CN105096789B - Goa测试与清除关机残影的共用电路 - Google Patents

Goa测试与清除关机残影的共用电路 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，设置有第一测试端(3)、电性连接第一测试端(3)的测试信号线(AT1)、第二测试端(5)、电性连接第二测试端(5)的反馈信号线(AT2)、以及与级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT(T0)，通过将每一测试TFT(T0)的栅极电性连接测试信号线(AT1)、源极电性连接反馈信号线(AT2)，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线，能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具***置，还能够在关机时释放液晶面板显示区内液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。

Description

GOA测试与清除关机残影的共用电路
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种GOA测试与清除关机残影的共用电路。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等，在平板显示领域中占主导地位。
现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片基板(ColorFilter，CF)之间灌入液晶分子，并在两片基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。
液晶显示面板显示区内包含多个呈矩阵式排列的像素，每一行像素共同电性连接一条扫描线，每一列像素共同电性连接一条数据线。如图1所示，设m、n为正整数，第n行m列像素的像素驱动电路具有一个薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)T，该TFT T的栅极连接至沿水平方向延伸的第n行的栅极扫描线Gate(n)，漏极连接至沿垂直方向延伸的第m列的数据线Data(m)，源极连接至对应的像素电极；在该TFT T的源极与公共电压线Com之间等效并联了一个液晶电容Clc和一个存储电容Cst。液晶显示面板正常工作时，在扫描线上施加足够的正电压，使得连接在该条栅极扫描线上的所有TFT T导通，将数据线上所加载的数据信号电压写入像素电极中，控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩的效果以显示不同画面。液晶显示面板内的液晶电容Clc和存储电容Cst在正常工作中会充电而累积电荷，在关机时，这些累积电荷由于得不到有效释放，导致液晶DC残留，会在液晶显示面板上残留影像，造成关机残影。
液晶显示面板栅极扫描线的驱动最初由外接的集成电路(Integrated Circuit，IC)来完成，外接的IC可以控制栅极扫描线的逐级充电和放电。GOA技术(Gate Driver onArray)即阵列基板行驱动技术，可以运用液晶显示面板的阵列制程将栅极扫描线的驱动电路制作在显示区周围的基板上，使之能替代外接IC来完成栅极扫描线的驱动。GOA技术能减少外接IC的焊接(bonding)工序，有机会提升产能并降低产品成本，而且可以使液晶显示面板更适合制作窄边框或无边框的显示产品。
由于GOA电路受TFT电性的稳定性和均匀性的影响会在一定程度上影响产品的良率，因此需要对GOA电路进行测试。现有常见的测试方法是对GOA电路的最后一级GOA单元的输出信号进行测试，判断GOA电路工作是否出现异常。但这种方法由于只能测试最后一级GOA单元的输出信号，无法发现具体是哪一级GOA单元出现了异常，这就限制了对GOA电路问题的解析和改进。
发明内容
本发明的目的在于提供一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具***置，还能够在关机时释放液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。
为实现上述目的，本发明提供一种GOA测试与清除关机残影的共用电路电路，至少包括：
设于液晶显示面板显示区一侧的级联的多个GOA单元电路，设n为正整数，第n级GOA单元电路的输出端对应连接第n条栅极扫描线；
设于所述液晶显示面板显示区一侧的第一测试端；
设于所述液晶显示面板显示区一侧的第二测试端；
设于所述液晶显示面板显示区一侧的电性连接第一测试端的测试信号线；
设于所述液晶显示面板显示区一侧的电性连接第二测试端的反馈信号线；
以及设于所述液晶显示面板显示区一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT；
每一测试TFT的栅极电性连接测试信号线、源极电性连接反馈信号线，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。
所述GOA测试与清除关机残影的共用电路还包括：
设于液晶显示面板显示区另一侧的级联的多个GOA单元电路，设n’为正整数，第n’级GOA单元电路的输出端对应连接第n’条栅极扫描线；
设于所述液晶显示面板显示区另一侧的第一测试端；
设于所述液晶显示面板显示区另一侧的第二测试端；
设于所述液晶显示面板显示区另一侧的电性连接第一测试端的测试信号线；
设于所述液晶显示面板显示区另一侧的电性连接第二测试端的反馈信号线；
以及设于所述液晶显示面板显示区另一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT；
每一测试TFT的栅极电性连接测试信号线、源极电性连接反馈信号线，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。
所述GOA测试与清除关机残影的共用电路在测试第n级GOA单元电路时，所述第一测试端向测试信号线提供测试用高电位脉冲信号，所述第二测试端接收反馈信号线传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号，并判定第n级GOA单元电路是否异常。
所述GOA测试与清除关机残影的共用电路在测试第n级GOA单元电路时，所述第一测试端根据第n级GOA单元电路的输出信号相对扫描启始信号的延时向测试信号线提供测试用高电位脉冲信号。
所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路在测试第n级GOA单元电路时，所述测试用高电位脉冲信号的高电位时长大于正常第n级GOA单元电路的输出信号的高电位时长，且测试用高电位脉冲信号的上升沿早于正常第n级GOA单元电路的输出信号的上升沿，测试用高电位脉冲信号的下降沿晚于正常第n级GOA单元电路的输出信号的下降沿。
所述第二测试端接收反馈信号线传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号为一高电位脉冲信号时，判定第n级GOA单元电路正常；所述第二测试端接收反馈信号线传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号为一恒压低电位时，判定第n级GOA单元电路异常。
在关机瞬间，所述第一测试端向所述测试信号线提供高电位信号，同时所述第二测试端向反馈信号线提供高电位信号，所有的测试TFT均导通，将所有GOA单元电路的输出信号拉升至高电位。
本发明的有益效果：本发明提供的一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，设置有第一测试端、电性连接第一测试端的测试信号线、第二测试端、电性连接第二测试端的反馈信号线、以及与级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT，通过将每一测试TFT的栅极电性连接测试信号线、源极电性连接反馈信号线，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线，能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具***置，还能够在关机时释放液晶面板显示区内液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
附图中，
图1为现有的液晶显示面板显示区内像素驱动电路的电路图；
图2为本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路的第一实施例的示意图；
图3为本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路的第二实施例的示意图；
图4为本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路测试第n级GOA单元电路时的工作时序图；
图5为本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路测试第n+1级GOA单元电路时的工作时序图；
图6为本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路在关机瞬间的工作时序图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
本发明提供一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，图2所示为本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路的第一实施例，包括：
设于液晶显示面板显示区1一侧的级联的多个GOA单元电路，设n为正整数，第n级GOA单元电路的输出端对应连接第n条栅极扫描线Gate(n)；
设于所述液晶显示面板显示区1一侧的第一测试端3；
设于所述液晶显示面板显示区1一侧的第二测试端5；
设于所述液晶显示面板显示区1一侧的电性连接第一测试端3的测试信号线AT1；
设于所述液晶显示面板显示区1一侧的电性连接第二测试端5的反馈信号线AT2；
以及设于所述液晶显示面板显示区1一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT T0。
每一测试TFT T0的栅极电性连接测试信号线AT1、源极电性连接反馈信号线AT2，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。
该第一实施例能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具***置。具体地，结合图2与图4，当测试第n级GOA单元电路时，所述第一测试端3向测试信号线AT1提供测试用高电位脉冲信号，所述第二测试端5接收反馈信号线AT2传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT T0所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号，并判定第n级GOA单元电路是否异常。
进一步地，当测试第n级GOA单元电路时：所述第一测试端3根据第n级GOA单元电路的输出信号相对扫描启始信号STV的延时向测试信号线AT1提供测试用高电位脉冲信号，以相应导通连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT T0。所述测试用高电位脉冲信号的高电位时长大于正常第n级GOA单元电路的输出信号的高电位时长，且测试用高电位脉冲信号的上升沿早于正常第n级GOA单元电路的输出信号的上升沿，测试用高电位脉冲信号的下降沿晚于正常第n级GOA单元电路的输出信号的下降沿，保证在第n级GOA单元电路输出信号为高电位的期间，连接该第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT T0始终处于导通状态。
所述第二测试端5接收反馈信号线AT2传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT T0所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号为一高电位脉冲信号时，判定第n级GOA单元电路正常；所述第二测试端5接收反馈信号线AT2传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT T0所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号为一恒压低电位VGL时，判定第n级GOA单元电路异常。
同样地，结合图2与图5，当测试第n+1级GOA单元电路时，所述第一测试端3根据第n+1级GOA单元电路的输出信号相对扫描启始信号STV的延时向测试信号线AT1提供测试用高电位脉冲信号(比图4所示的测试用高电位脉冲信号延时一个脉宽)，以相应导通连接第n+1级GOA单元电路的输出端及第n+1条栅极扫描线的测试TFT T0；所述第二测试端5接收反馈信号线AT2传输的对应连接第n+1级GOA单元电路的输出端及第n+1条栅极扫描线的测试TFTT0所反馈的第n+1级GOA单元电路的输出信号，并判定第n+1级GOA单元电路是否异常。
该第一实施例还能够在关机时释放液晶面板显示区内液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。具体地，结合图2与图6，在关机瞬间，所述第一测试端3向所述测试信号线AT1提供高电位信号VGH，同时所述第二测试端5向反馈信号线AT2提供高电位信号VGH，所有的测试TFT T0均导通，将所有GOA单元电路的输出信号拉升至高电位，再参照图1，液晶显示面板显示区1内所有像素驱动电路的TFT T均导通，液晶电容Clc和存储电容Cst的残留电荷得以释放，达到清除关机残影的效果。
上述第一实施例仅在液晶显示面板显示区1的一侧设置级联的多个GOA单元电路、第一测试端3、第二测试端5、测试信号线AT1、反馈信号线AT2、及多个测试TFT T0，适用于测试单边单驱的GOA电路。
图3所示为本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路的第二实施例。该第二实施例与第一实施例的区别在于，还包括：
设于液晶显示面板显示区1另一侧的级联的多个GOA单元电路，设n’为正整数，第n’级GOA单元电路的输出端对应连接第n’条栅极扫描线Gate(n’)；
设于所述液晶显示面板显示区1另一侧的第一测试端3；
设于所述液晶显示面板显示区1另一侧的第二测试端5；
设于所述液晶显示面板显示区1另一侧的电性连接第一测试端3的测试信号线AT1；
设于所述液晶显示面板显示区1另一侧的电性连接第二测试端5的反馈信号线AT2；
以及设于所述液晶显示面板显示区1另一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT T0。
每一测试TFT T0的栅极电性连接测试信号线AT1、源极电性连接反馈信号线AT2，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。
其余结构与工作过程均与第一实施例相同，此处不再赘述。
该第二实施例在液晶显示面板显示区1的两侧均设置级联的多个GOA单元电路、第一测试端3、第二测试端5、测试信号线AT1、反馈信号线AT2、及多个测试TFT T0，适用于测试双边双驱或双边单驱的GOA电路。
综上所述，本发明的GOA测试与清除关机残影的共用电路，设置有第一测试端、电性连接第一测试端的测试信号线、第二测试端、电性连接第二测试端的反馈信号线、以及与级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT，通过将每一测试TFT的栅极电性连接测试信号线、源极电性连接反馈信号线，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线，能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具***置，还能够在关机时释放液晶面板显示区内液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，至少包括：
设于液晶显示面板显示区(1)一侧的级联的多个GOA单元电路，设n为正整数，第n级GOA单元电路的输出端对应连接第n条栅极扫描线(Gate(n))；
设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的第一测试端(3)；
设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的第二测试端(5)；
设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的电性连接第一测试端(3)的测试信号线(AT1)；
设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的电性连接第二测试端(5)的反馈信号线(AT2)；
以及设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT(T0)；
每一测试TFT(T0)的栅极电性连接测试信号线(AT1)、源极电性连接反馈信号线(AT2)，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。
2.如权利要求1所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，还包括：
设于液晶显示面板显示区(1)另一侧的级联的多个GOA单元电路，设n’为正整数，第n’级GOA单元电路的输出端对应连接第n’条栅极扫描线(Gate(n’))；
设于所述液晶显示面板显示区(1)另一侧的第一测试端(3)；
设于所述液晶显示面板显示区(1)另一侧的第二测试端(5)；
设于所述液晶显示面板显示区(1)另一侧的电性连接第一测试端(3)的测试信号线(AT1)；
设于所述液晶显示面板显示区(1)另一侧的电性连接第二测试端(5)的反馈信号线(AT2)；
以及设于所述液晶显示面板显示区(1)另一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT(T0)；
每一测试TFT(T0)的栅极电性连接测试信号线(AT1)、源极电性连接反馈信号线(AT2)，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。
3.如权利要求1或2所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，测试第n级GOA单元电路时，所述第一测试端(3)向测试信号线(AT1)提供测试用高电位脉冲信号，所述第二测试端(5)接收反馈信号线(AT2)传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT(T0)所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号，并判定第n级GOA单元电路是否异常。
4.如权利要求3所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，测试第n级GOA单元电路时，所述第一测试端(3)根据第n级GOA单元电路的输出信号相对扫描启始信号(STV)的延时向测试信号线(AT1)提供测试用高电位脉冲信号。
5.如权利要求4所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，测试第n级GOA单元电路时，所述测试用高电位脉冲信号的高电位时长大于正常第n级GOA单元电路的输出信号的高电位时长，且测试用高电位脉冲信号的上升沿早于正常第n级GOA单元电路的输出信号的上升沿，测试用高电位脉冲信号的下降沿晚于正常第n级GOA单元电路的输出信号的下降沿。
6.如权利要求3所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，所述第二测试端(5)接收反馈信号线(AT2)传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT(T0)所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号为一高电位脉冲信号时，判定第n级GOA单元电路正常；所述第二测试端(5)接收反馈信号线(AT2)传输的对应连接第n级GOA单元电路的输出端及第n条栅极扫描线的测试TFT(T0)所反馈的第n级GOA单元电路的输出信号为一恒压低电位(VGL)时，判定第n级GOA单元电路异常。
7.如权利要求1或2所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，在关机瞬间，所述第一测试端(3)向所述测试信号线(AT1)提供高电位信号(VGH)，同时所述第二测试端(5)向反馈信号线(AT2)提供高电位信号(VGH)，所有的测试TFT(T0)均导通，将所有GOA单元电路的输出信号拉升至高电位。
8.如权利要求1所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，用于测试单边单驱的GOA电路。
9.如权利要求2所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，用于测试双边双驱或双边单驱的GOA电路。
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