A7 B7 307327 五、發明説明（1 ) 〔發明之背景〕 本發明，係有關半導雠積镰電路，特別係關於L S I (大規棋積髗m路）的測弒技術者。 在著者 W. M. Needham之"Designer’s Guide to Testable ASIC Device", Ch. 5. pp. 87-124, Van Nostrand Reinhold, New York l991 記載有 LS I 之掃描 測試的技術和直接存取測試之技術。在L S I的測試技術 ，希望能夠把所有區段及全部之信號路徑在短時間測試， 測試用的附加電路小，測試用之附加配線少，以及在通常 模態的動作速度不會太降低。 做爲L S I之中的1個區段具有組合電路和多數之正 反器者。多數的正反器，係編入在組合電路中之信號路徑 上，在通常模態係分別保持組合電路中的對應之信號者。 根據掃描測試的技術，在掃描棋態，前述多數之正反器將 如構成1個掃描鏈（移位暫存器）地互柑梯級接法連接。 在掃描模態從LSI外部各1位元地串列供給的測試用之 輸入信號將保持在移位暫存器，而胲保持的信號將供給至 組合電路。各正反器，能把組合電路之測試結果在通常模 態取入。如此取入的測弒結果，將在掃描棋態各1位元地 串列地從移位暫存器輸出，而在L S I之外部觀測。 當L S I具有多數區段時，做爲有效率的測試最好能 把各個區段之測試從其他逝段分開而進行。根據掃描測試 的技術時，將在所有區段之外漏（输入側及输出側）分別 附加配置多數的正反器，使其全部之正反器會構成1個掃 本紙張尺度逋用中國國家輾牵（CNS ) Α4规格（210 X 297公釐）_ 4 — ---^---r---《装-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 Λ 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印製 A7 B7五、發明说明（2 ) 描鏈地附加配線。再者，根據直接存取的技術時，使之能 夠從外部向各個面段直接設定测試输入，’且使各個區段的 測試結果能夠直接在外部觀測地，附加配讎多數之多工器 ，且將附加配線。 利用編入組合電路中的信_路徑上之多數正反器的掃 描測試技術，在測試用之附加電路小，且測試用的附加配 線少之點有利。可是，在測試對象的區段中如果有和時鐘 信號之上升邊緣同步而動作的型式（正緣型）之多數正反 器，和與時鐘信號的下降邊綠同步而動作之型式（負緣型 )的多數正反器混在時，有畤測拭信號不能正確地掃描入 (scan in )。做爲其對策，在特開平 2-2 1 8 9 7 4號公報記載之技術，係把掃描鏈構成使 正緣型的所有正反器會位於負緣型之所有正反器後面。可 是，具有掃描鏈的構成自由度會明顯降低的問題。 在具有多數區段之LSI把所有通過區段外蠢的掃描 鏈附加配置之掃描測試的技術，係在测弒用的附加配線少 之有利。可是，因爲測試输入的設定及測試結果之測試將 分別每1位元進行，故有在測試需要長時間的問題。再者 ，測試用之附加電路大，和在通常模態的動作速度之降低 大也是問題。 在具有多數區段的L S I之直接存取的技術，因測試 輸入之設定及測試結果的觀測將分別以多數位元單位進行 ，故在縮短測試時間之點有利。可是，卻異有測弒用的附 加配線多之問題。 本紙張尺度適用中國«家樑準（〇阳>戌4規格（210父297公着）_ —1_L----{裝------訂------f (請先聞讀背面之注$項再填寫本頁) Α7 Β7 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印簟 五、發明説明（3 ) 〔解決課題之技術〕 本發明之目的，係在提供測試用之附加電路小且附加 配線少的半導體稹臁電路之測轼技術者。 有關本發明的第1及第2半導體稹體氰路，皆係以具 有互相梯級接法連接之第1，第2及第3區段，和爲了資 行該第1 ，第2及第3區段的测試用之測弒單元做爲前提 0 第1半導镰稹««路中的測試單元，係在第2區段和 第3區段之間把第1多工器，在第1區段和第2區段之間 把第2多工器，在第2多工器和第2K段之間把第1控制 暫存器，在第2區段和第3區段之間把第3多工器，'在第 1 Μ段和第2區段之間把第4多工器，在第4多工器和第 2面段之間把第2控制暫存器分別介在者。第1多工器， 將從該第1半導«稹雠電路的外部供給之測試用输入信號 和第2區段的输出信號之一部份中選擇一方，且把胲選擇 的信號供給第3區段。第2多工器，將把根據第1多工器 選擇之信號和第1區段的输出信號之—部份中的一方選擇 。第1控制暫存器，將和時鐘僧號同步保持根據第2多工 器選擇之信號，且把該保持的信號供給至第2區段。第3 多工器，將選擇保持在第1控制暫存器之信號和第2區段 的输出信號之外的一部份中之—方，且把該遯擇的倌號供 給至第3面段。第4多工器，將選擇根據第3多工器選擇 之信號和第1區段的輸出偺號之外的—部份中之一方。第 2控制暫存器，將和前述時鐘僧號同步保持根據第4多工 !.!——< ΐ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度逋用中國«家搮皋（CNS) A4规格（210X297公釐6 - A 7 B7 307927 五、發明説明（4 ) 器選擇的信號，且把該保持之倌號供給至第2區段者。 根據上述第1半導體稹體電路時，在通常棋態，第1 及第2多工器選擇第2«段的赖出信號，第2及第4多工 器將會選擇第1面段之輸出信號。在第1測弑楔態，將使 第1控制暫存器和第2控制暫存器會互相梯級接法連接地 ，第1及第3多工器會分別選揮第2區段的非輸出信號之 —方的信號，而第2及第4多工器會選擇第1區段之非输 出信號的一方之信號。在第2测弒模態，將使第2 ffi段的 输出信號能保持在第1及第2控制暫存器地，第1及第3 多工器會選擇第2區段之輸出僭號，而第2及第4多工器 將分別選擇第1瓸段的非輸出信號之一方的偺號。根據此 等通常模態，第1測試楔態及第2測試楔態之組合，對各 個區段的測試输入之設定及各個區段的測試結果之觀測， 皆將以多數位元單位在短時間內進行。例如，第2區段的 測試输入，將分別分割成多數位元之第1部份輸入和第2 部份输入，而在第1測試模態以2時鐘循環設定爲第2區 段。 第2半導髏積镰電路，係做爲把表示第1面段的測試 結果之期待値的信號，掃描入至第3區段中以多數正反器 構成之移位暫存器者。第3區段的測試，將以利用編入至 組合電路中之信號路徑上的多.數正反器之掃描測試技術資 施。同時，在第1區段的測弑之前，表示胲第1區段之測 試結果的期待値之信號，將做爲期待値输入而掃描入至第 31S段中的移位暫存器。然後，第1區段之測弑結果將在 本紙張尺度逋用中β國家輮率（CNS > A4规格（210X297公釐）-_7 - UK tl— nn i ^ nn ml ml In nn 一 J —a I In I HI— -1¾ i (請先M讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印裝 經濟部中央樣準局貝工消费合作社印«. Λ7 B7 五、發明説明（5 ) 該第2半導髏積髏電路的外部觀測。第2®段之測試，將 以直接存取测試的技術實施。 有關本發明之第3半導髏稼嫌m路，係在1個區段中 有正邊緣型的正反器和負邊緣型之正反器混在時，構成在 測試模態構成1個掃描鏈（移位暫存器）的所有正反器將 會做爲單一型之正反器動作者。 〔資施例〕 以下，對有關本發明的4個資施例，分別參照圖面說明。 有關第1實施例之LSI ，係分別具有測試對象的互 相梯級接法連接之第1 ，第2及第3區段者。有關第2實 施例的LSI也相同。關於第3及第4實施例之LSI ， 係分別至少具有1個測試對象區段者。 有關第1實施例中的第2區段，係稱爲「巨模組」之 電路區段。巨模組，係指算術邏輯運算單元，乘法器， ROM (僅讀記憶器），RAM (隨機存取記憶器）等的 機能區段。第2區段，也可以爲以邏輯閘式正反器構成之 其他種類的電路區段。第1區段，係接受從該LSI之外 部銷供給的信號，將之處理而供給巨楔組用的《路®段’ 在以下之說明爲了方便將稱爲「输入棋組」。第3BE段’ 係接受巨模組的输出棋組，將之處理而输出至該L S I的 外部銷用之電路區段，在以下的說明爲了方便將稱爲「输 出模組」。 I.--------装------訂------^ (請先H讀背面之注$項再填寫本頁) 本紙浪尺度逋用中《國家揉率（CNS ) A4规格（210X 297公釐）_ 8 — 經濟部中央標準局貝X消费合作社印裂 A7 B7五、發明説明（6 ) (實施例1 ) 圖1 ，係顯示有關本發明的第1實施例之LSI的構 成。圖1中，1 1爲输入棋組，1 2爲巨模組，1 3爲输 出楔組，2 0爲第1測弒電路，3 0亨第2測試m路。輸 入模組1 1 ，將接收從骸LS I的外部銷供給之6 4位元 的平行輪入信號P— I N，將之處理而把6 4位元的信號 供給巨模組1 2。巨模組1 2，將接收從输入棋組1 1供 給之6 4位元的信號，將之處理而把6 4位元.的信號供給 輸出模組1 3。输出模組1 3 ，將接收從巨模組1 2供給 之6 4位元的信號，將之處理而把6 4位元之平行输出倌 號P—OUT供給該LSI的外部銷。第1及第2測試電 路2 0、3 0，係構成進行輸入模組1 1 ，巨模組1 2及 輸出模組1 3之個別測試用的測.試單元者。 第1測試電路2 0 ，係由第1多工器2 1 ，和第2多 工器2 2，和第1控制暫存器2 3携成。第1多工器2 1 ，將把從該LS I的外部銷供給之3 2位元的測試用輸入 信號T— I N和構成巨棋組1 2之輸出信號的一半部之 3 2位元的部份輸出信號S 7中之一方做爲僭號S 9選擇 ，且把該選擇的信號S 9供給输出模組1 3。第2多工器 2 2 ，將把根據第1多工器2 1選擇之僧號S 9和構成输 入模組1 1的输出信號之一半部的3 2位元之部份輸出僧 號S 1中的一方做爲信號S 3遘擇。第1控制暫存器2 3 ，將把根據第2多工器2 2選擇之倌號S 3和從該LS I 的外部銷供給之時鐘信號C L K同步而保持’且如將保持 本纸張尺度逋用中國國家橾準（CNS ) A4规格（210X297公釐)-f ΙΓΙI-'·----S裝------訂------{ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部t央標準局負工消费合作社印製 S07927 A1 B7 五、發明説明（7 ) 信號S 5供給巨楔組1 2地，以3 2個D正反器構成。 第2測弑幫路3 G ，係由第3多工器3 1 ，和第4多 工器3 2 ，和第2控制暫存器3 3構成。第3多工器3 1 ，將把第1控制暫存器2 3的保持信號S 5和構成巨模組 1 2之輸出信號的其他半部之3 2位元的部份輸出信號 S 8之中的一方做爲信號S 1 〇邐擇，且把該選揮之信號 S 1 0供給输出模組1 3。第4多工器3 2 ，將把根據第 3多工器3 1選擇的信號S 1 〇和構成輸入棋組1 1之輸 出信號的其他半部之3 2位元的部份输出信號S 2之中的 一方做爲僧號S 4選擇。第2控制暫存器3 3，將把根據 第4多工器3 2選擇之信號S 4和時鐘僧號CLK同步而 保持，且如將保持信號S 6供給巨模組1 2地，以3 2個 D正反器構成。第2控制暫存器3 3的保持信號S 6，將 做爲3 2位元之測試用输出侰號T — OUT，供給該 L S I的外部銷。 圖1中之SEL1 ，係從該LSI的外部銷供給第1 及第3多工器2 1 ，3 1之模態選擇僭猇。SEL2 ,係 從該LS I的外部銷供給第2及第4多工器2 2、3 2之 模態選擇僧號。
在通常棋態，输入模組1 1的一方之3 2位元部份_ 出信號S1將根據第2多工器2 2 ，输入模組1 1的他方 之3 2位元部份输出倌號S 2將根據第4多工器3 2 ，E 楔組1 2的一方之3 2位元部份输出信號S 7將根據 多工器2 1 ，而巨楔組1 2的他方之3 2位元部份輸出信 I.—^---^---f 袈 II (請先Μ讀背面之注$項再填寫本頁) •1Τ 本紙張尺度逋用中國®家標率（CNS ) A4規格（210X29?公釐）_ 10 A7 B7 經濟部中央#準局貝工消费合作社印氧 五、發明説明（8 ) 號S 8將根據第3 的6 4位元之輸出 暫存器2 3、3 3 6 4位元之输出信 巨模組1 2的 元的第1部份输入 鏟循環設定在巨模 T — I N從該L S 輸入，將經由第1 暫存器2 3以1時 上述第1部份输入 存在第2控制暫存 信號T — I N從該 部份输入，將經由 1控制暫存器2 3 6 4位元之測試输 巨模組1 2的 元的第1部份結果 循環觀測。詳言之 第1及第2多工器 2部份結果將經由 在第2控制暫存器 出即從測試用输出 銷觀測第2部份結 多 工 nag 3 1 分 別 選 信 號 S 1 S 2 將 供 給 至 巨 模 組 1 2 號 S 7 » S 8 將 供 6 4 位 元 之 測 試 輸 和 3 2 位 元 之 第 2 組 1 2 0 詳 言 之 9 I 的 外 部 銷 供 給 之 及 第 2 多 工 器 2 1 鏟 循 環 儲 存 0 然 後 將 經 由 第 3 及 第 4 器 3 3 9 並 且 9 做 L S I 的 外 部 銷 供 第 1 及 第 2 多 工 器 結 果 由 栗 1 及 Wt 入 ， 將 設 定 在 巨 6 4 位 元 之 測 試 結 和 3 2 位 元 之 第 2 9 以 1 時 鏟 循 環 2 1 2 2 在 第 1 第 3 及 第 4 多 工 器 3 3 0 此 時 > 果 2 信 號 τ —- 0 U T 果 〇 然 後 9 以 下 一 擇。結果，輸入棋組 經由第1及第2控制 ，而巨模組1 2的 給至輸出模組1 3。 入，將分割爲3 2位 部份输入，而以2時 做爲測試用输入信號 3 2位元的第1部份 、2 2 ，在第1控制 ，在下一時鐘循環， 多工器3 1 、3 2儲 爲下一個測試用輸入 給之3 2位元的第2 2 1、2 2儲存在第 2部份輸入而成的 模組1 2。 果，將分割爲3 2位 部份結果，以2時鐘 第1部份結果將經由 控制暫存器2 3 ，第 3 1、3 2分別傭存 控制暫存器3 3的輸 將在該L S I之外部 時鐘循環，把第1部 1.1^---^----{袈------訂------^ (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) ί 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 Λ7 _87五、發明説明（9 ) 份結果經由第3及第4多工器3 1 、3 2儲存在第2控制 暫存器3 3，從該第2控制暫存器3 3的输出，在該 LSI之外部銷觀測第1部份結果。 在输入模組1 1 ，將從該LS I的外部銷直接把6 4 位元之平行输入信號P — I N做爲測試输入設定。輸入模 組1 1的6 4位元之測試結果，將分割爲3 2位元的第1 部份結果和3 2位元之2部份結果，而以2時鐘循環觀測 。詳言之，以1時鐘循環，把第1部份結果經由第.2多工 器2 2在第1控制暫存器2 3，把第2部份結果經由第4 多工器3 2在第2控制暫存器3 3分別餹存。此時，第2 控制暫存器3 3的输出即從測弒用输出信號T — OUT把 第2部份結果在該L S I之外部銷觀測。然後，以下一時 鏟循環，第1部份結果將經由第3及第4多工器3 1 、 3 2儲存在第2控制暫存器3 3，而從該第2控制暫存器 3 3的輸出，將在該LS I之外部銷觀測第1部份結果。 输出楔組1 3的6 4位元之測試輸入，將分割爲3 2 位元的第1部份输入和3 2位元之第2部份輸入而設定在 輸出模組1 3。詳言之，做爲测試用输入信號T — I N從 該LS I的外部銷供給的3 2位元之第1部份輸入，將經 由第1及第2多工器2 1 、2 2 ，以1時鐘循環備存在第 1控制暫存器2 3。該傭存在第1控制暂存器2 3的第1 部份輸入，將經由第3多工器3 1供給至输出模組1 3。 做爲下一個測試用输入信號T- I N從該L S I之外部銷 供給3 2位元的第2部份输入時，該供給之第2部份输入 I. f 装------訂------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 各紙張尺度逋用中國國家榡率（CNS ) A4规格（210X297公釐1 - 經濟部中央揉準局属工消费合作社印裝 A7 B7__五、發明説明（1G) 將經由第1多工器2 1供給至输出棋組1 3。此時，第1 控制暫存器2 3係維持儲存第1部份输入。結果，將在輪 出模組1 3設定由第1及第2部份輸入而成的6 4位元之 測試输入。输出模組1 3的測試結果，將從6 4位元之平 行输出信號P—OUT在該LSI的外部銷直接觀測。 如以上所述，根據本實施例時，對輸入模組1 1 ，巨 模組1 2及輸出模組1 3的各模組之測試輸入的設定及各 楔組之測試結果的觀測，將分別以3 2位元單位或6 4位 元單位進行。因此，將比習知之掃描测試技術，能夠大幅 度地縮短測試時間。再者，根據習知的掃描測試技術時將 巨楔組1 2和輸出模組1 3之間介設的6 4個D正反器， 根據本實施例時將置換爲2個多工器2 1、3 1 ，結果， 將能削減測試用之附加電路，且能抑制在通常模態的動作 速度降低。而且，根據習知之直接存取測試技術時，將需 要6 4位元的測試用输入信號，但是根據本實施例時其位 元數將會減半，而能夠大幅度地刪減測試用之附加配線。 再者，具有2個測試電路2 0、3 0的圖1之構成， 係能夠變形爲具有3個以上的測試氰路之構成。同時，輸 入模組11，巨模組12及输出楔組13的各別之输入信 號及输出僧號的位元數，並不限於6 4而可以爲任意。 (實施例2 ) 圖2 ，係顯示有關本發明的第2資施例之LS I的樽 成。園2中，11爲输入棋組，12爲巨模組，13爲輸 本紙張尺度遢用中國國家揉率（〇奶）八4规格（210父297公釐）*13- (請先閲讀背面之注意Ϋ項再填寫本頁) .1:__:1:——1---ί------ΐτ------f —— 3ΰ7927 經濟部中央橾準局貝工消费合作杜印裂 Α7 Β7五、發明説明（11 ) 出棋組，4 1爲第1多工器，4 2爲第2多工器。输入模 組1 1 ，將從該LS I的外部銷供給之平行輸入信魏P- IN，生成3位元的輸出倌號S2 1。第1多工器4 1 ， 將把從該L S I之外部銷供給的3位元之测弑用输入信號 T— I N和_入模組1 1的3位元之輸出信號S 2 1中的 —方做爲信號S 2 2選擇，且把該選擇之信號S 2 2供給 至巨楔組1 2。巨模組1 2把多數位元的信號S 2 3供給 输出模組1 3，而輸出模組1 3將输出多數位元之信號 S 2 4。第2多工器4 2 ，將把巨模組1 2的输出信號S 2 3和输出棋組1 3之输出僧號S 2 4中的一方選擇，且 把該選擇之倌號做爲平行輸出僭號P - OU T供給該 LS I的外部銷。SEL3及SEL5係從該LS I之外 部銷供給的模態選擇信號，SEL3將向第1多工器4 1 ，SEL5將向第2多工器4 2分別供給。 输出模組1 3，具有組合電路5 1 ，和從該LS I的 外部銷共同供給時鐘信號C LK和楔態選揮儈號S E L 4 之3個掃描正反器5 2、5 3、5 4。3個掃描正反器 5 2、5 3、5 4 ，係編入在組合電路5 1中的信號路徑 上，在通常棋態係分別使對應於齟合電路5 1中之信號和 時鐘信號CLK同步保持者。在掃描棋態，3個掃描正反 器5 2、5 3、5 4將互相梯級接法連接而構成1個掃描 鏈（移位暫存器）。在掃描模態從該LSI的外部銷各1 位元地串列供給之掃描入信號S - I N，將和時鐘信號 C K L同步而保持在移位暫存器，該保持的僧號將供給至 本紙張尺度逋用中國國家標窣（CNS > A4规格（210X 297公釐I μ _ ' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局貝工消费合作社印— 五、發明説明（12) 組合電路5 1。3個掃描正反器52、53、54 ，能夠 分別把組合電路5 1之測弑結果在通常模態取入。如此地 取入的測弑結果，將在掃描棋態和時鐘信號C L K同步， 和時鐘信號C L K同步各1位元串列地做爲掃描出信號S -OUT從移位暫存器輸出，而在骸L S I之外部銷觀測 0 圖3，係顯示1個掃描正反器5 2的內部構成。掃描 正反器5 2，係由具有1位元之埠A和1位元的埠B之多 工器5 7，和接收該多工器5 7的输出之D正反器5 8構 成，其他2個掃描正反器5 3、5 4的內部梅成也和圓3 相同。 圚2中之6 0 ，係由把根據第1多工器4 1選擇的3 位元之信號S 2 2和輸出棋組13中的3個掃描正反器 5 2、5 3、5 4供給之3位元信號比較，如將1位元的 測試用输出信號T— OUT供給該L S I之外部銷地，以 3個互斥OR閘6 1 、6 2、6 3和1個OR閘6 4構成 的比較電路。由第1及第2多工器4 1 、4 2 ，和输出模 組1 3中之3個掃描正反器5 2、5 3、5 4構成的移位 暫存器，和比較電路6 0 ，係權成進行输入模組1 1 ，巨 棋組1 2及輸出模組1 3之個別测弒用的測試單元。 在通常模態，输入棋組1 1之輸出僧號S 2 1將根據 第1多工器4 1 ，输出模組1 3的輸出信號S 2 4將根據 第2多工器4 2分別選揮。輸出摸組1 3中之3個掃描正 反器5 2、5 3、5 4，將使之分別做爲編入組合電路 ¥紙張尺度遑用中國國家標率（CNS ) A4规格(210X29^公釐>· 15 : (請先《讀背面之注f項存填寫本頁) 經濟部中央橾準局負工消费合作社印裂 A7 B7 __五、發明説明（13) 5 1中的信號路徑上之D正反器動作地，使組合甯路5 I 中的對應之僧號和時鐘僧號C L K同步地保持。 输出棋組13的測試，將以使用由3個掃描正反器 5 2、5 3、5 4構成之移位暫存器的掃描測試技術實施 。巨模組1 2之測試，將以使用第1及第2多工器4 1、 4 2的直接存取測試技術實施。 输入模組11之測試，將如下地實施。菌先，在输入 模組1 1的測試之前，表示該輸入模組1 1的測弑結果之 期待値的3位元之賫料信號，將在由輸出模組13中的3 個掃描正反器5 2、5 3、5 4構成之移位暫存器以3時 鐘循環設定。此時，資料信號，將做爲掃描入信號S -I N和時鐘信號C L K同步各1位元串列地供給至'移位暫 存器。然後，從骸LS I的外鎗有平行輸入信號P— IN 直接向输入模組1 1做爲測弒輸入設定，該輸入棋組1 1 之測試結果將經由第1多工器4 1供給至比較電路6 0。 比較電路6 0 ，將把輸入模組1 1的3位元之測試結果和 從3個掃描正反器5 2、5 3、5 4供給的3位元之賫料 信號比較，而輸出1位充的測弒用输出信號T — OUT。 該測試用輸出信號T—OUT，將做爲輸入樓組11之壓 縮成1位元的測試結果，而在胲L S I之外部銷觀測。如 果供給输入模組11的內部構成資訊時，爲了檢出該輸入 模組1 1之內部故陣而應供給的測試輸入圓型，和表示該 輸入棋組1 1之測試結果的期待値之資料僭號圚型’將能 夠根據眾所周知的檢査系列生成演算法容黑地求得。在編 (請先Η讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 訂 Λ 本紙張尺度逋用中國國家標率（CNS > Α4规格（210 X 297公嫠）· 16 - 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印装 307927 Μ _Β7 ___ 五、發明説明（I4 ) 者 D. K. Pradhan之"FAULT-TOLERENT COMPUTING: Theory and Techniques", v o i . 1, c h.1, p p. 1 一 9 4 ，P r e n t i c e - Ha 1 1 , 1 9 8 6，記載有檢査系列生成演算法 之例。 如以上所述，根據本資施例時，因將输入模組1 1的 測試結果壓縮成1位元之測試用输出信號T — OUT，故 比習知的直接存取測試之技術，能夠刪減觀测測試結果用 的附加配線。而且，由於把內裝在输出棋組13之3個掃 描正反器5 2、5 3、5 4，兼用爲該输出棋組1 3的測 試用之掃描入信號S — I N的保持，和表示输入模組1之 測試期待値的掃描入信號S - I N之保持，故將能夠刪減 測試用的附加電路。同時，在和習知之掃描測試技術的比 較，根據本實施例時將完全不需要在輸入模組1 1和巨模 組1 2之間，及巨模組1 2和輸出模組1 3之間分別介設 正反器，故能縮短測試時間，刪減測試用的附加镰路，且 能得到抑制在通常模態之動作速度的降低之優點。 苒者，也可以省略配設第2多工器4 2 ，而在巨模組 1 2和輸出模組1 3之間，介設將巨模組I 2的測弑結果 以掃描方式觀測用之多數正反器。同時，輸入模組1 1的 输出信號即巨模組1 2之输入偺號的位元數，並不限定爲 了而可任意。 (實施例3 ) 圖4 ，係顯示有關本發明的第3實施例之LSI中的 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度逋用中國國家橾準（CNS ) Μ此樁（210 X 297公釐）_ 17 - A7 B7 經濟部中央標準局貞工消費合作社印製 五 、發明説明 ( 15) 1 I 1 個 1SE 段 之 構 成 0 圖 4 的 區 段 ， 係 具 有 組 合 « 路 7 1 和 1 丨· 4 個 正 邊 緣 型 之 掃 描 正 反 器 7 2 7 3 7 4 Ν 7 5 和 1 2 個 互 斥 Ν 0 R 閘 7 6 > 7 7 0 組 合 電 路 7 1 將 從 前 段 I 請 1 Γ 的 Μ 段 接 收 输 入 信 號 I N > 將 之 處 理 而 钯 輸 出 信 號 0 U T 先 Μ I 讀 供 給 至 下 —— 段 的 段 者 0 4 個 掃 描 正 反 器 7 2 、 7 3 、 背 面 1 合 之 7 4 > 7 5 係 編 入 在 組 電 路 7 1 中 之 信 號 路 徑 上 9 在 注 1 | 通 常 模 態 將 分 別 保 持 對 應 於 組 合 « 路 7 1 中 的 對 應 之 信 號 華 項 再 1 1 者 0 此 等 4 個 掃描 正 反 器 7 2 7 3 、 7 4 、 7 5 的 內 部 填 寫 本 袈 | 構 成 9 係 和 圖 3 相 同 〇 從 該 L S I 之 外 部 銷 將 供 給 通 常 頁 1 1 模 態 與 測 試 模 態 的 切 換 用 之 模 態 設 定 信 號 Μ 0 D 和 通 常 1 I tr**» 楔 態 與 掃 描 楔 態 的 切 換 用 之 楔 態 選 擇 信 號 S Ε L 9 和 時 鐘 1 | 僧 號 C L Κ 0 模 態 設 定 信 號 Μ 0 D 將 供 給 2 個 互 斥 1 訂 1 N 0 R 閘 7 6 \ 7 7 的 各 — 方 之 輸 入 端 子 0 模 態 m /set 擇 信 號 1 1 S Ε L > 係 爲 了 4 個 掃 描 正 反 器 η 2 7 3 > 7 4 7 5 1 1 的 各 埠 選 擇 用 的 信 號 0 α兮 鐘 信 號 C L K 將 供 給 2 個 掃 描 1 1 正 反 器 7 2 7 4 之 各 時 鐘 输 入 丄山 端 子 同 時 將 供 給 2 個 互 | 斥 Ν 0 R 閘 7 6 7 7 的 各 他 方 之 翰 入 端 子 〇 互 斥 N 〇 R 1 1 | 閘 7 6 的 输 出 將 經 由 路 徑 8 6 向 掃 描 正 反 器 7 3 之 時 鐘 输 1 1 入 端 子 9 互 斥 N 0 R 閘 7 7 的 输 出 將 經 由 路 徑 8 7 向 m 描 \ 1 正 反 器 7 5 之 時 鐘 输 入 端 子 分 別 供 給 〇 1 I 在 通 常 模 態 > 模 態 設 定 信 號 Μ 〇 D 及 懊 態 選 揮 信 號 1 | S Ε L 皆 將 設 定 爲 % L 0 電 平 0 此 時 9 2 個 互 斥 N 〇 R 閛 1 1 7 6 7 7 9 將 分 別 把 输 出 信 號 C L K 的 反 轉 信 號 供 給 掃 1 1 J 描 正 反 器 7 3 N 7 5 0 因 此 9 2 個 掃 描 正 反 器 7 2 、 7 4 1 1 1 本紙浪尺度逋用中國國家標準（CNS)A4规格（2丨0X29?公簸L ι8 - 經濟部中央樣準扃霣工消费合作社印装 A7 B7 五、發明説明（16 ) 將與時鏟信號C L K之上升邊緣同步，而其他2個掃描正 反器7 3、7 5將與時鐘僧號CLK的下降邊綠同步，分 別如保持組合電路7 1中之對應僧號地動作。 在測試模態，模態設定信號MOD將設定爲， 電平。此時，2個互斥NOR閜7 6、7 7 ，將分別把時 鏟倌號CLK直接供給至掃描正反器7 3、7 5。因此， 4個掃描正反器72、73、74、75皆將和時鐘信號 C LK的上升邊緣同步而動作。 在測試模態之詳細動作，係如下述。首先，棋態選擇 信號SEL將設定爲電平。據此，4個掃描正反器 7 2 、7 3、7 4、7 5將選擇掃描模態，此等正反器將 如構成1個掃描鏈（移位暫存器）地互相梯級接法連接。 以該掃描模態從該L S I的外部銷各1位元串列地供給之 掃描之信號S — I N將和時鐘僧號CLK的上升攮緣同步 而正確地保持在移位暫存器，駭保持之信號將供給至組合 電路71。接著，模態選擇信號SEL將設定爲*L〃電 平。據此，將4個掃描正反器7 2、7 3、7 4 、7 5選 擇通常模態，此等正反器將分別取入組合《路7 1之測試 結果。如此取入的測試結果，將在掃描棋態和時鏟倌號 C L K之上升邊緣同步，各1位元串列地做爲掃描出信號 S — OUT從移位暫存器输出，而在該L S I的外部銷觀 測。 從以上的說明可知，互斥NOR閛7 6和掃描正反器 7 3係將1個可變邊緣型之正反器8 3，而互斥NOR閘 本紙張尺度遑用中國國家揉率（CNS > A4规格（210X297公釐19 I·--：---：---{袈-- (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 Λ A7 B7 經濟部中央標準局貝工消費合作杜印製 五、發明説明（17) 7 7和掃描正反器7 5係將另外的可變邊嫌型之正反器 8 5分別構成。此等可鑾邊緣型的正反器8 3、8 5，係 在模態設定信號MOD爲〃電平之間將做爲負邊綠型 的掃描正反器，而在棋態設定僧號MOD爲電平之 間將做爲正邊緣型的掃描正反器分別動作。 如以上所述，根嫌本實施例時，因爲在通常模態係正 邊緣型的正反器7 2、7 4和資邊緣型之正反器8 3、 8 5混在，而在測試模態係使構成1個掃描鏈的4個正反 器7 2、8 3、7 4、8 5將全部做爲正邊緣型之正反器 動作地構成，故能一面確保關於掃描鏈內的正反器連接順 序之高自由度，而將測弒用的信號正確地掃描入。而且， 能夠繼承利用編入在組合電路中之信號路徑上的多數正反 器之掃描測試技術的優點，即測試用之附加電路小，且測 試用的附加配線少之優點。 同時，在一方的可變邊綠型之正反器8 3中，將使路 徑8 6能盡置縮短地，分別決定矽晶片上的互斥NOR閘 7 6及掃描正反器7 3之配置《因爲該可變邊緣型正反器 8 3中至互斥NOR閘7 6之時鐘路徑係單一而不分岐， 所以關於時鐘路徑的定時設計和佈置設計很容易。關於他 方之可變邊綠型之正反器8 5也相同。對於定時設計，係 使兩可變邊緣型的正反器8 3 ' 8 5之內部構造會成爲互 相完全相同地，把該兩正反器8 3、8 5分別做爲1個機 能邏輯元件單位即硬镰巨區段（hard macro )處理而進 行電路設計爲理想。 HH {1 mH· 111 —I— ml nn n {請先w讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國困家標率（CNS ) A4规糌（210X297公釐） . 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印«. B7五、發明説明（18) 在通常楔態將設定爲«平，而在测試模態將設 定爲電平的棋態設定信號將從該LS I之外部銷供 給時，2個互斥NOR鬧7 6 ，7 7將分別置換爲互斥 〇 R閘。 (實施例4 ) 圚5，係顳示有關本發明的第4資施例之L S I中的 1個區段構成。圖5之構成，係把圖4中的4個正邊緣型 之掃描正反器72，73 ，74 ，75和2個互斥NOR 閛7 6 ，7 7 ，分別置換成4個負邊綠型的掃描正反器 72a，73a，74a，75 a 和 2 個互斥 OR 閛 7 6 a，7 7 a者。而且，在晒5之構成，係把棋態設定 信號I MOD在通常模態設定爲'電平，而在測試楔 態係設定爲’L' «平。其他係和圖4之情形相同，故將 省略詳細說明。 圖5中的互斥OR閛7 6 a和掃描正反器7 3 a係構 成1個可變邊緣型之正反器8 3 a，而互斥OR閛7 7 a 和掃描正反器7 5 a係構成其他的可變邊綠型之正反器 8 5 a。此等可變邊緣型的正反器8 3 a、8 5 a，係在 模態設定信號IMOD爲鼇平之間，2個互斥OR 閘7 6 a、7 7 a將分別使時嫌信號CLK反轉，故將做 爲正邊緣型的掃描正反器動作，而在棋態殷定信號 IMOD爲* L#電平之間，2個互斥OR閘7 6 a、 7 7 a將分別使時鏟信號CLK直接通過，故將做爲負邊
Kfl· nn Bufrv 1^1 m n ^ fn· m (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁)
A 本紙張尺度逋用中國國家樣率（CNS ) A4规格（210 X 297公釐21 - 經濟部中夬揲準局貝工消费合作社印装 A7 B7 五、發明説明（19 ) 緣型的掃描正反器動作。在可蠻邊緣型之正反器8 3 a、 8 5 a中，將使從互斥OR鬭7 6 a至掃描正反器7 3 a 的路徑8 6 a，及從互斥OR閘7 7 a至掃描正反器 7 5 a之路徑8 7 a會盡量變短地，分別決定矽晶片上的 互斥OR閛76a、77a及掃描正反器7 3 a、7 5 a 之配置。 根據本實施例時，因爲構成在通常模態有負邊緣型的 正反器7 2 a、7 4 a和正邊綠型之正反器8 3 a、 8 5 a混在，而在測試棋態則使構成1個掃描鏈的4個正 反器7 2 a、8 3 a、7 4 a、8 5 a將全部做爲負邊緣 型之正反器動作，所以能夠一面確保掃描鏈內的關於正反 器之連接順序的高自由度，而把測弑用之信號正確地掃描 入。關於其他優點，係和第3實施例相同。 同時，在通常模態將設定爲'電平，而在測試模 態將設定爲電平的棋態設定信號將從該LS I之外 部銷供給時，2個互斥OR閘7 6 a ' 7 7 a將分別置換 爲互斥N 0 R閘。 圚面之簡單說明 圚1 ，係顯示有關本發明的第1實施例之半導髏積憊 電路的構成之電路圖。 圖2，係顯示有關本發明的第2實施例之半導讎積镰 «路的構成之電路圓。 圚3，係顯示圖2中的掃描正反器之內部構成例的電 本纸張又度逋用中鬮钃家鏢牵（CNS > A4蜆格（2丨0 X 297公詹3L 2 2 - C裝 訂 C (請先《讀背面之注意事項再填寫本1) 307927 A7 B7_五、發明説明（2〇 ) 路圖。 圖4 ，係顯示有關本發明的第3實施例之半導髖稹體 電路的構成之電路圖。 園5 ，係顯示有關本發明的第4實施例之半導體稹體 電路的構成之電路圖。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 經濟部中央橾準局員工消費合作社印製 I —<·. 本紙張尺度逋用中國國家標準（CNS > Α4规格（210X297公釐）_ 23 -