CN104090437B - 一种阵列基板、显示装置、母板及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阵列基板、显示装置、母板及其检测方法，在至少一条信号线末端设置有与信号线对应连接的短路环，各短路环通过公共电极线串联，在阵列基板中增加了测试线和测试端子衬垫，测试端子衬垫通过测试线与公共电极线连接，用于在对信号线进行测试时，对与测试线连接的公共电极线加载负电压，以避免与公共电极线连接的各短路环导通后使已经断开的信号线发生信号倒灌现象，保证在进行检测时检出已断开的信号线，从而提高AT检出率和准确性，进一步提高通过化学气相沉积设备对断线处进行相应维修的维修率，从而提高产品良率。

Description

一种阵列基板、显示装置、母板及其检测方法

技术领域

本发明涉及显示面板制作工艺领域，尤其涉及一种阵列基板、显示装置、母板及其检测方法。

背景技术

液晶显示面板主要由阵列基板、对向基板以及位于阵列基板和对向基板之间的液晶分子组成。其中，在阵列基板的显示区域内设置有多条用于传递电信号的信号线(例如数据信号线和栅极信号线等)。随着市场对液晶显示面板分辨率的要求越来越高，阵列基板中的信号线相应也会越来越多且各信号线的线宽也会越来越细，相应地，信号线从中间断开的不良率(DO，data open和GO，gate open)也会越来越高。

在阵列基板制作完成后需要进行基板测试(AT，array test)，检测出DO和GO后可通过化学气相沉积(CVD)设备对断线处进行相应的维修(repair)。因此在AT时，DO和GO的检出率以及确定不良位置的准确性，对于后期维修至关重要，关系到制作出的液晶显示面板的良率。

在阵列基板的设计中，如图1所示，一般在信号线A和B的末端设置与公共电极线C(Common Line)连接短路环a和b，短路环a和b可以将显示区域内存在的静电的瞬间高压导出至公共电极线C，起到显示区域区内静电释放(ESD，Electro-Static discharge)的作用。然而，由于在各信号线A和B末端设置的短路环a和b会与同一条公共电极线C连接，在对各信号线A和B进行测试时，会发生信号倒灌现象，从而影响AT检出率以及测试的准确性。

具体地，信号倒灌现象的基本原理如下：由于短路环a和b中的薄膜晶体管(TFT)的沟道在0伏电压时，沟道仍然会有载流子通过该沟道，在对信号线A和B进行测试时，在一条信号线A加载的高压信号通过短路环a导入到公共电极线C后(如图中虚线所示)，会顺着公共电极线C和另一短路环b流入到下一条已断开的信号线B上(如图中虚线所示)，从而在信号线B上发生信号倒灌现象。信号倒灌现象使原本已经断开的不应具有高电压信号的信号线B具有高电压信号，导致在进行测试时无法检测出信号线B的断开，从而影响了AT检出率和测试的准确性。并且，随着液晶显示面板分辨率的提高，阵列基板中信号线的数量会增多，信号倒灌现象会越严重，导致AT检出率逐渐下降。

因此，在进行阵列基板的测试时，如何避免信号倒灌现象从而提高AT检出率和准确性，是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种阵列基板、显示装置、母板及其检测方法，用以避免在阵列基板测试时发生的信号倒灌现象从而提高AT检出率和准确性。

因此，本发明实施例提供了一种阵列基板，包括多条信号线，设置在至少一条所述信号线末端与所述信号线对应连接的短路环，以及将各所述短路环串联的公共电极线，还包括：测试线以及测试端子衬垫；其中，

所述测试端子衬垫通过所述测试线与所述公共电极线连接，用于在对所述信号线进行测试时，对与所述测试线连接的公共电极线加载负电压。

本发明实施例提供的上述阵列基板，在至少一条信号线末端设置有与信号线对应连接的短路环，各短路环通过公共电极线串联，在阵列基板中增加了测试线和测试端子衬垫，测试端子衬垫通过测试线与公共电极线连接，用于在对信号线进行测试时，对与测试线连接的公共电极线加载负电压，以避免与公共电极线连接的各短路环导通后使已经断开的信号线发生信号倒灌现象，保证在进行检测时检出已断开的信号线，从而提高AT检出率和准确性，进一步提高通过化学气相沉积设备对断线处进行相应维修的维修率，从而提高产品良率。

在一种可能的实现方式中，本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述阵列基板包括显示区域和包围所述显示区域的周边区域，所述测试线和所述测试端子衬垫均设置在所述周边区域。

在一种可能的实现方式中，本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述信号线为栅极信号线和/或数据信号线。

在一种可能的实现方式中，本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述测试线设置为与所述栅极信号线同层同材质，或与所述数据信号线同层同材质；

所述测试端子衬垫设置为与所述栅极信号线同层同材质，或与所述数据信号线同层同材质。

在一种可能的实现方式中，本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述短路环具体包括：第一晶体管和第二晶体管；其中，

所述第一晶体管的栅极和源极均与所述信号线连接，漏极与所述公共电极线连接；

所述第二晶体管的栅极与源极均与所述公共电极线连接，漏极与所述信号线连接。

本发明实施例还提供了一种母板，包括多个呈阵列排布的阵列基板，各所述阵列基板共用同一衬底基板，所述阵列基板为本发明实施例提供的上述阵列基板。

在一种可能的实现方式中，本发明实施例提供的上述母板中，还包括：位于各所述阵列基板之外区域的测试端子总衬垫；

所述测试端子总衬垫通过导线分别与各所述阵列基板中的测试端子衬垫相连。

在一种可能的实现方式中，本发明实施例提供的上述母板中，所述测试端子总衬垫位于所述母板的边缘区域。

本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述母板的检测方法，包括：

在对母板中各阵列基板中的信号线进行测试时，对母板中的测试端子总衬垫加载负电压。

本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述阵列基板。

附图说明

图1为现有的阵列基板中信号线的信号倒灌现象的示意图；

图2为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的母板的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明实施例提供的阵列基板、显示装置、母板及其检测方法的具体实施方式进行详细地说明。

附图中阵列基板中各部件的形状和大小不反映真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

本发明实施例提供的一种阵列基板，如图2所示，包括多条信号线110，设置在至少一条信号线110末端与信号线110对应连接的短路环120，以及将各短路环120串联的公共电极线130，还包括：测试线140以及测试端子衬垫150；其中，

测试端子衬垫150通过测试线140与公共电极线130连接，用于在对信号线110进行测试时，对与测试线140连接的公共电极线130加载负电压。

本发明实施例提供的上述阵列基板中，在至少一条信号线110末端设置有与信号线110对应连接的短路环120，各短路环120通过公共电极线130串联，在阵列基板中增加了测试线140和测试端子衬垫150，测试端子衬垫150通过测试线140与公共电极线130连接，用于在对信号线110进行测试时，对与测试线140连接的公共电极线130加载负电压，以避免与公共电极线130连接的各短路环120导通后使已经断开的信号线110发生信号倒灌现象，保证在进行检测时检出已断开的信号线110，从而提高AT检出率和准确性，进一步提高通过化学气相沉积(CVD)设备对断线处进行相应维修的维修率，从而提高产品良率。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图2所示，一般可以分为显示区域101和包围显示区域101的周边区域102，为了不影响显示区域的正常工作，在具体设计阵列基板时，可以将增加的测试线140和测试端子衬垫150均设置在周边区域102。并且，一般地，与各信号线110的末端连接的短路环120一般也设置在周边区域102。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述阵列基板中，在末端处设置短路环120的信号线110具体可以仅为栅极信号线，也可以仅为数据信号线，还可以同时为栅极信号线和数据信号线，在此不做限定。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述阵列基板中，为了便于测试线140和测试端子衬垫150传输负电压，一般采用金属制作；进一步地，可以将测试线140设置为与栅极信号线同层同材质，或与数据信号线同层同材质；同样，可以将测试端子衬垫150设置为与栅极信号线同层同材质，或与数据信号线同层同材质，这样，在现有的阵列基板制备工艺的基础上，也不需要增加额外的工艺来制作测试线140和测试端子衬垫150，可以节省生产成本，提高生产效率。

进一步地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，设置在信号线110末端的短路环120的具体结构可以为多种，具体地，如图2所示，短路环可以包括：第一晶体管T1和第二晶体管T2；其中，第一晶体管T1的栅极和源极均与信号线110连接，漏极与公共电极线130连接；第二晶体管T2的栅极与源极均与公共电极线130连接，漏极与信号线110连接。当然，在具体实施时，短路环120的结构还可以为其他结构，在此不作赘述。

进一步地，本发明实施例提供的上述阵列基板，在实际制作时，首先是在一张母板上制作多个呈矩阵排列的阵列基板区域，然后，将该母板与制作有多个呈矩阵排列的对向基板区域的母板进行对盒工艺，并分别沿各对向基板区域和各阵列基板区域对两张母板进行切割，形成多个小的液晶显示面板。

基于上述制作工艺，本发明实施例还提供了一种母板，如图3所示，包括：多个呈阵列排布的阵列基板100，各阵列基板100共用同一衬底基板，该阵列基板100为本发明实施例提供的上述阵列基板100。由于母板解决问题的原理与前述一种阵列基板相似，因此该母板的实施可以参见阵列基板的实施，重复之处不再赘述。

在具体实施时，上述母板制作完成后，需要对母板中包含的各阵列基板100中的信号线110分别进行测试，这样就需要分别对各阵列基板100中具有的测试端子衬垫150加载负电压。为了方便对各测试端子衬垫150加载负电压，如图3所示，可以在母板中位于各阵列基板100之外区域设置测试端子总衬垫160，并通过导线将测试端子总衬垫160分别与各阵列基板100中的测试端子衬垫150相连，这样，在测试时，仅需对测试端子总衬垫160加载负电压即可实现对各阵列基板100中的测试端子衬垫150施加负电压，方便了测试。

在具体实施时，为了方便加载负电压，一般地，测试端子总衬垫160可以设置在母板的边缘区域，这样方便在对盒之后进行各液晶显示面板的切割时，将测试端子总衬垫160切割掉。

值得注意的是，在母板中设置的测试端子总衬垫160的个数没有限制，可以为一个，也可以为多个，具***置可以根据母板的规格进行布局，在此不做限定。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种上述母板的检测方法，包括：在对母板中各阵列基板100中的信号线110进行测试时，对母板中的测试端子总衬垫160加载负电压，以便通过测试端子总衬垫160向各阵列基板100中的测试端子衬垫150加载负电压，使通过测试线140与测试端子衬垫150连接的公共电极线130保持负电压，以避免与公共电极线130连接的各短路环120导通后使已经断开的信号线110发生信号倒灌现象，保证在进行检测时检出已断开的信号线110，从而提高AT检出率和准确性，进一步提高通过化学气相沉积(CVD)设备对断线处进行相应维修的维修率，从而提高产品良率。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述阵列基板，该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。该显示装置的实施可以参见上述阵列基板的实施例，重复之处不再赘述。

本发明实施例提供的上述阵列基板、显示装置、母板及其检测方法，在至少一条信号线末端设置有与信号线对应连接的短路环，各短路环通过公共电极线串联，在阵列基板中增加了测试线和测试端子衬垫，测试端子衬垫通过测试线与公共电极线连接，用于在对信号线进行测试时，对与测试线连接的公共电极线加载负电压，以避免与公共电极线连接的各短路环导通后使已经断开的信号线发生信号倒灌现象，保证在进行检测时检出已断开的信号线，从而提高AT检出率和准确性，进一步提高通过化学气相沉积设备对断线处进行相应维修的维修率，从而提高产品良率。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种阵列基板，包括多条信号线，设置在至少两条所述信号线末端与所述信号线对应连接的短路环，以及将各所述短路环串联的公共电极线，其特征在于，还包括：测试线以及测试端子衬垫；其中，

所述测试端子衬垫通过所述测试线与所述公共电极线连接，用于在对所述信号线进行测试时，对与所述测试线连接的公共电极线加载负电压。

2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括显示区域和包围所述显示区域的周边区域，所述测试线和所述测试端子衬垫均设置在所述周边区域。

3.如权利要求1或2所述的阵列基板，其特征在于，所述信号线为栅极信号线和/或数据信号线。

4.如权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线设置为与所述栅极信号线同层同材质，或与所述数据信号线同层同材质；

所述测试端子衬垫设置为与所述栅极信号线同层同材质，或与所述数据信号线同层同材质。

5.如权利要求1、2或4所述的阵列基板，其特征在于，所述短路环具体包括：第一晶体管和第二晶体管；其中，

所述第一晶体管的栅极和源极均与所述信号线连接，漏极与所述公共电极线连接；

所述第二晶体管的栅极与源极均与所述公共电极线连接，漏极与所述信号线连接。

6.一种母板，包括多个呈阵列排布的阵列基板，各所述阵列基板共用同一衬底基板，其特征在于，所述阵列基板为如权利要求1-5任一项所述的阵列基板。

7.如权利要求6所述的母板，其特征在于，还包括：位于各所述阵列基板之外区域的测试端子总衬垫；

所述测试端子总衬垫通过导线分别与各所述阵列基板中的测试端子衬垫相连。

8.如权利要求7所述的母板，其特征在于，所述测试端子总衬垫位于所述母板的边缘区域。

9.一种如权利要求6-8任一项所述的母板的检测方法，其特征在于，包括：

在对母板中各阵列基板中的信号线进行测试时，对母板中的测试端子总衬垫加载负电压。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的阵列基板。