CN107103869A - 一种显示用测试***及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示用测试***及其测试方法，通过在待测试显示面板第一测试引脚区域内设置第一测试引脚，以及在测试线路板的第二测试引脚区域内设置与第一测试引脚一一对应的第二测试引脚，并对各第一测试引脚和各第二测试引脚进行相应地设计，使得该显示用测试***可以通过简单的信号检测，即可确定第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置是否连接准确，可以大大简化检测两个测试引脚区域内的各连接引脚的位置是否连接准确的过程；与现有的显微镜观察法相比，大大提高了检测效率，提高了VT测试的效率，并大大降低了因VT测试对显示面板造成损坏的几率。

Description

一种显示用测试***及其测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤指一种显示用测试***及其测试方法。

背景技术

显示面板的显示测试(Visual Test,VT)是显示屏制作过程中的一个非常重要的环节，在显示面板制作完成后，分别将数据线、栅线和公共电极线连接到对应的测试垫(Pad)上，通过扎针的方式给显示面板上的各测试Pad加载相应的测试信号，使显示面板显示画面，以检测显示面板中的各晶体管是否正常，以及检测各栅线和各数据线的走线是否正常，防止不良产品流入模组段，造成成本的浪费。

而对于小尺寸的显示面板或有机电致发光显示面板(Organic Light EmittingDiode,OLED)，因其显示面板的台阶处没有足够大的空间设置对应的测试Pad，所以如图1所示，需要将对应的测试线1延伸至设置于显示面板2边缘处的FOG(Flexible PrintedCircuit on Glass)端3，再设置对应的假压柔性线路板(Flexible Printed Circuit,FPC)4，给显示面板2加载相应的测试信号。然而，对于这种VT测试方式，关键在于假压FPC端的连接引脚与FOG端的连接引脚的位置是否连接准确(如虚线框内所示)；若位置连接准确，通过加载的测试信号，可以有效检测出显示面板中的各晶体管、各栅线和各数据线是否正常；若位置连接不准确，在加载测试信号后，因出现的短路通过带电的假压FPC使得显示面板FOG端的ITO电极烧伤，进而破坏显示面板。

目前，确定假压FPC端的连接引脚与FOG端的连接引脚的位置是否连接准确的方法，一般为显微镜观察法，即通过显微镜观察假压FPC端与FOG端的标记引脚的位置连接准确，来确定假压FPC端的连接引脚与FOG端的连接引脚的的位置是否连接准确；但由于假压FPC为柔性材质，使得在假压过程中标记引脚容易出现偏移，尤其是对于小尺寸的显示面板，标记引脚的尺寸又较小，进而使得在假压完成后，难以通过显微镜观察到标记引脚的位置是否连接准确，而导致显示面板的FOG端在测试过程中造成损坏，进而对显示面板造成损坏。

基于此，如何有效确定假压FPC端的连接引脚与FOG端的连接引脚的位置是否连接准确，提高VT测试的效率，减少对显示面板的损坏，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示用测试***及其测试方法，用以解决如何有效确定假压FPC端的连接引脚与FOG端的连接引脚的位置是否连接准确，提高VT测试的效率，减少对显示面板的损坏。

本发明实施例提供了一种显示用测试***，包括：在边缘设置有第一测试引脚区域的待测试显示面板，在边缘设置有与所述第一测试引脚区域匹配的第二测试引脚区域的测试线路板；其中，

所述第一测试引脚区域包括：多个第一连接引脚，以及至少一对第一测试引脚；

所述第二测试引脚区域包括：多个与各所述第一连接引脚一一对应的第二连接引脚，以及与各所述第一测试引脚一一对应的第二测试引脚；

每对所述第一测试引脚中的两个所述第一测试引脚通过导线相连；

一个所述第二测试引脚与信号输入端相连，另一个所述第二测试引脚与信号输出端相连；当存在至少两对所述第一测试引脚时，属于不同对的所述第一测试引脚对应的两个所述第二测试引脚通过导线相连。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，通过导线相连的两个所述第二测试引脚之间设置有发光器件；

与所述信号输出端相连的所述第二测试引脚通过预设电阻接地。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，各所述第一测试引脚分别设置于沿着各所述第一连接引脚排列方向延伸的两个侧边；

各所述第二测试引脚分别设置于沿着各所述第二连接引脚排列方向延伸的两个侧边。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，各所述第一测试引脚设置于沿着各所述第一连接引脚排列方向延伸的两个侧边的数量相同；

各所述第二测试引脚设置于沿着各所述第二连接引脚排列方向延伸的两个侧边的数量相同。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，所述待测试显示面板和所述测试线路板的边缘位置具有绑定区域和非绑定区域；

所述第一测试引脚区域和所述第二测试引脚区域均设置于所述绑定区域内。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，所述待测试显示面板为待测试液晶显示面板或待测试电致发光显示面板。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，所述待测试显示面板为所述待测试电致发光显示面板；

所述待测试显示面板和所述测试线路板的边缘位置具有所述绑定区域和所述非绑定区域；

所述第一测试引脚区域和所述第二测试引脚区域均设置于所述非绑定区域内。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，所述第一测试引脚为一对或两对。

本发明实施例还提供了一种采用如本发明实施例提供的上述显示用测试***的测试方法，包括：

将待测试显示面板的第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与测试线路板的第二测试引脚区域内的各第二连接引脚连接；

向信号输入端输入位置检测信号；

检测信号输出端是否输出所述位置检测信号；

在检测到所述信号输出端输出所述位置检测信号时，确定所述第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接准确；

在检测到所述信号输出端输出非位置检测信号时，确定所述线第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接不准确。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述测试方法中，在将待测试显示面板的第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与测试线路板的第二测试引脚区域内的各第二连接引脚连接之后，还包括：

确定发光器件是否发光；

在确定所述发光器件发光时，确定所述第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接准确；

在确定所述发光器件不发光时，确定所述线第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接不准确。

本发明有益效果如下：

本发明实施例提供的一种显示用测试***及其测试方法，包括：在边缘设置有第一测试引脚区域的待测试显示面板，在边缘设置有与第一测试引脚区域匹配的第二测试引脚区域的测试线路板；其中，第一测试引脚区域包括：多个第一连接引脚，以及至少一对第一测试引脚；第二测试引脚区域包括：多个与各第一连接引脚一一对应的第二连接引脚，以及与各第一测试引脚一一对应的第二测试引脚；每对第一测试引脚中的两个第一测试引脚通过导线相连；一个第二测试引脚与信号输入端相连，另一个第二测试引脚与信号输出端相连；当存在至少两对第一测试引脚时，属于不同对的第一测试引脚对应的两个第二测试引脚通过导线相连。因此，采用本发明实施例提供的显示用测试***，通过向信号输入端输入位置检测信号，检测信号输出端输出的信号是否为位置检测信号，确定各第一连接引脚与各第二连接引脚的位置是否连接准确，如此可以大大简化检测各第一连接引脚和各第二连接引脚的位置是否连接准确的过程；并且，与现有的显微镜观察法相比，还大大提高了对各第一连接引脚和各第二连接引脚的位置是否连接准确的检测效率，提高了VT测试的效率，并大大降低了因VT测试对显示面板造成损坏的几率。

附图说明

图1为现有技术中显示面板与假压柔性线路板之间的连接关系的示意图；

图2至图11分别为本发明实施例中提供的第一测试引脚区域与第二测试引脚区域的对应关系的示意图；

图12和图13分别为本发明实施例中提供的测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合附图，对本发明实施例提供的一种显示用测试***及其测试方法的具体实施方式进行详细地说明。需要说明的是，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供了一种显示用测试***，如图2至图11所示，且图中仅示出了第一测试引脚区域和第二测试引脚区域的结构，显示用测试***可以包括：在边缘设置有第一测试引脚区域100的待测试显示面板，在边缘设置有与第一测试引脚区域100匹配的第二测试引脚区域200的测试线路板；其中，

第一测试引脚区域100包括：多个第一连接引脚110，以及至少一对第一测试引脚120；

第二测试引脚区域200包括：多个与各第一连接引脚110一一对应的第二连接引脚210，以及与各第一测试引脚120一一对应的第二测试引脚220；

每对第一测试引脚中的两个第一测试引脚120通过导线相连；

一个第二测试引脚220与信号输入端INPUT相连，另一个第二测试引脚220与信号输出端OUTPUT相连；当存在至少两对第一测试引脚时，属于不同对的第一测试引脚120对应的两个第二测试引脚220通过导线相连。

本发明实施例提供的上述显示用测试***，通过对第一测试引脚和第二测试引脚的设置，在向信号输入端输入位置检测信号，检测信号输出端输出的信号是否为位置检测信号时，确定各第一连接引脚与各第二连接引脚的位置是否连接准确，如此大大简化了检测各第一连接引脚和各第二连接引脚的位置是否连接准确的过程；并且，与现有的显微镜观察法相比，还大大提高了对各第一连接引脚和各第二连接引脚的位置是否连接准确的检测效率，提高了VT测试的效率，并大大降低了因VT测试对显示面板造成损坏的几率。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，在待测试显示面板和测试线路板的边缘位置具有绑定区域和非绑定区域时，如图2至图11所示，实线框m内为绑定区域，用于显示面板与柔性线路板之间的绑定，实现显示面板与柔性线路板的电连接，便于实现显示面板的显示，而实线框m之外的区域为非绑定区域，一般设置有测试Pad或测试引脚，用于为待测试显示面板提供测试信号；所以，如图7至图11所示，第一测试引脚区域100和第二测试引脚区域200可以均设置于绑定区域m内，利用绑定区域m内的第一测试引脚120和第二测试引脚220，确定各第一连接引脚110与各第二连接引脚210的位置是否连接准确。

具体地，在第一测试引脚区域和第二测试引脚区域均设置于绑定区域内时，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，待测试显示面板可以为待测试液晶显示面板或待测试电致发光显示面板。

具体地，在待测试显示面板为待测试电致发光显示面板时，因现有的电致发光显示面板的结构特点，一般还可以将用于测试的第一测试引脚区域设置于非绑定区域内，而不再复用绑定区域内的引脚；因此，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，待测试显示面板为待测试电致发光显示面板；待测试显示面板和测试线路板的边缘位置具有绑定区域和非绑定区域；如图2至图6所示，第一测试引脚区域100和第二测试引脚区域200均设置于非绑定区域内，以满足现有的电致发光显示面板的结构特点。

在具体实施时，位于第一测试引脚区域内的各第一测试引脚可以设置于沿着各第一连接引脚排列方向延伸的一个侧边，相应地，位于第二测试引脚区域内的各第二测试引脚与各第一测试引脚一一对应设置；然而，如此设置，在将假压FPC端与待测试显示面板的FOG端假压后，难免会出现具有第一测试引脚一侧的第一连接引脚和具有第二测试引脚一侧的第二连接引脚的位置连接准确，而另一侧的连接引脚的位置则可能会连接不准确，从而导致待测试显示面板的FOG端的部分ITO电极因短路而烧伤，进而对待测试显示面板造成破坏；因此，为了避免这种情况的出现，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，各第一测试引脚一般分别设置于沿着各第一连接引脚排列方向延伸的两个侧边；各第二测试引脚一般分别设置于沿着各第二连接引脚排列方向延伸的两个侧边；如此，可以保证位于整个第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与位于整个第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置均连接准确，以提高对各第一连接引脚和各第二连接引脚的位置是否连接准确的检测效率，进而提高VT测试的效率，大大降低因VT测试对显示面板造成损坏的几率。

具体地，为了提高判断各第一连接引脚与各第二连接引脚之间的位置连接准确的几率，以及方便各第一测试引脚和第二测试引脚的设置和制作，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，各第一测试引脚设置于沿着各第一连接引脚排列方向延伸的两个侧边的数量相同；各第二测试引脚设置于沿着各第二连接引脚排列方向延伸的两个侧边的数量相同；具体地，如图2至图11所示，不管具有一对第一测试引脚，还是具有两对第一测试引脚，都平均分布于沿着各第一连接引脚110排列方向延伸的两个侧边；相应地，各第二测试引脚220也平均分布于沿着各第二连接引脚210排列方向延伸的两个侧边。

在具体实施时，由于小尺寸的显示面板的测试区域(即第一测试引脚区域)的面积较小，所以为了能够将本发明实施例提供的上述显示用测试***适用于小尺寸的显示面板，如有机电致发光显示面板，所以需要尽量减少第一测试引脚和第二测试引脚的占用面积，进而减少测试区域的占用面积，所以，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，第一测试引脚一般设置为一对或两对；同样地，第二测试引脚的设置数量与第一测试引脚的设置数量相同，且一一对应设置。

具体地，如图2和图7所示，第一测试引脚区域100包括一对第一测试引脚，相应地，第二测试引脚区域200同样包括与各第一测试引脚120一一对应的第二测试引脚220；或者如图3至图6和图8至图11所示，第一测试引脚区域100包括两对第一测试引脚，相应地，第二测试引脚区域200同样包括与各第一测试引脚120一一对应的第二测试引脚220。

进一步地，为了能够直观地判断各第一连接引脚与各第二连接引脚的位置连接是否准确，方便操作员的检测，提高生产效率，在通过导线连接的两个第二测试引脚之间可以设置发光器件；当发光器件发光时，说明各第一连接引脚与各第二连接引脚的位置均连接准确；当发光器件不发光时，说明各第一连接引脚与各第二连接引脚的位置连接不准确；因此，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，如图3至图5所示，以及图8至图10所示，通过导线连接的两个第二测试引脚220之间设置有发光器件D；所以，为了使发光器件D在各第一连接引脚110与各第二连接引脚210的位置连接准确之后能够发光，在信号输入端INPUT需要输入用于点亮发光器件D的第一电位信号，且与信号输出端OUTPUT相连的第二测试引脚220通过预设电阻R₀接地；具体地，发光器件D可以是发光二极管，当然还可以是其他发光器件，并且在发光器件D为发光二极管时，第一电位信号的电平值可以根据发光二极管的发光情况和发光类型而确定，在此不作限定。

当然，在存在两对第一测试引脚时，通过导线电连接的两个第二测试引脚220之间还可以不设置发光器件，如图6和图11所示，此时，可以向信号输入端INPUT输入位置检测信号，然后在信号输出端OUTPUT检测输出的信号是否为位置检测信号；其中，位置检测信号可以是低电平信号，如接地信号等，还可以是其他信号，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示用测试***中，还可以包括用于提供测试信号的测试平台，且测试平台通过测试线路板与待测试显示面板电连接，通过测试线路板向待测试显示面板提供各种测试信号，以便于检测待测试显示面板的显示是否正常；具体地，当确定第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接准确时，测试平台检测到信号输出端输出信号与输入的信号相匹配，则测试平台通过测试线路板向待测试显示面板输出测试信号；当确定第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接不准确时，测试平台检测到信号输出端输出的信号与输入的信号不匹配，则无测试信号输出，以保护待测试显示面板。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种采用如本发明实施例提供的上述显示用测试***的测试方法，如图12所示，可以包括：

S1201、将待测试显示面板的第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与测试线路板的第二测试引脚区域内的各第二连接引脚连接；

S1202、向信号输入端输入位置检测信号；

S1203、检测信号输出端是否输出位置检测信号；若是，则执行步骤S1204；若否，则执行步骤S1205；

S1204、确定第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接准确；结束流程；

S1205、确定线第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接不准确。

具体地，在存在至少两对第一测试引脚时，如图3至图5所示，以及图8至图10所示，通过导线连接的两个第二测试引脚之间设置有发光器件D；因此，在本发明实施例提供的上述测试方法中的步骤S1201在将待测试显示面板的第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与测试线路板的第二测试引脚区域内的各第二连接引脚连接之后，还可以包括：

确定发光器件是否发光；

在确定所述发光器件发光时，确定第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接准确；

在确定所述发光器件不发光时，确定线第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接不准确。

下面将结合具体实施例对本发明实施例提供的上述测试方法进行详细描述。

具体地，根据图3至图5，以及图8至图10所示的显示用测试***中的第一测试引脚区域与第二测试引脚区域的结构示意图，结合图13所示的流程图，对本发明实施例提供的上述测试方法的具体步骤如下：

S1301、将待测试显示面板的第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与测试线路板的第二测试引脚区域内的各第二连接引脚连接；

S1302、向信号输入端输入位置检测信号；

S1303、确定发光器件是否发光；若是，则执行步骤S1305；若否，则执行步骤S1306；

S1304、检测信号输出端是否输出位置检测信号；若是，则执行步骤S1305；若否，则执行步骤S1306；

S1305、确定第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接准确；结束流程；

S1306、确定线第一测试引脚区域内的各第一连接引脚与第二测试引脚区域内的各第二连接引脚的位置连接不准确。

本发明实施例提供了一种显示用测试***及其测试方法，包括：在边缘设置有第一测试引脚区域的待测试显示面板，在边缘设置有与第一测试引脚区域匹配的第二测试引脚区域的测试线路板；其中，第一测试引脚区域包括：多个第一连接引脚，以及至少一对第一测试引脚；第二测试引脚区域包括：多个与各第一连接引脚一一对应的第二连接引脚，以及与各第一测试引脚一一对应的第二测试引脚；每对第一测试引脚中的两个第一测试引脚通过导线相连；一个第二测试引脚与信号输入端相连，另一个第二测试引脚与信号输出端相连；当存在至少两对第一测试引脚时，属于不同对的第一测试引脚对应的两个第二测试引脚通过导线相连。因此，采用本发明实施例提供的显示用测试***，通过向信号输入端输入位置检测信号，检测信号输出端输出的信号是否为位置检测信号，确定各第一连接引脚与各第二连接引脚的位置是否连接准确，如此可以大大简化检测各第一连接引脚和各第二连接引脚的位置是否连接准确的过程；并且，与现有的显微镜观察法相比，还大大提高了对各第一连接引脚和各第二连接引脚的位置是否连接准确的检测效率，提高了VT测试的效率，并大大降低了因VT测试对显示面板造成损坏的几率。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种显示用测试***，包括：在边缘设置有第一测试引脚区域的待测试显示面板，在边缘设置有与所述第一测试引脚区域匹配的第二测试引脚区域的测试线路板；其中，

所述第一测试引脚区域包括：多个第一连接引脚，以及至少一对第一测试引脚；

所述第二测试引脚区域包括：多个与各所述第一连接引脚一一对应的第二连接引脚，以及与各所述第一测试引脚一一对应的第二测试引脚；

每对所述第一测试引脚中的两个所述第一测试引脚通过导线相连；

一个所述第二测试引脚与信号输入端相连，另一个所述第二测试引脚与信号输出端相连；当存在至少两对所述第一测试引脚时，属于不同对的所述第一测试引脚对应的两个所述第二测试引脚通过导线相连。

2.如权利要求1所述的显示用测试***，其特征在于，通过导线相连的两个所述第二测试引脚之间设置有发光器件；

与所述信号输出端相连的所述第二测试引脚通过预设电阻接地。

3.如权利要求1所述的显示用测试***，其特征在于，各所述第一测试引脚分别设置于沿着各所述第一连接引脚排列方向延伸的两个侧边；

各所述第二测试引脚分别设置于沿着各所述第二连接引脚排列方向延伸的两个侧边。

4.如权利要求3所述的显示用测试***，其特征在于，各所述第一测试引脚设置于沿着各所述第一连接引脚排列方向延伸的两个侧边的数量相同；

各所述第二测试引脚设置于沿着各所述第二连接引脚排列方向延伸的两个侧边的数量相同。

5.如权利要求3所述的显示用测试***，其特征在于，所述待测试显示面板和所述测试线路板的边缘位置具有绑定区域和非绑定区域；

所述第一测试引脚区域和所述第二测试引脚区域均设置于所述绑定区域内。

6.如权利要求5所述的显示用测试***，其特征在于，所述待测试显示面板为待测试液晶显示面板或待测试电致发光显示面板。

7.如权利要求3所述的显示用测试***，其特征在于，所述待测试显示面板为所述待测试电致发光显示面板；

所述待测试显示面板和所述测试线路板的边缘位置具有所述绑定区域和所述非绑定区域；

所述第一测试引脚区域和所述第二测试引脚区域均设置于所述非绑定区域内。

8.如权利要求1-7任一项所述的显示用测试***，其特征在于，所述第一测试引脚为一对或两对。

9.一种采用如权利要求1-8任一项所述的显示用测试***的测试方法，其特征在于，包括：

将待测试显示面板的第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与测试线路板的第二测试引脚区域内的各第二连接引脚连接；

向信号输入端输入位置检测信号；

检测信号输出端是否输出所述位置检测信号；

在检测到所述信号输出端输出所述位置检测信号时，确定所述第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接准确；

在检测到所述信号输出端输出非位置检测信号时，确定所述线第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接不准确。

10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，在将待测试显示面板的第一测试引脚区域内的各第一连接引脚，与测试线路板的第二测试引脚区域内的各第二连接引脚连接之后，还包括：

确定发光器件是否发光；

在确定所述发光器件发光时，确定所述第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接准确；

在确定所述发光器件不发光时，确定所述线第一测试引脚区域内的各所述第一连接引脚与所述第二测试引脚区域内的各所述第二连接引脚的位置连接不准确。