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TECHNISCHES GEBIET
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Prüfgerät
und eine elektronische Vorrichtung. Insbesondere bezieht sich die
vorliegende Erfindung auf eine elektronische Vorrichtung, die mit
einer Schnittstellenschaltung versehen ist, die mit hoher Geschwindigkeit
arbeitet, und auf ein Prüfgerät, das diese elektronische
Vorrichtung prüft. Die vorliegende Patentanmeldung beansprucht
die Priorität auf der Grundlage einer internationalen Patentanmeldung, der
am 29. März 2007 eingereichten
JP 2007-089691 , deren Inhalt hier
einbezogen wird.
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STAND DER TECHNIK
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Eine
Prüfung einer Vorrichtung wie einer Halbleiterschaltung
enthält die Verwendung eines Prüfsignals mit einer
Frequenz entsprechend der Arbeitsgeschwindigkeit der elektronischen
Vorrichtung. In diesem Fall (i) gibt das Prüfgerät
für die elektronische Vorrichtung in diese ein Prüfmuster
mit einer Frequenz entsprechend der Arbeitsgeschwindigkeit der elektronischen
Vorrichtung ein, (ii) erfasst ein logisches Wertemuster eines Ausgangssignals
der elektronischen Vorrichtung mit einer Geschwindigkeit entsprechend
der Frequenz dieses Ausgangssignals, und (iii) vergleicht dieses
logische Wertemuster mit einem erwarteten Wertemuster.
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Das
eine derartige Prüfung durchführende Prüfgerät
kann mit einem Mustergenerator, einem Taktgenerator, einer Wellenform-Formungsvorrichtung,
einem Treiber, einem Komparator und einem logischen Komparator versehen
sein, wie beispielsweise in der
Japanischen
Patentanmeldungsveröffentlichung Nr. 2001-222897 gezeigt
ist. Der Mustergenerator erzeugt ein logisches Wertemuster für
das Prüfmuster. Der Taktgenerator erzeugt Taktinformationen des
logischen Wertemusters. Die Wellenform-Formungsvorrichtung und der
Treiber erzeugen das in die elektronische Vorrichtung einzugebende
Prüfsignal auf der Grundlage des logischen Wertemusters und
der Taktinformationen.
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Der
Taktgenerator erzeugt ein Taktsignal, das beispielsweise die Bitrate
des Prüfmusters bestimmt. Die Wellenform-Formungsvorrichtung
erzeugt ein Prüfmuster, in welchem der logische Wert mit
der bestimmten Bitrate übergeht, auf der Grundlage des
von dem Mustergenerator erzeugten logischen Wertemusters. Der Treiber
gibt eine Spannung gemäß dem logischen Wert des
von der Wellenform-Formungsvorrichtung erzeugten Prüfmusters aus.
Ein Algorithmusmustergenerator (ALPG) kann als der Mustergenerator
verwendet werden, um ein Prüfmuster mit dem gewünschten
logischen Wertemuster zu erzeugen.
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Eine
Schnittstellenschaltung der elektronischen Vorrichtung empfängt
das Prüfsignal von dem Prüfgerät. Die
Schnittstellenschaltung gibt das Prüfsignal in eine interne
Schaltung der elektronischen Vorrichtung ein, und das Ausgangssignal
der internen Schaltung wird zu dem Prüfgerät geliefert.
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Der
Komparator des Prüfgeräts erfasst das logische
Wertemuster des von der Schnittstellenschaltung empfangenen Ausgangssignals.
Der logische Komparator erfasst, ob das von dem Komparator erfasste
logische Wertemuster mit einem vorgeschriebenen erwarteten Wertemuster übereinstimmt. Auf
diese Weise kann das Prüfgerät bestimmen, ob die
Schnittstellenschaltung und die interne Schaltung der elektronischen
Vorrichtung korrekt arbeiten.
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OFFENBARUNG DER ERFINDUNG
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DURCH DIE ERFINDUNG ZU LÖSENDE
PROBLEME
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In
den letzten Jahren arbeiten elektronische Vorrichtungen mit viel
höheren Geschwindigkeiten. Wenn elektronische Hochgeschwindigkeitsvorrichtungen
mit der tatsächlichen Arbeitsgeschwindigkeit geprüft
werden, wird häufig ein Hochgeschwindigkeits-Mustergenerator
verwendet. Wenn beispielsweise eine elektronische Vorrichtung mit
einer tatsächlichen Arbeitsgeschwindigkeit im GHz-Bereich geprüft
wird, wird ein Mustergenerator, der ebenfalls im GHz-Bereich arbeitet,
verwendet, Jedoch ist es für den in herkömmlichen
Prüfgeräten verwendeten Mustergenerator, wie den
Algorithmusmustergenerator, schwierig, bei einer ho hen Frequenz
im GHz-Bereich zu arbeiten.
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Es
wird eine Technik betrachtet, die das Vorsehen mehrerer Mustergeneratoren
und das Multiplexieren der Ausgangssignale der Mustergeneratoren
vorsieht, um ein Hochfrequenz-Prüfmuster zu erzeugen. Bei
dieser Technik wird jedoch die Schaltungsgröße
der Prüfvorrichtung unerwünscht groß.
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Es
ist daher eine Aufgabe eines Aspekts der vorliegenden Erfindung,
ein Prüfgerät und eine elektronische Vorrichtung
vorzusehen, die in der Lage sind, die vorgenannten, den Stand der
Technik begleitenden Nachteile zu überwinden. Die vorstehende
und andere Aufgaben können durch in den unabhängigen
Ansprüchen beschriebene Kombinationen gelöst werden.
Die abhängigen Ansprüche definieren weitere vorteilhafte
und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden Erfindung.
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MITTEL ZUM LÖSEN
DER PROBLEME
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Gemäß einem
ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Prüfgerät
vorgesehen, das eine geprüfte Vorrichtung enthaltend eine
externe Schnittstellenschaltung, die Signale zwischen einer internen Schaltung
innerhalb einer Vorrichtung und dem Äußeren der
Vorrichtung überträgt, prüft, wobei das Prüfgerät
aufweist: eine Mustererzeugungsschaltung, die ein Prüfmuster
zum Prüfen der externen Schnittstellenschaltung in die
externe Schnittstellenschaltung eingibt; eine Schnittstellen-Steuerschaltung,
die bewirkt, dass die externe Schnittstellenschaltung das Prüfmuster
zurückführt und ausgibt; und eine Schnittstellen-Beurteilungsschaltung,
die die Annehmbarkeit der externen Schnittstellenschaltung auf der
Grundlage des von der externen Schnittstellenschaltung zurückgeführten
und ausgegebenen Prüfmusters beurteilt.
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Gemäß einem
zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine elektronische
Vorrichtung vorgesehen, aufweisend eine interne Schaltung; eine externe
Schnittstellenschaltung, die mehrere E/A-Stife enthält
und die Signale zwischen der internen Schaltung und dem Äußeren
der Vorrichtung überträgt; und einen Schalterkreis,
der Schaltet, ob jeder E/A-Stift mit der internen Schaltung oder
mit einem anderen E/A-Stift verbunden ist.
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Die
Zusammenfassung beschreibt nicht notwendigerweise alle erforderlichen
Merkmale der Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung.
Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorbeschriebenen
Merkmale sein. Die vorstehenden und anderen Merkmale und Vorteile
der vorliegenden Erfindung werden augenscheinlicher anhand der folgenden
Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die in Verbindung
mit den begleitenden Zeichnungen genommen werden.
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WIRKUNG DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung kann eine externe Schnittstellenschaltung
einer geprüften Vorrichtung, die mit hoher Geschwindigkeit
arbeitet, prüfen und mit niedrigen Kosten realisiert werden.
Weiterhin trennt, wenn die externe Schnittstellenschaltung geprüft
wird, die vorliegende Erfindung die externe Schnittstellenschaltung
von der internen Schaltung, so dass eine Prüfung der externen
Schnittstellenschaltung parallel zu der Prüfung der internen
Schaltung durchgeführt werden kann. Beispielsweise kann durch
Verwendung einer internen Selbstprüfungsschaltung zum Prü fen
der internen Schaltung die vorliegende Erfindung eine Prüfung
der externen Schnittstellenschaltung und eine Prüfung der
internen Schaltung parallel durchführen, wodurch die Prüfzeit
verkürzt wird.
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KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
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1 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
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2 zeigt
eine beispielhafte Arbeitsweise der Prüfvorrichtung 100.
Wie vorstehend beschrieben ist, kann die Prüfvorrichtung 100 mehrere
unterschiedliche Prüfungen parallel durchführen.
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3 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Schnittstellen-Prüfschaltung 110 und
der externen Schnittstellenschaltung 210.
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4 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration mehrerer E/A-Schaltungen 120 entsprechend
eins zu eins zu mehreren E/A-Stiften 202.
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5A zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Mustererzeugungsschaltung 114.
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5B zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118.
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6 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Stromversorgungs-Prüfschaltung 150.
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BESTE ART DER AUSFÜHRUNG DER
ERFINDUNG
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Nachfolgend
werden einige Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
beschrieben. Die Ausführungsbeispiele beschränken
die Erfindung gemäß den Ansprüchen nicht,
und alle Kombinationen der in den Ausführungsbeispielen
beschriebenen Merkmale sind nicht notwendigerweise wesentlich für durch
Aspekte der Erfindung vorgesehene Mittel.
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1 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration eines Prüfgeräts
gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung. Das Prüfgerät 100 nach dem
vorliegenden Ausführungsbeispiel prüft eine geprüfte
Vorrichtung 200 wie eine Halbleiterschaltung. Das Prüfgerät 100 trennt
eine externe Schnittstellenschaltung 210 der geprüften
Vorrichtung 200 von einer internen Schaltung 230,
wenn geprüft wird, um ein einfaches Prüfmuster
zum Prüfen der externen Schnittstellenschaltung 210 zu
erzeugen. Das Prüfen der internen Schaltung 230 enthält
die Verwendung einer in der geprüften Vorrichtung 200 vorgesehenen,
internen Selbstprüfungsschaltung 240. Auf diese
Weise kann das Prüfgerät 100 die geprüfte
Hochgeschwindigkeitsvorrichtung 200 ohne Erzeugung eines
Prüfmusters mit einem komplexen logischen Wertemuster prüfen.
Daher kann das Prüfgerät 100 mit geringen
Kosten realisiert werden.
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Die
geprüfte Vorrichtung 200 enthält die
externe Schnittstellenschaltung 210, eine interne Schnittstellenschaltung 220,
die interne Schaltung 230, die interne Selbstprüfungsschaltung
(BIST) 240 und eine Stromversorgung 250. 1 zeigt
E/A-Stifte 202, einen Abtaststift 204, einen BIST-Stift 206 und einen
Stromversorgungsstift 208 als von der externen Schnittstellenschaltung 210 getrennt,
aber die E/A-Stifte 202, der Abtaststift 204,
der BIST-Stift 206 und der Stromversorgungsstift 208 können
in der externen Schnittstellenschaltung 210 enthalten sein.
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Die
externe Schnittstellenschaltung 210 ist zwischen der internen
Schnittstellenschaltung 220 der geprüften Vorrichtung 200 und
der Außenseite der Vorrichtung vorgesehen und arbeitet,
um Signale zu übertragen. Beispielsweise empfängt
die externe Schnittstellenschaltung 210 ein Signal von
der Außenseite an einem E/A-Stift 202 und gibt
dieses Signal über die interne Schnittstellenschaltung 220 in
die interne Schaltung 230 ein. Als ein anderes Beispiel kann
die externe Schnittstellenschaltung 210 ein Ausgangssignal
von der internen Schaltung 230 über die interne
Schnittstellenschaltung 220 empfangen und dieses Signal über
einen E/A-Stift 202 nach außen ausgeben.
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Die
interne Schaltung 230 kann eine digitale Schaltung, eine
analoge Schaltung oder eine Kombination aus analogen und digitalen
Schaltungen sein, und arbeitet gemäß einem in
diese eingegebenen Signal. Die interne Schaltung 230 kann
zu der internen Schnittstellenschaltung 220 ein Signal
entsprechend dem von der internen Schnittstellenschaltung 220 empfangenen
Signal ausgeben. Die interne Schaltung 230 kann eine Speicherschaltung
enthalten, die ein von der internen Schnittstellenschaltung 220 empfangenes
Datensignal speichert. In diesem Fall kann die interne Schaltung 230 die
gespeicherten Daten entsprechend einem Zugriffsbefehl zu der internen
Schnittstellenschaltung 220 ausgeben.
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Die
interne Schnittstellenschaltung 220 überträgt
Signale zwischen der externen Schnittstellenschaltung 210 und
der internen Schaltung 230. Wenn beispielsweise eine Speicherzelle
in der internen Schaltung 230 enthalten ist, empfängt
die interne Schnittstellenschaltung 220 von der externen Schnittstellenschaltung 210 einen
Datenschreibbefehl, die zu schreibenden Daten und eine Adresse,
in die zu schreiben ist, und schreibt dann diese Daten an der bezeichneten
Adresse in die interne Schaltung 230. Als ein anderes Beispiel
kann die interne Schnittstellenschaltung 220 von der externen Schnittstellenschaltung 210 einen
Datenlesebefehl und eine Adresse, aus der Daten zu lesen sind, empfangen
und kann dann die an der bezeichneten Adresse der internen Schaltung 230 gespeicherten Daten
lesen und diese Daten zu der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgeben.
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Die
interne Schnittstellenschaltung 220 kann in jeder Übertragungsleitung,
die eine Verbindung zwischen einem der mehreren E/A-Stifte 202 und
der internen Schaltung 230 vorsehen, Flipflops enthalten.
Jedes Flipflop hält den logischen Wert des auf der entsprechenden
Signalleitung übertragenen Signals. Diese Flipflops können
in einem Abtastpfad, der von den die E/A-Stifte 202 mit
der internen Schaltung 230 verbindenden Signalleitungen
verschieden ist, in Kaskade geschaltet sein. Dieser Abtastpfad ist
mit dem Abtaststift 204 verbunden.
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Die
interne Selbstprüfungsschaltung 240 prüft
die interne Schaltung 230. Die interne Selbstprüfungsschaltung 240 kann
die interne Schaltung 230 gemäß einem
von dem BIST-Stift 206 gelieferten Steuersignal prüfen.
Die interne Selbstprüfungsschaltung 240 kann das
Prüfsignal so erzeugen, dass es ein vorbestimmtes logisches
Wertemuster hat, und kann das Prüfsignal zu der internen
Schaltung 230 liefern. Die interne Selbstprüfungsschaltung 240 kann über
die Annehmbarkeit der internen Schaltung 230 urteilen durch
Ver gleichen des logischen Wertemusters des von der internen Schaltung 230 ausgegebenen
Signals mit einem vorbestimmten logischen Wertemuster.
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Die
interne Selbstprüfungsschaltung 240 kann einen
vorgeschriebenen logischen Wert in einer Speicherzelle der internen
Schaltung 230 speichern und kann diesen logischen Wert
lesen. Zu dieser Zeit kann die interne Selbstprüfungsschaltung 240 die Annehmbarkeit
der internen Schaltung 230 auf der Grundlage dessen beurteilen,
ob der geschriebene logische Wert mit dem gelesenen logischen Wert übereinstimmt.
Die interne Selbstprüfungsschaltung 240 kann eine
Benachrichtigung betreffend dieses Beurteilungsergebnis durch die
interne Schaltung 230 über den BIST-Stift 206 nach
außen senden.
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Die
Funktion der internen Selbstprüfungsschaltung 240 ist
nicht auf die vorbeschriebenen Funktionen beschränkt. Die
interne Selbstprüfungsschaltung 240 kann eine
so genannte BIST(eingebaute Selbstprüfung)-Schaltung sein,
die auf dem Gebiet allgemein verwendet wird.
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Die
Stromversorgung 250 empfängt eine Versorgungsleistung
von außerhalb über den Stromversorgungsstift 208.
Die Stromversorgung 250 kann die Versorgungsleistung zu
der externen Steckstellenschaltung 210, der internen Schnittstellenschaltung 220,
der internen Schaltung 230 und der internen Selbstprüfungsschaltung 240 liefern.
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Das
Prüfgerät 100 ist mit einer Schnittstellen-Prüfschaltung 110,
einer BIST-Prüfschaltung 140, einer Abtastprüfschaltung 130,
einer Stromversorgungs-Prüfschaltung 150, einer
Stromversorgungsschaltung 160 und einer Ergebnisverarbeitungsschaltung 170 versehen.
Die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 prüft
die externe Schnittstellenschaltung 210.
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Die
Schnittstellen-Prüfschaltung 110 kann ein Prüfmuster
mit einem vorgeschriebenen logischen Wertemuster in die E/A-Stifte
eingeben. Die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 kann
bewirken, dass die externe Schnittstellenschaltung 210 das Prüfmuster
zurückführt und ausgibt, und kann dann das zurückgeführte
Prüfmuster von den E/A-Stiften 202 empfangen.
Die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 kann die
Annehmbarkeit der externen Schnittstellenschaltung 210 auf
der Grundlage dessen beurteilen, ob das logische Wertemuster des
empfangenen Prüfmusters mit dem vorgeschriebenen erwarteten
Wertemuster übereinstimmt.
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Die
Schnittstellen-Prüfschaltung 110 kann das Prüfmuster
so erzeugen, dass es eine Frequenz hat, die im Wesentlichen gleich
der Arbeitsfrequenz der geprüften Vorrichtung 200 ist.
Beispielsweise kann die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 das
Prüfmuster mit einer Frequenz im GHz-Bereich erzeugen.
Da die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 ein Hochfrequenz-Prüfmuster
auf diese Weise erzeugt, ist die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 erwünschterweise
in der Lage, mit hoher Geschwindigkeit zu arbeiten.
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Hier
prüft die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 nicht
die interne Schaltung 230, und somit besteht keine Notwendigkeit,
ein Prüfmuster mit verschiedenen logischen Wertemustern
zu erzeugen. Beispielsweise kann die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 das
Prüfmuster so erzeugen, dass es ein Pseudozufallsmuster
ist, wie nachfolgend beschrieben wird. In diesem Fall kann die Schnittstellen-Prüfschaltung
ein Prüfmuster mit einer Frequenz erzeugen, die höher
als die eines Prüfmusters ist, das von einem Algorithmusmustergenerator
erzeugt werden kann. Daher kann die Prüfvorrichtung 100 die
externe Schnittstellenschaltung 210 einer geprüften
Vorrichtung 200, die mit höheren Geschwindigkeiten
arbeitet, prüfen.
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Wenn
die externe Schnittstellenschaltung 210 geprüft
wird, trennt die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 wünschenswerterweise
die externe Schnittstellenschaltung 210 von der internen
Schnittstellenschaltung 220. Hierdurch kann die externe
Schnittstellenschaltung 210 parallel zu der internen Schnittstellenschaltung 220 oder
der internen Schaltung 230 geprüft werden.
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Die
Abtastprüfschaltung 130 gibt aufeinander folgend
das vorgeschriebene logische Wertemuster in die Flipflops ein, die
in den Abtastpfad der internen Schnittstellenschaltung 220 geschaltet
sind, um eine Abtastprüfung durchzuführen. Beispielsweise
ist jedes Ende des Abtastpfads mit einem Abtaststift 204 verbunden,
und die Abtastprüfschaltung 130 kann über
die Annehmbarkeit des Abtastpfads auf der Grundlage des von einem
der Abtaststifte 204 ausgegebenen logischen Wertemusters
urteilen, wenn das vorgeschriebene logische Wertemuster in den anderen
Abtaststift 204 eingegeben wird.
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Die
BIST-Prüfschaltung 140 prüft die interne Schaltung 230 durch
Steuern der internen Selbstprüfungsschaltung 240 über
den BIST-Stift 206. Beispielsweise liefert die BIST-Prüfschaltung 140 ein Steuersignal
zu der internen Selbstprüfungsschaltung 240, das
die Prüfung der internen Schaltung 230 anweist.
Gemäß diesem Steuersignal führt die interne
Selbstprüfungs schaltung 240 eine vorbestimmte Messung
oder Prüfung der internen Schaltung 230 durch
und teilt der BIST-Prüfschaltung 140 das Ergebnis
der Messung oder Prüfung mit.
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Die
Stromversorgungsschaltung 160 liefert die Versorgungsleistung
zu der geprüften Vorrichtung 200. Beispielsweise
kann die Stromversorgungsschaltung 160 die Versorgungsleistung
mit einer konstanten Spannung zu der geprüften Vorrichtung 200 liefern,
oder eine Versorgungsleistung mit einem konstanten Strom.
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Die
Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 beurteilt die
Annehmbarkeit der geprüften Vorrichtung 200 auf
der Grundlage einer Änderung der zu der geprüften
Vorrichtung 200 gelieferten Versorgungsleistung. Beispielsweise
kann die Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 die
Annehmbarkeit der geprüften Vorrichtung 200 auf
der Grundlage einer Änderung der Versorgungsleistung während
eines Zustands, in welchem die interne Selbstprüfungsschaltung 240 bewirkt,
dass die interne Schaltung 230 arbeitet, beurteilen. Wenn
die Stromversorgungsschaltung 160 Versorgungsleistung mit
einer konstanten Spannung liefert, kann die Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 eine Änderung
des Stroms der Versorgungsleistung erfassen. Wenn die Stromversorgungsschaltung 160 eine
Versorgungsleistung mit einem konstanten Strom liefert, kann die
Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 eine Änderung
der Spannung der Versorgungsleistung erfassen. Die Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 kann
eine Änderung der Versorgungsleistung erfassen, wenn die
interne Schaltung 230 in einem Ruhezustand ist.
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Die
Ergebnisverarbeitungsschaltung 170 beurteilt die Annehmbarkeit
der geprüften Vorrichtung 200 auf der Grundlage
der Beurteilungsergebnisse der Schnittstellen-Prüfschaltung 110,
der Abtastprüfschaltung 130, der BIST-Prüfschaltung 140 und
der Stromversorgungs-Prüfschaltung 150. Beispielsweise
beurteilt die Ergebnisverarbeitungsschaltung 170 die geprüfte
Vorrichtung 200 als annehmbar, wenn keine Defekte in irgendeiner
von der Schnittstellen-Prüfschaltung 110, der
Abtastprüfschaltung 130, der BIST-Prüfschaltung 140 und
der Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 erfasst
werden. Wenn das Prüfgerät 100 nicht
eine Prüfung für eine oder mehrere von der Schnittstellen-Prüfschaltung 110,
der Abtastprüfschaltung 130, der BIST-Prüfschaltung 140 und
der Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 durchführt,
kann die Ergebnisverarbeitungsschaltung 170 die Annehmbarkeit
der geprüften Vorrichtung 200 beurteilen auf der
Grundlage der Prüfergebnisse von der-/denjenigen der Schnittstellen-Prüfschaltung 110,
der Abtastprüfschaltung 130, der BIST-Prüfschaltung 140 und
der Stromversorgungs-Prüfschaltung 150, die getestet
wurde(n).
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Wie
vorstehend beschrieben ist, kann das Prüfgerät 100 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel die externe Schnittstellenschaltung 210 einer geprüften
Hochgeschwindigkeitsvorrichtung 200 mit geringen Kosten
prüfen. Weiterhin kann das Prüfgerät 100 die
Prüfung der externen Schnittstellenschaltung 210 parallel
zu einer anderen Prüfung durchführen.
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2 zeigt
eine beispielhafte Arbeitsweise des Prüfgeräts 100.
Wie vorstehend beschrieben ist, kann das Prüfgerät 100 mehrere
unterschiedliche Prüfungen parallel durchführen.
Beispielsweise kann die Prüfvorrichtung 100 eine
Schnittstellenprüfung (IF-Prüfung) parallel zu
einer anderen Prüfung wie einer BIST-Prüfung durchführen.
Als ein anderes Beispiel kann das Prüfgerät 100 eine
Stromversorgungsprüfung (DC-Prüfung) parallel
zu der BIST-Prüfung durchführen Bei dem in 2 gezeigten
Beispiel führt das Prüfgerät 100 aufeinanderfolgend
die Stromversorgungsprüfung (DC-Prüfung) und die Schnittstellenprüfung
(IF-Prüfung) durch, und es führt auch aufeinanderfolgend
die BIST-Prüfungen und eine Abtastprüfung parallel
zu diesen Prüfungen durch. Als eine Folge ist die Prüfzeit
kürzer als die Prüfzeit, die zum aufeinanderfolgenden
Durchführen dieser vier Prüfungen benötigt
wird.
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3 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Schnittstellen-Prüfschaltung 110 und
der externen Schnittstellenschaltung 210. Die externe Schnittstellenschaltung
enthält die mehreren E/A-Stifte 202, einen Steuerstift 209,
mehrere Pufferspeicher 212 und einen Schalterkreis 214.
Die mehreren Pufferspeicher 212 sind vorgesehen, um eins
zu eins den mehreren E/A-Stiften 202 zu entsprechen, und
jeder Pufferspeicher 212 ist zwischen dem entsprechenden
E/A-Stift 202 und der internen Schnittstellenschaltung 220 vorgesehen.
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Jeder
Pufferspeicher 212 kann von dem entsprechenden E/A-Stift 202 empfangene
Daten speichern und diese Daten zu der internen Schnittstellenschaltung 220 ausgeben.
Jeder Pufferspeicher 212 kann auch von der internen Schnittstellenschaltung 220 empfangene
Daten speichern und diese Daten zu dem entsprechenden E/A-Stift 202 ausgeben.
Anstelle der Pufferspeicher 212 kann die externe Schnittstellenschaltung 210 Puffer
enthalten, die die Wellenform der zwischen den E/A-Stiften 202 und der
internen Schnittstellenschaltung 220 übertragenen
Signale formen.
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Der
Schalterkreis 214 ist zwischen den E/A-Stiften 202 und
der internen Schaltung 230 vorgesehen. Der Schalterkreis 214 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist zwischen den Pufferspeichern 212 und
der internen Schnittstellenschaltung 220 vorgesehen. Der
Schalterkreis 214 schaltet, ob jeder E/A-Stift 202 mit
der internen Schaltung 230 oder mit einem anderen E/A-Stift 202 verbunden
ist.
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Wenn
beispielsweise eine Benachrichtigung, die die Prüfung der
externen Schnittstellenschaltung 210 anweist, wie ein Schaltsteuersignal,
von dem externen Prüfgerät 100 empfangen
wird, kann der Schalterkreis 214 innerhalb der geprüften
Vorrichtung 200 (i) den E/A-Stift 202-1, der das
Prüfmuster von dem Prüfgerät 100 empfängt,
mit (ii) dem E/A-Stift 202-2, der das Prüfmuster
zurückführt und zu dem Prüfgerät 100 ausgibt,
verbinden. Während des tatsächlichen Betriebs
der geprüften Vorrichtung 200 kann der Schalterkreis 214 die
E/A-Stifte 202 mit der internen Schaltung 230 verbinden.
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Der
Schalterkreis 214 nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
schaltet, ob der Pufferspeicher 212 entsprechend jedem
E/A-Stift 202 mit (i) der internen Schnittstellenschaltung 220 oder
(ii) einem anderen E/A-Stift 202 über den Pufferspeicher 212 verbunden
ist. Der Schalterkreis 214 kann mehrere Schalter 216 enthalten,
die eins zu eins den mehreren E/A-Stiften 202 entsprechen.
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Jeder
Schalter 216 schaltet, ob der entsprechende Pufferspeicher 212 mit
der internen Schnittstellenschaltung 220 oder einem anderen
Pufferspeicher 212 verbunden ist. Der Schalterkreis 214 kann zwischen
den E/A-Stiften 202 und den Pufferspeichern 212 vor gesehen
sein. In diesem Fall schaltet jeder Schalter 216, ob der
entsprechende E/A-Stift 202 mit dem entsprechenden Pufferspeicher 212 oder
einem anderen E/A-Stift 202 verbunden ist.
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Die
Schnittstellen-Prüfschaltung 110 enthält eine
Schnittstellen-Steuerschaltung 112 und eine E/A-Schaltung 120.
Die E/A-Schaltung 120 enthält eine Mustererzeugungsschaltung 114,
eine Takterzeugungsschaltung 116 und eine Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118.
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Wenn
die externe Schnittstellenschaltung 210 geprüft
wird, steuert die Schnittstellen-Steuerschaltung 112 den
Schalterkreis 214 über den Steuerstift 209,
um den Verbindungspfad, der das Signal zwischen der externen Schnittstellenschaltung 210 und
der internen Schnittstellenschaltung 220 überträgt,
zu trennen. Die Schnittstellen-Steuerschaltung 212 kann
in der geprüften Vorrichtung 200 (i) den E/A-Stift 202-1,
der das Prüfmuster von der Mustererzeugungsschaltung 114 empfängt,
mit (ii) dem E/A-Stift 202-2, der das Prüfmuster
zurückführt und ausgibt, verbinden. Die Schnittstellen-Steuerschaltung 112 kann
ein Schaltsteuersignal, das den Schalterkreis 214 steuert, über
den Steuerstift 209 zu dem Schalterkreis 214 liefern.
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Beispielsweise
kann die Schnittstellen-Steuerschaltung 112 jeden Schalter 216 in
dem Schalterkreis 214 so steuern, dass die Hälfte
der E/A-Stifte, d. h., die E/A-Stifte 202-1, über
die Schalter 216 eins zu eins mit der anderen Hälfte
der E/A-Stifte, d. h., den E/A-Stiften 202-2 verbunden
sind. Die Schnittstellen-Steuerschaltung 112 kann den Schalterkreis 214 so
steuern, dass die von den Pufferspeichern 212 entsprechend
den E/A-Stiften 202-1 gespeicherten Daten von den E/A-Stiften 202-2 ausgegeben
werden.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 114 gibt ein Prüfmuster
in jeden E/A-Stift 202-1 ein, um die externe Schnittstellenschaltung 210 zu
prüfen. Als eine Folge des Steuerns des Schalterkreises 214 durch die
Schnittstellen-Steuerschaltung 112 in der vorbeschriebenen
Weise kann die externe Schnittstellenschaltung 210 das
eingegebene Prüfmuster zurückführen,
um das zurückgeführte Prüfmuster von
den E/A-Stiften 202-2 auszugeben. Mit anderen Worten, die
Schnittstellen-Steuerschaltung 112 kann bewirken, dass
die externe Schnittstellenschaltung 210 das von dem Prüfgerät 100 eingegebene
Prüfmuster zu dem Prüfgerät 100 zurückführt.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 114 kann ein Prüfmuster
unter Anwendung eines einfachen Vorgangs erzeugen, wie ein Prüfmuster
mit einem Pseudozufallsmuster oder ein Prüfmuster mit Impulsen
mit einer konstanten Periode. Als eine Folge kann die Mustererzeugungsschaltung 114 ein
Prüfmuster mit einer hohen Frequenz erzeugen. Daher kann
das Prüfgerät 100 die externe Schnittstellenschaltung 210 der
geprüften Vorrichtung 200, die mit einer hohen
Geschwindigkeit arbeitet, prüfen.
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Die
Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 beurteilt die
Annehmbarkeit der externen Schnittstellenschaltung 210 auf
der Grundlage des Prüfmusters, das von der externen Schnittstellenschaltung 210 über
die E/A-Stifte 202-2 zurückgeführt und
ausgegeben wird. Beispielsweise kann die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 den
logischen Wert des von der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgegebenen
Signals gemäß einem zu dieser geführten
Taktsignal erfassen und die Annehmbarkeit der externen Schnittstellenschaltung 210 durch
Vergleichen des erfassten logischen Wertemusters mit dem vorbestimmten
erwarteten Wertemuster beurteilen.
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Die
Takterzeugungsschaltung 116 liefert Taktsignale zu der
Mustererzeugungsschaltung 114 und der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118. Beispielsweise
kann die Takterzeugungsschaltung 116 ein Taktsignal zu
der Takterzeugungsschaltung 116 liefern, das die Übergangszeitpunkte
des logischen Werts des Prüfmusters bestimmt, und sie kann ein
Taktsignal zu der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 liefern,
mit einer Öffnung, die im Wesentlichen in der zeitlichen
Mitte jedes Datenbits des von der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgegebenen
Signals positioniert ist.
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Die
Takterzeugungsschaltung 116 kann dem zu der Mustererzeugungsschaltung 114 geführten Taktsignal
Jitter hinzufügen. In diesem Fall ist Jitter dem von der
Mustererzeugungsschaltung 114 ausgegebenen Prüfmuster
hinzugefügt, und somit kann eine Jitterprüfung
bei der externen Schnittstellenschaltung 210 durchgeführt
werden.
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Beispielsweise
kann die Takterzeugungsschaltung 116 allmählich
die Amplitude des dem Taktsignal hinzugefügten Jitters ändern.
Die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 kann bei jeder
Jitteramplitude beurteilen, ob das logische Wertemuster des von
der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgegebenen Signals
mit dem erwarteten Wertemuster übereinstimmt. Auf diese
Weise kann das Prüfgerät 100 die Jittertoleranz
der externen Schnittstellenschaltung 210 bestimmen.
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Die
Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 kann die Amplitude
des Jitters in dem von der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgegebenen
Signal messen. In diesem Fall kann die Takterzeugungsschaltung 116 mehrere
Taktsignale erzeugen, die unterschiedliche Phasen für jeden
Zyklus des von der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgegebenen Signals
haben. In jedem Zyklus des Signals kann die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 das
von der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgegebene Jitter
berechnen auf der Grundlage der Phasenabweichung des Taktsignals,
das den Übergang des logischen Werts erfasst. Das Prüfgerät 100 kann
die Jitterverstärkung der externen Schnittstellenschaltung 210 auf
der Grundlage des Verhältnisses zwischen (i) der dem zu
der Mustererzeugungsschaltung 114 zugeführten
Taktsignal hinzugefügten Jitteramplitude und (ii) der von
der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 gemessenen
Jitteramplitude berechnen.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 114 kann ein Prüfmuster
mit einem auf H oder L fixierten logischen Wert erzeugen. Das Prüfgerät 100 kann
einen Signalpegelverlust in der externen Schnittstellenschaltung 210 auf
der Grundlage des Pegels des in die externe Schnittstellenschaltung 210 eingegebenen
Signals und des Pegels des von der externen Schnittstellenschaltung 210 ausgegebenen
Signals erfassen.
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3 zeigt
eine gemeinsame E/A-Schaltung 120, die für die
mehreren E/A-Stifte 202 vorgesehen ist, aber die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 kann stattdessen
mehrere E/A-Schaltungen 120 entsprechend eins zu eins den
mehreren E/A-Stiften 202 enthalten. In diesem Fall entsprechen
die Mustererzeugungsschaltungen 114 der E/A-Schaltungen 120 den E/A-Stiften 202-1,
die das in diese entsprechenden E/A-Stifte 202-1 eingegebene
Prüfmuster empfangen. Die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 der
E/A-Schaltungen 120 entsprechend den E/A-Stiften 202-2,
die das Prüfmuster zurückführen und ausgeben,
messen das von diesen entsprechenden E/A-Stiften 202-2 ausgegebene
Signal.
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4 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration von mehreren E/A-Schaltungen 120 entsprechend eins
zu eins mehreren E/A-Stiften 202. 4 zeigt eine
E/A-Schaltung 120-1 entsprechend einem E/A-Stift 202-1 und
eine E/A-Schaltung 120-2 entsprechend einem E/A-Stift 202-2,
aber die Schnittstellen-Prüfschaltung 110 kann
mehrere E/A-Schaltungen 120-1 entsprechend mehreren E/A-Stiften 202-1 und
mehrere E/A-Schaltungen 120-2 entsprechend mehreren E/A-Stiften 202-2 enthalten.
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Die
E/A-Schaltungen 120-1 und 120-2 nach dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel enthalten jeweils einen Treiber 122,
einen Komparator 124 und einen Schalter 126 zusätzlich
zu der Konfiguration der mit Beziehung auf 3 beschriebenen E/A-Schaltung 120.
Der Treiber 122 erzeugt ein Signal gemäß dem
von der Mustererzeugungsschaltung 114 ausgegebenen Prüfmuster
und liefert dieses Signal zu dem E/A-Stift 202. Beispielsweise
wird eine Spannung zu dem Treiber 122 geliefert, die auszugeben
ist, wenn das Prüfmuster den logischen Wert H anzeigt,
und eine Spannung, die auszugeben ist, wenn das Prüfmuster
den logischen Wert L anzeigt, und gibt eine Spannungswellenform
entsprechend dem logischen Wertemuster des Prüfmusters
in dieser Weise aus.
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Der
Komparator 124 empfängt das von dem E/a-Stift 202 ausgegebene
Signal, vergleicht den Pegel des empfangenen Signals mit einem vorbestimmten
Bezugspegel und liefert das Vergleichsergebnis zu der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118.
Beispielsweise kann der Komparator 124 den logischen Wert
H ausgeben, wenn der Pegel des empfangenen Signals größer
als der Bezugspegel ist, und kann den logischen Wert L ausgeben,
wenn der Pegel des empfangenen Signals kleiner als oder gleich dem
Bezugspegel ist. Die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 erhält
das Vergleichsergebnis von dem Komparator 124 gemäß dem
von der Takterzeugungsschaltung 116 zugeführten
Taktsignal, wodurch das logische Wertemuster des von dem E/A-Stift 202 ausgegebenen
Signals erhalten wird, und vergleicht dieses logische Wertemuster
mit dem erwarteten Wertemuster.
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Der
Schalter 126 schaltet, ob das Eingangsende des Komparators 124 mit
dem E/A-Stift 202 verbunden ist oder nicht. Der Schalter 126 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist zwischen (i) der den
Treiber 122 und den E/A-Stift 202 verbindenden Leitung
und (ii) dem Eingangsende des Komparators 124 vorgesehen
und schaltet, ob das Eingangsende des Komparators 124 mit
dieser Leitung verbunden ist oder nicht.
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Wenn
die E/A-Schaltung 120 mit einem E/A-Stift 202-1 verbunden
ist, der das Prüfmuster empfängt, trennt der Schalter 126 den
Komparator 124 von dem E/A-Stift 202-1, wodurch
bewirkt wird, dass das von dem Treiber 122 ausgegebene
Signal zu dem E/A-Stift 202-1 geliefert wird. Wenn die E/A-Schaltung 120 mit
einem E/A-Stift 202-2 verbunden ist, der das Prüfmuster
zurückführt und ausgibt, verbindet der Schalter 126 den
Komparator 124 mit dem E/A-Stift 202-2, wodurch
bewirkt wird, dass das von dem E/A-Stift 202-2 ausgege bene
Signal zu dem Komparator 124 geliefert wird.
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Bei
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel trennt der Schalter 126 der
E/A-Schaltung 120-1 den Komparator 124 von dem
E/A-Stift 202-1. Die Mustererzeugungsschaltung 114 der
E/A-Schaltung 120-1 gibt das Prüfmuster aus.
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Der
Schalter 126 der E/A-Schaltung 120-2 verbindet
den Komparator 124 mit dem E/A-Stift 202-2. Der
Treiber 122 der E/A-Schaltung 120-2 gibt das Prüfmuster
nicht aus, und der Komparator 124 misst das von dem E/A-Stift 202-2 zurückgeführte und
ausgegebene Prüfmuster.
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Die 5A und 5B zeigen
beispielhafte Konfigurationen der Mustererzeugungsschaltung 114 und
der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118. 5A zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Mustererzeugungsschaltung 114. 5B zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 114 enthält ein Schieberegister 128 und
eine Additionsschaltung 132 und erzeugt ein Pseudozufallsmuster
als das Prüfmuster. Das Schieberegister 128 enthält
mehrere Register, die kaskadenförmig verbunden sind. Das von
der Takterzeugungsschaltung 116 erzeugte Taktsignal kann
verzweigt und zu jedem Register geliefert werden. Jedes Register
erwirbt und speichert den von dem Register in der vorhergehenden
Stufe ausgegebenen logischen Wert gemäß dem zu
diesem gelieferten Taktsignal und gibt den gespeicherten logischen
Wert aus.
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Die
Additionsschaltung 132 addiert die mehreren, von den mehreren
Registern ausgegebenen logischen Werte miteinander und gibt das
Ergebnis in das Register der ersten Stufe ein die Additionsschaltung 132 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel addiert (i) den von
dem Register in der letzten Stufe ausgegebenen logischen Wert und
(ii) den von dem Register in der Stufe unmittelbar vor der letzten Stufe
ausgegebenen logischen Wert miteinander und gibt das Ergebnis in
das Register in der ersten Stufe ein. Hier kann die durch die Additionsschaltung 132 durchgeführte
Addition ein Vorgang zum Erhalten der logischen Summe sein. Mit
dieser Konfiguration kann die Mustererzeugungsschaltung 114 ein
Pseudozufallsmuster erzeugen, das davon abhängt, welchen anfänglichen
Wert jedes Register gespeichert hat und von welchem der Register
der ausgegebene logische Wert durch die Additionsschaltung 132 addiert wurde.
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Zumindest
eines der Register speichert den logischen Wert H als anfänglichen
Wert, und zumindest eines der Register speichert den logischen Wert L
als den Anfangswert. Die Additionsschaltung 132 kann die
von drei oder mehr der Register ausgegebenen logischen Werte miteinander
addieren und die sich ergebende logische Summe in das Register der ersten
Stufe eingeben.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 114 kann weiterhin eine anfängliche
Einstellschaltung enthalten, die die in den Registern gespeicherten
Anfangswerte gemäß dem zu erzeugenden Pseudozufallsmuster
setzt. Die Mustererzeugungsschaltung 114 kann weiterhin
eine Auswahlschaltung enthalten, welche steuert, ob das Ausgangssignal
jedes Registers in die Additionsschaltung 132 eingegeben
wird, gemäß dem zu erzeugenden Pseudozufallsmuster. Die
Mustererzeugungsschaltung 114 kann weiterhin eine Stufensteuerschaltung
enthalten, die die Anzahl von Stufen in dem Schieberegister 128 gemäß dem zu
erzeugenden Pseudozufallsmuster steuert. Beispielsweise kann die
Stufensteuerschaltung die Anzahl von Stufen in dem Schieberegister 128 einstellen
durch Auswählen, ob das Ausgangssignal eines Registers
in den Treiber 122 eingegeben wird. In diesem Fall ist
es wünschenswert, dass die Additionsschaltung 132 nicht
mit irgendeinem Register verbunden ist, das sich in einer späteren
Stufe als das mit dem Treiber 122 verbundene Register befindet.
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Mit
dieser Konfiguration kann die Mustererzeugungsschaltung 114 viele
Typen von Pseudozufallsmustern unter Verwendung einer einfachen
Konfiguration erzeugen. Da komplizierte Berechnungen nicht erforderlich
sind, kann die Mustererzeugungsschaltung 114 ein Prüfmuster
mit einer hohen Frequenz erzeugen.
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Die
Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 bestimmt, ob das
von der Mustererzeugungsschaltung 114 ausgegebene Prüfmuster
mit dem logischen Wertemuster, das durch die externe Schnittstellenschaltung 210 zurückgeführt
und ausgegeben wurde, übereinstimmt. Die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel bestimmt, ob das von
dem Komparator 124 erfasste logische Wertemuster mit dem
von der Mustererzeugungsschaltung 114 erzeugten Pseudozufallsmuster übereinstimmt.
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Das
von der Mustererzeugungsschaltung 114 erzeugte Prüfmuster
wird gemäß der Konfiguration des Schieberegisters 128 und
der Additionsschaltung 132 und den in den Registern des
Schieberegisters 128 gespeicherten Anfangswerten bestimmt.
Die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 nach dem vorliegenden
Ausfüh rungsbeispiel enthält Schaltungen, die dieselbe
Konfiguration wie das Schieberegister 128 und die Additionsschaltung 132 der
Mustererzeugungsschaltung 114 haben, und kann daher das
von der Mustererzeugungsschaltung 114 erzeugte Prüfmuster
wiedergeben und dieses Prüfmuster mit dem von dem Komparator 124 erfassten
logischen Wertemuster vergleichen.
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Die
Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 enthält
ein Schieberegister 134, eine Additionsschaltung 136 und
eine Übereinstimmungs-Erfassungsschaltung 138.
Das Schieberegister 134 und die Additionsschaltung 136 können
dieselbe Konfiguration wie das Schieberegister 128 und
die Additionsschaltung 132 der Mustererzeugungsschaltung 114 haben.
Mit anderen Worten, das Schieberegister 134 kann dieselbe
Anzahl von Registerstufen wie das Schieberegister 128 haben.
Jedoch ist festzustellen, dass die von dem Komparator 124 ausgegebenen
logischen Werte aufeinanderfolgend in das Register der ersten Stufe
des Schieberegisters 134 eingegeben werden. Weiterhin kann
jedes Register in dem Schieberegister 134 mit einem Taktsignal
beliefert werden, das dieselbe Periode wie das zu den Registern
des Schieberegisters 128 gelieferte Taktsignal hat.
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Die
Additionsschaltung 136 kann mit einem Register in dem Schieberegister 134 verbunden
sein, das dem Register in dem Schieberegister 128 entspricht,
mit dem die Additionsschaltung 132 verbunden ist. Jedoch
ist festzustellen, dass das Berechnungsergebnis der Additionsschaltung 136 in
der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 in die Übereinstimmungs-Erfassungsschaltung 138 und
nicht in das Register der ersten Stufe des Schieberegisters 134 eingegeben
wird.
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Die Übereinstimmungs-Erfassungsschaltung 138 erfasst,
ob der von der Additionsschaltung 136 erhaltene logische
Wert mit dem in das Register der ersten Stufe des Schieberegisters 134 eingegebenen
logischen Wert übereinstimmt. Die Übereinstimmungs-Erfassungsschaltung 138 kann
beispielsweise eine Exklusiv-ODER-Schaltung sein.
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Wenn
der von dem Komparator 124 ausgegebene logische Wert aufeinanderfolgend
in das Schieberegister 134 eingegeben wird und alle von den
Schieberegistern gespeicherten Anfangswerte herausgeschoben sind,
zeigt der von der Additionsschaltung 136 ausgegebene logische
Wert den logischen Wert an, der als nächstes in das Schieberegister 134 einzugeben
ist. Mit anderen Worten, nachdem alle von den Schieberegistern in
dem Schieberegister 134 gespeicherten Anfangswerte herausgeschoben
sind, so dass das bereits in das Schieberegister 134 eingegebene
logische Wertemuster mit dem von der Mustererzeugungsschaltung 114 erzeugten
Pseudozufallsmuster übereinstimmt, stimmt der von der Additionsschaltung 136 ausgegebene
logische Wert mit dem nächsten logischen Wert in dem von
der Mustererzeugungsschaltung 114 erzeugten Pseudozufallsmuster überein.
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Daher
kann durch Vergleichen des in das Schieberegister 134 eingegebenen
logischen Werts und des von der Additionsschaltung 136 ausgegebenen
logischen Werts das Prüfgerät 100 beurteilen,
ob die externe Schnittstellenschaltung 210 korrekt arbeitet.
Mit anderen Worten, das Prüfgerät 100 kann
bestimmen, ob die externe Schnittstellenschaltung 210 das
logische Wertemuster ausgibt, das dasselbe wie das in diese eingegebene
Prüfmuster ist.
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Mit
dieser Konfiguration kann, wenn ein Pseudofallsmuster als das Prüfmuster
verwendet wird, das erwartete Wertemuster leicht erzeugt werden.
Weiterhin kann, da das Prüfmuster unter Verwendung derselben
Konfiguration als der Mustererzeugungsschaltung 114 erzeugt
wird, das erwartete Wertemuster mit derselben Arbeitsgeschwindigkeit erzeugt
werden, die von der Mustererzeugungsschaltung 114 erzielt
wird. Noch weiterhin können, da die in das Schieberegister 134 eingegebenen
logischen Werte synchron mit den von der Additionsschaltung 136 ausgegebenen
logischen Werten sind, die logischen Wertemuster verglichen werden
ohne Berücksichtigung eines Übertragungsverzögerungsbetrags
oder dergleichen in der externen Schnittstellenschaltung 210.
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Wenn
beispielsweise das von der Mustererzeugungsschaltung 114 ausgegebene
Prüfmuster verzweigt und in die Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 eingegeben
wird und dieses Prüfmuster als das erwartete Wertemuster
verwendet wird, wird die Phase des erwarteten Wertemusters gemäß dem Übertragungsverzögerungsbetrag
in der externen Schnittstellenschaltung 210 oder dergleichen verschoben,
und dieses verschobene erwartete Wertemuster wird mit dem logischen
Wertemuster verglichen. Andererseits wird bei der Schnittstellen-Beurteilungsschaltung 118 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel der einzugebende logische
Wert, d. h., der erwartete Wert, auf der Grundlage des logischen
Wertemusters erzeugt, das bereits eingegeben wurde, und so kann
das erwartete Wertemuster synchron mit dem eingegebenen logischen
Wertemuster erzeugt werden. Als eine Folge können das logische
Wertemuster und das erwartete Wertemuster ohne Berücksichtigung
des Übertragungsverzögerungsbetrags oder dergleichen
verglichen werden.
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6 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration der Stromversorgungs-Prüfschaltung 150.
Die Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 enthält
eine Stromversorgungs-Beurteilungsschaltung 152 und eine
Leistungsmessschaltung 154. Die Leistungsmessschaltung 154 misst
die von der Leistungszuführungsschaltung 160 zu
der geprüften Vorrichtung 200 gelieferte Versorgungsleistung.
Die Leistungszuführungsschaltung 160 kann die
Versorgungsleistung parallel zu der Prüfung der internen
Schaltung 230 zu der geprüften Vorrichtung 200 liefern.
Die Leistungsmessschaltung 154 kann die Stromversorgungsspannung
oder den Versorgungsstrom messen, wie vorstehend beschrieben ist.
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Die
Stromversorgungs-Beurteilungsschaltung 152 beurteilt die
Annehmbarkeit der geprüften Vorrichtung 200 auf
der Grundlage der von der Leistungsmessschaltung 154 gemessenen
Versorgungsleistung. Beispielsweise kann die Stromversorgungs-Beurteilungsschaltung 152 die
Annehmbarkeit der geprüften Vorrichtung 200 auf
der Grundlage dessen beurteilen, ob die Stromversorgungsspannung
oder der Versorgungsstrom, die von der Leistungsmessschaltung 154 gemessen
werden, in einen vorbestimmten Bereich fallen.
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Die
Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 kann die vorbeschriebenen
Prüfungen parallel zu der Prüfung der internen
Schaltung 230 oder der Abtastprüfung durchführen.
Die Stromversorgungs-Prüfschaltung 150 kann die
vorbeschriebenen Prüfungen parallel zu der Prüfung
der externen Schnittstellenschaltung 210 durchführen.
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Wie
vorstehend beschrieben ist, kann das Prüfgerät 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die externe
Schnittstellenschaltung 210 einer geprüften Vorrichtung 200,
die mit hoher Geschwindigkeit arbeitet, prüfen, und kann mit
geringen Kosten realisiert werden. Weiterhin trennt, wenn die externe
Schnittstellenschaltung 210 geprüft wird, das
Prüfgerät 100 die externe Schnittstelle 210 von
der internen Schaltung 230, so dass die Prüfung
der externen Schnittstellenschaltung 210 parallel zu der
Prüfung der internen Schaltung 230 durchgeführt
werden kann. Beispielsweise kann das Prüfgerät 100 durch
Verwendung einer internen Selbstprüfungsschaltung 240 zum
Prüfen der internen Schaltung 230 die Prüfung
der externen Schnittstellenschaltung 210 und die Prüfung
der internen Schaltung 230 parallel durchführen,
wodurch die Prüfzeit verkürzt wird.
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Während
die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung beschrieben
wurden, ist der technische Bereich der Erfindung nicht die vorbeschriebenen
Ausführungsbeispiele beschränkt. Es ist für
den Fachmann augenscheinlich, dass verschiedene Änderungen
und Verbesserungen zu den vorbeschriebenen Ausführungsbeispielen
hinzugefügt werden können. Es ist auch anhand
des Bereichs der Ansprüche augenscheinlich, dass die Ausführungsbeispiele,
denen derartige Änderungen oder Verbesserungen hinzugefügt
sind, in den technischen Bereich der Erfindung einbezogen werden
können.
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Zusammenfassung:
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Es
ist ein Prüfgerät vorgesehen, das eine geprüfte
Vorrichtung enthaltend eine externe Schnittstellenschaltung, die
Signale zwischen einer internen Schaltung innerhalb einer Vorrichtung
und der Außenseite der Vorrichtung überträgt,
prüft, welches Prüfgerät aufweist: eine
Mustererzeugungsschaltung, die in die externe Schnittstellenschaltung
ein Prüfmuster zum Prüfen der externen Schnittstellenschaltung
eingibt; eine Schnittstellen-Steuerschaltung, die bewirkt, dass
die externe Schnittstellenschaltung das Prüfmuster zurückführt
und ausgibt; und eine Schnittstellen-Beurteilungsschaltung, die die
Annehmbarkeit der externen Schnittstellenschaltung auf der Grundlage
des von der externen Schnittstellenschaltung zurückgeführten
und ausgegebenen Prüfmusters beurteilt.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- - JP 2007-089691 [0001]
- - JP 2001-222897 [0003]