TWI488188B - 測試模擬電路 - Google Patents

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TWI488188B
TWI488188B TW097138350A TW97138350A TWI488188B TW I488188 B TWI488188 B TW I488188B TW 097138350 A TW097138350 A TW 097138350A TW 97138350 A TW97138350 A TW 97138350A TW I488188 B TWI488188 B TW I488188B
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Tushar K Gohel
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Teradyne Inc
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31924—Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver

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Description

測試模擬電路
本專利申請案一般係關於舊有測試系統之模擬行為。
自動測試設備(ATE)在半導體器件及電路板裝配件之製造中起一作用。製造商一般使用自動測試設備或"測試器"以在製造程序期間驗證器件之操作。此類器件稱為"受測試器件"(device under test；DUT)或"受測試單元"(unit under test；UUT)。早期故障偵測消除在其他情形中由處理缺陷器件造成的成本，從而減小總體製造成本。製造商亦使用ATE將各種規格分級。可依據不同性能位準按區域測試器件及將其裝箱，例如速度。可依據其實際性能位準將器件標記及出售。
已針對本文所稱之"舊有"(或已存在)ATE開發測試程式。已開發一些測試程式以解決顯現在ATE之非作用通信通道上的信號。非作用通信通道可包括一通信通道，其中驅動器、偵測器、主動負載及/或PMU已關閉或已藉由其他方式變得非作用。儘管非作用，一些通信通道仍可在ATE偵測器處暫存信號位準。
例如，此可係由於來自ATE之驅動器的洩漏電流或一些其他不希望的信號。不同類型之舊有ATE對於非作用通道通常呈現一致信號位準。因此已開發測試程式以期望此類信號並且在測試期間獲得該等期望信號。對於此類測試程式，無法暫存來自非作用通信通道之期望信號可產生一指示，即事實上當故障指示僅係非作用通信通道上之不期望信號之結果時DUT已測試失敗
近年來，許多類型之舊有ATE已由較新、較高性能之ATE取代。儘管此類較新測試器具有許多新特徵，運行於該等較新測試器上的許多測試程式已被寫入，並且取決於舊有ATE之性能特性。例如，當停用其驅動器及主動負載時(例如，通信通道接著非作用)，測試程式可依賴於通信通道之期望偏壓條件。然而，較新ATE可不必具有與舊有ATE相同之性能特性。此可影響將現有測試程式用於較新或後繼者ATE的方式。
本專利申請案說明用於模擬舊有測試系統之行為的方法及裝置，其包括電路。
本文說明用於測試一器件之系統與裝置，其包括一通信通道，其具有與其相關聯之一組可程式化參數。該等可程式化參數在通信通道上產生一偏壓條件。一偏壓控制電路用於影響得自該等可程式化參數之偏壓條件，以便模擬一所需偏壓條件。亦說明其他態樣、特徵及實施方案。
在附圖及以下說明中提出一或多個範例之細節。從說明、圖式及申請專利範圍將漸漸明白本發明之其他特徵、態樣以及優點。
圖1顯示可係ATE1之部分的組件之方塊圖。ATE1可係舊有ATE之後繼者，例如現有ATE之較新型號或ATE之全新型號。該等組件可用於ATE1內以模擬舊有ATE之偏壓條件，或者任何其他所需偏壓條件。偏壓條件可包括偏壓電流，其可係或包括洩漏電流。偏壓條件可包括偏壓電壓，其可係或包括偏移(例如非零)電壓。測試程式2可設計成用於舊有ATE(未顯示)。在ATE1中，測試程式2可用於對在通信通道3上從DUT(未顯示)接收之信號實行測試。可透過軟體、韌體及/或硬體之組合執行的控制區塊4控制ATE1上的測試參數之程式化。該等測試參數可包括但不限於用於偵測器5之測試臨限值(例如較高或VOH 位準及較低或VOL 位準)、用以控制主動負載之電壓及/或電流輸出的參數，及/或用以針對其他電路元件7實施其他功能之參數。
測試參數值影響通信通道上之偏壓條件。即，用於測試參數之不同值可產生不同偏壓條件。在一範例中，將藉由用於舊有ATE通信通道上的該等參數之特定值產生的偏壓條件與針對後繼者(例如更新型)ATE上之相同參考值產生的偏壓條件相比較。偏壓控制器6(如下所述)影響通信通道上之偏壓條件，使得用於後繼者ATE之偏壓條件匹配舊有ATE之偏壓條件。
在ATE1之操作期間，可在通信通道3上將測試信號從ATE1輸出至DUT。DUT藉由在通信通道3上提供回應信號作出回應。例如，DUT可對藉由ATE提供之測試信號作出回應而產生回應信號。或者，可將信號從DUT提供至獨立於測試信號之通信通道3。或者，DUT可與所有通道斷開，同時測試程式期望通道一致地維持偏壓條件，以便通過系統測試。在任何情形中，偵測器，例如偵測器5，可接收信號。每一通道可存在一偵測器(圖1內僅顯示一通道)。
偵測器5可包括一或多個比較器及/或其他類型之硬體，以實施測量功能。偵測器5之至少部分亦可實施於軟體中。偵測器5係電性連接至通信通道3，並且經組態用以從通信通道接收信號，將該等信號與一或多個臨限值相比較，以及提供比較結果至測試程式2。此處，評估比較結果以便決定，例如，DUT對特定測試是通過還是失敗。應注意，電連接當用於本文中時不需要直接實體連接。電連接可包括兩個組件之間的***組件。同樣，電連接可包括無線式電連接，例如藉由變壓器所製造者。
亦可將其他電路7(其可包括主動及/或被動負載)電性連接至通信通道3。例如，此一其他電路可用於提供一或多個載入條件至通信通道3。載入條件對於通信通道3可包括但不限於所需電壓及/或電流。
ATE1亦包括偏壓控制器6。偏壓控制器6可用於在通信通道3上模擬所需偏壓條件，例如舊有ATE之通信通道的偏壓條件。偏壓控制器6可包括可程式化、雙向(來源或匯集點)、偏壓電流來源8，儘管可使用其他類型之信號來源(可程式化及非可程式化兩者)代替電流來源8。藉由電流來源8輸出之電流與已在通信通道3上之電流及阻抗結合，影響通信通道上之現有偏壓條件，以在通信通道上產生新偏壓條件(例如電壓)。例如，輸出電流可改變通信通道上之電壓，使得其等效於在相同通信通道上從舊有ATE期望的偏壓電壓。
偏壓控制器6可包括電壓來源/阻抗電路9，其可包括與阻抗電路9b組合之電壓來源9a。電壓來源9a可(或不可)係可程式化。阻抗電路9b可係電阻器、電阻網絡、可變電阻器、電容元件、電感元件、電晶體及/或該等或其他元件之一或多個的組合。在操作中，此電路向/從通信通道3傳遞電流，藉此產生橫跨阻抗電路9b之電壓。此電壓在與來自來源9a之電壓及通信通道3之偏壓條件組合時產生一偏壓條件(例如電壓)，其模擬舊有ATE將在通信通道3上產生的偏壓條件。
偏壓控制器6可包括可程式化偏壓電流來源8及電壓來源/阻抗電路9之組合。以下參考圖4說明包括該等元件兩者之電路的範例。應注意，偏壓控制器6應具有充分可程式化範圍以補償被模擬之舊有ATE與後繼者ATE間的偏壓差異。
如上所述，為舊有ATE設計之測試程式可期望非作用通信通道上之特定電壓(例如停用或三態之通信通道)。一些測試程式可期望通信通道上之特定電流或其他信號位準；然而，下文說明期望特定電壓之一範例。此電壓係經由偵測器5偵測並且傳遞至執行測試程式2之處理器件(例如電腦)。
在操作中，可控制(例如程式化)偏壓控制器6以提供信號(例如電流)至非作用通信通道3，其在非作用通信通道3上導致與存在於舊有ATE之非作用通信通道上的偏壓條件相同或大體上相同之偏壓條件(例如電流及/或電壓信號)。測試程式2從為其設計測試程式2的舊有ATE期望偏壓條件，例如電流及/或電壓信號。作為模擬非作用通信通道3上之舊有ATE之性能的偏壓控制器6之結果，測試程式2將接收其在非作用通信通道3上期望接收之信號，因此，測試程式2可用於非舊有(例如後繼者或新型)ATE1上。
現在參考圖2，該圖式顯示可在其上實施前述偏壓條件模擬程序之系統的一範例。圖2顯示用於測試受測試器件(DUT)18(例如半導體器件)之ATE系統10，其包括測試器12。為控制測試器12，系統10包括電腦系統14，其在硬線連結16上介接測試器12。通常，電腦系統14傳送命令至測試器12，其起始用於測試DUT18之常式及函數的執行。此類執行測試常式可起始測試信號對DUT18之產生及傳輸，並收集來自DUT之回應。可藉由系統10測試各種類型之DUT。例如，DUT可為半導體器件，例如積體電路(IC)晶片(例如記憶體晶片、微處理器、類比至數位轉換器、數位至類比轉換器等)。
為提供測試信號及收集來自DUT之回應，將測試器12連接至一或多個連接器接針，該等接針提供用於DUT18之內部電路的介面。為測試一些DUT，例如，可將多至六十四或一百二十八個(或更多)連接器接針介接至測試器12。基於說明性目的，此範例中，半導體器件測試器12係經由硬體拉線連接至DUT18之一連接器接針。將導體20(例如電纜)連接至接針22，及用於將測試信號(例如PMU測試信號、PE測試信號等)遞送至DUT18之內部電路。導體20亦回應由半導體器件測試器12提供之測試信號而感測接針22處的信號。例如，可回應測試信號在接針22處感測電壓信號或電流信號，並在導體20上將其傳送至測試器12供分析。此類單埠測試亦可在包括在DUT18內之其他接針上予以執行。例如，測試器12可提供測試信號至其他接針並在導體(其遞送提供之信號)上收集反射回來的相關聯信號。藉由收集反射信號，可與其他單埠測試數量一起特徵化接針之輸入阻抗。其他測試情況下，可在導體20上將數位信號傳送至用於在DUT18上儲存數位值之接針22。一旦儲存，便可存取DUT18以取回並在導體20上傳送已儲存數位值至測試器12。接著可識別取回之數位值以決定是否在DUT18上儲存適當值。
除了實行單埠測量外，亦可藉由半導體器件測試器12實行雙埠測試。例如，可在導體20上將測試信號注入至接針22內，並可從DUT18之一或多個其他接針收集回應信號。將此回應信號提供給半導體器件測試器12，以決定數量，例如增益回應、相位回應及其他輸出測量數量。
亦參考圖3，為傳送及收集來自一DUT(或多個DUT)之多個連接器接針的測試信號，半導體器件測試器12包括介面卡24，其可與許多接針通信。例如，介面卡24可發射測試信號至(例如)32、64或128個接針並收集對應回應。鏈結至一接針之各通信稱為通道，以及藉由對大量通道提供測試信號，測試時間因可同時執行多個測試而得以減少。連同具有介面卡上的許多通道，藉由在測試器12中包括多個介面卡，總體通道數目增加，從而進一步減少測試時間。在此範例中，兩個額外介面卡26及28係顯示以證明多個介面卡可常駐於測試器12中。
各介面卡包含用於執行特定測試功能的專用積體電路(IC)晶片(例如，特定應用積體電路(ASIC))。例如，介面卡24包括接針電子元件(PE)級34，其包括用於實行PE測試之電路。PE級34亦可包括用於實行參數測量單元(parametric measurement unit；PMU)測試之電路。此外，介面卡26及28各別包括PE級36及38，其包含PE電路。通常，PMU測試涉及提供(可程式化)直流(DC)電壓或電流信號至DUT以將此類數量決定為輸入及輸出阻抗、電流洩漏以及其他類型的DC性能特性。PE測試涉及傳送DC或交流(AC)測試信號或波形至一DUT(例如DUT18)並收集回應以進一步特徵化該DUT之性能。例如，PE級34可發射表示二進制值之向量的AC測試信號(至該DUT)以儲存在該DUT上。一旦已儲存該等二進制值，則可藉由測試器12存取該DUT以決定是否已儲存正確的二進制值。
為將DC及AC測試信號兩者從介面卡24傳遞至DUT18(圖2)，導電跡線40將PE級34連接至介面板連接器42，其允許將信號傳出及傳入介面板24。同時將介面板連接器42連接至導體44，該導體係連接至介面連接器46，其允許將信號傳遞至測試器12及自測試器12傳遞。在此範例中，將導體20連接至介面連接器46，以便在測試器12與DUT18之接針22間進行雙向信號傳遞。一些配置中，介面器件可用於將一或多個導體從測試器12連接至DUT。例如，DUT可連接至介面測試適配器(Interface Test Adapter；ITA)，其介接與測試器連接之介面連接適配器(Interface Connection Adapter；ICA)。可將DUT(例如DUT18)安裝於器件介面板(device interface board；DIB)上，其用於對各DUT接針提供存取。在此一配置中，導體20可與DIB連接以將測試信號放置於DUT之適當接針(例如，接針22)上。
在此範例中，僅導電跡線40及導體44分別連接PE級34及介面板24以遞送並收集信號。然而，PE級34(連同PE級36及38)通常具有多個接針(例如八個、十六個等)，其分別與多個導電跡線及對應導體連接以提供並收集來自該DUT的信號(經由一DIB)。此外，在一些配置中，測試器12可連接至兩或兩個以上DIB以將由介面卡24、26及28所提供的通道介接至一或多個受測試器件。
為起始並控制藉由介面卡24、26及28所實行的測試，測試器12包含PE控制電路50，其提供用於產生測試信號並分析DUT回應的測試參數(例如，測試信號電壓位準、測試信號電流位準、數位值等)。可使用一或多個處理器件實施PE控制電路。處理器件之範例包括但不限於一微處理器、一微控制器、可程式化邏輯(例如，場可程式化閘極陣列)及/或其組合。
測試器12亦包括一電腦介面52，其允許電腦系統14控制藉由測試器12所執行的操作並亦允許資料(例如測試參數、DUT回應等)在測試器12與電腦系統14之間傳遞。
用於ATE10上或與其相關聯之電腦14或其他處理器件可經組態用以執行測試程式以採用ATE在作用通信通道上測試DUT。測試程式可經組態用以期望一或多個非作用通信通道上之特定電壓。因此，ATE10包括硬體(例如電路)及/或軟體以在非作用通信通道上產生期望偏壓條件。任何類型之電路可用於實行此功能，包括但不限於一或多個PMU。
圖4內顯示可用於模擬舊有ATE之偏壓條件的電路之範例，其可併入至ATE系統10內。例如，電路可係上述接針電子元件或介面卡之部分。
參考圖4，ATE10包括驅動器55以輸出測試信號至通信通道56上之DUT，例如DUT18，以及偵測器(或接收器)57，以從通信通道56上之DUT接收信號。偵測器57可包括一或多個比較器及/或其他類型之偵測電路。接收之信號可係回應由驅動器55提供之測試信號而藉由DUT產生的輸出結果，或者其可係獨立於由驅動器55提供之信號而由DUT提供的信號。負載59可係主動負載，其使通信通道56經受一載入條件。在此範例中，負載59係可控制(例如，可程式化)以提供複數個負載條件之一至通信通道。可藉由程式化IOH 及IOL 電流值控制主動負載電流。計算電壓VCOM 可係可程式化並且提供用於電流來源IOL 及IOH 之電壓以將通道56拉至一特定電壓。其他可使用之負載可係非可程式化。
緩衝器60可用於提供來自電壓來源63(VCOM )之負載電阻至通信通道56。在一實施方案中，緩衝器60之輸入可獨立於VCOM 。致動信號58(Rpull_Enable )控制透過緩衝器60之電壓(例如，VCOM )的傳遞。致動信號可藉由PE控制電路50輸出，並藉由處理器件設定，例如電腦14。可將電路元件61電性連接於負載59與通信通道56之間。在此範例中，電路元件61係電阻元件(例如電阻器Rpull )；然而，可使用其他類型之電路元件以取代或附加於電阻器。上文參考圖1說明可使用之電路元件的範例。緩衝器60之多個實例及具有一或多個輸入之Rpull 亦可係電性連接至通道56，以實施本文所述之功能。
將信號來源62(在圖4中標記為BIAS_CTRL電流)電性連接至通信通道56。如同上文參考圖1所述之範例內的情形，信號來源62係可程式化雙向(來源或匯集點)、偏壓電流來源，儘管可使用其他類型之信號來源(可程式化及非可程式化兩者)代替信號來源62。在此範例中，信號來源62可向或從通信通道提供或吸收至多200微安培(μA)。與ATE10相關聯之處理器件，例如電腦14，可用於程式化信號來源62以在通信通道56上產生獲得特定電流及電壓所需之電流數量，如下所述。處理器件可參考一儲存參數之記憶體，例如高及低臨限電壓及主動負載電壓，以決定用於信號來源62之程式化。
前述電路元件60、61、62係偏壓控制電路75(在圖4中標記為BIAS_CTRL電路)之部分，其可經組態用以實行與圖1之偏壓控制器6大體上相同的功能，如上所述。
如上所述，針對舊有ATE設計之測試程式可期望非作用通信通道(例如其來源元件係三態或停用之通信通道)上之特定電壓。一些測試程式可期望通信通道上之特定電流或其他信號位準；然而，下文說明期望一電壓之範例。此電壓係經由偵測器57偵測並且傳遞至執行測試程式之處理器件(例如電腦14)。在此範例中，偵測器57可包括高偵測臨限值VOH 及低偵測臨限值VOL ，其兩者均係可程式化以偵測通信通道上之高及低信號位準。可期望之電壓可在VOH 與VOL 之間，儘管可使用其他臨限電壓。
為致動測試程式以用於與舊有ATE具有不同性能特性之ATE，可控制(例如程式化)信號來源62以提供信號(例如電流)至非作用通信通道56，以及可藉由致動緩衝器60啟動Rpull 61，以在非作用通信通道上產生用於信號之電流、電壓及/或阻抗，其與將存在於舊有ATE之非作用通信通道上者大體上相同。藉由依此方式模仿舊有ATE之偏壓條件，針對舊有ATE設計之測試程式可用於無相同性能特性之ATE上。
如圖4內所示，當驅動器55及負載59非作用時(例如，關閉或停用)，偵測器57仍經組態用以偵測通信通道56上之信號。另外，DUT同時亦可測量通信通道上之信號。若DUT以較弱來源或無來源驅動通信通道，則當通信通道56非作用時，驅動器55及主動負載59之非作用狀態行為，連同偵測器57(及電性連接至通信通道之任何其他一或多個偵測器)之輸入特性將規定通信通道56上之偏壓條件(例如電壓)。
以實例說明，當停用驅動器55時，洩漏電流仍通過驅動器55至通信通道56。洩漏電流亦可經由偵測器及/或電性連接至通信通道的其他電路元件(包括信號來源62)產生。驅動器及偵測器之高及低臨限值可影響藉由該等元件產生之洩漏電流的數量。此洩漏電流，連同通信通道56上之其他電流，流經通信通道56上之阻抗並在通信通道56上產生電壓。若致動緩衝器60，通信通道上之阻抗係元件(例如驅動器、主動負載)與Rpull 之關閉狀態阻抗之並聯組合。為模仿舊有ATE系統之電壓，可程式化信號來源62以透過通道56上之阻抗產生偏壓電流，當與已在通信通道56上之此電流組合時，其在通信通道56上產生與已藉由舊有ATE產生之通信通道56上的電壓大體上相同之電壓。此電壓將由偵測器57偵測，並藉由測試程式處理。由於非作用通信通道上之電壓將係測試程式所期望者，藉由測試程式產生之結果對後繼者非舊有ATE將無負面影響。
在此範例中，為在通信通道56上產生所需電壓，信號來源62係程式化以產生偏壓電流。此偏壓電流與已在通信通道上之電流(例如洩漏電流)組合(例如增加)。致動信號58係設定成允許電壓傳遞至緩衝器60之輸出並且致使電路元件Rpull 61(此處為電阻器)影響線路上之阻抗，同時將通道上電壓拉向VCOM 。由通道56上之元件造成的偏壓/洩漏電流建立橫跨Rpull 之電壓，以相對於VCOM 在通道上形成電壓。若正確程式化信號來源62，產生於通信通道上之電壓對應於將存在於舊有ATE之非作用通信通道上的電壓。偵測器57偵測此電壓，並沿一路徑將其傳遞至處理器件，以供測試程式使用。
在一範例中，換向電壓VCOM 係程式化為2伏特(V)，電阻器Rpull 具有230KΩ之值，並且信號來源可產生介於-40微安培(μA)與40μA之間的可程式化電流。然而應注意，該等值僅係範例，可使用任何值。
圖5顯示用於基於用於一範例器件/儀器之一組參數決定偏壓條件的圖形範例。在圖5中，曲線70顯示針對範例舊有ATE之一特定組之可程式化參數橫跨電路元件Rpull 61產生的洩漏電流分佈。曲線70(其在此範例中係一直線)之特性係基於Rpull 值、VCOM 及通道電壓來決定。對於曲線70，VCOM 決定其X軸截距，且Rpull 決定其斜率。
曲線71顯示對於用於產生曲線70之相同組可程式化參數，範例舊有ATE之通信通道上的偵測器57之洩漏電流分佈。參考圖5，步驟77對應於通信通道上之靜止洩漏電流。步驟78及79之X軸位置係基於用於臨限電壓VOH 及VOL 之值。從步驟77至78之過渡係在越過兩個臨限電壓VOH 或VOL 之一時發生，且從步驟78至79之過渡係在越過另一臨限電壓VOH 或VOL 時發生。在圖5所示之範例中，臨限電壓大約係在各步驟之斜率中間。各步驟中之電流量值係基於偵測器57之屬性。
兩個曲線70及71之交點，即點74，對應於偏壓電壓80，其出現於範例的舊有ATE上，並且新(新型)ATE必須實現相容性。新ATE可經由偏壓控制電路75實現此偏壓電壓80，如上所述。在一範例中，直線70表示經過Rpull 61進入至通道56之電流。曲線71表示對於一組臨限值進入至偵測器57之洩漏電流(階躍電流)。交點74對應於該兩個電流抵銷(例如，其量值相等，且方向相反)之點，其係指定為平衡點。在此點，通信通道56上之電壓浮動至位於平衡點之電壓80。此係舊有測試器之電壓偏壓，其可透過偏壓控制電路75之元件在新型測試器中實現。不同的可程式化參數，例如VOH 、VOL 、VCOM ，將產生與70及71對應但不同的曲線，從而產生不同交點。可控制偏壓控制電路75以獲得不同電壓，如上所述。
總之，穿過Rpull 之電流得自VCOM 及通道電壓。位於平衡點之電壓80係當電流處於平衡狀態時(交點74)通信通道浮動至其的電壓。圖表幫助解決此"未知"點以便決定在"新型"ATE中需要實現何種偏壓條件(從而如何程式化偏壓電流)。
類似於圖4所示者的圖表技術可用於決定新型ATE之可程式化參數與平衡點80之間的關係。該等可程式化參數包括與偏壓控制電路75相關聯之可程式化參數(圖4)。可使用與新型ATE之通信通道上的元件相關聯之相同可程式化參數產生此圖表。圖表可具有與舊有ATE之相同元件相關聯的曲線，並且可具有與新型ATE上之元件相關聯的曲線。在任一情形中，可調整偏壓控制電路75以在新型ATE之通信通道上建立平衡點80，以匹配範例舊有ATE者。
應注意，圖5僅顯示決定如何程式化偏壓電流來源之一方式。可使用其他程式化偏壓電流來源之方式，包括但不限於使用與VOH 、VOL 及負載電壓成函數關係的數學程序。
可存在為ATE之各通信通道實行前述功能之類型的模擬電路。每一此類電路可加以程式化，以便其對應通道模擬舊有ATE之非作用通信通道的偏壓條件(例如電壓及電流)。若對應通信通道係作用通道，則可相應地程式化信號來源62。
本文之偏壓控制電路並不限於與本文所述之硬體一起使用。本文所述之ATE可使用任何硬體來實施，包括PMU。由於PMU通常可施加可程式化電流，PMU可提供修正偏壓條件所需的能力，並且含有PMU之接針電子元件可不需要額外偏壓控制電路。
本文所述之ATE並不限於與本文所述之硬體及軟體一起使用。本文所述之ATE可使用任何硬體及/或軟體來實施。例如，本文以上所述之ATE或其部分可至少部分使用數位電路實施，或實施於電腦硬體、韌體、軟體或其組合內。
本文所述之ATE(例如藉由處理器件實行之功能)可至少部分經由電腦程式產品實施，即有形具體化於資訊載體內之電腦程式，例如具體化於一或多個機器可讀取媒體中或傳播信號中，以便藉由資料處理裝置執行或控制其操作，例如可程式化處理器、電腦或多個電腦。一電腦程式可採用任一程式化語言形式寫入，包括編譯或解釋語言，且其可採用任一形式部署，包括部署成一獨立程式或一模組、組件、子常式或適用於一計算環境的其他單元。可部署電腦程式以在一個電腦或位於一地點或分佈橫跨於多個地點中並藉由通信網路互連的多個電腦上執行。
可藉由一或多個可程式化處理器執行一或多個電腦程式來實行與實施該ATE相關聯之動作以實行本文所述之ATE之功能。可將ATE之全部或部分實施為特殊用途邏輯電路，例如FPGA(場可程式化閘極陣列)及/或ASIC(特定應用積體電路)。
經由範例來說明，適合於執行電腦程式的處理器包括一般用途微處理器及特殊用途微處理器兩者、微控制器及任何種類之數位電腦的任何一或多個處理器。一般而言，處理器將從唯讀記憶體或隨機存取記憶體或兩者接收指令及資料。電腦元件包括用於執行指令的處理器以及用於儲存指令及資料的一或多個記憶體器件。
本文中說明的不同具體實施例之元件可進行組合以形成以上未明確提出的其他具體實施例。本文中未明確說明的其他具體實施例亦在以下申請專利範圍之範疇內。
1．．．ATE
2．．．測試程式
3．．．通信通道
4．．．控制區塊
5．．．偵測器
6．．．偏壓控制器
7．．．電路元件
8．．．電流來源
9．．．電壓來源/阻抗電路
9a．．．電壓來源
9b．．．阻抗電路
10．．．ATE系統
12．．．測試器
14．．．電腦系統
16．．．硬線連結
18．．．受測試器件(DUT)
20．．．導體
22．．．接針
24．．．介面卡/介面板
26．．．介面卡
28．．．介面卡
34．．．接針電子元件級
36．．．PE級
38．．．PE級
40．．．導電跡線
42．．．介面板連接器
44．．．導體
46．．．介面連接器
50．．．PE控制電路
52．．．電腦介面
55．．．驅動器
56．．．通信通道
57．．．偵測器
58．．．致動信號
59．．．負載
60．．．緩衝器
61．．．電路元件
62．．．信號來源
63．．．電壓來源
70．．．曲線
71．．．曲線
74．．．交點
75．．．偏壓控制電路雅
80．．．偏壓電壓
IOH ．．．電流來源
IOL ．．．電流來源
Rpull ．．．電阻器
VCOM ．．．電壓
VOH ．．．高偵測臨限值
VOL ．．．低偵測臨限值
圖1係可用於在模擬所需偏壓條件之通信通道上產生偏壓條件之ATE組件的方塊圖。
圖2係用於測試器件的ATE之方塊圖。
圖3係用於ATE中的一測試器之方塊圖。
圖4係可用於模擬在ATE與DUT間的非作用通信通道上之舊有ATE的行為之電路圖。
圖5顯示用於針對一組可程式化參數決定非作用通信通道之偏壓電壓的圖表之範例。
不同圖式中的相同參考數字指示相同元件。
1．．．ATE
2．．．測試程式
3．．．通信通道
4．．．控制區塊
5．．．偵測器
6．．．偏壓控制器
7．．．電路元件
8．．．電流來源
9．．．電壓來源/阻抗電路
9a．．．電壓來源
9b．．．阻抗電路

Claims (25)

  1. 一種用於測試一器件之裝置，該裝置包含：一通信通道，其具有與其相關聯之一組可程式化參數，該等可程式化參數在該通信通道上產生一偏壓條件，當信號在該通信通道上不被作用地驅動(actively driven)時，該通信通道係一非作用通信通道；以及一偏壓控制電路，其用以產生得自該等可程式化參數之該偏壓條件，以便模擬一所需偏壓條件，該所需偏壓條件對應於在用於測試該裝置之一不同器件上之一另一非用作通信通道之一偏壓條件。
  2. 如請求項1之裝置，其進一步包含：一偵測器，其用以偵測該通信通道上之信號；以及一主動負載，其用以使該通信通道經受一載入條件；其中該等可程式化參數包含與該偵測器及該主動負載之至少一者相關聯的一參數。
  3. 如請求項2之裝置，其中該等可程式化參數包含與該偵測器相關聯之一臨限電壓及與該主動負載相關聯之一電壓的至少一者。
  4. 如請求項2之裝置，其中該等可程式化參數包含該通信通道上之一偏壓控制電流。
  5. 如請求項1之裝置，其中該不同器件係用於執行取決於該等偏壓條件之一測試程式。
  6. 如請求項1之裝置，其中該偏壓控制電路包含：一電流來源，其可控制以提供該通信通道上之第一偏 壓電流，將該第一偏壓電流與當該通信通道非作用時存在的該通信通道上之一第二電流組合。
  7. 如請求項6之裝置，其中該第一及第二偏壓電流之一組合對應於一偏壓電流，該偏壓電流係當測試設備係電性連接至該通信通道時藉由該測試設備產生。
  8. 如請求項1之裝置，其進一步包含：一偵測器，其用以偵測該通信通道上之信號；一處理器件，其使用該等測試信號以執行一測試程式；其中該測試程式經組態用以在該通信通道非作用時從該通信通道期望一電壓；以及其中該偏壓控制電路經組態用以影響該電壓。
  9. 如請求項1之裝置，其中該偏壓控制電路包含：一電路元件，其係電性連接於一電壓來源與該通信通道之間，該電路元件用以相對於該電壓來源及該通信通道傳遞電流以產生該偏壓條件。
  10. 如請求項1之裝置，其中偏壓控制電路包含一參數測量單元(PMU)。
  11. 一種用於測試一器件之自動測試設備(ATE)，該ATE包含：通信通道，該等位於該ATE與該器件之間；一處理器件，其用以執行一測試程式以在作用通信通道上測試該器件，該測試程式經組態用以期望一非作用通信通道上之一第一偏壓條件，該作用通信通道具有在其上被作用地驅動之信號且該非作用通信通道不具有在 其上被驅動而作用之信號；以及一偏壓控制器，其用以產生該非作用通信通道上之一第二偏壓條件，以便模擬該第一偏壓條件，該非作用通信通道上之該第二偏壓條件係與該非作用通信通道相關聯之可程式化參數的一結果。
  12. 如請求項11之ATE，其進一步包含：一偵測器，其用以偵測一通信通道上之信號；其中該等可程式化參數包含與該偵測器相關聯之參數。
  13. 如請求項12之ATE，其進一步包含：一主動負載，其用以使該通信通道經受一載入條件；其中該等可程式化參數包含與該主動負載相關聯之參數。
  14. 如請求項13之ATE，其中該等可程式化參數包含與一偵測器相關聯之臨限電壓。
  15. 如請求項12之ATE，其中該等可程式化參數對應於該通信通道上之一偏壓控制電流。
  16. 如請求項11之ATE，其中該偏壓控制器包含：一可程式化電流產生器，其用以產生用於輸出至該非作用通信通道之一偏壓電流，將該偏壓電流與該非作用通信通道上之一現有電流組合以影響該第二偏壓條件。
  17. 如請求項11之ATE，其中該偏壓控制器包含：一電路元件，其用於使用電流在該非作用通信通道上產生該第二偏壓條件。
  18. 如請求項11之ATE，其中該偏壓控制器包含：一可程式化電流產生器，其用以產生用於輸出至該非作用通信通道之一偏壓電流，使該偏壓電流與該非作用通信通道上之一現有電流組合；以及一電路元件，其用於使用該偏壓電流及該現有電流調整該第二偏壓條件。
  19. 如請求項18之ATE，其中該電路元件具有一電阻，其中該現有電流與該偏壓電流之一組合通過該電阻以產生一第一電壓，該第二偏壓條件係基於該第一電壓。
  20. 如請求項19之ATE，其進一步包含：一電壓來源，其用於提供一第二電壓，其中該第二偏壓條件係基於該第一電壓及該第二電壓。
  21. 如請求項11之ATE，其中該偏壓控制器包含一參數測量單元(PMU)。
  22. 一種用於測試一器件之系統，該系統包含：測試設備，其用以傳送測試信號至該器件以及從該器件接收回應信號，該回應信號係得自該等測試信號之至少一部分；一處理器件，其用以提供控制信號至該測試設備，該等控制信號用以程式化與該測試設備及該受測試器件之間的通信通道相關聯之參數；其中該處理器件經組態用以執行一或多個測試程式，以分析該等回應信號之至少一些，該等測試程式之至少一者經組態用以期望非作用通信通道上之預定義信號位 準，該等非作用通信通道不具有於其上被作用地驅動之信號；其中該等參數在該測試設備與該受測試器件之間的一非作用通信通道上產生一偏壓條件；以及一偏壓控制器，其用以調整該非作用通信通道上之該偏壓條件，以便在該非作用通信通道上產生該等預定義信號位準之至少一者。
  23. 如請求項22之系統，其中該偏壓控制器包含：一可程式化電流產生器，其用以產生用於輸出至該非作用通信通道之一偏壓電流，使該偏壓電流與該非作用通信通道上之一現有電流組合，以在該非作用通信通道上產生該等預定義信號位準之該至少一者。
  24. 如請求項22之系統，其中該偏壓控制器包含：一電路元件，其用於使用該非作用通信通道上之電流在該非作用通信通道上產生該等預定義信號位準之該至少一者。
  25. 如請求項22之系統，其中該偏壓控制器包含：一可程式化電流產生器，其用以產生用於輸出至該通信通道之一偏壓電流，該偏壓電流與該非作用通信通道上之一現有電流組合；以及一電路元件，其用於使用該偏壓電流及該現有電流在該非作用通信通道上產生該等預定義信號位準之該至少一者。
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