CN1449561A - 光学头 - Google Patents

Abstract

光盘由于在其半径方向倾斜时发生的彗形象差的影响引起跟踪信号产生相位偏移，使跟踪控制的精度减低。在光学头中设置：集光于光盘的物镜4、收受从光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置8、从受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置9、以及使入射到受光装置8的反射光束中、用于检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测用光束的中央部的领域的光量衰减的光学装置6。

Description

光学头

技术领域

本发明涉及运用光学装置在光盘等信息记录媒体上进行信息记录或再生的光学头的跟踪控制技术。

本发明还涉及检测光盘相对于物镜等的集光装置的光轴的倾斜度的光盘倾斜度检测技术。

背景技术

对于光盘用的光学头，如何使光点在信息磁道的中心正确跟随的跟踪控制的精度是重要环节。如果这一精度不好，可能会导致记录时消去相邻的信息磁道的信号，增大串音，信息不能正确再生等重大的故障。

过去，作为跟踪误差信号检测方式，一般采用通常称为3束跟踪方式的方式。该方式的光学头，在构成上，除了形成进行信息磁道的记录或再生的主光束，还形成2束辅助光束，使得发自集聚于光盘的各光点的反射光能分别受光。

图38是用来说明以前述3束跟踪方式的光学头形成于光盘上的光点的图。100及102表示2束辅助光束的光点，101表示主光束的光点，103表示信息磁道。前述辅助光束的光点100及102，相对着前述主光束的光点101，成垂直方向，等距离，例如各隔开1/4磁道地形成在信息磁道103上。

来自各光点的反射光通过信息磁道进行强度调制，被检测的2个辅助光束的信号是与主光束的信号隔开1/4磁道的相位反向偏移的信号。前述3束跟踪方式的光学头，在构成上能根据这2个辅助光束的信号差检测跟踪误差信号。

此外，如文献“光盘技术”(无线电技术社，1999年2月10日发行)的93至96页表示的那样，称为复合·连续·跟踪方式，复合·摆动·跟踪方式及取样·伺服·跟踪方式的跟踪误差信号检测方法都已经为人熟知。

这些方式，对于在信息磁道上预先形成坑槽的、形成齿形标记或镜面部的光盘来说，以往的第1及第2方式，是利用前述齿形标记或镜面部检测的信号对所谓的推挽方式的跟踪误差信号中产生的偏移进行补正的方式，以往的第3方式，是以齿形标记检测跟踪误差信号的方式。又，前述文献“光盘技术”(无线电技术社，1999年2月10日发行)的全部内容，在这里被完整原样地引用(参照)和综合。

首先，关于以往的第1方式、复合·连续·跟踪方式，用图作进一步说明。图39是用来说明形成于光盘的信息磁道的前述镜面部的配置的图，104表示形成记录地址及信息等的坑槽及导向槽的信息领域，105表示形成于一连串的前述信息领域间的镜面部，106表示各信息磁道的中心线。

对于这样的光盘的光学头，以物镜集光，形成光点，再将发自该光点的反射光束以平行于信息磁道的分割线一分为二受光，在构成上能够根据检测的各受光信号的差检测跟踪误差信号。跟踪误差信号，由推挽方式得到，所以，由于物镜的光轴偏移导致跟踪误差信号发生偏移，这个偏移，是与光点通过前述镜面部时的跟踪误差信号的值对应的量。光学头，在光点通过导向槽时检测跟踪误差信号，在通过镜面部时检测该偏移，在构成上能补正跟踪误差信号的偏移。

下面，用图对前述以往的第2及第3方式作进一步说明。图40是说明前述齿形标记的配置的图。107是第1坑槽，108是第2坑槽，这一对构成前述齿形标记。它们距离信息磁道的接线方向规定距离，被配置在距离信息磁道中心、与信息磁道的垂直方向上，且等距离、在反方向有偏移。109是记录地址或信息等的信息领域，110是信息磁道的中心线，箭头111是光点的扫描路线1，箭头112是扫描路线2。

图41是用来说明检测光点通过齿形标记时的反射光量的信号波形的图，113是前述扫描路线1，114是前述扫描路线2，115分别显示沿信息磁道中心线的扫描路线的信号波形。记作位置A及B的横轴上的点分别表示前述第1及第2坑槽的位置，图中的记号VA，VB是在这些位置的取样同步信号的值。

这些信号值，由光点及齿形标记的相对位置决定，物镜的光轴偏移的影响不大。前述以往的第2方式的光学头，跟踪误差信号以推挽方式检测，可通过将前述信号VA与前述信号VB的差和跟踪误差信号作比较，检测跟踪误差信号的偏移，进行补正。又，前述以往的第3方式的光学头，可根据前述信号VA与前述信号VB的差检测跟踪误差信号。

下面，对具有以以往技术构成的光盘倾斜度检测装置的光学头进行说明。在用光学头将信息记录或再生于光盘时，最好使物镜的光轴与光盘面垂直，如光盘倾斜，发生彗形象差等象差，集聚于光盘的光点劣化。这个光盘的倾斜，历来可用设置在光学头的专用的光盘倾斜度检测器检测。但是，随着光学头的小型化，有时安置前述专用检测器的地方都没有，因此，在光学头的光学***中组装光盘倾斜度检测装置的构成被作为课题提了出来。

作为一例，对日本专利特许公开公报1995年-141673号中表示的以往的技术进行说明。又，特许公开公报1995年-141673号的全部内容，在这里被完整原样地引用(参照)和综合。

图42是表示以往的技术的光盘倾斜度检测装置的构成图。1101是光盘，1102是物镜，1103是受光透镜，1104是光的分路单元，1104a及1104b是微小棱镜，1105a，1105b1106a，1106b是受光单元，1107及1108是加法运算放大器，1109是差分放大器。

具有这样构成的光盘倾斜度检测装置的动作如下。由光盘1101反射的光束，经物镜1102，受光透镜1103，将光入射到分路光的单元1104。入射到单元1104的光束内，入射到形成微小棱镜1104a及1104b的2微小领域的光，偏向于受光单元1106a及1106b，被分别受光，入射到前述2微小领域以外领域的光，照样透过、入射到单元1105a及1105b，在这里，光束被分割成2部分。由各受光单元检测的信号，通过加法运算放大器1107，1108及差分放大器1109进行演算，检测光盘倾斜度Trad。

各受光单元检测的信号，如用各受光单元名代用，光盘倾斜度Trad可用下式演算检测：

(式1)

Trad＝1105a-1105b-(1106a-1106b)

图43是说明分路光的单元1104的图，表示单元1104的矩形内部的圆1110表示入射光束的外形。微小棱镜1104a，1104b，如图所示，是夹着光束中心对称地配置于左右(与信息磁道垂直的方向)两面的微小领域。又，图中的虚线，表示光束通过受光单元1105a、1105b及1106a、1106b的情形，入射到受光单元1105a及1105b的光束，以该分界线在与信息磁道平行的方向被一分为二。因此，按照(式1)进行的光盘倾斜度Trad的检测，就是将前述2微小领域中检测的推挽信号、与前述微小领域以外的领域中检测的推挽信号的大小进行比较。

图44(a)至(c)是表示入射到分路光的单元1104的光束的光强度分布的图，图44(a)是没有光盘倾斜时的图，图44(b)及44(c)是光盘在其半径方向(含光盘法线及物镜的光轴的平面与信息磁道的接线垂直的那样的倾斜)上有倾斜时的图。倾斜的方向以图44(b)为正方向，以图44(c)为负方向。图44(a)的斜线部，表示在光盘的信息磁道被衍射+1次及-1次衍射光的光束和0次衍射光的光束重合的领域。如果0次及1次衍射光的波面的相位变化，这个领域就是由于干涉导致光强度变化的领域。

此外，图44(b)及图44(c)中表示的左右非对称的斜线部的形状，表示光强度分布的非对称性。这是由于光盘倾斜引起的彗形象差造成的波面相位变化对信息磁道方向呈现非对称的缘故，所以，0次与+1次及-1次衍射光的干涉引起光强度发生变化，对应于光盘倾斜的方向，光强度分布上的非对称的明暗就表现出来了。

以往的技术，重视以上那样的按照光盘倾斜产生的光强度分布的左右非对称性，把只提取检测这种非对称性表现最明显的前述2微小领域的光的推挽信号(1106a-1106b)、与以该领域以外领域的光检测的推挽信号(1105a-1105b)的大小进行比较，检测光盘倾斜度Trad。

如上所述，以往的跟踪误差信号检测方式可分成2类。一是利用来自光点的反射光量，根据光点与信息磁道、或光盘上形成的标记的相对位置发生变化，检测跟踪误差信号的方式。另一是以推挽方式检测跟踪误差信号，同时检测该跟踪误差信号的偏移，并补正跟踪误差信号本身的方式(复合·连续·跟踪方式，复合·摆动·跟踪方式)。这2种检测方式，都具有物镜的光轴偏移等引起的跟踪误差信号的偏移小的优点。

但是，对于光学头而言，光盘向其半径发现倾斜时会发生彗形象差，所以，相对于光点与信息磁道的相对位置，由于来自光点的反射光量的变化及推挽信号的变化导致相位偏移，跟踪误差信号也会发生同样的相位偏移。因此，按照前述以往的跟踪误差信号检测方式，在前述光盘倾斜的场合，在信息磁道中心***进行跟踪控制就成了课题。

此外，前述的以往的技术，具有以平行于信息磁道的分割线将光束分割成2部分，检测推挽信号，再检测光盘倾斜度的构成，带有不能很好检测推挽信号的信息磁道的光盘，例如，对于具有槽深度为1/4波长的信息磁道的光盘，存在不能以高精度检测光盘倾斜度的课题。

此外，前述微小领域，只作为光盘上小于被衍射0次及+1次及-1次衍射光的光束重合领域的小领域，如物镜在垂直于信息磁道的方向上移动，被检测的光束的位置也移动，所以，出现不能正确反映光盘倾斜度的光强度分布的领域入射到前述微小领域、使光盘倾斜度检测精度劣化的课题。

发明内容

本发明正是考虑到前述以往存在的课题，目的在于提供在光盘对光学头倾斜时也具有在信息磁道中心正确进行跟踪控制的跟踪误差信号检测装置的光学头。

此外，本发明的目的，在于提供这样的光学头：光学头对光盘进行原来的动作，例如由于使用跟踪误差信号检测等的信号检测方法检测光盘倾斜度，实现检测精度的提高及稳定化，且，包括不易受物镜移动的影响的光盘倾斜度检测装置。

为达到前述的目的，本发明第1方面的光学头，用于将信息记录到光盘、及/或用于再生写入所述光盘上的信息，包括

集光于所述光盘的集光装置，

收受从所述光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置，以及

从所述受光信号，检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置；

设置使入射到所述受光装置的所述反射光束中、用于跟踪误差信号检测的跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的光量衰减的衰减装置。

此外，本发明第2方面的光学头，是在本发明第1方面的光学头中，

所述衰减装置，具有使所述跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的光强度减低的减光领域，以及使剩余领域的光强度不减低的非减光领域，

所述减光领域，含有所述跟踪误差信号检测用光束的中心点，并呈现以与所述光盘的信息磁道垂直的方向为长边的实质上长方形。

此外，本发明第3方面的光学头，是在本发明第2方面的光学头中，

所述减光领域，是以能使光的透过率减低的物质形成的薄膜。

此外，本发明第4方面的光学头，是在本发明第2方面的光学头中，

所述减光领域，是形成衍射栅的领域。

此外，本发明第5方面的光学头，是在本发明第2方面的光学头中，

所述长边，比入射到所述受光装置的所述反射光束的直径长。

此外，本发明第6方面的光学头，用于将信息记录到光盘、及/或用于再生写入所述光盘上的信息，包括

集光于所述光盘的集光装置，

收受从所述光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置，以及

从所述受光信号检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置；

所述受光装置，使对应于所述受光信号的各成分中、用于所述跟踪误差信号检测的跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的成分的增益衰减。

此外，本发明第7方面的光学头，是在本发明第6方面的光学头中，

通过设置使入射到所述受光装置的所述反射光束中、所述跟踪误差信号检测用光束与别的光束分路的分路装置，使对应于所述跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的成分的增益衰减。

此外，本发明第8方面的光学头，是在本发明第6方面的光学头中，

所述受光装置，具有被分割为使所述反射光束的、所述中央部的领域受光的第1子受光领域，以及使所述反射光束的剩余部分的领域受光的第2子受光领域的受光单元，

所述第1子受光领域，含有所述跟踪误差信号检测用光束的中心点，并呈现以与所述光盘的信息磁道垂直的方向为长边的实质上长方形。

此外，本发明第9方面的光学头，是在本发明第8方面的光学头中，

所述长边，比入射到所述受光装置的所述反射光束的直径长。

此外，本发明第10方面的光学头，是在本发明第1至9方面中任一项的光学头中，

所述集光装置，可集聚用作信息记录及/或再生的主光束、以及作为所述跟踪误差信号检测用光束的至少2束辅助光束，

所述受光装置，包括收受所述主光束的部分，以及收受所述至少2束辅助光束的部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以所述至少2束辅助光束相对于所述受光信号的差为基础，检测所述跟踪误差信号。

此外，本发明第11方面的光学头，是在本发明第1至9方面中任一项的光学头中，

所述光盘，具有

记录信息的信息磁道，及

离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，

根据属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述受光信号，与属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述受光信号的差检测所述跟踪误差信号。

此外，本发明第12方面的光学头，是在本发明第1至9方面中任一项的光学头中，

所述受光装置，以平行于所述光盘的磁道的延伸方向的轴为界被至少分成2部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以从所述一分为二的其中一方的受光装置收受的所述跟踪误差信号检测用光束中得到的第1子受光信号，与从所述一分为二的另一方的受光装置收受的所述跟踪误差信号检测用光束中得到的第2子受光信号的差为基础，检测所述跟踪误差信号。

此外，本发明第13方面的光学头，是在本发明第12方面的光学头中，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的所述导向槽断续地切断一部分，其间离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，根据属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号，

利用所述第1子受光信号、及所述第2子受光信号、及所述跟踪误差信号，检测所述跟踪误差信号的偏移。

此外，本发明第14方面的光学头，是在本发明第12方面的光学头中，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的、所述导向槽断续地切断一部分设置的镜面部；

所述跟踪误差信号检测装置，根据属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述信息磁道的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述信息磁道的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号，

根据从所述镜面部的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述镜面部的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号的偏移。

此外，本发明第15方面的用于将信息记录到光盘、及/或用于再生写入所述光盘的信息，包括

集光于所述光盘的集光装置，

收受从所述光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置，

从所述受光信号检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置，以及

以所述跟踪误差信号为基础，检测所述光盘相对所述集光装置的光轴的倾斜度的光盘倾斜度检测装置。

此外，本发明第16方面的光学头，是在本发明第15方面的光学头中，

所述受光装置，具有被分割为使所述反射光束的、中央部的领域受光的第1子受光领域，以及使所述反射光束的剩余部分的领域受光的第2子受光领域的受光单元，

所述第1子受光领域，是含有所述反射光束的中心点的实质上长方形，

所述跟踪误差信号检测装置，从由所述第1子受光领域得到的受光信号中检测第1子跟踪误差信号，从由所述第2子受光领域得到的受光信号中检测第2子跟踪误差信号，

所述光盘倾斜度检测装置，通过比较所述第1子跟踪误差信号与所述第2子跟踪误差信号的相位，检测所述光盘的倾斜度。

此外，本发明第17方面的光学头，是在本发明第16方面的光学头中，

所述第1子受光领域的实质上长方形，以垂直于所述光盘的信息磁道的方向为长边。

此外，本发明第18方面的光学头，是在本发明第17方面的光学头中，

所述长边，比所述反射光束的直径长。

此外，本发明第19方面的光学头，是在本发明第18方面的光学头中，

所述短边，比所述反射光束的直径短。

此外，本发明第20方面的光学头，是在本发明第16至19方面中任一项的光学头中，

所述集光装置，可集聚用作信息记录及/或再生的主光束、以及作为所述跟踪误差信号检测用的至少2束辅助光束，

所述受光装置，包括收受所述主光束的部分，以及收受所述至少2束辅助光束的部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以所述至少2束辅助光束相对于所述受光信号的差为基础，检测所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号。

此外，本发明第21方面的光学头，是在本发明第16至19方面中任一项的光学头中，

所述光盘，具有

记录信息的信息磁道，及

离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，根据从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述受光信号，与从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述受光信号的差检测所述第1子跟踪误差信号及第2子跟踪误差信号。

此外，本发明第22方面的光学头，是在本发明第16至19方面中任一项的光学头中，

所述受光装置，以平行于所述光盘的磁道的延伸方向的轴为界被至少分成2部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以所述一分为二的其中一方的受光装置的第1子受光信号，与所述一分为二的另一方的受光装置的第2子受光信号的差为基础检测所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号。

此外，本发明第23方面的光学头，是在本发明第22方面的光学头中，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的所述导向槽断续地切断一部分，其间离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，根据从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号，

利用所述第1子受光信号、及所述第2子受光信号、及所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号，检测所述跟踪误差信号的偏移。

此外，本发明第24方面的光学头，是在本发明第22方面的光学头中，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的、所述导向槽断续地切断一部分设置的镜面部；

所述跟踪误差信号检测装置，根据从所述信息磁道的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述信息磁道的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述第1子跟踪误差信号及第2子跟踪误差信号，

根据从所述镜面部的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述镜面部的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号的偏移。

此外，本发明第25方面的光学头，是在本发明第16至19方面中任一项的光学头中，

包括利用所述第2跟踪误差信号，或所述第1及所述第2跟踪误差信号相加的信号中的任一方进行跟踪控制的跟踪控制装置，

所述光盘倾斜度检测装置，是在所述跟踪控制装置进行跟踪控制的过程中，通过测量所述第1跟踪误差信号值，对所述第1跟踪误差信号与所述第2跟踪误差信号进行相位比较。

此外，本发明第26方面的光学头，是在本发明第16至19方面中任一项的光学头中，

生成跟踪控制信号的跟踪控制信号生成装置，及

用所述跟踪控制信号进行跟踪控制的跟踪控制装置；

所述跟踪控制信号生成装置，将所述第1跟踪误差信号的振幅调整到规定大小，通过对所述第2跟踪误差信号进行加或减生成相位偏移的信号作为跟踪控制信号，

所述跟踪控制装置，由所述集光装置形成的光束，通过跟踪控制位置的移动，使处于所述信息磁道的中央。

此外，本发明第27方面的光学头，是在本发明第26方面所述的光学头中，

所述跟踪控制信号生成装置，按照对应于检测的光盘倾斜度的信号，调整所述第1跟踪误差信号的振幅大小，

所述跟踪控制装置，根据所述倾斜度使跟踪控制位置移动。

此外，本发明第28方面的的光学头，

用于将信息记录到在信息磁道的全部或一部形成坑槽的光盘，及/或再生写入前述光盘的信息，

其中，包括

集光于前述光盘的集光装置，及

收受从前述光盘反射的反射光束以得到受光信号的受光装置，及

用前述受光信号检测前述光盘相对前述集光装置的光轴的倾斜度的光盘倾斜度检测装置；

前述受光装置，具有被分割为使前述反射光束的、前述中央部的领域受光的第1子受光领域，以及使前述反射光束的剩余部分的领域受光的第2子受光领域的受光单元，

前述第1子受光领域，含有前述反射光束的中心点，并呈现以与前述光盘的信息磁道平行的方向为长边的实质上长方形。

前述光盘倾斜度检测装置，通过将得自前述第1子受光领域的受光信号与得自前述第2子受光领域的受光信号作比较，在光点通过前述坑槽上时检测被调制的信号波形的相位差，检测前述光盘的倾斜度。

此外，本发明第29方面的光盘记录装置，

包括如本发明第1至28方面中任一项的本发明的光学头。

此外，本发明第30方面的光盘再生装置，

包括如本发明第1至28方面中任一项的本发明的光学头。

此外，本发明第31方面的光盘记录再生装置，

包括如本发明第1至28方面中任一项的本发明的光学头。

如上的本发明的光学头，作为其一例，包括，以物镜集光于光盘上、收受来自前述光盘的反射光束的受光装置，以及具有从以前述受光装置检测的受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置、在入射到前述受光装置的光束内、使得用于跟踪检测的光束的一部的领域的光分路或光强度减低的光学装置。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，包括，用物镜将记录或再生信息用的主光束、及从前述主光束分路生成的2个辅助光束集聚于光盘并收受各反射光束的受光装置，以及具有根据前述2个辅助光束的受光信号的差检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置、使入射到前述受光装置的辅助光束的各光束的一部的领域的光分路或使光强度减低的光学装置。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，包括，以物镜集光于具有离开前述信息磁道的接线方向规定距离、且与前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记的光盘上、收受来自前述光盘的反射光的受光装置，以及具有根据与来自前述一对标记的反射光束量的变化对应的受光信号的变化、检测跟踪误差信号或跟踪误差信号的偏移的跟踪误差信号检测装置、使入射到前述受光装置的光束的一部的领域的光分路或使光强度减低的光学装置。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，包括，将信息磁道的导向槽断续地切断一部，其间以物镜集光于具有离开前述信息磁道的接线方向规定距离、且与前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记的光盘上、收受来自前述光盘的反射光的受光装置，以及具有根据与来自前述一对标记的反射光量的变化对应的受光信号的变化、或在前述一对标记的前述跟踪误差信号的变化、分别检测以与前述信息磁道平行的分割线分割为2部分的受光信号中的跟踪误差信号及前述跟踪误差信号的偏移的跟踪误差信号检测装置、使入射到前述受光装置的光束的一部的领域的光分路或使光强度减低的光学装置。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，包括，将信息磁道的导向槽断续地切断一部，以物镜集光于设置镜面部的光盘上、收受来自前述光盘的反射光的受光装置，以及具有分别检测以与前述信息磁道平行的分割线分割为2部分的受光信号中的跟踪误差信号、及以前述镜面部检测的前述跟踪误差信号值中的前述跟踪误差信号的偏移的跟踪误差信号检测装置、使入射到前述受光装置的光束的一部的领域的光分路或使光强度减低的光学装置。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，前述光学装置，具有使通过的光束的一部的领域的光强度减低的减光领域，及不使光强度减低的非减光领域，前述减光领域，是以使光的透过率减低的物质形成的薄膜，或是形成衍射栅的领域，它的形状呈实质上长方形，长边比通过的光束的直径长，可配置在垂直于信息磁道的方向上。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，前述光学装置，通过分割配置于前述受光装置的受光单元，设置与入射到需使光分路或使光强度减低的前述受光装置的光束的一部的领域相对应的受光领域构成，前述受光领域为实质上长方形，长边比通过的光束的直径长，可配置在垂直于信息磁道的方向上，在前述受光领域检测的信号，比前述受光领域外检测的信号，所带的系数小，可用于跟踪误差信号的检测。

或者，作为本发明的光学头的其中一例，前述光学装置，具有将通过的光分路的衍射栅或形成棱镜的领域，前述领域为实质上长方形，长边比通过的光束的直径长，可配置在垂直于信息磁道的方向上，前述领域中分路的光通向前述受光装置的第1受光单元群，其他的光通向前述受光装置的第2受光单元群，第1受光单元群的信号所带的系数比第2受光单元群的小，可用于跟踪误差信号的检测。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，其特征是，具有：以物镜集光于光盘的装置，及收受光盘的反射光束的受光装置，及从以前述受光装置受光的信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置，及检测前述光盘与前述物镜的光轴的倾斜度的光盘倾斜度检测装置；前述受光装置，被配置在入射到前述受光装置的光束的中央部，它的形状，将前述光束分割为与信息磁道平行的宽度比前述光束的直径小、垂直方向的宽度比前述光束的直径长的第1领域，及不含前述第1领域的第2领域，并受光，前述跟踪误差信号检测装置，分别从前述第1领域的受光信号检测第1跟踪误差信号，从前述第2领域的受光信号检测第2跟踪误差信号，前述光盘倾斜度检测装置，通过对前述第1跟踪误差信号与第2跟踪误差信号的相位进行比较，检测光盘倾斜度。这样，可检测光盘的半径方向的倾斜。又，由于这一检测是采用与光学头检测的跟踪误差信号同等好的信号进行的，所以能进行高精度的光盘倾斜度的检测。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，特征是，对于形成取样伺服用的取样坑槽的光盘，跟踪误差信号检测装置，以取样坑槽检测反射的光再检测跟踪误差信号，光盘倾斜度检测装置，根据前述第1跟踪误差信号相对于前述第2跟踪误差信号的相位差检测光盘倾斜度。这样，可以用取样伺服方式的光学头检测光盘倾斜度。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，特征是，前述集光装置，是将记录及再生信息用的主光束与第1及第2个辅助光束集聚于光盘的集光装置，前述受光装置，是分别对入射到前述受光装置的前述第1及第2个辅助光束、把光束分割为前述第1领域及第2领域、并受光，前述跟踪误差信号检测装置，使用前述第1辅助光束的前述第1领域的受光信号、与前述第2个辅助光束的前述第1领域的受光信号之间的差信号，或前述第1辅助光束的前述第1及第2领域的受光信号的和信号、与前述第2个辅助光束的前述第1及第2领域的受光信号的和信号之间的差信号中的任一个，检测第1的跟踪误差信号；使用前述第1辅助光束的前述第2领域的受光信号、与前述第2个辅助光束的前述第2领域的受光信号的差信号，检测第2跟踪误差信号。前述光盘倾斜度检测装置，根据前述第1跟踪误差信号相对前述第2跟踪误差信号的相位差检测光盘倾斜度。这样，就能以3光束跟踪检测方式的光学头检测光盘倾斜度。

此外，作为本发明的光学头的其中一例，特征是，前述受光装置，以平行于信息磁道的分割线分割前述第1及第2领域、受光，前述跟踪误差信号检测装置，根据以前述受光装置受光的信号检测推挽信号，把使用前述第1领域的受光信号、或前述第1及第2领域的受光信号的和信号中的任一个检测的推挽信号作为第1跟踪误差信号，把使用前述第2领域的受光信号检测的推挽信号作为第2跟踪误差信号，分别检测；前述光盘倾斜度检测装置，根据前述第1跟踪误差信号相对前述第2跟踪误差信号的相位差检测光盘倾斜度。这样，可利用具有推挽方式的跟踪检测的光学头检测光盘倾斜度，又，光盘倾斜度，根据2个推挽信号的相位差检测，可排除随着物镜移动产生的推挽信号的偏移的影响。

还有，作为本发明的光学头的其中一例，特征是，对于信息磁道上形成坑槽的光盘，具有，以物镜集光的装置，及收受来自前述光盘的反射光束的受光装置，及从以前述受光装置受光的信号中检测前述光盘与前述物镜的光轴的倾斜度的光盘倾斜度检测装置；前述受光装置，被配置于入射到前述受光装置的光束的中央部，它的形状，将前述光束分割为与信息磁道平行的宽度比前述光束的直径长、垂直与前述信息磁道方向的宽度比前述光束的直径短的第1领域，及不含前述第1领域的第2领域，并受光，前述光盘倾斜度检测装置，通过对前述第1领域的受光信号、或前述第1及第2领域的受光信号的和信号的中的任一方、与前述第2领域的受光信号进行比较，通过检测光点通过前述坑槽上时被调制的信号波形的相位差，检测光盘倾斜度。这样，可检测信息磁道的接线方向的光盘倾斜度。

附图说明

图1表示本发明的实施形态1的光学头的构成图。

图2是说明本发明的实施形态1的光学装置的图。

图3是说明本发明的实施形态1的受光装置的图。

图4是说明本发明的实施形态1的信号的图。

图5是说明来自光盘的反射光的图。

图6是说明本发明的实施形态1的效果图。

图7是说明本发明的实施形态1的效果图。

图8是说明本发明的实施形态1的效果图。

图9是说明本发明的实施形态2的构成图。

图10是说明本发明的实施形态2的受光装置的图。

图11是说明本发明的实施形态3的构成图。

图12是说明本发明的实施形态3的受光装置的图。

图13是说明本发明的实施形态4的构成图。

图14是说明本发明的实施形态4的受光装置的图。

图15是说明本发明的实施形态5的构成图。

图16是说明本发明的实施形态5的信号的图。

图17(a)表示本发明的实施形态4的受光装置的其他构成例图。

图17(b)表示本发明的实施形态4的受光装置的其他构成例图。

图18(a)表示本发明的实施形态5的受光装置的其他构成例图。

图18(b)表示本发明的实施形态4的受光装置的其他构成例图。

图19表示本发明的实施形态6的光学头的构成图。

图20是说明本发明的实施形态6的受光装置及信号演算部的图。

图22是说明本发明的第1及第2领域的图。

图22(a)是说明本发明的实施形态6的第1及第2跟踪误差信号的图。

图22(b)是说明本发明的实施形态6的第1及第2跟踪误差信号的图。

图23表示本发明的实施形态7的光学头的构成图。

图24是说明取样·伺服方式的信息磁道的图。

图25是说明取样·伺服方式的跟踪检测的图。

图26(a)是说明本发明的实施形态7的第1及第2跟踪误差信号的图。

图26(b)是说明本发明的实施形态7的第1及第2跟踪误差信号的图。

图27表示本发明的实施形态8的光学头的构成图。

图28是说明本发明的实施形态8的受光装置及信号演算部的图。

图29是说明本发明的实施形态8的主光束及辅助光束的光点配置的图。

图30是说明本发明的实施形态8的辅助光束的信号的图。

图31是说明本发明的实施形态9的效果图。

图32表示本发明的实施形态10的光学头的构成图。

图33表示本发明的实施形态10的跟踪控制信号生成装置的构成图。

图34表示本发明的实施形态11的光学头的构成图。

图35是说明本发明的实施形态11的受光装置及信号演算部的图。

图36是说明本发明的实施形态11的信号检测方法的图。

图37是说明本发明的实施形态11的信号检测方法的图。

图38是说明以往技术的图。

图39是说明以往技术的图。

图40是说明以往技术的图。

图41是说明以往技术的图。

图42表示以往的光学头的构成图。

图43是说明以往技术的图。

图44(a)是说明以往技术的图。

图44(b)是说明以往技术的图。

图44(c)是说明以往技术的图。标号说明

1光源

2衍射栅

3光分路装置

4物镜

5光盘

6 6’光学装置

7检测透镜

8，30，47，54受光装置

9，55，58跟踪误差信号检测装置

11，11’光学功能领域

201  光源

202  光学头的光轴

203  光束分解器

204  物镜

205  光盘

206  中继透镜

207  光学头的光轴

208  受光装置

236  衍射栅

237  受光装置

252  物镜移动装置

257  受光装置

具体实施形态

下面，参照附图对本发明的各实施形态进行说明。

(实施形态1)

本实施形态对于以往的3光束跟踪方式的光学头，通过适用于本发明，成为解决该课题的一例。

图1是本发明的实施形态1的光学头的构成图。图中，1是光源，2是将光分路成为主光束及2束辅助光束的衍射栅，3是作为光分路装置的光束分解器，4是物镜，5是光盘，6是分路通过的光束的一部的领域的光或使光强度减低的光学装置，7是检测透镜，8是具有若干受光单元的受光装置，9是跟踪误差信号检测装置。

图2是说明光学装置的图，图中，10是通过的光束的外形，11是分路通过的光束或使光强度减低的光学功能领域，在本实施形态，这是在玻璃或树脂等透明基板上，形成反射性或光吸收性的膜、或衍射栅等的光透过率低的部分。

图3是说明受光装置8的各受光单元的图，12，14是受光单元，13是4分割受光单元，15，17是辅助光束，16是主光束。

下面，对具有这样的构成的本实施形态的光学头的动作进行说明。

由于光源发出的光被衍射单元2衍射，生成主光束作为0次衍射光，2束辅助光束作为+1次及-1次衍射光。这3束光束，一起透过光分路装置3，通过物镜4被集光于光盘5，如以往例说明的图38中表示的那样，形成3个光点。

来自由光盘5反射的各光点的反射光束，再次一起通过物镜4，经光分路装置3反射，入射到光学装置6。主光束及2束辅助光束的光束，在配置光学装置6的位置不太分离，所以，所有光束都如图2所示的光束的外形10那样，由于光学功能领域11，其中央部的光强度减低，入射到检测透镜7。

焦点检测方式，诸如非点象差方式，检测透镜7具有使非点象差发生的圆柱透镜的折射力，使光束进入受光装置8，如图3所示，主光束可入射到4分割的受光单元13，辅助光束可分别入射到受光单元12及14。各光束15至17的中央部的斜线部，由于光学装置6表示为光强度减低的部分，由于检测透镜7具有非点象差，其方向可回转90度。

此外，图1的跟踪误差信号检测装置9，对受光单元12及14检测的信号进行差分放大，检测跟踪误差信号。4分割受光单元13检测的信号，在焦点检测装置及信息信号检测装置(均未图示)被用作各自的信号检测。

图4是用来说明当主光束的光点与信息磁道的相对位置变化时、主光束及2个辅助光束的信号的变化的图。图中，18是主光束的信号波形，19，20分别是辅助光束的信号波形，21是跟踪误差信号的波形。这里，由于信息磁道的宽度做得比其间的槽幅大，主光束信号18在信息磁道中心呈现最大的波形，辅助光束的信号19，20，与此相对，出现每相距1/4磁道、方向相反、相位偏移的波形。跟踪误差信号21是波形19，20的差信号，在信息磁道中心呈现为0的波形。

下面说明的是，对于光学头，当光盘在其半径方向，即亦包含光盘法线与物镜的光轴的平面在与信息磁道的接线垂直的方向上倾斜时(以下称为径向倾斜)产生的、跟踪误差信号的相位偏移。通常，主光束及辅助光束的光点，形状几乎相同，所以其受光信号波形也相同。因此，在跟踪误差信号为0的位置，主光束信号的峰值位置一致，今后，只着眼于主光束的信号波形作说明。

图5是模式地表示光盘存在径向倾斜时的、从光盘反射的反射光束的光量分布，图中的黑白浓度与光强度对应。这是由于光通过光盘的透明基板时发生的彗形象差、导致入射光的波面上产生非对称的波面象差、光盘上的0次衍射光、与+1次及-1次衍射光在干涉领域的波面相位相互倒相变化的原因，使出现如图所示的非对称的强度分布，由于这一非对称性，主光束的信号的峰值位置会偏离信息磁道中心。

本实施形态，由于光学装置6的光学功能领域11，使发生这种非对称的强度分布的领域的光强度减低，在构成上可以抑制该领域的非对称的光强度加在跟踪误差信号上的影响。下面，详细地对其效果进行说明。

图6是设定光学头的光源波长λ＝660nm，NA＝0.6，光盘的信息磁道间距＝1.2μm，导向槽深度＝λ/8，导向槽宽度＝0.8μm，基板厚＝0.6mm时模拟主光束信号的结果。22是没有径向倾斜时的波形，23是径向倾斜＝1.2度时以往的光学头中的波形。波形23对波形22存在相位差，它的峰值位置距信息磁道中心约0.15μm。

图6的波形24，25，是在本发明的光学头中，以光学功能领域11的宽度V与光束直径D之比表示，在V/D＝0.25对其透过率为0时的主光束的信号波形进行模拟的结果，24是没有径向倾斜时的波形，25是径向倾斜＝1.2度时的波形。在振幅降低时，可将波形25的峰值位置的偏移抑制到只有0.05μm左右。

此外，图7表示在径向倾斜为1.2度时，使所述V/D变化时的主光束信号波形的振幅与峰值位置偏移量变化的图，其中振幅为26、峰值位置偏移量为27。所谓相对振幅是指以V/D＝0时的振幅为1的正规化的振幅。在图7中，例如假设V/D＝0.4，则尽管相对振幅26降低到0.6，峰值位置偏移量27也能实质上为0。

以上模拟的结果，如径向倾斜为1.2度，在以往的光学头中，对应于前述主光束信号的峰值位置的跟踪控制的目标点(跟踪误差信号为0的位置)为0.15μm时也会偏离信息磁道中心，对此，按照本发明，前述跟踪控制的目标点偏移，即亦，跟踪误差信号的相位偏移几乎可抑制到0。

图8是对V/D＝0.5、使光学功能领域11的透过率变化时的记作28的振幅与记作29的峰值位置偏移量的变化进行模拟的结果。在透过率为0时，峰值位置偏移量为负值，这是因为峰值位置偏移的抑制效果过大的缘故，通过变更透过率，可自由变更峰值位置偏移量的抑制效果。即亦，调整抑制径向倾斜时的跟踪误差信号的相位偏移的效果，不仅可通过设定光学功能领域11的宽度进行，也可通过变更其透过率来进行。

如上所述，按照本发明的实施形态，在3光束跟踪方式的光学头中，通过使检测跟踪误差信号用的2个辅助光束的中央部的光强度以带状减低，由于减低了由光盘的径向倾斜发生的波面象差的大领域的光加在跟踪误差信号的影响，可抑制径向倾斜时的跟踪误差信号的相位偏移，从而可实现跟踪精度的提高。

此外，在本实施形态，将光学装置6配置于检测透镜7之前，在从光盘5反射的辅助光束到达受光装置8的光路中，诸如在具有折返光路的镜片、及用别的受光单元进行信息信号检测的光学头、将用作跟踪检测与信息信号检测的光进行分路的另一分路装置上、也可以设置使光束的中央部的光强度减低的光学装置。

此外，光学功能领域11的长度W，曾说过它比光束直径D要长得多，但如果与光束直径D实质相同或者稍微小一点也行，这样的构成也能抑制跟踪误差信号的相位偏移。

(实施形态2)

本发明的实施形态2，是对实施形态1作部分变更，以进一步体现本发明的特征。

图9是本实施形态的构成图。与图1共通的构成要素带同一符号，说明从略。不同点是，设置受光装置30以取代图1的受光装置8，同时，作为光学装置6’，具有形成衍射栅等的分路光的装置的光学功能领域11’，被分路的光束进入受光装置30。这里，光学功能领域11’的外形，与图2的光学功能领域11是一样的。

图10是表示受光装置30的受光领域的图。在图10中，31，33及34至37是受光单元，32是4分割受光单元，38及40是辅助光束，39是主光束，41及44是以光学功能领域11’从辅助光束38分路的光束，42及45也是从主光束39分路的光束，43及46也是从辅助光束40分路的光束。又，图中，光学功能领域11’所占的部分用斜线部表示。在受光单元31，32，33，辅助光束38、主光束39、辅助光束40的光束不使光学功能领域11’的部分受光。又，这里，有关主光束39的焦点检测及信息检测的说明从略。

以各受光单元的序号作为信号名，将各辅助光束的信号列于下表，则，第1辅助光束的信号为：

31+k1×(34+36)                (式2)

第2个辅助光束的信号为：

33+k2×(35+37)                (式3)

其中，k1，k2为常系数(k1，k2＜1)，改变这个系数，改变辅助光束的信号值，这与实施形态1中叙述的变更光学功能领域11的透过率是等价的。因此，可通过跟踪误差信号检测装置9中的检测信号的电气演算任意设定或变更对跟踪误差信号的相位偏移的抑制效果。

因此，按照本实施形态，例如，由于光盘的基板厚度不同，由光盘的径向倾斜发生的波面象差不同时，或者，对物镜的开口数切换使用时等、应抑制的跟踪误差信号的相位偏移量不同时可进行适当的抑制效果的设定及切换。此外，由主光束分路的光束42及45，是不用于跟踪误差信号检测，及焦点检测及信息检测的光束。

这样，按照本发明的实施形态，在3光束跟踪方式的光学头，对用于检测跟踪误差信号的2束辅助光束的中央部的一部，由衍射栅分路并分别受光，由于对光盘的径向倾斜发生的波面象差的大领域的光，即亦，对通过减低对分路受光的受光信号的跟踪误差信号的贡献减低，可抑制径向倾斜时的跟踪误差信号的相位偏移、提高跟踪控制精度。又，这一相位偏移的抑制效果，可通过电气演算调整，所以，可以进行最适当的调整及设定。

此外，在本实施形态，采用专用的衍射栅使辅助光束的一部分分路，例如，对于具有为焦点检测分路光束的衍射栅的光学头，在该衍射栅可以具有同样的功能。

(实施形态3)

图11是本实施形态的构成图。与图1共同的构成要素，带上同一符号，说明从略，只对不同的地方进行说明。与图1构成的不同点在于，省实质上了图1的光学装置6，在受光装置47加上了它的功能(未画出)。即亦，受光装置47包括如实施形态1那样的受光装置8和光学装置6的两方面的功能。

图12是受光装置47的受光单元的构成图。在图12，48及50是3分割受光单元，49是4分割受光单元，48a至48c及50a至50c是前述3分割受光单元的各受光领域，51及53是辅助光束，52是主光束。由于检测透镜具有的非点象差，各光束将其分布回转90度入射到受光单元，所以，3分割受光单元的分割线处于纸面的上下方向。

将3分割受光单元48及50的个受光领域的序号作为信号名，各辅助光束的信号以下式表示，则第1辅助光束的信号为：

(48a+48c)+k3×48b             (式4)

第2个辅助光束的信号为：

(50a+50c)+k4×50b                       (式5)

跟踪误差信号，根据这2个辅助光束的信号的差检测。此外，对从主光束52得到的焦点信号及信息信号的说明从略。这里，k3，k4为常系数(k3，k4＜1)，可进行电气演算以改变这个系数，与实施形态2同样，可任意设定对跟踪误差信号的相位偏移的抑制效果的大小。

如上所述，按照本发明的实施形态，在3光束跟踪方式的光学头，在各受光单元分割用来检测跟踪误差信号的2个辅助光束，改变检测光束的中央部的光的信号与检测此外光束的信号的加算比率，由于对光盘的径向倾斜发生的波面象差的大领域，即亦，对前述光束的中央部的光提供的跟踪误差信号的贡献减低，可抑制径向倾斜时的跟踪误差信号的相位偏移、提高跟踪控制精度。又，这一相位偏移的抑制效果的大小，可通过电气演算调整，所以，可以进行最适当的调整及设定。

(实施形态4)

对于前述的以往的取样·伺服·跟踪方式的光学头，本实施形态适用本发明，成为解决本课题的一例。

图13是本发明的实施形态4的光学头的构成图。与图1共同的构成要素，带上同一符号，说明从略，只对不同的地方进行说明。在本实施形态的构成中，除去图1的衍射栅，换成图1的受光装置8及跟踪误差信号检测装置9，具有受光装置54及跟踪误差信号检测装置55。

此外，图14是说明受光装置54的各受光单元的图，图中，56是4分割受光单元，56a至56d是4分割受光单元56的各受光领域，57是入射到4分割受光单元56的光束的外形。

下面，对具有这样构成的、本实施形态4的光学头的动作进行说明。

光源1发出的光，透过分路装置3，通过物镜4被集聚到光盘5。由光盘5反射的光束，再通过物镜4，由光分路装置3反射，入射到光学装置6。在本实施形态，入射到光学装置6的光束，与前述实施形态1同样，通过图2的光学功能领域11，使其中央部的光强度减低，经检测透镜7进入受光装置54。

图14中的光束57的中央部的斜线部，表现由光学装置6使光强度减低的部分，由于检测透镜7具有的非点象差，其方向可回转90度。

此外，图13的跟踪误差信号检测装置55，是取样·伺服·跟踪方式的跟踪误差信号检测装置，所以，如以往技术的说明所述，使用与来自光盘的反射光量对应的信号的、由4分割受光单元56检测的信号的和信号、即亦受光单元56a至56d的全部检测信号检测跟踪误差信号。焦点检测装置及信息信号检测装置(都未画出)，通过4分割受光单元56的、各受光单元56a至56d分别检测的信号、检测各自规定的信号。

下面，对本构成的光学头中的跟踪检测进行详细说明。以4分割受光单元56检测的信号的和作为信号S，跟踪误差信号检测装置55，检测光点通过如图40所示的齿形标记时的信号S，在图41的位置A，位置B进行取样同步，检测信号值VA，VB。齿形标记沿信息磁道有许多，由于光盘回转，光点在横断信息磁道间通过若干个齿形标记。如果将以各齿形标记取样同步的前述信号值VA，VB按时间关系设定为信号S1，信号S2，则跟踪误差信号就是它们的差信号S1-S2。

这里，光点横断信息磁道时的前述信号S1，信号S2的波形，在各齿形标记的对应坑槽位置处是最小(或者最大)的波形，可以说，这是与如图4所示的3光束跟踪方式的2个辅助光束的信号同样的信号。

此外，前述辅助光束的信号、与前述信号S1，S2，是连续地在导向槽及齿形标记处检测调制的反射光量获得的，所以，由于光盘的径向倾斜由光点产生于光盘的象差使信号受到的影响可一并考虑。

因此，与实施形态1同样，本实施形态的光学头，可抑制由光盘的径向倾斜产生的跟踪误差信号的相位偏移。

如上所述，按照本实施形态，在取样·伺服·跟踪方式的光学头，由于使检测跟踪误差信号用的光束的一部的光强度减低，使光盘的径向倾斜发生的波面象差的大领域的光产生的影响减低，可抑制径向倾斜时的跟踪误差信号的相位偏移。

此外，在4分割受光单元56，对本发明的跟踪误差信号检测动作起作用的是受光单元56的和信号，受光单元被4分割为56a至56d，是因为与实施形态1同样，以焦点检测方式作为非点象差方式。因此，如果是只用来检测跟踪误差信号，受光装置54用一个受光单元也可以。

此外，在本实施形态，作为图13及图14那样的构成，在实施形态2及3对辅助光束施加的各种装置也可以加到本实施形态的光束上。

这里，图17(a)，是将实施形态2的受光装置30及光学装置6’的构成应用于本实施形态的取样·伺服·跟踪方式场合的受光装置54的构成图。图17(b)，是将实施形态3的受光装置47的构成应用于本实施形态的取样·伺服·跟踪方式场合的受光装置54的构成图。又，在图17(a)(b)，以检测跟踪误差的动作为中心进行说明，以焦点检测方式作为非点象差方式用的受光单元57的4分割的分割线用虚线表示，省实质上该动作。又，主光束部分的受光单元的构成也省实质上。

如图17(a)所示，受光装置54，具有通过光学装置6’使得将光束57一分为三得到的光束57a，57b，57c分别受光的受光单元70、71、72。又，光束57a不使光学功能领域11’的部分受光，光束57b，57c在光束57中只含光学功能领域11’的部分。

将各受光单元的序号记作信号名，将各光束的信号用下式表示，光束57的信号可表示为：

57a+k5×(57b+57c)                 (数6)

k5是常系数(k5＜1)。

因此，与实施形态2同样，改变系数k5的值，使从光束57得到的信号的值改变，使任意设定或变更对跟踪误差信号的相位偏移的抑制效果成为可能。

下面，如图17(b)所示，受光装置54具有分别使光束57受光的3分割受光单元73a，73b，73c。

各分割受光单元的序号记作信号名，光束57的信号可表示为：

(73b+73c)+k6×73a                  (数7)

k6是常系数，(k6＜1)。因此，与实施形态3同样，改变系数k6的值，使从光束57得到的信号的值改变，使任意设定或变更对跟踪误差信号的相位偏移的抑制效果成为可能。

(实施形态5)

本实施形态，对前述的以往的复合·摆动·跟踪方式或复合·连续·跟踪方式的光学头，由于适用本发明，成为解决该课题的一例。

图15是本实施形态5的光学头的构成图。与实施形态4的构成图的图13及图14的构成要素相同，带同一符号，说明从略。在本实施形态，具有跟踪误差信号检测装置58，以取代图13的跟踪误差信号检测装置55。

与实施形态4不同点在于，是跟踪误差信号检测装置58的、由受光装置54得到的受光信号的处理动作。以下，参照图14对跟踪检测58的动作进行说明。

用4分割受光单元56的各受光领域名56a至56d，对信号T、信号T1，T2，TE作如下定义。即，

T＝56a+56b+56c+56d                         (数8)

T1＝56a+56b                                (数9)

T2＝56c+56d                                (数10)

TE＝T1-T2                                  (数11)

这里，信号T是4分割受光单元57的和信号，信号TE是推挽信号。跟踪误差信号检测装置58检测前述各式的信号T，T1，T2，TE。

对于以往技术的说明中所述的复合·连续·跟踪方式，如图39所示，光盘的信息磁道，由导向槽部104及镜面部105构成，跟踪误差信号检测装置58，在光点通过镜面部105时，对前述信号TE取样同步，用它的值补正信号TE的偏移，检测跟踪误差信号。这里说的信号TE的偏移，是物镜4与光学头的光轴的位置偏移、及由于光盘的径向倾斜从光盘反射的反射光束的位置偏移，是推挽信号产生的直流电压。

此外，对于以往技术的说明中所述的复合·摆动·跟踪方式，如图40所示，光盘的信息磁道，由导向槽部及齿形标记构成，跟踪误差信号检测装置58，在光点通过齿形标记时，以与前述的实施形态4的跟踪误差信号检测装置55同样的手法检测的信号被设定为TE2，通过对该信号TE2与前述信号TE的偏移进行比较，检测补正偏移的跟踪误差信号。这是由于信号TE2中难以发生前述那样的偏移，所以可经过比较抽出信号TE的偏移。又，在光点通过齿形标记时，即使对前述信号TE取样同步，也能同样抽出信号TE的偏移。

以上那样的跟踪检测方式，虽具有补正跟踪误差信号的偏移的装置，但由于光盘的径向倾斜产生的彗形象差的影响，这样的偏移补正装置对跟踪误差信号产生的相位偏移也无能为力。

图16是在设定以下条件时模拟推挽信号TE的波形的结果：光学头的光源波长为660nm，NA为0.6，光盘的信息磁道的间距为1.2μm，导向槽深度＝λ/8，导向槽宽度＝0.8μm，基板厚度＝0.6mm。59是没有径向倾斜时的波形，60是径向倾斜＝1.2度时、以往的光学头的波形，61是本实施形态的光学头的波形。

各波形的偏移中不仅只是径向倾斜引起的相位偏移，如果对它们的峰值位置进行比较，则，波形61的相位偏移比之波形60的相位偏移约有不到半分的抑制。又，波形61是当光学装置6的光学功能领域11的宽度、V/D＝0.25、透过率为0时的计算结果。这样，光学装置6，在抑制径向倾斜引起的相位偏移方面，即使对推挽信号也是有效的，因此，是对前述各跟踪检测方式有效的装置。

如上所述，按照本实施形态，对复合·摆动·跟踪方式及复合·连续·跟踪方式的光学头，由于使跟踪误差信号检测用的光束的一部的光强度以带状减低，使得光盘的径向倾斜发生的波面象差的大领域的光的作用减低，使径向倾斜时的跟踪误差信号的相位偏移得到抑制，跟踪控制的精度有望得到提高。

又，在4分割受光单元56，对本发明的跟踪误差信号检测动作起作用的，是受光单元56的和信号，受光单元56a与56b之和，以及受光单元56c及56d的信号和，受光单元被4分割为56a至56d，这与实施形态1一样，这是由于把焦点检测方式作为非点象差方式的缘故。因此，光是为了检测跟踪误差，受光装置54也可采用与信息磁道方向平行的2分割受光单元。

此外，换到本实施形态的构成，即使引进增加以实施形态2及3检测跟踪误差信号用的光束，也能实现同样的光学头。

这里，图18(a)是将实施形态2的受光装置30及光学装置6’的构成应用于本实施形态的复合·摆动·跟踪方式或复合·连续·跟踪方式的场合的受光装置54的构成图，图18(b)是将实施形态3的受光装置47的构成应用于本实施形态的复合·摆动·跟踪方式或复合·连续·跟踪方式的场合的受光装置54的构成图。又，在图18(a)(b)，以检测跟踪误差的动作为中心进行说明，以非点象差方式进行焦点检测方式用的受光单元57的4分割的分割线用虚线表示，它的动作从实质上。又，主光束部分的受光单元的构成也省实质上。

如图18(a)所示，受光装置54，具有使由光学装置6’将光束57分割成3部分的光束57a、57b、57c分别受光的2分割受光单元80(含受光单元80a与80b)，81(含受光单元81a及81b)、82(含受光单元82a及82b)。又，光束57a，不使光学功能领域11’的部分受光，光束57b、57c在光束57中只含有光学功能领域11’的部分。

将各受光单元的序号作为信号名，各光束的信号以下式表示，则光束57的信号为：

T＝80a+80b+k7×(81a+81b+82a+82b)               (数12)

T1＝80a+k7×(81a+82a)                      (数13)

T2＝80b+k7×(81b+82b)                      (数14)

TE＝T1-T2                                  (数15)

K7是常系数(k7＜1)。

因此，与实施形态2同样，改变系数k7的值，使从光束57得到的信号的值改变，使任意设定或变更对跟踪误差信号的相位偏移的抑制效果成为可能。

下面，如图18(b)所示，受光装置54具有分别使光束57受光的6分割受光单元83a，83b，83c。

各分割受光单元的序号记作信号名，光束57的信号可表示为：

T＝83c+83d+83e+83f+k8×(83a+83b)               (数16)

T1＝k8×83a+(83c+83e)                          (数17)

T2＝k8×83b+(83d+83f)                          (数18)

TE＝T1-T2                                      (数19)

(k8是常系数，(k8＜1))。

因此，与实施形态3同样，改变系数k8的值，使从光束57得到的信号的值改变，使任意设定或变更对跟踪误差信号的相位偏移的抑制效果成为可能。

此外，在前述实施形态，以使用复合·摆动·跟踪方式或复合·连续·跟踪方式检测跟踪误差信号的光学头为例进行说明，本发明的光学头，如果采用与信息磁道平行的轴2分割的受光单元，以推挽方式检测跟踪误差信号，那么，用其他方式也可以。

(实施形态6)

本实施形态，对于具有以往的推挽方式的跟踪误差信号检测装置的光学头，由于适用本发明，成为解决有关光盘倾斜度检测的以往课题的一例。

图19是本发明的实施形态6的光学头的构成图。图中，201是光源，202及207是光学头的光轴，203是使入射光的一部透过、使一部反射的光束分解器，204是物镜，205是光盘，206是将光导入受光单元的中继透镜、208是受光装置，209是对受光信号进行放大、演算的信号演算部，210是焦点检测装置，211是跟踪误差信号检测装置，212是光盘倾斜度检测装置。

图20是说明受光装置208及信号演算部209的图，从208a至208f，表示受光装置208的各受光领域，213a至213f是放大器，214及215是加法运算放大器，216是入射到受光装置208的光束的外形。

下面，对具有这样构成的本实施形态的光学头的动作进行说明。

光源201发生的光，透过光束分解器203，通过物镜204被集光于光盘205。由光盘205反射的光再次通过物镜204，由光束分解器203反射，入射到中继透镜206。如果把焦点检测方式作为非点象差方式，中继透镜206，具有使非点象差发生的圆柱透镜的折射力，将光束导入受光装置208。

如图20所示，入射到受光装置208的光束，被6分割为受光领域208a至208f，受光，各受光信号由信号演算部209演算、放大。受光领域208a至208f的各受光信号由放大器213a至213f放大，并被作为信号208a’至208f’输出，又，信号208a’与208c’由加法运算放大器214相加、被作为信号F1输出，信号208b’与208d’由加法运算放大器215相加、被作为信号F2输出。

焦点检测方式210，使用信号F1及F2检测焦点误差信号，跟踪误差信号检测装置211，在作为第1领域的受光领域208e及208f，使用被受光的信号208e’及208f’，检测作为第1跟踪误差信号的信号TE1，在作为第2领域的受光领域208a至208d，使用被受光的信号208a’至208d’，检测作为第2跟踪误差信号的信号TE2。第1及第2领域的形状，如图所示，其垂直于信息磁道的方向的长度比检测的光束216的直径长。

本实施形态的跟踪误差信号是推挽信号，所以，信号TE1，TE2可用下式表示。

TE1＝208e’-208f’                           (数20)

TE2＝(208a’+208d’)-(208b’+208c’)         (数21)

光盘倾斜度检测装置212，对第1跟踪误差信号TE1与第2跟踪误差信号TE2的相位进行比较，检测光盘倾斜度。

下面，对光盘倾斜度检测作详细说明。图21表示在有半径方向倾斜时的检测光束的光强度分布中，前述第1领域与第2领域的范围重合的图。如以往技术的说明中所述，对应于光盘倾斜度，光束的光强度分布呈现非对称性，如图所示，其中非对称性明显的部分存在于第1领域。为此，从第1领域检测的信号TE1与第2领域检测的信号TE2对光盘倾斜度的影响程度是不同的。

图22是对信号TE1与信号TE2进行计算的结果，计算条件是：光源的波长为660nm，物镜的开口数为0.6，连续槽的间距为1.2μm，槽深度＝λ/8，光盘基板厚度为0.6mm。图22(a)是没有光盘倾斜时的波形，图22(b)是光盘径向倾斜为0.6度时波形。在图22(a)，217是信号TE1，218是信号TE2，在图22(b)，219是信号TE1，220是信号TE2。图中的横轴表示相对于信息磁道中心的光点位置。这里，所谓光点位置，是指光强度分布的强度峰值位置。

在没有光盘倾斜时，如波形217，218那样，当2个信号的相位一致、光点位于信息磁道中心时，都成为与横轴垂直的波形的信号，但是，如果光盘倾斜，象波形219，220那样，产生相位偏移、波形垂直于横轴的位置将偏离信息磁道中心。光盘倾斜对各信号的影响程度不同，所以，比之以波形220表示的信号TE2，

以波形219表示的信号TE1上产生的相位偏移大。因此，通过将第1跟踪误差信号TE1与第2跟踪误差信号TE2的相位进行比较，可检测光盘倾斜度。

此外，在光盘倾斜方向是反方向时，光束的光强度分布的非对称性呈反方向，这是在以往例中说明过的，所以，可容易地推断出信号的相位偏移也是反方向的。又，当物镜朝垂直于信息磁道的方向移动时，入射到受光装置208上的光束216的位置也移动，因此，虽然在推挽信号上产生直流偏置，但由于与信息磁道垂直的方向的前述第1领域的长度做得比光束直径长，所以，即使光束216移动，包含在第1领域的光强度分布也不变化。

因此，让信号TE1，信号TE2通过以通常的电气电路构成的高通滤波器、除去直流偏置、再对2信号的相位进行比较，可除去物镜移动的影响。相位比较的方法，例如，采用在信号TE2与基准电压(相当于图22的横轴)交叉的时刻检测信号TE1的值的方法，采用一般的相位比较方法也行。

此外，以上的说明中，将信号TE1作为第1跟踪误差信号使用，将信号TE2作为第2跟踪误差信号使用，但以往的推挽信号，即亦，如以前述信号208a’至208f’表示，那么，把按(208a’+208d’+208e’)-(208b’+208c’+208f’)的演算得到的信号作为第1跟踪误差信号使用也能进行光盘倾斜度的检测。这是由于前述以往的推挽信号相当于信号TE1与TE2的和信号，所以，在第1及第2跟踪误差信号间，会出现可充分检测的相位差。

这样，按照本发明的实施形态6，在具有推挽方式的跟踪误差信号检测装置的光学头中，可使用来自第1及第2领域的受光信号进行检测，通过对第1及第2跟踪误差信号的相位进行比较，不用专用的光盘倾斜度检测器也能进行光盘倾斜度检测，又，再加上把前述第1及第2领域的形状做得使垂直于信息磁道的方向的长度比检测光束的直径长，光盘倾斜度的检测，采用的方法不是检测直流信号，而是比较信号波形的相位检测，所以，可在不易受到随物镜的移动产生的推挽信号的直流偏置的影响下进行光盘倾斜度的检测成为可能。

此外，在前述动作中，使用信号208a’至208f’的全部信号，只用208a’，208b’，208e’208f’，不用信号208c’208d’也可以。反之，只用208c’，208d’，208e’208f’，不用信号208a’208b’也可以。

此外，作为使用推挽信号的跟踪误差信号检测方式，在以往的技术及实施形态5说明的、复合·连续·跟踪方式或复合·摆动·跟踪方式也都可用。又，别的方式也可用。

(实施形态7)

本实施形态，对以往的取样·伺服方式的光学头，由于适用本发明，成为解决光盘倾斜度检测课题的一例。

图23是本发明的实施形态7的光学头的构成图。与图19图不同的只是跟踪误差信号检测装置221，所以，有关光学头构成的说明予以省实质上。跟踪误差信号检测装置221，在构造上可使用如图20所示的信号演算部209的输出信号的信号208e’与信号208f’，检测作为第1跟踪误差信号的信号TE1，使用208a’、信号208b’、信号208c’及信号208d’的和信号，检测作为第2跟踪误差信号的信号TE2。

下面说明跟踪检测方法。图24是说明光盘的信息磁道的图。本实施形态是取样·伺服方式的光学头，所以，取样坑槽对断续地形成于信息磁道的光盘进行信息的记录或再生动作。这里，所谓取样坑槽，为了检测跟踪误差信号，以2个坑槽为一对，沿信息磁道空出一定的间隔、且与信息磁道中心等距离地形成。

在图24，221、222及223、224分别是记录信息磁道的中心线、前述取样坑槽、地址或信息的信息领域，225及226的箭头表示光点的扫描位置。如果光点在这样的取样坑槽上通过，根据光点与取样坑槽的相对位置检测的受光信号被调制。

图25是表示它的调制情况的图。即表示有关各光点扫描位置的被调制光量的调制波形、即亦信号208a’至208f’的和信号的波形。227是表示沿光点扫描位置225扫描时检测的信号波形，228是在扫描位置226检测的信号波形，229是当扫描位置与信息磁道中心线一致时检测的信号波形。以往，取样·伺服方式的跟踪检测，是在光点通过取样坑槽222及223时刻(图25中以箭头表示的2光点位置)检测信号被作为取样点信号、再根据这2个取样点检测信号值的差检测跟踪误差信号，前述跟踪误差信号检测装置221，进行与其以往的取样·伺服方式的跟踪检测相同的信号处理，检测作为第1及第2跟踪误差信号的信号TE1及TE2。

下面，对光盘倾斜度检测进行说明。图26(a)(b)是通过数值计算将跟踪误差信号的波形模拟处理的结果，图26(a)表示无光盘倾斜时的波形，图26(b)表示光盘在半径方向有0.6度倾斜时的波形。计算条件为：光源的波长为660nm，物镜开口数为0.6，光盘的基板厚度为0.6mm，信息磁道间距为1.2μm，取样坑槽长度及宽度为0.4μm，图2所示的受光领域208e及208f的信息磁道方向的宽度与光束外形216的直径之比为0.25。

在图26(a)，230是第1跟踪误差信号TE1，231是第2跟踪误差信号，232是使用所有208a’至208f’的和信号检测的跟踪误差信号。232与以往的取样·伺服方式的跟踪误差信号相同，所以称之为以往的跟踪误差信号。又，同图中，横轴表示光点离信息磁道中心的位置，Tp表示信息磁道间距。3个波形，都表示光点位置与信息磁道中心一致时与横轴相交的波形。

在图26(b)，233表示第2跟踪误差信号TE2，235表示前述以往的跟踪误差信号的波形。与图26(a)不同，这里表示的是，在各波形产生相位偏移、在偏离信息磁道中心的位置与横轴相交的波形。该相位偏移的大小，以第1跟踪误差信号TE1的波形233为最大，其次是以往的跟踪误差信号的波形235，随后是第2跟踪误差信号TE2的波系234。

因此，将第2跟踪误差信号TE2、与第1跟踪误差信号TE1或前述以往的跟踪误差信号作相位比较，可检测光盘倾斜度。各信号间产生相位偏移的原因，与在实施形态6的说明中用图22叙述的一样，当光点通过取样坑槽上时，检测的光束的光强度分布由于光盘倾斜产生的彗形象差的影响而形成非对称分布，在前述第1领域与第2领域，其含有非对称的光强度分布的量是不同的。

本实施形态的光学头，是取样·伺服方式的跟踪检测，所以，使用被检测信号的和信号检测跟踪误差信号，在与信息磁道垂直的方向即使物镜移动，在跟踪误差信号中也不会产生偏移，又，由于将前述第1及第2领域的形状做得使与信息磁道垂直的方向长度比检测的光束的直径长的形状，所以，即使光束移动、各领域中的光强度分布也不变化。因此，可检测不受物镜移动的影响的光盘倾斜度。

又，第2跟踪误差信号TE2，由于光盘倾斜引起的相位偏移小，所以，用这个信号进行跟踪控制，在跟踪控制中，通过检测第1跟踪误差信号TE1或前述以往的跟踪误差信号的值，可检测光盘倾斜度。这样，通过跟踪控制，光点被固定于信息磁道，所以，采用与检测信号的直流成分同样的检测方法，可对2个信号的相位进行比较。

如上所述，按照本实施形态，在取样·伺服方式的光学头，通过比较第1跟踪误差信号与第2跟踪误差信号的相位，可不设置光盘倾斜度检测专用的检测器、进行不受物镜移动影响的稳定的光盘倾斜度的检测。

(实施形态8)

本实施形态，对以往的3光束跟踪方式的光学头，由于适用本发明，成为解决光盘倾斜度检测课题的一例。

图27是本发明的实施形态8的光学头的构成图。

对于与图19同样的构成要素，带同样符号，说明从略。236是将光分路为主光束与2个辅助光束的衍射元件，237是进行信号放大、演算的信号演算部，246是跟踪误差信号检测装置。

图28，是说明受光装置237的各受光单元及信号演算部238的图，239及241是3分割受光单元，239a至239c、241a至241c表示3分割受光单元的各受光领域。240是4分割受光单元，242及244是辅助光束，243是主光束，245是245a至245f是放大器，238a至238d是从信号演算部输出的各信号。

下面对具有这样构成的本实施形态的光学头的动作进行说明。

光源201发出的光，经衍射元件236衍射，被生成作为0次衍射光的主光束、以及作为+1次及-1次衍射光的第1及第2个辅助光束的2束辅助光束。这3个光束，一起透过光束分解器，经物镜204被集光于光盘205，在光学头的光轴202上形成主光束的光点，在离开光轴202、附图上下方向上形成2个辅助光束的光点。

来自以光盘205反射的各光点的反射光束，一起再次通过物镜204，经光束分解器203反射，入射到中继透镜206。例如将焦点检测方式作为非点象差方式，中继透镜206，具有使非点象差发生的圆柱透镜的折射力，将光束导入受光装置237，如图28所示，主光束入射到4分割受光单元240，第1辅助光束入射到3分割受光单元239，第2个辅助光束入射到3分割受光单元241。入射到4分割受光单元240的主光束243被4分割受光，通过如图示的结线进行的演算，检测信号F1、F2。

又，受光单元239及241的各受光领域，与前述实施形态1及2同样配置，可将入射的光束分割为第1及第2领域进行受光，前述第1辅助光束被3分割，受光领域239b对前述第1领域的光受光，受光领域239a、239c对前述第2领域的光受光，前述第2个辅助光束被3分割，受光领域241b对前述第1领域的光受光，受光领域241a、241c对前述第2领域的光受光。

通过如图示的结线进行的演算及放大器245a、245b、245e及245f，可检测信号238a’至238d’。238a’是第1辅助光束的第1领域的受光信号，238b’是第1辅助光束的第2领域的受光信号，238d’是第2个辅助光束的第1领域的受光信号，238c’是第2个辅助光束的第2领域的受光信号。

跟踪误差信号检测装置246，在构成中，使用238a’与信号238d’，检测作为第1跟踪误差信号的信号TE1，使用238b’与信号238c’，检测作为第2跟踪误差信号的信号TE2，所以，信号TE1，TE2可以下式表示。

TE1＝238a’-238d’                         (数22)

TE2＝238b’-238c’                         (数23)

光盘倾斜度检测装置212，通过对作为第1及第2的跟踪误差信号的信号TE1与TE2的相位进行比较，检测光盘倾斜度。

下面，对光盘倾斜度检测作详细说明。图29是表示主光束及辅助光束的光点对信息磁道如何配置的图，如图所示，相对主光束的光点，2个辅助光束的光点在与信息磁道垂直的方向上按照1/4磁道间距分离配置。

图30是对垂直于信息磁道垂直的方向上第1辅助光束光点扫描时的信号波形通过数值计算进行模拟的结果。247是信号238a’的波形，248是信号238b’的波形，249是信号238a’与238b’的和信号的波形。计算条件为：物镜开口数为0.6，光源的波长为660nm，信息磁道间距为1.2μm，作为信息磁道的连续槽幅为0.4μm，槽深度为1/8波长，光盘倾斜度在半径方向为0.6度。

由于信息磁道宽度狭窄，光盘不倾斜时，各信号波形在光点位置处于信息磁道中心时应呈现具最小值的波形，但在图30中，由于光盘倾斜在各信号波形出现相位偏移，相位偏移依波形247、波形249、波形248的次序增大。这里，所谓光点位置，指的是光点的光强度峰值位置。

从图29看出，第2个辅助光束的光点，相对第1辅助光束的光点有1/2磁道间距的位置偏移，所以，第2个辅助光束的各信号，相对第1辅助光束的信号，都有1/2磁道间距的相位差。但是，由光盘倾斜发生的信号的相位偏移，其原因出自检测光束的光强度分布的非对称性，所以，对第1及第2的辅助光束的信号是一样发生的。

因此，使用第1辅助光束的信号238a’及第2个辅助光束的信号238d’检测的第1跟踪误差信号TE1、以及使用第1辅助光束的信号238b’及第2个辅助光束的信号238c’检测的第2跟踪误差信号TE2，与图22(b)中实施形态1的2个跟踪误差信号的波形219及220相同，成为对应于光盘倾斜产生相位差的信号。这样，通过对第1及第2的跟踪误差信号的信号TE1及信号TE2的相位进行比较，可检测光盘倾斜度。

此外，在以上说明中，第1跟踪误差信号是使用第1领域中检测的信号238a’与信号238d’检测的，如图30所示，波形249相对于波形248具有相位差，因此，使用在第1及第2领域检测的信号的和信号，即亦，使用信号238a’与信号238b’的和信号、及信号238ac’与信号238d’的和信号，能检测第1跟踪误差信号，也同样能检测光盘倾斜度。

又，3光束跟踪方式的跟踪检测，利用辅助光束在信息磁道被光强度调制进行信号检测，因此，即使物镜在垂直于信息磁道的方向移动，跟踪误差信号中也不会产生偏移，又，分割检测光束的第1及第2领域的形状被做成垂直于信息磁道的方向的长度大于检测光束的直径的形状，所以，即使光束移动，各领域中的光强度分布也不变化。这样，可进行不受物镜移动影响的光盘倾斜度检测。

如上所述，按照本实施形态，在3光束跟踪方式的光学头，通过对第1跟踪误差信号及第2跟踪误差信号进行相位比较，不用专用的光盘倾斜度检测器，即可进行不受物镜移动影响的稳定的光盘倾斜度的检测。

(实施形态9)

本实施形态，是进行使前述各实施形态的光学头中检测的光盘倾斜度对应的信号具有更好的信号特性的信号处理的一例。该信号处理装置的说明，包括前述光学头的各构成，例如，图23中的光盘倾斜度检测装置212的内部的内容。

光盘倾斜度的检测，通过测定前述前述第1跟踪误差信号TE1及第2跟踪误差信号TE2的相位差进行。用图26(b)对该相位差测定进行说明。在图26(b)，波形233表示信号TE1，波形234是信号TE2，波形235是信号TE1与TE2的和信号，但是，波形234，如果对与横轴相交时的波形233或波形235的信号进行测定，那么，对应于相对波形234的相位差的方向，前述信号值发生正负变化，该测定成为相位差测定法之一。

把计算与这样测定的相位差相当的信号值与光盘倾斜量的关系结果表示于图31。计算条件与图26的计算同样。横轴表示光盘倾斜量，纵轴表示前述信号值，考虑作图比例，让信号值带适当的系数。250表示前述信号值原来的计算结果，251表示将前述信号值按信号TE1的振幅值正规化后的计算结果。由于信号TE1对应着光盘倾斜度减低振幅，图象曲线250的线性不好，通过按信号TE1的振幅值正规化，图象曲线251的线性可得到改善。此外，对于实现以振幅值进行的前述信号值的正规化的具体装置，可采用一般的电气信号处理装置，说明从略。

如上所述，信号TE2，测定与基准电压相交时的信号TE1的信号值，由于将该信号值以信号TE1的振幅值正规化的信号作成光盘倾斜度检测信号，所以，能得到针对光盘倾斜量的线性好的光盘倾斜度检测信号。

(实施形态10)

本实施形态，是使用以前述各实施形态6至9的光学头检测的第1及第2跟踪误差信号及光盘倾斜度检测信号进行跟踪控制中生成合适的控制信号的光学头的一例。

图32是表示本发明的实施形态10的光学头的构成图，与前述各实施形态共通的构成要素带同样符号、又，除了必须说明的部分、其余都省实质上的构成图。252是物镜移动装置，253是跟踪控制信号生成装置，254是跟踪控制装置。光盘倾斜度检测装置212，输出光盘倾斜度检测信号TLT、第1及第2跟踪误差信号的信号TE1、TE2。这3个信号，被输入跟踪控制信号生成装置253，在那里进行演算，作为跟踪控制信号TE输出，信号TE，被作为跟踪控制装置254的控制信号使用。跟踪控制装置254，驱动物镜位置移动装置252，对物镜24的位置进行控制，使光点能够追随信息磁道的中心。

图33是说明跟踪控制信号生成装置253的构成图，255是使信号的振幅衰减的衰减器，256是差分放大器。衰减器255可根据信号TLT的大小调整输入信号的衰减率，依此改变信号TE1的振幅，差分放大器256从信号TE2以振幅变更后的信号TE1进行差分并输出信号TE。

参照图26(b)对具有以上构成的本实施形态进行说明。波形233是信号TE1，波形234是信号TE2，由于2波形存在相位差，可从波形234去除波形233，可生成使波形234向左移动的信号波形。为此，如果调整波形233的振幅，从波形234去除，可将任意的相位变化加到演算后的波形。

即，按照信号TLT用衰减器255对信号TE1的振幅进行调整，用差分放大器256从信号TE2去除，可生成相对信号TE2具有任意相位差的信号TE。这样，信号TE的波形与基准电压相交的点，可任意地设定在信息磁道中心的周围，因此，通过使用该信号TE进行跟踪控制，可任意设定跟踪控制位置。

因此，通过预先对由信号TLT调整的衰减器255的衰减率进行适当调整，可使用信号TLT补正由光盘倾斜产生的光点位置与信息磁道中心的位置偏移，并进行跟踪控制。

如上所述，按照本实施形态的光学头，检测半径方向的光盘倾斜度，采用该光盘倾斜度检测信号，补正由光盘倾斜产生的信息磁道中心与光点位置的偏移，可实现高精度的跟踪控制。

又，以往的跟踪控制位置的调整，通过在跟踪控制信号加上直流偏置进行，所以，存在控制***不稳定的课题，按照本实施形态，不用加上直流偏置，通过偏移控制信号的相位，调整控制位置，所以，可实现稳定的跟踪控制。

又，生成跟踪控制信号的场合，如同以往的技术，使用受光的全领域的信号的场合，以径向倾斜进行的补正程度，比之以前述实施形态得到的光盘倾斜度为基础的场合，可进行更大的修正。

(实施形态11)

本实施形态是将本发明应用于进行光盘接线方向的倾斜度检测的光学头的一例。

图34是本发明实施形态11的光学头的构成图。对于与前述实施形态相同的构成要素，带上同样符号，又，由于焦点检测装置及跟踪误差信号检测装置与前述各实施形态相同，在此予以省实质上。257是受光装置，258是信号演算部，259是光盘倾斜度检测装置。光源1发出的光经光盘反射，该光被导入受光装置257前的说明与前述各实施形态相同，在此予以省实质上。又，光盘采用其信息磁道形成坑槽的类型。

图35是说明受光装置257与信号演算部258的图。216是入射光束的外形，257a至257c是受光装置257的各受光领域，258a、258b是放大器，S1，S2是信号演算部258输出的信号。受光装置257的受光领域，被3分割为作为平行于信息磁道的方向上长而且位于光束中央部的第1领域的受光领域257b、以及作为第1领域以外的领域的第2领域的受光领域257a及257c，各受光信号通过结线相加并经放大器258a、258b作为信号S1，S2输出。信号S1由前述第1领域的受光信号构成，信号S2由前述第2领域的受光信号构成。

图36是表示当光盘存在接线方向倾斜(在含有物镜的光轴与信息磁道的接线的平面内光盘的法线含有的光盘倾斜)时光点通过坑槽时检测的信号的波形图。260是前述信号S1，261是前述信号S2的波形。信号S1相对信号S2存在波谷位置的偏移，其出现相位偏移的原因是光盘倾斜发生的彗形象差。以光盘在接线方向的倾斜度检测的光束内的光强度分布，在光点通过坑槽时呈现如图22所示那样的非对称分布，这样的非对称分布发生在与信息磁道平行的方向上。

本实施形态的第1领域及第2领域，在与信息磁道平行的方向上是长的形状，所以，在第1与第2领域，前述非对称的光强度分布含量是不同的，导致信号S1与信号S2发生相位差。又，光盘倾斜为逆方向时，信号的相位偏移也产生在逆方向上，这与前述实施形态是一样的。因此，光盘倾斜度检测装置259，通过检测信号S1与S2的相位差，可检测光盘倾斜度。

图37是用来说明检测信号S1与S2的方法之一例的图。波形262是信号S1的微分波形，波形263是信号S2的微分波形，264是基准电压。波形262及波形263，是在以基准电压264为中心的正负方向上几乎对称变化的信号，所以，通过测定波形263与基准电压264相交时的波形262的信号值，可得到按照2个微分波形的相位差方向发生正负变化的信号。这些微分波形的相位差与信号S1及信号S2的相位差对应，因此，这个信号就是光盘倾斜度检测信号。

如上所述，按照本实施形态，对于形成坑槽的光盘，当光点通过坑槽时，透过对第1领域的检测信号与第2领域的检测信号的相位进行比较，可检测光盘在接线方向上的倾斜度。

又，本实施形态是以坑槽形成信息磁道的，但以连续槽及坑槽形成的光盘也可以。主要是，信息磁道的全部或一部以坑槽形成就可。

又，如果将本发明的实施形态6至8表示的光学头的半径方向的倾斜检测与实施形态11中表示的光学头构成的光盘的接线方向的倾斜检测复合化，则不用在光学头的外部设置专用的光盘倾斜度检测器，就可检测所有方向的光盘倾斜度。

又，本发明不限于前述实施形态的构成，对于能够将检测跟踪误差信号用的受光装置分成前述那样形状的第1领域及第2领域进行受光的构成的光学头，可容易地应用本发明。

又，在前述实施形态1至5，物镜4相当于本发明的集光装置，受光装置8、30、47、54相当于本发明的受光装置，跟踪误差信号检测装置9，55相当于本发明的跟踪误差检测装置，光学装置6、6’相当于本发明的衰减装置。

又，光学装置6中的光学功能领域11相当于本发明的减光领域，别的部分相当于非减光领域，光学装置6’相当于本发明的分路装置。又，受光装置30中的受光单元34至37相当于本发明的受光单元的第1子受光领域部分。又，受光单元34至37相当于使本发明的辅助光束的光受光的部分。又，受光单元31，33相当于本发明的受光单元的第2子受光领域。又，受光单元31，33相当于使本发明的主光束的光受光的部分。

又，在受光装置47，4分割受光单元49相当于使本发明的受光单元的主光束的光受光的部分，3分割受光单元48、50相当于本发明的受光单元的辅助光束的光受光的部分。又，受光领域48b、50b相当于本发明的第1子受光领域，受光领域48a、48c、50a、50c相当于本发明的第2子受光领域。

又，在受光单元54，受光单元72、73a、81a、81b、82a、82b、83a、83b相当于本发明的受光单元的第1子受光领域部分。又，受光单元70、73b、73c、80a、80b、83c、83d、83e、83f相当于本发明的受光单元的第2子受光领域的部分。

又，齿形标记107及108相当于本发明的一对标记。

又，在图41中位置A，取样点信号S，相当于通过第10的本发明的跟踪误差信号检测装置被采用、从一对标记一方的反射光束得到的前述受光信号，在图41中位置B，取样点信号S，相当于通过第10的本发明的跟踪误差信号检测装置被采用、从一对标记另一方的反射光束得到的前述受光信号。

又，在受光装置54，受光单元56a、56b受光的受光信号，以及受光单元80a、81a、82a受光的受光信号，以及受光单元83a、83c、83e受光的受光信号相当于本发明的第1子受光信号，受光单元56c、56d受光的受光信号，以及受光单元80b、81b、82b、受光单元83b、83d、83f受光的受光信号相当于本发明的第2子受光信号。

在前述实施形态6至11，物镜204相当于本发明的集光装置，受光装置208、237、257相当于本发明的受光装置，跟踪误差信号检测装置211、221相当于本发明的跟踪误差检测装置，光盘倾斜度检测装置212、259相当于本发明的光盘倾斜度检测装置。

又，在受光装置208，受光领域208f及208e相当于本发明的第1子受光领域，受光领域208a、208b、208c、208d相当于本发明的第2子受光领域。

又，在受光装置237，受光领域239b及241b相当于本发明的第1子受光领域，受光领域239a、239c、241a、241cd相当于本发明的第2子受光领域。

又，在受光装置257，受光领域257b相当于本发明的第1子受光领域，受光领域257a、257c相当于本发明的第2子受光领域。

又，在受光装置237及257，3分割受光单元239及241相当于使本发明的受光装置的、2个辅助光束的光受光的部分，4分割受光单元240相当于使本发明的受光装置的、至少2个辅助光束的光受光的部分。

又，取样坑槽222及223的一组，是本发明的一对标记的一例。

又，在实施形态7，在通过取样坑槽222的时刻取样点的检测信号，成为第21的本发明的、从一对标记的一方的反射光束得到的前述受光信号的一例，在通过取样坑槽223的时刻取样点的检测信号，成为第21的本发明的、从一对标记的另一方的反射光束得到的前述受光信号的一例。

又，信号208a’、208e’、信号208d’是本发明的第1子受光信号的一例，信号208b’、208f’、信号208c’是本发明的第2子受光信号的一例。

又，跟踪控制信号生成装置253是本发明的跟踪控制信号生成装置3的一例，跟踪控制装置234是本发明的跟踪控制装置的一例。

又，本发明，也可实现作为具有本发明的光学头、在光盘中记录信息用的光盘记录装置。

又，本发明，也可实现作为具有本发明的光学头、从光盘中再生信息用的光盘再生装置。

又，本发明，也可实现作为具有本发明的光学头、在光盘中记录或再生信息用的光盘记录再生装置。

又，本发明的光盘，以光学装置进行信息的记录或再生，但不以其构成及型式为限制，还可列举CD、CD-R、CD-RW、DVD、DVD-R、DVD-RW、DVD-ROM等例子。

工业上的实用性

如上所述，按照本发明，可抑制光盘倾斜产生的跟踪误差信号的相位偏移，实现跟踪控制精度特别高的光学头。

按照本发明，可实现不用专用的光盘倾斜度检测器，不易受物镜移动的影响，高精度的光盘半径方向或接线方向的倾斜度检测。又，即使光盘形状存在差异，也能不会减低检测精度地进行稳定的检测。

Claims (31)

1.一种光学头，用于将信息记录到光盘、及/或用于再生写入所述光盘上的信息，其特征在于，包括

集光于所述光盘的集光装置，

收受从所述光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置，以及

从所述受光信号，检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置；

设置使入射到所述受光装置的所述反射光束中、用于跟踪误差信号检测的跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的光量衰减的衰减装置。

2.如权利要求1所述的光学头，其特征在于，

所述衰减装置，具有使所述跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的光强度减低的减光领域，以及使剩余领域的光强度不减低的非减光领域，

所述减光领域，含有所述跟踪误差信号检测用光束的中心点，并呈现以与所述光盘的信息磁道垂直的方向为长边的实质上长方形。

3.如权利要求2所述的光学头，其特征在于，

所述减光领域，是以能使光的透过率减低的物质形成的薄膜。

4.如权利要求2所述的光学头，其特征在于，

所述减光领域，是形成衍射栅的领域。

5.如权利要求2所述的光学头，其特征在于，

所述长边，比入射到所述受光装置的所述反射光束的直径长。

6.一种光学头，用于将信息记录到光盘、及/或用于再生写入所述光盘上的信息，其特征在于，包括

集光于所述光盘的集光装置，

收受从所述光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置，以及

从所述受光信号检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置；

所述受光装置，使对应于所述受光信号的各成分中、用于所述跟踪误差信号检测的跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的成分的增益衰减。

7.如权利要求6所述的光学头，其特征在于，

通过设置使入射到所述受光装置的所述反射光束中、所述跟踪误差信号检测用光束与别的光束分路的分路装置，使对应于所述跟踪误差信号检测用光束的中央部领域的成分的增益衰减。

8.如权利要求6所述的光学头，其特征在于，

所述受光装置，具有被分割为使所述反射光束的、所述中央部的领域受光的第1子受光领域，以及使所述反射光束的剩余部分的领域受光的第2子受光领域的受光单元，

所述第1子受光领域，含有所述跟踪误差信号检测用光束的中心点，并呈现以与所述光盘的信息磁道垂直的方向为长边的实质上长方形。

9.如权利要求8所述的光学头，其特征在于，

所述长边，比入射到所述受光装置的所述反射光束的直径长。

10.如权利要求1至9中任一项所述的光学头，其特征在于，

所述集光装置，可集聚用作信息记录及/或再生的主光束、以及作为所述跟踪误差信号检测用光束的至少2束辅助光束，

所述受光装置，包括收受所述主光束的部分，以及收受所述至少2束辅助光束的部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以所述至少2束辅助光束相对于所述受光信号的差为基础，检测所述跟踪误差信号。

11.如权利要求1至9中任一项所述的光学头，其特征在于，

所述光盘，具有

记录信息的信息磁道，及

离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，

根据属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述受光信号，与属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述受光信号的差检测所述跟踪误差信号。

12.如权利要求1至9中任一项所述的光学头，其特征在于，

所述受光装置，以平行于所述光盘的磁道的延伸方向的轴为界被至少分成2部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以从所述一分为二的其中一方的受光装置收受的所述跟踪误差信号检测用光束中得到的第1子受光信号，与从所述一分为二的另一方的受光装置收受的所述跟踪误差信号检测用光束中得到的第2子受光信号的差为基础，检测所述跟踪误差信号。

13.如权利要求12所述的光学头，其特征在于，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的所述导向槽断续地切断一部分，其间离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，根据属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号，

利用所述第1子受光信号、及所述第2子受光信号、及所述跟踪误差信号，检测所述跟踪误差信号的偏移。

14.如权利要求12所述的光学头，其特征在于，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的、所述导向槽断续地切断一部分设置的镜面部；

所述跟踪误差信号检测装置，根据属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述信息磁道的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与属于所述跟踪误差信号检测用光束、从所述信息磁道的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号，

根据从所述镜面部的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述镜面部的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号的偏移。

15.一种光学头，用于将信息记录到光盘、及/或用于再生写入所述光盘的信息，其特征在于，包括

集光于所述光盘的集光装置，

收受从所述光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置，

从所述受光信号检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置，以及

以所述跟踪误差信号为基础，检测所述光盘相对所述集光装置的光轴的倾斜度的光盘倾斜度检测装置。

16.如权利要求15所述的光学头，其特征在于，

所述受光装置，具有被分割为使所述反射光束的、中央部的领域受光的第1子受光领域，以及使所述反射光束的剩余部分的领域受光的第2子受光领域的受光单元，

所述第1子受光领域，是含有所述反射光束的中心点的实质上长方形，

所述跟踪误差信号检测装置，从由所述第1子受光领域得到的受光信号中检测第1子跟踪误差信号，从由所述第2子受光领域得到的受光信号中检测第2子跟踪误差信号，

所述光盘倾斜度检测装置，通过比较所述第1子跟踪误差信号与所述第2子跟踪误差信号的相位，检测所述光盘的倾斜度。

17.如权利要求16所述的光学头，其特征在于，

所述第1子受光领域的实质上长方形，以垂直于所述光盘的信息磁道的方向为长边。

18.如权利要求17所述的光学头，其特征在于，

所述长边，比所述反射光束的直径长。

19.如权利要求18所述的光学头，其特征在于，

所述短边，比所述反射光束的直径短。

20.如权利要求16至19中任一项所述的光学头，其特征在于，

所述集光装置，可集聚用作信息记录及/或再生的主光束、以及作为所述跟踪误差信号检测用的至少2束辅助光束，

所述受光装置，包括收受所述主光束的部分，以及收受所述至少2束辅助光束的部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以所述至少2束辅助光束相对于所述受光信号的差为基础，检测所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号。

21.如权利要求16至19中任一项所述的光学头，其特征在于，

所述光盘，具有

记录信息的信息磁道，及

离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，根据从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述受光信号，与从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述受光信号的差检测所述第1子跟踪误差信号及第2子跟踪误差信号。

22.如权利要求16至19中任一项所述的光学头，其特征在于，

所述受光装置，以平行于所述光盘的磁道的延伸方向的轴为界被至少分成2部分，

所述跟踪误差信号检测装置，以所述一分为二的其中一方的受光装置的第1子受光信号，与所述一分为二的另一方的受光装置的第2子受光信号的差为基础检测所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号。

23.如权利要求22所述的光学头，其特征在于，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的所述导向槽断续地切断一部分，其间离开所述信息磁道的接线方向规定距离、且与所述信息磁道垂直、在不同方向上相互距离相等处的至少一对标记；

所述跟踪误差信号检测装置，根据从所述一对标记的一方的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述一对标记的另一方的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号，

利用所述第1子受光信号、及所述第2子受光信号、及所述第1子跟踪误差信号及所述第2子跟踪误差信号，检测所述跟踪误差信号的偏移。

24.如权利要求22所述的光学头，其特征在于，

所述光盘，具有

可记录信息、具有导向槽的信息磁道，及

将所述信息磁道的、所述导向槽断续地切断一部分设置的镜面部；

所述跟踪误差信号检测装置，根据从所述信息磁道的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述信息磁道的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述第1子跟踪误差信号及第2子跟踪误差信号，

根据从所述镜面部的一部分的反射光束中得到的所述第1子受光信号，与从所述镜面部的剩余部分的反射光束中得到的所述第2子受光信号的差检测所述跟踪误差信号的偏移。

25.如权利要求16至19中任一项所述的光学头，其特征在于，

包括利用所述第2跟踪误差信号，或所述第1及所述第2跟踪误差信号相加的信号中的任一方进行跟踪控制的跟踪控制装置，

所述光盘倾斜度检测装置，是在所述跟踪控制装置进行跟踪控制的过程中，通过测量所述第1跟踪误差信号值，对所述第1跟踪误差信号与所述第2跟踪误差信号进行相位比较。

26.如权利要求16至19中任一项所述的光学头，其特征在于，还包括

生成跟踪控制信号的跟踪控制信号生成装置，及

用所述跟踪控制信号进行跟踪控制的跟踪控制装置；

所述跟踪控制信号生成装置，将所述第1跟踪误差信号的振幅调整到规定大小，通过对所述第2跟踪误差信号进行加或减生成相位偏移的信号作为跟踪控制信号，

所述跟踪控制装置，由所述集光装置形成的光束，通过跟踪控制位置的移动，使处于所述信息磁道的中央。

27.如权利要求26的光学头，其特征在于，

所述跟踪控制信号生成装置，按照对应于检测的光盘倾斜度的信号，调整所述第1跟踪误差信号的振幅大小，

所述跟踪控制装置，根据所述倾斜度使跟踪控制位置移动。

28.一种光学头，用于将信息记录到在信息磁道的全部或一部形成坑槽的光盘，及/或再生写入所述光盘的信息，其特征在于，包括

集光于所述光盘的集光装置，

收受从所述光盘反射的反射光束以得到受光信号的受光装置，以及

用所述受光信号检测所述光盘相对所述集光装置的光轴的倾斜度的光盘倾斜度检测装置；

所述受光装置，具有被分割为使所述反射光束的、所述中央部的领域受光的第1子受光领域，以及使所述反射光束的剩余部分的领域受光的第2子受光领域的受光单元，

所述第1子受光领域，含有所述反射光束的中心点，并呈现以与所述光盘的信息磁道平行的方向为长边的实质上长方形。

所述光盘倾斜度检测装置，通过将得自所述第1子受光领域的受光信号与得自所述第2子受光领域的受光信号作比较，在光点通过所述坑槽上时检测被调制的信号波形的相位差，检测所述光盘的倾斜度。

29.一种光盘记录装置，其特征在于，

包括如权利要求1至28中任一项所述的光学头。

30.一种光盘再生装置，其特征在于，

包括如权利要求1至28中任一项所述的光学头。

31.一种光盘记录再生装置，其特征在于，

包括如权利要求1至28中任一项所述的光学头。

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