1999 belegt werden, d. h., es besteht die Möglichkeit, 2000 Informationswörter zu speichern.

Ein nicht dargestellter Wähler wird verwendet, um je eine der vier parallelgeschalteten Kathodenstrahlröhren für den Betrieb des Speichers auszuwählen.

809 557/319

Die vier verschiedenen Kathodenstrahlröhren, die Anzeigeschaltung D 260 für den Betrieb des Inforjeder Übertragungsleitung zugeordnet sind, werden mationsspeichers D 375 und zur Durchführung einer jeweils als A-, B-, C- oder D-Röhre bezeichnet. Im Fehlerprüfung des Informationsspeichers vorgesehen Speicherbetrieb werden bei der Ein- und Ausgabe sind. Durch die Betätigung einer Taste der Steuerder Informationsbits jeweils alle 66 A-, B-, C- oder 5 schaltung D 263 kann eine Prüfabtastung des SpeijD-Röhren synchron gesteuert, in der Weise, daß die chers D 375 eingeleitet werden. Dadurch werden ^4-Röhren die Informationsbits der geradzahligen die 2000 Speicherstellen des Informationsspeichers Eingangsreihenfolge 0, 2, 4, 6, 8 usw. und die B-Roh- D 375, die mit jeder der ÜbertragungsleitungenDLl ren die Informationsbits der ungeraden Eingangs- bis DLn verbunden sind, abgetastet und der Moreihenfolge I₃ 3, 5, 7, 9 usw. an den Speicherplätzen io dulo-2-Prüfschaltung D 266 zugeführt. Durch die 0 bis 999 aufzeichnen bzw. abtasten. Die C- und die Kippschaltungen der Modulo-2-Prüfschaltung werden D-Röhren werden entsprechend betrieben, derart, die an den Übertragungsleitungen erscheinenden daß die Informationsbits der geraden Eingangsreihen- O-Bits gezählt, und da es sich um den zweiten Durchfolge 1000, 1002, 1004, 1006, 1008 an der C-Röhre gang aller Informationsbits an den bistabilen Kipp- und die Informationsbits der ungeraden Eingangs- 15 schaltungen handelt, werden sich diese in der Ausreihenfolge 1001, 1003, 1005, 1007, 1009 usw. bis gangsstellung befinden, wenn alle Informationsbits, 1999 an der D-Röhre aufgezeichnet bzw. abgetastet die ursprünglich in den Speicher eingegeben waren, werden. durch die Prüfabtastung der Modulo-2-Prüfschaltung

An den Schirmelektroden der Röhren wird inner- fehlerfrei wieder zugeführt wurden. Wenn jedoch halb der Speicherplätze eine binäre 0 als Punkt und 20 bestimmte Kippschaltungen der Prüfschaltung die eine binäre 1 als Strich aufgezeichnet. Ein Punkt wird Ausgangsstellung nicht wieder erreichen, ergibt sich durch kurzzeitiges Einschalten des ruhenden Ka- die Anzeige, daß in der entsprechenden Spur, d. h. thodenstrahls geschrieben. Ein Strich entsteht durch im entsprechenden Bereich des Speichers ein Fehler eine stetig zunehmende Auslenkung des Kathoden- vorliegt. Es können also durch die Prüfabtastung Strahls während einer vorgegebenen Zeitdauer. Durch 25 einer oder mehrere der 66 Speicherbereiche festein Defokussierungssystem wird der Strahl defokus- gestellt werden, die fehlerhaft sind. Da jeder dieser siert, wenn ein Punkt geschrieben wird, und er wird Speicherbereiche aus den vier Speicherröhren A bis D fokussiert, während der Strahl beim Schreiben eines besteht, ist noch eine zusätzliche Anzeige zweck-Striches bewegt wird. mäßig, aus der hervorgeht, an welcher der vier

Die Prüfung des Informationsspeichers D 375 er- 30 Speicherröhren und an welcher Speieherstelle dieser gibt sich durch eine Modulo-2-Prüfschaltung D 266. Speicherröhre ein Fehler aufgetreten ist. Diese enthält 66 einzelne bistabile Kippschaltungen, Die Anzeige der Speicherröhre und der Speicher-

von denen jeweils eine mit einer der Übertragungs- stelle, an denen ein Fehler aufgetreten ist, ergibt sich leitungen DLl bis DLn verbunden ist. Jede Kipp- durch die Anzeigeschaltungen D 260 und D 261, die schaltung wird als Modulo-2-Zähler betrieben, d. h., 35 einerseits durch Leitungen A bis D und A 25 mit dem das erstmalige Erscheinen eines O-Bits an der Über- Informationsspeicher D 375 und andererseits mit tragungsleitung bewirkt die Umstellung der bistabilen einer Schaltung D 447 verbunden sind, die dazu beKippschaltung, und das zweite Erscheinen des O-Bits stimmt ist, eine Fehlerprüfung der Informationsan dieser Übertragungsleitung bewirkt die Rück- Wörter durchzuführen, die durch die Leitungen DLl stellung der bistabilen Kippschaltung, wodurch diese 40 bis DLn übertragen werden, als Modulo-2-Zähler einen vollständigen Zählumlauf Die Sichtanzeige D 261 enthält vier Elektroden-

ausführt. Jeder der Modulo-2-Zähler ist mit einer strahl-Anzeigeröhren YlA bis VID, Diese Anzeige-Lampe/Ll bis ILn verbunden, die anzeigt, ob der röhren sind durch entsprechende Leitungen .4 bis D Modulo-2-Zähler eine gerade oder eine ungerade mit dem Informationsspeicher D 375 verbunden, wo-Stellung einnimmt. 45 durch die ^l-Speicherbereiche aller 66 Eingangs-Aus-

Wenn durch die Übertragungsleitungen DLl bis gangs-Leitungen synchron mit der VI4-Anzeige- DLn eine Anzahl von Informationswörtern in den röhre der Sichtanzeige D 261 abgetastet werden. Speicher D 375 eingegeben wird, wird die Modulo^2- Ebenso werden die B-* bis D-Speicherbereiche mit Prüfschaltung durch die Betätigung der Steuerschal- den Anzeigeröhren B bis D synchron abgetastet, rung D 263 zur Zählung vorbereitet. Die an den 5° d.h., am Bildschirm einer dieser Röhren kann die Übertragungsleitungen erscheinenden O-Bits bewirken Strahlablenkung von 66 gleichzeitig abgetasteten die Um- bzw, Rückstellungen der zugeordneten Speicherröhren des Informationsspeichers verfolgt bistabilen Kippschaltungen. Nach der Übertragung werden. Wenn an diesen Röhren die nebeneinanderder Informationswörter befindet sich die bistabile liegenden Speicherstellen schrittweise nacheinander Kippschaltung einer Übertragungsleitung in der Aus- 55 in Zeitabständen abgetastet werden, die für die Begangsstellung, wenn durch die zugeordnete Übertra- obachtung ausreichend lang sind, kann die relative gungsleitung eine gerade Anzahl von O-Bits übertra- Lage einer fehlerhaften Speicherstelle des Morgen wurde. Sie befindet sich nicht in der Ausgangs- mationsspeichers festgelegt werden, da, die 500 Speilage, wenn eine ungerade Anzahl von O-Bits übertra- cherstellen einer Speicherröhre 500 Adressenstellen gen wurde. Unter der Annahme, daß eine zugehörige 60 am Bildschirm einer Anzeigeröhre gleichlaufend zuAnzeigelampe/Ll bis ILn gelöscht ist, wenn sich geordnet sind. Wenn die Abtastung schrittweise naehdie Kippschaltung in der Ausgangslage befindet, zeigt einander in Zeitabständen erfolgt, die für die Beobsich, daß diejenigen Anzeigelampen ein Signal ab- achtung ausreichend lang sind, besteht die Möglichgeben, deren zugeordnete Übertragungsleitungen keit, an einer Anzeigeröhre diejenige Adressenstelle eine ungerade Anzahl von O-Bits übertragen haben. 65 zu bestimmen, bei der durch die Schaltung D 447 Die Steuerschaltung D 263 enthält Tasten, die durch gleichzeitig ein Informationsfehler erkannt wird. Leitungen A 21 bis ,425 mit einem Steuergenerator Die Schaltung D 447 prüft jedes Informationswort,

D 262, der Modulo-2-Prüfschaltung D 266 und einer das bei einer Prüf abtastung des Informationsspeichers

D375 an die Leitungen DLl bis DLn ausgegeben wird, mit Hilfe der an die Leitungen DLn und DLn-1 ausgegebenen Prüfzeichen in bekannter Weise bezüglich eines Modulo-4-Fehlers.

Zusätzlich wird jedes Informationszeichen innerhalb eines Informationswortes bezüglich eines sogenannten Größer-9-Fehlers geprüft. Für das erste Informationszeichen könnte dieser Fehler dadurch entstanden sein, daß die Übertragungsleitung DL 4 mit den Leitungen DL1, DLI und DL3 eine binäre »1« führt, so daß der wirksame Wert des ersten Informationszeichens des entsprechenden Informationswortes den Dezimalwert 15 bildet.

Die Prüfschaltung D 447 würde den Fehler feststellen, nämlich einen Dezimalwert größer als 9 und würde ein Signal über die Größer-als-9-Fehlerklemme E 523 zur Anzeigeschaltung D 260 senden. Über die Leitung 4 TA kann dieses Signal auch zu einer nicht dargestellten Rechenanlage für Steuerzwecke übertragen werden.

Ein Modulo-4-Fehler würde von der Prüfschaltung D 447 durch die Fehlerklemme £620 zur Anzeigeschaltung D 260 gesendet.

Die Anzeigeschaltung D 260 ist außerdem durch die Leitungen A bis D mit dem Informationsspeicher D 375 verbunden. Bei Vorliegen eines Informationsfehlers, der durch die Schaltung D 447 festgestellt wird, ergibt sich durch die Steuerung der Anzeigeschaltung D 260 ein Fehlersignal an der Lampe LER und ein weiteres Fehlersignal an einer der Lampen La bis Ld, abhängig davon, welcher der Speicherbereiche^! bis D im Informationsspeicher bei der Feststellung des Fehlers gerade abgetastet wurde. Durch die Anzeige der Schaltungen D 260 und D 261 kann z. B. bezüglich einer Fehlerstelle gesagt werden, daß sie an einer bestimmten Speicheradresse einer der 66 Speicherröhren im Speicherbereich B aufgetreten ist.

Die weitere Bestimmung der Fehlerstelle, d. h. welche der 66 Speicherröhren des Speicherbereiches B den Fehler enthält, ergibt sich durch die Anzeigelampen ILl bis ILn der Modulo-2-Prüfschaltung D 266, wie dies an Hand der Arbeitsweise dieser Schaltung bei einer Prüfabtastung bereits erläutert wurde. Wenn z.B. die AnzeigelampeILl nach der Prüfabtastung ein Signal anzeigt, geht daraus hervor, daß der Fehler an einer Adressenstelle der mit der Übertragungsleitung DLl verbundenen Speicherröhre B aufgetreten ist.

Nach Feststellung eines Fehlers können durch eine Rückstelltaste der Steuerschaltung D 263 über die Leitung A 21, die im Steuergenerator D 262 und die Leitung A 20 die Modulo-2-Prüfschaltung D 266 und über die Leitung A 24 die Anzeigeschaltung D 260 in die Ruhestellung zurückgeführt werden.

Die Prüfschaltung zur Feststellung von Modulo-4- und Größer-als-9-Fehlern wird wie das beschriebene Verfahren zur Fehlerprüfung von Informationsspeichern verwendet. Die Schaltung D 447 kann jedoch während des Speicherbetriebes auch zur reinen Informationsprüfung benutzt werden bezüglich der Informationswörter, die über die Leitungen DL1 bis DLn in den Speicher D 375 eingegeben werden.

Claims (2)

Patentansprüche:

1. Verfahren zur Fehlerprüfung an Informationsspeichern, an denen durch parallelgeschaltete Eingangs-Ausgangs-Leitungen binärcodierte, parallel dargestellte Informationszeichen ein- und ausgegeben werden, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Informationseingabe einer Gruppe von Informationszeichen in jeder Eingangs-Ausgangs-Leitung (DLl bis DLn) serienweise übertragene Informationsbits in einem ersten Zählumlauf durch eine mit jeder Eingangs - Ausgangs - Leitung verbundene Modulo-2-Prüfschaltung gezählt werden und daß während einer Prüfabtastung des Informationsspeichers die durch Informationsausgabe -der Gruppe von Informationszeichen in jeder Eingangs-Ausgangs-Leitung serienweise übertragenen Informationsbits in einem zweiten Zählumlauf durch die Modulo-2-Prüfschaltung gezählt werden und daß eine jeder Eingangs-Ausgangs-Leitung zugeordnete Lampe (ILl bis ILn) den Verlust eines Informationsbits anzeigt, wenn nach der Prüfabtastung die Modulo-2-Prüfschaltung die Ausgangsstellung nicht erreicht.

2. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Informationsspeicher (D 375) aus Kathodenstrahlröhren besteht und daß jede Eingangs-Ausgangs-Leitung (DLl bis DLn) mit mindestens einer Kathodenstrahlröhre verbunden ist und daß die mit allen Eingangs-Ausgangs-Leitungen verbundenen Kathodenstrahlröhren über einen Steuergenerator (D 262) mit der Modulo-2-Prüfschaltung (D 266) und mit einer Steuerschaltung (D 263) verbunden sind und daß die Steuerschaltung (D 263) durch eine Steuerleitung 0423) mit der Modulo-2-Prüfschaltung (D 266) verbunden ist.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

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