DE112008002672T5

DE112008002672T5 - Das Emulieren des Verhaltens eines Legacy-Testsystems

Info

Publication number: DE112008002672T5
Application number: DE112008002672T
Authority: DE
Inventors: Tushar K. Wakefield Gohel; Lloyd K. Pepperell Frick
Original assignee: Teradyne Inc
Current assignee: Teradyne Inc
Priority date: 2007-10-04
Filing date: 2008-10-03
Publication date: 2010-08-26
Also published as: JP5363491B2; KR101489542B1; TW200929239A; CN101821642A; JP2010540972A; US20090091347A1; US8310270B2; CN101821642B; WO2009046276A1; TWI488188B; KR20100066542A

Abstract

Eine Vorrichtung für die Verwendung beim Testen eines Geräts, wobei die Vorrichtung Folgendes aufweist:
einen Kommunikationskanal mit einem damit assoziierten Satz von programmierbaren Parametern, wobei die programmierbaren Parameter in einer Bias-Bedingung auf dem Kommunikationskanal resultieren; und
einen Bias-Steuerungsschaltkreis, um die Bias-Bedingung zu beeinflussen, die von den programmierbaren Parametern resultiert, um eine gewünschte Bias-Bedingung zu emulieren.

Description

GEBIET DER ERFINDUNG
Die vorliegende Erfindung bezieht sich im Allgemeinen auf das Emulieren eines Verhaltens eines Legacy- bzw. Alt-Testsystems.
HINTERGRUND DER ERFINDUNG
Automatische Testanlagen (ATE) spielen eine Rolle in der Herstellung von Halbleitergeräten und Schaltkreisbaugruppen. Hersteller benutzen im Allgemeinen automatische Testanlagen oder „Tester” um den Betrieb der Geräte während des Herstellungsprozesses zu verifizieren. Solche Geräte werden als ein „Gerät im Test” (DUT = device under test) oder als „Einheit im Test” (UUT = unit under test) bezeichnet. Das frühe Erkennen von Fehlern eliminiert Kosten, die andernfalls durch das Verarbeiten von defekten Geräten gemacht würden, und reduziert somit die Gesamtkosten der Herstellung. Hersteller benutzen ebenso automatische Testanlagen, um verschiedene Spezifikationen einzustufen. Geräte können gemäß unterschiedlichen Performance-Levels in Bereiche, wie z. B. Geschwindigkeit, getestet und eingeteilt werden. Geräte können gemäß deren eigentlichen Performance-Levels gekennzeichnet und verkauft werden.
Testprogramme wurden für das was hierin als „Legacy” bzw. „Alt” oder schon existierende automatische Testanlagen bezeichnet werden, entwickelt. Einige Testprogramme wurden entwickelt, um Signale zu berücksichtigen, die auf inaktiven Kommunikationskanälen der automatischen Testanlage erscheinen. Ein inaktiver Kommunikationskanal kann einen Kommunikationskanal beinhalten, in dem ein Treiber, ein Detektor, eine aktive Last und/oder PMU ausgeschaltet wurden oder andernfalls inaktiv gemacht wurden. Obwohl inaktiv können einige Kommunikationskanäle immer noch Signalpegel bei den ATE-Detektoren registrieren.
Dies kann sein wegen z. B. Leckstrom von dem Treiber der automatischen Testanlage oder von einigen anderen unbeabsichtigten Signalen. Unterschiedliche Typen von Legacy-ATE haben typischerweise konsistente Signalpegel für inaktive Kanäle. Testprogramme wurden deswegen entwickelt, um solche Signale zu erwarten und um diese erwarteten Signale während des Testens zu berücksichtigen. Für solche Testprogramme kann ein Fehler beim Registrieren eines erwarteten Signals von einem inaktiven Kommunikationskanal in einer Anzeige resultieren, dass ein DUT den Test nicht bestanden hat, wenn die Fehlanzeige tatsächlich nur ein Resultat eines unerwarteten Signals auf einem inaktiven Kommunikationskanal ist.
In den letzten Jahren wurden viele Typen von Legacy-ATEs mit neueren, höher performanten ATEs ersetzt. Obwohl solche neueren Tester viele neue Merkmale haben, wurden viele von den Testprogrammen, die auf den neueren Testern laufen, bereits geschrieben und hängen von den Performance-Charakteristika der Legacy-ATEs ab. Ein Testprogramm kann sich z. B. auf erwartete Bias- bzw. Vorspannungsbedingungen von einem Kommunikationskanal verlassen, wenn seine Treiber und aktive Last abgeschaltet sind (z. B. ist dann der Kommunikationskanal inaktiv). Eine neuere ATE kann jedoch nicht notwendigerweise die gleichen Performance-Charakteristika wie die Legacy-ATE haben. Dies kann die Benutzung von existierenden Testprogrammen mit neueren oder Nachfolger-ATEs beeinflussen.
ZUSAMMENFASSUNG
Diese Patentanmeldung beschreibt Verfahren und eine Vorrichtung, einschließlich Schaltkreis zum Emulieren eines Verhaltens eines Legacy-Testsystems.
Hierin beschrieben ist ein System und eine Vorrichtung für die Verwendung beim Testen eines Geräts, das einen Kommunikationskanal beinhaltet, der einen Satz von programmierbaren Parametern hat, der damit assoziiert ist. Die programmierbaren Parameter resultieren in einer Bias- bzw. Vorspannungsbedingung auf dem Kommunikationskanal. Ein Bias-Schaltkreis wird benutzt, um die Bias-Bedingung zu beeinflussen, die von den programmierbaren Parametern resultiert, um eine gewünschte Bias-Bedingung zu emulieren. Andere Aspekte, Merkmale und Implementierungen sind ebenso beschrieben.
Die Details von einem oder mehreren Beispielen sind in den begleitenden Zeichnungen und der nachstehenden Beschreibung dargelegt. Weitere Merkmale, Aspekte und Vorteile werden aus der Beschreibung, den Zeichnungen und den Ansprüchen ersichtlich.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
1 ist ein Blockdiagramm von ATE-Komponenten, die benutzt werden können, um eine Bias-Bedingung auf einem Kommunikationskanal zu erzeugen, der eine gewünschte Bias-Bedingung emuliert.
2 ist ein Blockdiagramm einer ATE für zu testende Geräte.
3 ist ein Blockdiagramm eines Testers, der in dem ATE benutzt wird.
4 ist ein Schaltkreisdiagramm, das benutzt werden kann, um das Verhalten einer Legacy-ATE auf einem inaktiven Kommunikationskanal zwischen der ATE und einem DUT zu emulieren.
5 zeigt ein Beispiel eines Graphen, der benutzt wird, um die Vorspannung des inaktiven Kommunikationskanals für einen Satz von programmierbaren Parametern zu bestimmen.
Gleiche Bezugszeichen in unterschiedlichen Figuren zeigen gleiche Elemente an.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
1 zeigt ein Blockdiagramm von Komponenten, die Teil eines ATE 1 sein können. ATE 1 kann ein Nachfolger zu einem Legacy-ATE sein, wie ein neueres Modell eines existierenden ATEs oder ein komplett neues Modell eines ATEs. Diese Komponenten können in dem ATE 1 benutzt werden, um die Bias-Bedingungen des Legacy-ATE's oder jede andere gewünschte Bias-Bedingung zu emulieren. Die Bias-Bedingungen können einen Bias-Strom beinhalten, der ein Leckstrom sein kann, oder einen Leckstrom beinhalten kann. Die Bias-Bedingungen können eine Vorspannung beinhalten, die eine Versatzspannung (z. B. nicht Null) sein kann oder eine Versatzspannung beinhalten kann. Das Testprogramm 2 kann für die Verwendung mit der Legacy-ATE (nicht gezeigt) entwickelt worden sein. In der ATE 1 wird das Testprogramm 2 benutzt, um Tests von Signalen, die von einem DUT (nicht gezeigt) über den Kommunikationskanal 3 empfangen wurden, durchzuführen. Ein Steuerblock 4, der über eine Kombination von Software, Firmware und/oder Hardware ausgeführt werden kann, steuert die Programmierung der Testparameter auf der ATE 1. Diese Testparameter können Testschwellen, sind aber nicht darauf begrenzt, für den Detektor 5 (z. B. Hoch- oder V_OH-Pegel und Niedrig- oder V_OL-Pegel), Parameter, um die Spannung und/oder die Stromausgabe einer aktiven Last(en) zu steuern und/oder Parameter beinhalten, um andere Funktionen für andere Schaltkreiselemente 7 zu implementieren.
Die Werte der Testparameter beeinflussen die Biasbedingung auf dem Kommunikationskanal. Das heißt, unterschiedliche Werte für die Testparameter können unterschiedliche Biasbedingungen erzeugen. In einem Beispiel werden Biasbedingungen, die von spezifischen Werten für diese Parameter auf einem Legacy-ATE-Kommunikationskanal erzeugt wurden, verglichen mit Biasbedingungen, erzeugt von den gleichen Parameterwerten auf der Nachfolger-ATE (z. B. modernerer ATE). Ein Bias-Controller 6 (nachstehend beschrieben) beeinflusst die Biasbedingung(en) auf dem Kommunikationskanal, so dass die Biasbedingung(en) für die Nachfolger-ATE mit dem Legacy-ATE übereinstimmt.
Während des Betriebs der ATE 1 können Testsignale von der ATE 1 zum DUT über den Kommunikationskanal 3 ausgegeben werden. Das DUT antwortet durch Vorsehen von Antwortsignalen über den Kommunikationskanal 3. Die Antwortsignale können z. B. erzeugt werden durch das DUT, ansprechend auf die Testsignale, die von der ATE vorgesehen wurden. Alternativ können Signale von dem DUT über den Kommunikationskanal 3 vorgesehen werden, die unabhängig sind von den Testsignalen. Alternativ kann das DUT vom dem Kanal insgesamt getrennt werden, während das Testprogramm vom Kanal erwarten kann, dass die Bias-Bedingungen konsistent aufrecht erhalten werden, damit der Systemtest bestanden wird. In jedem Fall können Detektoren, wie z. B. der Detektor 5, die Signale empfangen. Es kann ein Detektor pro Kanal geben (wobei nur ein Kanal in 1 gezeigt ist).
Der Detektor 5 kann einen oder mehrere Komparatoren bzw. Vergleicher und/oder andere Hardware-Typen beinhalten, um eine Messungsfunktion zu implementieren. Wenigstens ein Teil des Detektors 5 kann ebenso in Software implementiert sein. Der Detektor 5 ist elektrisch verbunden mit dem Kommunikationskanal 3 und ist konfiguriert, um Signale von dem Kommunikationskanal zu empfangen, diese Signale mit einem oder mehreren Schwellen zu vergleichen, und Vergleichsergebnisse an das Testprogramm 2 vorzusehen. Dort werden die Vergleichsergebnisse evaluiert, um zu bestimmen, z. B. ob das DUT einen bestimmten Test bestanden oder nicht bestanden hat. Es sei angemerkt, dass elektrische Verbindung, wenn hierin benutzt, keine direkte physikalische Verbindung erfordert. Eine elektrische Verbindung kann intervenierende Komponenten zwischen zwei Komponenten beinhalten. Auf ähnliche Weise kann eine elektrische Verbindung drahtlose elektrische Verbindungen beinhalten, wie z. B. diejenigen, die von einem Transformer erzeugt werden.
Andere Schaltkreise 7, die aktive und/oder passive Lasten beinhalten können, können ebenso elektrisch mit dem Kommunikationskanal 3 verbunden sein. Diese anderen Schaltkreise können benutzt werden, z. B. um eine oder mehrere Lastbedingung(en) für den Kommunikationskanal 3 vorzusehen. Die Last bedingung(en) können, sind aber nicht begrenzt darauf, gewünschte Spannung und/oder Strom für den Kommunikationskanal 3 beinhalten.
ATE 1 beinhaltet ebenso den Bias-Controller 6. Der Bias-Controller 6 kann benutzt werden um auf dem Kommunikationskanal 3 eine gewünschte Bias-Bedingung zu emulieren, wie z. B. die Bias-Bedingung von einem Kommunikationskanal einer Legacy-ATE. Der Bias-Controller 6 kann eine programmierbare, bi-direktionale (Quelle oder Senke), Bias-Stromquelle 8 beinhalten, obwohl andere Typen von Signalquellen – beide programmierbar und nicht-programmierbar – benutzt werden können, anstatt der Stromquelle 8. Die Stromausgabe durch die Stromquelle 8 in Verbindung mit den Strömen und Impedanzen, die bereits auf dem Kommunikationskanal 3 sind, beeinflussen die existierende Bias-Bedingung auf dem Kommunikationskanal, um eine neue Bias-Bedingung (z. B. Spannung) auf dem Kommunikationskanal zu erzeugen. Der Ausgabestrom kann z. B. die Spannung auf dem Kommunikationskanal verändern, so dass sie mit einer Vorspannung identisch ist, die von einer Legacy-ATE auf dem gleichen Kommunikationskanal erwartet werden würde.
Der Bias-Controller 6 kann einen Spannungs-Quelle-/Impedanz-Schaltkreis 9 beinhalten, der eine Spannungsquelle 9a in Kombination mit einem Impedanz-Schaltkreis 9b beinhalten kann. Die Spannungsquelle 9a kann oder kann nicht programmierbar sein. Der Impedanz-Schaltkreis 9b kann ein Widerstand sein, ein resistives Netzwerk, ein variabler Widerstand, ein kapazitives Element, ein induktives Element, ein Transistor und/oder Kombinationen von einem oder mehreren der genannten oder anderen Elemente. Im Betrieb reicht der Schaltkreis Strom an bzw. vom Kommunikationskanal 3 weiter, um dadurch eine Spannung über dem Impedanz-Schaltkreis 9b zu erzeugen. Diese Spannung, wenn kombiniert mit der Spannung von der Quelle 9a und den Bias-Bedingung(en) des Kommunikationskanals 3, erzeugt eine Bias-Bedingung (z. B. Spannung), die die Bias-Bedingungen emuliert, die die Legacy-ATE auf dem Kommunikationskanal 3 erzeugen würde.
Der Bias-Controller 6 kann eine Kombination von programmierbarer Bias-Stromquelle 8 und Spannungsquelle/Impedanz-Schaltkreis 9 sein. Ein Beispiel eines Schaltkreises, der beide von diesen Elementen beinhaltet, ist nachstehend beschrieben mit Bezug auf die 4. Es sei angemerkt, dass der Bias-Controller 6 einen ausreichend programmierbaren Bereich haben sollte, um Bias-Differenzen zwischen der Legacy-ATE, die emuliert wird, und der Nachfolger-ATE zu kompensieren.
Wie oben beschrieben, kann ein Testprogramm, das für ein Legacy-ATE entwickelt wurde, eine gewisse Spannung auf einem inaktiven Kommunikationskanal (z. B. ein Kommunikationskanal, der abgeschaltet ist oder sich im Transistor-Tri-Zustand befindet) erwarten. Einige Testprogramme können gewisse Strom- oder andere Signalpegel auf dem Kommunikationskanal erwarten; jedoch das Folgende beschreibt ein Beispiel in dem eine gewisse bzw. bestimmte Spannung erwartet wird. Diese Spannung wird über den Detektor 5 detektiert und an ein Verarbeitungsgerät (z. B. einen Computer), das das Testprogramm 2 ausführt, weitergereicht.
Im Betrieb kann der Bias-Controller 6 gesteuert werden (z. B. programmiert), um ein Signal (z. B. einen Strom) an einen inaktiven Kommunikationskanal 3 vorzusehen, was in einer Bias-Bedingung (z. B. Strom- und/oder Spannungssignale) auf dem inaktiven Kommunikationskanal 3 resultiert, die die gleiche ist als, oder im Wesentlichen die gleiche ist als die Bias-Bedingung, die auf einem inaktiven Kommunikationskanal einer Legacy-ATE vorliegen würde. Das Testprogramm 2 erwartet die Bias-Bedingung, z. B. die Strom- und/oder Spannungssignale von dem Legacy-ATE, für die das Testprogramm 2 entwickelt wurde. Als Ergebnis, dass der Bias-Controller 6 die Performance der Legacy-ATE auf dem inaktiven Kommunikationskanal 3 emuliert, wird das Testprogramm 2 die Signale empfangen, die es erwartet auf dem inaktiven Kommunikationskanal 3 zu empfangen und als Ergebnis kann das Testprogramm 2 auf einer Nicht-Legacy- z. B. Nachfolge- oder modernen ATE 1 benutzt werden.
Bezugnehmend auf die 2 zeigt diese Figur ein Beispiel eines Systems auf dem der vorangegangene Bias-Bedingungsemulationsprozess implementiert werden kann. 2 zeigt ein ATE-System 10 zum Testen eines Geräts-im-Test (DUT) 18m wie z. B. ein Halbleitergerät, das einen Tester 12 beinhaltet. Um den Tester 12 zu steuern, beinhaltet das System 10 ein Computersystem 14, das sich mit dem Tester 12 über eine drahtgebundene Verbindung 16 verbindet. Typischerweise sendet das Computersystem 14 Befehle zum Tester 12, um die Ausführung von Routinen und Funktionen für das Testen des DUT 18 zu initiieren. Solche ausführenden Testroutinen können die Generierung und Sendung von Testsignalen zu dem DUT 18 und das Sammeln von Antworten von dem DUT initiieren. Verschiedene Typen von DUTs können von dem System 10 getestet werden. Zum Beispiel können DUTs Halbleitergeräte sein, wie z. B. ein integrierter Schaltkreis-Chip (IC = integrated circuit) (z. B. Speicherchip, Mikroprozessor, analog-zu-digital Konverter, digital-zu-analog Konverter etc.).
Um Testsignale vorzusehen und Antworten von dem DUT zu sammeln, ist der Tester 12 verbunden mit einem oder mehreren Verbindungsgins, die eine Schnittstelle für den internen Schaltkreise des DUT 18 vorsehen. Um einige DUTs zu testen, können z. B. bis zu 64 oder 128 Verbindungsgins (oder mehr) mit dem Tester 12 verbunden werden. Für illustrative Zwecke ist in diesem Beispiel der Halbleitergerättester 12 mit einem Verbindungsgin des DUT 18 über eine drahtgebundene Verbindung verbunden. Ein Leiter 20 (z. B. Kabel) ist mit dem Pin 22 verbunden und wird benutzt, um Testsignale (z. B. PMU-Testsignale, PE-Testsignale etc.) zu dem internen Schaltkreis des DUT 18 zu übertragen bzw. zu liefern. Der Leiter 20 erkennt ebenso Signale beim Pin 22, ansprechend auf die Testsignale, die von dem Halbleitergerättester 12 vorgesehen wurden. Ein Spannungssignal oder ein Stromsignal kann z. B. beim Pin 22 ansprechend auf ein Testsignal erkannt werden und über den Leiter 20 zum Tester 12 für die Analyse gesendet werden. Solche Einzel-Porttests können ebenso auf anderen Pins, die in dem DUT 18 beinhaltet sind, durchgeführt werden. Tester 12 kann z. B. Testsignale zu anderen Pins vorsehen und assoziierte Signale sammeln, die über die Leiter (die die vorgesehenen Signa le liefern) zurückreflektiert wurden. Durch Sammeln der reflektierten Signale kann die Eingangs-Impedanz der Pins und andere Einzel-Porttests-Quantitäten bzw. Messwerte charakterisiert werden. In anderen Testsszenarien kann ein digitales Signal über den Leiter 20 zum Pin 22 zum Speichern eines digitalen Werts auf dem DUT 18 gesendet werden. Sobald gespeichert, kann auf das DUT 18 zugegriffen werden, um den gespeicherten digitalen Wert abzurufen und über den Leiter 20 zum Tester 12 zu senden. Der abgerufene digitale Wert kann dann identifiziert werden, um zu bestimmen, ob der richtige Wert in dem DUT 18 gespeichert wurde.
Neben dem Durchführen von Einzel-Portmessungen kann auch ein Zeit-Porttest von dem Halbleitergerättester 12 durchgeführt werden. Ein Testsignal kann z. B. über den Leiter 20 in den Pin 22 eingespeist werden und ein Antwortsignal kann von einem oder mehreren anderen Pins des DUT 18 gesammelt werden. Dieses Antwortsignal wird für den Halbleitergerättester 12 vorgesehen, um Messwerte zu bestimmen, wie z. B. Verstärkungsantwort, Phasenantwort und andere Durchsatz-Messwerte.
Bezugnehmen auf 3 beinhaltet der Halbleitergerättester 12 eine Schnittstellenkarte 24, die mit zahlreichen Pins kommunizieren kann, um Testsignale von vielfachen Verbindungsgins von einem DUT (oder vielfachen DUTs) zu senden und zu sammeln. Die Schnittstellenkarte 24 kann z. B. Testsignale an z. B. 32, 64 oder 128 Pins senden und entsprechende Antworten sammeln. Jede Kommunikationsverbindung zu einem Pin weist einen Kanal auf und durch Vorsehen von Testsignalen zu einer großen Anzahl von Kanälen wird die Testzeit reduziert, da vielfache Tests gleichzeitig durchgeführt werden können. Neben der Tatsache, dass viele Kanäle auf einer Schnittstellenkarte durch Beinhalten von vielfachen Schnittstellenkarten im Tester 12 vorgesehen sind, erhöht sich die gesamte Anzahl der Kanäle, um dadurch noch mehr die Testzeit zu reduzieren. In diesem Beispiel sind zwei zusätzliche Schnittstellenkarten 26 und 28 gezeigt, um zu demonstrieren, dass vielfache Schnittstellenkarten in dem Tester 12 bestückt sein können.
Jede Schnittstellenkarte beinhaltet einen dedizierten integrierten Schaltkreis- bzw. IC-Chip (IC = integrated circuit) (z. B. einen anwendungs-spezifischen integrierten Schaltkreis (ASIC = application specific integrated circuit)) zum Durchführen von bestimmten Testfunktionen. Die Schnittstellenkarte 24 beinhaltet z. B. eine Pin-Elektronik- bzw. PE-(PE = pin electronics)-Stufe 34, die Schaltkreis beinhaltet zum Durchführen von PE-Tests. PE-Stufe 34 kann ebenso Schaltkreis beinhalten zum Durchführen von parametrischer Messungseinheit (PMU = parametric measurement unit)-Tests. Zusätzlich beinhalten die Schnittstellenkarten 26 und 28 entsprechend PE-Stufen 36 und 38, die PE-Schaltkreis aufweisen. Typischerweise involviert das PUM-Testen das Vorsehen eines (programmierbaren) DC-Spannungs- oder Stromsignals an das DUT, um solche Messwerte wie Eingangs- und Ausgangsimpedanz, Leckstrom und andere Typen von DC-Performance-Charakteristika zu bestimmen. Das PE-Testen involviert das Senden von DC- oder AC-Testsignalen oder Wellenformen zu einem DUT (z. B. DUT 18) und das Sammeln von Antworten, um die Performance des DUTs weiter zu charakterisieren. Die PE-Stufe 34 kann z. B. (zum DUT) AC-Testsignale senden, die einen Vektor von binären Werten für die Speicherung auf dem DUT repräsentieren. Sobald diese binären Werte gespeichert wurden, kann von dem Tester 12 auf das DUT zugegriffen werden, um zu bestimmen, ob die richtigen binären Werte gespeichert worden sind.
Um beide DC- und AC-Testsignale von der Schnittstellenkarte 24 zum DUT 18 weiterzuleiten (2), verbindet eine leitende Spur bzw. Pfad 40 die PE-Stufe 34 mit einem Schnittstellen-Board-Verbindungselement 42, das es ermöglicht, Signale von und zu der Schnittstellenkarte 24 weiterzureichen. Das Schnittstellen-Board-Verbindungselement 42 ist ebenso mit einem Leiter 44 verbunden, der mit einem Schnittstellen-Verbindungselement 46 verbunden ist, das es ermöglicht, dass Signale zu dem Tester 12 weitergereicht werden. In diesem Beispiel ist der Leiter 20 mit dem Schnittstellen-Verbindungselement 46 für bi-direktionalen Signalweg zwischen Tester 12 und Pin 22 des DUT 18 verbunden. In einigen Anordnungen kann ein Schnittstellengerät benutzt werden, um einen oder mehrere Leiter von dem Tester 12 zum DUT zu verbin den. Zum Beispiel kann das DUT mit einem Schnittstellentester-Adapter (ITA = Interface Test Adapter) verbunden werden, der mit einem Schnittstellenverbindungs-Adapter (ICA = Interface Connection Adapter) verbunden ist, der mit dem Tester verbunden ist. Das DUT (z. B. DUT 18) kann auf ein Geräteschnittstellen-Board (DIB = device interface board) montiert werden zum Vorsehen eines Zugriffs auf jeden DUT-Pin. In solch einer Anordnung kann der Leiter 20 mit dem DIB verbunden werden, und zwar zum Platzieren von Testsignalen auf dem geeigneten Pin(s) (z. B. Pin 22) des DUT.
In diesem Beispiel verbinden nur der leitende Pfad 40 bzw. der Leiter 44 die PE-Stufe 34 mit dem Schnittstellen-Board 24 zum Übertragen und Sammeln von Signalen. Die PE-Stufe 34 (neben den PE-Stufen 36 und 38) hat jedoch typischerweise vielfache Pins (z. B. acht, sechzehn etc.), die entsprechend mit den vielfachen leitenden Pfaden und entsprechenden Leitern verbunden sind, und zwar zum Vorsehen und Sammeln von Signalen von dem DUT (via einem DIB). Zusätzlich, in einigen Anordnungen, kann der Tester 12 sich mit zwei oder mehr DIBs verbinden, zum Verbinden der Kanäle, die von den Schnittstellenkarten 24, 26 und 28 vorgesehen sind, mit einem oder mehreren Geräten im Test.
Um das Testen, das durch die Schnittstellenkarten 24, 26 und 28 durchgeführt wird, zu initiieren und zu steuern, beinhaltet der Tester 12 einen PE-Steuerschaltkreis 50, der Testparameter (z. B. Testsignal-Spannungspegel, Testsignal-Strompegel, digitale Werte etc.) vorsieht, und zwar zum Erzeugen von Testsignalen und zum Analysieren von DUT-Antworten. Der PE-Steuerschaltkreis kann implementiert werden unter Verwendung von einem oder mehreren Verarbeitungsgeräten. Beispiele von Verarbeitungsgeräten beinhalten, sind aber nicht begrenzt auf einen Mikro-Prozessor, einen Mikro-Controller, einer programmierbaren Logik (z. B. ein feldprogrammierbares Gate-Array) und/oder Kombinationen davon.
Der Tester 12 beinhaltet ebenso eine Computerschnittstelle 52, die es ermöglicht, dass das Computersystem 14 die Operationen, ausgeführt durch den Tester 12, steuert und ebenso ermöglicht, dass die Daten (z. B. Testparameter, DUT-Antworten etc.) zwischen Tester 12 und Computersystem 14 weitergereicht werden.
Der Computer 14 oder ein anderes Verarbeitungsgerät, das mit dem ATE 10 benutzt wird oder damit assoziiert ist, kann konfiguriert sein um ein Testprogramm auszuführen, um ein DUT auf aktiven Kommunikationskanälen mit dem ATE zu testen. Das Testprogramm kann konfiguriert sein, um eine gewisse bzw. bestimmte Spannung auf einem oder mehreren inaktiven Kommunikationskanälen zu erwarten. Demgemäß beinhaltet die ATE 10 Hardware (z. B. Schaltkreise) und/oder Software, um die erwarteten Bias-Bedingungen auf dem inaktiven Kommunikationskanal bzw. -kanälen zu generieren. Jeglicher Schaltkreistyp kann benutzt werden, um diese Funktion durchzuführen, einschließlich aber nicht begrenzt auf eine oder mehrere PMUs.
Ein Beispiel eines Schaltkreises, der benutzt werden kann um die Bias-Bedingungen einer Legacy-ATE zu emulieren, die in ein ATE 10-System eingebaut werden kann, ist in 4 gezeigt. Der Schaltkreis kann z. B. Teil der Pin-Elektronik oder der Schnittstellenkarten, wie oben beschrieben, sein.
Bezugnehmend auf 4 beinhaltet die ATE 10 einen Treiber 55, um Testsignale zu einem DUT auszugeben, wie z. B. DUT 18, und zwar über den Kommunikationskanal 56 und beinhaltet einen Detektor (oder Empfänger) 57, um Signale von dem DUT über den Kommunikationskanal 56 zu empfangen. Der Detektor 57 kann einen oder mehrere Vergleicher und/oder andere Detektions-Schaltkreistypen beinhalten. Die empfangenen Signale können Ausgaberesultate sein, erzeugt von dem DUT, ansprechend auf die Testsignale, vorgesehen von dem Treiber 55 oder können Signale sein, die vorgesehen wurden von dem DUT, unabhängig von den Signalen, vorgesehen von dem Treiber 55. Die Last 59 kann eine aktive Last sein, die den Kommunikationskanal 56 einer Lastbedingung aussetzt. In diesem Beispiel ist die Last 59 steuerbar (z. B. programmierbar), um eine von mehreren Lastbedingungen an den Kommunikationskanal vorzusehen. Die aktiven Lastströme können durch das Programmieren der I_OH- und I_OL-Stromwerte gesteuert werden. Eine Kommutierungs-Spannung (V_COM) kann programmierbar sein und eine Spannung für die Stromquellen I_OL und I_OH vorsehen, um den Kanal 56 auf eine bestimmte Spannung zu ziehen. Andere Lasten, die benutzt werden, können vielleicht nicht programmierbar sein.
Ein Puffer 60 kann benutzt werden, um einen Lastwiderstand von der Spannungsquelle 63 (V_COM) an den Kommunikationskanal 56 vorzusehen. In einer Implementierung kann der Eingang des Puffers 60 unabhängig von V_COM sein. Ein Einschaltsignal 58 (R_{pull_Enable}) steuert den Pfad bzw. Weg der Spannung, z. B. V_COM durch den Puffer 60. Das Einschaltsignal kann von dem PE-Steuerschalter 50 ausgegeben und eingestellt werden von einem Verarbeitungsgerät, wie z. B. Computer 14. Ein Schaltkreiselement 61 kann elektrisch verbunden sein zwischen der Last 59 und dem Kommunikationskanal 56. In diesem Beispiel ist das Schaltkreiselement 61 ein Widerstandselement (z. B. ein Widerstand R_pull); andere Typen von Schaltkreiselementen können jedoch anstatt oder zusätzlich zu einem Widerstand benutzt werden. Beispiele von Schaltkreiselementen, die benutzt werden können, sind oben mit Bezug auf die 1 beschrieben. Vielfache Instanzen des Puffers 60 und R_pull mit einem oder mehreren Eingängen können ebenso elektrisch verbunden sein mit dem Kanal 56, um die Funktionen, die hierin beschrieben sind, zu implementieren.
Eine Signalquelle 62 (bezeichnet als BIAS_CTRL-Strom in 4) ist elektrisch verbunden mit dem Kommunikationskanal 56. So wie es der Fall war in dem Beispiel, wie oben beschrieben, mit Bezug auf die 1, ist die Signalquelle 62 programmierbar, bi-direktional (Quelle oder Senke), Bias-Stromquelle, obwohl andere Typen von Signalquellen – sowohl programmierbar als auch nicht programmierbar – anstatt der Signalquelle 62 benutzt werden können. In diesem Beispiel kann die Signalquelle 62 Quelle oder Senke sein für bis zu 200 Mikroampere (μA) für den Kommunikationskanal. Ein Verarbeitungsgerät assoziiert mit der ATE 10, wie z. B. ein Computer 14, kann benutzt werden, um die Signalquelle 62 zu programmieren, um eine Menge an Strom zu generieren, die gebraucht wird um einen gewissen Strom und Span nung auf dem Kommunikationskanal 56, wie nachstehend beschrieben, zu erlangen. Das Verarbeitungsgerät kann einen Speicher, der Parameter speichert, wie z. B. Hoch- und Niedrig-Schwellenspannungen und eine aktive Lastspannung, referenzieren, um die Programmierung für die Signalquelle 62 zu bestimmen.
Die vorangegangenen Schaltkreiselemente 60, 61, 62 sind Teil eines Bias-Steuerungsschaltkreises 75 (gekennzeichnet als BIAS_CTRL-Schaltkreis in 4), der konfiguriert sein kann, um im Wesentlichen die gleichen Funktionen als der Bias-Controller 6 der 1, wie beschrieben, durchzuführen.
Wie oben beschrieben kann ein Testprogramm, das für Legacy-ATE entwickelt wurde, eine gewisse Spannung auf einem inaktiven Kommunikationskanal (z. B. einem Kommunikationskanal, der seine Quellenelemente tri-stated oder ausgeschaltet hat) erwarten. Einige Testprogramme können gewisse Strom- oder andere Signalpegel auf dem Kommunikationskanal erwarten; das Folgende beschreibt jedoch ein Beispiel in dem eine Spannung erwartet wird. Diese Spannung wird über dem Detektor 57 detektiert und an ein Verarbeitungsgerät (z. B. Computer 14) weitergereicht, das das Testprogramm ausführt. In diesem Beispiel kann der Detektor 57 eine Hoch-Detektionsschwelle V_OH und eine Niedrig-Detektionsschwelle Vor beinhalten, wobei beide programmierbar sind, um Hoch- und Niedrig-Signalpegel auf dem Kommunikationskanal zu detektieren. Die Spannung, die erwartet werden kann, kann zwischen V_OH und V_OL sein, obwohl andere Schwellenspannungen benutzt werden können.
Um das Testprogramm für die Verwendung mit der ATE einzuschalten, die nicht die gleiche Performance-Charakteristika als die Legacy-ATEs hat kann die Signalquelle 62 gesteuert werden (z. B. programmiert), um ein Signal (z. B. einen Strom) an einen inaktiven Kommunikationskanal 56 vorzusehen, und R_pull 61 kann durch Einschalten des Puffers 60 aktiviert werden, um in einen Strom Spannung und/oder Impedanz für Signale auf dem inaktiven Kommunikationskanal zu resultieren, die im Wesentlichen die gleichen sind als diejeni gen, die vorliegen würden auf einem inaktiven Kommunikationskanal der Legacy-ATE. Durch Simulieren der Bias-Bedingungen der Legacy-ATE auf diese Art und Weise, können Testprogramme, die für die Legacy-ATE entwickelt wurden, auf einer ATE benutzt werden, die nicht die gleichen Performance-Charakteristika hat.
Wie in 4 gezeigt, wenn der Treiber 55 und die Last 59 inaktiv sind (z. B. aus- oder abgeschaltet), ist der Detektor 57 immer noch konfiguriert, um ein Signal auf dem Kommunikationskanal 56 zu detektieren. Weiterhin kann das DUT auch das Signal auf dem Kommunikationskanal messen. Wenn das DUT den Kommunikationskanal mit einer schwachen Quelle oder keine Quelle treibt, dann werden das inaktive Zustandsverhalten des Treibers 55 und der aktiven Last 59, zusammen mit den Eingangs-Charakteristika des Detektors 57 (und jedes anderen Detektors elektrisch verbunden mit dem Kommunikationskanal) die Bias-Bedingungen – z. B. Spannung – auf dem Kommunikationskanal 56 diktieren, wenn der Kommunikationskanal 56 inaktiv ist.
Als Beispiel, wenn der Treiber 55 abgeschaltet wird, läuft immer noch Leckstrom durch den Treiber 55 auf den Kommunikationskanal 56. Der Leckstrom kann ebenso über den Detektor und/oder andere Schaltkreiselemente, die elektrisch mit dem Kommunikationskanal verbunden sind, einschließlich der Signalquelle 62, erzeugt werden. Hoch- und Niedrig-Schwellen des Treibers und des Detektors können die Menge an Leckstrom, die von diesen Elementen erzeugt wird, beeinflussen. Dieser Leckstrom zusammen mit anderen Strömen auf dem Kommunikationskanal 56 fließt durch die Impedanz auf den Kommunikationskanal 56 und erzeugt eine Spannung auf dem Kommunikationskanal 56. Die Impedanz auf dem Kommunikationskanal ist die parallele Kombination der Aus-Zustands-Impedanz und der Elemente (Treiber, aktive Last) und R_pull, wenn der Puffer 60 eingeschaltet ist. Um die Spannung eines Legacy-ATE-Systems zu simulieren, kann die Signalquelle 62 programmiert werden, um einen Bias-Strom durch die Impedanz auf dem Kanal 56 zu erzeugen, der, wenn er mit dem Strom kombiniert wird, der bereits auf dem Kommunikationskanal 56 ist, auf dem Kommunikationskanal 56 eine Span nung erzeugt, die im Wesentlichen die gleiche ist als die Spannung auf dem Kommunikationskanal 56, die durch die Legacy-ATE erzeugt werden würde. Diese Spannung wird durch den Detektor 57 detektiert und durch das Testprogramm verarbeitet werden. Da die Spannung auf dem inaktiven Kommunikationskanal sein wird wie von dem Testprogramm erwartet, werden die Testergebnisse, die durch das Testprogramm erzeugt werden, nicht negativ für die Nachfolger, Nicht-Legacy-ATE beeinflusst werden.
In diesem Beispiel wird die Signalquelle 62 programmiert, einen Bias-Strom zu erzeugen, um die gewünschte Spannung auf dem Kommunikationskanal 56 zu erzeugen. Der Bias-Strom kombiniert mit (z. B. vermehrt) dem Strom, der bereits auf dem Kommunikationskanal ist (z. B. Leckstrom). Das Einschaltsignal 58 wird gesetzt, um das Fließen der Spannung zum Ausgang des Puffers 60 zu ermöglichen, was bewirkt, dass das Schaltkreiselement (R_pull) 61 – hier ein Widerstand – die Impedanz auf der Leitung beeinflusst, während die Spannung auf dem Kanal in Richtung V_COM gezogen wird. Die Bias-/Leck-Ströme, die von den Elementen auf dem Kanal 56 verursacht werden, erzeugen eine Spannung über R_pull, um eine Spannung auf dem Kanal relativ zu V_COM zu bilden. Wenn die Signalquelle 62 richtig programmiert ist, entspricht die Spannung, die auf dem Kommunikationskanal erzeugt wird der Spannung, die vorliegen würde auf einem inaktiven Kommunikationskanal eines Legacy-ATEs. Der Detektor 57 detektiert diese Spannung und reicht sie entlang eines Pfades zu einem Verarbeitungsgerät für die Verwendung durch das Testprogramm weiter.
In einem Beispiel wird die kommutierende Spannung (V_COM) auf 2 Volt (V) programmiert, der Widerstand R_pull hat einen Wert von 230 KΩ, und die Signalquelle kann einen programmierbaren Strom von zwischen –40 Mikro-Ampere (μA) und 40 μA erzeugen. Es sei angemerkt, dass diese Werte jedoch einfach nur Beispiele sind und dass jegliche Werte benutzt werden können.
5 zeigt ein graphisches Beispiel zum Bestimmen von Bias-Bedingungen, basierend auf einem Satz von Parametern für ein Beispielgerät bzw. – instrument. In 5 zeigt die Kurve 70 den Leckstromanteil, erzeugt über das Schaltkreiselement R_pull 61 für einen bestimmten Satz von programmierbaren Parametern einer Beispiel-Legacy-ATE. Die Charakteristika der Kurve 70 – das in diesem Beispiel eine Leitung ist – werden basierend auf den Werten für R_pull, V_COM und die Kanalspannung bestimmt. Für die Kurve 70 bestimmt V_COM den X-Achsen-Abschnitt und R_pull bestimmt ihre Steigung.
Die Kurve 71 zeigt den Leckstromanteil des Detektors 57 auf dem Kommunikationskanal der Beispiel-Legacy-ATE für den gleichen Satz von programmierbaren Parametern, der benutzt wird um die Kurve 70 zu erzeugen. Bezugnehmend auf die 5 entspricht der Schritt 77 dem Ruhe-Leckstrom auf dem Kommunikationskanal. Die X-Achsen stellen der Schritte 78 und 79 basieren auf den Werten für die Schwellenspannungen V_OH und V_OL. Der Übergang vom Schritt 77 zu 78 tritt auf, wenn eine der Schwellenspannungen V_OH oder V_OL gekreuzt werden, und der Übergang vom Schritt 78 zu 79 tritt auf, wenn die andere Schwelle V_OH oder V_OL gekreuzt wird. In diesen Beispielen, die in 5 gezeigt sind, sind die Schwellenspannungen ungefähr in der Mitte der Steigung für jeden Schritt. Die Größe der Ströme bei den Schritten basiert auf den Eigenschaften des Detektors 57.
Der Schnittpunkt der zwei Kurven 70 und 71, nämlich Punkt 74, entspricht der Bias-Spannung 80, die auf der Beispiel-Legacy-ATE erscheinen würde, und dass die neue (moderne) ATE aus Gründen der Kompatibilität erreichen muss. Die neue ATE kann diese Bias-Spannung 80 über den Bias-Steuerungsschaltkreis 75, wie oben beschrieben, erreichen. In einem Beispiel repräsentiert die gerade Linie 70 den Strom, der über R_pull 61 in den Kanal 56 geht. Die Kurve 71 repräsentiert den Leckstrom (Schrittstrom), der in den Detektor 57 für einen Satz von Schwellen geht. Schnittpunkt 74 entspricht dem Punkt, wo diese zwei Ströme sich auslöschen (z. B. gleich sind in der Größe und gegensätzlich sind in der Richtung bzw. Vorzeichen), das gekennzeichnet ist durch den Equilibrium- bzw. Gleichgewichtspunkt. An diesem Punkt fließt die Spannung auf dem Kommunikationskanal 56 zu der Spannung 80 an dem Equilibrium-Punkt. Dies ist der Spannungs-Bias des Legacy-Testers, der in dem modernen Tester über die Elemente des Bias-Steuerungsschaltkreises 75 erreicht werden kann. Unterschiedliche programmierbare Parameter, wie z. B. V_OH, V_OL, V_COM werden entsprechende, aber unterschiedliche Kurven für 70 und 71 erzeugen und somit einen unterschiedlichen Schnittpunkt erzeugen. Der Bias-Steuerungsschaltkreis 75 kann gesteuert werden, um unterschiedliche Spannungen, wie oben beschrieben, zu erlangen.
Als Zusammenfassung resultiert der Strom über R_pull von V_COM und der Kanalspannung. Die Spannung 80 an dem Equilibrium-Punkt ist die Spannung, zu der der Kommunikationskanal fließt, wenn die Ströme an dem Equilibrium (Schnittpunkt 74) sind. Dieser Punkt ist die „Unbekannte”, die der Graph hilft zu lösen, und zwar zum Bestimmen welche Bias-Bedingungen der „modernen” ATE erreicht werden müssen (und somit wie der Bias-Strom programmiert werden muss).
Eine ähnliche Graphtechnik wie die in 4 gezeigte, kann benutzt werden, um das Verhältnis zwischen den programmierbaren Parametern einer modernen ATE und dem Equilibrium-Punkt 80 zu bestimmen. Diese programmierbaren Parameter beinhalten die programmierbaren Parameter, assoziiert mit dem Bias-Steuerungsschaltkreis 75 (4). Dieser Graph kann unter Verwendung der gleichen programmierbaren Parameter generiert werden, die mit den Elementen auf dem Kommunikationskanal der modernen ATE assoziiert sind. Der Graph kann Kurven haben, die mit den gleichen Elementen wie der Legacy-ATE assoziiert sind, und kann Kurven haben, die mit den Elementen einer modernen ATE assoziiert sind. In jedem Fall kann der Bias-Steuerungsschaltkreis 75 angepasst werden, um einen Equilibrium-Punkt 80 auf dem Kommunikationskanal der modernen ATE zu erzeugen, um mit demjenigen der Beispiel-Legacy-ATE übereinzustimmen.
Es sei angemerkt, dass die 5 nur einen Weg zeigt um zu bestimmen, wie die Bias-Stromquelle zu programmieren ist. Andere Wege des Programmierens der Bias-Stromquelle können benutzt werden, einschließlich, aber nicht begrenzt auf die Verwendung eines mathematischen Prozesses, der eine Funktion der V_OH, V_OL und der Lastspannung ist.
Es kann einen Emulations-Schaltkreis geben und zwar des Typs, der die vorangegangenen Funktionen für jeden Kommunikationskanal einer ATE durchführt. Jeder solcher Schaltkreise kann programmiert werden, so dass sein entsprechender Kanal die Bias-Bedingungen (z. B. Spannung und Strom) eines inaktiven Kommunikationskanals einer Legacy-ATE emuliert. Wenn der entsprechende Kommunikationskanal ein aktiver Kanal ist, dann kann die Signalquelle 62 entsprechend programmiert werden.
Der Bias-Steuerungsschaltkreis hierin ist nicht begrenzt auf die Verwendung mit der Hardware und wie oben beschrieben. Die ATE, die hierin beschrieben ist, kann implementiert werden unter Verwendung von jeglicher Hardware einschließlich einer PMU. Da PMUs typischerweise einen programmierbaren Strom forcieren können, kann die PMU Fähigkeiten anbieten, die benötigt werden, um Bias-Bedingungen zu korrigieren, und Pin-Elektronik, die eine PMU enthalten, könnten keine zusätzlichen Bias-Steuerungsschaltkreise benötigen.
Die ATE, die hierin beschrieben ist, ist nicht begrenzt auf die Verwendung mit Hardware und Software, wie oben beschrieben. Die ATE, die hierin beschrieben ist, kann unter Verwendung von jeglicher Hardware und/oder Software implementiert werden. Die hierin beschriebene ATE oder Teile davon, können z. B. wenigstens teilweise unter Verwendung von digitalem elektronischen Schaltkreis oder Computer-Hardware, Firmware, Software oder in Kombinationen davon implementiert werden. Die hierin beschriebene ATE (z. B. die Funktionen durchgeführt durch das Verarbeitungsgerät) kann implementiert werden wenigstens teilweise über ein Computerprogramm-Produkt, d. h. ein Computerprogramm, greifbar eingebaut in einem Informationsträger, z. B. in einem oder in mehreren maschinenlesbaren Medien oder in einem sich ausbreitenden Signal, für die Ausführung durch oder zum Steuern des Betriebs von einer Datenverarbeitungsvorrichtung, z. B. einem programmierbaren Pro zessor, einem Computer oder vielfachen Computern. Ein Computerprogramm kann in jeder Form einer Programmierungssprache geschrieben werden, einschließlich in Compiler- oder Interpreter-Sprachen, und sie kann in jeder Form einschließlich als Stand-Alone-Programm oder als ein Modul, Komponente, Subroutine oder andere Einheit, geeignet für die Verwendung in einer Computer-Umgebung, eingesetzt werden. Ein Computerprogramm kann eingesetzt werden, um auf einem Computer oder auf vielfachen Computern an einem Standort oder verteilt über vielfache Standorte und verbunden über ein Kommunikationsnetzwerk ausgeführt zu werden.
Aktionen, assoziiert mit dem Implementieren der ATE können von einem oder mehreren programmierbaren Prozessoren durchgeführt werden, die ein oder mehrere Computerprogramme ausführen, um die Funktionen der ATE, die hierin beschrieben ist, durchzuführen. Die gesamte oder Teile der ATE können implementiert werden als Spezial-Zweck-Logik-Schaltkreis, z. B. ein FPGA (feldprogrammierbares Gate-Array) und/oder ein ASIC (anwendungsspezifischer integrierter Schaltkreis).
Prozessoren, geeignet für die Ausführung eines Computerprogramms beinhalten beispielsweise sowohl Allzweck- und Spezialzweck-Mikroprozessoren, Mikrocontroller und ein oder mehrere Prozessoren von jeder Art von digitalem Computer. Im Allgemeinen wird ein Prozessor Instruktionen empfangen und Daten von einem Nur-Lese-Speicher oder einem Zufalls-Zugriffs-Speicher oder beides empfangen. Elemente eines Computers beinhalten einen Prozessor zum Ausführen von Instruktionen und eines oder mehrere Speichergeräte zum Speichern von Instruktionen und Daten.
Elemente von unterschiedlichen Ausführungsbeispielen, die hierin beschrieben sind, können kombiniert werden, um andere Ausführungsbeispiele, die nicht speziell hierin dargelegt sind, zu bilden. Andere Ausführungsbeispiele, die nicht speziell hierin beschrieben sind, sind ebenso innerhalb des Schutzumfangs der folgenden Ansprüche. Was beansprucht wird:
Zusammenfassung
Eine Vorrichtung für die Verwendung beim Testen eines Geräts einschließlich eines Kommunikationskanals (56) mit einem damit assoziierten Satz von programmierbaren Parametern. Die programmierbaren Parameter resultieren in eine Bias-Bedingung auf dem Kommunikationskanals. Ein Bias-Steuerungs-Schaltkreis (75) wird benutzt, um die Bias-Bedingung, die aus den programmierbaren Parametern resultiert, zu beeinflussen, um eine gewünschte Bias-Bedingung zu emulieren.

Claims

Eine Vorrichtung für die Verwendung beim Testen eines Geräts, wobei die Vorrichtung Folgendes aufweist: einen Kommunikationskanal mit einem damit assoziierten Satz von programmierbaren Parametern, wobei die programmierbaren Parameter in einer Bias-Bedingung auf dem Kommunikationskanal resultieren; und einen Bias-Steuerungsschaltkreis, um die Bias-Bedingung zu beeinflussen, die von den programmierbaren Parametern resultiert, um eine gewünschte Bias-Bedingung zu emulieren.
Vorrichtung nach Anspruch 1, die weiterhin Folgendes aufweist: einen Detektor, um Signale auf dem Kommunikationskanal zu detektieren; und eine aktive Last, um den Kommunikationskanal einer Lastbedingung auszusetzen; wobei die programmierbaren Parameter einen Parameter aufweisen, der mit dem Detektor und/oder der aktiven Last assoziiert ist.
Vorrichtung nach Anspruch 2, wobei der programmierbare Parameter eine Schwellenspannung assoziiert mit dem Detektor und/oder eine Spannung assoziiert mit der aktiven Last aufweist.
Vorrichtung nach Anspruch 2, wobei die programmierbaren Parameter einen Bias-Steuerungsstrom auf dem Kommunikationskanal aufweisen.
Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die gewünschte Bias-Bedingung einer Bias-Bedingung entspricht, die mit einem anderen Gerät als der Vorrichtung assoziiert ist, wobei das Gerät zum Ausführen eines Testprogramms, das von den Bias-Bedingungen abhängt, ist.
Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Bias-Steuerungsschaltkreis eine Stromquelle aufweist, die steuerbar ist, um den ersten Bias-Strom auf dem Kommunikationskanal vorzusehen, wobei der erste Bias-Strom sich kombiniert mit einem zweiten Strom auf dem Kommunikationskanal, der vorliegt, wenn der Kommunikationskanal inaktiv ist.
Vorrichtung nach Anspruch 6, wobei eine Kombination der ersten und zweiten Bias-Ströme einem Bias-Strom entspricht, der erzeugt werden würde durch eine Testanlage, wenn die Testanlage elektrisch mit dem Kommunikationskanal verbunden wäre.
Vorrichtung nach Anspruch 1, die weiterhin Folgendes aufweist: einen Detektor, um Testsignale auf dem Kommunikationskanal zu detektieren; ein Verarbeitungsgerät, um ein Testprogramm unter Verwendung der Testsignale auszuführen; wobei das Testprogramm konfiguriert ist, eine Spannung von dem Kommunikationskanal zu erwarten, wenn der Kommunikationskanal inaktiv ist; und wobei der Bias-Steuerungsschaltkreis konfiguriert ist zum Beeinflussen der Spannung.
Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Bias-Steuerungsschaltkreis Folgendes aufweist: ein Schaltkreiselement, elektrisch verbunden zwischen einer Spannungsquelle und dem Kommunikationskanal, wobei das Schaltkreiselement Strom relativ zu der Spannungsquelle weiterreichen und der Kommunikationskanal die Bias-Bedingung erzeugen soll.
Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Bias-Steuerungsschaltkreis eine parametrische Messungseinheit (PMU) aufweist.
Eine automatische Testanlage (ATE) zum Testen eines Geräts, wobei die ATE Folgendes aufweist: Kommunikationskanäle zwischen der ATE und dem Gerät; ein Verarbeitungsgerät zum Ausführen eines Testprogramms, um das Gerät auf aktiven Kommunikationskanälen zu testen, wobei das Testprogramm konfiguriert ist zum Erwarten einer ersten Bias-Bedingung auf einem inaktiven Kommunikationskanal; und eine Bias-Steuerungseinheit zum Beeinflussen einer zweiten Bias-Bedingung auf dem inaktiven Kommunikationskanal, um die erste Bias-Bedingung zu emulieren, wobei die zweite Bias-Bedingung ein Resultat von programmierbaren Parametern assoziiert mit dem Kommunikationskanal ist.
ATE nach Anspruch 11, die weiterhin Folgendes aufweist: einen Detektor, um Signale auf dem Kommunikationskanal zu detektieren; wobei die programmierbaren Parameter, Parameter aufweisen, die mit dem Detektor assoziiert sind.
ATE nach Anspruch 11, die weiterhin Folgendes aufweist: eine aktive Last, um den Kommunikationskanal einer Lastbedingung auszusetzen; wobei die programmierbaren Parameter, Parameter aufweisen, die mit der aktiven Last assoziiert sind.
ATE nach Anspruch 13, wobei die programmierbaren Parameter Schwellenspannungen aufweisen, die mit einem Detektor assoziiert sind.
ATE nach Anspruch 12, wobei die programmierbaren Parameter einem Bias-Steuerungsstrom auf dem Kommunikationskanal entsprechen.
ATE nach Anspruch 11, wobei die Bias-Steuerungseinheit Folgendes aufweist: einen programmierbaren Stromgenerator, um einen Bias-Strom für die Ausgabe auf den Kommunikationskanal zu generieren, wobei der Bias- Strom sich mit einem existierenden Strom auf dem inaktiven Kommunikationskanal kombiniert, um die zweite Bias-Bedingung zu beeinflussen.
ATE nach Anspruch 11, wobei die Bias-Steuerungseinheit Folgendes aufweist: ein Schaltkreiselement für die Verwendung beim Generieren der zweiten Bias-Bedingung unter Verwendung des Stroms auf dem Kommunikationskanal.
ATE nach Anspruch 11, wobei die Bias-Steuerungseinheit Folgendes aufweist: einen programmierbaren Stromgenerator zum Generieren eines Bias-Stroms für die Ausgabe zu dem Kommunikationskanal, wobei der Bias-Strom sich mit einem existierenden Strom auf dem inaktiven Kommunikationskanal kombiniert; und ein Schaltkreiselement für die Verwendung zum Beeinflussen der zweiten Bias-Bedingung unter Verwendung des Bias-Stroms und des existierenden Stroms.
ATE nach Anspruch 18, wobei das Schaltkreiselement einen Widerstand hat, wobei eine Kombination des existierenden Stroms und des Bias-Stroms durch den Widerstand läuft, um eine erste Spannung zu erzeugen, wobei die zweite Bias-Bedingung auf der ersten Spannung basiert.
ATE nach Anspruch 19, die weiterhin Folgendes aufweist: eine Spannungsquelle zum Vorsehen einer zweiten Spannung, wobei die zweite Bias-Bedingung auf der ersten Spannung und der zweiten Spannung basiert.
ATE nach Anspruch 11, wobei die Bias-Steuerungseinheit eine parametrische Messungseinheit (PMU) aufweist.
Ein System für die Verwendung beim Testen eines Geräts, wobei das System Folgendes aufweist: eine Testanlage zum Senden von Testsignalen zu dem Gerät und zum Empfangen von Antwortsignalen von dem Gerät, wobei die Antwortsignale von wenigstens einigen der Testsignale resultieren; ein Verarbeitungsgerät zum Vorsehen von Steuersignalen zu der Testanlage, wobei die Steuersignale zum Programmieren der Parameter, assoziiert mit den Kommunikationskanälen, zwischen der Testanlage und dem Gerät, das getestet wird, sind; wobei das Verarbeitungsgerät konfiguriert ist zum Ausführen von einem oder mehreren Testprogrammen zum Analysieren von wenigstens einigen der Antwortsignale, wobei wenigstens eines der Testprogramme konfiguriert ist zum Erwarten von vordefinierten Signalpegeln auf den inaktiven Kommunikationskanälen; wobei die Parameter in einer Bias-Bedingung auf einem inaktiven Kommunikationskanal zwischen der Testanlage und dem Gerät, das getestet wird, resultieren; und eine Bias-Steuerungseinheit zum Beeinflussen der Bias-Bedingung auf dem inaktiven Kommunikationskanal, um wenigstens einen der vordefinierten Signalpegel auf dem inaktiven Kommunikationskanal zu erzeugen.
ATE nach Anspruch 22, wobei die Bias-Steuerungseinheit Folgendes aufweist: einen programmierbaren Stromgenerator zum Generieren eines Bias-Stroms für die Ausgabe auf den inaktiven Kommunikationskanal, wobei der Bias-Strom sich mit einem existierenden Strom auf dem inaktiven Kommunikationskanal kombiniert, um wenigstens einen der vordefinierten Signalpegel auf dem inaktiven Kommunikationskanal zu erzeugen.
ATE nach Anspruch 22, wobei die Bias-Steuerungseinheit Folgendes aufweist: ein Schaltkreiselement für die Verwendung beim Erzeugen des wenigstens einen der vordefinierten Signalpegel auf dem inaktiven Kommunikationskanal unter Verwendung des Stroms auf dem inaktiven Kommunikationskanal.
ATE nach Anspruch 22, wobei die Bias-Steuerungseinheit Folgendes aufweist: einen programmierbaren Stromgenerator zum Generieren eines Bias-Stroms für die Ausgabe zu dem Kommunikationskanal, wobei der Bias-Strom sich mit einem existierenden Strom auf dem inaktiven Kommunikationskanal kombiniert; und ein Schaltkreiselement für die Verwendung beim Erzeugen des wenigstens einem der vordefinierten Signalpegel auf dem inaktiven Kommunikationskanal unter Verwendung des Bias-Stroms und des existierenden Stroms.