CN105096785B - 阵列基板母板及其制造方法、显示面板及母板 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种阵列基板母板及其制造方法、显示面板及母板,其中的阵列基板母板包括若干个显示面板区域,每个显示区域内设置有晶体管电路;对应于任一外部检测信号,所述阵列基板母板设有一输入端子,该输入端子分别经过至少一个单向导通电路与每个显示面板区域内的晶体管电路中用于接收该外部检测信号的接线端相连;所述单向导通电路用于传输所述外部检测信号。基于此,本发明可以解决在阵列基板的检测过程中显示面板中发生的不良会导致显示母板上的所有显示面板同时产生相同的异常现象而无法正常进行检测的问题。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种阵列基板母板及其制造方法、显示面板及母板。
背景技术
现有技术中,小尺寸(例如18.5英寸以下)的显示面板通常会在同一块尺寸较大的基板上批量制作,再从制作得到的显示母板上通过切割等工艺形成单独的产品。在制作过程中,对显示面板中阵列基板的电路检测通常会以批量的方式来进行。具体来说,对于包括若干个显示面板的显示母板,可以通过在显示母板上设置的一个检测信号的总输入端口配合相应的传输线路将来自外部的检测信号传输至每一显示面板的检测信号的输入端处,从而可以通过一次检测信号的加载完成所有显示面板的检测,节省了大量检测时间。
然而在上述检测过程中,所有显示面板对应于同一检测信号的输入端都是相互连通的,因此在任一显示面板中发生会影响检测信号电平的不良时,其他显示面板在该检测信号的影响下也会产生相同的异常现象,将导致检测无法正常进行。在这种情形下,现有技术只能将所有产生异常现象的显示面板都判定为含有此类不良,不仅造成了产品良率上的损失,还额外耗费了大量的人力物力,影响了整个检测过程的检测效率。
发明内容
针对现有技术中的缺陷,本发明提供一种阵列基板母板及其制造方法、显示面板及母板,可以解决在阵列基板的检测过程中显示面板中发生的不良会导致显示母板上的所有显示面板同时产生相同的异常现象而无法正常进行检测的问题。
第一方面,本发明提供了一种阵列基板母板,包括若干个显示面板区域,每个显示区域内设置有晶体管电路;对应于任一外部检测信号,所述阵列基板母板设有一输入端子,该输入端子分别经过至少一个单向导通电路与每个显示面板区域内的晶体管电路中用于接收该外部检测信号的接线端相连;所述单向导通电路用于传输所述外部检测信号。
可选地,所述单向导通电路包括至少一个栅极与源极相连或者栅极与漏极相连的薄膜晶体管。
可选地,所述薄膜晶体管包括栅极金属层、覆盖所述栅极金属层的第一绝缘层、形成在所述第一绝缘层上的所述栅极金属层对应区域内的有源层、以及在所述第一绝缘层上分别与所述有源层相接的源极金属层和漏极金属层。
可选地,所述薄膜晶体管还包括覆盖在所述第一绝缘层、所述有源层和所述源极金属层和所述漏极金属层之上的第二绝缘层,所述第二绝缘层中形成有源极连接过孔和漏极连接过孔。
可选地,所述单向导通电路包括第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极相连,所述第一薄膜晶体管的源极和所述第二薄膜晶体管的源极相连,所述第一薄膜晶体管的漏极和所述第二薄膜晶体管的漏极相连,所述第一薄膜晶体管的源极和所述第一薄膜晶体管的栅极相连。
可选地,每个显示面板区域内设置有一个单向导通电路。
第二方面,本发明还提供了一种显示面板母板,包括相对设置的第一基板与第二基板,所述第一基板为上述任意一种的阵列基板母板。
第三方面,本发明还提供了一种显示面板,其特征在于,该显示面板由上述任意一种的显示面板母板沿所述显示面板区域的边缘切割形成。
第四方面,本发明还提供了一种上述任意一种阵列基板母板的制造方法,包括:
形成所述晶体管电路;
形成所述单向导通电路;
其中,所述晶体管电路和所述单向导通电路是同时形成的。
由上述技术方案可知,本发明通过在每一显示面板的检测信号输入位置处设置一单向导通电路,可以在保障检测信号正常传输的同时避免显示面板的内部电路反过来影响检测信号的电平,因而可以解决在阵列基板的检测过程中显示面板中发生的不良会导致显示母板上的所有显示面板同时产生相同的异常现象而无法正常进行检测的问题。
基于此,由于本发明可以避免检测过程中同一显示母板上不同显示面板之间的相互干扰,因此有助于检测效率的提高;同时,由于本发明可以通过改进阵列基板母板上的电路结构实现,因而可以简单地融入到现有制作工艺当中,具有很高的实用价值。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例中一种阵列基板母板的表面结构示意图;
图2是本发明一个实施例中一种单向导通电路的电路结构示意图;
图3是本发明一个实施例中一种单向导通电路的实体结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1是本发明一个实施例中一种阵列基板母板的表面结构示意图。参见图1,该阵列基板母板包括若干个显示面板区域11a,每个显示区域11a内设置有晶体管电路12。应理解的是,该阵列基板母板可以包括设有若干个显示面板区域11a的底板11。视具体应用场景的需要,底板11上的显示面板区域11a可以是多于一个的任意个数,而图1中具体以8个显示面板区域11a作为示例。而在底板11每一显示面板区域11a内,均形成有上述晶体管电路12。可以理解的是,晶体管电路12可以包括用于形成显示的部分必要电路结构,例如交叉排列的数据线和扫描线、与扫描线相连的若干个晶体管器件、与数据线相连的像素电极或者发光器件,以及在显示面板区域11a内的边缘位置处与扫描线相连的扫描驱动电路等等。总的来说,上述晶体管电路12的结构可以参照现有显示面板中阵列基板(Array基板)上的电路结构进行设置,本发明对此不做限制。
可以理解的是,无论晶体管电路12具有何种电路结构,在实际制作过程中总会不可避免地出现短路或者断路等电路缺陷,因而在产品出厂前需要对其进行加电测试以确认晶体管电路12可以正常工作。比如,在利用阵列基板母板形成显示面板母板之后,可以将若干路外部检测信号输入至晶体管电路12中,并通过预先设置在晶体管电路12中的检测电路与外部检测信号的配合使每一显示面板区域都显示预设画面,从而通过与标准画面的比对可以确认晶体管电路12是否能够正常工作。
本发明实施例中,同一阵列基板母板上所有显示面板区域11a内的晶体管电路12都同时以相同的外部检测信号进行检测。参见图1,对应于任一外部检测信号,上述阵列基板母板均设有一输入端子13(图1中仅以一个输入端子作为示例),该输入端子13分别经过至少一个单向导通电路14与每个显示面板区域11a内的晶体管电路12中用于接收该外部检测信号的接线端相连。其中,上述单向导通电路14用于上述外部检测信号。具体地,任一上述单向导通电路14可以通过生成由输入端子13流向对应的上述晶体管电路12的单向电流来传输外部检测信号。
应理解的是,根据具体的检测需要,输入端子13的数量可以任意设置,在具有多于一个的输入端子13时,阵列基板母板上可以还包括设置方式与图1中相同的若干个单向导通电路14。举例来说,当输入端子13的数量为5个,而阵列基板母板中显示面板区域11a的数量为8个时,单向导通电路14的总数量则为40个,其中任一个单向导通电路14都连接在一个输入端子13和一个晶体管电路12的接线端之间。
还应理解的是,上述单向导通电路14可以通过生成由输入端子13流向任一上述晶体管电路12的单向电流来传输上述外部检测信号,因而可以阻碍反向电流的生成,避免晶体管电路12的缺陷对外部检测信号的电平造成影响。需要说明的是,为实现上述功能,单向导通电路14可以包括二极管或者具有与二极管相同特性的电子器件,本发明对此不做限制。
可以看出,本发明实施例可以解决在阵列基板的检测过程中显示面板中发生的不良会导致显示母板上的所有显示面板同时产生相同的异常现象而无法正常进行检测的问题。基于此,由于本发明实施例可以避免检测过程中同一显示母板上不同显示面板之间的相互干扰,因此有助于检测效率的提高;同时,由于本发明实施例可以通过改进阵列基板母板上的电路结构实现,因而可以简单地融入到现有制作工艺当中,具有很高的实用价值。
需要说明的是,图1中的单向导通电路14被设置在了上述显示面板区域11a之内,因而可以作为显示面板区域11a内的电路结构与上述晶体管电路12同时形成,简化制作工艺,还可以在阵列基板母板被切割后仍使每一块切割形成的阵列基板都保有相应的功能。然而,单向导通电路14也可以设置在显示面板区域11a之外或者设置在显示面板区域11a的边缘上,或者单独设置,本发明对此不做限制。
还需要说明的是,多块上述阵列基板母板可以包括同一底板11,也就是说多块阵列基板母板可以在同一底板上制作形成,而在检测阶段每一阵列基板母板则独立地进行电路检测。特别地,本发明实施例中的上述阵列基板母板可以具体为一标准测试面板(Q-panel)。
进一步的,所述单向导通电路包含至少一个栅极与源极相连或者栅极与漏极相连的薄膜晶体管。
作为一种示例,图2是本发明一个实施例中一种单向导通电路的电路结构示意图。参见图2,该单向导通电路14包括第一晶体管T1和第二晶体管T2。图2中,第一晶体管T1的栅极和所述第二晶体管T2的栅极相连,所述第一晶体管T1的源极和所述第二晶体管T2的源极相连,所述第一晶体管T1的漏极和所述第二晶体管T2的漏极相连,并连接上述晶体管电路12,所述第一晶体管T1的源极和所述第一晶体管T1的栅极相连,并连接上述输入端子13。需要说明的是,第一晶体管T1和第二晶体管T2可以是例如薄膜晶体管的任意一种三极管,视具体种类的不同源极和漏极的连接方式可以按照上述方式进行选择;特别地,当器件的源极和漏极在结构上对称时,器件的源极与漏极可以相互交换。
基于上述电路结构,当输入端子13接收到具有较高电平的外部检测信号时,T1和T2均会处于开启状态,可以通过生成由输入端子13流向晶体管电路12的电流实现上述外部检测信号的传输。
然而在现有技术中,当某一显示面板区域的晶体管电路12的内部出现短路或断路等不良,例如晶体管电路12中用于传输第一外部检测信号S1的线路与用于传输第一外部检测信号S2的线路之间发生短路时,其中具有较高电平的S1会可能被具有较低电平的S2拉低。具体来说,此时整个阵列基板母板内所有显示面板区域所接收到的外部检测信号均会低于正常电平,导致所有显示面板区域内的晶体管电路12均检测异常而无法找到内部发生短路的晶体管电路12,因而无法正常地进行电路检测。
而在本发明实施例中,若某一晶体管电路12发生上述S1与S2之间的短路,则在S2的传输通路中与内部发生短路的晶体管电路12相连的单向导通电路14内,T1与T2可以阻碍从12流向13的电流,因此可以保持12处电位较高而13处电位较低的状态,避免内部发生短路的晶体管电路12影响传输到其他晶体管电路12所接收到的S2的电平。与此同时,与S2短路的S1可以在外部检测信号的连接下保持电位基本不变,同样不会影响传输到其他晶体管电路12所接收到的S1的电平。
可以理解的是,三极管在栅极与源极和漏极中的一个相连时具有与二极管相类似的特性,因此可以用于形成上述单向导通电路14。类似地,具有第一端和第二端的单向导通器件同样可以用于形成上述单向导通电路14。另外,除了两个单向导通器件相互并联组成单向导通电路14的形式之外,单个的单向导通器件也同样可以实现其功能,但相互并联的单向导通器件的数量越多,单向导通电路14在输入端子13与晶体管电路12之间的等效电阻越小,越有利于上述外部检测信号在输入端子13与晶体管电路12之间的传输。
对应于图2所示的电路结构,图3是本发明一个实施例中一种单向导通电路的实体结构示意图。参见图3,上述第一晶体管与第二晶体管的栅极由同一栅极金属层T1g/T2g形成,而且上述第一晶体管与第二晶体管的源极由同一源极金属层T1s/T2s形成。当然,在源极与漏极设置方式不同的其他实施例中,上述第一晶体管与第二晶体管的漏极也可以由同一漏极金属层形成。另外,第一晶体管T1的有源层T1a形成在栅极金属层T1g/T2g的对应区域内,并且分别与上述源极金属层T1s/T2s和第一晶体管T1的漏极金属层T1d在不同位置处接触;第二晶体管T2的有源层T2a也形成在栅极金属层T1g/T2g的对应区域内,并且分别与上述源极金属层T1s/T2s和第二晶体管T2的漏极金属层T2d在不同位置处接触。可以看出,薄膜晶体管之间相连的电极可以由同一金属层形成以节省设计空间、降低成本。
在图3中未示出的是,上述单向导通电路14还包括覆盖上述栅极金属层T1g/T2g的第一绝缘层,以及覆盖在上述第一绝缘层、上述有源层T1a、T2a和上述源极金属层T1s/T2s和上述漏极金属层T1d、T2d之上的第二绝缘层。为了形成电连接,上述第二绝缘层中可以形成有源极连接过孔和漏极连接过孔。以图3中的源极连接过孔14a为例,上述晶体管电路12用于接收外部检测信号的接线端12a可以通过图3未示出的金属层透过源极连接过孔14a与上述源极金属层T1s/T2s相连。可以理解的是,在具体的应用场景下,过孔的设置以及其他结构透过过孔形成层结构之间的电连接是本领域技术人员所熟知的,在此不再赘述。
基于上述任意一种的阵列基板母板,本发明实施例提供一种阵列基板母板的制造方法。在现有阵列基板母板的制造工艺的基础上,本方法可以包括附图中未示出的下述步骤:
步骤401:形成所述晶体管电路;
步骤402:形成所述单向导通电路;
其中,所述晶体管电路和所述单向导通电路是同时形成的。
举例来说,上述方法可以在所述底板上形成所述晶体管电路的同时,以同样的制作工艺形成与每一外部输入信号对应的所述若干个单向导通电路。可以理解的是,上述晶体管电路12在形成时需要以图案化工艺形成各个层结构。基于此,本发明实施例可以在以图案化工艺形成上述晶体管电路12的同时,以同样的制作工艺形成与每一外部输入信号对应的所述若干个单向导通电路14。举例来说,图3所示的栅极金属层T1g/T2g可以与晶体管电路12中的栅极金属以同一道图案化工艺形成(比如采用沉积光刻和湿法刻蚀的方式),相当于在原有的栅极金属图案中添加与上述栅极金属层T1g/T2g相对应的图形。再如,上述第一绝缘层可以通过沉积工艺覆盖整面的栅绝缘层形成,并在以干法刻蚀形成晶体管电路12中的有源层图案时也同时以相同工艺形成上述有源层T1a和有源层T2a。类似地,在以沉积.光刻和湿法刻蚀形成晶体管电路12中的源漏金属图案时可以同时以相同工艺形成上述源极金属层T1s/T2s以及上述漏极金属层T1d、T2d;在以化学气相沉积形成晶体管电路12中的钝化层时,可以也在上述单向导通电路14的区域内也形成钝化层,并作为上述第二绝缘层;在以光刻和干法刻蚀形成晶体管电路12中的过孔时,也可以通过相同工艺形成上述单向导通电路14的过孔。
可以看出,上述任意一种的阵列基板母板的结构可以通过改进现有阵列基板母板上的电路结构实现,并可以简单地融入到现有制作工艺当中,具有很高的实用价值。
基于同样的发明构思,本发明实施例提供一种显示面板母板,包括相对设置的第一基板与第二基板,上述第一基板为上述任意一种的阵列基板母板。比如,基于液晶显示的显示面板母板中,上述第一基板可以具体为形成有像素电极阵列的阵列基板(Array基板),而上述第二基板可以具体为彩膜基板(CF基板)。再如,基于OLED(Organic Light-EmittingDiode,有机发光二极管)显示的显示面板母板中,上述第一基板可以具体为形成有像素电路阵列的阵列基板(Array基板),上述第二基板可以具体为形成有有机发光层和金属阴极层的基板。同样地,本发明实施例可以解决在阵列基板的检测过程中显示面板中发生的不良会导致显示母板上的所有显示面板同时产生相同的异常现象而无法正常进行检测的问题,并有助于检测效率的提高。
基于同样的发明构思,本发明实施例提供一种显示面板,该显示面板由上述任意一种的显示面板母板沿上述显示面板区域的边缘切割形成。同样地,本发明实施例可以解决在阵列基板的检测过程中显示面板中发生的不良会导致显示母板上的所有显示面板同时产生相同的异常现象而无法正常进行检测的问题,并有助于检测效率的提高。
在本发明的描述中需要说明的是,术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
本发明的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
类似地,应当理解,为了精简本发明公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个,在上面对本发明的示例性实施例的描述中,本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而,并不应将该公开的方法解释呈反映如下意图:即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说,如权利要求书所反映的那样,发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此,遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式,其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围,其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。
Claims (8)
1.一种阵列基板母板,其特征在于,包括若干个显示面板区域,每个显示面板区域内设置有晶体管电路;对应于任一外部检测信号,所述阵列基板母板设有一输入端子,该输入端子分别经过至少一个单向导通电路与每个显示面板区域内的晶体管电路中用于接收该外部检测信号的接线端相连;所述单向导通电路用于传输所述外部检测信号,其中,单向导通电路可以通过生成由输入端子流向对应的晶体管电路的单向电流来传输外部检测信号;
所述单向导通电路包括第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极相连,所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极由同一栅极金属层形成,所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极相连,所述第一晶体管和所述第二晶体管的源极由同一源极金属层形成,所述第一晶体管的漏极和所述第二晶体管的漏极相连,所述第一晶体管的漏极和所述第一晶体管的漏极相连,所述第一晶体管和所述第二晶体管的漏极由同一源极金属层形成。
2.根据权利要求1所述的阵列基板母板,其特征在于,所述单向导通电路包括至少一个栅极与源极相连或者栅极与漏极相连的薄膜晶体管。
3.根据权利要求2所述的阵列基板母板,其特征在于,所述薄膜晶体管包括栅极金属层、覆盖所述栅极金属层的第一绝缘层、形成在所述第一绝缘层上的所述栅极金属层对应区域内的有源层、以及在所述第一绝缘层上分别与所述有源层相接的源极金属层和漏极金属层。
4.根据权利要求3所述的阵列基板母板,其特征在于,所述薄膜晶体管还包括覆盖在所述第一绝缘层、所述有源层和所述源极金属层和所述漏极金属层之上的第二绝缘层,所述第二绝缘层中形成有源极连接过孔和漏极连接过孔。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的阵列基板母板,其特征在于,每个显示面板区域内设置有一个单向导通电路。
6.一种显示面板母板,包括相对设置的第一基板与第二基板,其特征在于,所述第一基板为权利要求1至5中任意一项所述的阵列基板母板。
7.一种显示面板,其特征在于,该显示面板由如权利要求6所述的显示面板母板沿所述显示面板区域的边缘切割形成。
8.一种如权利要求1至5中任意一项所述的阵列基板母板的制造方法,其特征在于,包括:
形成所述晶体管电路;
形成所述单向导通电路;
其中,所述晶体管电路和所述单向导通电路是同时形成的。
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