CN1229779C - 记录和/或重放装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明的目的是：不管在记录时或者重放时，记录道都以预定频率摆动，从在凸区中设有地址信息等的凸区预置凹坑的光盘中，高精度确实地检测出凸区预置凹坑信号。本发明的解决方案是：在用于检测径向推挽信号的(A+B)信号和(C+D)信号中，把预定的系数k与(A+B)信号相乘。或者，在(A+B)信号和(C+D)信号中的一方或者两方上乘以预定的系数p，q。该预定的系数k或者p，q根据对凸区预置凹坑进行解码时的错误率、光拾取器2的物镜的透镜移位量、相对应和信号的信号电平的凸区预置凹坑信号和摆动信号的电平来进行适当变化。由此，不管在记录时或者重放时，都能高精度确实地检测出光盘上的凸区预置凹坑信号。

Description

记录和/或重放装置及方法
发明领域
本发明涉及适用于例如对DVD-R和DVD-RW等光盘进行记录重放的DVD重放装置和DVD记录装置，或者适用于DVD记录重放装置等的记录和/或重放装置及方法。
发明背景
一般，在能够记录的光记录介质中，为了能够进行所希望的信息的记录，以预置凹坑的形式预先记录了地址信息等，而且，为了生成用于记录重放动作的时钟信号，设置以预定频率摆动的记录道。
作为这样的光记录介质，例如能够记录CD(Compact Disc)的约7倍的信息的DVD-R(Digital Versatile Disc-Recordable可记录的数字万用盘)是公知的。在该DVD-R中，与视频数据和音频数据等本来应当记录的信息作为记录凹坑所记录的区域的凹状的预置沟一起，在该预置沟之间的区域的凸状的凸区上以凸区预置凹坑(LPP)的形态预先记录着地址信息等。
凸区上的凸区预置凹坑(LPP)被记录在与预置沟的切线方向垂直相交的直线上，以便于不会夹着预置沟而相邻。而且，预置沟设置成这样：以根据用于DVD-R的旋转控制的基准时钟的频率，在光盘的半径方向上，以预定频率稍稍摇动(摆动)。
在进行这样的DVD-R的旋转控制时，从摆动的预置沟(以下称为摆动沟)的重放输出中检测出摆动频率，进行反馈控制以使该检测出的摆动频率与基准时钟的频率相符合。
凸区预置凹坑(LPP)，由用与摆动沟的切线方向光学平行的分割线进行至少两等分的感光元件来接收来自照射在摆动沟上的半导体激光器的光束(激光束)的反射光，通过运算与来自该感光元件的各区域(分割的各个区域)的输出信号的少数摆动沟相垂直的方向的差分，来得到差分信号，把该差分信号与预定的阈值进行比较，来检测出两值化的两值化信号。
在盘状记录介质是光盘的情况下，通过上述分割线沿着光盘的半径方向(径向)形成感光元件的分割区域，因此，上述差分信号被称为径向推挽信号。
这样，把径向推挽信号(差分信号)与预定的阈值相比较，就能用两值化的两值化信号检测出凸区预置凹坑(LPP)，这是因为：如上述那样，凸区预置凹坑(LPP)这样形成：在与摆动沟的切线方向垂直相交的直线上，不存在于相邻的凸区上。
即，当把光束照射在一个摆动沟上时，在来自其两侧的凸区的反射光中不同时存在凸区预置凹坑(LPP)的反射成分(仅在来自任一方的凸区的反射光中存在LPP成分)，由此，通过进行上述差分运算，能够仅抽出凸区预置凹坑(LPP)的反射光成分。
但是，通常，仅把由差分运算所产生的两极成分中的任一方(例如正极成分)与预定的阈值相比较而得到的两值信号作为凸区预置凹坑信号(LPP信号)。
因此，在DVD-R和DVD-RW等的光盘中，凸区预置凹坑(LPP)是根据把径向推挽信号(差分信号)与预定的阈值相比较而进行两值化的两值化信号来检出，但是，在现有技术中，进行调整以使用于运算径向推挽信号(差分信号)的两个输入信号的振幅比变为相等的，但是，在这样的方法中，在凸区预置凹坑(LPP)中，记录中的激光功率调制成分成为噪声，或者，在重放方式时，通过记录凹坑的影响，而误检测凸区预置凹坑(LPP)。而且，在光盘的记录重放方式下，当由物镜所产生的透镜移动发生时，径向推挽信号的平衡破坏，因此，进一步存在误检测凸区预置凹坑(LPP)的问题。
发明概述
鉴于上述问题，本发明的目的是提供记录和/或重放装置及方法，能够以简单的构成高精度地进行凸区预置凹坑信号(LPP信号)的抽出。
根据本发明第一方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
系数设定装置，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅或者上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第二方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
和信号生成装置，取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；
标准化凸区预置凹坑信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
标准化摆动信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
系数设定装置，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第三方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
错误率运算装置，运算在上述径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号的检测时的错误率并输出；
系数设定装置，根据上述错误率，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第四方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
透镜移位量检测装置，检测从向上述盘状记录介质照射上述光束的光拾取器的物镜的光轴中心向径向的透镜移位量，并输出该透镜移位量；
系数设定装置，根据上述透镜移位量，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第五方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
系数设定步骤，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅或者上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第六方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
和信号生成步骤，取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；
标准化凸区预置凹坑信号振幅生成步骤，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
标准化摆动信号振幅生成步骤，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
系数设定步骤，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第七方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出：
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
错误率运算步骤，计算在上述径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号的检测时的错误率并输出；
系数设定步骤，根据上述错误率，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第八方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
透镜移位量检测步骤，检测从向上述盘状记录介质照射上述光束的光拾取器的物镜的光轴中心向径向的透镜移位量，并输出该透镜移位量；
系数设定步骤，根据上述透镜移位量，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第九方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为解决上述问题的措施，具有：系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数(＝1/k1)并输出；推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出。
并且，具有：凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；系数设定装置，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第十方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为用于解决上述问题的措施，具有：系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数(＝1/k1)并输出；推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出。
并且，具有：凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；和信号生成装置，取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；标准化凸区预置凹坑信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；标准化摆动信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；系数设定装置，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第十一方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为用于解决上述问题的措施，具有：第一系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数(＝1/k3)并输出；第二系数相乘装置，把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；推挽信号生成装置，从由上述第一系数相乘装置进行相乘处理的结果的输出减去用上述第二系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出。
并且，具有：凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；系数设定装置，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第十二方面所涉及的记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为用于解决上述问题的措施，具有：第一系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数(＝1/k3)并输出；第二系数相乘装置，把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；推挽信号生成装置，从由上述第一系数相乘装置进行相乘处理的结果的输出减去用上述第二系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出。
并且，具有：凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；和信号生成装置，取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；标准化凸区预置凹坑信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；标准化摆动信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；系数设定装置，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第十三方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为用于解决上述问题的措施，具有以下步骤：当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数(＝1/k1)并输出； 把由上述系数相乘步骤进 行相乘处理的结果的输出减去从上述第一、第二受光区域的各个 感光输出中的另一方的感光输出的差分作为径向推挽信号而输 出。
并且，具有以下步骤：从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；根据上述凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第十四方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为用于解决上述问题的措施，具有以下步骤：当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数(＝1/k1)并输出；从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出，从上述径向推挽信号中抽出与上述凸区的凸区预置凹坑对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出。
并且，具有以下步骤：从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅或者上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第十五方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为用于解决上述问题的措施，具有以下步骤：当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数(＝1/k3)并输出；把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；从用上述k3的倒数进行相乘处理的结果的输出减去用上述预定的k3进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出。
并且，具有以下步骤：从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；根据上述凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
本发明第十六方面所涉及的记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其中，作为用于解决上述问题的措施，具有以下步骤：当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数(＝1/k3)并输出；把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；从由上述预定的k3分之一进行相乘处理的结果的输出减去用上述预定的系数k3进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出。
并且，具有以下步骤：从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅。
而且，具有以下步骤：通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅或者上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
附图简要说明
本发明的这些和其他的目的、优点及特征将通过结合附图对本发明的实施例的描述而得到进一步说明。在这些附图中：
图1是用于说明使用本发明所涉及的记录和/或重放装置及方法的实施例的盘记录重放装置中进行记录重放的DVD的构造的图；
图2是用于说明上述DVD的格式的图；
图3是用于说明记录在上述DVD的凸区上的凸区预置凹坑的记录位置的图；
图4是使用本发明所涉及的记录和/或重放装置及方法的第一实施例的盘记录重放装置的方框图；
图5是用于说明上述第一实施例的盘记录重放装置的光拾取器中所设置的感光元件的分割受光区域的图；
图6是形成径向推挽信号的摆动信号和凸区预置凹坑信号的波形图；
图7是分别形成用于检测径向推挽信号的(C+D)信号和{-k(A+B)}信号的摆动信号和凸区预置凹坑信号的波形图；
图8是(C+D)信号和{-k(A+B)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各个波形图；
图9是着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k的值而变化的{-k(A+B)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图10是当图9所示的a/m1＝b/m2＝L成立时，着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k的值而变化的{-k(A+B)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图11是当a/m1≠b/m2≠L成立时，着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k的值而变化的{-k(A+B)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图12是着眼于摆动信号而看到的随相乘的系数k的值而变化的{-k(A+B)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图13是当图12所示的c/m1＝d/m2＝W成立时，着眼于摆动信号而看到的随相乘的系数k的值而变化的{-k(A+B)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图14是使用本发明所涉及的记录和/或重放装置及方法的第二实施例的盘记录重放装置的方框图；
图15是用于说明上述第二实施例的盘记录重放装置的光拾取器中所设置的感光元件的分割受光区域的图以及表示感光元件的输出波形的图；
图16是形成径向推挽信号的摆动信号和凸区预置凹坑信号的波形图；
图17是分别形成用于检测径向推挽信号的q(C+D)信号和{-p(A+B)}信号的摆动信号和凸区预置凹坑信号的波形图；
图18是q(C+D)信号和{-p(A+B)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各个波形图；
图19是着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k1的值而变化的{(1/k1)(C+D)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图20是当图19所示的a/m1＝b/m2＝L成立时，着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k1的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图21是当a/m1≠b/m2≠L成立时，着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k1的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图22是着眼于摆动信号而看到的随相乘的系数k1的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图23是当图22所示的c/m1＝d/m2＝W成立时，着眼于摆动信号而看到的随相乘的系数k1的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图24是着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k3(k3＝SQRT(k2))的值而变化的{(1/k3)(C+D)}信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图25是当图19所示的a/m1＝b/m2＝L成立时，着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k3的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图26是当a/m1≠b/m2≠L成立时，着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k3(k3＝SQRT(k2))的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图27是着眼于摆动信号而看到的随相乘的系数k3(k3＝SQRT(k2))的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图；
图28是当图27所示的c/m1＝d/m2＝W成立时，着眼于凸区预置凹坑信号而看到的随相乘的系数k3(k3＝SQRT(k2))的值而变化的径向推挽信号的高功率照射部和低功率照射部的各波形的图。
实施例说明
本发明所涉及的记录和/或重放装置及方法可以用于对DVD-R和DVD-RW(以下统一称为DVD)进行数据记录重放的盘记录重放装置。
首先，在该实施例的盘记录重放装置中所使用的DVD 31，如图1所示的那样，在圆盘状的透明基板K上通过射出成型以螺旋状或者同心圆状交替地形成凹状的摆动沟32和凸状的凸区33。而且，在摆动沟32和凸区33上形成作为数据记录层的色素膜35，从透明基板K的另一方照射根据将要记录到该色素膜35上的数据(以下称为记录数据)所调制的记录用光束B，由此，非可逆地形成与记录数据相对应的凹坑列。
该DVD 31具有根据具有预定频率成分的摆动信号而摆动的摆动沟32，该摆动沟32成为用于记录上述记录数据的数据记录道。
而且，在该DVD 31中，在相邻的摆动沟32之间的凸区33上预先形成例如以预定的摆动周期间隔记录光盘表面上的地址信息(绝对位置信息)等的凸区预置凹坑34。
而且，在色素膜35上形成金蒸镀膜36。在DVD 31中，当重放记录在数据记录道中的记录数据时，由该金蒸镀膜36以高反射率反射照射在数据记录道上的重放用的光束B。而且，在金蒸镀膜36上形成保护膜37。
当对这样的DVD 31记录或者重放记录数据时，检测作为数据记录道而设置的摆动沟32的摆动频率，根据该摆动频率来旋转驱动DVD31。而且，从凸区预置凹坑34检测地址信息等，根据该地址信息来检测记录位置，而在摆动沟32中记录或重放记录数据。
其中，当记录记录数据时，照射根据记录数据而调制的记录用的光束B，以使该光点的中心与摆动沟32的中心相一致。由此，在摆动沟32的数据记录道中形成与记录数据相对应的凹坑列，来进行记录数据的记录。此时，如图1所示的那样，记录用的光束B的光点SP的大小被设定为：其一部分不仅照射到摆动沟32上，而且还照射到相邻的摆动沟32之间的凸区33上。
这样，由在摆动沟32的切线方向即DVD 31的旋转方向上由光学平行的分割线所分割的光探测器来接收照射在该凸区33上的光点SP的一部分的反射光，根据来自该光探测器的输出，形成例如推挽信号，进行跟踪伺服，并且，从光探测器抽出摆动沟32的摆动信号，根据把该摆动信号两值化而形成的摆动脉冲来形成与DVD 31的旋转同步的记录时钟。
下面使用图2来对预先记录在DVD 31上的地址信息的记录格式进行说明。
在该图2中，上段表示记录数据中的记录格式，下段的波形表示记录该记录数据的摆动沟32的摆动状态(当从平面看摆动沟32时所确认的蛇行状态)。而且，在表示记录数据中的记录格式的上段与表示摆动沟32的摆动状态的下段之间的向上的箭头模式地表示凸区预置凹坑34所形成的位置。
而且，为了容易理解，用比实际振幅大的振幅来表示该图2中的摆动沟32的摆动状态。而且，实际上，记录数据如上述那样被记录在摆动沟32的中心线上。
如该图2所示的那样，记录在DVD 31上的记录数据按作为信息单位的同步帧被预先进行分割。一个记录扇区由26个同步帧所构成。而且，由16个记录扇区构成一个ECC(Error Correcting Code纠错码)块。
一个同步帧具有由记录记录数据时的记录格式所规定的凹坑间隔所对应的单位长度T的1488倍(1488T)的长度。而且，相当于一个同步帧的开头中的14T的长度的部分记录着用于取得与每个同步帧的同步的同步信息SY。
另一方面，记录在DVD 31上的地址信息(凸区预置凹坑34)在光盘制造时被预先记录在记录数据的每个同步帧中。其中，当通过凸区预置凹坑34向DVD 31上记录地址信息时，在与记录数据的各个同步帧中的同步信息SY所记录的区域相邻的凸区33上形成图2中用箭头B0表示的凸区预置凹坑34(凸区预置凹坑B0)，来作为表示地址信息中的同步信号的部分，同时，在与该同步信息SY之外的给同步帧内的前半部分相邻的凸区33上形成用图2中的箭头B1，B2表示的凸区预置凹坑34(凸区预置凹坑B1、凸区预置凹坑B2)的双方或者一方，作为表示应当记录的地址信息的内容的部分。
但是，对于同步信息SY之外的该同步帧的前半部分，存在由应当记录的地址信息的内容形成凸区预置凹坑B1和凸区预置凹坑B2的情况。
此时，在一个记录扇区中，每隔一个的同步帧，形成凸区预置凹坑34来记录地址信息等。一个记录扇区，EVEN帧与ODD帧交替连续，如图2中实线的向上箭头所示的那样，当在EVEN帧中形成凸区预置凹坑34时，在ODD帧中不形成凸区预置凹坑34。
另一方面，如图2中实线的向上箭头所示的那样，当在ODD帧中形成凸区预置凹坑34时，在EVEN帧中不形成凸区预置凹坑34。
而且，当在EVEN帧中形成凸区预置凹坑34时，在记录扇区的开头的同步帧中形成凸区预置凹坑B0、凸区预置凹坑B1、凸区预置凹坑B2的全部的凸区预置凹坑，在记录扇区的开头之外的同步帧中，当应当记录到该同步帧中的地址信息为「1」时，仅形成凸区预置凹坑B0和凸区预置凹坑B2，当应当记录到该同步帧中的地址信息为「0」时，仅形成凸区预置凹坑B0和凸区预置凹坑B1。
而且，当在ODD帧中形成凸区预置凹坑34时，在记录扇区的开头的同步帧中仅形成凸区预置凹坑B0和凸区预置凹坑B1，在记录扇区的开头之外的同步帧中，与上述EVEN帧的情况相同。
而且，在EVEN帧或者ODD帧中的哪一个形成凸区预置凹坑34依赖于在相邻的凸区33上先行形成的凸区预置凹坑34的位置。
即，凸区预置凹坑34通常形成在EVEN帧中，但是，当在该EVEN帧中形成凸区预置凹坑34时，该凸区预置凹坑34与先行形成的相邻的凸区33上的凸区预置凹坑34在DVD 31的径向上重合，在此情况下，该凸区预置凹坑34形成在ODD帧中。
换句话说，凸区预置凹坑34在图3所示的相邻的凸区33之间形成为在DVD 31的径向上不重合。通过这样形成凸区预置凹坑34，在相邻的凸区33之间，不会在DVD 31的径向上重合的位置上分别形成凸区预置凹坑34，因此，在凸区预置凹坑34的检测过程中，能够降低由相邻的凸区上的凸区预置凹坑串音所产生的影响。
而且，在图3中，在凸区33上用开头为黑色的带状所表示的同步帧是凸区预置凹坑34所形成的同步帧，用开头为空心的带状所表示的同步帧是没有形成凸区预置凹坑34的帧。
另一方面，摆动沟32沿着全部同步帧以约140KHz的恒定的摆动频率f0(在一个同步帧内***摆动8个周期的摆动信号的频率)进行摆动。此时，通过抽出摆动信号的摆动频率f0，来检测用于控制DVD31的旋转动作的信号，同时，生成记录时钟信号。
由于凸区预置凹坑34与摆动信号的相位关系为一定的，因此，凸区预置凹坑B0～B2在光盘制造时被预先形成，从凸区预置凹坑B0每隔186T(1488T/8)分离来分别预先形成凸区预置凹坑B1、凸区预置凹坑B2。
而且，凸区预置凹坑34如上述那样在每个同步帧中形成在凸区33上，在相邻的凸区33之间形成为在DVD 31的径向上不重合。这样，在与一个摆动沟32相邻的两个凸区33上，在摆动沟32的每摆动16周期，凸区预置凹坑34出现，并且，该凸区预置凹坑34交替出现在摆动沟32的两侧。
第一实施例的构成
下面，图4是第一实施例的盘记录重放装置的方框图。如从图4所看到的那样，该第一实施例的盘记录重放装置具有：经过物镜(未图示)用来自半导体激光器(未图示)的光束照射DVD 31来进行数据记录重放的光拾取器2，和以预定增益放大来自光拾取器2的重放输出并进行输出的前置放大器3。
图5(a)是示意地表示光拾取器2内的光敏元件PD(PhotoDetector)位于摆动沟32的中央并且用该光敏元件PD检测图示右侧的凸区33上的凸区预置凹坑34的状态的图。
上述光敏元件PD形成为大致矩形，在沿着DVD 31的径向的直线和沿着记录道方向的直线上把全部光敏区域进行四等分，在该光敏元件PD上成象的光点SP通过DVD 31(光盘)的外周侧的两个光敏区域A和光敏区域B的组和DVD 31的内周侧的两个光敏区域C和光敏区域D的组而形成两组，因此，相对于沿着DVD 31的记录道方向的直线，成为分成两部分的状态。
这样，当从光敏元件PD输出感光输出时，如图5(b)所示的那样，分别输出把DVD 31的外周侧的两个光敏区域A和光敏区域B的各个光敏信号相加的(A+B)信号和把DVD 31的内周侧的两个光敏区域C和光敏区域D的各个感光信号相加的(C+D)信号，但是，此时，在光敏元件PD上，由于向凸区预置凹坑34的光束B的衍射现象等的影响，在DVD 31的内周侧和外周侧，亮度变得不平衡，因此，(A+B)信号和(C+D)信号都以从0电平上方侧反转的状态被输出。
此时，(A+B)信号的输出振幅和(C+D)信号的输出振幅为大致相同电平是必要条件，通过光拾取器2的调整状态等，当两者不是大致相同的情况下，按后述那样，在由RPP生成电路8生成差分信号之前，由适当的调整电路进行调整，以使(A+B)加法电路4和(C+D)加法电路5中两者的输出振幅大致为相同电平。
然后，当通过从光敏元件PD所输出的(A+B)信号和(C+D)信号生成径向推挽信号时，(C+D)信号和由于(A+B)信号的极性被反转而在预定的系数k上乘以-(负)号的{-k(A+B)}信号在0电平的上下得到图5(c)那样的结果，因此，取这些信号的差分的差分信号{(C+D)-k(A+B)}作为径向推挽信号被生成。此时，在图5(b)中，凸区预置凹坑信号(LPP信号)，相对于以摆动信号(WBL信号)为中心向着0电平侧(向下侧)的一方的信号(A+B)侧，可以在预定的系数k上乘以-(负)号，与图示不同，在(C+D)侧，如果凸区预置凹坑信号(LPP信号)向着下侧，可以对这边进行相乘处理。但是，该判定不是在装置内进行，在哪侧进行相乘处理可以预先设定，因此，可以如实施例那样，在(A+B)加法电路4侧连接系数相乘运算电路6。
因此，该盘记录重放装置具有：检测把DVD 31的外周侧的两个光敏区域A和光敏区域B的各个光敏信号相加的(A+B)信号的(A+B)加法电路4；检测把DVD 31的外周侧的两个光敏区域C和光敏区域D的各个光敏信号相加的(C+D)信号的(C+D)加法电路5。
而且，该盘记录重放装置具有：把来自(A+B)加法电路4的(A+B)信号的极性反转，并且，对预定的系数k进行{-k(A+B)}相乘处理并输出的系数相乘运算电路6。
在该盘记录重放装置中，根据径向推挽信号的检测输出、凸区预置凹坑信号的检测时的错误率和光拾取器2的物镜的移位量来改变该预定的系数k，由此，谋求提高光盘上的凸区预置凹坑(LPP)的检测精度。
而且，该盘记录重放装置具有：根据(C+D)信号和{-k(A+B)}信号来生成径向推挽信号{(C+D)-k(A+B)}的RPP生成电路8；把在来自该RPP生成电路8的径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号(LPP信号)进行两值化处理的两值化电路9；对由两值化电路9进行两值化处理的凸区预置凹坑信号(LPP信号)的地址信息进行解码处理的LPP解码电路10；运算由该LPP解码电路10所解码的凸区预置凹坑信号的错误率并输出该错误率的CPU 11。
而且，该盘记录重放装置具有：对来自(A+B)加法电路4的(A+B)信号和来自(C+D)加法电路5的(C+D)信号进行相加处理而生成和信号{RF信号：(A+B+C+D)}的RF电路7；从来自RPP生成电路8的径向推挽信号中抽出凸区预置凹坑信号(LPP信号)，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出给LPPb生成电路14和系数设定电路16的LPP振幅检测电路(凸区预置凹坑信号振幅检测电路)12；从来自RPP生成电路8的径向推挽信号中抽出记录道的摆动信号(WBL信号)，检测该摆动信号的振幅，并输出给WBLb生成电路15和系数设定电路16的WBL振幅检测电路(摆动信号振幅检测电路)13。
而且，该盘记录重放装置具有：把由LPP振幅检测电路12所抽出的凸区预置凹坑信号(LPP信号)的电平作为相对于由RF电路7所生成的和信号(A+B+C+D)的电平进行了标准化的凸区预置凹坑信号(以下称为LPPb信号)来输出的LPPb生成电路(标准化凸区预置凹坑信号振幅检测电路)14；把由WBL振幅检测电路13所抽出的摆动信号的电平作为相对于由RF电路7所生成的和信号(A+B+C+D)的电平进行了标准化的摆动信号(以下称为WBLb信号)来输出的WBLb生成电路(标准化摆动信号振幅检测电路)15；检测从光拾取器2的物镜的光轴中心向径向的透镜移位量，输出该透镜移位量的透镜移位量检测电路17。
而且，该盘记录重放装置具有系数设定电路16，根据来自CPU 11的凸区预置凹坑信号的检测时的错误率、来自LPP振幅检测电路12的凸区预置凹坑信号的振幅、来自WBL振幅检测电路13的摆动信号的振幅、来自LPPb生成电路14的标准化的LPPb信号、来自WBLb生成电路15的标准化的WBLb信号、由透镜移位量检测电路17所检测出的透镜移位量，来设定上述系数相乘运算电路6的预定的系数k。而且，可以把来自LPP振幅检测电路12的凸区预置凹坑信号的振幅和来自WBL振幅检测电路13的摆动信号的振幅的组合、或者来自LPPb生成电路14的标准化的LPPb信号和来自WBLb生成电路15的标准化的WBLb信号的组合中的任一组合连接到系数设定电路16上。
第一实施例的动作
下面，在具有这样的构成的第一实施例的盘记录重放装置中，对本发明的主要部分的凸区预置凹坑(LPP)检测动作进行说明。
而且，在以下说明的图6、图7、图8等中，摆动信号、LPP信号用直线来近似表示，与图12、图13不同，但是，只是简化地表示。
本发明包含重放未记录部分并测定对该盘的关联基本参数的内容，但是，在实际的记录重放装置中，能够识别盘上的未记录区域，因此，能够对该区域进行搜索来求出上述参数。而且，盘最内周的引入区域或者盘最外周的引出区域是在对盘记录了全部的用户数据之后进行记录的部分，在记录了该区域之后，不对盘进行记录。本发明中的对盘的关联基本参数的测定可以对该引入区域或者引出区域进行。
首先，图6表示了当重放DVD 31的未记录部分时的来自RF电路7的和信号输出(A+B+C+D)与来自RPP生成电路8的径向推挽信号{(C+D)-k(A+B)}的关系，但是，如从该图6所看到的那样，对A～D的各个信号进行相加处理的RF信号的电平大于作为从(C+D)信号减去{-k(A+B)}信号的差分信号的径向推挽信号的电平。
而且，在径向推挽信号中，在以0电平为中心上下摆动的摆动信号(WBL信号)上重叠以该摆动信号的相位90°的定时出现的凸区预置凹坑信号(LPP信号)。此时，和信号(A+B+C+D)的振幅R1、摆动信号(WBL信号)的振幅W1、凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅L1分别为从0电平到图示上方的各信号之间的值。上述凸区预置凹坑信号(LPP信号)是表示对该记录道的标准侧的信号的图，省略了在相反侧存在不标准的凸区预置凹坑信号(LPP信号)的图示。
下面，图7是把当重放图6中说明的未记录部分时的径向推挽信号{(C+D)-k(A+B)}分成(C+D)信号和极性反转的{-k(A+B)}信号进行表示的图，但是，如从该图7所看到的那样，(C+D)信号把0电平作为边界而出现在正极侧，{-k(A+B)}信号把0电平作为边界而出现在负极侧。而且，(C+D)信号和{-k(A+B)}信号分别是在摆动信号上重叠以该摆动信号的相位90°的定时出现的凸区预置凹坑信号(LPP信号)而形成的。
此时，正极侧的到(C+D)信号的中心电平的振幅R2和负极侧的到{-k(A+B)}信号的中心电平的振幅kR2如图示那样以0电平为基准来进行表示。而且，与(C+D)信号相对应的摆动信号(WBL信号)的振幅W2和凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅L2为从(C+D)信号的中心电平到图示上方的各信号的顶点之间的值。而且，与{-k(A+B)}信号相对应的摆动信号(WBL信号)的振幅kW2和凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅kL2为从{-k(A+B)}信号的中心电平到图示上方的各信号的顶点的值。
接着，图8表示在DVD 31的摆动沟32上记录信息信号时的状态，例如，当用脉冲状的光束B记录信息信号时，把光束B的照射光量较大的部位(相当于「信息信号的1」的部位)作为高功率照射部，把光束B的照射光量较小的部位(相当于「信息信号的0」的部位)作为低功率照射部，此时，对于正极侧的(C+D)信号和负极侧的{-k(A+B)}信号，分别分成高功率照射部的包络线和低功率照射部的包络线来表示。
如从图8所看到的那样，当与(C+D)信号和{-k(A+B)}信号同时存在高功率照射部和低功率照射部时，(C+D)信号和{-k(A+B)}信号的各个电平分别为不同的电平。而且，由于在高功率照射部和低功率照射部中产生这样的电平差，因此在后段产生凸区预置凹坑信号的误检测。
而且，在以下的说明中，对记录时进行了描述，但是，在重放时，在光盘上记录凹坑所形成的部位与低功率照射部相对应，未形成记录凹坑的未记录部位与高功率照射部相对应，可以检测出凸区预置凹坑信号，因此，省略了对重放时的说明。
因此，该实施例的盘记录重放装置，通过可变地控制用于得到极性反转的{-k(A+B)}信号而相乘的预定的系数k，在径向推挽信号{(C+D)-k(A+B)}中，通过预定的系数k来调整{-k(A+B)}信号侧的电平，而寻求后段中的凸区预置凹坑信号的检测精度的提高。而且，可以使用{(A+B)-k(C+D)}作为径向推挽信号，在此情况下，可以调整{-k(C+D)}信号侧的电平，在以下的说明中，对调整{-k(A+B)}信号的电平进行说明。
即，首先，在记录时(或者重放时)，从光拾取器2照射记录用(或者重放用)的光束，光拾取器2通过使用图5说明的4分割光敏元件PD来接收该光束的反射光，把光敏区域A和光敏区域B的各个感光信号经过前置放大器3提供给(A+B)加法电路4，同时，把光敏区域C和光敏区域D的各个感光信号经过前置放大器3提供给(C+D)加法电路5。
(A+B)加法电路4分别对光敏区域A和光敏区域B的各个感光信号进行相加处理而生成(A+B)信号，把其提供给系数相乘运算电路6，同时提供给RF电路7。而且，(C+D)加法电路5分别对光敏区域C和光敏区域D的各个感光信号进行相加处理而生成(C+D)信号，把其提供给RPP生成电路8，同时，提供给RF电路7。
RF电路7通过对(A+B)信号和(C+D)信号进行相加处理，而生成作为(A+B+C+D)信号的和信号，把其分别提供给LPPb生成电路14和WBLb生成电路15。
系数相乘运算电路6的系数的初始值是，把预定的系数k设定为「1」，以便于不改变所输入的(A+B)信号的电平而原封不动地进行输出。因此，在此情况下，仅提供给系数相乘运算电路6的(A+B)信号的极性被反转，而电平不变，在初始状态下，原封不动地提供给RPP生成电路8，然后，如后述那样，通过来自系数设定电路16的反馈来改变预定的系数k，因此，下述的RPP生成电路8的说明使用预定的系数k来进行。
RPP生成电路8通过运算从上述(C+D)信号减去极性被反转的{-k(A+B)}信号的差分信号，来生成径向推挽信号{(C+D)-k(A+B)}，把该径向推挽信号分别提供给两值化电路9、LPP振幅检测电路12、WBL振幅检测电路13。
两值化电路9把在径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号(LPP信号)进行两值化处理。
LPP振幅检测电路12抽出在径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑(LPP)成分，检测凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅，把该检测输出提供给LPPb生成电路14和系数设定电路16。
而且，WBL振幅检测电路13抽出在径向推挽信号中包含的摆动(WBL)成分，检测摆动信号(WBL信号)的振幅，把该检测输出提供给WBLb生成电路15和系数设定电路16。
而且，LPPb生成电路14根据来自RF电路7的和信号以及由LPP振幅检测电路12所检测出的在径向推挽信号中包含的LPP成分的振幅，来计算表示凸区预置凹坑信号与和信号的振幅的比例的LPPb信号，把其提供给系数设定电路16。
具体地说，使图6所示的和信号(A+B+C+D)的振幅为「R1」，使凸区预置凹坑信号的振幅为「L1」，使图7所示的(C+D)信号的振幅为「R2」，使(C+D)信号中的凸区预置凹坑信号的振幅为「L2」，使图7所示的{-k(A+B)}信号的振幅为「kR2」，使{-k(A+B)}信号中的凸区预置凹坑信号的振幅为「kL2」，LPP6生成电路4通过以下(式1)的运算而生成标准化的LPPb信号，把其提供给系数设定电路16。
LPPb信号＝L1/R1＝kL2/kR2＝L2/R2    ……(式1)
同样，WBLb生成电路15根据来自RF电路7的和信号以及由WBL振幅检测电路13所检测出的摆动信号，来计算表示摆动信号与和信号的振幅的比例的WBLb信号，把其提供给系数设定电路16。
具体地说，使图6所示的和信号(A+B+C+D)的振幅为「R1」，使摆动信号的振幅为「W1」，使图7所示的(C+D)信号的振幅为「R2」，使(C+D)信号中的摆动信号的振幅为「W2」，使图7所示的{-k(A+B)}信号的振幅为「kR2」，使{-k(A+B)}信号中的摆动信号的振幅为「kW2」，WBLb生成电路15通过以下(式2)的运算而生成标准化的WBLb信号，把其提供给系数设定电路16。
WBLb信号＝W1/R1＝kW2/kR2＝W2/R2    ……(式2)
另一方面，两值化电路9对在来自RPP生成电路8的径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号(LPP信号)进行两值化处理，把两值化处理后的凸区预置凹坑信号(LPP信号)提供给LPP解码电路10。LPP解码电路10根据该两值化的凸区预置凹坑信号(LPP信号)对在该凸区预置凹坑信号(LPP信号)中包含的地址信息等进行解码。
接着，在该解码时，把凸区预置凹坑信号(LPP信号)检测时的错误率提供给CPU 11。CPU 11把该错误率提供给系数设定电路16，在该系数设定电路16内，在后述的预定的系数k的设定时仅考虑错误率而进一步校正预定的系数k，以便于减小错误率。
而且，透镜移位量检测电路17判断：光拾取器2的物镜的光轴中心向DVD 31的径向的外周侧移位，还是向DVD 31的内周侧移位，对应于外周侧和内周侧而以±检测透镜移位量，把表示该透镜移位量的透镜移位量信号提供给系数设定电路16，把预定的系数k进一步校正在后述的预定的系数k的设定时考虑向DVD 31的外周侧或者内周侧移位的透镜移位量的对应部分。
即，在以前说明的图5(a)中，当透镜移位发生时，在光敏元件PD上成象的光点SP的位置相对于光敏元件PD的中心向光盘的径向偏移，因此，(A+B)、(C+D)的输出电平变化。因此，通过校正透镜移位量就能校正该输出电平。
具体地说，该透镜移位量检测电路17由以下部分构成：在图中省略了的设在驱动物镜用筒上的缝板、向该缝板上照射光的光源、用分成两个的光敏区域(光敏区域E，光敏区域F)分别均等地接收从光源经过缝板的缝隙所照射的光的光敏区域。检测由该光敏元件的各个光敏区域E、F感光的光的接收光量的差分(E-F)作为透镜移位量。
而且，除了这样的机械的透镜移位量的检测方法之外，也可以例如根据径向推挽信号来检测物镜的偏移，把其作为透镜移位量。
在用所谓的差分推挽法(DPP法)来检测跟踪误差的***中，由于DPP法本身消除了由透镜移位所产生的影响，则根据差分推挽信号不能检测出物镜的偏移。
因此，在此情况下，与由DPP法所进行的跟踪误差的检测***不同，而设置径向推挽信号的检测***，可以在按DPP法设置跟踪伺服机构的同时，根据由该径向推挽信号的检测***所检测出的径向推挽信号，来检测物镜的偏移。
接着，如上述那样在系数相乘运算电路6中所设定的预定的系数k在装置的初始状态下被设定为「k＝1」，然后，系数设定电路16根据使该预定的系数k为「1」时所反馈的LPPb信号、WBLb信号、错误率和透镜移位量信号，按以下说明的那样，最佳地可变控制系数相乘运算电路6的预定的系数k。
具体地说，在现有技术中，作为记录道摆动的记录介质，小型盘(MD)和CD-R是公知的，但是，在该MD和CD-R的记录重放装置中，在图6所示的摆动信号与0电平的交叉点(过零点)中，进行调整以使记录噪声变得最小，由此，来提高凸区预置凹坑信号的检测精度。
下面进行详细说明。首先，图9是这样的图：假设径向推挽信号中的摆动信号成分为零，而除去摆动信号成分，仅着眼于径向推挽信号中的凸区预置凹坑信号。以0电平为边界的正极侧表示(C+D)信号的高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号，另一方面以0电平为边界的负极侧表示{-k(A+B)}信号的高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号。
而且，{-k(A+B)}信号是相对于使进行相乘处理的预定的系数k在例如从0.9附近至1.6附近之间适当振荡而进行模拟的情况，分别表示低功率照射部的凸区预置凹坑信号和高功率照射部的凸区预置凹坑信号。
而且，(C+D)信号是，当使低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「m1」，使高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「m2」，使与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「a」，使与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「b」，并且a/m1＝b/m2＝L时，作为从高功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点到低功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点的振幅的(C+D)信号的振幅LB1由以下(式3)算出：
LB1＝m2-m1+b-a＝m2-m1+L×m2-L×m1    ……(式3)
而且，与上述相同，{-k(A+B)}信号是，当使低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「-km1」，使高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「-km2」，使与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「ka」，使与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「kb」，并且-ka/-km1＝-kb/-km2＝L时，作为从低功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点到高功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点的振幅的{-k(A+B)}信号的振幅LB2由以下(式4)算出：
LB2＝k(m2-m1+a-b)＝k(m2-m1+L×m1-L×m2)    …(式4)
对于上述(式3)与(式4)的关系将在后面描述。
下面，图10和图11是，为了在两值化电路9内确实地对径向推挽信号{(C+D)-k(A+B)}中的凸区预置凹坑信号进行两值化处理，仅着眼于(C+D)信号和{-k(A+B)}信号中的凸区预置凹坑信号，该凸区预置凹坑信号的允许变动宽度(片窗口宽度)通过预定的系数k来模拟怎样变化，由此，根据预定的系数k来求出能够同时确实地检测出高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号两者的片窗口宽度。此时，相对于凸区预置凹坑信号的片窗口宽度在两值化电路9内被设定。
首先，在图10(a)～(f)的情况下，是上述图9中说明的a/m1＝b/m2＝L成立的特殊情况，其中，把L的值设定为例如0.2来进行模拟。
图10(b)是把预定的系数k设定为「1.0」的情况，在此情况下，是得到由现有技术进行的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。在此例中，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都为相同的基准电平(以下称为0电平)，能够良好地检测出在此省略了图示的摆动信号，但凸区预置凹坑信号的检测不够好。
即，为了检测高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与0电平的电平差是4.0，该片窗口宽度的值＝4.0稍小，因此，不能确实地检测出两个凸区预置凹坑信号。
而且，相对于上述图10(b)，如图10(a)所示的那样，当把预定的系数k设定为小于「1.0」的「0.96」时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都上升到0电平以上，而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为0.92，该片窗口宽度的值＝0.92远小于图10(b)的，则凸区预置凹坑信号的检测变得困难，同时，省略了图示的摆动信号与图10(b)的情况相比也稍稍变差。
另一方面，相对于上述图10(b)，如图10(c)所示的那样，当把预定的系数k设定为大于「1.0」的「1.1」时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平的下方，而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为4.1，该片窗口宽度的值＝4.1稍稍大于图10(b)的，而稍微提高了凸区预置凹坑信号的检测。
此时，省略了图示的摆动信号与图10(b)的情况相比也稍稍变差，与摆动信号的检测变差的情况相比，能够确实地检测凸区预置凹坑信号更为重要，即使在以下图10(d)～图10(f)的情况下，摆动信号的检测也逐渐变差。
如图10(d)所示的那样，当把预定的系数k设定为大于图10(c)的「1.2」时，具有与图10(c)相同的倾向，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为4.4，该片窗口宽度的值＝4.4是可靠性良好并且能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的良好的值。
如图10(e)所示的那样，当把预定的系数k设定为比图10(d)更大的「1.5」时，在高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方的状态下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平都一致在0电平。
而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：0电平(＝高功率照射部和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平)与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为5.0，该片窗口宽度的值＝5.0，为能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的最大值，因此，通过后述的理由，在a/m1＝b/m2＝L的条件下的预定的系数k＝1.5成为理论上的上限值。而且，对于求出预定的系数k的理论下限值的方法将在后面描述。
而且，如图10(f)所示的那样，当把预定的系数k设定为比图10(d)更大的「1.6」时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平成为低于低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平的状态，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为2.0，与图10(e)的情况相比，尽管预定的系数k仅增加了0.1，该片窗口宽度的值＝2.0的结果是大大减少了，则两个凸区预置凹坑信号的检测大大恶化。
这样，如图10(e)所示的那样，预定的系数k为「1.5」的情况是理论上限值，当设定为该理论上限值时，在预定的系数k大于1.5的方向上就没有裕量，因此，从可靠性和安全性考虑，如图10(d)所示的那样，预定的系数k为「1.2」～「1.4」(省略了部分图示)的情况为a/m1＝b/m2＝L的条件下的实用值。
其中，如图10(e)所示的那样，预定的系数k在a/m1＝b/m2＝L的条件下取理论上限值时的条件，如上述那样，在由(式3)所得到的(C+D)信号中的凸区预置凹坑信号的振幅LB1和由(式4)所得到的{-k(A+B)}信号中的凸区预置凹坑信号的振幅LB2为相同值的情况下，得到预定的系数k的理论上限值，由此，从(式3)＝(式4)，预定的系数k为由以下式5所算出的值。
k＝{m2-m1+L(m2-m1)}/{m2-m1+L(m1-m2)}
 ＝{(m2-m1)(1+L)}/{(m2-m1)(1-L)}
 ＝(1+L)/(1-L)}         ……(式5)
而且，上述(式5)中的L，从运算上述(式1)所得到的标准化的LPPb信号＝L1/RI＝kL2/kR2＝L2/R2的情况和图7所看到的那样，为等价的，因此，能够把上述L值置换为标准化的LPPb信号，即，能够把(式5)置换为下述(式6)，由此，通过把来自LPPb生成电路14的输出结果提供给系数设定电路16，通过(式6)就能得到理论上限值的预定的系数k。
k＝(1+LPPb)/(1-LPPb)       ……(式6)
接着，在图11(a)～(e)的情况下，上述图9说明的a/m1＝b/m2＝L不成立，即，成为a/m1≠b/m2≠L的一般的情况，其中，把L的值设定为约0.2来进行模拟。
而且，图11(a)～(e)用与图10说明的大致相同的考虑方法，相对于预定的系数k来求出用于同时确实地检测出高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的片窗口宽度。而且，其中求出的片窗口宽度的绝对值与在图10中求出的绝对值不同，但是，这是因为除预定的系数k以外的主要因素是不同的。
即，图11(a)是把预定的系数k设定为「0.9」的情况，但是，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都上升到0电平上方，并且，用于检测高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为3.5。该3.5这样的数值是难于进行凸区预置凹坑信号的检测的较小的值。
而且，图11(b)是把预定的系数k设定为「1.0」的情况，在此情况下，是得到从现有技术实现的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。
在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都为0电平(基准电平)。能够良好地检测在此未图示的摆动信号，而凸区预置凹坑信号的检测不够好。即，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与0电平的电平差为8.0，该片窗口宽度的值＝8.0稍小，因此，不能确实地检测出两个凸区预置凹坑信号。
而且，图11(c)是把预定的系数k设定为「1.1」的情况，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为8.4。该片窗口宽度的值＝8.4是可靠性良好并且能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的良好的值。
而且，图11(d)是把预定的系数k设定为「1.2」的情况，在此情况下，在高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方的状态下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平都一致地在0电平上方。
并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为8.8，该片窗口宽度的值＝8.8为能够确实地检测两个凸区预置凹坑信号的最大值，因此，a/m1≠b/m2≠L的条件下的预定的系数k＝1.2成为理论上限值。
而且，图11(e)是把预定的系数k设定为「1.3」的情况，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平成为低于低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平的状态，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为7.0，该片窗口宽度的值＝7.0小于图11(c)和图11(d)的值，两个凸区预置凹坑信号的检测恶化。
这样，如图11(d)所示的那样，预定的系数k为「1.2」的情况是理论上限值，当设定为该理论上限值时，在预定的系数k大于1.2的方向上就没有裕量，因此，从可靠性和安全性考虑，如图11(c)所示的那样，预定的系数k为「1.1」附近的情况为a/m1≠b/m2≠L条件下的实用值。
其中，如图11(d)所示的那样，预定的系数k在a/m1≠b/m2≠L的条件下取理论上限值时的条件可以从上述(式5)和(式6)类推，则下述(式7)和(式8)成立：
1.0＜k＜α×{(1+L)/(1-L)}          ……(式7)
1.0＜k＜α×{(1+LPPb)/(1-LPPb)}    ……(式8)
此时，(式7)和(式8)中的系数α是由光拾取器2的性能以及根据该光拾取器2的记录功率以及在重放方式下的重放功率所确定的系数，取小于1.0的值，该系数α的值可以预先存储在存储器中。
下面，图12是假设径向推挽信号中的凸区预置凹坑信号成分为零而除去了凸区预置凹坑信号成分、仅着眼于径向推挽信号中的摆动信号的图，以0电平为边界的正极侧表示(C+D)信号的高功率照射部的摆动信号以及低功率照射部的摆动信号，另一方面，以0电平为边界的负极侧表示{-k(A+B)}信号的高功率照射部的摆动信号以及低功率照射部的摆动信号。
而且，{-k(A+B)}信号与图9说明的相同，改变相乘处理的预定的系数k来进行模拟，但是，为了图示的方便，仅对预定的系数k＝1.0，k＝1.1，k＝1.2的情况进行说明。
而且，(C+D)信号是，当使低功率照射部的摆动信号的中心电平为「m1」，使高功率照射部的摆动信号的中心电平为「m2」，使从低功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「c」，使从高功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「d」，并且c/m1＝d/m2＝W时，作为从高功率照射部的摆动信号波形的顶点到低功率照射部的摆动信号波形的顶点的振幅的(C+D)信号的振幅WB1由以下(式9)算出：
WB1＝m2-m1+d-c＝m2-m1+W×m2-W×m1    ……(式9)
而且，与上述相同，{-k(A+B)}信号是，当使低功率照射部的摆动信号的中心电平为「-km1」，使高功率照射部的摆动信号的中心电平为「-km2」，使从低功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「kc」，使从高功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「kd」，并且-kc/-km1＝-kd/-km2＝W时，作为从低功率照射部的摆动信号波形的顶点到高功率照射部的摆动信号波形的顶点的振幅的{-k(A+B)}信号的振幅WB2由以下(式10)算出：
WB2＝k(m2-m1+c-d)＝k(m2-m1+W×m1-W×m2)
                                 ……(式10)
上述(式9)和(式10)的关系将在后面描述。
下面，图13是：为了在两值化电路9内确实地对径向推挽信号{(C+D)-k(A+B)}的凸区预置凹坑信号进行两值化处理，仅着眼于(C+D)信号和{-k(A+B)}信号中的摆动信号，模拟该摆动信号随预定的系数k怎样变化，由此，从高功率照射部的摆动信号的振幅和低功率照射部的摆动信号的振幅的关系来决定预定的系数k的理论下限值。而且，在该图中，配合图12表示了预定的系数k为「1.0」，「1.1」，「1.2」的情况。
首先，在图13(a)～(c)的情况下，是如上述图12说明的c/m1＝d/m2＝W成立时的特殊情况，其中，把W的值设定为例如0.05来进行模拟。
首先，图13(a)是把预定的系数k设定为「1.0」的情况，该情况是得到从现有技术完成的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。在该例中，高功率照射部的摆动信号和低功率照射部的摆动信号都是同一周期，并且，高功率照射部的摆动信号的振幅一方大于低功率照射部的摆动信号的振幅。该状态对应于前面说明的图10(b)，能够良好地检测摆动信号，但不能良好地进行凸区预置凹坑信号的检测。
而且，图13(b)是把预定的系数k设定为「1.1」的情况，在该例中，高功率照射部的摆动信号和低功率照射部的摆动信号周期不同，低功率照射部的摆动信号的波形的顶点和高功率照射部的摆动信号的波形的顶点一致处于中心电平上方，该状态为c/m1＝d/m2＝W条件下的预定的系数k＝1.1是理论下限值的状态。而且，该状态与前面说明的图10(c)相对应，摆动信号的检测与图13(a)相比稍稍变差，但仍能够检测出凸区预置凹坑信号，因此，预定的系数k＝1.1是理论下限值。
而且，图13(c)是把预定的系数k设定为「1.2」的情况，在该例中，在低功率照射部的摆动信号的波形的顶点的下方，没有高功率照射部的摆动信号的波形的顶点相交的位置。该状态与前面说明的图10(d)相对应，摆动信号的检测进一步变差，另一方面，凸区预置凹坑信号的检测是良好的，对此已经进行了说明。
在此，如图13(b)所示的那样，预定的系数k在c/m1＝d/m2＝W条件下取理论下限值时的条件，如上述那样，在由(式9)所得到的(C+D)信号中的摆动信号的振幅WB1与由(式10)所示的{-k(A+B)}信号中的摆动信号的振幅WB2为相同值的情况下，得到预定的系数k的理论下限值，由此，从(式9)＝(式10)，预定的系数k为由以下式11所算出的值。
k＝{m2-m1+ W(m2-m1)}/{m2-m1+W(m1-m2)}
 ＝{(m2-m1)(1+W)}/{(m2-m1)(1-W)}
 ＝(1+W)/(1-W)              ……(式11)
而且，上述(式11)中的W，从运算上述(式2)所得到的标准化的WBLb信号＝W1/R1＝kW2/kR2＝W2/R2的情况和图7所看到的那样，为等价的，因此，能够把上述W值置换为标准化的WBLb信号，即，能够把(式11)置换为下述(式12)，由此，通过把来自WBLb生成电路15的输出结果提供给系数设定电路16，通过(式12)就能得到理论下限值的预定的系数k。
k＝(1+WBLb)/(1-WBLb)       ……(式12)
在此省略了图示的如图12说明的预定系数k，即使在c/m1＝d/m2＝W不成立即c/m1≠d/m2≠W的一般情况下，与图13(b)所示的大致相同，当低功率照射部的摆动信号的波形的顶点和高功率照射部的摆动信号的波形的顶点相一致时，该状态为c/m1≠d/m2≠W条件下的预定的系数k的理论下限值。
在此情况下，与前面说明的(式7)和(式8)成对的(式13)和(式14)成立：
1.0＜k＜β×{(1+W)/(1-W)}        ……(式13)
1.0＜k＜β×{(1+WBLb)/(1-WBLb)}  ……(式14)
此时，(式13)和(式14)中的系数β是由光拾取器2的性能以及根据该光拾取器2的记录功率以及在重放方式下重放功率所左右的系数，取小于1.0的值，该系数β的值可以预先存储在存储器中。
当综合上述内容时，预定的系数k，对于凸区预置凹坑信号，前面说明的(式5)、(式6)、(式7)、(式8)分别成立，而且，对于摆动信号，前面说明的(式11)、(式12)、(式13)、(式14)分别成立，可以用凸区预置凹坑信号和摆动信号来对它们进行组合。
这样，如果预定的系数k处于理论上限值与理论下限值的范围内，就能高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，由此，以下的(式15)～(式18)成立：
即，在a/m1＝b/m2＝L并且c/m1＝d/m2＝W的条件下，
(1+W)/(1-W)≤k≤(1+L)/(1-L)    ……(式15)
(1+WBLb)/(1-WBLb)≤k≤(1+LPPb)/(1-LPPb)
                               ……(式16)
另一方面，在a/m1≠b/m2≠L并且c/m1≠d/m2≠W的条件下，
β×{(1+W)/(1-W)}＜k＜α×{(1+L)/(1-L)}
                               ……(式17)
β×{(1+WBLb)/(1-WBLb)}＜k＜α×{(1+LPPb)/(1-LPPb)}
                               ……(式18)
更具体地说，虽然预定的系数k被设定为现有的「1.0」，但是，在本发明中，(1)根据凸区预置凹坑信号的振幅，或者，凸区预置凹坑信号的振幅和摆动信号的振幅，使预定系数的值大于1.0，并且，在能够检测出凸区预置凹坑信号的范围的值中进行反馈来设定，或者，(2)根据标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者，标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和标准化的摆动信号的振幅，使预定的系数的值大于1.0，并且，在能够检测出凸区预置凹坑信号的范围的值中进行反馈来设定，由此，能够高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，在盘状记录介质的记录时或者重放时，高精度地检测出与在凸区33中预先形成的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号。
而且，在该实施例的盘记录重放装置中，系数设定电路16，根据LPP信号、WBL信号、LPPb信号、WBLb信号、凸区预置凹坑信号的检测时的错误率、光拾取器2的物镜的移位量，来把在系数相乘运算电路6中设定的预定的系数k的值设定在上述理论上限值与理论下限值之间的值上。更具体地说，把预定的系数k的值设定为大于1.0并且能够检测出凸区预置凹坑信号的范围内的值上。
由此，在记录时，不管DVD 31上的高功率照射部和低功率照射部，都能高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，而且，在重放时，不管是在DVD 31的记录凹坑形成部位还是在未记录部位，都能高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号。
第二实施例的构成
下面，图14是第二实施例的盘记录重放装置的方框图。如从图14所看到的那样，该第二实施例的盘记录重放装置具有：对DVD 31经过物镜(未图示)照射来自半导体激光器(未图示)的光束来进行数据记录重放的光拾取器2和以预定增益放大来自光拾取器2的重放输出并输出的前置放大器3。
图15(a)是模式地表示光拾取器2内的光敏元件PD(PhotoDetector)位于摆动沟32的中央并且用该光敏元件PD检测图示右侧的凸区33上的凸区预置凹坑34的状态的模式图。
上述光敏元件PD形成为大致矩形，在沿着DVD 31的径向的直线和沿着记录道方向的直线上把全部光敏区域进行四等分，在该光敏元件PD上成象的光点SP通过DVD 31(光盘)的外周侧的两个光敏区域A和光敏区域B的组和DVD 31的内周侧的两个光敏区域C和光敏区域D的组而形成两组，因此，相对于沿着DVD 31的记录道方向的直线，成为分成两部分的状态。
这样，当从光敏元件PD输出光敏输出时，如图15(b)所示的那样，分别输出把DVD 31的外周侧的两个光敏区域A和光敏区域B的各个光敏信号相加的(A+B)信号和把DVD 31的内周侧的两个光敏区域C和光敏区域D的各个光敏信号相加的(C+D)信号，但是，此时，在光敏元件PD上，由于向凸区预置凹坑34的光束B的衍射现象等的影响，在DVD 31的内周侧和外周侧，亮度变得不平衡，因此，(A+B)信号和(C+D)信号都以从0电平在上方侧反转的状态被输出。
此时，(A+B)信号的输出振幅和(C+D)信号的输出振幅为大致相同电平是必要条件，通过光拾取器2的调整状态等，当两者不是大致相同的情况下，按后述那样，在由RPP生成电路108生成差分信号之前，由适当的调整电路进行调整，以使(A+B)加法电路4和(C+D)加法电路5中两者的输出振幅大致为相同电平。
然后，当通过从光敏元件PD所输出的(A+B)信号和(C+D)信号生成径向推挽信号时，把预定的系数q与(C+D)信号进行相乘处理的q(C+D)信号和由于(A+B)信号的极性被反转而在预定的系数p上乘以-(负)号的{-p(A+B)}信号在0电平的上下得到图15(c)那样的结果，因此，取这些信号的差分的差分信号{q(C+D)-p(A+B)}作为径向推挽信号而被生成。
此时，在图15(b)中，凸区预置凹坑信号(LPP信号)，相对于以摆动信号(WBL信号)为中心向着0电平侧的(向下侧)的一方的信号(A+B)侧，可以在预定的系数p上乘以-(负)号，与图示不同，假定在(C+D)侧，如果凸区预置凹坑信号(LPP信号)向着下侧，可以对在这边用系数p进行相乘处理，而用系数q对另一方进行相乘处理。但是，该判定不是在装置内进行，在哪侧进行相乘处理可以预先设定，因此，可以如实施例那样，在(A+B)加法电路4侧连接系数p相乘运算电路106，在(C+D)加法电路5侧连接系数q相乘运算电路120。
因此，该盘记录重放装置具有：检测把DVD 31的外周侧的两个光敏区域A和光敏区域B的各个光敏信号相加的(A+B)信号的(A+B)加法电路4；检测把DVD 31的内周侧的两个光敏区域C和光敏区域D的各个光敏信号相加的(C+D)信号的(C+D)加法电路5。
而且，该盘记录重放装置具有：把来自(A+B)加法电路4的(A+B)信号的极性反转，并且，对预定的系数p进行{-p(A+B)}相乘处理并输出的系数p相乘运算电路106。
在该盘记录重放装置中，根据径向推挽信号的检测输出、凸区预置凹坑信号的检测时的错误率和光拾取器2的物镜的移位量来改变该预定的系数p，q，由此，谋求提高光盘上的凸区预置凹坑(LPP)的检测精度。
而且，该盘记录重放装置具有：生成径向推挽信号{q(C+D)-p(A+B)}的RPP生成电路108；把在来自该RPP生成电路108的径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号(LPP信号)进行两值化处理的两值化电路9；对由两值化电路9进行两值化处理的凸区预置凹坑信号(LPP信号)的地址信息进行解码处理的LPP解码电路10；计算由该LPP解码电路10所解码的凸区预置凹坑信号的错误率并输出该错误率的CPU 11。
而且，该盘记录重放装置具有：对来自(A+B)加法电路4的(A+B)信号和来自(C+D)加法电路5的(C+D)信号进行相加处理而生成和信号{RF信号：(A+B+C+D)}的RF电路7；从来自RPP生成电路108的径向推挽信号中提取凸区预置凹坑信号(LPP信号)，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出给LPPb生成电路14和系数设定电路16的LPP振幅检测电路(凸区预置凹坑信号振幅检测电路)12；从来自RPP生成电路108的径向推挽信号中提取记录道的摆动信号(WBL信号)，检测该摆动信号的振幅，并输出给WBLb生成电路15和系数设定电路16的WBL振幅检测电路(摆动信号振幅检测电路)13。
而且，该盘记录重放装置具有：LPPb生成电路(标准化凸区预置凹坑信号振幅检测电路)14，该电路把由LPP振幅检测电路12所提取的凸区预置凹坑信号(LPP信号)的电平作为相对于由RF电路7所生成的和信号(A+B+C+D)的电平进行了标准化的凸区预置凹坑信号(以下称为LPPb信号)来输出；把由WBL振幅检测电路13所抽出的摆动信号的电平作为相对于由RF电路7所生成的和信号(A+B+C+D)的电平进行了标准化的摆动信号(以下称为WBLb信号)来输出的WBLb生成电路(标准化摆动信号振幅检测电路)15；检测从光拾取器2的物镜的光轴中心向径向的透镜移位量，输出该透镜移位量的透镜移位量检测电路17。
而且，该盘记录重放装置具有系数设定电路16，根据来自CPU 11的凸区预置凹坑信号的检测时的错误率、来自LPP振幅检测电路12的凸区预置凹坑信号的振幅、来自WBL振幅检测电路13的摆动信号的振幅、来自LPPb生成电路14的标准化的LPPb信号、来自WBLb生成电路15的标准化的WBLb信号、由透镜移位量检测电路17所检测出的透镜移位量，来设定上述系数p相乘运算电路106的预定的系数p和设定上述系数q相乘运算电路120的预定的系数q。而且，可以把来自LPP振幅检测电路12的凸区预置凹坑信号的振幅和来自WBL振幅检测电路13的摆动信号的振幅的组合、或者来自LPPb生成电路14的标准化的LPPb信号和来自WBLb生成电路15的标准化的WBLb信号的组合中的任一组合连接到系数设定电路16上。
第二实施例的动作
下面，说明在具有这样的构成的第二实施例的盘记录重放装置中，成为本发明的主要部分的凸区预置凹坑(LPP)检测动作。而且，在以下说明的图16、图17、图18等中，摆动信号、LPP信号用直线来近似表示，与图22、图23不同，但是，只是简化地表示其。
本发明包含重放未记录部分并测定对该盘的关联基本参数的内容，但是，在实际的记录重放装置中，能够识别盘上的未记录区域，因此，能够对该区域进行搜索来求出上述参数。而且，盘最内周的引入区域或者盘最外周的引出区域是在对盘记录了全部的用户数据之后进行记录的部分，在记录了该区域之后，不对盘进行记录。本发明中的对盘的关联基本参数的测定可以对该引入区域或者引出区域进行。
首先，图16表示了当重放DVD 31的未记录部分时的来自RF电路7的和信号输出(A+B+C+D)与来自RPP生成电路108的径向推挽信号{q(C+D)-p(A+B)}的关系，但是，如从该图16所看到的那样，对A～D的各个信号进行相加处理的RF信号的电平大于作为从q(C+D)信号减去{-p(A+B)}信号的差分信号的径向推挽信号的电平。
而且，在径向推挽信号中，在以0电平为中心上下摆动的摆动信号(WBL信号)上重叠以该摆动信号的相位90°的定时出现的凸区预置凹坑信号(LPP信号)。此时，和信号(A+B+C+D)的振幅R1、摆动信号(WBL信号)的振幅W1、凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅L1分别为从0电平到图示上方的各信号之间的值。上述凸区预置凹坑信号(LPP信号)是表示对该记录道的标准侧的信号的图，省略了在相反侧存在不标准的凸区预置凹坑信号(LPP信号)的图示。
下面，图17是把当重放图16中说明的未记录部分时的径向推挽信号{q(C+D)-p(A+B)}分成q(C+D)信号和极性反转的{-p(A+B)}信号进行表示的图，但是，如从该图17所看到的那样，q(C+D)信号把0电平作为边界而出现在正极侧，{-p(A+B)}信号0电平作为边界而出现在负极侧。而且，q(C+D)信号和{-p(A+B)}信号分别是在摆动信号上重叠以该摆动信号的相位90°的定时出现的凸区预置凹坑信号(LPP信号)而形成的。
此时，正极侧的到q(C+D)信号的中心电平的振幅qR2和负极侧的到{-p(A+B)}信号的中心电平的振幅pR2如图示那样是以0电平为基准来进行表示。而且，与q(C+D)信号相对应的摆动信号(WBL信号)的振幅qW2和凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅qL2为从q(C+D)信号的中心电平到图示上方的各信号的顶点之间的值。而且，与{-p(A+B)}信号相对应的摆动信号(WBL信号)的振幅pW2和凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅pL2为从{-p(A+B)}信号的中心电平到图示上方的各信号的顶点的值。
接着，图18表示在DVD 31的摆动沟32上记录信息信号时的状态，例如，当用脉冲状的光束B记录信息信号时，把光束B的照射光量较大的部位(相当于「信息信号的1」的部位)作为高功率照射部，把光束B的照射光量较小的部位(相当于「信息信号的0」的部位)作为低功率照射部，此时，分别对于正极侧的q(C+D)信号和负极侧的{-p(A+B)}信号，分成高功率照射部的包络线和低功率照射部的包络线来表示。
如从图18所看到的那样，当与q(C+D)信号和{-p(A+B)}信号同时存在高功率照射部和低功率照射部时，q(C+D)信号和{-p(A+B)}信号的各个电平分别为不同的电平。而且，由于在高功率照射部和低功率照射部中产生这样的电平差，因此在后段产生凸区预置凹坑信号的误检测。
而且，在以下的说明中，对记录时进行了描述，但是，在重放时，在光盘上记录凹坑所形成的部位与低功率照射部相对应，未形成记录凹坑的未记录部位与高功率照射部相对应，可以检测出凸区预置凹坑信号，因此，省略了对重放时的说明。
因此，该实施例的盘记录重放装置，通过可变控制径向推挽信号{q(C+D)-p(A+B)}中的预定的系数p，q，来寻求径向推挽信号{q(C+D)-p(A+B)}的在后端中的凸区预置凹坑信号的检测精度的提高。
首先，在记录时(或者重放时)，从光拾取器2照射记录用(或者重放用)的光束，光拾取器2通过使用图5说明的4分割光敏元件PD来接收该光束的反射光，把光敏区域A和光敏区域B的各个感光信号经过前置放大器3提供给(A+B)加法电路4，同时，把光敏区域C和光敏区域D的各个感光信号经过前置放大器3提供给(C+D)加法电路5。
(A+B)加法电路4分别对光敏区域A和光敏区域B的各个感光信号进行相加处理而生成(A+B)信号，把其提供给系数p相乘运算电路106，同时提供给RF电路7。而且，(C+D)加法电路5分别对光敏区域C和光敏区域D的各个感光信号进行相加处理而生成(C+D)信号，把其提供给RPP生成电路108，同时，提供给RF电路7。
RF电路7通过对(A+B)信号和(C+D)信号进行相加处理，而生成作为(A+B+C+D)信号的和信号，把其分别提供给LPPb生成电路14和WBLb生成电路15。
系数p相乘运算电路106和系数q相乘运算电路120的系数的初始值是，分别把预定的系数p、q设定为「1」，以便于不改变所输入的(A+B)、(C+D)信号的电平而原封不动地进行输出。因此，在初始状态下，原封不动地提供给RPP生成电路108，然后，如后述那样，通过来自系数设定电路16的反馈来改变预定的系数p、q，因此，下述的RPP生成电路108的说明使用预定的系数p、q来进行。
RPP生成电路108通过计算从上述q(C+D)信号减去p(A+B)信号的差分信号，来生成径向推挽信号{q(C+D)-p(A+B)}，把该径向推挽信号分别提供给两值化电路9、LPP振幅检测电路12、WBL振幅检测电路13。
两值化电路9把在径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号(LPP信号)进行两值化处理。
LPP振幅检测电路12抽出在径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑(LPP)成分，检测凸区预置凹坑信号(LPP信号)的振幅，把该检测输出提供给LPPb生成电路14和系数设定电路16。
而且，WBL振幅检测电路13抽出在径向推挽信号中包含的摆动(WBL)成分，检测摆动信号(WBL信号)的振幅，把该检测输出提供给WBLb生成电路15和系数设定电路16。
而且，LPPb生成电路14根据来自RF电路7的和信号以及由LPP振幅检测电路12所检测出的在径向推挽信号中包含的LPP成分的振幅，来计算表示凸区预置凹坑信号对和信号的振幅的比例的LPPb信号，把其提供给系数设定电路16。
具体地说，设图16所示的和信号(A+B+C+D)的振幅为「R1」，设把预定的系数p、q分别设定为1时的凸区预置凹坑信号的振幅为「L1」，设图17所示的q(C+D)信号的振幅为「qR2」，使q(C+D)信号中的凸区预置凹坑信号的振幅为「qL2」，设图17所示的{-p(A+B)}信号的振幅为「pR2」，设{-p(A+B)}信号中的凸区预置凹坑信号的振幅为「pL2」，WBLb生成电路15通过以下(式21)的运算而生成标准化的LPPb信号，把其提供给系数设定电路16。
LPPb信号＝L1/R1＝pL2/pR2＝qL2/qR2＝L2/R2    ……(式21)
同样，WBLb生成电路15根据来自RF电路7的和信号以及由WBL振幅检测电路13所检测出的摆动信号，来运算表示摆动信号对和信号的振幅的比例的WBLb信号，把其提供给系数设定电路16。
具体地说，设图16所示的和信号(A+B+C+D)的振幅为「R1」，设把预定的系数p、q分别设定为1时的摆动信号的振幅为「W1」，设图17所示的q(C+D)信号的振幅为「qR2」，设q(C+D)信号中的摆动信号的振幅为「qW2」，设图17所示的{-p(A+B)}信号的振幅为「pR2」，设{-p(A+B)}信号中的摆动信号的振幅为「pW2」，WBLb生成电路15通过以下(式22)的运算而生成标准化的WBLb信号，把其提供给系数设定电路16。
WBLb信号＝W1/R1＝pW2/pR2＝qW2/qR2＝W2/R2    ……(式22)
另一方面，两值化电路9对在来自RPP生成电路108的径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号(LPP信号)进行两值化处理，把两值化的凸区预置凹坑信号(LPP信号)提供给LPP解码电路10。LPP解码电路10根据该两值化的凸区预置凹坑信号(LPP信号)对在该凸区预置凹坑信号(LPP信号)中包含的地址信息等进行解码。接着，在该解码时，把凸区预置凹坑信号(LPP信号)检测时的错误率提供给CPU 11。CPU 11把该错误率提供给系数设定电路16，在该系数设定电路16内，把预定的系数p，q的在后述的预定的系数p，q的设定时考虑错误率的对应部分进一步校正，以便于减小错误率。
而且，透镜移位量检测电路17判断：光拾取器2的物镜的光轴中心向DVD 31的径向的外周侧移位，还是向DVD 31的内周侧移位，对应于外周侧和内周侧而以±检测透镜移位量，把表示该透镜移位量的透镜移位量信号提供给系数设定电路16，把预定的系数p，q在后述的预定的系数p，q的设定时考虑向DVD 31的外周侧或者内周侧移位的透镜移位量的对应部分进一步校正。
即，在以前说明的图15(a)中，当透镜移位发生时，在光敏元件PD上成象的光点SP的位置相对于光敏元件PD的中心向光盘的径向偏移，因此，(A+B)、(C+D)的输出电平变化。因此，通过校正透镜移位量就能校正该输出电平。
具体地说，该透镜移位量检测电路17由以下部分构成：在图中省略了的设在物镜驱动用筒上的缝板、向该缝板上照射光的光源、用分成两个的光敏区域(光敏区域E，光敏区域F)分别均等地接收从光源经过缝板的缝隙所照射的光的光敏区域。检测由该光敏元件的各个光敏区域E、F感光的光的接收光量的差分(E-F)作为透镜移位量。
而且，除了这样的机械的透镜移位量的检测方法之外，也可以例如根据径向推挽信号来检测物镜的偏置，把其作为透镜移位量。
而且，在用所谓的差分推挽法(DPP法)来检测跟踪误差的***中，由于DPP法本身消除了由透镜移位所产生的影响，因此根据差分推挽信号不能检测出物镜的偏置。因此，在此情况下，与由DPP法所进行的跟踪误差的检测***不同，而设置径向推挽信号的检测***，可以在按DPP法设置跟踪伺服机构的同时，根据由该径向推挽信号的检测***所检测出的径向推挽信号，来检测物镜的偏移。
接着，如上述那样在系数p相乘运算电路106和系数q相乘运算电路120中所设定的预定的系数p，q在装置的初始状态下被设定为「p＝q＝1」，然后，系数设定电路16根据使该预定的系数p，q为「1」时所反馈的LPPb信号、WBLb信号、错误率和透镜移位量信号，按以下说明的那样，最佳地可变地控制系数p相乘运算电路106的预定的系数p和系数q相乘运算电路120的预定的系数q。
具体地说，在现有技术中，作为记录道进行摆动的记录介质，小型盘(MD)和CD-R是公知的，但是，在该MD和CD-R的记录重放装置中，在图16所示的摆动信号与0电平的交叉点(过零点)中，进行调整以使记录噪声变得最小，由此，来提高凸区预置凹坑信号的检测精度。
下面进行详细说明。首先，对与(C+D)相对应的乘数q＝1/k1(k1是在下述中所设定的系数)、与(A+B)相对应的乘数p＝-1的情况进行说明。
图19是这样的图：假设径向推挽信号中的摆动信号成分为零，而除去摆动信号成分，而仅着眼于径向推挽信号中的凸区预置凹坑信号。以0电平为边界的正极侧表示(1/k1)(C+D)信号的高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号，另一方面以0电平为边界的负极侧表示-(A+B)信号的高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号。
(1/k1)(C+D)信号是相对于使相乘处理的预定的系数1/k1在例如0.6附近至1.1附近之间(k1例如在0.96～1.5之间)适当振荡来进行模拟的情况，而分别表示低功率照射部的凸区预置凹坑信号和高功率照射部的凸区预置凹坑信号。
而且，(1/k1)(C+D)信号是，当设低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「(1/k1)m1」，设高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「(1/k1)m2」，设与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「(1/k1)a」，设与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「(1/k1)b」，并且当a/m1＝b/m2＝L时，作为从高功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点到低功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点的振幅的(1/k1)(C+D)信号的振幅LB1由以下(式23)算出：
LB1＝(1/k1)m2-(1/k1)m1+(1/k1)b-(1/k1)a
   ＝(1/k1)m2-(1/k1)m1+(1/k1)L×m2-(1/k1)L×m1
                                  ……(式23)
而且，与上述相同，(A+B)信号是，当设低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「-m1」，设高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「-m2」，设与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「a」，设与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「b」，并且-a/-m1＝-b/-m2＝L时，作为从低功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点到高功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点的振幅的(A+B)信号的振幅LB2由以下(式24)算出：
LB2＝m2-m1+a-b＝m2-m1+L×m1-L×m2
                                ……(式24)
对于上述(式23)与(式24)的关系将在后面描述。
下面，图20和图21是，为了在两值化电路9内确实地对径向推挽信号{(1/k1)(C+D)-(A+B)}中的凸区预置凹坑信号进行两值化处理，仅着眼于(1/k1)(C+D)信号和(A+B)信号中的凸区预置凹坑信号，该凸区预置凹坑信号的允许变动宽度(片窗口宽度)通过预定的系数k来模拟怎样变化，由此，根据预定的系数k来求出能够同时确实地检测出高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号两者的片窗口宽度。此时，相对于凸区预置凹坑信号的片窗口宽度在两值化电路9内被设定。
首先，在图20(a)～(f)的情况下，是上述图19中说明的a/m1＝b/m2＝L成立的特殊情况，其中，把L的值设定为例如0.2来进行模拟。
图20(b)是把预定的系数(1/k1)设定为「1.0」(k1＝1.0)的情况，在此情况下，是得到由现有技术进行的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。
在此例中，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都为相同的基准电平(以下称为0电平)，能够良好地检测出在此省略了图示的摆动信号，但凸区预置凹坑信号的检测不够好。
即，为了检测高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与0电平的电平差是4.0，该片窗口宽度的值＝4.0较大，但是，象下述那样，当k1的值变小时，存在片窗口宽度的值急剧变小的问题。
而且，相对于上述图20(b)，如图20(a)所示的那样，当把预定的系数(1/k1)设定为比「1.0」稍大的「1.04 」(k1＝0.96)时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都上升到0电平上方，而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为2.41，该片窗口宽度的值＝2.41大大小于图20(b)的，则凸区预置凹坑信号的检测变得困难，同时，省略了图示的摆动信号与图20(b)的情况相比也稍稍变差。
另一方面，相对于上述图20(b)，如图20(c)所示的那样，当把预定的系数(1/k1)设定为比「1.0」稍小的「0.9」(k1＝1.1)时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为3.82，该片窗口宽度的值＝3.82稍稍小于图20(b)的，但成为可靠性高并且能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的良好的值。此时，省略了图示的摆动信号与图20(b)的情况相比也稍稍变差，与摆动信号的检测变差的情况相比，能够确实地检测凸区预置凹坑信号是更重要的，即使在以下图20(d)～图20(f)的情况下，摆动信号的检测也逐渐变差。
如图20(d)所示的那样，当把预定的系数(1/k1)设定为小于图20(c)的「0.83」(k1＝1.2)时，具有与图20(c)相同的倾向，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为3.67，该片窗口宽度的值＝3.67是可靠性良好并且能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的良好的值。
如图20(e)所示的那样，当把预定的系数(1/k1)设定为比图10(d)更小的「0.67」(k1＝1.5)时，在高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平以下的状态下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平都一致在0电平以上。
而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：0电平(＝高功率照射部和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平)与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为3.33，由于后述的理由，该片窗口宽度的值＝3.33的k1的值为能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的最大值，因此，通过后述的理由，在a/m1＝b/m2＝L的条件下的预定的系数k1＝1.5成为理论上的上限值。而且，对于求出预定的系数k的理论上限值的方法将在后面描述。
而且，如图20(f)所示的那样，当把预定的系数(1/k1)设定为比图20(d)更小的「0.625」(k1＝1.6)时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平成为低于低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平的状态，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为1.25，与图20(e)的情况相比，尽管预定的系数k1仅增加了0.1，该片窗口宽度的值＝1.25大大减少了，则两个凸区预置凹坑信号的检测大大恶化。
这样，如图20(e)所示的那样，预定的系数(1/k1)为「0.67」(k1＝1.5)的情况是k1的理论上限值，当设定为该理论上限值时，在预定的系数k1大于1.5的方向上就没有裕量，因此，从可靠性和安全性考虑，如图20(d)所示的那样，预定的系数k1为「1.2」～「1.4」(省略了部分图示)的情况为a/m1＝b/m2＝L的条件下的实用值。
其中，如图20(e)所示的那样，预定的系数k1在a/m1＝b/m2＝L的条件下取理论上限值时的条件，如上述那样，在由(式23)所得到的(1/k1)(C+D)信号中的凸区预置凹坑信号的振幅LB1和由(式24)所得到的(A+B)信号中的凸区预置凹坑信号的振幅LB2为相同值的情况下，得到预定的系数k1的理论上限值，由此，从(式23)＝(式24)，预定的系数k1为由以下(式25)所算出的值。
k1＝{m2-m1+L(m2-m1)}/{m2-m1+L(m1-m2)}
  ＝{(m2-m1)(1 +L)}/{(m2-m1)(1-L)}
  ＝(1+L)/(1-L)}             ……(式25)
而且，上述(式25)中的L，从运算上述(式21)所得到的标准化的LPPb信号＝L1/R1＝pL2/pR2＝qL2/qR2＝L2/R2的情况和图17所看到的那样，为等价的，因此，能够把上述L值置换为标准化的LPPb信号值，即，能够把(式25)置换为下述(式26)，由此，通过把来自LPPb生成电路14的输出结果提供给系数设定电路16，通过(式26)就能得到理论上限值的预定的系数k1。
k1＝(1+LPPb)/(1-LPPb)        ……(式26)
接着，在图21(a)～(e)的情况下，上述图19说明的a/m1＝b/m2＝L不成立，即，成为a/m1≠b/m2≠L的一般的情况。而且，图21(a)～(e)用与图20说明的大致相同的考虑方法，相对于预定的系数k1来求出用于同时确实地检测出高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的片窗口宽度。而且，其中求出的片窗口宽度的绝对值与在图20中求出的绝对值不同，但是，这是因为预定的系数k1以外的主要因素是不同的。
即，图21(a)是把预定的系数(1/k1)设定为「1.11」(k1＝0.9)的情况，但是，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都上升到0电平上方，并且，用于检测高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为4.00。该4.00这样的数值大大小于下述的片窗口宽度，而成为难以进行凸区预置凹坑信号的检测的较小的值。
而且，图21(b)是把预定的系数k1设定为「1.0」的情况，在此情况下，是得到从现有技术实现的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都为0电平(基准电平)。能够良好地检测在此省略了图示的摆动信号，而凸区预置凹坑信号的检测不够好。
即，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与0电平的电平差为8.00，虽然该片窗口宽度的值＝8.00较大，但如上述那样，当k1的值急剧变小时，存在片窗口宽度的值变小的问题。
而且，图21(c)是把预定的系数(1/k1)设定为「0.91」(k1＝1.1)的情况，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为7.64。该片窗口宽度的值＝7.64是可靠性良好并且能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的良好的值。
而且，图21(d)是把预定的系数(1/k1)设定为「0.83」(k＝1.2)的情况，在此情况下，在高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方的状态下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平都在0电平上方而相一致。并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为7.33，如下述那样，当k1的值超过1.2时，片窗口宽度急剧变小，因此，该片窗口宽度的值＝7.33的k1＝1.2为能够确实地检测两个凸区预置凹坑信号的最大值，因此，a/m1≠b/m2≠L的条件下的预定的系数k1＝1.2成为理论上限值。
而且，图21(e)是把预定的系数k1设定为「1.3」的情况，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平都在0电平上方，并且，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平成为低于低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平的状态，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为4.92，该片窗口宽度的值＝4.92小于图21(c)和图21(d)，两个凸区预置凹坑信号的检测恶化。
这样，如图21(d)所示的那样，预定的系数(1/k1)为「0.83」(k1＝1.2)的情况是理论上限值，当设定为该理论上限值时，在预定的系数k1大于1.2的方向上就没有裕量，因此，从可靠性和安全性考虑，如图21(c)所示的那样，预定的系数k1为「1.1」附近的情况为a/m1≠b/m2≠L的条件下的本例的实用值。
其中，如图21(d)所示的那样，预定的系数k1在a/m1≠b/m2≠L的条件下取理论上限值时的条件可以从上述(式25)和(式26)类推，则下述(式27)和(式28)成立：
1.0＜k1＜α×{(1+L)/(1-L)}          ……(式27)
1.0＜k1＜α×{(1+LPPb)/(1-LPPb)}    ……(式28)
此时，(式27)和(式28)中的系数α是由光拾取器2的性能以及根据该光拾取器2的记录功率以及在重放方式下的重放功率所决定的系数，取小于1.0的值，该系数α的值可以预先存储在存储器中。
下面，图22是假设径向推挽信号中的凸区预置凹坑信号为零而除去了凸区预置凹坑信号，仅着眼于径向推挽信号中的摆动信号的图，以0电平为边界的正极侧表示(1/k1)(C+D)信号的高功率照射部的摆动信号以及低功率照射部的摆动信号，另一方面，以0电平为边界的负极侧表示(A+B)信号的高功率照射部的摆动信号以及低功率照射部的摆动信号。
而且，(1/k1)(C+D)信号与图19说明的相同，改变相乘处理的预定的系数k来进行模拟，但是，为了图示的方便，仅对预定的系数k1＝1.0，k＝1.1，k＝1.2的情况进行说明。
而且，(1/k1)(C+D)信号是，当使低功率照射部的摆动信号的中心电平为「(1/k1)m1」，使高功率照射部的摆动信号的中心电平为「(1/k1)m2」，使从低功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「(1/k1)c」，使从高功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「(1/k1)d」，并且c/m1＝d/m2＝W时，作为从高功率照射部的摆动信号波形的顶点到低功率照射部的摆动信号波形的顶点的振幅的(1/k1)(C+D)信号的振幅WB1由以下(式29)算出：
WB1
＝(1/k1)m2-(1/k1)m1+(1/k1)d-(1/k1)c
＝(1/k1)(m2-m1+W×m2-W×m1)               ……(式29)
而且，与上述相同，-(A+B)信号是，当使低功率照射部的摆动信号的中心电平为「-m1」，使高功率照射部的摆动信号的中心电平为「-m2」，使从低功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「c」，使从高功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振隔为「d」，并且-c/-m1＝-d/-m2＝W时，作为从低功率照射部的摆动信号波形的顶点到高功率照射部的摆动信号波形的顶点的振幅的-(A+B)信号的振幅WB2由以下(式30)算出：
WB2＝m2-m1+c-d＝m2-m1+W×m1-W×m2     ……(式30)
上述(式29)和(式30)的关系将在后面描述。
下面，图23是：为了在两值化电路9内确实地对径向推挽信号{(1/k1)(C+D)-(A+B)}的凸区预置凹坑信号进行两值化处理，仅着眼于(1/k1)(C+D)信号和-(A+B)信号中的摆动信号，模拟该摆动信号随预定的系数k1怎样变化，由此，从高功率照射部的摆动信号的振幅和低功率照射部的摆动信号的振幅的关系来决定预定的系数k1的理论下限值。而且，在该图中，结合图22表示了预定的系数k1为「1.0」，「1.1」，「1.2」的情况。
首先，在图23(a)～(c)的情况下，是如上述图22说明的c/m1＝d/m2＝W成立时的特殊情况，其中，把W的值设定为例如0.05来进行模拟。
首先，图23(a)是把预定的系数k设定为「1.0」的情况，该情况是得到从现有技术完成的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。在该例中，高功率照射部的摆动信号和低功率照射部的摆动信号都在同一点上与WBL信号中心电平相交，并且，高功率照射部的摆动信号的振幅一方大于低功率照射部的摆动信号的振幅。该状态对应于前面说明的图20(b)，能够良好地检测摆动信号，但不能良好地进行凸区预置凹坑信号的检测。
而且，图23(b)是把预定的系数k1设定为「1.1」(1/k1＝0.91)的情况，在该例中，高功率照射部的摆动信号和低功率照射部的摆动信号在与WBL信号中心电平不同的点上相交，低功率照射部的摆动信号的波形的顶点和高功率照射部的摆动信号的波形的顶点处于中心电平上方而相一致，该状态为c/m1＝d/m2＝W条件下的预定的系数k1＝1.1是理论下限值的状态。而且，该状态与前面说明的图20(c)相对应，摆动信号的检测与图23(a)相比稍稍变差，但仍能够检测出凸区预置凹坑信号，因此，预定的系数k1＝1.1是理论下限值。
而且，图23(c)是把预定的系数k1设定为「1.2」(1/k1＝0.83)的情况，在该例中，在低功率照射部的摆动信号的波形的顶点的下方，没有高功率照射部的摆动信号的波形的顶点相交的位置。该状态与前面说明的图20(d)相对应，摆动信号的检测进一步变差，另一方面，凸区预置凹坑信号的检测是良好的，对此已经进行了说明。
在此，如图23(b)所示的那样，预定的系数k1在c/m1＝d/m2＝W条件下取理论下限值时的条件，如上述那样，在由(式29)所得到的(1/k1)(C+D)信号中的摆动信号的振幅WB1与由(式30)所示的-(A+B)信号中的摆动信号的振幅WB2为相同值的情况下，得到预定的系数k1的理论下限值，由此，从(式29)＝(式30)，预定的系数k1为由以下(式31)所算出的值。
k1＝{m2-m1+W(m2-m1)}/{m2-m1+W(m1-m2)}
  ＝{(m2-m1)(1+W)}/{(m2-m1)(1-W)}
  ＝(1+W)/(1-W)                 ……(式31)
而且，上述(式31)中的W，从运算上述(式22)所得到的标准化的WBLb信号＝W1/R1＝pW2/pR2＝qW2/qR2＝W2/R2的情况和图17所看到的那样，为等价的，因此，能够把上述W值置换为标准化的WBLb信号值，即，能够把(式31)置换为下述(式32)，由此，通过把来自WBLb生成电路15的输出结果提供给系数设定电路16，通过(式32)就能得到理论上限值的预定的系数k1。
k1＝(1+WBLb)/(1-WBLb)       ……(式32)
在此省略了图示的如图22说明的预定的系数k1，即使在c/m1＝d/m2＝W不成立即c/m1≠d/m2≠W的一般情况下，与图23(b)所示的大致相同，当低功率照射部的摆动信号的波形的顶点和高功率照射部的摆动信号的波形的顶点相一致时，该状态为c/m1≠d/m2≠W条件下的预定的系数k1的理论下限值。
在此情况下，与前面说明的(式27)和(式28)成对的(式33)和(式34)成立：
1.0＜k1＜β×{(1+W)/(1-W)}          ……(式33)
1.0＜k1＜β×{(1+WBLb)/(1-WBLb)}    ……(式34)
此时，(式33)和(式34)中的系数β是由光拾取器2的性能以及根据该光拾取器2的记录功率以及在重放方式下重放功率所决定的系数，取小于1.0的值，该系数β的值可以预先存储在存储器中。
当综合上述内容时，预定的系数k1，对于凸区预置凹坑信号，前面说明的(式25)、(式26)、(式27)、(式28)分别成立，而且，对于摆动信号，前面说明的(式31)、(式32)、(式33)、(式34)分别成立，可以用凸区预置凹坑信号和摆动信号来对它们进行组合。
这样，如果预定的系数k1处于理论上限值与理论下限值的范围内，就能精度高并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，由此，以下的(式35)～(式38)成立：
即，在a/m1＝b/m2＝L并且c/m1＝d/m2＝W的条件下，
(1+W)/(1-W)≤k1≤(1+L)/(1-L)    ……(式35)
(1+WBLb)/(1-WBLb)≤k1≤(1+LPPb)/(1-LPPb)
                                ……(式36)
另一方面，在a/m1≠b/m2≠L并且c/m1≠d/m2≠W的条件下，
β×{(1+W)/(1-W)}＜k1＜α×{(1+L)/(1-L)}
                                   ……(式37)
β×{(1+WBLb)/(1-WBLb)}＜k1＜α×{(1+LPPb)/(1-LPPb)}
                                   ……(式38)
更具体地说，虽然预定的系数k1被设定为现有的「1.0」，但是，在本发明中，①根据凸区预置凹坑信号的振幅，或者，根据凸区预置凹坑信号的振幅和摆动信号的振幅，使预定的系数k1的值大于1.0，并且，在能够检测出凸区预置凹坑信号的范围的值中进行反馈来设定，或者，②根据标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者，根据标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和标准化的摆动信号的振幅，使预定的系数k1的值大于1.0，并且，在能够检测出凸区预置凹坑信号的范围的值中进行反馈来设定，由此，能够高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，在盘状记录介质的记录时或者重放时，能够高精度地检测出与在凸区33中预先形成的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号。
而且，在该实施例的盘记录重放装置中，系数设定电路16，根据LPP信号、WBL信号、LPPb信号、WBLb信号、凸区预置凹坑信号的检测时的错误率、光拾取器2的物镜的移位量，来把在系数q相乘运算电路120中设定的预定系数(1/k1)的值设定在上述理论上限值与理论下限值之间的值上。更具体地说，把预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出凸区预置凹坑信号的范围内的值上。
由此，在记录时，不管DVD 31上的高功率照射部和低功率照射部，都能高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，而且，在重放时，不管DVD 31的记录凹坑形成部位和空区(未记录部位)，都能高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号。
第三实施例的构成
下面说明本发明的第三实施例的盘记录重放装置。该第三实施例是：与(C+D)相对应的乘数q＝1/SQRT(k2)(k2是下述所设定的系数)，与(A+B)相对应的乘数p＝-SQRT(k2)(SQRT(X)是X的平方根)。在上述第二实施例和该第三实施例中，由于仅这点不同，所以在以下仅说明该差异，而省略重复的说明。
为了减少字符数，而设置成：
SQRT(k2)＝k3                    ……(式39)
径向推挽信号为：
{(1/k3)(C+D)-k3(A+B)}           ……(式40)
以下，使用k2和k3来进行说明。
图24是这样的图：假设径向推挽信号中的摆动信号成分为零，而除去摆动信号成分，仅着眼于径向推挽信号中的凸区预置凹坑信号。以0电平为边界的正极侧表示(1/k3)(C+D)信号的高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号，另一方面以0电平为边界的负极侧表示{-k3(A+B)}信号的高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号。
而且，(1/k3)(C+D)信号、k3(A+B)信号是相对于使(式39)中的预定的系数k2在例如从0.96附近至1.6附近之间适当振荡而进行模拟的情况，分别表示低功率照射部的凸区预置凹坑信号和高功率照射部的凸区预置凹坑信号。
而且，(1/k3)(C+D)信号是，当设低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「(1/k3)m1」，设高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「(1/k3)m2」，设与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「(1/k3)a」，设与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「(1/k3)b」，并且a/m1＝b/m2＝L时，作为从高功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点到低功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点的振幅的(1/k3)(C+D)信号的振幅LB1由以下(式41)算出：
LB1＝(1/k3)m2-(1/k3)m1+(1/k3)b-(1/k3)a
   ＝(1/k3)m2-(1/k3)m1+(1/k3)L×m2-(1/k3)L×m1
                                ……(式41)
而且，与上述相同，-k3(A+B)信号是，当设低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「-k3m1」，设高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平为「-k3m2」，设与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「k3a」，设与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平相对的峰电平为「k3b」，并且-a/-m1＝-b/-m2＝L时，作为从低功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点到高功率照射部的凸区预置凹坑信号波形的顶点的振幅的-k3(A+B)信号的振幅LB2由以下(式42)算出：
LB2＝k3m2-k3m1+k3a-k3b＝k3m2-k3m1+k3L×m1-k3L×m2
                                       ……(式42)
对于上述(式41)与(式42)的关系将在后面描述。
下面，图25和图26是，为了在两值化电路9内确实地对径向推挽信号{(1/k3)(C+D)-k3(A+B)}中的凸区预置凹坑信号进行两值化处理，仅着眼于(1/k3)(C+D)信号和k3(A+B)信号中的凸区预置凹坑信号，该凸区预置凹坑信号的两值化片电平允许变动宽度(片窗口宽度)通过决定(式40)中预定系数k3的系数k2来模拟变化的情况，由此，根据预定的系数k2来求出能够同时确实地检测出高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号两者的片窗口宽度。此时，相对于凸区预置凹坑信号的两值化片电平在两值化电路9内被设定。
首先，在图25(a)～(f)的情况下，是上述图24中说明的a/m1＝b/m2＝L成立的特殊情况，其中，把L的值设定为例如0.2来进行模拟。
图25(b)是把预定的系数k2设定为「1.0」的情况，在此情况下，是得到由现有技术进行的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。在此例中，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都为相同的基准电平(以下称为0电平)，为了检测高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与0电平的电平差是4.0。能够良好地检测出在此省略了图示的摆动信号，象下述那样，存在即使k2的值稍稍变小，片窗口宽度的值急剧变小的问题。
而且，相对于上述图25(b)，如图25(a)所示的那样，当使预定的系数k2小于「1.0」，而设定为k2＝0.96(k3＝1.02)时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都上升到0电平上方，而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为2.37，该片窗口宽度的值＝2.37大大小于图25(b)的，则凸区预置凹坑信号的检测变得困难，同时，省略了图示的摆动信号与图25(b)的情况相比也变差。
另一方面，相对于上述图25(b)，如图25(c)所示的那样，当使预定的系数k2大于「1.0」，而设定为k2＝1.1(k3＝1.05)时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为4.00，该片窗口宽度的值＝4.00与图25(b)相同。
此时，省略了图示的摆动信号与图25(b)的情况相比也稍稍变差，与摆动信号的检测变差的情况相比，能够确实地检测凸区预置凹坑信号是更重要的，即使在以下图25(d)～图20(f)的情况下，摆动信号的检测也逐渐变差。
如图25(d)所示的那样，当使预定的系数k2大于图25(c)，而设定为k2＝1.2(k3＝1.1)时，具有与图25(c)相同的倾向，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为4.02，该片窗口宽度的值＝4.02是可靠性良好并且能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的良好的值。
如图25(e)所示的那样，当使预定的系数k2比图25(d)更大，而设定为k2＝1.5(k3＝1.22)时，在高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方的状态下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平都一致在0电平上。
而且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：0电平(＝高功率照射部和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平)与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为4.08，该片窗口宽度的值＝4.08为能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的最大值，因此，通过后述的理由，在a/m1＝b/m2＝L的条件下的预定的系数k2＝1.5成为理论上的上限值。而且，对于求出预定的系数k2的理论下限值的方法将在后面描述。
而且，如图25(f)所示的那样，当使预定的系数k2比图25(d)更大，而设定为k2＝1.6(k3＝1.26)1时，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平成为低于低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平的状态，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为1.58，与图25(e)的情况相比，尽管预定的系数k2仅增加了0.1，但该片窗口宽度的值＝1.58大大减少，则两个凸区预置凹坑信号的检测大大恶化。
这样，如图25(e)所示的那样，预定的系数k2为k2＝1.5的情况是理论上限值，当设定为该理论上限值时，在预定的系数k2大于1.5的方向上就没有裕量，因此，从可靠性和安全性考虑，如图25(d)所示的那样，预定的系数k2为「1.2」～「1.4」(省略了部分图示)的情况为a/m1＝b/m2＝L的条件下的实用值。
其中，如图25(e)所示的那样，预定的系数k3即预定的系数k2在a/m1＝b/m2＝L的条件下取理论上限值时的条件，如上述那样，在由(式41)所得到的(1/k3)(C+D)信号中的凸区预置凹坑信号的振幅LB1和由(式42)所得到的k3(A+B)信号中的凸区预置凹坑信号的振幅LB2为相同值的情况下，得到预定的系数k3的理论上限值，由此，从(式41)＝(式42)，预定的系数k3为由以下(式43)所算出的值(以下，符号∧表示平方运算)。
(k3)∧2
＝{m2-m1+L(m2-m1)}/{m2-m1+L(m1-m2)}
＝{(m2-m1)(1+L)}/{(m2-m1)(1-L)}
＝(1+L)/(1-L)}               ……(式43)
由于(k3)∧2＝k2
k2＝(1+L)/(1-L)}             ……(式44)
而且，上述(式44)中的L，从运算上述(式21)所得到的标准化的LPPb信号＝L1/R1＝pL2/pR2＝qL2/qR2＝L2/R2的情况和图17所看到的那样，为等价的，因此，能够把上述L值置换为标准化的LPPb信号，即，能够把(式44)置换为下述(式45)，由此，通过把来自LPPb生成电路14的输出结果提供给系数设定电路16，通过以下的(式45)就能得到理论上限值的预定的系数k2。
k2＝(1+LPPb)/(1-LPPb)               ……(式45)
接着，在图26(a)～(e)的情况下，上述图19说明的a/m1＝b/m2＝L不成立，即，成为a/m1≠b/m2≠L的一般的情况。而且，图26(a)～(e)用与图25说明的大致相同的考虑方法，相对于预定的系数k2来求出用于同时确实地检测出高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的片窗口宽度。而且，其中求出的片窗口宽度的绝对值与在图25中求出的绝对值不同，但是，这是因为预定的系数k2以外的主要因素是不同的。
即，图26(a)是把预定的系数设定为k2＝0.9(k3＝0.95)的情况，但是，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都上升到0电平上方，并且，用于检测高功率照射部的凸区预置凹坑信号和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为3.79。该3.79这样的数值大大小于下述的片窗口宽度，而成为难于进行凸区预置凹坑信号的检测的较小的值。
而且，图26(b)是把预定的系数k2设定为「1.0」的情况，在此情况下，是得到从现有技术实现的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都为0电平(基准电平)。能够良好地检测在此省略了图示的摆动信号，而凸区预置凹坑信号的检测不够好。即，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与0电平的电平差为8.0，该片窗口宽度的值＝8.0，但如下述那样，当变为小于k2＝1时，存在片窗口宽度的值急剧变小的问题。
图26(c)是把预定的系数k2设定为k2＝1.1(k3＝1.05)的情况，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为8.01。该片窗口宽度的值＝8.01是可靠性良好并且能够确实地检测出两个凸区预置凹坑信号的良好的值。
图26(d)是把预定的系数k2设定为k2＝1.2(k3＝1.1)的情况，在此情况下，在高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方的状态下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平都一致在0电平上方。并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度为：低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为8.03，如下述那样，当k2的值超过1.2时，由于片窗口宽度变小，则提供该片窗口宽度的值＝8.03的k2＝1.2为能够确实地检测两个凸区预置凹坑信号的最大值，因此，a/m1≠b/m2≠L的条件下的预定的系数k2＝1.2成为理论上限值。
图26(e)是把预定的系数k2设定为「1.3」的情况，在此情况下，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平和低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平都下降到0电平下方，并且，高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平成为低于低功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平的状态，并且，用于检测两个凸区预置凹坑信号的上述片窗口宽度是：高功率照射部的凸区预置凹坑信号的峰电平与低功率照射部的凸区预置凹坑信号的谷电平的电平差为5.61，该片窗口宽度的值＝5.61小于图26(c)和图26(d)，两个凸区预置凹坑信号的检测恶化。
这样，如图26(d)所示的那样，预定的系数k2＝1.2(k3＝1.1)的情况是理论上限值，当设定为该理论上限值时，在预定的系数k2大于1.2的方向上就没有裕量，因此，从可靠性和安全性考虑，如图26(c)所示的那样，预定的系数k2为「1.1」附近的情况为a/m1≠b/m2≠L的条件下的本例的实用值。
其中，如图26(d)所示的那样，预定的系数k2在a/m1≠b/m2≠L的条件下取理论上限值时的条件可以从上述(式44)和(式45)类推，则下述(式46)和(式47)成立：
1.0＜k2＜α×{(1+L)/(1-L)}          ……(式46)
1.0＜k2＜α×{(1+LPPb)/(1-LPPb)}    ……(式47)
此时，(式46)和(式47)中的系数α是由光拾取器2的性能以及根据该光拾取器2的记录功率以及在重放方式下的重放功率所决定的系数，取小于1.0的值，该系数α的值可以预先存储在存储器中。
下面，图27是假设径向推挽信号中的凸区预置凹坑信号为零而除去了凸区预置凹坑信号成分，仅着眼于径向推挽信号中的摆动信号的图，以0电平为边界的正极侧表示(1/k3)(C+D)信号的高功率照射部的摆动信号以及低功率照射部的摆动信号，另一方面，以0电平为边界的负极侧表示-k3(A+B)信号的高功率照射部的摆动信号以及低功率照射部的摆动信号。
而且，(1/k3)(C+D)信号与图19说明的相同，改变相乘处理的预定的系数(1/k3)来进行模拟，但是，为了图示的方便，仅对预定的系数k2＝1.0(k3＝1.0)，k＝1.1(k3＝1.05)，k＝1.2(k3＝1.1)的情况进行说明。
而且，(1/k3)(C+D)信号是，当设低功率照射部的摆动信号的中心电平为「(1/k3)m1」，设高功率照射部的摆动信号的中心电平为「(1/k3)m2」，设从低功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「(1/k3)c」，设从高功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「(1/k3)d」，并且c/m1＝d/m2＝W时，作为从高功率照射部的摆动信号波形的顶点到低功率照射部的摆动信号波形的顶点的振幅的(1/k3)(C+D)信号的振幅WB1由以下(式48)算出：
WB1
＝(1/k3)m2-(1/k3)m1+(1/k3)d-(1/k3)c
＝(1/k3)(m2-m1+W×m2-W×m1)          ……(式48)
而且，与上述相同，-k3(A+B)信号是，当使低功率照射部的摆动信号的中心电平为「-k3m1」，使高功率照射部的摆动信号的中心电平为「-k3m2」，使从低功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「k3c」，使从高功率照射部的摆动信号的中心电平向上侧的振幅为「k3d」，并且-c/-m1＝-d/-m2＝W时，作为从低功率照射部的摆动信号波形的顶点到高功率照射部的摆动信号波形的顶点的振幅的-k3(A+B)信号的振幅WB2由以下(式49)算出：
WB2＝k3m2-k3m1+k3c-k3d
   ＝k3(m2-m1+W×m1-W×m2)    ……(式49)
对上述(式48)和(式49)的关系将在后面描述。
下面，图28是：为了在两值化电路9内确实地对径向推挽信号{(1/k3)(C+D)-k3(A+B)}的凸区预置凹坑信号进行两值化处理，仅着眼于(1/k3)(C+D)信号和-k3(A+B)信号中的摆动信号，模拟该摆动信号随预定的系数k2怎样变化，由此，来从高功率照射部的摆动信号的振幅和低功率照射部的摆动信号的振幅的关系来决定预定的系数k3即k2的理论下限值。而且，在该图中，配合图27表示了预定的系数k2为「1.0」，「1.1」，「1.2」的情况。
首先，在图28(a)～(c)的情况下，是如上述图27说明的c/m1＝d/m2＝W成立时的特殊情况，其中，把W的值设定为例如0.05来进行模拟。
首先，图28(a)是把预定的系数k2设定为「1.0」的情况，该情况是得到从现有技术完成的径向推挽信号{(C+D)-(A+B)}的情况。在该例中，高功率照射部的摆动信号和低功率照射部的摆动信号都在同一点上与WBL信号中心电平相交，并且，高功率照射部的摆动信号的振幅一方大于低功率照射部的摆动信号的振幅。该状态对应于前面说明的图25(b)，能够良好地检测摆动信号，但不能良好地进行凸区预置凹坑信号的检测。
而且，图28(b)是把预定的系数k2设定为「1.1」(k3＝1.05)的情况，在该例中，高功率照射部的摆动信号和低功率照射部的摆动信号在不同的点上与WBL信号中心电平相交，低功率照射部的摆动信号的波形的顶点和高功率照射部的摆动信号的波形的顶点处于中心电平上方而相一致，该状态为c/m1＝d/m2＝W条件下的预定的系数k2＝1.1是理论下限值的状态。
而且，该状态与前面说明的图25(c)相对应，摆动信号的检测与图28(a)相比稍稍变差，总算能够检测出凸区预置凹坑信号，因此，预定的系数k2＝1.1是理论下限值。
而且，图28(c)是把预定的系数k2设定为「1.2」(k3＝1.1)的情况，在该例中，在低功率照射部的摆动信号的波形的顶点的下方，没有高功率照射部的摆动信号的波形的顶点相交的位置。该状态与前面说明的图25(d)相对应，摆动信号的检测进一步变差，另一方面，凸区预置凹坑信号的检测是良好的，对此已经进行了说明。
在此，如图28(b)所示的那样，预定的系数k2在c/m1＝d/m2＝W条件下取理论下限值时的条件，如上述那样，在由(式48)所得到的(1/k3)(C+D)信号中的摆动信号的振幅WB1与由(式49)所示的-k3(A+B)信号中的摆动信号的振幅WB2为相同值的情况下，得到预定的系数k2的理论下限值，由此，从(式48)＝(式49)，预定的系数k3即k2为由以下(式50)所算出的值。
k3∧2
＝{m2-m1+W(m2-m1)}/{m2-m1+W(m1-m2)}
＝{(m2-m1)(1+W)}/{(m2-m1)(1-W)}
＝(1+W)/(1-W)                  ……(式50)
从k3∧2＝k2
k2＝(1+W)/(1-W)                ……(式51)
而且，上述(式50)，(式51)中的W，从运算上述(式22)所得到的标准化的WBLb信号＝W1/R1＝pW2/pR2＝qW2/qR2＝W2/R2的情况和图17所看到的那样，为等价的，因此，能够把上述W值置换为标准化的WBLb信号，即，能够把(式51)置换为下述(式52)，由此，通过把来自WBLb生成电路15的输出结果提供给系数设定电路16，通过(式52)就能得到理论上限值的预定的系数k2。
k2＝(1+WBLb)/(1-WBLb)           ……(式52)
在此省略了图示的如图27说明的预定的系数k2，即使在c/m1＝d/m2＝W不成立即c/m1≠d/m2≠W的一般情况下，与图28(b)所示的大致相同，当低功率照射部的摆动信号的波形的顶点和高功率照射部的摆动信号的波形的顶点相一致时，该状态为c/m1≠d/m2≠W条件下的预定的系数k2的理论下限值。
在此情况下，与前面说明的(式46)和(式47)成对的(式53)和(式54)成立：
1.0＜k2＜β×{(1+W)/(1-W)}          ……(式53)
1.0＜k2＜β×{(1+WBLb)/(1-WBLb)}    ……(式54)
此时，(式53)和(式54)中的系数β是由光拾取器2的性能以及根据该光拾取器2的记录功率以及在重放方式下重放功率所决定的系数，取小于1.0的值，该系数β的值可以预先存储在存储器中。
当综合上述内容时，预定的系数k2，对于凸区预置凹坑信号，前面说明的(式44)、(式45)、(式46)、(式47)分别成立，而且，对于摆动信号，前面说明的(式51)、(式52)、(式53)、(式54)分别成立，可以用凸区预置凹坑信号和摆动信号来对它们进行组合。
这样，如果预定的系数k2处于理论上限值与理论下限值的范围内，就能高精度地并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，由此，以下的(式55)～(式58)成立：
即，在a/m1＝b/m2＝L并且c/m1＝d/m2＝W的条件下，
(1+W)/(1-W)≤k2≤(1+L)/(1-L)               ……(式55)
(1+WBLb)/(1-WBLb)≤k2≤(1+LPPb)/(1-LPPb)
                                           ……(式56)
另一方面，在a/m1≠b/m2≠L并且c/m1≠d/m2≠W的条件下，
β×{(1+W)/(1-W)}＜k2＜α×{(1+L)/(1-L)}
                                           ……(式57)
β×{(1+WBLb)/(1-WBLb)}＜k2＜α×{(1+LPPb)/(1-LPPb)}
                                         ……(式58)
更具体地说，虽然预定的系数k2被设定为现有的「1.0」，但是，在该实施例中，根据凸区预置凹坑信号的振幅，或者，凸区预置凹坑信号的振幅和摆动信号的振幅，使预定的系数k1的值大于1.0，并且，在能够检测出凸区预置凹坑信号的范围的值中进行反馈来设定，或者，根据标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者，标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和标准化的摆动信号的振幅，使预定的系数k2的值大于1.0，并且，在能够检测出凸区预置凹坑信号的范围的值中进行反馈来设定。
由此，能够高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，在盘状记录介质的记录时或者重放时，高精度地检测出与在凸区33中预先形成的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号。
而且，在该实施例的盘记录重放装置中，系数设定电路16，根据LPP信号、WBL信号、LPPb信号、WBLb信号、凸区预置凹坑信号的检测时的错误率、光拾取器2的物镜的移位量，来把在系数p相乘运算电路106中设定的预定的系数-k3＝-SQRT(k2)和在系数q相乘运算电路120中设定的预定的系数1/k3＝1/SQRT(k2)的值设定在上述理论上限值与理论下限值之间的值上。更具体地说，把预定的系数k2的值设定为大于1.0并且能够检测出凸区预置凹坑信号的范围内的值上。
由此，在记录时，不管DVD 31上的高功率照射部和低功率照射部，都能高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号，而且，在重放时，不管DVD 31的记录凹坑形成部位(未记录部位)，都能高精度并且确实地检测出凸区预置凹坑信号。
发明的效果
根据本发明上述1～16方面所涉及的记录和/或重放装置及方法，在对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息等作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质进行信息信号的记录和/或重放时，在沿着盘状记录介质的记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收把光束照射到该盘状记录介质上而返回的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数，同时，取出从另一方的感光输出减去对上述预定的系数进行相乘处理的结果的输出的差分作为径向推挽信号，在从该径向推挽信号检测与上述凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号的过程中，把上述预定的系数设定为现有的「1.0」，但是，在本发明中，根据
(1)凸区预置凹坑信号的振幅或凸区预置凹坑信号的振幅和摆动信号的振幅，或者
(2)标准化的凸区预置凹坑信号的振幅或标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和标准化的摆动信号的振幅，或者
(3)对凸区预置凹坑信号进行解码时的错误率，或者
(4)从光拾取器的物镜的光轴中心向径向的透镜移位量，或者
(5)根据与和信号的信号电平相对应的凸区预置凹坑信号和摆动信号的电平，把上述预定的系数的值设定为大于1.0并且能够检测出凸区预置凹坑信号的范围的值上，因此，在记录时，无论由光束在盘状记录介质上所产生的高功率照射部和低功率照射部，都能高精度确实地检测出凸区预置凹坑信号。而且，在重放时，不管盘状记录介质上的记录凹坑形成部位和未记录部位，都能高精度确实地检测出凸区预置凹坑信号。

Claims (16)

1.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
系数设定装置，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
2.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
和信号生成装置，取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；
标准化凸区预置凹坑信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
标准化摆动信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
系数设定装置，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0、并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
3.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
错误率运算装置，运算在上述径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号的检测时的错误率并输出；
系数设定装置，根据上述错误率，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
4.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
透镜移位量检测装置，检测从向上述盘状记录介质照射上述光束的光拾取器的物镜的光轴中心向径向的透镜移位量，并输出该透镜移位量；
系数设定装置，根据上述透镜移位量，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
5.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
系数设定步骤，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅或者上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
6.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测步骤，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
和信号生成步骤，取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；
标准化凸区预置凹坑信号振幅生成步骤，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
标准化摆动信号振幅生成步骤，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
系数设定步骤，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
7.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
错误率运算步骤，计算在上述径向推挽信号中包含的凸区预置凹坑信号的检测时的错误率并输出；
系数设定步骤，根据上述错误率，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
8.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘步骤，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数后输出；
推挽信号生成步骤，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
透镜移位量检测步骤，检测从向上述盘状记录介质照射上述光束的光拾取器的物镜的光轴中心向径向的透镜移位量，并输出该透镜移位量；
系数设定步骤，根据上述透镜移位量，把上述预定的系数设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
9.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数并输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
系数设定装置，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
10.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数并输出；
推挽信号生成装置，从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
和信号生成装置，取上述第一、第二二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；
标准化凸区预置凹坑信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
标准化摆动信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
系数设定装置，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
11.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
第一系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数并输出；
第二系数相乘装置，把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；
推挽信号生成装置，从由上述第一系数相乘装置进行相乘处理的结果的输出减去用上述第二系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
系数设定装置，根据上述凸区预置凹坑信号的振幅或者上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
12.一种记录和/或重放装置，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
第一系数相乘装置，当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数并输出；
第二系数相乘装置，把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；
推挽信号生成装置，从由上述第一系数相乘装置进行相乘处理的结果的输出减去用上述第二系数相乘装置进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
凸区预置凹坑信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
摆动信号振幅检测装置，从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
和信号生成装置，取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；
标准化凸区预置凹坑信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
标准化摆动信号振幅生成装置，通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
系数设定装置，根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
13.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括以下步骤：
当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数并输出；
把由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果的输出减去从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出的差分作为径向推挽信号而输出；
从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
根据上述凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
14.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括以下步骤：
当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k1的倒数并输出；
从上述第一、第二受光区域的各个感光输出中的另一方的感光输出减去由上述系数相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；
通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅或者上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k1的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
15.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟、和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括以下步骤：
当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数并输出；
把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；
从用上述预定系数k3分之一进行相乘处理的结果的输出减去用上述预定系数k3相乘步骤进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
根据上述凸区预置凹坑信号的振幅或者上述凸区预置凹坑信号的振幅和上述摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
16.一种记录和/或重放方法，对按螺旋状或者同心圆状交替形成以预定频率摆动并且成为信息信号的记录道的摆动沟和以预定的摆动周期间隔至少预先记录地址信息作为凸区预置凹坑的凸区的盘状记录介质，进行上述信息信号的记录和/或重放，其特征在于，包括：
当把光束照射到上述盘状记录介质上时，在沿着上述盘状记录介质的上述记录道至少二等分的第一、第二受光区域中接收来自该盘状记录介质的反射光，将该第一、第二受光区域的各个感光输出中一方的感光输出乘以预定的系数k3的倒数并输出；
把从上述第一、第二受光区域的各感光输出中的一方的感光输出与预定的系数k3进行相乘处理并输出；
从用上述预定系数k3分之一相乘的结果的输出减去用上述预定系数k3进行相乘处理的结果，把相减所得到的差分作为径向推挽信号而输出；
从上述径向推挽信号抽出与上述凸区的凸区预置凹坑相对应的凸区预置凹坑信号，检测该凸区预置凹坑信号的振幅并输出；
从上述径向推挽信号抽出上述摆动沟的摆动信号，检测该摆动信号的振幅并输出；
取上述第一、第二受光区域的各个感光输出的总和，输出和信号；通过用上述和信号对上述凸区预置凹坑信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的凸区预置凹坑信号的振幅；
通过用上述和信号对上述摆动信号的振幅进行除法运算处理，来输出标准化的摆动信号的振幅；
根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅，或者根据上述标准化的凸区预置凹坑信号的振幅和上述标准化的摆动信号的振幅，把上述预定的系数k3的值设定为大于1.0并且能够检测出上述凸区预置凹坑信号的范围内的值。
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