JP4295998B2 - トラッキングサーボ制御装置、及びトラッキングサーボ制御用プログラム - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、トラッキングサーボ制御装置、及びトラッキングサーボ制御用プログラムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
記録用光ディスクには、アドレス信号がＬＰＰ(ランドプリピット)としてランドトラック上にあらかじめ形成されているものがあるが、その中には特許文献１に開示されているように、グルーブの変形によりＬＰＰを形成した光ディスクや、特許文献２に開示されているように、隣接するグルーブを跨るＬＰＰを形成した光ディスクがある。
【特許文献１】
特開２００２−５６５４２
【特許文献２】
特開２０００−１９５０５８
このようなタイプの異なる光ディスクにおいて、ＬＰＰ付近において情報ピットが形成されたり、ＬＰＰ付近に記録された情報ピットが再生される場合がある。
【０００３】
また、再生信号として誤って読み出された情報ピットの光ディスク上の位置を検出する方法として、特許文献３に示されるＥＣＣブロックを用いて誤り検出訂正を行う技術が知られている。
【特許文献３】
特開２００２−２０２９１９
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来技術の場合、ＬＰＰが光ビームの照射領域内にある場合には、トラッキングオフセット値が一定であるために情報ピットを再生したときに正確な再生信号が得られない場合があった。
【０００５】
本発明が解決しようとする課題には、ＬＰＰとグルーブトラックを備えた光ディスクにおいて、正確な再生信号を得られるように、トラッキングオフセット値を設定するトラッキングサーボ制御装置、及びトラッキングサーボ制御用プログラムを提供することが一例としてあげられる。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために請求項１に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された光ディスク等の記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置において、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成するＣＰＵ等の第１生成手段と、前記光ビームの照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成するＣＰＵ等の第２生成手段と、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算するＣＰＵ等の演算手段とを備えることを特徴とする。
【０００７】
上記の課題を解決するために請求項６に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置において、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットと一の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段と、前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットの他の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段と、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
上記の課題を解決するために請求項１８に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置に含まれるコンピュータを、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段、前記光ビームの照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段、及び、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段、として機能させることを特徴とする。
【００１１】
上記の課題を解決するために請求項１９に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置に含まれるコンピュータを、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットと一の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段、前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットの他の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段として機能させることを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明による情報記録再生装置の実施形態について説明する。
（１）第１の実施形態
図１は、本実施形態の情報記録再生装置をブロック図で示したものである。
【００１３】
本実施形態の情報記録再生装置は、光ピックアップ２、ＲＦ増幅回路３、ＬＰＰ検出回路４、ゲート回路５、二値化回路６、イコライザー回路７、ＲＦ振幅測定回路８、ＣＰＵ９、トラッキングサーボ回路１０、アクチュエータドライブ回路１１から構成される。
【００１４】
光ディスク１に情報を記録する場合には、ＣＰＵ９からトラッキングサーボ回路１０にトラッキング制御信号Ｓａが送られ、トラッキングサーボ回路１０はトラッキング制御信号Ｓａに基づいてアクチュエータドライブ回路１１に信号を送り、アクチュエータドライブ回路１１は制御信号Ｓｃに基づき光ピックアップ２を駆動し、光ディスク１の所望の位置に光ピックアップ２を移動する。次に、ＣＰＵ９から光ピックアップ２へ情報信号Ｓｃが送られ、光ピックアップ２に送られた情報信号Ｓｃに基づいて光ディスク１に光ビーム１２が照射され、光ディスク１に情報ピットが形成される。
【００１５】
また、光ディスク１に形成された情報ピットを再生する場合には、ＣＰＵ９からトラッキングサーボ回路１０にトラッキング制御信号Ｓａが送られ、トラッキングサーボ回路１０はトラッキング制御信号Ｓａに基づいてアクチュエータドライブ回路１１に制御信号Ｓｂを送り、アクチュエータドライブ回路１１は制御信号Ｓｂに基づき光ピックアップ２を駆動し、光ディスク１の所望の位置に光ピックアップ２を移動する。光ピックアップ２から光ディスク１に光ビーム１２を照射すると情報ピットの有無に対応した反射光が発生する。その反射光は、光ピックアップ２において光から電気信号に変換され、変換された電気信号は再生信号ＳｄとしてＲＦ増幅回路３へ送られる。この再生信号ＳｄはＲＦ増幅回路３において増幅され、イコライザー回路７においてイコライジング処理が施され、ＲＦ信号Ｓｆとして出力される。このＲＦ信号Ｓｆは二値化回路６において二値化され、二値化信号ＳｅとしてＣＰＵ９に取り込まれる。取り込まれた二値化信号Ｓｅは、ＣＰＵ９において復調、エラー検出訂正が行われ、データとして生成される。
【００１６】
ＲＦ増幅回路３へ送られた再生信号Ｓｄは、ＬＰＰ検出回路４に送られ、ＬＰＰの有無を検出する。ＬＰＰが検出されると、ゲート回路５においてＬＰＰ付近の再生信号Ｓｄを測定するためのゲート信号が生成される。また、ＲＦ信号ＳｆはＲＦ振幅測定回路８へ送られ、ＲＦ振幅測定回路８は、ゲート回路５において生成されたゲート信号Ｓｇが発生している期間、ＲＦ信号Ｓｆの振幅を測定し、その結果をＣＰＵ９へ送る。
（ａ）測定原理
次に、第１実施形態における測定原理について説明する。
【００１７】
図２は、ＲＦ振幅測定回路８において振幅測定が行われるＲＦ信号波形の模式図である。図２のＲＦ信号波形は、３Ｔ（Ｔはクロック周期の最小単位時間を示し、３Ｔとは、グルーブトラックＧ１上に形成される情報ピットのうち最も長さの短い情報ピットを示す。）までの長さを持つ情報ピットを再生したときのＲＦ信号波形をあらわす。図３は、図２の各ＲＦ信号波形に対応した光ビーム照射領域、ＬＰＰ（特許文献１に示すＬＰＰ。）と３Ｔ情報ピットとの位置関係をあらわす図である。図２（ａ）の再生信号波形のうち、矢印で示した振幅を持つ波形は、図３（ａ）に示されるグルーブトラックＧ１上に記録された３Ｔの長さを持つ情報ピット（以下、３Ｔ情報ピットと称す。）Ｔ１からＴ３を、光ビーム照射領域Ｓ１がＡ点からＢ点に移動しつつ再生したときの再生信号波形を示す。図２（ｂ）の再生信号波形は、図３（ｂ）に示されるＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１がＡ点からＢ点に移動して再生したときの再生信号波形を示す。図２（ｃ）の再生信号波形は、図３（ｃ）に示されるＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１がＡ点からＢ点に移動して再生したときの再生信号波形を示す。
【００１８】
図３（ａ）は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピットの中心線３ＴＯがグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏより、図３（ａ）において左側に長さＲずれている状態を示す。すなわち、３Ｔ情報ピット列が左側に長さＲずれて記録された状態である。以下の説明では、Ｒ＝０．０８６μｍの場合について説明する。図３（ａ）の場合は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピットの中心線３ＴＯがグルーブトラックＧ１の中心点線Ｇ１Ｏより矢印で示すＬＰＰ形成方向とは逆の方向にずれているので、−０．０８６μｍと示す。この場合、ＬＰＰが形成されている位置に記録される情報ピットは、ＬＰＰ内側のランドのグルーブへのせり出し部分が等価的に大きくなるため、記録する情報ピットの削られる量が大きくなり、他の情報ピットよりも細い情報ピットが形成されてしまう。この状態において３Ｔ情報ピットの情報を再生する光ビーム照射領域Ｓ１の中心点ＯがグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏと一致しつつグルーブトラックＧ１上をＡからＢの方向に移動して再生する。この結果、光ビーム照射領域Ｓ１が、ＬＰＰが形成されている位置まで来ると、光ビーム照射領域Ｓ１からの反射光量変化が減少するため、反射光量に対応する図２（ａ）のＲＦ信号振幅のうちＴ２付近の振幅が減少する。この光ビーム照射領域Ｓ１の中心ＯがＬＰＰに最も近づいたときに、図２（ａ）のＲＦ信号の振幅が最も減少する。光ビーム照射領域Ｓ１がＡからＢに移動するとき、光ビーム照射領域Ｓ１からのＲＦ信号振幅はＬＰＰに近づくにつれて次第に減少し、ＬＰＰから遠ざかるにつれて次第に増加する。
【００１９】
図３（ｂ）は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピット光ビーム照射領域Ｓ１の中心Ｏと、３Ｔ情報ピットが形成されているグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏと、３Ｔ情報ピット中心線３ＴＯとが一致している場合を示す。この場合には、対応する図２（ｂ）のＲＦ信号の振幅には、ＬＰＰが存在することによる影響は現われない。これは、ＬＰＰに、３Ｔ情報ピットＴ２が形成される場合には、他の３Ｔ情報ピットＴ１、Ｔ３よりもＬＰＰ形成方向に広がる量と、内側のランドのせり出しによる情報ピットの削られる量が一致するからである。すなわち、ＬＰＰ形成方向の凸と逆側の凹とが相殺するように３Ｔ情報ピットＴ２が形成されるため、光ビーム照射領域Ｓ１と３Ｔ情報ピットＴ２とが重なり合う面積が他の３Ｔ情報ピットＴ１、Ｔ３と光ビーム照射領域Ｓ１とが重なり合う面積とほとんど変わらないからである。
【００２０】
図３（ｃ）は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピットの中心線３ＴＯが３Ｔ情報ピットの形成されているグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏより、図３（ａ）において右側に０．０８６μｍずれている状態を示す。図３（ａ）に示すＬＰＰ形成方向と同じ方向にずれているので、＋０．０８６μｍと示す。すなわち、３Ｔ情報ピット列が右側に長さ＋０．０８６μｍずれて記録された状態である。この場合、ＬＰＰが形成されている位置に記録される情報ピットは、ＬＰＰ内側のランドのグルーブへのせり出し部分が等価的に小さくなるため、記録する情報ピットの削られる量が少なくなる。その一方で、ＬＰＰ形成方向へは記録する情報ピットが膨らんでしまうため、他の情報ピットよりも太い情報ピットが形成されてしまう。この状態において、光ビーム照射領域Ｓ１の中心ＯがグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏ上をＡからＢの方向に移動して再生する。この結果、光ビーム照射領域Ｓ１が、ＬＰＰが形成されている位置まで来ると、光ビーム照射領域Ｓ１からの反射光量変化が増加するため、反射光量に対応する図２（ｃ）のＲＦ信号振幅のうちＴ２付近の振幅が増加する。この光ビーム照射領域Ｓ１の中心ＯがＬＰＰに最も近づいたときに、図２（ｃ）のＲＦ信号の振幅が最も増加する。光ビーム照射領域Ｓ１がＡからＢに移動するとき、光ビーム照射領域Ｓ１からのＲＦ信号振幅はＬＰＰに近づくにつれて次第に増加し、ＬＰＰから遠ざかるにつれて次第に減少する。
【００２１】
したがって、図３（ｂ）が最適記録状態であり、ＲＦ信号にＬＰＰによる影響は現われない。一方（ａ）と（ｃ）は、記録される情報ピットのＬＰＰ形成方向に広がる量と、内側のランドのせり出しによる削られる量のバランスがくずれた状態であり、ＲＦ信号振幅がその部分だけ異なるレベルとなって再生される。
【００２２】
図４はＲＦ変化量と特許文献３に示すＰＩ（インナーパリティ）エラーの個数の関係についての実験結果を示す図である。ＬＰＰを光ビーム１２が照射する領域に含まない情報ピットを再生したＲＦ信号の振幅値から、ＬＰＰを光ビーム１２が照射する領域に含む情報ピットを再生したＲＦ信号の振幅値を引いた値をＲＦ変化量としている。また、その時のＬＰＰを光ビーム１２が照射する領域に含む情報ピットを再生したＲＦ信号を、二値化回路６において二値化し、ＣＰＵ９において復調し、エラー検出訂正（ＥＣＣ）を行うことによって判明したエラーの個数のうちＰＩ（インナーパリティ）に発生したエラー数をＰＩエラー数としている。
【００２３】
図２（ａ）のＲＦ変化量は、０．８ｄｉｖｉｓｉｏｎ（１ｄｉｖｉｓｏｎは図２（ａ）の１目盛りに相当する。以下ｄｉｖ．と略す。）になり、その時のＰＩエラー数は実験によると６１９個である。図２（ｂ）のＲＦ変化量は、０．０（ｄｉｖ）になり、その時のＰＩエラー数は１５個である。図２（ｃ）のＲＦ変化量は、−０．４（ｄｉｖ）になり、その時のＰＩエラー数は９２８個である。図４には、図２に図示していない、ＲＦ変化量が０．２（ｄｉｖ）の時のＰＩエラー数１８個と、ＲＦ変化量が−０．３（ｄｉｖ）の時のＰＩエラー数１８１個との場合のポイントがさらに表示されている。図４から、ＲＦ変化量が０近辺においてＰＩエラー数が最も小さいことが分かる。
【００２４】
以上の測定原理から、ＣＰＵ９によってトラッキングオフセット値を変化させつつ形成した３Ｔ情報ピットを再生したときのＲＦ変化量を測定し、ＲＦ変化量が０になるトラッキングオフセット値を設定することによって、データエラー数の発生が最も少なくなるように記録するトラッキングオフセット値を決定することが可能になる。
（ｂ）実施形態
以下、図１の構成による図５のフローチャートに基づいて第１実施形態の動作を説明する。
【００２５】
図５に最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す。
【００２６】
ステップＳ１において、最適トラッキングオフセット値検出を開始する。
【００２７】
ステップＳ２において、情報記録再生装置の光ピックアップ２を光ディスク１上にあるパワーキャリブレーション領域に移動する。パワーキャリブレーション領域とは、光ディスク１の内周側に位置する光ピックアップ２から照射される光ビーム１２の強度を調整する領域である。
【００２８】
ステップＳ３では、情報記録再生装置は、パワーキャリブレーション領域において光ピックアップ２から放出される光ビーム１２の強度を変化させながら光ディスク１に情報ピットの形成を行い、その情報ピットの再生を行うことで、最適な情報ピットを形成するための光ビーム１２の強度を探し出して決定する。
【００２９】
ステップＳ４では、光ピックアップ２を所望の場所、たとえば未記録領域に移動し、Ｓ３で決定した最適パワーを用いて３Ｔ情報ピットを形成、再生する。
【００３０】
ステップＳ５では、ステップＳ４において形成した情報ピットを再生したときの再生信号のうち、ＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含まない３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅とＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含む３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅とをＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含まない３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅とＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含む３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅の振幅差であるＲＦ変化量をＣＰＵ９で演算する。ＣＰＵ９内にあるメモリに演算結果を記憶する。
【００３１】
ステップＳ６では、今回測定したＲＦ変化量が前回測定したＲＦ変化量より大きいときを正のときとし、ステップＳ７に進み、今回測定したＲＦ変化量が前回測定したＲＦ変化量より小さいときを負のときとし、ステップＳ８に進む。
【００３２】
ステップＳ７では、現在のトラッキングオフセット値から予め決められた値を減算する（減算すると、図３（ａ）において光ビーム照射領域Ｓ１の中心点ＯがグルーブトラックＧ１の中心点ＧＯより左側に移動する。）。減算する値は、グルーブトラック間の距離より小さい任意の値にすることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍを使用する。ステップＳ３で決定した最適パワーを用いて情報を記録する。その後、ステップＳ５に進む。
【００３３】
ステップＳ８では、ステップＳ６で述べたＲＦ変化量が負のときには、ステップＳ９に進み、ＲＦ変化量が正のときには、ステップＳ１０に進む。
【００３４】
ステップＳ９では、現在のトラッキングオフセット値に予め決められた値を加算する。（加算すると、図３（ａ）において光ビーム照射領域Ｓ１の中心点ＯがグルーブトラックＧ１の中心点ＧＯより右側に移動する。）加算する値は、グルーブトラック間の距離より小さい任意の値にすることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍを使用する。現在のトラッキングオフセット値に０．１μｍを加算しステップＳ３で決定した最適パワー値を用いて情報信号を記録する。その後、ステップＳ５に進む。
【００３５】
ステップＳ１０では、ＲＦ変化量が０になったときのトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００３６】
ステップＳ１１では、ステップＳ１０で決定した最適トラッキングオフセット値を用いて、光ディスク１に記録すべき情報の記録を開始する。
【００３７】
ステップＳ１２では、光ディスク１に記録すべきデータが無くなった場合に、最適記録を終了する。
【００３８】
図５の場合は、ステップＳ６、Ｓ８においてＲＦ変化量を確認しながらトラッキングオフセット値を変化させて、情報を記録、再生をした。
（ｃ）第１の実施形態の変形例
第１の実施形態の変形例として図６に、あらかじめ定められた範囲のトラッキングオフセット値を用いて情報ピットを連続形成し、連続形成された情報ピットを連続再生して最適トラッキングオフセット値を決定するフローチャートについて説明する。
【００３９】
図６に最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す。
【００４０】
ステップＳ１４において、情報記録再生装置の光ピックアップ２を光ディスク１上にあるパワーキャリブレーション領域に移動する。パワーキャリブレーション領域とは、光ディスクの内周側に位置する光ピックアップ２から照射される光ビーム１２の強度を調整する領域である。
【００４１】
ステップＳ１５では、情報記録再生装置は、パワーキャリブレーション領域において光ピックアップ２から放出される光ビーム１２の強度を変化させながら光ディスク１に情報ピットの形成を行い、その情報ピットの再生を行うことで、最適な情報ピットを形成するための光ビーム１２の強度を探し出して決定する。
【００４２】
ステップＳ１６では、光ピックアップ２を所望の場所（例えば、光ディスク１上の未記録領域）に移動し、ステップＳ１５で決定した最適パワーを用いてトラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ１７段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。その後、形成された情報ピットを再生する。
【００４３】
ステップＳ１７では、ステップＳ１６において情報ピットを再生したときの再生信号のうち、各トラッキングオフセット値に対して、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅とＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅をＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅とＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅差であるＲＦ変化量をＣＰＵ９で演算する。そして、各トラッキングオフセット値に対するＲＦ変化量をＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００４４】
ステップＳ１８では、ＣＰＵ９のメモリに記録されているステップＳ１７で求めたＲＦ変化量のうち、最も小さい値を比較演算することにより求める。その結果、もっとも小さいＲＦ変化量となったトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００４５】
ステップＳ１９にて最適パワー値および最適トラッキングオフセット値を使用して記録すべきデータを記録する。
【００４６】
ステップＳ２０にて、記録すべきデータがなくなったら記録を終了する。
【００４７】
以上述べてきたように、アドレス信号がＬＰＰとしてランドにあらかじめ刻み込まれている記録ディスクにおいて、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号の振幅と、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない再生信号の振幅との差がより少なくなるように、トラッキングオフセットを変更することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生をより少なくすることが可能になった。
【００４８】
また、連続したセクタのセクタ毎にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成し、その後形成された情報ピットを再生した再生信号のＲＦ変化量の最も少ないセクタのオフセット値を、最適トラッキングオフセット値とすることにより、高速に最適トラッキングオフセット値を検索することができる。
【００４９】
また、この実施形態によれば、光ピックアップ２を含む光学系のトラッキングバランスがずれているような場合にも、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
（２）第２の実施形態
図３で説明した特許文献１に示したＬＰＰとは異なるタイプである特許文献２に示したＬＰＰの場合における、トラッキングオフセット値を最適化する第２の実施形態について説明する。最初に測定原理について説明する。
（ａ）測定原理
本実施形態の情報記録再生装置の構成は図１に示したものと同様であるので細部の説明は省略する。
【００５０】
図７に、図３で説明したＬＰＰとは別タイプの特許文献２に示すＬＰＰと光ビーム照射領域との位置関係を示す。光ピックアップ２から照射された光ビーム１２が収束されて、グルーブトラックＧ２上に形成された情報ピットに照射される。照射された光の反射光が再生信号であるＲＦ信号波形として計測される。図７では、図７においてグルーブトラックＧ２の左側にＬＰＰがある。（このＬＰＰのことを以下内側ＬＰＰと称する。）この図７において、光ビーム１２をグルーブトラックＧ２の左側から右側に移動するようにトラッキングオフセット値を変化させて、情報ピットの形成、再生を行ったときのＲＦ信号波形を図８に示す。
【００５１】
図８は、トラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す。
【００５２】
図８（ａ）は、図７における光ビーム照射領域Ｓ１の中心点Ｏが３Ｔ情報ピットの形成されているグルーブトラックＧ１の中心ＧＯより、左側に長さＲずれている状態を示す。Ｒは予め定められた量で、たとえば０．０８６μｍの場合について説明する。Ｒの値はグルーブトラック間距離の範囲内で任意に選ぶことができる。図８（ａ）は、トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍ（図３において外側ＬＰＰ形成方向を正、その反対方向を負としている。）を加えたときに内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合の３Ｔ情報ピットＴ４を再生したのＲＦ信号波形を示す。これは、図７において光ビーム１２がグルーブトラックＧ２に対して左方向に０．０８６μｍ移動して情報ピットを形成、再生したことを示す。内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅Ｔ４が内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅Ｔ５よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝３ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが４９０個発生している。
【００５３】
図８（ｂ）は、トラッキングオフセット値として０μｍを加えたとき、すなわちトラッキングオフセットを加えないときの内側ＬＰＰ近傍のＲＦ信号波形を示す。内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅は、内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅と同程度で内側ＬＰＰの影響を殆ど受けていないことがわかる（３ＴＲＦ振幅＝２．４ｄｉｖ．）。そのため、ＰＩエラーの発生数が１２２個になっておりエラー数が少ない。
【００５４】
図８（ｃ）は、トラッキングオフセット値として＋０．０８６μｍを加えたときの、内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む場合と含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号波形を示す。図７において光ビーム１２がグルーブトラックＧ２に対して右方向に移動して記録再生したことをあらわす。内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅が内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝２．２ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが６３９個発生している。
【００５５】
図９に、光ビーム１２の照射範囲Ｓ１がＬＰＰＴ５の左側に位置する状態を示す。図９では、３Ｔ情報ピットＴ５の右側にＬＰＰがある。（このＬＰＰのことを以下、外側ＬＰＰと称する。）
【００５６】
この図９において、光ビーム１２をグルーブトラックＧ２の左側から右側に移動するようにトラッキングオフセット値を変化させて、情報ピットの形成、再生を行ったときのＲＦ信号波形を図１０（ａ）乃至（ｃ）に示す。
【００５７】
図１０（ａ）乃至（ｃ）はトラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す図である。
【００５８】
図１０（ａ）は、図９における光ビーム照射領域Ｓ１の中心点Ｏが３Ｔ情報ピットの形成されているグルーブトラックＧ２の中心ＧＯ２より、左側に長さＲずれている状態を示す。Ｒは予め定められた量で、たとえば０．０８６μｍの場合について説明する。Ｒの値はグルーブトラック間距離の範囲内で任意に選ぶことができる。図１０（ａ）は、トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍ（図９において外側ＬＰＰ形成方向を正、その反対方向を負としている。）を加えたときに内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合の３Ｔ情報ピットＴ５を再生したのＲＦ信号波形を示す。外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域Ｓ１に含む情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅が、外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域に含まない情報ピットを再生した３ＴＲＦ振幅よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝２．２ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが４９０個発生している。
【００５９】
図１０（ｂ）は、トラッキングオフセット値として０μｍを加えたとき、すなわちトラッキングオフセットを加えないときの外側ＬＰＰ近傍のＲＦ信号波形を示す。外側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む３ＴＲＦ信号振幅は外側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない３ＴＲＦ振幅と同程度で再生信号にはＬＰＰの影響が殆どない（３ＴＲＦ振幅＝２．４ｄｉｖ．）。そのため、ＰＩエラーの発生数が１２２個になっておりエラー数が少ない。
【００６０】
図１０（ｃ）は、トラッキングオフセット値として＋０．０８６μｍを加えたときの外側ＬＰＰ近傍のＲＦ信号波形を示す。図９において光ビーム１２がグルーブトラックＧ２に対して右方向に０．０８６μｍ移動した後に記録再生する。外側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む３ＴＲＦ信号振幅が外側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない３ＴＲＦ振幅よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝３．０ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが６３９個発生している。
【００６１】
図１１に、ＲＦ変化量とＰＩエラーの個数との関係を示した図を示す。ここに示すＲＦ変化量とは、図８と図１０に示すＲＦ信号波形のうち同じトラッキングオフセット値における、図８に示した内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅から図１０に示した外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅の値を引いた値である。トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍを加えたときの図８（ａ）の内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅は、３ｄｉｖである。トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍを加えたときの図１０（ａ）の外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅は、２．２ｄｉｖである。したがって、ＲＦ変化量は３ｄｉｖから２．２ｄｉｖを引いた０．８ｄｉｖである。このときの、図８（ａ）におけるＰＩエラー数と図１０（ａ）におけるＰＩエラー数との和は４９０個である。図１１におけるａ点がＲＦ変化量０．８ｄｉｖに対するＰＩエラー４９０個を示す。同様に、点ｂは図８（ｂ）の内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅２．４ｄｉｖから図１０（ｂ）の外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅２．４ｄｉｖを引いたＲＦ変化量０のときにＰＩエラー数の和が１２２個であることを示す。点ｃは図８（ｃ）の内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅２．２ｄｉｖから図１０（ｃ）の外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅３．０ｄｉｖを引いたＲＦ変化量−０．８ｄｉｖのときにＰＩエラー数の和が６３９個であることを示す。図８および図１０に図示していないが、この他に、トラッキングオフセット値が−０．０４μｍであるときのＲＦ変化量０．５ｄｉｖに対するＰＩエラー数の和が１８０個である点ｄ、およびトラッキングオフセット値が＋０．０４μｍであるときのＲＦ変化量−０．５ｄｉｖに対するＰＩエラー数の和が２７８個である点ｅを示す。
【００６２】
図１１からわかるように、ＲＦ変化量０近辺においてＰＩエラーの総数が最も小さくなる。したがって、トラッキングオフセット値を０に設定することで、情報ピットを読出したときのエラー数は最も少なくなる。
【００６３】
以上の測定原理から、ＬＰＰがグルーブトラックの両側にあることを考慮して、ＬＰＰが光ビーム照射領域のグルーブトラックの左側にある場合と、ＬＰＰが光ビーム照射領域のグルーブトラックの右側にある場合とで、ＲＦ変化量が最小になるトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値とすることによって最適トラッキング値を求められる。
（ｂ）実施形態
以下、図１の構成による図１２のフローチャートに基づいて第２実施形態を説明する。
【００６４】
図１２にトラッキングオフセット値検出フローチャートを示す。
【００６５】
ステップＳ８０において、情報記録再生装置の光ピックアップ２を光ディスク１上にあるパワーキャリブレーション領域に移動する。パワーキャリブレーション領域とは、光ディスクの内周側に位置する光ピックアップ２から照射される光ビーム１２の強度を調整する領域である。
【００６６】
ステップＳ８１では、情報記録再生装置は、パワーキャリブレーション領域において光ピックアップ２から放出される光ビーム１２の強度を変化させながら光ディスク１に情報ピットの形成を行い、その情報ピットの再生を行うことで、最適な情報ピットを形成するための光ビーム１２の強度を探し出して決定する。
【００６７】
ステップＳ８２では、光ピックアップ２を所望の場所（例えば、光ディスク１上の未記録領域）に移動し、ステップＳ１５で決定した最適パワーを用いてトラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．１μｍずつ１７段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。その後、形成された情報ピットを再生する。
【００６８】
ステップＳ８３では、ステップＳ８２において情報ピットを再生したときの再生信号のうち、各トラッキングオフセット値に対して、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅をＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅差であるＲＦ変化量ＲＦＩをＣＰＵ９で演算する。そして、各トラッキングオフセット値に対するＲＦ変化量ＲＦＩをパラメータＲＦＩとしてＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００６９】
ステップＳ８４では、ステップＳ８２において情報ピットを再生したときの再生信号のうち、各トラッキングオフセット値に対して、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅をＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅差であるＲＦ変化量ＲＦＯをＣＰＵ９で演算する。そして、各トラッキングオフセット値に対するＲＦ変化量ＲＦＯをパラメータＲＦＯとしてＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００７０】
ステップＳ８５では、各トラッキングオフセット値に対して、パラメータＲＦＯからパラメータＲＦＩを減算し、減算結果の絶対値であるＲＦ変化量ＲＦをパラメータＲＦとしてＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００７１】
ステップＳ８６では、ＣＰＵ９のメモリに記録されているステップＳ８５で求めたパラメータＲＦのうち、最も小さい値を比較演算することにより求める。その結果、もっとも小さいＲＦ変化量となったパラメータＲＦに対応するトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００７２】
ステップＳ８７にて最適パワー値および最適トラッキングオフセット値を使用して記録すべきデータを記録する。
【００７３】
ステップＳ８８にて、記録すべきデータがなくなったら記録を終了する。
【００７４】
以上述べてきたように、アドレス信号がＬＰＰとしてランドにあらかじめ刻み込まれている記録ディスクにおいて、光ビーム１２の照射領域内に異なる方向からＬＰＰが含まれる場合にも、ＲＦ変化量が最小になるように、トラッキングオフセットを変更することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
【００７５】
また、この実施形態によれば、光ピックアップ２を含む光学系のトラッキングバランスがずれているような場合にも、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
（３）第３の実施形態
図１３に第３実施形態の情報記録再生装置の構成を示す。図１と共通する部分の細部説明は省略する。
【００７６】
ＬＰＰ検出回路４は外側ＬＰＰ検出回路４１と内側ＬＰＰ検出回路４２から構成される。外側ＬＰＰ検出回路４１は、トラッキングエラー信号であるプッシュプル信号Ｓｈからグルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク外周側に存在するＬＰＰを検出する回路であり、内側ＬＰＰ検出回路４２は、グルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク内周側に存在するＬＰＰを検出する回路である。
【００７７】
ＲＦ振幅測定回路８は、ピークホールド回路８１、ボトムホールド回路８２と、Ａ／Ｄ変換回路８２および８４から構成される。
【００７８】
ピークホールド回路８１は光ディスク１から読み出されたＲＦ信号Ｓｆの信号波形のピーク部分をホールドする回路である。ホールドされた値はＡ／Ｄ変換回路８２でデジタル信号に変換された後に、ＣＰＵ９に入力される。ボトムホールド回路８３は光ディスク１から読み出されたＲＦ信号Ｓｆの信号波形のボトム部分をホールドする回路である。ホールドされた値はＡ／Ｄ変換回路８４でデジタル信号に変換された後に、ＣＰＵ９に入力される。
【００７９】
ＬＰＰ検出回路４で光ディスク１上の光ビーム照射領域のＬＰＰを検出して、ＣＰＵ９はＬＰＰ検出タイミング前後の再生信号波形のピーク値およびボトム値をＡ／Ｄ変換回路８２および８４のデジタル信号出力から計算する。
【００８０】
図１４に第３の実施形態に係る最適トラッキングオフセット値検出フローを示す。
【００８１】
ステップＳ６４において、最適トラッキングオフセット値の検出を開始する。
【００８２】
ステップＳ６５において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域へ移動させる。
【００８３】
ステップＳ６６において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域に移動して、光ピックアップ２から照射する光ビーム１２の強度の最適値を決定する。セクタ番号Ｓに１を設定する。
【００８４】
ステップＳ６７では、光ピックアップ２を所望の場所（例えば、光ディスク１上の未記録領域）に移動し、ステップＳ６５で決定した最適パワーを用いてトラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで１６段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。その後、形成された情報ピットを再生する。このとき１トラッキングオフセット値につき、どの程度の距離に渡って情報ピットを形成するかは任意であるが、ここではたとえば１セクタに渡って情報ピットを形成する。すなわち、−０．０８μｍから＋０．０７μｍの１６トラッキングオフセットステップに対して、１６セクタが使用される。この場合、形成する情報ピットパターンは任意のピットパターンとすることができるが、ここでは一例として最も情報ピットパターン間距離の小さい３Ｔ連続パターンを使用して情報ピットを形成する。
【００８５】
ステップＳ６８において、ステップＳ６７の同一トラッキングオフセット値で記録された１セクタ内の３Ｔ情報ピットの連続パターンを再生する。
【００８６】
ステップＳ６９において、ステップＳ６８で再生した信号の中から、ゲート回路５からのゲート信号Ｓｇ１に対応した期間における、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まないＲＦ信号Ｓｆのピーク値Ｐ１をピークホールド回路８１で検出する。その検出値はＡ／Ｄ変換回路８２においてデジタル信号に変換された後に、パラメータＰ１としてＣＰＵ９内のメモリに記憶される。また、ゲート回路５からのゲート信号Ｓｇ２に対応した期間における、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まないＲＦ信号Ｓｆのボトム値Ｂ１をボトムホールド回路８３で検出する。その検出値はＡ／Ｄ変換回路８４においてデジタル信号に変換された後に、パラメータＢ１としてＣＰＵ９内のメモリに記憶される。
【００８７】
ステップＳ７０において、ステップＳ６８で再生した信号の中から、ステップＳ６９での動作と同様に内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含むＲＦ信号Ｓｆのピーク値とボトム値を検出し、ＣＰＵ９内のメモリにピーク値をパラメータＰ２Ｉとして記憶し、ボトム値をパラメータＢ２Ｉとして記憶する。
【００８８】
内側ＬＰＰに対する、プッシュプル信号Ｓｈ、ＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ２、ピーク値Ｐ２Ｉおよびボトム値Ｂ２Ｉとの関係を図１６に示す。図１６中の上側エンベロープ信号Ｐ１とはＲＦ信号Ｓｆの上端の包絡線を意味し、下側エンベロープ信号Ｂ１とはＲＦ信号Ｓｆの下端の包絡線を意味する。なお、エンベロープ信号は、トランジスタやコンデンサを組み合わせた回路で生成できる。内側ＬＰＰが存在するタイミングでプッシュプル信号Ｓｈは上に凸の形状となり、その内側ＬＰＰを二値化してゲート信号ＳＧ２が生成される。内側ＬＰＰによって発生したゲート信号Ｓｇ２のＳｇ２ｓからＳｇ２ｅまでの期間中のＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号Ｐ１および下側エンベロープ信号Ｂ１のそれぞれの上側ピーク値がダイオードやコンデンサ等により構成されたピークホールド回路８１およびボトムホールド回路８３で保持される。ピークホールド回路８１では、ＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号のピーク値Ｐ２Ｉが保持される。そして、ピーク値Ｐ２ＩがパラメータＰ２Ｉとして記憶される。また、ボトムホールド回路８３では、ＲＦ信号Ｓｆの下側エンベロープ信号のボトム値Ｂ２Ｉが保持される。そして、ボトム値Ｂ２ＩがパラメータＢ２Ｉとして記憶される。
【００８９】
ステップＳ７１において、ステップＳ６８で再生した信号の中から、ステップＳ６９での動作と同様に外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含むＲＦ信号Ｓｆのピーク値とボトム値を検出し、ＣＰＵ９内のメモリにピーク値をパラメータＰ２Ｏとして記憶し、ボトム値をパラメータＢ２Ｏとして記憶する。
【００９０】
外側ＬＰＰに対する、プッシュプル信号Ｓｈ、ＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ１、ピーク値Ｐ２Ｏおよびボトム値Ｂ２Ｏとの関係を図１５に示す。図１５中の上側エンベロープ信号Ｐ１とはＲＦ信号Ｓｆの上端の包絡線を意味し、下側エンベロープ信号Ｂ１とはＲＦ信号Ｓｆの下端の包絡線を意味する。外側ＬＰＰが存在するタイミングでプッシュプル信号Ｓｈは下に凸の形状となり、その外側ＬＰＰを二値化してゲート信号ＳＧ１が生成される。外側ＬＰＰによって発生したゲート信号Ｓｇ１のＳｇ１ｓからＳｇ１ｅまでの期間中のＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号Ｐ１および下側エンベロープ信号Ｂ１のそれぞれの下側ピーク値がダイオードやコンデンサ等により構成されたピークホールド回路８１およびボトムホールド回路８３で保持される。ピークホールド回路８１では、ＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号のピーク値Ｐ２Ｏが保持される。そして、ピーク値Ｐ２ＯがパラメータＰ２Ｏとして記憶される。また、ボトムホールド回路８３では、ＲＦ信号Ｓｆの下側エンベロープ信号のボトム値Ｂ２Ｏが保持される。そして、ボトム値Ｂ２ＯがパラメータＢ２Ｏとして記憶される。
【００９１】
ステップＳ７２において、ピーク値変化量ΔＰとして｜Ｐ１−Ｐ２Ｉ｜＋｜Ｐ１−Ｐ２Ｏ｜）をＣＰＵ９において演算し、ＣＰＵ９内のメモリにパラメータΔＰとして記憶する。
【００９２】
ステップＳ７３において、ボトム値変化量ΔＢとして｜Ｂ１−Ｂ２Ｉ｜＋｜Ｂ１−Ｂ２Ｏ｜）をＣＰＵ９において演算し、ＣＰＵ９内のメモリにパラメータΔＢとして記憶する。
【００９３】
ステップＳ７４において、エンベロープ変化量ΔＥとしてΔＰ＋ΔＢをＣＰＵ９において演算し、ＣＰＵ９内のメモリにパラメータΔＥとして記憶する。
【００９４】
ステップＳ７５において、セクタ番号Ｓを一つ増加させて、再生位置が１８番目のセクタになる場合（セクタ番号Ｓが１７の場合）にはステップＳ７６に進み、再生位置が２乃至１６セクタ番目の場合にはステップ６８に進む。
【００９５】
ステップＳ７６において、ステップＳ７４にて演算した１６セクタのΔＥから、ＣＰＵ９において最も小さいパラメータΔＥを比較演算して求め、そのパラメータΔＥに対応するトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００９６】
ステップＳ７７において、記録されるべきデータをステップＳ７６で決めた最適トラッキングオフセット値によって光ディスク１に記録される。
【００９７】
ステップＳ７８において、記録されるべきデータがなくなったら終了する。
【００９８】
以上述べてきたように、アドレス信号がＬＰＰとしてランドにあらかじめ刻み込まれている記録ディスクにおいて、光ビーム１２の照射領域内に異なる方向からＬＰＰが含まれる場合にも、ＬＰＰを光ビーム照射領域内の一の方向に含む再生信号の振幅と、ＬＰＰを光ビーム照射領域内の他の方向に含む再生信号の振幅の変動が最も少なくなるように、トラッキングオフセットを変更することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
【００９９】
また、この実施形態によれば、光ピックアップ２を含む光学系のトラッキングバランスがずれているような場合にも、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
【０１００】
本実施形態においては、図７および図８で示されるＬＰＰに対する実施形態の構成として図１３で表されるブロック構成を用いて図１４の実施形態を記述したが、図３に示されるＬＰＰに対しても図１３で表されるブロック構成を用いて図１４の実施形態を実施できる。
（４）第４の実施形態
第４の実施形態として、ＥＣＣによって符号化された情報を光ディスク１に情報ピットとして形成し、再生して最適トラッキングオフセット値を求める場合について説明する。
【０１０１】
図１７に第４実施形態の情報記録再生装置のブロック図を示す。図１と共通部分は同様の部材番号を付して説明を省略する。
【０１０２】
情報ピットを介して光ピックアップ２から再生された再生信号Ｓｄは、イコライザー回路７を介し、二値化回路６で二値信号に変換され、ＣＰＵ９内にある８−１６復調部９１で復調される。復調されたデータは、誤り検出訂正部９２によってエラー発生部分が検出される。さらにＣＰＵ９は、エラー発生部分が光ディスク１上のどの部分であるかをＥＣＣ符号から演算する。
【０１０３】
ＬＰＰ検出回路４は外側ＬＰＰ検出回路４１と内側ＬＰＰ検出回路４２から構成される。外側ＬＰＰ検出回路４１は、トラッキングエラー信号からグルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク外周側に存在するＬＰＰを検出する回路であり、内側ＬＰＰ検出回路４２は、グルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク内周側に存在するＬＰＰを検出する回路である。
【０１０４】
ＬＰＰ検出回路４で光ビーム１２の照射領域内にＬＰＰがある場合のＬＰＰを検出した時に、ＣＰＵ９は光ビーム１２の反射光にエラーが発生しているか否かを判断する。このように、光ディスク１に記録されたＥＣＣによって符号化された情報ピットを再生し、外側および内側のＬＰＰを検出することにより、ＣＰＵ９はＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合の情報ピットを再生した信号にエラーが発生しているか否かがわかる。
【０１０５】
以下に、特許文献２に示すＬＰＰタイプの場合における、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値を用いて情報ピットを形成し、読み出したときに再生信号をエラーと検出した場合のエラー個数との関係に基づく、実施形態４における測定原理について説明する。
（ａ）測定原理
図１８にトラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値におけるデータエラー数の関係を図示する。
【０１０６】
内側ＬＰＰ欄に表示されたデータエラー数は、図７における情報ピットＴ４と内側ＬＰＰ（ＩＬ１）の位置関係において発生したエラー数である。図１８の各欄は、トラッキングオフセット値（μｍ）を図７における左側から右側に０．０１μｍずつ移動させて情報ピットを形成し、再生して発生したデータエラー数を表わす。トラッキングオフセット値はグルーブトラック間距離内の任意の値を定めることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍずつトラッキングオフセット値を変化させた場合について説明する。トラッキングオフセット値がマイナスの場合は、情報ピットの一部分が内側ＬＰＰ（ＩＬ１）上に形成されるため、ＬＰＰが存在しない情報ピットに対してレベル変動を生じ、データエラーが大きくなる。トラッキングオフセット値がプラスの場合は、情報ピットの形成位置が、グルーブトラックＧ２からランドトラックＬ３側に少しずつ移動する。情報ピットの一部分が内側ＬＰＰ上に形成されてしまうことがなくなるため、データエラーは殆ど生じない。
【０１０７】
外側ＬＰＰ欄に表示されたデータエラー数は、図９における情報ピットＴ５と外側ＬＰＰ（ＯＬ１）の位置関係において発生したエラー数である。トラッキングオフセット値（μｍ）を図９における左側から右側に０．０１μｍずつ移動させたときに、情報ピットを形成し、再生して発生したデータエラー数を表わす。トラッキングオフセット値がマイナスの場合は、内側ＬＰＰとは逆に、情報ピットの形成位置が、グルーブトラックＧ２からランドトラックＬ４側に移動する。情報ピットの一部分が外側ＬＰＰ上に形成されてしまうことがなくなるため、データエラーは殆ど生じない。トラッキングオフセット値がプラスの場合は、情報ピットの一部分が外側ＬＰＰ上に形成されるため、ＬＰＰが存在しない情報ピットに対してレベル変動を生じ、データエラーが大きくなる。
【０１０８】
図１８における、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値におけるデータエラー数の関係を図１９のグラフで示す。
【０１０９】
図１９（ａ）は、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値の場合に外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合の再生信号に発生するデータエラー数を示し、図１９（ｂ）は、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値の場合に内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合の再生信号に発生するデータエラー数を示し、図１９（ｃ）は、各トラッキングオフセット値における、内側ＬＰＰおよび外側ＬＰＰに対して発生するデータエラー数の和を示す。
【０１１０】
図１９（ａ）から、外側ＬＰＰに対しては、トラッキングオフセット値が大きくなるにしたがって発生するデータエラー数が大きくなることがわかる。図１９（ｂ）から、内側ＬＰＰに対しては、トラッキングオフセット値が小さくなるにしたがって発生するデータエラー数が大きくなることがわかる。図１９（ｃ）から、トラッキングオフセット値が０．０２μｍのときにデータエラー数の和は２個になる（Ｄ点）。トラッキングオフセット値が０．０１μｍのときと０．０３μｍのときにも、データエラー数の和は２個になる。それらの中間値である０．０２μｍを最適トラッキングオフセット値とする。
（ｂ）実施形態
図２０は、第４実施形態における最適トラッキングオフセット値を求めるフローチャートを示す。
【０１１１】
ステップＳ２１において、最適トラッキングオフセット値の検出を開始する。
【０１１２】
ステップＳ２２において、図１８に示すトラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値を使用した場合に内側ＬＰＰまたは外側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合に発生したデータエラー数の関係（以下トラッキングオフセット参照テーブルと称す。）が作成されているか否かをチェックする。トラッキングオフセット参照テーブルが作成されていない場合にはＳ２３に進み、作成されている場合にはＳ３９に進む。
【０１１３】
ステップＳ３９において、現在のトラッキングオフセット値をＣＰＵ９内にパラメータＴｏとして保存された値から読み込む。トラッキングオフセット値Ｔｏは、情報再生記録装置が光ディスク１からデータを読むとき、またはデータを記録するときにＣＰＵ９内にパラメータＴｏとして保存されている。
【０１１４】
ステップＳ２３に進んだ場合の処理フローを図２１に示す。
【０１１５】
図２１は、トラッキングオフセット参照テーブルを作成するステップＳ２３の内部フローである。
【０１１６】
ステップＳ２４において、トラッキングオフセット参照テーブル作成を開始する。
【０１１７】
ステップＳ２５において、光ピックアップ２が光ディスク１のパワーキャリブレーション領域に移動する。
【０１１８】
ステップＳ２６において、最初のトラッキングオフセット値で記録再生を行うセクタのセクタ番号Ｓを０に設定する。
【０１１９】
トラッキングオフセット値はグルーブトラック間距離内の任意の値を定めることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍずつトラッキングオフセット値を−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで変化させた場合について説明する。また、情報ピットを形成する光ディスク１上の領域も任意に設定できるが、本実施形態においては、例えば１ＥＣＣブロックを構成する１６セクタが使用される。ＥＣＣブロック数および１ＥＣＣブロックを構成するセクタ数は本実施形態に限定されるものではない。
【０１２０】
１セクタ毎にトラッキングオフセット値を変更して、記録再生を行う。最初のトラッキングオフセット値Ｔｏに−０．０８μｍを設定する。
【０１２１】
ステップＳ２７において、ステップＳ２６で設定したＴｏ値−０．０８μｍをトラッキングエラー信号に加える。この結果、光ピックアップ２はトラッキングエラー信号が０に相当する光ビーム照射位置から０．０８μｍだけ図７に示す外側ＬＰＰ形成方向とは逆の方向に移動する。
【０１２２】
ステップＳ２８において、１セクタに渡ってＥＣＣ符号を伴う８−１６変調後の信号を記録する。
【０１２３】
ステップＳ２９において、セクタ番号Ｓを１増加させ、トラッキングオフセット値Ｔｏを０．０１μｍ増加させる。
【０１２４】
ステップＳ３０において、セクタ番号Ｓが１６であるか否かを判断する。セクタ番号Ｓが１６であれば、ステップＳ３１に進み、セクタ番号Ｓが１６でない場合にはステップＳ２７に戻り、異なるトラッキングオフセット値で次のセクタにＥＣＣ符号を伴う８−１６変調後の信号を記録する。
【０１２５】
ステップＳ３１において、記録された信号を再生し、８−１６復調を行った後に誤り検出訂正を行う。
【０１２６】
ステップＳ３２において、再生を行うセクタ番号Ｓを０に設定する。トラッキングオフセット値Ｔｏにステップ２６で設定されたのと同じ値である−０．０８μｍを設定し、ステップＳ２８にて形成された情報ピットを再生する。
【０１２７】
ステップＳ３３において、１セクタに形成されている情報ピットを再生し、設定されたトラッキングオフセット値Ｔｏにおける光ビーム照射領域内に外側ＬＰＰを含む再生信号に発生したエラー数Ｎ（ｏｕｔ）と光ビーム照射領域内に内側ＬＰＰを含む再生信号に発生したエラー数Ｎ（ｉｎ）を計算する。
【０１２８】
ステップＳ３４において、Ｔｏ値、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）をそれぞれＣＰＵ９内にあるメモリに記憶する。
【０１２９】
ステップＳ３５において、セクタ番号Ｓを１増加させ、トラッキングオフセット値Ｔｏを０．０１μｍ増加させる。
【０１３０】
ステップＳ３６において、セクタ番号Ｓが１６であるか否かを判断する。セクタ番号Ｓが１６であれば、ステップＳ３７に進み、セクタ番号Ｓが１６でない場合にはステップＳ３３に戻り、異なるトラッキングオフセット値で次のセクタに形成された情報ピットを再生する。
【０１３１】
ステップＳ３７において、メモリに記憶された各トラッキングオフセット値Ｔｏに対するＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和を比較し、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和が最小となるトラッキングオフセット値Ｔｏを探し、そのＴｏ値を最適トラッキングオフセット値として設定する。
【０１３２】
ステップＳ３８において、トラッキングオフセット参照テーブル作成処理を終了する。
【０１３３】
ステップＳ３９において、現在設定されているトラッキングオフセット値Ｔｏを読み込む。
【０１３４】
ステップＳ４０において、信号再生を行う。再生された信号を８−１６復調し、誤り検出訂正を行う。
【０１３５】
ステップＳ４１において、ステップＳ４０で誤り検出訂正が行われたデータからＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）とを演算する。
【０１３６】
ステップＳ４２において、ステップＳ４１で演算された１セクタあたりのＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）との和を使用して、Ｓ２３で作成された、または予め作成されたトラッキングオフセット参照テーブルを参照して、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）との和が最小になるオフセットＴｏ値を演算する。すなわち、Ｎ（ｏｕｔ）が０個とＮ（ｉｎ）が５個で、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和が５個だった場合に、図１８のトラッキングオフセット参照テーブルをグラフ化した図１９（ａ）乃至（ｃ）から、該当する点を探すと点Ｅが相当する。そのときのトラッキングオフセット値は−０．０１μｍで最適トラッキングオフセット値を示す点Ｄまでの間隔は＋０．０３μｍである。したがって、現在のトラッキングオフセット値に＋０．０３μｍを加えることによってＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和が最も小さい最適トラッキングオフセット値となる。
【０１３７】
図２２にトラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を図示する。図２２で説明するＬＰＰは、特許文献１に示すタイプのＬＰＰである。
【０１３８】
内側ＬＰＰ欄に表示されたデータエラー数は、図３における情報ピットと外側ＬＰＰの位置関係において、図３における左側から右側にトラッキングオフセット値（μｍ）を、本実施形態としてはたとえば、０．０１μｍずつ移動させたときの各トラッキングオフセット値において発生したデータエラー数である。
【０１３９】
トラッキングオフセット値がプラスの場合は、光ビーム１２の照射する領域が図３において左側へ移動する。トラッキングオフセット値がマイナス側に大きくなると、ＬＰＰの内側のランドのグルーブへのせり出しが大きくなるのと等価になり、ＬＰＰ位置に形成される情報ピットが部分的に削られてしまうことになる。このため、ＬＰＰが存在しない位置に形成される情報ピットとのレベル変動が生じ、その結果データエラー数が増加する。反対にトラッキングオフセット値がマイナスの場合は、光ビーム１２の照射する領域が図３において右側へ移動する。トラッキングオフセット値がプラス側に大きくなると、情報ピットの一部分がＬＰＰ上に形成されるため、ＬＰＰが存在しない部分の情報ピットに対してレベル変動を生じ、データエラーが大きくなる。
【０１４０】
図２２における、トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を図２３のグラフで示す。
【０１４１】
図２３（ａ）は、設定されたトラッキングオフセット値に対して光ビーム１２の照射する領域内に外側ＬＰＰを含んだ場合に発生したデータエラー数を示し、図２３（ｂ）は、設定されたトラッキングオフセット値に対して光ビーム１２の照射する領域内に内側ＬＰＰを含んだ場合に発生したデータエラー数を示し、図２３（ｃ）は、図２３（ａ）および図２３（ｂ）のデータエラー数の和を示す。
【０１４２】
図２３（ａ）から、外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合には、トラッキングオフセット値がプラス方向またはマイナス方向に大きくなるにしたがってデータエラー数が大きくなることがわかる。図１９（ｂ）から、内側ＬＰＰに対しては、トラッキングオフセット値がマイナス側に大きくなった場合にデータエラー数が大きくなることがわかる。このタイプのＬＰＰは、グルーブに近い位置に形成されているので、内側ＬＰＰはグルーブから離れているためである。図１９（ｃ）から、トラッキングオフセット値が０．０２μｍのときにデータエラー数の和は０個になる。トラッキングオフセット値が０．０１μｍのときと０．０３μｍのときにも、データエラー数の和は０個になる。それらの中間値である０．０２μｍを最適トラッキングオフセット値とする。
【０１４３】
以上説明したように、ＥＣＣを用いて光ビーム１２の照射領域内にＬＰＰを含む場合の再生信号のエラー発生個数を、トラッキングオフセット値を変更しながら、各トラッキングオフセット値において計算することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数の最も少ないトラッキングオフセット値を検索することが可能になった。
【０１４４】
次に、最適トラッキングオフセット値を検出する場所が、リンキング領域である場合について、図２４および図２５を用いて説明する。
【０１４５】
リンキング領域とは、記録すべき連続した情報を光ディスク１に記録した記録済み領域の後に、次の記録すべき情報が記録されるまでに光ディスク１上に設けることが定められた領域のことである。この領域の長さは任意に設定することができるが、本実施形態においては３２ｋバイト（＝１ＥＣＣ）を使用した。
【０１４６】
図２４は、リンキング領域においてＥＣＣを利用した最適トラッキングオフセット値を検出して記録されるべきデータが記録されることを示すフローチャート図である。
【０１４７】
ステップＳ４４において、最適トラッキングオフセット値の検出とデータの記録を開始する。
【０１４８】
ステップＳ４５において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域へ移動させる。
【０１４９】
ステップＳ４６において、パワーキャリブレーション領域において、光ピックアップ２から照射する光ビーム１２の強度の最適値を決定する。なお、ディスク装着時などにおいて、パワーキャリブレーションを完了している場合、ステップＳ４５とＳ４６は不要である。
【０１５０】
ステップＳ４７において、ステップＳ４６で求めた最適パワーを情報ピットが記録されるべきパワーとして設定する。
【０１５１】
ステップＳ４８において、リンキング領域に記録された１６トラッキングオフセットステップのうちどのステップにおいて、内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域に含む場合に発生するエラー数と外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域に含む場合に発生するエラー数の和が最小になったかを計算する。
【０１５２】
ステップＳ４９において、ステップＳ４８においてエラー発生個数が最小になったトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定し設定する。
【０１５３】
ステップＳ５０において、ステップＳ４９で決定したトラッキングオフセット値を使用して記録されるべきデータを光ディスク１上のリンキング領域に続く未記録領域に記録する。
【０１５４】
ステップＳ５１において、他のリンキング領域でもう一度最適トラッキングオフセット値を探すための記録をするか否かを判定する。最適トラッキングオフセット値を探すための記録をしない場合には、ステップＳ５３に進み、最適トラッキングオフセット値を探す記録をする場合には、ステップＳ５２に進む。
【０１５５】
ステップＳ５２において、ステップＳ５０で実行された最終記録済み領域の次の未記録領域に光ピックアップ２を移動させ、ステップＳ４６で求めた最適パワーを使用して、トラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで１６段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。このとき１トラッキングオフセット値につき、どの程度の距離に渡って情報ピットを形成するかは任意であるが、ここではたとえば１セクタに渡って情報ピットを形成する。すなわち、トラッキングオフセット値を−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで０．０１μｍステップで変化させ、任意の信号パターンに基づきＥＣＣ符号化された情報を光ディスク１の１ＥＣＣブロックに記録する。このとき１トラッキングオフセット値につき、１セクタを記録する。したがって、−０．０８μｍから＋０．０７μｍの１６トラッキングオフセットステップに対して、１６セクタが使用される。１６セクタで１ＥＣＣブロックを構成するので、形成された情報ピットを再生した再生信号を復号化した後に誤りを検出することができる。
【０１５６】
ステップＳ５３では、記録すべきデータが無くなったものとして最適トラッキングオフセット値を使用した記録を終了する。
【０１５７】
図２５は、ＲＦ信号の振幅値変化を利用したリンキング領域における最適トラッキングオフセット値を検出して記録されるべきデータが記録されることを示すフローチャート図である。
【０１５８】
ステップＳ５４において、最適トラッキングオフセット値の検出とデータの記録を開始する。
【０１５９】
ステップＳ５５において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域へ移動させる。
【０１６０】
ステップＳ５６において、パワーキャリブレーション領域において、光ピックアップ２から照射する光のパワーの最適値を決定する。なお、ディスク装着時などにおいて、パワーキャリブレーションを完了している場合、ステップＳ５５とＳ５６は不要である。
【０１６１】
ステップＳ５７において、ステップＳ５６で求めた最適パワーを情報ピットが記録されるべきパワーとして設定する。
【０１６２】
ステップＳ５８において、リンキング領域に記録された１６個のトラッキングオフセットステップのうちどのステップにおいて、内側および外側のＬＰＰの影響による再生信号振幅のボトム値が、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない再生信号振幅のボトム値と比較して、変化量が最小になったかを計算する。
【０１６３】
ステップＳ５９において、ステップＳ５８において再生信号振幅のボトム値が最小になったトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定し設定する。
【０１６４】
ステップＳ６０において、ステップＳ５９で決定したトラッキングオフセット値を使用して記録されるべきデータを光ディスク１上のリンキング領域に続く未記録領域に記録する。
【０１６５】
ステップＳ６１において、他のリンキング領域でもう一度最適トラッキングオフセット値を探すための記録をするか否かを判定する。最適トラッキングオフセット値を探すための記録をしない場合には、ステップＳ６３に進み、最適トラッキングオフセット値を探す記録をする場合には、ステップＳ６２に進む。
【０１６６】
ステップＳ６２において、ステップＳ６０で実行された記録済み領域の次の未記録領域に光ピックアップ２を移動させ、ステップＳ５６で求めた最適パワーを使用して、トラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで１６段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。このとき１トラッキングオフセット値につき、どの程度の距離に渡って情報ピットを形成するかは任意であるが、ここではたとえば１セクタに渡って情報ピットを形成する。すなわち、トラッキングオフセット値を−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで０．０１μｍステップで変化させ、任意の信号パターンに基づきＥＣＣ符号化された情報を光ディスク１の１ＥＣＣブロックに記録する。このとき１トラッキングオフセット値につき、１セクタを記録する。したがって、−０．０８μｍから＋０．０７μｍの１６トラッキングオフセットステップに対して、１６セクタが使用される。１６セクタで１ＥＣＣブロックを構成するので、形成された情報ピットを再生した再生信号を復号化した後に誤りを検出することができる。
【０１６７】
ステップＳ６３において、記録すべきデータが無くなったものとして最適トラッキングオフセット値を使用した記録を終了する。
【０１６８】
以上述べたように、光ディスク１のリンキング領域において最適トラッキングオフセット値を検出することにより、ユーザに対して最適トラッキングオフセット値検出のための待ち時間を意識させずに、最適トラッキングオフセット値を検出することが可能である。
【０１６９】
本構成によるトラッキングサーボ制御装置によれば、光ビームの照射範囲内にＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ビームの光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７０】
また、前記再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号の振幅の変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いることにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７１】
さらに、前記再生信号のボトム値と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号のボトム値との変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７２】
さらに、前記再生信号のボトム値およびピーク値と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号のボトム値およびピーク値との変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号の振幅が変化しない場合におけるエラー発生数を最も小さくすることができるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７３】
さらに、前記再生信号に発生するエラー個数と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号に発生するエラー個数との和のエラー個数が最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いることにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７４】
本構成によるトラッキングサーボ制御装置によれば、光ビームの照射範囲内に、情報ピットと一の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７５】
また、前記再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号との振幅の変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いる。このことにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７６】
さらに、前記再生信号のピーク値と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号のピーク値との変化量の平均が、光ビームの照射範囲内にＬＰＰを含まない場合における再生信号のピーク値に対して最も小さくなるようにトラッキングオフセット値を設定する。このことにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７７】
さらに、前記再生信号のピーク値およびボトム値と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号のピーク値およびボトム値との変化量の平均値を、光ビームの照射範囲内にＬＰＰを含まない場合における再生信号のピーク値およびボトム値に対して最も小さくなるようにトラッキングオフセット値を設定することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７８】
さらに、前記再生信号に発生するエラー数と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号に発生するエラー数との和のエラー数が最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いる。このことによって、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７９】
本構成のトラッキングサーボ制御装置によれば、最適トラッキングオフセット値の検出を高速に行うことができる。
【０１８０】
また、最適トラッキングオフセット値の検出時間をユーザに意識させることなく最適トラッキングオフセットを行うことができる。
【０１８１】
さらに、最適トラッキングオフセット値の検出をトラッキングサーボ制御装置の起動時に行うことができる。また、追記型媒体か記録型媒体かをとわず、最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８２】
さらに、最適トラッキングオフセット値の検出にＥＣＣを用いることができ、より簡単な構成で最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８３】
さらに、情報ピットの形成パターンが一定であるため容易に最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８４】
本構成によれば、情報記録専用装置また情報記録再生装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８５】
本願の方法によれば、光ビームの照射範囲内にＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ビームの光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御方法を提供することが可能となる。
【０１８６】
本願の方法によれば、光ビームの照射範囲内に、情報ピットと一の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御方法を提供することが可能となる。
【０１８７】
本願の方法によれば、情報記録専用装置また情報記録再生装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行う方法を提供することができる。
【０１８８】
本願のプログラムによれば、光ビームの照射範囲内にＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ビームの光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御プログラムを提供することが可能となる。
【０１８９】
本願のプログラムによれば、光ビームの照射範囲内に、情報ピットと一の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御方法を提供することが可能となる。
【０１９０】
本願のプログラムによれば、情報再生専用装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行うプログラムを提供することができる。
【０１９１】
本願のプログラムによれば、情報記録専用装置また情報記録再生装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行うプログラムを提供することができる。
【０１９２】
本願のプログラムを、フレキシブルディスク等の情報記録媒体に予め記録しておき、或いはインターネット等のネットワークを介して予め取得して記録しておき、これを汎用のマイクロコンピュータ等により読み出し実行することにより、当該汎用のマイクロコンピュータ等を実施形態にかかわるマイコン９として機能させることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態の情報記録再生装置をブロック図で示した図である。
【図２】ＲＦ信号波形の模式図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図３】光ビーム照射領域とＬＰＰとの位置関係をあらわす図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図４】ＲＦ変化量とＰＩ（インナーパリティ）エラーの個数の関係を示す図である。
【図５】最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図６】高速最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図７】ＬＰＰと光ビーム照射領域との位置関係を示す図である。
【図８】トラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図９】ＬＰＰと光ビーム照射領域との位置関係を示す図である。
【図１０】トラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図１１】ＲＦ変化量とＰＩエラーの個数との関係を示す図である。
【図１２】トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図１３】第３実施形態の情報記録再生装置のブロックを示す図である。
【図１４】第３実施形態の最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図１５】第３実施形態の外側ＬＰＰにおけるＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ１、ピーク値およびボトム値との関係を示す図である。
【図１６】第３実施形態の内側ＬＰＰにおけるＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ２、ピーク値およびボトム値との関係を示す図である。
【図１７】最適トラッキングオフセット値検出ブロックを示す図である。
【図１８】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示す図である。
【図１９】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示す図である。（ａ）は内側ＬＰＰの場合、（ｂ）は外側ＬＰＰの場合、（ｃ）は内側ＬＰＰと外側ＬＰＰの合計のエラー数をあらわす。
【図２０】第４実施形態における最適トラッキングオフセット値を求めるフローチャートを示す図である。
【図２１】トラッキングオフセット参照テーブルを作成するフローチャートを示す図である。
【図２２】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示す図である。
【図２３】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示すグラフである。（ａ）は内側ＬＰＰの場合、（ｂ）は外側ＬＰＰの場合、（ｃ）は内側ＬＰＰと外側ＬＰＰの合計のエラー数をあらわす。
【図２４】最適トラッキングオフセット値の検出をエラー個数に基づき、リンキング領域で行うフローチャートを示す図である。
【図２５】最適トラッキングオフセット値の検出を振幅に基づき、リンキング領域で行うフローチャートを示す図である。
【符号の説明】
１：光ディスク
２：光ピックアップ
３：ＲＦ増幅回路
４：ＬＰＰ検出回路
５：ゲート回路
６：二値化回路
７：イコライザー回路
８：ＲＦ振幅測定回路
９：ＣＰＵ
１０：トラッキングサーボ回路
１１：アクチュエータドライブ回路
４１：外側ＬＰＰ検出回路
４２：内側ＬＰＰ検出回路
８１、８３：ピークホールド回路
８２、８４：Ａ／Ｄ変換回路
９１：８−１６復調部
９２：誤り検出訂正部
【発明の属する技術分野】
本発明は、トラッキングサーボ制御装置、及びトラッキングサーボ制御用プログラムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
記録用光ディスクには、アドレス信号がＬＰＰ(ランドプリピット)としてランドトラック上にあらかじめ形成されているものがあるが、その中には特許文献１に開示されているように、グルーブの変形によりＬＰＰを形成した光ディスクや、特許文献２に開示されているように、隣接するグルーブを跨るＬＰＰを形成した光ディスクがある。
【特許文献１】
特開２００２−５６５４２
【特許文献２】
特開２０００−１９５０５８
このようなタイプの異なる光ディスクにおいて、ＬＰＰ付近において情報ピットが形成されたり、ＬＰＰ付近に記録された情報ピットが再生される場合がある。
【０００３】
また、再生信号として誤って読み出された情報ピットの光ディスク上の位置を検出する方法として、特許文献３に示されるＥＣＣブロックを用いて誤り検出訂正を行う技術が知られている。
【特許文献３】
特開２００２−２０２９１９
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来技術の場合、ＬＰＰが光ビームの照射領域内にある場合には、トラッキングオフセット値が一定であるために情報ピットを再生したときに正確な再生信号が得られない場合があった。
【０００５】
本発明が解決しようとする課題には、ＬＰＰとグルーブトラックを備えた光ディスクにおいて、正確な再生信号を得られるように、トラッキングオフセット値を設定するトラッキングサーボ制御装置、及びトラッキングサーボ制御用プログラムを提供することが一例としてあげられる。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために請求項１に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された光ディスク等の記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置において、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成するＣＰＵ等の第１生成手段と、前記光ビームの照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成するＣＰＵ等の第２生成手段と、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算するＣＰＵ等の演算手段とを備えることを特徴とする。
【０００７】
上記の課題を解決するために請求項６に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置において、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットと一の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段と、前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットの他の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段と、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
上記の課題を解決するために請求項１８に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置に含まれるコンピュータを、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段、前記光ビームの照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段、及び、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段、として機能させることを特徴とする。
【００１１】
上記の課題を解決するために請求項１９に記載の発明は、グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置に含まれるコンピュータを、前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットと一の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段、前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットの他の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段、前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段として機能させることを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明による情報記録再生装置の実施形態について説明する。
（１）第１の実施形態
図１は、本実施形態の情報記録再生装置をブロック図で示したものである。
【００１３】
本実施形態の情報記録再生装置は、光ピックアップ２、ＲＦ増幅回路３、ＬＰＰ検出回路４、ゲート回路５、二値化回路６、イコライザー回路７、ＲＦ振幅測定回路８、ＣＰＵ９、トラッキングサーボ回路１０、アクチュエータドライブ回路１１から構成される。
【００１４】
光ディスク１に情報を記録する場合には、ＣＰＵ９からトラッキングサーボ回路１０にトラッキング制御信号Ｓａが送られ、トラッキングサーボ回路１０はトラッキング制御信号Ｓａに基づいてアクチュエータドライブ回路１１に信号を送り、アクチュエータドライブ回路１１は制御信号Ｓｃに基づき光ピックアップ２を駆動し、光ディスク１の所望の位置に光ピックアップ２を移動する。次に、ＣＰＵ９から光ピックアップ２へ情報信号Ｓｃが送られ、光ピックアップ２に送られた情報信号Ｓｃに基づいて光ディスク１に光ビーム１２が照射され、光ディスク１に情報ピットが形成される。
【００１５】
また、光ディスク１に形成された情報ピットを再生する場合には、ＣＰＵ９からトラッキングサーボ回路１０にトラッキング制御信号Ｓａが送られ、トラッキングサーボ回路１０はトラッキング制御信号Ｓａに基づいてアクチュエータドライブ回路１１に制御信号Ｓｂを送り、アクチュエータドライブ回路１１は制御信号Ｓｂに基づき光ピックアップ２を駆動し、光ディスク１の所望の位置に光ピックアップ２を移動する。光ピックアップ２から光ディスク１に光ビーム１２を照射すると情報ピットの有無に対応した反射光が発生する。その反射光は、光ピックアップ２において光から電気信号に変換され、変換された電気信号は再生信号ＳｄとしてＲＦ増幅回路３へ送られる。この再生信号ＳｄはＲＦ増幅回路３において増幅され、イコライザー回路７においてイコライジング処理が施され、ＲＦ信号Ｓｆとして出力される。このＲＦ信号Ｓｆは二値化回路６において二値化され、二値化信号ＳｅとしてＣＰＵ９に取り込まれる。取り込まれた二値化信号Ｓｅは、ＣＰＵ９において復調、エラー検出訂正が行われ、データとして生成される。
【００１６】
ＲＦ増幅回路３へ送られた再生信号Ｓｄは、ＬＰＰ検出回路４に送られ、ＬＰＰの有無を検出する。ＬＰＰが検出されると、ゲート回路５においてＬＰＰ付近の再生信号Ｓｄを測定するためのゲート信号が生成される。また、ＲＦ信号ＳｆはＲＦ振幅測定回路８へ送られ、ＲＦ振幅測定回路８は、ゲート回路５において生成されたゲート信号Ｓｇが発生している期間、ＲＦ信号Ｓｆの振幅を測定し、その結果をＣＰＵ９へ送る。
（ａ）測定原理
次に、第１実施形態における測定原理について説明する。
【００１７】
図２は、ＲＦ振幅測定回路８において振幅測定が行われるＲＦ信号波形の模式図である。図２のＲＦ信号波形は、３Ｔ（Ｔはクロック周期の最小単位時間を示し、３Ｔとは、グルーブトラックＧ１上に形成される情報ピットのうち最も長さの短い情報ピットを示す。）までの長さを持つ情報ピットを再生したときのＲＦ信号波形をあらわす。図３は、図２の各ＲＦ信号波形に対応した光ビーム照射領域、ＬＰＰ（特許文献１に示すＬＰＰ。）と３Ｔ情報ピットとの位置関係をあらわす図である。図２（ａ）の再生信号波形のうち、矢印で示した振幅を持つ波形は、図３（ａ）に示されるグルーブトラックＧ１上に記録された３Ｔの長さを持つ情報ピット（以下、３Ｔ情報ピットと称す。）Ｔ１からＴ３を、光ビーム照射領域Ｓ１がＡ点からＢ点に移動しつつ再生したときの再生信号波形を示す。図２（ｂ）の再生信号波形は、図３（ｂ）に示されるＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１がＡ点からＢ点に移動して再生したときの再生信号波形を示す。図２（ｃ）の再生信号波形は、図３（ｃ）に示されるＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１がＡ点からＢ点に移動して再生したときの再生信号波形を示す。
【００１８】
図３（ａ）は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピットの中心線３ＴＯがグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏより、図３（ａ）において左側に長さＲずれている状態を示す。すなわち、３Ｔ情報ピット列が左側に長さＲずれて記録された状態である。以下の説明では、Ｒ＝０．０８６μｍの場合について説明する。図３（ａ）の場合は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピットの中心線３ＴＯがグルーブトラックＧ１の中心点線Ｇ１Ｏより矢印で示すＬＰＰ形成方向とは逆の方向にずれているので、−０．０８６μｍと示す。この場合、ＬＰＰが形成されている位置に記録される情報ピットは、ＬＰＰ内側のランドのグルーブへのせり出し部分が等価的に大きくなるため、記録する情報ピットの削られる量が大きくなり、他の情報ピットよりも細い情報ピットが形成されてしまう。この状態において３Ｔ情報ピットの情報を再生する光ビーム照射領域Ｓ１の中心点ＯがグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏと一致しつつグルーブトラックＧ１上をＡからＢの方向に移動して再生する。この結果、光ビーム照射領域Ｓ１が、ＬＰＰが形成されている位置まで来ると、光ビーム照射領域Ｓ１からの反射光量変化が減少するため、反射光量に対応する図２（ａ）のＲＦ信号振幅のうちＴ２付近の振幅が減少する。この光ビーム照射領域Ｓ１の中心ＯがＬＰＰに最も近づいたときに、図２（ａ）のＲＦ信号の振幅が最も減少する。光ビーム照射領域Ｓ１がＡからＢに移動するとき、光ビーム照射領域Ｓ１からのＲＦ信号振幅はＬＰＰに近づくにつれて次第に減少し、ＬＰＰから遠ざかるにつれて次第に増加する。
【００１９】
図３（ｂ）は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピット光ビーム照射領域Ｓ１の中心Ｏと、３Ｔ情報ピットが形成されているグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏと、３Ｔ情報ピット中心線３ＴＯとが一致している場合を示す。この場合には、対応する図２（ｂ）のＲＦ信号の振幅には、ＬＰＰが存在することによる影響は現われない。これは、ＬＰＰに、３Ｔ情報ピットＴ２が形成される場合には、他の３Ｔ情報ピットＴ１、Ｔ３よりもＬＰＰ形成方向に広がる量と、内側のランドのせり出しによる情報ピットの削られる量が一致するからである。すなわち、ＬＰＰ形成方向の凸と逆側の凹とが相殺するように３Ｔ情報ピットＴ２が形成されるため、光ビーム照射領域Ｓ１と３Ｔ情報ピットＴ２とが重なり合う面積が他の３Ｔ情報ピットＴ１、Ｔ３と光ビーム照射領域Ｓ１とが重なり合う面積とほとんど変わらないからである。
【００２０】
図３（ｃ）は、グルーブトラックＧ１に形成された３Ｔ情報ピットの中心線３ＴＯが３Ｔ情報ピットの形成されているグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏより、図３（ａ）において右側に０．０８６μｍずれている状態を示す。図３（ａ）に示すＬＰＰ形成方向と同じ方向にずれているので、＋０．０８６μｍと示す。すなわち、３Ｔ情報ピット列が右側に長さ＋０．０８６μｍずれて記録された状態である。この場合、ＬＰＰが形成されている位置に記録される情報ピットは、ＬＰＰ内側のランドのグルーブへのせり出し部分が等価的に小さくなるため、記録する情報ピットの削られる量が少なくなる。その一方で、ＬＰＰ形成方向へは記録する情報ピットが膨らんでしまうため、他の情報ピットよりも太い情報ピットが形成されてしまう。この状態において、光ビーム照射領域Ｓ１の中心ＯがグルーブトラックＧ１の中心線Ｇ１Ｏ上をＡからＢの方向に移動して再生する。この結果、光ビーム照射領域Ｓ１が、ＬＰＰが形成されている位置まで来ると、光ビーム照射領域Ｓ１からの反射光量変化が増加するため、反射光量に対応する図２（ｃ）のＲＦ信号振幅のうちＴ２付近の振幅が増加する。この光ビーム照射領域Ｓ１の中心ＯがＬＰＰに最も近づいたときに、図２（ｃ）のＲＦ信号の振幅が最も増加する。光ビーム照射領域Ｓ１がＡからＢに移動するとき、光ビーム照射領域Ｓ１からのＲＦ信号振幅はＬＰＰに近づくにつれて次第に増加し、ＬＰＰから遠ざかるにつれて次第に減少する。
【００２１】
したがって、図３（ｂ）が最適記録状態であり、ＲＦ信号にＬＰＰによる影響は現われない。一方（ａ）と（ｃ）は、記録される情報ピットのＬＰＰ形成方向に広がる量と、内側のランドのせり出しによる削られる量のバランスがくずれた状態であり、ＲＦ信号振幅がその部分だけ異なるレベルとなって再生される。
【００２２】
図４はＲＦ変化量と特許文献３に示すＰＩ（インナーパリティ）エラーの個数の関係についての実験結果を示す図である。ＬＰＰを光ビーム１２が照射する領域に含まない情報ピットを再生したＲＦ信号の振幅値から、ＬＰＰを光ビーム１２が照射する領域に含む情報ピットを再生したＲＦ信号の振幅値を引いた値をＲＦ変化量としている。また、その時のＬＰＰを光ビーム１２が照射する領域に含む情報ピットを再生したＲＦ信号を、二値化回路６において二値化し、ＣＰＵ９において復調し、エラー検出訂正（ＥＣＣ）を行うことによって判明したエラーの個数のうちＰＩ（インナーパリティ）に発生したエラー数をＰＩエラー数としている。
【００２３】
図２（ａ）のＲＦ変化量は、０．８ｄｉｖｉｓｉｏｎ（１ｄｉｖｉｓｏｎは図２（ａ）の１目盛りに相当する。以下ｄｉｖ．と略す。）になり、その時のＰＩエラー数は実験によると６１９個である。図２（ｂ）のＲＦ変化量は、０．０（ｄｉｖ）になり、その時のＰＩエラー数は１５個である。図２（ｃ）のＲＦ変化量は、−０．４（ｄｉｖ）になり、その時のＰＩエラー数は９２８個である。図４には、図２に図示していない、ＲＦ変化量が０．２（ｄｉｖ）の時のＰＩエラー数１８個と、ＲＦ変化量が−０．３（ｄｉｖ）の時のＰＩエラー数１８１個との場合のポイントがさらに表示されている。図４から、ＲＦ変化量が０近辺においてＰＩエラー数が最も小さいことが分かる。
【００２４】
以上の測定原理から、ＣＰＵ９によってトラッキングオフセット値を変化させつつ形成した３Ｔ情報ピットを再生したときのＲＦ変化量を測定し、ＲＦ変化量が０になるトラッキングオフセット値を設定することによって、データエラー数の発生が最も少なくなるように記録するトラッキングオフセット値を決定することが可能になる。
（ｂ）実施形態
以下、図１の構成による図５のフローチャートに基づいて第１実施形態の動作を説明する。
【００２５】
図５に最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す。
【００２６】
ステップＳ１において、最適トラッキングオフセット値検出を開始する。
【００２７】
ステップＳ２において、情報記録再生装置の光ピックアップ２を光ディスク１上にあるパワーキャリブレーション領域に移動する。パワーキャリブレーション領域とは、光ディスク１の内周側に位置する光ピックアップ２から照射される光ビーム１２の強度を調整する領域である。
【００２８】
ステップＳ３では、情報記録再生装置は、パワーキャリブレーション領域において光ピックアップ２から放出される光ビーム１２の強度を変化させながら光ディスク１に情報ピットの形成を行い、その情報ピットの再生を行うことで、最適な情報ピットを形成するための光ビーム１２の強度を探し出して決定する。
【００２９】
ステップＳ４では、光ピックアップ２を所望の場所、たとえば未記録領域に移動し、Ｓ３で決定した最適パワーを用いて３Ｔ情報ピットを形成、再生する。
【００３０】
ステップＳ５では、ステップＳ４において形成した情報ピットを再生したときの再生信号のうち、ＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含まない３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅とＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含む３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅とをＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含まない３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅とＬＰＰを光ビーム１２が照射される領域に含む３Ｔ情報ピットを再生した再生信号振幅の振幅差であるＲＦ変化量をＣＰＵ９で演算する。ＣＰＵ９内にあるメモリに演算結果を記憶する。
【００３１】
ステップＳ６では、今回測定したＲＦ変化量が前回測定したＲＦ変化量より大きいときを正のときとし、ステップＳ７に進み、今回測定したＲＦ変化量が前回測定したＲＦ変化量より小さいときを負のときとし、ステップＳ８に進む。
【００３２】
ステップＳ７では、現在のトラッキングオフセット値から予め決められた値を減算する（減算すると、図３（ａ）において光ビーム照射領域Ｓ１の中心点ＯがグルーブトラックＧ１の中心点ＧＯより左側に移動する。）。減算する値は、グルーブトラック間の距離より小さい任意の値にすることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍを使用する。ステップＳ３で決定した最適パワーを用いて情報を記録する。その後、ステップＳ５に進む。
【００３３】
ステップＳ８では、ステップＳ６で述べたＲＦ変化量が負のときには、ステップＳ９に進み、ＲＦ変化量が正のときには、ステップＳ１０に進む。
【００３４】
ステップＳ９では、現在のトラッキングオフセット値に予め決められた値を加算する。（加算すると、図３（ａ）において光ビーム照射領域Ｓ１の中心点ＯがグルーブトラックＧ１の中心点ＧＯより右側に移動する。）加算する値は、グルーブトラック間の距離より小さい任意の値にすることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍを使用する。現在のトラッキングオフセット値に０．１μｍを加算しステップＳ３で決定した最適パワー値を用いて情報信号を記録する。その後、ステップＳ５に進む。
【００３５】
ステップＳ１０では、ＲＦ変化量が０になったときのトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００３６】
ステップＳ１１では、ステップＳ１０で決定した最適トラッキングオフセット値を用いて、光ディスク１に記録すべき情報の記録を開始する。
【００３７】
ステップＳ１２では、光ディスク１に記録すべきデータが無くなった場合に、最適記録を終了する。
【００３８】
図５の場合は、ステップＳ６、Ｓ８においてＲＦ変化量を確認しながらトラッキングオフセット値を変化させて、情報を記録、再生をした。
（ｃ）第１の実施形態の変形例
第１の実施形態の変形例として図６に、あらかじめ定められた範囲のトラッキングオフセット値を用いて情報ピットを連続形成し、連続形成された情報ピットを連続再生して最適トラッキングオフセット値を決定するフローチャートについて説明する。
【００３９】
図６に最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す。
【００４０】
ステップＳ１４において、情報記録再生装置の光ピックアップ２を光ディスク１上にあるパワーキャリブレーション領域に移動する。パワーキャリブレーション領域とは、光ディスクの内周側に位置する光ピックアップ２から照射される光ビーム１２の強度を調整する領域である。
【００４１】
ステップＳ１５では、情報記録再生装置は、パワーキャリブレーション領域において光ピックアップ２から放出される光ビーム１２の強度を変化させながら光ディスク１に情報ピットの形成を行い、その情報ピットの再生を行うことで、最適な情報ピットを形成するための光ビーム１２の強度を探し出して決定する。
【００４２】
ステップＳ１６では、光ピックアップ２を所望の場所（例えば、光ディスク１上の未記録領域）に移動し、ステップＳ１５で決定した最適パワーを用いてトラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ１７段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。その後、形成された情報ピットを再生する。
【００４３】
ステップＳ１７では、ステップＳ１６において情報ピットを再生したときの再生信号のうち、各トラッキングオフセット値に対して、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅とＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅をＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅とＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅差であるＲＦ変化量をＣＰＵ９で演算する。そして、各トラッキングオフセット値に対するＲＦ変化量をＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００４４】
ステップＳ１８では、ＣＰＵ９のメモリに記録されているステップＳ１７で求めたＲＦ変化量のうち、最も小さい値を比較演算することにより求める。その結果、もっとも小さいＲＦ変化量となったトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００４５】
ステップＳ１９にて最適パワー値および最適トラッキングオフセット値を使用して記録すべきデータを記録する。
【００４６】
ステップＳ２０にて、記録すべきデータがなくなったら記録を終了する。
【００４７】
以上述べてきたように、アドレス信号がＬＰＰとしてランドにあらかじめ刻み込まれている記録ディスクにおいて、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号の振幅と、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない再生信号の振幅との差がより少なくなるように、トラッキングオフセットを変更することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生をより少なくすることが可能になった。
【００４８】
また、連続したセクタのセクタ毎にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成し、その後形成された情報ピットを再生した再生信号のＲＦ変化量の最も少ないセクタのオフセット値を、最適トラッキングオフセット値とすることにより、高速に最適トラッキングオフセット値を検索することができる。
【００４９】
また、この実施形態によれば、光ピックアップ２を含む光学系のトラッキングバランスがずれているような場合にも、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
（２）第２の実施形態
図３で説明した特許文献１に示したＬＰＰとは異なるタイプである特許文献２に示したＬＰＰの場合における、トラッキングオフセット値を最適化する第２の実施形態について説明する。最初に測定原理について説明する。
（ａ）測定原理
本実施形態の情報記録再生装置の構成は図１に示したものと同様であるので細部の説明は省略する。
【００５０】
図７に、図３で説明したＬＰＰとは別タイプの特許文献２に示すＬＰＰと光ビーム照射領域との位置関係を示す。光ピックアップ２から照射された光ビーム１２が収束されて、グルーブトラックＧ２上に形成された情報ピットに照射される。照射された光の反射光が再生信号であるＲＦ信号波形として計測される。図７では、図７においてグルーブトラックＧ２の左側にＬＰＰがある。（このＬＰＰのことを以下内側ＬＰＰと称する。）この図７において、光ビーム１２をグルーブトラックＧ２の左側から右側に移動するようにトラッキングオフセット値を変化させて、情報ピットの形成、再生を行ったときのＲＦ信号波形を図８に示す。
【００５１】
図８は、トラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す。
【００５２】
図８（ａ）は、図７における光ビーム照射領域Ｓ１の中心点Ｏが３Ｔ情報ピットの形成されているグルーブトラックＧ１の中心ＧＯより、左側に長さＲずれている状態を示す。Ｒは予め定められた量で、たとえば０．０８６μｍの場合について説明する。Ｒの値はグルーブトラック間距離の範囲内で任意に選ぶことができる。図８（ａ）は、トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍ（図３において外側ＬＰＰ形成方向を正、その反対方向を負としている。）を加えたときに内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合の３Ｔ情報ピットＴ４を再生したのＲＦ信号波形を示す。これは、図７において光ビーム１２がグルーブトラックＧ２に対して左方向に０．０８６μｍ移動して情報ピットを形成、再生したことを示す。内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅Ｔ４が内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅Ｔ５よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝３ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが４９０個発生している。
【００５３】
図８（ｂ）は、トラッキングオフセット値として０μｍを加えたとき、すなわちトラッキングオフセットを加えないときの内側ＬＰＰ近傍のＲＦ信号波形を示す。内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅は、内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅と同程度で内側ＬＰＰの影響を殆ど受けていないことがわかる（３ＴＲＦ振幅＝２．４ｄｉｖ．）。そのため、ＰＩエラーの発生数が１２２個になっておりエラー数が少ない。
【００５４】
図８（ｃ）は、トラッキングオフセット値として＋０．０８６μｍを加えたときの、内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む場合と含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号波形を示す。図７において光ビーム１２がグルーブトラックＧ２に対して右方向に移動して記録再生したことをあらわす。内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅が内側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない場合の３Ｔ情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝２．２ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが６３９個発生している。
【００５５】
図９に、光ビーム１２の照射範囲Ｓ１がＬＰＰＴ５の左側に位置する状態を示す。図９では、３Ｔ情報ピットＴ５の右側にＬＰＰがある。（このＬＰＰのことを以下、外側ＬＰＰと称する。）
【００５６】
この図９において、光ビーム１２をグルーブトラックＧ２の左側から右側に移動するようにトラッキングオフセット値を変化させて、情報ピットの形成、再生を行ったときのＲＦ信号波形を図１０（ａ）乃至（ｃ）に示す。
【００５７】
図１０（ａ）乃至（ｃ）はトラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す図である。
【００５８】
図１０（ａ）は、図９における光ビーム照射領域Ｓ１の中心点Ｏが３Ｔ情報ピットの形成されているグルーブトラックＧ２の中心ＧＯ２より、左側に長さＲずれている状態を示す。Ｒは予め定められた量で、たとえば０．０８６μｍの場合について説明する。Ｒの値はグルーブトラック間距離の範囲内で任意に選ぶことができる。図１０（ａ）は、トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍ（図９において外側ＬＰＰ形成方向を正、その反対方向を負としている。）を加えたときに内側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合の３Ｔ情報ピットＴ５を再生したのＲＦ信号波形を示す。外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域Ｓ１に含む情報ピットを再生した３ＴＲＦ信号振幅が、外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域に含まない情報ピットを再生した３ＴＲＦ振幅よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝２．２ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが４９０個発生している。
【００５９】
図１０（ｂ）は、トラッキングオフセット値として０μｍを加えたとき、すなわちトラッキングオフセットを加えないときの外側ＬＰＰ近傍のＲＦ信号波形を示す。外側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む３ＴＲＦ信号振幅は外側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない３ＴＲＦ振幅と同程度で再生信号にはＬＰＰの影響が殆どない（３ＴＲＦ振幅＝２．４ｄｉｖ．）。そのため、ＰＩエラーの発生数が１２２個になっておりエラー数が少ない。
【００６０】
図１０（ｃ）は、トラッキングオフセット値として＋０．０８６μｍを加えたときの外側ＬＰＰ近傍のＲＦ信号波形を示す。図９において光ビーム１２がグルーブトラックＧ２に対して右方向に０．０８６μｍ移動した後に記録再生する。外側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含む３ＴＲＦ信号振幅が外側ＬＰＰを光ビーム照射領域に含まない３ＴＲＦ振幅よりも大きく歪んでいる（３ＴＲＦ振幅＝３．０ｄｉｖ．）ため、ＰＩエラーが６３９個発生している。
【００６１】
図１１に、ＲＦ変化量とＰＩエラーの個数との関係を示した図を示す。ここに示すＲＦ変化量とは、図８と図１０に示すＲＦ信号波形のうち同じトラッキングオフセット値における、図８に示した内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅から図１０に示した外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅の値を引いた値である。トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍを加えたときの図８（ａ）の内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅は、３ｄｉｖである。トラッキングオフセット値として−０．０８６μｍを加えたときの図１０（ａ）の外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅は、２．２ｄｉｖである。したがって、ＲＦ変化量は３ｄｉｖから２．２ｄｉｖを引いた０．８ｄｉｖである。このときの、図８（ａ）におけるＰＩエラー数と図１０（ａ）におけるＰＩエラー数との和は４９０個である。図１１におけるａ点がＲＦ変化量０．８ｄｉｖに対するＰＩエラー４９０個を示す。同様に、点ｂは図８（ｂ）の内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅２．４ｄｉｖから図１０（ｂ）の外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅２．４ｄｉｖを引いたＲＦ変化量０のときにＰＩエラー数の和が１２２個であることを示す。点ｃは図８（ｃ）の内側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅２．２ｄｉｖから図１０（ｃ）の外側ＬＰＰを光ビーム照射領域内に含む３ＴＲＦ振幅３．０ｄｉｖを引いたＲＦ変化量−０．８ｄｉｖのときにＰＩエラー数の和が６３９個であることを示す。図８および図１０に図示していないが、この他に、トラッキングオフセット値が−０．０４μｍであるときのＲＦ変化量０．５ｄｉｖに対するＰＩエラー数の和が１８０個である点ｄ、およびトラッキングオフセット値が＋０．０４μｍであるときのＲＦ変化量−０．５ｄｉｖに対するＰＩエラー数の和が２７８個である点ｅを示す。
【００６２】
図１１からわかるように、ＲＦ変化量０近辺においてＰＩエラーの総数が最も小さくなる。したがって、トラッキングオフセット値を０に設定することで、情報ピットを読出したときのエラー数は最も少なくなる。
【００６３】
以上の測定原理から、ＬＰＰがグルーブトラックの両側にあることを考慮して、ＬＰＰが光ビーム照射領域のグルーブトラックの左側にある場合と、ＬＰＰが光ビーム照射領域のグルーブトラックの右側にある場合とで、ＲＦ変化量が最小になるトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値とすることによって最適トラッキング値を求められる。
（ｂ）実施形態
以下、図１の構成による図１２のフローチャートに基づいて第２実施形態を説明する。
【００６４】
図１２にトラッキングオフセット値検出フローチャートを示す。
【００６５】
ステップＳ８０において、情報記録再生装置の光ピックアップ２を光ディスク１上にあるパワーキャリブレーション領域に移動する。パワーキャリブレーション領域とは、光ディスクの内周側に位置する光ピックアップ２から照射される光ビーム１２の強度を調整する領域である。
【００６６】
ステップＳ８１では、情報記録再生装置は、パワーキャリブレーション領域において光ピックアップ２から放出される光ビーム１２の強度を変化させながら光ディスク１に情報ピットの形成を行い、その情報ピットの再生を行うことで、最適な情報ピットを形成するための光ビーム１２の強度を探し出して決定する。
【００６７】
ステップＳ８２では、光ピックアップ２を所望の場所（例えば、光ディスク１上の未記録領域）に移動し、ステップＳ１５で決定した最適パワーを用いてトラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．１μｍずつ１７段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。その後、形成された情報ピットを再生する。
【００６８】
ステップＳ８３では、ステップＳ８２において情報ピットを再生したときの再生信号のうち、各トラッキングオフセット値に対して、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅をＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅差であるＲＦ変化量ＲＦＩをＣＰＵ９で演算する。そして、各トラッキングオフセット値に対するＲＦ変化量ＲＦＩをパラメータＲＦＩとしてＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００６９】
ステップＳ８４では、ステップＳ８２において情報ピットを再生したときの再生信号のうち、各トラッキングオフセット値に対して、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅をＲＦ振幅測定回路８において測定し、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない３Ｔ信号の再生信号の振幅と外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む３Ｔ信号の再生信号の振幅差であるＲＦ変化量ＲＦＯをＣＰＵ９で演算する。そして、各トラッキングオフセット値に対するＲＦ変化量ＲＦＯをパラメータＲＦＯとしてＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００７０】
ステップＳ８５では、各トラッキングオフセット値に対して、パラメータＲＦＯからパラメータＲＦＩを減算し、減算結果の絶対値であるＲＦ変化量ＲＦをパラメータＲＦとしてＣＰＵ９内にあるメモリに記録する。
【００７１】
ステップＳ８６では、ＣＰＵ９のメモリに記録されているステップＳ８５で求めたパラメータＲＦのうち、最も小さい値を比較演算することにより求める。その結果、もっとも小さいＲＦ変化量となったパラメータＲＦに対応するトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００７２】
ステップＳ８７にて最適パワー値および最適トラッキングオフセット値を使用して記録すべきデータを記録する。
【００７３】
ステップＳ８８にて、記録すべきデータがなくなったら記録を終了する。
【００７４】
以上述べてきたように、アドレス信号がＬＰＰとしてランドにあらかじめ刻み込まれている記録ディスクにおいて、光ビーム１２の照射領域内に異なる方向からＬＰＰが含まれる場合にも、ＲＦ変化量が最小になるように、トラッキングオフセットを変更することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
【００７５】
また、この実施形態によれば、光ピックアップ２を含む光学系のトラッキングバランスがずれているような場合にも、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
（３）第３の実施形態
図１３に第３実施形態の情報記録再生装置の構成を示す。図１と共通する部分の細部説明は省略する。
【００７６】
ＬＰＰ検出回路４は外側ＬＰＰ検出回路４１と内側ＬＰＰ検出回路４２から構成される。外側ＬＰＰ検出回路４１は、トラッキングエラー信号であるプッシュプル信号Ｓｈからグルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク外周側に存在するＬＰＰを検出する回路であり、内側ＬＰＰ検出回路４２は、グルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク内周側に存在するＬＰＰを検出する回路である。
【００７７】
ＲＦ振幅測定回路８は、ピークホールド回路８１、ボトムホールド回路８２と、Ａ／Ｄ変換回路８２および８４から構成される。
【００７８】
ピークホールド回路８１は光ディスク１から読み出されたＲＦ信号Ｓｆの信号波形のピーク部分をホールドする回路である。ホールドされた値はＡ／Ｄ変換回路８２でデジタル信号に変換された後に、ＣＰＵ９に入力される。ボトムホールド回路８３は光ディスク１から読み出されたＲＦ信号Ｓｆの信号波形のボトム部分をホールドする回路である。ホールドされた値はＡ／Ｄ変換回路８４でデジタル信号に変換された後に、ＣＰＵ９に入力される。
【００７９】
ＬＰＰ検出回路４で光ディスク１上の光ビーム照射領域のＬＰＰを検出して、ＣＰＵ９はＬＰＰ検出タイミング前後の再生信号波形のピーク値およびボトム値をＡ／Ｄ変換回路８２および８４のデジタル信号出力から計算する。
【００８０】
図１４に第３の実施形態に係る最適トラッキングオフセット値検出フローを示す。
【００８１】
ステップＳ６４において、最適トラッキングオフセット値の検出を開始する。
【００８２】
ステップＳ６５において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域へ移動させる。
【００８３】
ステップＳ６６において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域に移動して、光ピックアップ２から照射する光ビーム１２の強度の最適値を決定する。セクタ番号Ｓに１を設定する。
【００８４】
ステップＳ６７では、光ピックアップ２を所望の場所（例えば、光ディスク１上の未記録領域）に移動し、ステップＳ６５で決定した最適パワーを用いてトラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで１６段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。その後、形成された情報ピットを再生する。このとき１トラッキングオフセット値につき、どの程度の距離に渡って情報ピットを形成するかは任意であるが、ここではたとえば１セクタに渡って情報ピットを形成する。すなわち、−０．０８μｍから＋０．０７μｍの１６トラッキングオフセットステップに対して、１６セクタが使用される。この場合、形成する情報ピットパターンは任意のピットパターンとすることができるが、ここでは一例として最も情報ピットパターン間距離の小さい３Ｔ連続パターンを使用して情報ピットを形成する。
【００８５】
ステップＳ６８において、ステップＳ６７の同一トラッキングオフセット値で記録された１セクタ内の３Ｔ情報ピットの連続パターンを再生する。
【００８６】
ステップＳ６９において、ステップＳ６８で再生した信号の中から、ゲート回路５からのゲート信号Ｓｇ１に対応した期間における、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まないＲＦ信号Ｓｆのピーク値Ｐ１をピークホールド回路８１で検出する。その検出値はＡ／Ｄ変換回路８２においてデジタル信号に変換された後に、パラメータＰ１としてＣＰＵ９内のメモリに記憶される。また、ゲート回路５からのゲート信号Ｓｇ２に対応した期間における、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まないＲＦ信号Ｓｆのボトム値Ｂ１をボトムホールド回路８３で検出する。その検出値はＡ／Ｄ変換回路８４においてデジタル信号に変換された後に、パラメータＢ１としてＣＰＵ９内のメモリに記憶される。
【００８７】
ステップＳ７０において、ステップＳ６８で再生した信号の中から、ステップＳ６９での動作と同様に内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含むＲＦ信号Ｓｆのピーク値とボトム値を検出し、ＣＰＵ９内のメモリにピーク値をパラメータＰ２Ｉとして記憶し、ボトム値をパラメータＢ２Ｉとして記憶する。
【００８８】
内側ＬＰＰに対する、プッシュプル信号Ｓｈ、ＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ２、ピーク値Ｐ２Ｉおよびボトム値Ｂ２Ｉとの関係を図１６に示す。図１６中の上側エンベロープ信号Ｐ１とはＲＦ信号Ｓｆの上端の包絡線を意味し、下側エンベロープ信号Ｂ１とはＲＦ信号Ｓｆの下端の包絡線を意味する。なお、エンベロープ信号は、トランジスタやコンデンサを組み合わせた回路で生成できる。内側ＬＰＰが存在するタイミングでプッシュプル信号Ｓｈは上に凸の形状となり、その内側ＬＰＰを二値化してゲート信号ＳＧ２が生成される。内側ＬＰＰによって発生したゲート信号Ｓｇ２のＳｇ２ｓからＳｇ２ｅまでの期間中のＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号Ｐ１および下側エンベロープ信号Ｂ１のそれぞれの上側ピーク値がダイオードやコンデンサ等により構成されたピークホールド回路８１およびボトムホールド回路８３で保持される。ピークホールド回路８１では、ＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号のピーク値Ｐ２Ｉが保持される。そして、ピーク値Ｐ２ＩがパラメータＰ２Ｉとして記憶される。また、ボトムホールド回路８３では、ＲＦ信号Ｓｆの下側エンベロープ信号のボトム値Ｂ２Ｉが保持される。そして、ボトム値Ｂ２ＩがパラメータＢ２Ｉとして記憶される。
【００８９】
ステップＳ７１において、ステップＳ６８で再生した信号の中から、ステップＳ６９での動作と同様に外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含むＲＦ信号Ｓｆのピーク値とボトム値を検出し、ＣＰＵ９内のメモリにピーク値をパラメータＰ２Ｏとして記憶し、ボトム値をパラメータＢ２Ｏとして記憶する。
【００９０】
外側ＬＰＰに対する、プッシュプル信号Ｓｈ、ＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ１、ピーク値Ｐ２Ｏおよびボトム値Ｂ２Ｏとの関係を図１５に示す。図１５中の上側エンベロープ信号Ｐ１とはＲＦ信号Ｓｆの上端の包絡線を意味し、下側エンベロープ信号Ｂ１とはＲＦ信号Ｓｆの下端の包絡線を意味する。外側ＬＰＰが存在するタイミングでプッシュプル信号Ｓｈは下に凸の形状となり、その外側ＬＰＰを二値化してゲート信号ＳＧ１が生成される。外側ＬＰＰによって発生したゲート信号Ｓｇ１のＳｇ１ｓからＳｇ１ｅまでの期間中のＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号Ｐ１および下側エンベロープ信号Ｂ１のそれぞれの下側ピーク値がダイオードやコンデンサ等により構成されたピークホールド回路８１およびボトムホールド回路８３で保持される。ピークホールド回路８１では、ＲＦ信号Ｓｆの上側エンベロープ信号のピーク値Ｐ２Ｏが保持される。そして、ピーク値Ｐ２ＯがパラメータＰ２Ｏとして記憶される。また、ボトムホールド回路８３では、ＲＦ信号Ｓｆの下側エンベロープ信号のボトム値Ｂ２Ｏが保持される。そして、ボトム値Ｂ２ＯがパラメータＢ２Ｏとして記憶される。
【００９１】
ステップＳ７２において、ピーク値変化量ΔＰとして｜Ｐ１−Ｐ２Ｉ｜＋｜Ｐ１−Ｐ２Ｏ｜）をＣＰＵ９において演算し、ＣＰＵ９内のメモリにパラメータΔＰとして記憶する。
【００９２】
ステップＳ７３において、ボトム値変化量ΔＢとして｜Ｂ１−Ｂ２Ｉ｜＋｜Ｂ１−Ｂ２Ｏ｜）をＣＰＵ９において演算し、ＣＰＵ９内のメモリにパラメータΔＢとして記憶する。
【００９３】
ステップＳ７４において、エンベロープ変化量ΔＥとしてΔＰ＋ΔＢをＣＰＵ９において演算し、ＣＰＵ９内のメモリにパラメータΔＥとして記憶する。
【００９４】
ステップＳ７５において、セクタ番号Ｓを一つ増加させて、再生位置が１８番目のセクタになる場合（セクタ番号Ｓが１７の場合）にはステップＳ７６に進み、再生位置が２乃至１６セクタ番目の場合にはステップ６８に進む。
【００９５】
ステップＳ７６において、ステップＳ７４にて演算した１６セクタのΔＥから、ＣＰＵ９において最も小さいパラメータΔＥを比較演算して求め、そのパラメータΔＥに対応するトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定する。
【００９６】
ステップＳ７７において、記録されるべきデータをステップＳ７６で決めた最適トラッキングオフセット値によって光ディスク１に記録される。
【００９７】
ステップＳ７８において、記録されるべきデータがなくなったら終了する。
【００９８】
以上述べてきたように、アドレス信号がＬＰＰとしてランドにあらかじめ刻み込まれている記録ディスクにおいて、光ビーム１２の照射領域内に異なる方向からＬＰＰが含まれる場合にも、ＬＰＰを光ビーム照射領域内の一の方向に含む再生信号の振幅と、ＬＰＰを光ビーム照射領域内の他の方向に含む再生信号の振幅の変動が最も少なくなるように、トラッキングオフセットを変更することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
【００９９】
また、この実施形態によれば、光ピックアップ２を含む光学系のトラッキングバランスがずれているような場合にも、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数をより少なくすることが可能になった。
【０１００】
本実施形態においては、図７および図８で示されるＬＰＰに対する実施形態の構成として図１３で表されるブロック構成を用いて図１４の実施形態を記述したが、図３に示されるＬＰＰに対しても図１３で表されるブロック構成を用いて図１４の実施形態を実施できる。
（４）第４の実施形態
第４の実施形態として、ＥＣＣによって符号化された情報を光ディスク１に情報ピットとして形成し、再生して最適トラッキングオフセット値を求める場合について説明する。
【０１０１】
図１７に第４実施形態の情報記録再生装置のブロック図を示す。図１と共通部分は同様の部材番号を付して説明を省略する。
【０１０２】
情報ピットを介して光ピックアップ２から再生された再生信号Ｓｄは、イコライザー回路７を介し、二値化回路６で二値信号に変換され、ＣＰＵ９内にある８−１６復調部９１で復調される。復調されたデータは、誤り検出訂正部９２によってエラー発生部分が検出される。さらにＣＰＵ９は、エラー発生部分が光ディスク１上のどの部分であるかをＥＣＣ符号から演算する。
【０１０３】
ＬＰＰ検出回路４は外側ＬＰＰ検出回路４１と内側ＬＰＰ検出回路４２から構成される。外側ＬＰＰ検出回路４１は、トラッキングエラー信号からグルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク外周側に存在するＬＰＰを検出する回路であり、内側ＬＰＰ検出回路４２は、グルーブ上に形成される情報ピットに対してディスク内周側に存在するＬＰＰを検出する回路である。
【０１０４】
ＬＰＰ検出回路４で光ビーム１２の照射領域内にＬＰＰがある場合のＬＰＰを検出した時に、ＣＰＵ９は光ビーム１２の反射光にエラーが発生しているか否かを判断する。このように、光ディスク１に記録されたＥＣＣによって符号化された情報ピットを再生し、外側および内側のＬＰＰを検出することにより、ＣＰＵ９はＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合の情報ピットを再生した信号にエラーが発生しているか否かがわかる。
【０１０５】
以下に、特許文献２に示すＬＰＰタイプの場合における、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値を用いて情報ピットを形成し、読み出したときに再生信号をエラーと検出した場合のエラー個数との関係に基づく、実施形態４における測定原理について説明する。
（ａ）測定原理
図１８にトラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値におけるデータエラー数の関係を図示する。
【０１０６】
内側ＬＰＰ欄に表示されたデータエラー数は、図７における情報ピットＴ４と内側ＬＰＰ（ＩＬ１）の位置関係において発生したエラー数である。図１８の各欄は、トラッキングオフセット値（μｍ）を図７における左側から右側に０．０１μｍずつ移動させて情報ピットを形成し、再生して発生したデータエラー数を表わす。トラッキングオフセット値はグルーブトラック間距離内の任意の値を定めることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍずつトラッキングオフセット値を変化させた場合について説明する。トラッキングオフセット値がマイナスの場合は、情報ピットの一部分が内側ＬＰＰ（ＩＬ１）上に形成されるため、ＬＰＰが存在しない情報ピットに対してレベル変動を生じ、データエラーが大きくなる。トラッキングオフセット値がプラスの場合は、情報ピットの形成位置が、グルーブトラックＧ２からランドトラックＬ３側に少しずつ移動する。情報ピットの一部分が内側ＬＰＰ上に形成されてしまうことがなくなるため、データエラーは殆ど生じない。
【０１０７】
外側ＬＰＰ欄に表示されたデータエラー数は、図９における情報ピットＴ５と外側ＬＰＰ（ＯＬ１）の位置関係において発生したエラー数である。トラッキングオフセット値（μｍ）を図９における左側から右側に０．０１μｍずつ移動させたときに、情報ピットを形成し、再生して発生したデータエラー数を表わす。トラッキングオフセット値がマイナスの場合は、内側ＬＰＰとは逆に、情報ピットの形成位置が、グルーブトラックＧ２からランドトラックＬ４側に移動する。情報ピットの一部分が外側ＬＰＰ上に形成されてしまうことがなくなるため、データエラーは殆ど生じない。トラッキングオフセット値がプラスの場合は、情報ピットの一部分が外側ＬＰＰ上に形成されるため、ＬＰＰが存在しない情報ピットに対してレベル変動を生じ、データエラーが大きくなる。
【０１０８】
図１８における、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値におけるデータエラー数の関係を図１９のグラフで示す。
【０１０９】
図１９（ａ）は、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値の場合に外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合の再生信号に発生するデータエラー数を示し、図１９（ｂ）は、トラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値の場合に内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合の再生信号に発生するデータエラー数を示し、図１９（ｃ）は、各トラッキングオフセット値における、内側ＬＰＰおよび外側ＬＰＰに対して発生するデータエラー数の和を示す。
【０１１０】
図１９（ａ）から、外側ＬＰＰに対しては、トラッキングオフセット値が大きくなるにしたがって発生するデータエラー数が大きくなることがわかる。図１９（ｂ）から、内側ＬＰＰに対しては、トラッキングオフセット値が小さくなるにしたがって発生するデータエラー数が大きくなることがわかる。図１９（ｃ）から、トラッキングオフセット値が０．０２μｍのときにデータエラー数の和は２個になる（Ｄ点）。トラッキングオフセット値が０．０１μｍのときと０．０３μｍのときにも、データエラー数の和は２個になる。それらの中間値である０．０２μｍを最適トラッキングオフセット値とする。
（ｂ）実施形態
図２０は、第４実施形態における最適トラッキングオフセット値を求めるフローチャートを示す。
【０１１１】
ステップＳ２１において、最適トラッキングオフセット値の検出を開始する。
【０１１２】
ステップＳ２２において、図１８に示すトラッキングオフセット値とそのトラッキングオフセット値を使用した場合に内側ＬＰＰまたは外側ＬＰＰを光ビーム照射領域Ｓ１に含む場合に発生したデータエラー数の関係（以下トラッキングオフセット参照テーブルと称す。）が作成されているか否かをチェックする。トラッキングオフセット参照テーブルが作成されていない場合にはＳ２３に進み、作成されている場合にはＳ３９に進む。
【０１１３】
ステップＳ３９において、現在のトラッキングオフセット値をＣＰＵ９内にパラメータＴｏとして保存された値から読み込む。トラッキングオフセット値Ｔｏは、情報再生記録装置が光ディスク１からデータを読むとき、またはデータを記録するときにＣＰＵ９内にパラメータＴｏとして保存されている。
【０１１４】
ステップＳ２３に進んだ場合の処理フローを図２１に示す。
【０１１５】
図２１は、トラッキングオフセット参照テーブルを作成するステップＳ２３の内部フローである。
【０１１６】
ステップＳ２４において、トラッキングオフセット参照テーブル作成を開始する。
【０１１７】
ステップＳ２５において、光ピックアップ２が光ディスク１のパワーキャリブレーション領域に移動する。
【０１１８】
ステップＳ２６において、最初のトラッキングオフセット値で記録再生を行うセクタのセクタ番号Ｓを０に設定する。
【０１１９】
トラッキングオフセット値はグルーブトラック間距離内の任意の値を定めることができるが、本実施形態においては例えば０．０１μｍずつトラッキングオフセット値を−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで変化させた場合について説明する。また、情報ピットを形成する光ディスク１上の領域も任意に設定できるが、本実施形態においては、例えば１ＥＣＣブロックを構成する１６セクタが使用される。ＥＣＣブロック数および１ＥＣＣブロックを構成するセクタ数は本実施形態に限定されるものではない。
【０１２０】
１セクタ毎にトラッキングオフセット値を変更して、記録再生を行う。最初のトラッキングオフセット値Ｔｏに−０．０８μｍを設定する。
【０１２１】
ステップＳ２７において、ステップＳ２６で設定したＴｏ値−０．０８μｍをトラッキングエラー信号に加える。この結果、光ピックアップ２はトラッキングエラー信号が０に相当する光ビーム照射位置から０．０８μｍだけ図７に示す外側ＬＰＰ形成方向とは逆の方向に移動する。
【０１２２】
ステップＳ２８において、１セクタに渡ってＥＣＣ符号を伴う８−１６変調後の信号を記録する。
【０１２３】
ステップＳ２９において、セクタ番号Ｓを１増加させ、トラッキングオフセット値Ｔｏを０．０１μｍ増加させる。
【０１２４】
ステップＳ３０において、セクタ番号Ｓが１６であるか否かを判断する。セクタ番号Ｓが１６であれば、ステップＳ３１に進み、セクタ番号Ｓが１６でない場合にはステップＳ２７に戻り、異なるトラッキングオフセット値で次のセクタにＥＣＣ符号を伴う８−１６変調後の信号を記録する。
【０１２５】
ステップＳ３１において、記録された信号を再生し、８−１６復調を行った後に誤り検出訂正を行う。
【０１２６】
ステップＳ３２において、再生を行うセクタ番号Ｓを０に設定する。トラッキングオフセット値Ｔｏにステップ２６で設定されたのと同じ値である−０．０８μｍを設定し、ステップＳ２８にて形成された情報ピットを再生する。
【０１２７】
ステップＳ３３において、１セクタに形成されている情報ピットを再生し、設定されたトラッキングオフセット値Ｔｏにおける光ビーム照射領域内に外側ＬＰＰを含む再生信号に発生したエラー数Ｎ（ｏｕｔ）と光ビーム照射領域内に内側ＬＰＰを含む再生信号に発生したエラー数Ｎ（ｉｎ）を計算する。
【０１２８】
ステップＳ３４において、Ｔｏ値、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）をそれぞれＣＰＵ９内にあるメモリに記憶する。
【０１２９】
ステップＳ３５において、セクタ番号Ｓを１増加させ、トラッキングオフセット値Ｔｏを０．０１μｍ増加させる。
【０１３０】
ステップＳ３６において、セクタ番号Ｓが１６であるか否かを判断する。セクタ番号Ｓが１６であれば、ステップＳ３７に進み、セクタ番号Ｓが１６でない場合にはステップＳ３３に戻り、異なるトラッキングオフセット値で次のセクタに形成された情報ピットを再生する。
【０１３１】
ステップＳ３７において、メモリに記憶された各トラッキングオフセット値Ｔｏに対するＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和を比較し、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和が最小となるトラッキングオフセット値Ｔｏを探し、そのＴｏ値を最適トラッキングオフセット値として設定する。
【０１３２】
ステップＳ３８において、トラッキングオフセット参照テーブル作成処理を終了する。
【０１３３】
ステップＳ３９において、現在設定されているトラッキングオフセット値Ｔｏを読み込む。
【０１３４】
ステップＳ４０において、信号再生を行う。再生された信号を８−１６復調し、誤り検出訂正を行う。
【０１３５】
ステップＳ４１において、ステップＳ４０で誤り検出訂正が行われたデータからＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）とを演算する。
【０１３６】
ステップＳ４２において、ステップＳ４１で演算された１セクタあたりのＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）との和を使用して、Ｓ２３で作成された、または予め作成されたトラッキングオフセット参照テーブルを参照して、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）との和が最小になるオフセットＴｏ値を演算する。すなわち、Ｎ（ｏｕｔ）が０個とＮ（ｉｎ）が５個で、Ｎ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和が５個だった場合に、図１８のトラッキングオフセット参照テーブルをグラフ化した図１９（ａ）乃至（ｃ）から、該当する点を探すと点Ｅが相当する。そのときのトラッキングオフセット値は−０．０１μｍで最適トラッキングオフセット値を示す点Ｄまでの間隔は＋０．０３μｍである。したがって、現在のトラッキングオフセット値に＋０．０３μｍを加えることによってＮ（ｏｕｔ）とＮ（ｉｎ）の和が最も小さい最適トラッキングオフセット値となる。
【０１３７】
図２２にトラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を図示する。図２２で説明するＬＰＰは、特許文献１に示すタイプのＬＰＰである。
【０１３８】
内側ＬＰＰ欄に表示されたデータエラー数は、図３における情報ピットと外側ＬＰＰの位置関係において、図３における左側から右側にトラッキングオフセット値（μｍ）を、本実施形態としてはたとえば、０．０１μｍずつ移動させたときの各トラッキングオフセット値において発生したデータエラー数である。
【０１３９】
トラッキングオフセット値がプラスの場合は、光ビーム１２の照射する領域が図３において左側へ移動する。トラッキングオフセット値がマイナス側に大きくなると、ＬＰＰの内側のランドのグルーブへのせり出しが大きくなるのと等価になり、ＬＰＰ位置に形成される情報ピットが部分的に削られてしまうことになる。このため、ＬＰＰが存在しない位置に形成される情報ピットとのレベル変動が生じ、その結果データエラー数が増加する。反対にトラッキングオフセット値がマイナスの場合は、光ビーム１２の照射する領域が図３において右側へ移動する。トラッキングオフセット値がプラス側に大きくなると、情報ピットの一部分がＬＰＰ上に形成されるため、ＬＰＰが存在しない部分の情報ピットに対してレベル変動を生じ、データエラーが大きくなる。
【０１４０】
図２２における、トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を図２３のグラフで示す。
【０１４１】
図２３（ａ）は、設定されたトラッキングオフセット値に対して光ビーム１２の照射する領域内に外側ＬＰＰを含んだ場合に発生したデータエラー数を示し、図２３（ｂ）は、設定されたトラッキングオフセット値に対して光ビーム１２の照射する領域内に内側ＬＰＰを含んだ場合に発生したデータエラー数を示し、図２３（ｃ）は、図２３（ａ）および図２３（ｂ）のデータエラー数の和を示す。
【０１４２】
図２３（ａ）から、外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む場合には、トラッキングオフセット値がプラス方向またはマイナス方向に大きくなるにしたがってデータエラー数が大きくなることがわかる。図１９（ｂ）から、内側ＬＰＰに対しては、トラッキングオフセット値がマイナス側に大きくなった場合にデータエラー数が大きくなることがわかる。このタイプのＬＰＰは、グルーブに近い位置に形成されているので、内側ＬＰＰはグルーブから離れているためである。図１９（ｃ）から、トラッキングオフセット値が０．０２μｍのときにデータエラー数の和は０個になる。トラッキングオフセット値が０．０１μｍのときと０．０３μｍのときにも、データエラー数の和は０個になる。それらの中間値である０．０２μｍを最適トラッキングオフセット値とする。
【０１４３】
以上説明したように、ＥＣＣを用いて光ビーム１２の照射領域内にＬＰＰを含む場合の再生信号のエラー発生個数を、トラッキングオフセット値を変更しながら、各トラッキングオフセット値において計算することにより、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含む再生信号のエラー発生数の最も少ないトラッキングオフセット値を検索することが可能になった。
【０１４４】
次に、最適トラッキングオフセット値を検出する場所が、リンキング領域である場合について、図２４および図２５を用いて説明する。
【０１４５】
リンキング領域とは、記録すべき連続した情報を光ディスク１に記録した記録済み領域の後に、次の記録すべき情報が記録されるまでに光ディスク１上に設けることが定められた領域のことである。この領域の長さは任意に設定することができるが、本実施形態においては３２ｋバイト（＝１ＥＣＣ）を使用した。
【０１４６】
図２４は、リンキング領域においてＥＣＣを利用した最適トラッキングオフセット値を検出して記録されるべきデータが記録されることを示すフローチャート図である。
【０１４７】
ステップＳ４４において、最適トラッキングオフセット値の検出とデータの記録を開始する。
【０１４８】
ステップＳ４５において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域へ移動させる。
【０１４９】
ステップＳ４６において、パワーキャリブレーション領域において、光ピックアップ２から照射する光ビーム１２の強度の最適値を決定する。なお、ディスク装着時などにおいて、パワーキャリブレーションを完了している場合、ステップＳ４５とＳ４６は不要である。
【０１５０】
ステップＳ４７において、ステップＳ４６で求めた最適パワーを情報ピットが記録されるべきパワーとして設定する。
【０１５１】
ステップＳ４８において、リンキング領域に記録された１６トラッキングオフセットステップのうちどのステップにおいて、内側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域に含む場合に発生するエラー数と外側ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域に含む場合に発生するエラー数の和が最小になったかを計算する。
【０１５２】
ステップＳ４９において、ステップＳ４８においてエラー発生個数が最小になったトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定し設定する。
【０１５３】
ステップＳ５０において、ステップＳ４９で決定したトラッキングオフセット値を使用して記録されるべきデータを光ディスク１上のリンキング領域に続く未記録領域に記録する。
【０１５４】
ステップＳ５１において、他のリンキング領域でもう一度最適トラッキングオフセット値を探すための記録をするか否かを判定する。最適トラッキングオフセット値を探すための記録をしない場合には、ステップＳ５３に進み、最適トラッキングオフセット値を探す記録をする場合には、ステップＳ５２に進む。
【０１５５】
ステップＳ５２において、ステップＳ５０で実行された最終記録済み領域の次の未記録領域に光ピックアップ２を移動させ、ステップＳ４６で求めた最適パワーを使用して、トラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで１６段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。このとき１トラッキングオフセット値につき、どの程度の距離に渡って情報ピットを形成するかは任意であるが、ここではたとえば１セクタに渡って情報ピットを形成する。すなわち、トラッキングオフセット値を−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで０．０１μｍステップで変化させ、任意の信号パターンに基づきＥＣＣ符号化された情報を光ディスク１の１ＥＣＣブロックに記録する。このとき１トラッキングオフセット値につき、１セクタを記録する。したがって、−０．０８μｍから＋０．０７μｍの１６トラッキングオフセットステップに対して、１６セクタが使用される。１６セクタで１ＥＣＣブロックを構成するので、形成された情報ピットを再生した再生信号を復号化した後に誤りを検出することができる。
【０１５６】
ステップＳ５３では、記録すべきデータが無くなったものとして最適トラッキングオフセット値を使用した記録を終了する。
【０１５７】
図２５は、ＲＦ信号の振幅値変化を利用したリンキング領域における最適トラッキングオフセット値を検出して記録されるべきデータが記録されることを示すフローチャート図である。
【０１５８】
ステップＳ５４において、最適トラッキングオフセット値の検出とデータの記録を開始する。
【０１５９】
ステップＳ５５において、光ピックアップ２をパワーキャリブレーション領域へ移動させる。
【０１６０】
ステップＳ５６において、パワーキャリブレーション領域において、光ピックアップ２から照射する光のパワーの最適値を決定する。なお、ディスク装着時などにおいて、パワーキャリブレーションを完了している場合、ステップＳ５５とＳ５６は不要である。
【０１６１】
ステップＳ５７において、ステップＳ５６で求めた最適パワーを情報ピットが記録されるべきパワーとして設定する。
【０１６２】
ステップＳ５８において、リンキング領域に記録された１６個のトラッキングオフセットステップのうちどのステップにおいて、内側および外側のＬＰＰの影響による再生信号振幅のボトム値が、ＬＰＰを光ビーム１２の照射領域内に含まない再生信号振幅のボトム値と比較して、変化量が最小になったかを計算する。
【０１６３】
ステップＳ５９において、ステップＳ５８において再生信号振幅のボトム値が最小になったトラッキングオフセット値を最適トラッキングオフセット値として決定し設定する。
【０１６４】
ステップＳ６０において、ステップＳ５９で決定したトラッキングオフセット値を使用して記録されるべきデータを光ディスク１上のリンキング領域に続く未記録領域に記録する。
【０１６５】
ステップＳ６１において、他のリンキング領域でもう一度最適トラッキングオフセット値を探すための記録をするか否かを判定する。最適トラッキングオフセット値を探すための記録をしない場合には、ステップＳ６３に進み、最適トラッキングオフセット値を探す記録をする場合には、ステップＳ６２に進む。
【０１６６】
ステップＳ６２において、ステップＳ６０で実行された記録済み領域の次の未記録領域に光ピックアップ２を移動させ、ステップＳ５６で求めた最適パワーを使用して、トラッキングオフセット値を変化させつつ連続した複数のセクタに渡って、情報ピットを形成する。トラッキングオフセット値を変化させる範囲はグルーブトラック間の範囲で所定の間隔で変化させることができるが、ここではたとえば０．０１μｍずつ−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで１６段階にトラッキングオフセット値を変化させて情報ピットを形成する。このとき１トラッキングオフセット値につき、どの程度の距離に渡って情報ピットを形成するかは任意であるが、ここではたとえば１セクタに渡って情報ピットを形成する。すなわち、トラッキングオフセット値を−０．０８μｍから＋０．０７μｍまで０．０１μｍステップで変化させ、任意の信号パターンに基づきＥＣＣ符号化された情報を光ディスク１の１ＥＣＣブロックに記録する。このとき１トラッキングオフセット値につき、１セクタを記録する。したがって、−０．０８μｍから＋０．０７μｍの１６トラッキングオフセットステップに対して、１６セクタが使用される。１６セクタで１ＥＣＣブロックを構成するので、形成された情報ピットを再生した再生信号を復号化した後に誤りを検出することができる。
【０１６７】
ステップＳ６３において、記録すべきデータが無くなったものとして最適トラッキングオフセット値を使用した記録を終了する。
【０１６８】
以上述べたように、光ディスク１のリンキング領域において最適トラッキングオフセット値を検出することにより、ユーザに対して最適トラッキングオフセット値検出のための待ち時間を意識させずに、最適トラッキングオフセット値を検出することが可能である。
【０１６９】
本構成によるトラッキングサーボ制御装置によれば、光ビームの照射範囲内にＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ビームの光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７０】
また、前記再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号の振幅の変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いることにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７１】
さらに、前記再生信号のボトム値と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号のボトム値との変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７２】
さらに、前記再生信号のボトム値およびピーク値と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号のボトム値およびピーク値との変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号の振幅が変化しない場合におけるエラー発生数を最も小さくすることができるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７３】
さらに、前記再生信号に発生するエラー個数と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号に発生するエラー個数との和のエラー個数が最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いることにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７４】
本構成によるトラッキングサーボ制御装置によれば、光ビームの照射範囲内に、情報ピットと一の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７５】
また、前記再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号との振幅の変化を最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いる。このことにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７６】
さらに、前記再生信号のピーク値と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号のピーク値との変化量の平均が、光ビームの照射範囲内にＬＰＰを含まない場合における再生信号のピーク値に対して最も小さくなるようにトラッキングオフセット値を設定する。このことにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７７】
さらに、前記再生信号のピーク値およびボトム値と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号のピーク値およびボトム値との変化量の平均値を、光ビームの照射範囲内にＬＰＰを含まない場合における再生信号のピーク値およびボトム値に対して最も小さくなるようにトラッキングオフセット値を設定することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７８】
さらに、前記再生信号に発生するエラー数と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号に発生するエラー数との和のエラー数が最も少なくなるようにトラッキングオフセット値を変更し、そのトラッキングオフセット値を用いる。このことによって、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御装置を構成することが可能となる。
【０１７９】
本構成のトラッキングサーボ制御装置によれば、最適トラッキングオフセット値の検出を高速に行うことができる。
【０１８０】
また、最適トラッキングオフセット値の検出時間をユーザに意識させることなく最適トラッキングオフセットを行うことができる。
【０１８１】
さらに、最適トラッキングオフセット値の検出をトラッキングサーボ制御装置の起動時に行うことができる。また、追記型媒体か記録型媒体かをとわず、最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８２】
さらに、最適トラッキングオフセット値の検出にＥＣＣを用いることができ、より簡単な構成で最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８３】
さらに、情報ピットの形成パターンが一定であるため容易に最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８４】
本構成によれば、情報記録専用装置また情報記録再生装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行うことができる。
【０１８５】
本願の方法によれば、光ビームの照射範囲内にＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ビームの光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御方法を提供することが可能となる。
【０１８６】
本願の方法によれば、光ビームの照射範囲内に、情報ピットと一の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御方法を提供することが可能となる。
【０１８７】
本願の方法によれば、情報記録専用装置また情報記録再生装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行う方法を提供することができる。
【０１８８】
本願のプログラムによれば、光ビームの照射範囲内にＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ビームの光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、照射範囲外にＬＰＰが形成されている場合における反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御プログラムを提供することが可能となる。
【０１８９】
本願のプログラムによれば、光ビームの照射範囲内に、情報ピットと一の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号と、その他の方向に隣接するＬＰＰの少なくとも一部が形成されている場合における光ディスクからの反射光に基づく再生信号とを用いてトラッキングオフセット値を変更することにより、再生信号のエラー発生数が最も小さくなるトラッキングサーボ制御方法を提供することが可能となる。
【０１９０】
本願のプログラムによれば、情報再生専用装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行うプログラムを提供することができる。
【０１９１】
本願のプログラムによれば、情報記録専用装置また情報記録再生装置においても、最適トラッキングオフセット値の検出を行うプログラムを提供することができる。
【０１９２】
本願のプログラムを、フレキシブルディスク等の情報記録媒体に予め記録しておき、或いはインターネット等のネットワークを介して予め取得して記録しておき、これを汎用のマイクロコンピュータ等により読み出し実行することにより、当該汎用のマイクロコンピュータ等を実施形態にかかわるマイコン９として機能させることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態の情報記録再生装置をブロック図で示した図である。
【図２】ＲＦ信号波形の模式図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図３】光ビーム照射領域とＬＰＰとの位置関係をあらわす図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図４】ＲＦ変化量とＰＩ（インナーパリティ）エラーの個数の関係を示す図である。
【図５】最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図６】高速最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図７】ＬＰＰと光ビーム照射領域との位置関係を示す図である。
【図８】トラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図９】ＬＰＰと光ビーム照射領域との位置関係を示す図である。
【図１０】トラッキングオフセット値とＲＦ信号波形との関係を示す図である。（ａ）はトラッキングオフセット値が−０．０８６μｍの場合、（ｂ）はトラッキングオフセット値が０μｍの場合、（ｃ）はトラッキングオフセット値が＋０．０８６μｍの場合をあらわす。
【図１１】ＲＦ変化量とＰＩエラーの個数との関係を示す図である。
【図１２】トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図１３】第３実施形態の情報記録再生装置のブロックを示す図である。
【図１４】第３実施形態の最適トラッキングオフセット値検出フローチャートを示す図である。
【図１５】第３実施形態の外側ＬＰＰにおけるＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ１、ピーク値およびボトム値との関係を示す図である。
【図１６】第３実施形態の内側ＬＰＰにおけるＲＦ信号Ｓｆ、ゲート信号Ｓｇ２、ピーク値およびボトム値との関係を示す図である。
【図１７】最適トラッキングオフセット値検出ブロックを示す図である。
【図１８】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示す図である。
【図１９】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示す図である。（ａ）は内側ＬＰＰの場合、（ｂ）は外側ＬＰＰの場合、（ｃ）は内側ＬＰＰと外側ＬＰＰの合計のエラー数をあらわす。
【図２０】第４実施形態における最適トラッキングオフセット値を求めるフローチャートを示す図である。
【図２１】トラッキングオフセット参照テーブルを作成するフローチャートを示す図である。
【図２２】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示す図である。
【図２３】トラッキングオフセット値とデータエラー数の関係を示すグラフである。（ａ）は内側ＬＰＰの場合、（ｂ）は外側ＬＰＰの場合、（ｃ）は内側ＬＰＰと外側ＬＰＰの合計のエラー数をあらわす。
【図２４】最適トラッキングオフセット値の検出をエラー個数に基づき、リンキング領域で行うフローチャートを示す図である。
【図２５】最適トラッキングオフセット値の検出を振幅に基づき、リンキング領域で行うフローチャートを示す図である。
【符号の説明】
１：光ディスク
２：光ピックアップ
３：ＲＦ増幅回路
４：ＬＰＰ検出回路
５：ゲート回路
６：二値化回路
７：イコライザー回路
８：ＲＦ振幅測定回路
９：ＣＰＵ
１０：トラッキングサーボ回路
１１：アクチュエータドライブ回路
４１：外側ＬＰＰ検出回路
４２：内側ＬＰＰ検出回路
８１、８３：ピークホールド回路
８２、８４：Ａ／Ｄ変換回路
９１：８−１６復調部
９２：誤り検出訂正部
Claims (19)
- グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置において、
前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段と、
前記光ビームの照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段と、
前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段と
を備えることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段は、前記第１再生信号の振幅値と前記第２再生信号の振幅値との差が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１または２のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段は、前記第１再生信号の下側ピーク値と前記第２再生信号の下側ピーク値との差が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至３のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段は、前記第１再生信号の上側ピーク値と前記第２再生信号の上側ピーク値との差が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至４のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段は、前記第１再生信号から得られた情報の誤り個数と前記第２再生信号から得られた情報の誤り個数とを加算した値が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置において、
前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットと一の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段と、
前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットの他の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段と、
前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段と、
を備えることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項６に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段は、前記第１再生信号の振幅値と前記第２再生信号の振幅値との差が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項６または７に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における当該光ビームの当該記録媒体からの反射光に基づいて第３再生信号を生成する第３生成手段を更に備え、
前記制御手段は、前記第３再生信号の上側ピーク値と、前記第１再生信号の上側ピーク値と前記第２再生信号の上側ピーク値との平均値と、の差が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項６または７に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における当該光ビームの当該記録媒体からの反射光に基づいて第３再生信号を生成する第３生成手段を更に備え、
前記演算手段は、前記第３再生信号の下側ピーク値と、前記第１再生信号の下側ピーク値と前記第２再生信号の下側ピーク値との平均値と、の差の値が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項８に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段は、前記第３再生信号の下側ピーク値と、前記第１再生信号の下側ピーク値と前記第２再生信号の下側ピーク値との平均値と、の差が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項６乃至１０のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段は、前記第１再生信号から得られたデータの誤り個数と前記第２再生信号から得られたデータの誤り個数とを加算した値が最小になるように、前記オフセット値を演算することを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至１１のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段による前記オフセット値は、前記情報ピットが形成されるべき連続した領域に形成された前記情報ピットを用いて演算されることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至１２のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段による前記オフセット値は、前記記録媒体のリンキング領域に形成された前記情報ピットを用いて演算されることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至１３のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段による前記オフセット値は、前記光ビームの光量を調節するために予め定められた領域に形成された前記情報ピットを用いて演算されることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至１４のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記演算手段による前記オフセット値は、誤り検出訂正符号によって、誤り検出訂正が行われる前記情報ピットが形成される記録媒体の一領域に形成された前記情報ピットを用いて演算されることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至１５のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記情報ピットの形成パターンは一定であることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - 請求項１乃至１６のいずれか一項に記載のトラッキングサーボ制御装置において、
前記情報ピットは、誤り検出訂正符号を伴って記録された情報の記録に用いられた情報ピットであり、前記情報ピットの前記記録媒体上の位置は、前記誤り検出訂正符号によって特定されることを特徴とするトラッキングサーボ制御装置。 - グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置に含まれるコンピュータを、
前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段、
前記光ビームの照射範囲外に前記プリピットが形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段、及び、
前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段、
として機能させることを特徴とするトラッキングサーボ制御用プログラム。 - グルーブトラックとプリピットとが予め形成された記録媒体上の当該グルーブトラック上に光ビームを照射するためのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御装置に含まれるコンピュータを、
前記グルーブトラック上への前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットと一の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第１再生信号を生成する第１生成手段、
前記光ビームの照射範囲内に、前記情報ピットの他の方向に隣接する前記プリピットの少なくとも一部が形成されている場合における前記記録媒体からの反射光に基づいて第２再生信号を生成する第２生成手段、
前記生成された第１再生信号及び第２再生信号に基づいて、前記トラッキングサーボ制御におけるオフセット値を演算する演算手段、
として機能させることを特徴とするトラッキングサーボ制御用プログラム。
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