CN105096786B - 阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种有机发光背板的阵列检测可靠性判断方法，包括：S1、从已完成阵列检测的有机发光背板中抽取至少一个有机发光背板作为样本基板；S2、对样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号；S3、检测像素电路层输出至每个阳极的电流；S4、将像素电路层输出至每个阳极的电流与预定电流对比，当二者不一致时，判定该像素单元为不良像素；S5、将每个像素单元的判定结果与阵列检测的检测结果对比，当二者一致时，判定阵列检测为可靠检测；当二者不一致时，判定阵列检测为不可靠检测。相应地，本发明还提供一种有机发光背板的检测方法及检测装置。本发明可以避免发光层的不良对阵列检测的可靠性判断时的干扰，更准确地进行可靠性判断。

Description

阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及有机发光背板的检测装置。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管(Active-matrix organic light emitting diode，AMOLED)显示面板的制程包括：背板(BP)制程、有机发光层(EL)制程和封装制程。在背板制程中通常会采用阵列检测(Array test)等技术进行背板的检测，以防止不良背板进入后续工艺制程而生产出不良面板，同时可以监控阵列检测工艺的稳定性。

阵列检测的过程中也会出现误检的情况，为了提高阵列检测的可靠性，需要将部分背板投入有机发光层制成和封装制程，在成盒检测(cell test)阶段点亮面板，通过面板显示结果与阵列检测时的检测结果进行对照以修正阵列检测的检测条件。但是由于有机发光层的制作成本较高，并且制作有机发光层后，有机发光层也可能出现不良，不易与阵列检测时的不良进行区分。

发明内容

本发明的目的在于提供一种阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及有机发光背板的检测装置，无需制作发光层就可以对阵列检测的可靠性进行判断，防止发光层对判断结果的干扰。

为了实现上述目的，本发明提供一种有机发光背板的阵列检测可靠性判断方法，所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层，所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极，所述判断方法包括：

S1、从已完成阵列检测的有机发光背板中抽取至少一个有机发光背板作为样本基板；

S2、对所述样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号；

S3、检测所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流；

S4、将所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流与预定电流对比，当所述像素电路层输出至像素单元的阳极的电流与预定电流不一致时，判定该像素单元为不良像素；

S5、将每个像素单元的判定结果与阵列检测的检测结果对比，当所述判定结果和所述检测结果一致时，判定所述阵列检测为可靠检测；当所述判定结果和所述检测结果不一致时，判定所述阵列检测为不可靠检测。

优选地，所述判断方法还包括在步骤S1和S2之间进行的：

S15、将多个像素单元内的阳极电连接；

步骤S3包括：每扫描一行像素单元均检测一个相应的阳极电流；步骤S4包括：

S41、将检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较，当检测到的阳极电流与所述预定电流一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内没有不良像素；当检测到的阳极电流与预定电流不一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素；

S42、对存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号，并依次向每个像素单元提供数据电压信号；

S43、检测与每个像素单元相对应的阳极电流；

S44、将每个阳极电流与预定电流对比，当所述阳极电流与预定电流不一致时，判定所述存在不良像素的一行中对应于所述阳极电流的像素单元为不良像素。

优选地，所述步骤S15包括在所述样本基板的阳极层上设置阴极层，以将多个像素单元内的阳极电连接。

优选地，对样本基板进行阵列检测后的检测结果生成第一图像，所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当阵列检测判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当阵列检测判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；

所述判断方法还包括在在S4和S5之间进行的：将步骤S4的判定结果生成第二图像；所述第二图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当步骤S4判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当步骤S4判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；

所述步骤S5包括：将所述第一图像和所述第二图像进行对比，当两个图像中每个像素点的颜色均相同时，判定阵列检测为可靠检测，否则，判定阵列检测为不可靠检测。

相应地，本发明还提供一种有机发光背板检测方法，包括：

对多个有机发光背板进行阵列检测；

利用本发明提供的上述判断方法对阵列检测的可靠性进行判断；

当判定所述阵列检测为不可靠检测时，所述检测方法包括：对阵列检测进行调节，并利用调节后的阵列检测对所述样本基板进行阵列检测，直至检测结果与步骤S2中的判断结果一致为止。

相应地，本发明还提供一种有机发光背板的检测装置，所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层，所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极，所述检测装置包括：

阵列检测模块，用于对多个有机发光背板进行阵列检测；

驱动模块，用于向样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号，所述样本基板为已完成阵列检测的有机发光背板中的至少一个有机发光背板；

电流检测模块，用于检测样本基板的像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流；

第一判断模块，将电流检测模块所检测的电流与预定电流对比，当电流检测模块所检测的电流与预定电流不一致时，判定相应的像素单元为不良像素；

第二判断模块，用于第一判断模块的判定结果与阵列检测模块的检测结果对比，当所述判定结果和所述检测结果一致时，判定所述阵列检测模块的检测结果为可靠检测，当所述判定结果和所述检测结果不一致时，判定所述阵列检测模块的检测结果为不可靠检测；

调节模块，当第二判断模块判定所述阵列检测模块的检测结果为不可靠检测时，所述调节模块能够对所述阵列检测模块进行调节，直至所述阵列检测模块对所述样本基板的检测结果与所述第一判断模块的判定结果一致。

优选地，所述样本基板的像素电路层包括位于每个像素单元的写入晶体管、驱动晶体管、存储电容和开关晶体管，所述驱动晶体管的第一极与高电平输入端相连，所述驱动晶体管的第二极与所述阳极相连，所述驱动晶体管的栅极与所述写入晶体管的第二极相连，所述开关晶体管的第一极与所述阳极相连，所述样本基板还包括多条第一扫描线、多条第二扫描线、多条数据线和多条检测线，同一行所述写入晶体管的栅极与相应的第一扫描线相连，同一列写入晶体管的第一极与相应的数据线相连，同一行开关晶体管的栅极与相应的第二扫描线相连，同一列开关晶体管的第二极与相应的检测线相连；

所述驱动模块向样本基板的多个像素单元逐行扫描时，向同一行像素单元对应的第一扫描线和第二扫描线同时提供扫描信号，所述电流检测模块包括第一检测子模块，用于检测通过所述检测线的电流。

优选地，所述样本基板上的每个像素单元内的阳极电连接，所述电流检测模块还包括第二检测子模块，每扫描一行像素单元所述第二检测子模块均能够检测到一个相应的阳极电流；

所述第一判断模块能够将所述第二检测子模块检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较，当检测到的阳极电流与预定电流一致时，判定与所述阳极电流对应的一行像素单元内没有不良像素；当检测到的阳极电流与预定电流不一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素；

所述驱动模块能够向存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号，并依次向每个像素单元提供数据电压信号，以使得所述第二检测子模块检测与每个像素单元对应的阳极电流，并使得所述第一判断模块将所述第二检测子模块检测到的每个阳极电流与预定电流对比，当所述阳极电流与预定电流不一致时，判定存在不良像素的一行中对应于该阳极电流的像素单元为不良像素。

优选地，所述样本基板的阳极层上还设置有阴极层，以将多个像素单元内的阳极电连接。

优选地，所述第二判断模块包括图像生成子模块和图像对比子模块，

所述图像生成子模块能够将所述阵列检测模块对所述样本基板的检测结果生成第一图像，并将所述第一判断模块对样本基板的判定结果生成第二图像，所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当阵列检测模块判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当阵列检测模块判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；所述第二图像也包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当第一判断模块判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当第一判断模块判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；

所述图像对比子模块用于所述第一图像和所述第二图像进行对比，当两个图像中每个像素点的颜色均相同时，判定阵列检测模块的检测结果为可靠检测，否则，判定阵列检测模块的检测结果为不可靠检测。

本发明对样本基板的阳极层的电流进行检测，根据检测的电流和预定电流的对比判断有机发光背板的像素单元是否为不良像素，并根据电流检测的判定结果来判断阵列检测的检测结果是否可靠，以便于后续调节阵列检测的检测条件来提高下一次阵列检测的准确性。因此不需要通过发光层的制作就可以判断阵列检测的可靠性，降低了成本，减少了由于发光层的不良对检测结果的干扰，提高了可靠性判断的准确性。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明中提供的阵列检测可靠性判断方法的

图2是本发明的实施方式中有机发光背板的检测装置的结构示意图；

图3是本发明的实施方式中检测通过阳极的电流时的示意图；

图4是本发明的实施方式中检测通过阴极层的电流时的示意图；

图5是本发明中第一种实施方式中各信号线上的信号波形示意图；

图6是本发明中第二种实施方式中各信号线上的信号波形示意图。

其中，附图标记为：10、阵列检测模块；20、驱动模块；30、电流检测模块；31、第一检测子模块；32、第二检测子模块；40、第一判断模块；50、第二判断模块；60、调节模块；51、图像生成子模块；52、图像对比子模块；DATA、数据线；G1、第一扫描线；G2、第二扫描线；ELVDD、高电平信号端；T1、写入晶体管；T2、驱动晶体管；T3、开关晶体管；SENSE、检测线；C、存储电容；71、阳极；72、阴极。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

作为本发明的一方面，提供一种有机发光背板的阵列检测可靠性判断方法，所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层，所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极，如图1所示，所述阵列检测可靠性判断方法包括：

S1、从已完成阵列检测的有机发光背板中抽取至少一个有机发光背板作为样本基板；

S2、对所述样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号；

S3、检测所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流；

S4、将所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流与预定电流对比，当所述像素电路层输出至像素单元的阳极的电流与预定电流不一致时，判定该像素单元为不良像素；

S5、将每个像素单元的判定结果与阵列检测的检测结果对比，当所述判定结果和所述检测结果一致时，判定所述阵列检测为可靠检测；当所述判定结果和所述检测结果不一致时，判定所述阵列检测为不可靠检测。

现有技术中对有机发光显示面板的背板进行阵列检测后，为了判断阵列检测的可靠性，会在在一部分背板上制作发光层并进行封装，形成有机发光显示面板，根据显示面板的显示效果判断阵列检测的结果是否可靠，以决定是否需要调节阵列检测的检测条件。而本发明对样本基板的阳极层的电流进行检测，根据检测的电流和预定电流的对比判断有机发光背板的像素单元是否为不良像素，并根据电流检测的判定结果来判断阵列检测的检测结果是否可靠，以便于后续调节阵列检测的检测条件来提高下一次阵列检测的准确性。因此不需要通过发光层的制作就可以判断阵列检测的可靠性，降低了成本，减少了由于发光层的不良对检测结果的干扰，提高了可靠性判断的准确性。

应当理解的是，向每个像素单元提供数据电压信号时，用于检测电流的检测电路与阳极层直接或间接相连，从而形成回路，因此，即使不设置发光层也可以使得阳极上有电流通过。

所述预定电流是指所述像素单元没有发生不良时，流过阳极层的电流。

检测所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流时，可以分别检测每个像素单元的阳极电流，比如，将列像素单元的阳极连接至检测电流，每扫描一行像素单元，所述检测电流可以分别检测出每个像素单元的阳极电流。或者对所有像素单元的阳极电流进行统一检测，由于数据电压信号时逐行提供个像素电路的，通过统一检测的方式可以检测出不良像素所在的行数，然后在具体检测该行中不良像素所在的具***置。

作为本发明的一种具体实施方式，所述判断方法还包括在步骤S1和S2之间进行的：

S15、将多个像素单元内的阳极电连接；

步骤S3包括：每扫描一行像素单元均检测一个相应的阳极电流；步骤S4包括：

S41、将检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较，当检测到的阳极电流与所述预定电流一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内没有不良像素；当检测到的阳极电流与预定电流不一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素；

S42、对存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号，并依次向每个像素单元提供数据电压信号；

S43、检测与每个像素单元相对应的阳极电流；

S44、将每个阳极电流与预定电流对比，当所述阳极电流与预定电流不一致时，判定所述存在不良像素的一行中对应于所述阳极电流的像素单元为不良像素。

为了便于检测，也可以将所述样本基板划分为多个区域，每个区域包括多行多列像素单元；检测时对多个区域依次进行检测。例如，当扫描A区域中的第m行像素单元时，检测到的阳极电流与预定电流不一致，则判定A区域中的第m行像素单元中至少存在一个不良像素。判断不良像素的具***置时，可以向A区域中的第m行像素提供扫描信号，并向A区域中的第m行像素单元依次提供数据电压信号，并检测与每个像素单元相应的阳极电流值，当检测到的阳极电流与预定电流不一致时，判定相应的像素单元为不良像素。即，在判断不良像素的具***置时，只需向A区域内的多条数据线依次提供数据电压信号即可。

进一步地，所述步骤S15包括在所述样本基板的阳极层上设置阴极层，以将多个像素单元内的阳极电连接。阳极层和阴极层之间是没有设置发光层的，以降低成本，同时防止发光层的不良对检测结果产生影响。

步骤S5中将步骤S4中的判定结果和阵列检测的检测结果进行对比时，可以采用不同的方式。通常，对样本基板进行阵列检测后的检测结果可以生成第一图像；所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当阵列检测判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当阵列检测判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第二颜色。所述判断方法还包括在在S4和S5之间进行的：将步骤S4的判定结果生成第二图像；所述第二图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当步骤S4判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当步骤S4判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第二颜色。所述步骤S5包括：将所述第一图像和所述第二图像进行对比，当两个图像中每个像素点的颜色均相同时，判定阵列检测为可靠检测，否则，判定阵列检测为不可靠检测。

例如，第一颜色为绿色，第二颜色为红色，即，当阵列检测检测结果表明第x个像素单元为正常像素时，该第x个像素在第一图像中对应的像素点为绿色，当阵列检测的检测结果表明第y个像素单元为不良像素时，第y个像素单元在第一图像中对应的像素点为红色。同样地，当步骤S4中判定第p个像素单元为正常像素时，第p个像素单元在第二图像中对应的颜色为绿色，步骤S4中判定第q个像素单元为不良像素时，第q个像素单元在第二图像中对应的颜色为红色。从而通过第一图像和第二图像中的颜色分布判断出步骤S4的判定结果和阵列检测的检测结果是否一致，进而直观地判断阵列检测是否为可靠检测。

作为本发明的另一方面，提供一种有机发光背板检测方法，包括：

对多个有机发光背板进行阵列检测；

利用上述对阵列检测的可靠性判断方法对阵列检测的可靠性进行判断；

当判定所述阵列检测为不可靠检测时，所述检测方法包括：对阵列检测进行调节，并利用调节后的阵列检测对所述样本基板进行阵列检测，直至检测结果与步骤S2中的判断结果一致为止。而判定所述阵列检测为可靠检测时，可以利用阵列检测对下一批有机发光背板直接进行检测即可。

阵列检测对样本基板的像素单元进行检测时，有一定的判断条件，对阵列检测进行调节可以对阵列检测的判断条件进行调节。例如，进行阵列检测时，向有机发光背板的每个像素单元提供数据电压信号，通过检测阳极与低电平之间的电压判断像素单元是否为不良像素，当像素单元的阳极与低电平之间电压大于预定电压时，判定像素单元为正常像素，当像素单元的阳极与低电平之间电压小于预定电压时，判定像素单元为不良像素。当上述判断方法中判定该阵列检测为不可靠检测时，可以为将所述预定电压进行调节，以防止下一次阵列检测时，将正常像素误判为不良像素，或将不良像素误判为正常像素。

由于对有机发光背板检测时的阵列检测的可靠性通过本发明的判断方法进行判断，当阵列检测为不可靠检测时，对其检测条件进行调节，从而使得阵列基板的检测结果更加可靠，因此，在后续进行阵列检测时，可以准确地判断其他有机发光背板的像素单元是否为不良像素，并且在对阵列检测的可靠性判断时，无需制作发光层，从而减低了整个检测过程的成本，并避免了发光层的不良对检测效果的干扰，提高了检测的可靠性。

作为本发明的再一方面，提供一种有机发光背板的检测装置，所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层，所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极，如图2所示，所述检测装置包括：

阵列检测模块10，用于对多个有机发光背板进行阵列检测；

驱动模块20，用于向样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号，所述样本基板为已完成阵列检测的有机发光背板中的至少一个有机发光背板；

电流检测模块30，用于检测样本基板的像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流；

第一判断模块40，将电流检测模块30所检测的电流与预定电流对比，当电流检测模块30所检测的电流与预定电流不一致时，判定相应的像素单元为不良像素；

第二判断模块50，用于第一判断模块40的判定结果与阵列检测模块10的检测结果对比，当所述判定结果和所述检测结果一致时，判定阵列检测模块10的检测结果为可靠检测，当所述判定结果和所述检测结果不一致时，判定阵列检测模块10的检测结果为不可靠检测；

调节模块60，当第二判断模块50判定阵列检测模块10的检测结果为不可靠检测时，调节模块60能够对阵列检测模块10进行调节，直至阵列检测模块10对所述样本基板的检测结果与第一判断模块40的判定结果一致。

驱动模块20可以包括用于提供扫描信号的栅极驱动电路和用于提供数据电压信号的源极驱动电路。

具体地，如图3所示，所述样本基板的像素电路层包括位于每个像素单元的写入晶体管T1、驱动晶体管T2、存储电容C和开关晶体管T3，驱动晶体管T2的第一极与高电平输入端ELVDD相连，驱动晶体管T2的第二极与阳极71相连，驱动晶体管T2的栅极与写入晶体管T1的第二极相连，开关晶体管T3的第一极与阳极71相连，所述样本基板还包括多条第一扫描线、多条第二扫描线、多条数据线和多条检测线，同一行所述写入晶体管的栅极与相应的第一扫描线G1相连，同一列写入晶体管T1的第一极与相应的数据线DATA相连，同一行开关晶体管T3的栅极与相应的第二扫描线G2相连，同一列开关晶体管T3的第二极与相应的检测线SENSE相连；

所述驱动模块向样本基板的多个像素单元逐行扫描时，向同一行像素单元对应的第一扫描线G1和第二扫描线G2同时提供扫描信号，电流检测模块30包括第一检测子模块31，用于检测通过检测线SENSE的电流。

第一扫描线G1和第二扫描线G2接收到扫描信号时，每行像素单元的写入晶体管T1、驱动晶体管T2和开关晶体管T3开启，数据线DATA上的数据电压信号通过写入晶体管T1向存储电容充电，同时第二晶体管T2开启，将高电平信号端ELVDD与阳极71导通。电流通过阳极71和开光晶体管T3流入电流检测回路，以使得电流检测回路检测出被扫描的一行像素单元中流过每个阳极71的电流。

如图5中示出了其中一条数据线DATA上的数据电压信号的波形，为了便于检测，其他数据线上的电压信号可以与图5中所示的数据电压信号波形相同。图中I₁(m)为检测到的通过第m条检测线的电流的示意波形，当扫描第n+1行像素单元时，检测到的电流不同于预定电流，则判定第n+1行第m列像素单元为不良像素。

进一步地，所述样本基板上的每个像素单元内的阳极还可以电连接，电流检测模块30还包括第二检测子模块32，每扫描一行像素单元，所述第二检测子模块32均能够检测到一个相应的阳极电流；

第一判断模块40能够将所述第二检测子模块32检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较，当检测到的阳极电流与预定电流一致时，判定与所述阳极电流对应的一行像素单元内没有不良像素；当检测到的阳极电流与预定电流不一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素；

驱动模块20能够向存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号，并依次向每个像素单元提供数据电压信号，以使得第二检测子模块32检测与每个像素单元对应的阳极电流，并使得第一判断模块40将第二检测子模块32检测到的每个阳极电流与预定电流对比，当所述阳极电流与预定电流不一致时，判定存在不良像素的一行中对应于该阳极电流(即，与预定电流不一致的阳极电流)的像素单元为不良像素。

具体地，如图4所示，所述样本基板的阳极层上还设置有阴极层72，以将多个像素单元内的阳极71电连接。第二检测子模块32用于与阴极层71相连，上述“第二检测子模块32检测的阳极电流”即为流过阴极层72的电流。当阳极层上设置有阴极时，像素单元中依然可以设置有开关晶体管，样本基板上可以设置有检测线(图中未示出)，检测线可以与用于外部补偿的补偿模块相连。

如图6中示出了其中一条数据线DATA上的数据电压信号的波形，在对像素单元逐行扫描的过程中，通过阴极层的电流如I₂所示，当扫描第n+1行像素单元时，流过阴极的电流不同于预定电流，则判定第n+1行像素单元中至少一个像素单元发生不良。然后在向发生不良的一行像素单元中逐个提供数据电压信号，每提供一个数据电压信号，第二检测子模块32均可以检测到相应的电流，当第二检测子模块32检测到的电流与预定电流不一致时，判定相应的像素单元为不良像素，从而确定不良像素的具***置。

进一步地，如图2所示，第二判断模块50可以包括：图像生成子模块51和图像对比子模块52。

图像生成子模块51能够将阵列检测模块10对所述样本基板的检测结果生成第一图像，并将第一判断模块40对样本基板的判定结果生成第二图像，所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当阵列检测模块判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当阵列检测模块判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；所述第二图像也包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当第一判断模块判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当第一判断模块判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第二颜色。

图像对比子模块52用于所述第一图像和所述第二图像进行对比，当两个图像中每个像素点的颜色均相同时，判定阵列检测模块10的检测结果为可靠检测，否则，判定阵列检测模块10的检测结果为不可靠检测。

可以理解的是，在普通的有机发光显示面板中，阳极层和阴极层之间设置有发光层，多个阳极层对应于同一个阴极层，阴极层与显示面板上的连接端子相连，在用于显示时，将该连接端子连接低电平信号端，以形成电流回路。在本发明，阴极层也可以和样本基板上的连接端子相连，在进行检测时，用于检测电流的第二检测子模块32和所述连接端子相连，以形成电流回路。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种有机发光背板的阵列检测可靠性判断方法，所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层，所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极，其特征在于，所述判断方法包括：

S1、从已完成阵列检测的有机发光背板中抽取至少一个有机发光背板作为样本基板；

S2、对所述样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号；

S3、检测所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流；

S4、将所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流与预定电流对比，当所述像素电路层输出至像素单元的阳极的电流与预定电流不一致时，判定该像素单元为不良像素；

S5、将每个像素单元的判定结果与阵列检测的检测结果对比，当所述判定结果和所述检测结果一致时，判定所述阵列检测为可靠检测；当所述判定结果和所述检测结果不一致时，判定所述阵列检测为不可靠检测。

2.根据权利要求1所述的判断方法，其特征在于，所述判断方法还包括在步骤S1和S2之间进行的：

S15、将多个像素单元内的阳极电连接；

步骤S3包括：每扫描一行像素单元均检测一个相应的阳极电流；步骤S4包括：

S41、将检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较，当检测到的阳极电流与所述预定电流一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内没有不良像素；当检测到的阳极电流与预定电流不一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素；

S42、对存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号，并依次向每个像素单元提供数据电压信号；

S43、检测与每个像素单元相对应的阳极电流；

S44、将每个阳极电流与预定电流对比，当所述阳极电流与预定电流不一致时，判定所述存在不良像素的一行中对应于所述阳极电流的像素单元为不良像素。

3.根据权利要求2所述的判断方法，其特征在于，所述步骤S15包括在所述样本基板的阳极层上设置阴极层，以将多个像素单元内的阳极电连接。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的判断方法，其特征在于，对样本基板进行阵列检测后的检测结果生成第一图像，所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当阵列检测判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当阵列检测判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；

所述判断方法还包括在在S4和S5之间进行的：将步骤S4的判定结果生成第二图像；所述第二图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当步骤S4判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当步骤S4判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；

所述步骤S5包括：将所述第一图像和所述第二图像进行对比，当两个图像中每个像素点的颜色均相同时，判定阵列检测为可靠检测，否则，判定阵列检测为不可靠检测。

5.一种有机发光背板检测方法，其特征在于，包括：

对多个有机发光背板进行阵列检测；

利用权利要求1至4中任意一项所述的判断方法对阵列检测的可靠性进行判断；

当判定所述阵列检测为不可靠检测时，所述检测方法包括：对阵列检测进行调节，并利用调节后的阵列检测对所述样本基板进行阵列检测，直至检测结果与步骤S2中的判断结果一致为止。

6.一种有机发光背板的检测装置，所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层，所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极，其特征在于，所述检测装置包括：

阵列检测模块，用于对多个有机发光背板进行阵列检测；

驱动模块，用于向样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号，所述样本基板为已完成阵列检测的有机发光背板中的至少一个有机发光背板；

电流检测模块，用于检测样本基板的像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流；

第一判断模块，将电流检测模块所检测的电流与预定电流对比，当电流检测模块所检测的电流与预定电流不一致时，判定相应的像素单元为不良像素；

第二判断模块，用于第一判断模块的判定结果与阵列检测模块的检测结果对比，当所述判定结果和所述检测结果一致时，判定所述阵列检测模块的检测结果为可靠检测，当所述判定结果和所述检测结果不一致时，判定所述阵列检测模块的检测结果为不可靠检测；

调节模块，当第二判断模块判定所述阵列检测模块的检测结果为不可靠检测时，所述调节模块能够对所述阵列检测模块进行调节，直至所述阵列检测模块对所述样本基板的检测结果与所述第一判断模块的判定结果一致。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述样本基板的像素电路层包括位于每个像素单元的写入晶体管、驱动晶体管、存储电容和开关晶体管，所述驱动晶体管的第一极与高电平输入端相连，所述驱动晶体管的第二极与所述阳极相连，所述驱动晶体管的栅极与所述写入晶体管的第二极相连，所述开关晶体管的第一极与所述阳极相连，所述样本基板还包括多条第一扫描线、多条第二扫描线、多条数据线和多条检测线，同一行所述写入晶体管的栅极与相应的第一扫描线相连，同一列写入晶体管的第一极与相应的数据线相连，同一行开关晶体管的栅极与相应的第二扫描线相连，同一列开关晶体管的第二极与相应的检测线相连；

所述驱动模块向样本基板的多个像素单元逐行扫描时，向同一行像素单元对应的第一扫描线和第二扫描线同时提供扫描信号，所述电流检测模块包括第一检测子模块，用于检测通过所述检测线的电流。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述样本基板上的每个像素单元内的阳极电连接，所述电流检测模块还包括第二检测子模块，每扫描一行像素单元所述第二检测子模块均能够检测到一个相应的阳极电流；

所述第一判断模块能够将所述第二检测子模块检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较，当检测到的阳极电流与预定电流一致时，判定与所述阳极电流对应的一行像素单元内没有不良像素；当检测到的阳极电流与预定电流不一致时，判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素；

所述驱动模块能够向存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号，并依次向每个像素单元提供数据电压信号，以使得所述第二检测子模块检测与每个像素单元对应的阳极电流，并使得所述第一判断模块将所述第二检测子模块检测到的每个阳极电流与预定电流对比，当所述阳极电流与预定电流不一致时，判定存在不良像素的一行中对应于该阳极电流的像素单元为不良像素。

9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述样本基板的阳极层上还设置有阴极层，以将多个像素单元内的阳极电连接。

10.根据权利要求6至9中任意一项所述的检测装置，其特征在于，所述第二判断模块包括图像生成子模块和图像对比子模块，

所述图像生成子模块能够将所述阵列检测模块对所述样本基板的检测结果生成第一图像，并将所述第一判断模块对样本基板的判定结果生成第二图像，所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当阵列检测模块判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当阵列检测模块判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；所述第二图像也包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点，当第一判断模块判定像素单元为正常像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第一颜色，当第一判断模块判定像素单元为不良像素时，该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第二颜色；

所述图像对比子模块用于所述第一图像和所述第二图像进行对比，当两个图像中每个像素点的颜色均相同时，判定阵列检测模块的检测结果为可靠检测，否则，判定阵列检测模块的检测结果为不可靠检测。