TWI247730B - Quartz glass crucible for pulling up silicon single crystal - Google Patents

Quartz glass crucible for pulling up silicon single crystal Download PDF

Info

Publication number
TWI247730B
TWI247730B TW093115013A TW93115013A TWI247730B TW I247730 B TWI247730 B TW I247730B TW 093115013 A TW093115013 A TW 093115013A TW 93115013 A TW93115013 A TW 93115013A TW I247730 B TWI247730 B TW I247730B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
quartz glass
concentration
single crystal
layer
crucible
Prior art date
Application number
TW093115013A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200426121A (en
Inventor
Yasuo Ohama
Takayuki Togawa
Shigeo Mizuno
Original Assignee
Shinetsu Quartz Prod
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinetsu Quartz Prod filed Critical Shinetsu Quartz Prod
Publication of TW200426121A publication Critical patent/TW200426121A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI247730B publication Critical patent/TWI247730B/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/09Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould
    • C03B19/095Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould by centrifuging, e.g. arc discharge in rotating mould
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/10Crucibles or containers for supporting the melt
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/02Pure silica glass, e.g. pure fused quartz
    • C03B2201/03Impurity concentration specified
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P40/00Technologies relating to the processing of minerals
    • Y02P40/50Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
    • Y02P40/57Improving the yield, e-g- reduction of reject rates
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10S117/90Apparatus characterized by composition or treatment thereof, e.g. surface finish, surface coating
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S65/00Glass manufacturing
    • Y10S65/08Quartz
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)

Description

1247730 (1) 玫、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於用於拉製矽單晶之石英玻璃坩鍋I ° 【先前技術】 過去,矽單晶的製造廣泛採用所謂的丘克拉斯基 (Czochralski)拉晶法 (CZ法)。該CZ法是在石英玻璃所 製成的坩鍋內熔融多晶矽,把矽單晶的晶種浸放在該矽融 液中,一面讓坩鍋旋轉,一面漸漸提拉晶種,以晶種爲核 使矽單晶成長之方法。用前述CZ法所製成的單晶必須是 高純度並且製造矽晶圓時有良好的良品率。該製造上所使 用的石英玻璃坩鍋,一般採用不含泡沬透明的內層及含有 泡沬不透明的外層所組成2層構造的石英玻璃坩鍋。 近年,隨著矽單晶的大口徑化,拉製矽單晶的作業變 長時間化,所以石英玻璃坩鍋更被要求高純度化。然而本 提案人已提案把透明的內層及不透明的外層所組成之2層 構造的石英玻璃坩鍋是用氧化矽粉來形成之坩鍋(日本發 明專利第2 8 1 1 290號公報、第2 9 3 3 4 〇4號公報)。該坩鍋 其由合成石英玻璃所形成的內層極少有雜質含有量,拉製 矽單晶時坩鍋內表面粗造或方晶石斑點都很少發生,所以 能增高拉製矽單晶的良品率。另則用A1濃度較高的高黏 度天然石英玻璃來構成前述坩鍋的外層,其優點爲高熱負 荷時造成倒塌或縱向彎曲的變形較少發生。 不過隨著坩鍋的口徑變大,加熱器造成的熱負荷也因 -5- (2) 1247730 而增大,以上述透明內層爲合成石英玻璃且外層爲天然石 英玻璃的2層構造所構成時,特別是在於加熱器的熱負荷 升高而與矽融液有較長接觸時間之坩鍋的彎曲部’由於 A1濃度所引起黏度的不同因而兩層的交界處發生畸變, 透明內層畸變變形,坩鍋內面發生很大的起伏,而會有單 晶的良品率降下的問題。 此外,在於用CZ法所形成的矽單晶中存有氧,不過 該氧是熔融到石英坩鍋裡的熔液中所形成,其濃度取決於 石英玻璃坩鍋(S i 02 )的熔融量與矽融液表面對S i 0的蒸 發量之差。一般,拉製單晶繼續進行則融液表面的面積幾 乎沒有變化而與石英坩鍋的接觸面積減少,熔融量減少, 所以朝單晶的長度方向氧濃度產生傾斜度。傾斜度增大則 即使拉製單晶熟練仍會因氧濃度而增加規格外的部分,製 品良品率變差並不理想。因此過去是以增加石英玻璃坩鍋 的旋轉數且時而增加熔融量,時而提高爐內的壓力使融液 表面對s i 0的蒸發量減少來對應,不過其缺點爲操作複雜 又增高製品成本。爲了解決這個缺點,提案把石英玻璃坩 鍋的底部形狀形成爲半球狀來保持融液表面的面積與坩鍋 和融業的接觸面積的平衡之石英玻璃坩鍋(日本專利特開 平1 1 - 1 993 6 8號公報),不過這種石英玻璃坩鍋是把過 去平底型石央玻璃i甘鍋變更形狀,因而會有必須大幅變更 設備而要耗費龐大的經費之缺點。 [發明內容】 冬 (3) 1247730 鑒於現狀,本發明團隊重複不斷硏發的結果’發現在 於拉製矽單晶用石英玻璃坩鍋的至少彎曲部’設置A1濃 度較低的透明內層、A1濃度較高的不透明外層、以及兩 層中間有兩層的中間A1濃度之中間層,就容易防止透明 內層的變形。並又發現極使從坩鍋的下部向上部把前述石 英玻璃坩鍋透明內層的厚度變薄來減少石英玻璃坩鍋與矽 融液的接觸面積,仍能抑制石英玻璃坩鍋的熔融量變化, 又能把單晶長度方向的氧濃度均等化,而完成了本發明。 本發明之目的是提供透明內層較少變形,並且拉製單 晶時石央玻璃ί甘鍋的溶融量變化受到抑制,又能把單晶長 度方向的氧濃度均等化之拉製矽單晶用石英玻璃坩鍋。 爲了達成本發明,本發明的拉製矽單晶用石英玻璃坩 鍋’是針對用於拉製矽單晶之石英玻璃坩鍋,其特徵爲: 至少彎曲部有合成石英玻璃所組成而A1濃度較低的透明 內層、天然或天然合成混合石英玻璃所組成而A1濃度較 高的透明或是不透明中間層以及天然石英玻璃所組成而 A1濃度比前述中間層更高的不透明外層之3層構造。 如同上述’本發明的拉製矽單晶用石英玻璃坩鍋爲至 少彎曲部是具有由合成石英玻璃所組成而A 1濃度較低的 透明內層、及天然或天然合成混合石英玻璃所組成而A ] 濃度較局的透明或是不透明中間層以及天然石英玻璃所組 成而A1濃度比前述中間層更高的不透明外層所構成之3 層構造的石央玻璃坩鍋;最好是前述透明內層的a】濃度 cA爲〇·〇]〜]Ppra,透明或不透明中間層的A1濃度爲 (4) 1247730 1〜8 ppm ’不透明外層的A】濃度cc爲5〜2 0 ppm的範圍內 之石英玻璃坩鍋。即使是C c在於前述的範圍內且熱負荷 增高,拉製時間較長時,坩鍋仍很少倒塌或縱向彎曲。但 是C c未滿5 p p m,坩鍋本身容易變形,c c超過2 0 p p m, 則依附在A1中所含有的其他元素之濃度上升,對矽單晶 的品質造成不良影響。前述透明內層、天然或天然合成混 合石英玻璃所組成的透明或不透明中間層以及天然石英玻 璃所組成的不透明外層之A1濃度,若有必要可用二氧化 石夕中混合A1微細粉末的方法、把矽化合物及a 1化合物的 均等溶液加水分解,經乾燥後燒結的方法、或者二氧化矽 粉末浸泡在A1化合物的溶液後,經乾燥用A1化合物披覆 二氧化矽粉的方法等來進行調整。特別是製造含有A1的 合成二氧化矽玻璃時,例如採用四氯化矽溶液中添加一定 ΐ的氯化銘並均等混合後,加水分解,經乾燥後燒結的方 法’達成均等又有所期望的Α1濃度之石英合成玻璃較爲 理想。 針對本發明的本發明的拉製矽單晶用石英玻璃祖鍋, 在加熱器造成的熱負荷特別高的條件下使用時,必須把不 透明外層的Α1濃度Cc提高到u〜20 ppm。此情況由於 C a與C c的差變大,因而中間層爲透明層可以更加緩和各 層間交界處的畸變。此外熱負荷較低時,不透明外層的 A 1丨辰度C c爲5〜1 G p p m ’石央玻璃;t甘鍋目g儘早適應外側的 碳質坩鍋,又能減低初期過程的不良。另外此情況由於 CA與Cc的差不太大,中間層爲容易作成的的不透明層對 -8 - (5) 1247730 於成本上有利。 另外,針對本發明的本發明的拉製矽單晶用石英玻璃 坩鍋,合成石英玻璃所組成而A1濃度較低之透明內層的 厚度由坩鍋的下部向上部逐漸變薄。具體上,坩鍋基體底 部的最下端至直接連動部上端面爲止的高度(Η ), 〇〜〇·25 Η的平均厚度TA1爲0.5〜3 mm,0.25〜0·5Η的平 均厚度ΤΑ2爲0.3〜2 mm,0.5〜1 Η的平均厚度ΤΑ3爲〇 〜〇·9 mm,且是TA1>TA2>TA3較佳。然而在於0.25〜1H 的範圍最好是設有傾斜度使透明內層的厚度向上逐漸變薄 。進行拉製矽單晶時,透明內層的厚度爲前述範圍,熔解 多晶矽來進行熔融之際厚度較薄的TA3幾乎被熔解掉,露 出A1濃度較高又不易熔於融液之中間層。其結果:矽單 晶的氧濃度取決於坩鍋下部之透明內層的被熔解情況,矽 單晶行進導致坩鍋被溶解量的變化受到抑制。另外透明內 層的厚度以TA1 > TA2 > TA3來設置傾斜度,中間層的露 出就容易控制,且能保持被溶解量有一定的程度。另外關 於中間層的厚度則是設爲〇.8〜5 mm且是全厚度的1〇〜4〇 % ,最適於緩和部分的運作。 【發明效果】 本發明的拉製矽單晶用石英玻璃坩鍋爲至少在彎曲部 有A】濃度較低的透明內層、及A】濃度較高不透明外餍、 及該兩層中間有前數量層的中間濃度的中間層之3層構造 ,最好是透明內層的厚度爲由坩鍋的下部向上部逐漸變薄 冬 (6) 1247730 。經由採用前述構造,本發明的拉製矽單晶用石英玻璃坩 鍋,在於熱負荷時透明內層較少變化下,即使與矽融液的 接觸面積減少’仍㊉抑制石英玻璃坦鍋溶解量的變化來均 等維持單晶長度方向的氧濃度,又能拉製高結晶率的矽單 晶。 【實施方式】 第1圖中表示本發明的拉製矽單晶用石英玻璃坩鍋。 圖號1爲石英玻璃坩鍋,圖號2爲坩鍋的底部,圖號3爲 直體部,圖號4爲由天然石英玻璃所組成的不透明外層, 圖號5爲由天然或天然合成混合石英玻璃所組成的透明或 不透明中間層,圖號6爲由合成石英所組成的透明內層, 圖號7爲彎曲部。第2圖中表示製造前述石英玻璃坩鍋的 裝置。第2圖中,圖號8爲旋轉的型模,圖號9爲坩鍋基 體,圖號1 0、1 5爲二氧化矽粉末供應手段,圖號1 1爲板 狀的蓋體,圖號]2爲流量控制閥,圖號]3爲電源,圖號 1 4爲電弧電極,圖號1 6爲高溫氣相。本發明的拉製矽單 晶用石英玻璃坩鍋係將天然二氧化矽粉末導入作旋轉的模 型8內’成形爲i甘鍋形狀之後,把電弧電極1 4***ί甘鍋 形狀體中,用板狀的蓋體]1覆蓋坩鍋部的開口部,利用 電弧電極1 4來使坩鍋形狀體的內部空腔成爲高溫氣相, 至少部份促使可把玻璃熔融來形成半透明的坩鍋基體9, 接著由二氧化矽粉末供應手段1 〇,一面用流量控制閥1 2 來調節供應量,一面將天然或天然合成混合二氧化矽粉末 -10- (7) 1247730 供應到高溫氣相1 6中,促使可熔融玻璃來形成透明或不 透明的的中間層,再接著由二氧化矽粉末供應手段1 5將 合成二氧化矽粉末供應到高溫氣相1 6中,促使可熔融玻 璃來形成由合成石英玻璃所組成的透明層,不過該時,經 由使坩鍋基體的底部最下端至直接連動部上端面爲止的高 度(H),其0〜0.25 Η的範圍平均厚度1^1爲0.5〜3 mm ,0.25〜0.511的範圍平均厚度丁八2爲0.3〜2111111,0.5〜11^ 的範圍平均厚度Ta3爲0〜0.9 mm,且是Ta1>Ta2>Ta3 ,並且由下部向上逐漸變薄來設定透明內層的厚度進行製 造。 <實施例> (實施例1 ) 用第2圖所示的裝置,把已純化處理過的高純度天然 二氧化矽粉末投入旋轉的型模8內,利用離心力來成形石 英玻璃坩鍋形狀,把電弧電極1 4***坩鍋形狀體中,用 板狀的蓋體1 ]覆蓋開口部,利用電弧電極1 4來使內部空 腔成爲高溫氣相,促使可把玻璃熔融,經冷卻而作成不透 明石英玻璃坩鍋狀成形體9。接著一面讓型模8旋轉,一 面用電弧電極1 4來使不透明石英玻璃坩鍋狀成形體9的 內部空腔成爲高溫氣相1 6之後,由二氧化矽粉末供應手 段1 〇以]00 g/ min供應天然二氧化矽粉末,在不透明石 英玻璃坩鍋狀成形體9的內表面融合2 mm厚度的天然石 英玻璃透明中間層5並成一體。其次,由二氧化矽粉末供 - 11 - (8) 1247730 應手段1 5,經由控制流量控制閥1 2同時以1 0 0 g / m i η供 應合成二氧化矽粉末,在於前述中間層的內表面,ΤΑ 1融 合爲1.5 min,ΤΑ2融合爲1 ΤΑ3融合爲0.3 mm,全 厚度融合爲1 4 mm並成一體。所達成拉製矽單晶用石英 玻璃坩鍋的直徑爲24英吋,CA爲0.02 ppm,CB爲6 ppm ,Cc爲 M ppm。使用這種石荚玻璃坩鍋,充塡多晶矽, 經熔融後用C Z法進行5次拉製單晶,發現平均單晶率爲 9 4 % ,單晶中的氧濃度均等分布。 (實施例2 ) 如同實施例1,除了 TA1、TA2以及TA3爲1.5 mm以 外都與實施例1同樣,作成2 4英吋的拉製矽單晶用石英 玻璃i甘鍋。該坦鍋的CA爲0.02 ppm,爲6 ppm,Cc爲 1 4 ppm。使用這種石英玻璃坩鍋,充塡多晶矽,經熔融後 用CZ法進行5次拉製單晶,發現平均單晶率爲%%且是 局良品率,不過單晶中的頂端側的氧濃度升高而在符合 規格的邊緣。 (比較例1 ) 實施例2中,除了不在 間層以外都與實施例2同樣 周石英玻璃坩鍋。該坩鍋的 石英玻璃坩鍋設置天然透明中 ’作成24英吋的拉製矽單晶 Ca 爲 〇.〇2 ppm , Cc 爲]4 PP…吏用這種石英玻璃坦鍋’充塡多曰曰“卜經溶融後用 CZ法進行5次拉製單晶,平均單晶率降低爲…,觀察 - 12- (9) 1247730 使用過的石英玻璃坩鍋,發現彎曲部的透明層已畸變變形 (實施例3 ) 用第2圖的裝置,把已純化處理過高純度天然二氧化 石夕粉末投入旋轉型的型模8內,利用離心力來形成石英玻 璃_鍋形狀,然後把天然合成混合二氧化矽粉末投入該石 英玻璃坩鍋形狀的內側,同樣利用離心力來形成約3 mm 的天然合成混合二氧化矽層之後,把電弧電極〗4***其 內部’用板狀的蓋體1 1覆蓋開口部,用電弧電極1 4來使 內部空腔內成爲高溫氣相,促使可把玻璃熔融,經冷卻後 而作成由約2 mm的天然合成混合石英玻璃層及其外側的 天然石英玻璃層所組成的不透明石英玻璃坩鍋狀成形體9 。接著一面讓型模8旋轉,一面用電弧電極1 4來使不透 明石英玻璃坩鍋狀成形體9的內部空腔成爲高溫氣相】6 之後’由二氧化矽粉末供應手段〗〇,經由控制流量控制 閥同時以1 0 0 g / m i η供應合成二氧化矽粉末,熔融到前 述成形體9的內表面,使τΑ1成爲2.8 mm,ΤΑ2成爲2 ηι ni,T a 3成爲〇 . S m ηι ’而全厚度成爲1 2 m ηι並成一體。 所達成拉製矽單晶用石英玻璃坩鍋的直徑爲22英吋,Ca 爲0 · 0 j p p m,C b爲2 p p m,c c爲7 p p m。使用這種石英玻 璃坩鍋,充塡多晶矽,經熔融後用CZ法進行5次拉製單 晶,發現平均單晶率爲93 % ,單晶中的氧濃度均等分布 -13 - (10) 1247730 (比較例2 ) 實施例3中’除了不在石英玻璃坩鍋設置天然合成不 透明中間層以外都與實施例3同樣,作成2 2英吋的拉製 矽單晶用石英玻璃祖鍋。該坩鍋的C A爲0 · 0 3 p p m,C c爲 7 ppm。使用這種石英玻璃坩鍋,充塡多晶矽,經熔融後 用CZ法進行5次拉製單晶,平均單晶率降低爲83% ,觀 察使用過的石英玻璃坩鍋,發現彎曲部的透明層已有變形 趨向。 【產業上利用的可能性] 透明內層較少變形,拉製矽單晶時所導致的石英玻璃 增鍋的熔融量變化受到抑制,能將單晶長度方向的氧濃度 均等化,適用於拉製大型的單晶。 【圖式簡單說明】 第1圖爲本發明的拉製矽單晶用石英玻璃坩鍋之槪略 剖面圖。 第2圖爲用來說明製造上述拉製矽單晶用石英玻璃坩 鍋的製造裝置之槪略圖。 主要元件對照表 1 石英玻璃坩鍋 2 坩鍋的底部 3 直體部 -14 - (11) 1247730 (11)
4 不 透 明 外 層 5 透 明 或 不 透 明 中 間 層 6 透 明 內 層 7 彎 曲 部 8 旋 轉 的 型 模 9 坩 鍋 基 體 1 〇 二 氧 化 矽 粉 末 供 應 手 段 1 1 板 狀 的 蓋 體 1 2 流 量 控 制 閥 1 3 電 源 1 4 電 弧 電 極 1 5 二 氧 化 矽 粉 末 供 應 手 段 1 6 高 溫 氣 相 - 15-

Claims (1)

1247730 拾、申請專利範圍 第9 3 1 1 5 0 1 3號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民_ 9^年 月堝1日 1 ·—種拉製砂單晶用石央玻璃i甘鍋,是針齒用製 矽單晶之石英玻璃坩鍋,其特徵爲:至少彎曲部是具有: 由合成石英玻璃所組成而A1濃度CA爲〇.〇1〜1 ppm的透 明內層、及天然或天然合成混合石英玻璃所組成而A1濃 度CB爲1〜8 ppm的透明或是不透明中間層、以及天然石 央玻璃所組成而A1濃度Cc爲5〜20 ppm且比前述中間層 更局的不透明外層所構成之3層構造,並且由前述合成石 英玻璃所組成之透明內層的厚度從石英玻璃坩鍋的下部到 上部逐漸變薄。 2 ·如申請專利範圍第1項之拉製矽單晶用石英玻璃坦 鍋,其中透明內層的Ai濃度CA爲〇·〇ι〜1 ppm,中間層 爲透明層而其A1濃度Cb爲4〜8 ppm,不透明外層的A1 濃度Cc爲12〜20 ppm。 3 .如申請專命範圍第丨項之拉製矽單晶用石英玻璃財 鍋,其中透明內層的A1濃度CA爲〇·〇ΐ〜1 ppm,中間層 爲不透明層而其A1濃度Cb爲1〜3 ppm,不透明外層的A1 濃度Cc爲5〜10 ppm。 4.如申請專利範圍第1、2或3項之拉製矽單晶用石 英玻璃坩鍋,其中合成石英玻璃所組成之透明內層的平均 厚度TA相對於從坩鍋基體底部的最下端至直接連動部上 1247730 端面爲止的高度(Η),其0〜0.25 mm,0.25〜0.5Η的範圍ΤΑ2爲0.3〜 Τα3爲0〜0.9 mm ’且是丁八1〉丁八2〉 5 .如申請專利範圍第4項之拉: 鍋,其中由0.25〜1H範圍的合成石 層的平均厚度TA爲愈往上部愈漸漸 Η的範圍TA1爲0.5〜3 2 m m,0.5〜1 Η的範圍 > ΤΑ3 ° 製矽單晶用石英玻璃坩 英玻璃所組成之透明內 變薄。
TW093115013A 2003-05-30 2004-05-26 Quartz glass crucible for pulling up silicon single crystal TWI247730B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003154845 2003-05-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200426121A TW200426121A (en) 2004-12-01
TWI247730B true TWI247730B (en) 2006-01-21

Family

ID=33487337

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW093115013A TWI247730B (en) 2003-05-30 2004-05-26 Quartz glass crucible for pulling up silicon single crystal

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7299658B2 (zh)
EP (1) EP1655270B1 (zh)
JP (1) JP4526034B2 (zh)
KR (1) KR100731833B1 (zh)
DE (1) DE602004029057D1 (zh)
NO (1) NO20056184L (zh)
TW (1) TWI247730B (zh)
WO (1) WO2004106247A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI396780B (zh) * 2008-02-05 2013-05-21 Japan Super Quartz Corp 石英玻璃坩堝

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4086283B2 (ja) * 2002-07-31 2008-05-14 信越石英株式会社 シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボおよびその製造方法
JP4678667B2 (ja) * 2004-06-07 2011-04-27 信越石英株式会社 シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボ及びその製造方法
US7497907B2 (en) * 2004-07-23 2009-03-03 Memc Electronic Materials, Inc. Partially devitrified crucible
US20070084397A1 (en) * 2005-10-19 2007-04-19 General Electric Company Quartz glass crucible and method for treating surface of quartz glass crucible
US7716948B2 (en) * 2006-12-18 2010-05-18 Heraeus Shin-Etsu America, Inc. Crucible having a doped upper wall portion and method for making the same
JP5058138B2 (ja) * 2008-12-09 2012-10-24 ジャパンスーパークォーツ株式会社 シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ
JP4903288B2 (ja) * 2009-05-26 2012-03-28 信越石英株式会社 シリカ容器及びその製造方法
JP4964351B2 (ja) * 2009-07-31 2012-06-27 ジャパンスーパークォーツ株式会社 シリコン単結晶引き上げ用シリカガラスルツボ
JP4951040B2 (ja) * 2009-08-05 2012-06-13 信越石英株式会社 シリカ容器及びその製造方法
JP5058378B2 (ja) * 2009-09-09 2012-10-24 ジャパンスーパークォーツ株式会社 複合ルツボ
JP5191003B2 (ja) * 2009-09-28 2013-04-24 コバレントマテリアル株式会社 シリコン単結晶引上げ用シリカガラスルツボ
JP5453677B2 (ja) * 2010-06-25 2014-03-26 株式会社Sumco シリカガラスルツボ、シリコンインゴットの製造方法
US9193620B2 (en) 2011-03-31 2015-11-24 Raytheon Company Fused silica body with vitreous silica inner layer, and method for making same
US9221709B2 (en) * 2011-03-31 2015-12-29 Raytheon Company Apparatus for producing a vitreous inner layer on a fused silica body, and method of operating same
JP5611904B2 (ja) * 2011-08-10 2014-10-22 コバレントマテリアル株式会社 シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボ及びその製造方法
WO2018051714A1 (ja) * 2016-09-13 2018-03-22 株式会社Sumco 石英ガラスルツボ及びその製造方法
CN108977879B (zh) * 2018-09-13 2021-02-26 浙江美晶新材料有限公司 一种单晶用高纯石英坩埚及其制备方法
CN109467306B (zh) * 2018-11-08 2021-10-19 锦州佑鑫石英科技有限公司 单晶硅生产用高强度石英坩埚的加工方法
JP7157932B2 (ja) * 2019-01-11 2022-10-21 株式会社Sumco シリカガラスルツボの製造装置および製造方法
JP7172844B2 (ja) 2019-05-13 2022-11-16 株式会社Sumco シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ及びその製造方法
JP7509528B2 (ja) * 2019-11-11 2024-07-02 グローバルウェーハズ・ジャパン株式会社 シリコン単結晶の製造方法
DE102020000701A1 (de) * 2020-02-03 2021-08-05 Siltronic Ag Quarzglastiegel zur Herstellung von Siliciumkristallen und Verfahren zur Herstellung von Quarzglastiegel

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2933404B2 (ja) * 1990-06-25 1999-08-16 信越石英 株式会社 シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボとその製造方法
EP0691423B1 (en) * 1994-07-06 1999-03-24 Shin-Etsu Handotai Company Limited Method for the preparation of silicon single crystal and fused silica glass crucible therefor
JP2811290B2 (ja) 1995-04-04 1998-10-15 信越石英株式会社 シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ
JP3764776B2 (ja) * 1996-03-18 2006-04-12 信越石英株式会社 単結晶引き上げ用石英ガラスるつぼ及びその製造方法
JP3986029B2 (ja) 1997-12-26 2007-10-03 Sumco Techxiv株式会社 シリコン単結晶引き上げ方法
JP3621282B2 (ja) * 1999-02-25 2005-02-16 東芝セラミックス株式会社 石英ガラスルツボおよびその製造方法
JP2002284569A (ja) 2001-03-27 2002-10-03 Nichias Corp 高強度低熱膨張セラミックス
JP4548962B2 (ja) * 2001-03-28 2010-09-22 ジャパンスーパークォーツ株式会社 石英ガラスルツボ及びこれを用いたシリコン単結晶の引き上げ方法
US6641663B2 (en) * 2001-12-12 2003-11-04 Heracus Shin-Estu America Silica crucible with inner layer crystallizer and method
JP2003095678A (ja) 2001-07-16 2003-04-03 Heraeus Shin-Etsu America シリコン単結晶製造用ドープ石英ガラスルツボ及びその製造方法
US7118789B2 (en) 2001-07-16 2006-10-10 Heraeus Shin-Etsu America Silica glass crucible

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI396780B (zh) * 2008-02-05 2013-05-21 Japan Super Quartz Corp 石英玻璃坩堝

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2004106247A1 (ja) 2006-07-20
KR20050087880A (ko) 2005-08-31
EP1655270A1 (en) 2006-05-10
DE602004029057D1 (de) 2010-10-21
NO20056184L (no) 2006-02-07
KR100731833B1 (ko) 2007-06-25
EP1655270B1 (en) 2010-09-08
EP1655270A4 (en) 2008-07-09
WO2004106247A1 (ja) 2004-12-09
TW200426121A (en) 2004-12-01
JP4526034B2 (ja) 2010-08-18
US7299658B2 (en) 2007-11-27
US20060144327A1 (en) 2006-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI247730B (en) Quartz glass crucible for pulling up silicon single crystal
JP4447738B2 (ja) 多層構造の石英ガラスルツボの製造方法
JP4166241B2 (ja) シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボ及びその製造方法
JP4086283B2 (ja) シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボおよびその製造方法
KR101081994B1 (ko) 다층 구조를 갖는 석영 유리 도가니
KR100731829B1 (ko) 실리콘 단결정 인상용 석영 그라스 도가니 및 그 제조방법
JPH082932A (ja) 石英ガラスルツボとその製造方法
TW200838816A (en) A crucible having a doped upper wall portion and method for making the same
US20100000465A1 (en) Method for producing vitreous silica crucible
JP4548962B2 (ja) 石英ガラスルツボ及びこれを用いたシリコン単結晶の引き上げ方法
TW201223888A (en) Method and apparatus for manufacturing vitreous silica crucible
JP6351534B2 (ja) シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ
JP5334315B2 (ja) シリコン単結晶引上げ用シリカガラスルツボ
CN104114754B (zh) 氧化硅玻璃坩埚
JPH06329493A (ja) シリコン単結晶引上げ用石英ルツボ
TW201002634A (en) Method for producing quartz glass crucible
JP5191003B2 (ja) シリコン単結晶引上げ用シリカガラスルツボ
JPH08301693A (ja) シリコン単結晶引上げ用石英ルツボ
WO2021140729A1 (ja) 石英ガラスルツボ
JP4874888B2 (ja) シリコン単結晶引上用石英ガラスルツボおよびその製造方法
KR101202701B1 (ko) 실리카 유리 도가니의 제조 방법 및 제조 장치
JP2022103702A (ja) 石英ガラスルツボ及びその製造方法
TWI448592B (zh) 石英玻璃坩堝之製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MK4A Expiration of patent term of an invention patent