CN101750554B - 一种阵列基板检测电路及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阵列基板检测电路及检测方法，涉及阵列基板的电路检测技术领域。为了解决现有技术中阵列基板上多个显示面板同时进行检测，无法准确定位出现短路性不良的显示面板问题而发明。本发明提供的阵列基板检测电路，包括：阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚；阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚；阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，列控制信号线与行信号线的交点处设置了列开关节点；阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，行控制信号线与列信号线的交点处设置了行开关节点。

Description

一种阵列基板检测电路及检测方法

技术领域

本发明涉及阵列基板的电路检测技术领域，尤其涉及阵列基板上显示面板的检测电路及检测方法。

背景技术

阵列基板上显示面板***电路的设计主要考虑两个因素。一个因素是阵列基板上显示面板(Panel)的阵列排布；另一个是显示面板的测试工艺对各个显示面板的检测。

目前，大约半数以上的TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)制造厂家采用向阵列基板上的显示面板独立地施加检测信号来实现对显示面板的检测。

在实现所述检测的过程中，一方面，所述阵列基板上显示面板的检测个数受到检测设备的信号传输通道个数的影响；具体的讲就是所述阵列基板上每一个显示面板需要一个检测设备的信号传输通道为其输入检测信号。这样在检测设备的信号传输通道较少的情况下，能够检测的显示面板的个数也相对较少。例如：G5代线(TFT-LCD第5代产线)的检测设备一般为16个信号传输通道，即最多检测16个显示面板。另一方面，显示面板的检测方法通常分两个步骤：首先需要对所有显示面板进行短路电流检测，即短路性检测；其次，根据显示面板的短路情况进行检测头检测。

其中，所述的短路电流检测，是通过检测设备的信号传输通道向所有显示面板施加检测信号，从而判断出现短路性不良的显示面板；所述的检测头检测，是通过对进行短路电流检测后所确定的出现短路性不良的显示面板施加专门检测短路性不良的检测信号，对没有出现短路性不良的显示面板施加正常检测信号。

现有技术中，为了提高检测设备的检测效率常常将多个显示面板并联连接进行检测，如图1所示，阵列基板上至少两个显示面板中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接，并引出有检测引脚。下面以对阵列基板上的两个显示面板a与b的检测电路为例进行具体说明；

在阵列基板上，显示面板a与显示面板b中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接，即栅极信号线相互并联电连接并通过栅极信号线检测引脚a1引出；偶数数据信号线相互并联电连接并通过偶数数据信号线检测引脚a2引出；奇数数据信号线相互并联电连接并通过奇数数据信号线检测引脚a3引出；公共电极信号线相互并联电连接并通过公共电极信号线检测引脚a4引出。

在检测上述显示面板a与b时，对所述显示面板a与显示面板b施加检测信号；即同时给所述检测引脚a1，a2，a3，a4施加检测信号；对所述并联电连接的显示面板a与显示面板b进行短路性不良检测，得到检测结果。如果所述的至少两个显示面板为阵列基板上某列或者某行显示面板，则在进行短路性不良检测时，只能检测出现短路性不良的某行或者某列，无法准确的确定出现短路性不良的显示面板。

发明内容

本发明所要解决的一个技术问题在于提供了一种阵列基板检测电路，既能够对阵列基板上的多个显示面板同时进行检测，又能准确定位出现短路性不良的显示面板。

为了解决上述技术问题，本发明阵列基板检测电路采用的技术方案为：

阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚；

阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚；

阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点；

阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点。

本发明实施例提供的一种阵列基板检测电路，通过阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚与阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚，使得在对所述的阵列基板进行短路性不良检测时，可以同时对所述的阵列基板上个显示面板列或者显示面板行进行检测，从而检测显示面板的数量增加，提高了检测设备的检测效率；又由于在所述的阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点，以及在阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点，通过控制列开关节点与行开关节点的导通与断开，能够分别对各显示面板列和各显示面板行进行短路性不良检测，根据检测结果，通过显示面板列和显示面板行之间的交叉定位，能够准确定位出现短路性不良的显示面板。

本发明所要解决的一个技术问题在于提供了一种阵列基板检测方法，既能够对阵列基板上的多个显示面板同时进行检测，又能准确定位出现短路性不良的显示面板。

为了解决上述技术问题，本发明阵列基板检测方法采用的技术方案为：

对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到列检测结果，其中，阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上；

对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到行检测结果，其中，阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上；

根据所述列检测结果与所述行检测结果，确定所述阵列基板上出现短路性不良的显示面板。

本发明实施例提供的一种阵列基板检测方法，通过阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚与阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚，使得在对所述的阵列基板进行短路性不良检测时，可以同时对所述的阵列基板上个显示面板列或者显示面板行进行检测，从而检测显示面板的数量增加，提高了检测设备的检测效率；又由于在所述的阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点，以及在阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点，通过控制列开关节点与行开关节点的导通与断开，能够分别对各显示面板列和各显示面板行进行短路性不良检测，根据检测结果，通过显示面板列和显示面板行之间的交叉定位，能够准确定位出现短路性不良的显示面板。

附图说明

图1为现有技术中阵列基板中两个并联显示面板的检测电路排布图；

图2为本发明另一实施例提供的阵列基板检测电路排布图；

图3a为图2所示的本发明实施例中开关节点A的构造示意图；

图3b为图3a所示的开关节点A的制造工艺流程图；

图4a为图2所示的本发明实施例中节点B的构造示意图；

图4b为图4a所示的节点B的制造工艺流程图；

图5a为图2所示的本发明实施例中开关节点C的构造示意图；

图5b为图5a所示的开关节点C的制造工艺流程图；

图6为本发明另一实施例提供的阵列基板检测方法流程图。

附图标号说明：

a1栅极信号线检测引脚；           a2偶数数据信号线检测引脚；

a3奇数数据信号线检测引脚；       a4公共电极信号线检测引脚；

1第一栅极信号线列检测引脚；      1’第二栅极信号线列检测引脚；

1”第三栅极信号线列检测引脚；    2第一偶数数据信号线列检测引脚；

2’第二偶数数据信号线列检测引脚；2”第三偶数数据信号线列检测引脚；

3第一奇数数据信号线列检测引脚；  3’第二奇数数据信号线列检测引脚；

3”第三奇数数据信号线列检测引脚；4第一公共电极信号线列检测引脚；

4’第二公共电极信号线列检测引脚；4”第三公共电极信号线列检测引脚；

5第一奇数数据线信号行检测引脚；  5’第二奇数数据线信号行检测引脚；

5”第三奇数数据线信号行检测引脚；6第一偶数数据信号线行检测引脚；

6’第二偶数数据信号线行检测引脚；6”第三偶数数据信号线行检测引脚；

7第一公共电极信号线行检测引脚；  7’第二公共电极信号线行检测引脚；

7”第三公共电极信号线行检测引脚；8第一栅线极信号线行检测引脚；

8’第二栅线极信号线行检测引脚；  8”第三栅线极信号线行检测引脚；

9列控制信号线一；  9’列控制信号线二；         10行控制信号线一；

10’行控制信号线二；

A为第一类型节点；

B为第三类型节点

C为第二类型节点；

20控制信号线；     21栅电极；      22栅绝缘层；23半导体层；

24掺杂半导体层；   25源电极；      26漏电极；  27钝化层；

28第一接触过孔；   29第二接触过孔；30连接电极；31玻璃基板；

40信号线；         41断开线；      42连续线；  43导电层；

44第三接触过孔；   45第四接触过孔

具体实施方式

下面结合附图对本发明实施例提供的阵列基板检测电路及检测方法进行详细描述。

本发明实施例提供的一种阵列基板检测电路，包括：

阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚；阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚；阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点；阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点。

本发明实施例提供的一种阵列基板检测电路，通过阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚与阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接行信号线上，并引出有行检测引脚，使得在对所述的阵列基板进行短路性不良检测时，可以同时对所述的阵列基板上个显示面板列或者显示面板行进行检测，从而检测显示面板的数量增加，提高了检测设备的检测效率；又由于在所述的阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点，以及在阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点，通过控制列开关节点与行开关节点的导通与断开，能够分别对各显示面板列和各显示面板行进行短路性不良检测，根据检测结果，通过显示面板列和显示面板行之间的交叉定位，能够准确定位出现短路性不良的显示面板。

下面以9块显示面板组成的阵列基板为例进行详细说明。

如图2所示，该阵列基板上从以三行三列的矩阵形式排布有9块显示面板为：第一显示面板行a、d、g；第二显示面板行b、e、h；第三显示面板行c、f、j。其中，所述的a、b、c为第一显示面板列；所述的d、e、f为第二显示面板列；所述的g、h、j为第三显示面板列。

以上所述阵列基板上的显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚；即在第一显示面板列中，列栅极信号线相互并联电连接并通过第一栅极信号线列检测引脚1引出，列偶数数据信号线相互并联电连接并通过第一偶数数据信号线列检测引脚2引出，列奇数数据信号线相互并联电连接并通过第一奇数数据信号线列检测引脚3引出，列公共电极信号线相互并联电连接并通过第一公共电极信号线列检测引脚4引出；在第二显示面板列中，列栅极信号线相互并联电连接并通过第二栅极信号线列检测引脚1’引出，列偶数数据信号线相互并联电连接并通过第二偶数数据信号线列检测引脚2’引出，列奇数数据信号线相互并联电连接并通过第二奇数数据信号线列检测引脚3’引出，列公共电极信号线相互并联电连接并通过第二公共电极信号线列检测引脚4’引出；第三显示面板列中，列栅极信号线相互并联电连接并通过第三栅极信号线列检测引脚1”引出，列偶数数据信号线相互并联电连接并通过第三偶数数据信号线列检测引脚2”引出，列奇数数据信号线相互并联电连接并通过第三奇数数据信号线列检测引脚3”引出，列公共电极信号线相互并联电连接并通过第三公共电极信号线列检测引脚4”引出。

以上所述阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚；即在第一行显示面板中，行奇数数据信号线相互并联电连接并通过第一奇数数据线信号行检测引脚5引出，行偶数数据信号线相互并联电连接并通过第一偶数数据信号线行检测引脚6引出，行公共电极信号线相互并联电连接并通过第一公共电极信号线行检测引脚7引出，行栅极信号线相互并联电连接并通过第一栅线极信号线行检测引脚8引出；在第二行显示面板中，行奇数数据信号线相互并联电连接并通过第二奇数数据线信号行检测引脚5’引出，行偶数数据信号线相互并联电连接并通过第二偶数数据信号线行检测引脚6’引出，行公共电极信号线相互并联电连接并通过第二公共电极信号线行检测引脚7’引出，行栅极信号线相互并联电连接并通过第二栅线极信号线行检测引脚8’引出；在第三行显示面板中，行奇数数据信号线相互并联电连接并通过第三奇数数据线信号行检测引脚5”引出，行偶数数据信号线相互并联电连接并通过第三偶数数据信号线行检测引脚6”引出，行公共电极信号线相互并联电连接并通过第三公共电极信号线行检测引脚7”引出，行栅极信号线相互并联电连接并通过第三栅线极信号线行检测引脚8”引出。

所述阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点；即在第一显示面板列与第二显示面板列之间的行偶数数据信号线与列控制信号线一9的交点处设置了第一类型的列开关节点A；行奇数数据信号线与列控制信号线一9的交点处设置了第一类型的列开关节点A；行栅极信号线与列控制信号线一9的交点处设置了第二类型的列开关节点C；行公共电极信号线与列控制信号线一9的交点处设置了第二类型的列开关节点C；以上所述的第一显示面板列与第二显示面板列之间的列控制信号线一9控制所述的列开关节点导通与断开；其中，上述提到的第二显示面板列与第三显示面板列之间的列控制信号线二9’与列控制信号线一9功能相同，此处不再赘述。

所述阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点；即在第一显示面板行与第二显示面板行之间列偶数数据信号线与行控制信号线一10的交点处设置了第一类型的列开关节点A；列奇数数据信号线与行控制信号线一10的交点处设置了第一类型的列开关节点A；列栅极信号线与行控制信号线一10的交点处设置了第二类型的行开关节点C；列公共电极信号线与行控制信号线一10的交点处设置了第二类型的列开关节点C；以上所述的第一显示面板行与第二显示面板行之间的行控制信号线一10控制所述的行开关节点导通与断开；其中，上述提到的第二显示面板行与第三显示面板行之间的行控制信号线二10’与行控制信号线一10的功能相同，此处不再赘述。其中，所述第一类型开关节点A和第二类型开关节点C为薄膜晶体管，但并不限于薄膜晶体管。所述的第一类型的开关节点A如图中的符号“◆”所示，所述的第二类型的开关节点C如图中的符号“▲”所示。

在所述阵列基板上，所述栅极信号线与公共电极信号线交点处或所述列控制信号线与行控制信号线交点处设置有起交叉隔离作用的第三类型节点B，如图中符号“●”所示。该交叉隔离节点B传输同层的不同信号，并且所述的同层的不同信号传输经过节点B时，互不干扰。

其中，以上所述的行检测引脚或者列检测引脚用于与检测设备的信号传输通道相连。

需要注意的是，所述的检测设备给阵列基板施加检测信号是通过检测设备其自身的一个个信号传输通道来传输的。每个传输通道可以对应如图2所示的一行或者一列显示面板。本发明实施例中一个信号传输通道能够为一列或者一行显示面板施加检测信号，这样就增加了检测设备检测显示面板的个数。由于检测设备的检测信号传输通道的个数有限，就使得以上所述的显示面板的横向排布个数与纵向排布个数之和不大于检测设备的检测信号传输通道的个数。

应当理解的是，以上所述的显示面板行与显示面板列，为广义上的显示面板行与显示面板列，既包括阵列基板上呈矩阵排布的显示面板的矩阵行和矩阵列，也包括阵列基板上呈矩阵排布的显示面板对角相连形成的显示面板行与显示面板列，其中，在后一种情况下，显示面板行与显示面板列可以相互垂直，也可以不相互垂直。

还需要注意的是，所述的开关节点A、C的构造，如图3a、图5a所示，能够采用TFT(薄膜晶体管)实现对电路开断的控制，类似于常见的像素TFT设计或短路环(Short Ring)设计。所述的TFT器件包括：栅电极21、栅绝缘层22、半导体层23、掺杂半导体层24、源电极(Source)25、漏电极(Drain)26、钝化层27、第一接触过孔28、第二接触过孔29、连接电极30。

所述开关节点A的制作流程如图3b所示，各层的构图和显示面板区域各层的构图是同步的，只是图形有所不同。其具体的实现流程为：

在玻璃基板31上先沉积第一金属薄膜，经过曝光、刻蚀等构图工艺形成栅电极21的图形，栅电极21是控制信号线20上的一部分。然后沉积栅绝缘层22和半导体层23、掺杂半导体层24，经过曝光、刻蚀等构图工艺形成有源层图形；接着进行沉积第二金属薄膜，经过曝光、刻蚀等构图工艺，形成包括源电极25和漏电极26的图形。所述有源层图形、源电极25、漏电极26的图形也可以在一次构图工艺中形成，是本领域技术人员都熟悉的工艺，在此不再赘述。然后沉积钝化层27，形成钝化层。

下面结合本发明实施例说明开关节点A的作用，如图3a，3b所示，给控制信号线20施加控制节点导通的控制信号，即栅电极21通有导通信号，源电极25和漏电极26导通，那么图3a中的信号线40就导通了。对应到图2中，如果从列控制信号线一9的输入端施加导通控制信号，同时从行检测引脚5和6施加检测信号，那么列控制信号线一9和与行检测引脚5、6相连的电连接线的交点对应的开关节点A都处于导通状态，行检测引脚5和6上施加的检测信号就可以传输到横向并联的显示面板d；反之，如果列信号控制线一9没有信号或者施加的信号未达到导通阈值，行检测引脚5和6就无法将信号传输到对应的横向并联的显示面板d。从而实现了列控制信号线一9对所述显示面板a与所述显示面板d之间检测信号通断的控制。

所述的开关节点C的制作流程如图5b所示，各层的构图和显示面板区域各层的构图是同步的，只是图形有所不同。具体实现流程如下：

在玻璃基板31上先沉积第一金属薄膜，经过曝光、刻蚀等构图工艺形成栅电极21的图形，栅电极21是控制信号线20上的一部分，还形成了信号线40的图形。然后沉积栅绝缘层22和半导体层23、掺杂半导体层24，经过曝光、刻蚀等构图工艺形成有源层图形；接着进行沉积第二金属薄膜，经过曝光、刻蚀等构图工艺，形成包括信号线40、源电极25和漏极26的图形。当然有源层图形、源电极25、漏电极26的图形也可以在一次构图工艺中形成，是本领域技术人员都熟悉的工艺，在此不再赘述。然后沉积钝化层27，形成钝化层。然后进行过孔构图工艺，形成第一接触过孔28和第二接触过孔29；最后，沉积第三金属薄膜，材料同面板显示区域像素电极的材料氧化铟锡(ITO)，经过曝光、刻蚀等构图工艺后形成了连接电极30的图形。将第一接触过孔28和第二接触过孔29进行连接，信号线40分别与源电极25和漏电极26相连，形成最终的设计结构。如果节点开启，信号线40导通。

下面结合本发明实施例说明开关节点C的作用，如图5a和图5b所示，给控制信号线20施加控制节点导通的控制信号，即栅电极21有信号，源电极25和漏电极26导通，又因为源电极25和信号线40连接，漏电极26和信号线40连接，那么信号线40就导通了。对应到图2中，如果从行控制信号线一10的输入端施加导通控制信号，同时从列检测引脚1和4的输入端施加检测信号，那么行控制信号线一10与所述列检测引脚1、4电连接线的交点处对应的开关节点C都处于导通状态，列检测引脚1和4上传输信号可以传输到对应的纵向并联的显示面板b上。反之，如果行控制信号线一10没有施加信号或者施加的信号无法导通节点，显示面板a与显示面板b之间不导通。从而实现了行控制信号线一10对显示面板a与显示面板b之间通断的控制。

所述的交叉隔离节点B的构造图如图4a所示，是为了同层设置且膜层材料相同但对应信号不同的线相交时使用的，目的是为了防止信号串扰，必须隔离开，不能直接重叠。比如图2中列检测引脚1和行检测引脚7的电连接线交叉处，列控制信号线一9和行控制信号线一10的电连接线交叉处，列检测引脚4和行检测引脚8之间的交点处都设置有所述的交叉隔离节点B，这样的线相交时，有一条线是断开的，然后通过设置隔离的膜层最后经过连接电极连接起来。图4a所示，41为断开线，42为连续线，41经过本发明设计的节点连接后，和连续线42隔离。各层的构图和显示面板区域各层的构图是同步的，只是图形有所不同。也就是说各层用到了什么材料，就和显示面板区域中对应的相同材料一起沉积、构图。

如图4b所示，交叉隔离节点B的具体实现流程如下：

在玻璃基板31上先沉积第一金属薄膜，材料和显示区域的栅线相同，经过曝光、刻蚀等构图工艺形成包括断开线41和连续线42的图形。然后沉积栅绝缘层22和第二金属薄膜，经过曝光、刻蚀等构图工艺形成导电层43的图形，导电层43的材料和上述提到的源极漏极的材料一样；然后沉积钝化层27，形成钝化层。然后进行过孔构图工艺，形成第三接触过孔44和第四接触过孔45；最后，沉积第三金属薄膜，材料同面板显示区域像素电极的材料氧化铟锡(ITO)，经过曝光、刻蚀等构图工艺后形成了连接电极30的图形。将第三接触过孔44和第四接触过孔45进行连接，也就是说对断开线41进行了连接，形成最终的设计结构。

下面结合本发明实施例说明交叉隔离节点B的作用，如图4a和图4b所示，断开线41为图2中所示的行检测引脚7、7’、7”连接的行公共电极信号线；连续线42为图2中列检测引脚1、1’、1”连接的列栅极信号线；以图2中的行检测引脚7连接的行公共电极信号线与列检测引脚1连接的列栅极信号线的交叉点处对应的交叉隔离节点B为例：所述的行检测引脚7与列检测引脚1通过交叉隔离节点B分别导通，从而使得所述行检测引脚7与列检测引脚1中的检测信号可以分别通过节点B传递给其他的显示面板；正是由于所述的行检测引脚7连接的行公共电极信号线和列检测引脚1连接的列栅极信号线的交叉节点处存在栅绝缘层22所以所述的交叉隔离节点B可以对两路检测信号进行隔离传输，从而使得所述两路检测信号可以同时通不同的信号，但不会发生串扰。当然图2中还有一些同层设置且传输相同信号的信号线相交，其结构和交叉隔离节点B类似，在此不在赘述。

如图6所示，本发明实施例提供的一种阵列基板检测方法，包括：

601：对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到列检测结果，其中，阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上。

进一步地，该步骤包括：通过列检测引脚对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，同时通过列控制信号线控制列开关节点关断，从而控制行信号线的关断，通过行控制信号线控制行开关节点导通，从而控制列信号线的导通，得到列检测结果。

602：对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到行检测结果，其中，阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上。

进一步地，该步骤包括：通过行检测引脚对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，同时通过行控制信号线控制行开关节点关断，从而控制列信号线的关断，通过列控制信号线控制列开关节点导通，从而控制行信号线的导通，得到行检测结果。

603：根据所述列检测结果与所述行检测结果，确定所述阵列基板上出现短路性不良的显示面板。

进一步地，该步骤具体为：根据所述列检测结果所确定的出现短路性不良的显示面板列，与所述行检测结果所确定的出现短路性不良的显示面板行进行十字交叉定位，确定所述阵列基板上出现短路性不良的显示面板。

为了更加清楚的阐述本发明，以下通过具体的实施例进行详细说明。

如图2所示的阵列基板由9块显示面板组成，在对显示面板进行检测时，阵列基板检测(Array Test)设备的检测分为两个步骤：

步骤一、短路检测；

检测设备通过各个信号传输通道，向显示面板的***检测引脚施加检测信号，所述检测引脚将所述检测信号传递到其所对应的显示面板中。如果所述的显示面板有短路性不良，则检测设备会记录该显示面板，并发出报警信号。以上所述的短路检测具体在本发明实施例中需要进行两次短路检测，从而可以精确定位出现短路性不良的显示面板。本实施例中具体的短路检测过程为：(1)第一次短路检测。向如图2中指示的1、2、3、4与1’、2’、3’、4’与1”、2”、3”、4”的列检测引脚分别加入检测信号，此时，3列显示面板都加入了短路检测信号。同时向列控制信号线一9和列控制信号线二9’输入控制信号，使列控制信号线一9和列控制信号线二9’上的列开关节点断开；向行控制信号线一10和行控制信号线二10’输入控制信号，行控制信号线一10和行控制信号线二10’上的行开关节点导通，从而使得显示面板列与列之间相互断开；在第一次短路检测中，如果显示面板b有短路性不良，那么第一次短路检测的结果是：第一显示面板列a、b、c都报警，并记录该列短路性不良；

(2)第二次短路检测。如图2中指示的5、6、7、8与5’、6’、7’、8’与5”、6”、7”、8”的行检测引脚分别加入检测信号，此时，3行显示面板都加入了短路检测信号。同时向列控制信号线一9号和列控制信号线二9’输入控制信号，使列控制信号线一9和列控制信号线二9’上的列开关节点导通；向行控制信号线一10和行控制信号线二10’输入控制信号，行控制信号线一10和行控制信号线二10’上的行开关节点断开，从而使得显示面板行与行之间相互断开；检测结果是：第二显示面板行b，e，h报警，并记录该行短路行不良。这样以来，根据列和行两次短路检测的结果，就交叉定位了真正发生短路性不良的显示面板b。

步骤二、检测头检测

检测头检测是指检测设备分别对所有显示面板进行电场性检测。检测设备会根据先前记录的有短路性不良的显示面板设备进行分类检测；对记录有短路性不良的显示面板，检测设备会自动选择特殊的短路性检测信号对其进行电场性检测。所述的短路性检测信号，是针对短路性不良显示面板特别设计的。

本实施例中，在步骤一中确定的出现短路性不良的显示面板后，将进一步进行检测头的电场检测的路径设定为a-＞b-＞c-＞f-＞e-＞d-＞g-＞h-＞j。当检测头运动在第一显示面板列a上时，列检测引脚1，2，3，4所对应的信号传输通道选择正常普通的检测信号，当检测头运动到第一显示面板列b上时，列检测引脚1，2，3，4所对应的信号传输通道选择短路性检测信号，当检测头运动到第一显示面板列c上时，列检测引脚1，2，3，4所对应的信号通道选择正常检测信号；也就是在进行检测头的电场检测时，对出现短路性不良的显示面板选择短路性检测信号，其余正常的显示面板选择正常检测信号。

这样就通过列和行即纵横两次短路检测，实现了利用有限的检测设备的信号传输通道，去检测更多的显示面板的目的；同时，在有短路性不良发生的情况下，通过横纵两次短路检测可以准确定位发生短路性不良的显示面板，提高了检测设备的检出率；更进一步的，由于在阵列基板上，并联的显示面板之间的相互连通，能够以较快的速度释放ESD(静电释放)击穿电流，起到保护显示面板内线路的作用。

本发明实施例提供的一种阵列基板检测方法，通过阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚与阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚，使得在对所述的阵列基板进行短路性不良检测时，可以同时对所述的阵列基板上个显示面板列或者显示面板行进行检测，从而检测显示面板的数量增加，提高了检测设备的检测效率；又由于在所述的阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点，以及在阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点，通过控制列开关节点与行开关节点的导通与断开，能够分别对各显示面板列和各显示面板行进行短路性不良检测，根据检测结果，通过显示面板列和显示面板行之间的交叉定位，能够准确定位出现短路性不良的显示面板。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种阵列基板检测电路，其特征在于，

阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上，并引出有列检测引脚；

阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上，并引出有行检测引脚；

阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线与所述行信号线的交点处设置了列开关节点；

阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线与所述列信号线的交点处设置了行开关节点。

2.根据权利要求1所述的阵列基板检测电路，其特征在于，所述的列信号线和行信号线包括：栅极信号线、数据信号线和公共电极信号线。

3.根据权利要求2所述的阵列基板检测电路，其特征在于，所述的列开关节点和行开关节点分别包括：第一类型节点和第二类型节点；

其中，所述第一类型节点设置于所述数据信号线与所述列控制信号线或行控制信号线的交点处；

所述第二类型节点设置于所述栅极信号线与所述列控制信号线或行控制信号线的交点处，或者公共电极信号线与所述列控制信号线或行控制信号线交点处。

4.根据权利要求3所述的阵列基板检测电路，其特征在于，所述第一类型节点和第二类型节点为薄膜晶体管开关节点。

5.根据权利要求2所述的阵列基板检测电路，其特征在于，

所述栅极信号线与公共电极信号线交点处或所述列控制信号线与行控制信号线交点处设置有起交叉隔离作用的第三类型节点。

6.一种阵列基板检测方法，其特征在于，该方法包括：

对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到列检测结果，其中，阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到列信号线上；

对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到行检测结果，其中，阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到行信号线上；

根据所述列检测结果与所述行检测结果，确定所述阵列基板上出现短路性不良的显示面板。

7.根据权利要求6所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到列检测结果包括：

通过列检测引脚对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，同时通过列控制信号线控制列开关节点关断，从而控制行信号线的关断，通过行控制信号线控制行开关节点导通，从而控制列信号线的导通，得到列检测结果。

8.根据权利要求6所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到行检测结果包括：

通过行检测引脚对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，同时通过行控制信号线控制行开关节点关断，从而控制列信号线的关断，通过列控制信号线控制列开关节点导通，从而控制行信号线的导通，得到行检测结果。

9.根据权利要求6所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述根据所述列检测结果与所述行检测结果，确定所述阵列基板上出现短路性不良的显示面板具体为：

根据所述列检测结果所确定的出现短路性不良的显示面板列，与所述行检测结果所确定的出现短路性不良的显示面板行进行十字交叉定位，确定所述阵列基板上出现短路性不良的显示面板。

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