TWI277962B - Method and apparatus for generating sampling clock for burst cutting area of an optical disc - Google Patents

Description

1277962 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本舍明涉及-種時脈產生方法及相關裝置，尤指一種 光碟預錄區之取樣時脈產生方法及相關裝置。 【先前技術】 第1圖所繪示為習知-數位多用途光碟片（digital versatiledisc，DVD)i⑽之示意圖。如圖所示，數位多用 途光碟片100會在靠近碟片内侧的位置設置一預錄區 (bUrSt CUtting _ ’ BCA川G，用來儲存碟片的個別資料。 預錄區削之=#料燒錄方法通常是利用雷射光束（laser beam)以輻射方向除切份區域的反光層（㈣ film ) ’而形成條碼狀（barc〇de f〇rmat)的條紋（也ipe )。 第2圖所示為預錄區11〇之局部放大示意圖2〇〇，其中， 條紋210〜260即係被雷射光束除去反光層的部份。預錄區 110的資料是利用RZ ( return to zero)調變方式產生。預 錄區110中除了條紋以外，還存在有虛設坑洞字串（dummy pit string)。因此，在光碟機之光學讀寫頭讀取預錄區110 所得到之射頻（radio frequency，RF )訊號中，除了預錄區 110之條紋訊號外，還會有高頻的坑洞字串訊號，如第3 6 1277962 、圖所示。習知技術會利用一預錄區訊號再生裝置（BCA signal reproduction device)來處理自預錄區110所讀出之 該射頻訊號，以產生一預錄區再生訊號（BCAreproducing signal)，或稱之為預錄區訊號（BCA signal)。 接著，習知技術會利用一取樣時脈對該預錄區再生訊 號進行取樣，以解碼出該預錄區再生訊號中的資料。然而， ® 當數位多用途光碟片1〇〇的轉速改變時，該預錄區再生訊 號的頻率與週期也會所有不同。因此，該取樣時脈的頻率 必須能與該預錄區再生訊號的頻率對應，才能正確地解碼 預錄區110所儲存的資料。習知的方法之一是檢測光碟機 之主軸馬達（spindle motor)的轉速，並據以調整用來對該 取樣時脈的頻率，以解碼該預錄區再生訊號中的資料。換 吕之，此方法必須精確地檢測出主軸馬達的轉速，才能夠 處理預錄區110當中所儲存的資料。 另-種習知方法則是利用-鎖相趣路（phase_lQeked loop，PLL)來產生與光碟機之主軸馬達轉速相對應之一取 樣時脈’以解碼該預錄區再生訊號當中的資料。然而，這 種作法因為需要額外的鎖相迴路電路，故會增加電路複雜 度與製造成本。 7 1277962 【發明内容】 依據本發明之實施例，係揭露一種光碟預錄區之取樣時 脈產生裝置，其包含有：一檢測裝置，用來檢測擷取自該 預錄區之一預錄區再生訊號之一特定脈波週期；以及一時 脈產生器，電連接於該檢測裝置，用來依據該特定脈波週 期產生一取樣時脈。 _ 依據本發明之實施例，另揭露—種光碟預錄區之取樣時 脈產生方法，其包含有：檢測擷取自該預錄區之一預錄區 再生afU虎之一特定脈波週期；以及依據該特定脈波週期產 生一取樣時脈。 【實施方式】 口明荟考第4圖，其所綠示為本發明一實施例之光碟預 錄區之取樣時脈產生I置_之方塊圖。在本實施例中， 取樣才脈產生裝置4〇〇包含有_預錄區訊號再生裝置 一〇’曾，則&置420，電連接於預錄區訊號再生裝置41〇 ; 、元43〇私連接於檢測裝置420 ;以及一時脈產生 器440,電連接於運瞀 ^ 开早兀43〇，用來依據該取樣週期產生 一取樣時脈。以下以冷 丄 机矜圖方式來說明本發明產生光碟預 錄&之取樣時脈的方法。 8 1277962 弟5圖為本發明產生光碟預錄區11 〇之取樣日^矿 實施例的流程圖500，其包含有以下步驟： 步驟510 : 依據讀取自預錄區110之一鉍& ^射頰訊號來 產生一預錄區再生訊號。 步驟520 : 檢測該預㈣再生訊敎1定脈波週 期（pulse period)。 步驟530 : 依據該特定脈波週期計算一取樣週期 (sampling period ) 〇 步驟540 : 依據該取樣週期來產生一取樣時脈 (sampling clock)。 在步驟510中，預錄區訊號再生裝置41〇會依據讀取 自預錄區110之一射頻訊號，來產生如第6圖所示之一預 籲錄區再生訊號BRS。實作上，取樣時脈產生裝置4〇〇亦可 利用一瑕疯偵測單元（defect detector)來取代預錄區吼號 再生裝置410。例如，取樣時脈產生裝置400可利用光碟 ’機内的瑕疵偵測單元來依據該射頻訊號產生一對應之瑕/疵 _ 訊號（defect signal)，並以該瑕疵訊號作為該預錄區再生 訊號BRS。前述產生該預錄區再生訊號BRS的方式係熟習 此項技術者所悉知，故在此不多加贅述。當然，本發明在 1277962 號 實作上亦可以其他方法來產生該預錄區再生訊 接者’在步驟520中’檢測裝置42〇會檢測該預錄區 再生訊號刪之-特定脈波週期。如第6圖所示，該預錄 區再生訊號刪之各脈波週期的長度並不相同，例如，、脈 波週期6!2的長度較脈波週期似來得短。此外，該預錄 區再生訊號BRS之各脈波週期還會隨著^^轉速（亦即 光碟機之主軸馬達轉速）而變動。⑼，各脈波週期之長 度與預錄區之通道位元長度（隐如峨咖以她）哪 之間的關係卻是固定不變的。例如，在第6圖的例子當中， =論光碟片轉速為何，脈波週期612之長度恆為預錄區之 兀長度CBL的2倍，而脈波週期614之長度貝_ ^區之通迢位元長度CBL的5倍。因此，只要檢測裝置 〇檢測出該預錄區再生訊號BRS中某—特定脈波週期的 又度，便忐據以換算出預錄區之通道位元長度CBL。 ,為方便說明，在此係假設檢測裝置420於步驟52〇中 係檢測該預錄區再生訊號BRS之最大脈波週期。如第4圖 所不，在本發明之—較佳實施例中，檢測裝置“Ο包含有 —叶數器422，以及電連接於計數器422之一暫存器424。 於步驟520中，本實施例之計數器422會以—參考時脈 1277962 REFCLK作為工作時脈來進行計數，並於該預錄區再生訊 號BRS之上升緣觸發時輸出一計數值並重 ，、計數動作。 例如，計數器422會於上升緣622觸發時輪出一計數值X， 並重新進行計數。當上升緣624觸發時，計數器422會輸 f值A’並重置其計數動作。接著，當上升緣咖 觸㈣，计數益422又會輸出一計數值B，並重置其計數 動作二在實作上，該參考時脈REFCLK可用系統之工°作時 脈來實現’且計數器422亦可選擇於該預錄區再生訊號 BRS之下降緣觸發時輸出計數值並重置其計數動作^言 二在檢測裝置中，計數器422係用來依據該預麟 再生訊號删之邊緣進行計數，域生複_計數值。 每當計數器422所輸出之一計數值大於暫存哭似所 储存之計數值時，暫存器424便會更新其所儲存之呀數 數值為_ 422所一 在本㈣例巾，由於該參考時脈卿CXK的脈波週期 系為已知，故可用暫存器424所儲存之該最大計數值來表 麵錄區再生職BRS之最大脈波職。例如，俯若第 圖中的脈波週期614為該預錄區再生訊號BRS之最大脈 11 1277962 波週期，則其可用計數值B來表示。接著，在步驟53〇中， 運算單元430會依據檢測裝置420檢測出之該特定脈波週 期（在本貫施例中係以該計數值B表示）來計算出一取樣 週期。以藍光DVD (blu-ray disc)的規格為例，該預錄區 再生訊號BRS之最大脈波週期係為預錄區之通道位元長度 CBL的5倍。因此，運算單元㈣只要將該計數值只除: W更可求得預錄區之通道位元長度CBL與該參考時脈 験腳CLK之時脈週期_比率_。例如，财該計數值 B為100,則預錄區之通道位元長度孤便相當於_㈣ 個參考％脈REFCLK的時脈週期。實作上，運算單元伽 除可用一除法器來實現，或用-乘法器來逼近外’亦可用 权體方式來Λ現其功能。在本實施例中，取樣時脈產生事 置400會以運算單元430所求得的結果作為一取樣週期: y卩Θ取樣週期相當於20個參考時脈REFCLK之時脈 、HD DVD的規格中’該預錄區再生訊號BRS中的最 大=週期係為預錄區通道位元長度 CBL的4倍。因此， 、單I 430只要將該計數值b除以4，便能計算出相 應的取樣週期。 12 1277962 接著，在步驟540中，時脈產生器440便能依據該取 樣週期來產生一取樣時脈，以供後級電路使用該取樣時脈 對忒預錄區再生吼號BRS進行取樣，來解碼預錄區11〇當 中的資料。 由前述可知’當光碟轉速改變時，雖然該預錄區再生 訊號BRS中的各脈波會跟著改變，但該麟區之通道 位元長度CBL也會以相同的幅度―起改變，使得該預錄區 再生訊號BRS中的最大脈波週期會與該預錄區之通道位元

長度CBL保制定的倍數_。本㈣係藉由檢測該預錄 區再生訊號BRS巾的最大脈波的方式，來精確地計算 出該預錄區之通道位元長度咖，進而產生相對應的料: 時脈。惟需注意’本發明之方法衫限定要檢測該預錄區 再生訊號刪中的最大脈波週期。事實上，由於該預錄區 再生訊號刪中的次大脈波週期、最小脈波_或其他特 定脈波週期料，同樣與該_區之通道位元長度CBL有 著固定的倍數關係’故亦可作為步驟520之檢測對象。 一控制單元450，如第4圖所 在/A貝施例中’取樣時脈產生裝置棚另包含有 適當時機控制檢測裝置420或運算 不。控制單元450係用來於 單元430停止運作。例 13 1277962 如，當檢測裝置運作達一預設時間後，其應已檢測出 遠預錄區再生訊號刪中的最大脈波週期，亦即，取樣時 脈產生裝置_應已求得該預錄區之通道位元長度弧之 I重因广，控制單元彻會控制檢測裝置420、計數器422 外：t元㈣停止運作，以使時脈產生器物所輸出之 μ取樣日禮維持於固定之頻率。實作上，控制單元彻亦 可叶數該預錄區再生訊號BRS之脈波數目，並於該預錄區 再生訊號BRS之脈波數目制—預設值時，㈣檢測裝置 420、計數器422或運算單元43〇停止運作。 由於本發明之方法完全不需參考光碟機之主轴馬達的 轉連貢訊’電路控制的_性_ f知技術來得低。 本發明的方法亦無需使_外的鎖相迴路電路，故’ 光碟機的電路複雜性與製造成本。 一 【圖式簡單說明】 第1圖為習知-數位多用途光碟片之示意圖。 第2圖為第i圖中之預錄區之局部放大示意圖。 ,為讀取自第1圖之預錄區之一射頻訊號之示意圖。 預錄區之取樣時脈產生f 弟4圖為本發明一實施例之光碟 置之方塊圖 14 1277962 第5圖為本發明產生光碟預錄區之取樣時脈之一實施例的 流程圖。 第6圖為第4圖之預錄區訊號再生裝置所產生之一預錄區 再生訊號之示意圖。 【主要元件符號說明】 100 數位多用途光碟片 110 預錄區 210 ^ 220 > 230 ^ 240 ^ 250 > 260 預錄區之條紋 300 預錄區之射頻訊號 400 取樣時脈產生裝置 410 預錄區訊號再生裝置 420 檢測裝置 422 計數器 424 暫存器 430 運算單元 440 , 時脈產生器 450 控制單元 612 、 614 脈波週期 622 、 624 、 626 訊號之上升緣 15

Claims (1)

1277962 十、申請專利範圍： 1· 一種光碟預錄區（BCA)之取樣時脈產生裝置，其包 含有·· 一檢測裝置，用來檢測擷取自該預錄區之一預錄區再 生訊號（BCA reproducing signal)之一特定脈波 週期；以及 一時脈產生器，電連接於該檢測裝置，用來依據該特 定脈波週期產生一取樣時脈。 2. 如申請專利範圍第1項所述之取樣時脈產生裝置，其 另包含有： 一運算單元，電連接於該檢測裝置與該時脈產生器， 用來依據該特定脈波週期計算一取樣週期； 其中該時脈產生器係依據該取樣週期來產生該取樣時 脈。 3. 如申請專利範圍第2項所述之取樣時脈產生裝置，其 中該運算單元係為一除法器，用來將該特定脈波週期 除以一預定值以計算該取樣週期。 16 1277962 4. 如申請專利範圍第2項所述之取樣時脈產生裝置，其 中該檢測裝置包含有： 一計數器，用來依據該預錄區再生訊號之邊緣進行計 數，以產生複數個計數值； 其中該特定脈波週期係對應該複數個計數值的其中之 • 5. 如申請專利範圍第4項所述之取樣時脈產生裝置，其 中該檢測裝置另包含有： 一暫存器，電連接於該計數器，用來不斷更新其所儲 存之計數值以紀錄該複數個計數值中之最大計數 值。 6. 如申請專利範圍第4項所述之取樣時脈產生裝置，其 • 中該計數器係依據該預錄區再生訊號之同類型邊緣來 進行計數。 7. 如申請專利範圍第4項所述之取樣時脈產生裝置，其 另包含有一控制單元，用來計數該預錄區再生訊號之 脈波數目，並於該預錄區再生訊號之脈波數目達到一 預設值時，控制該計數器或該運算單元停止運作。 17 1277962 8. 如申請專利範圍第4項所述之取樣時脈產生裝置，其 另包含有一控制單元，電連接於檢測裝置，用來於該 檢測裝置運作達一預設時間時，控制該計數器或該運 算單元停止運作。 9. 如申請專利範圍第2項所述之取樣時脈產生裝置，其 中該運算單元係為一乘法器。 10. 如申請專利範圍第1項所述之取樣時脈產生裝置，其 另包含有一控制單元，電連接於檢測裝置，用來於該 檢測裝置運作達一預設時間時，控制該檢測裝置停止 運作。 11. 如申請專利範圍第1項所述之取樣時脈產生裝置，其 中該特定脈波週期係為該預錄區再生訊號中之最大脈 波週期。 12. 如申請專利範圍第1項所述之取樣時脈產生裝置，其 另包含有： 一預錄區訊號再生裝置（BCA signal reproduction device)，電連接於該檢測裝置，用以依據讀取自 18 1277962 該預錄區之一射頻訊號來產生該預錄區再生訊 號。 13.如申請專利範圍第1項所述之取樣時脈產生裝置，其 另包含有： 一瑕窥偵測單元（defect detector )，電連接於該檢測裝 置，用以依據讀取自該預錄區之一射頻訊號來產 擊生一瑕疵訊號，以作為該預錄區再生訊號。 14· 一種光碟預錄區（BCA)之取樣時脈產生方法，其包 含有： 檢測擷取自該預錄區之一預錄區再生訊號（BCA reproducing signal)之一特定脈波週期，以及 依據該特定脈波週期產生一取樣時脈。 15·如申請專利範圍第14項所述之方法，其中產生該取樣 時脈之步驟另包含有： 依據該特定脈波週期計算一取樣週期；以及 依據该取樣週期來產生該取樣時脈。 19 1277962 16. 如申請專利範圍第15項所述之方法，其中計算該取樣 週期之步驟另包含有： 將該特定脈波週期除以一預定值以計算該取樣週期。 17. 如申請專利範圍第15項所述之方法，其中檢測該特定 脈波週期之步驟另包含有： 依據該預錄區再生訊號之邊緣進行計數，以產生複數 瞻個計數值； 其中該特定脈波週期係對應該複數個計數值的其中之 〇 18. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其中檢測該特定 脈波週期之步驟另包含有： 紀錄該複數個計數值中之最大計數值，以代表該特定 •脈波週期。 19. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其另包含有： 計數該預錄區再生訊號之脈波數目；以及 於該預錄區再生訊號之脈波數目達到一預設值時，停 止產生該複數個計數值之步驟或計算該取樣週期 之步驟。 20 1277962 20. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其另包含有： 於檢測該特定脈波週期之步驟進行達一預設時間時， 停止產生該複數個計數值之步驟或計算該取樣週 期之步驟。 21. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其另包含有： 於檢測該特定脈波週期之步驟進行達一預設時間時， 停止檢測該特定脈波週期之步驟。 22. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該特定脈波 週期係為該預錄區再生訊號中之最大脈波週期。 23. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其另包含有： 依據讀取自該預錄區之一射頻訊號來產生該預錄區再 生訊號。 24. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其另包含有： 利用一瑕疵偵測單元依據讀取自該預錄區之一射頻訊 號來產生一瑕/疵訊號，以作為該預錄區再生訊號。 十一、圖式： 21