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Die
Erfindung bezieht sich auf einen elektronischen Schaltkreis und
ein Verfahren zum Testen eines solchen elektronischen Schaltkreises.
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Konventionell
wird das Testen von elektronischen Schaltkreisen durchgeführt unter
Verwendung von Grenz-Abtast-Schaltkreisanordnungen. Grenz-Abtast-Schaltkreisanordnungen
erfordern jedoch die Verwendung von integrierten Schaltkreisen mit
festgeschalteten Test-Pins, was nicht immer erwünscht ist.
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Die
PCT-Patentanmeldung Nr.
WO 99/39218 beschreibt
einen integrierten Schaltkreis, der das Testen von Schaltkreisen
vorsieht ohne festgeschaltete Test-Kontakte zu verwenden, oder wenigstens weniger
Test-Kontakte zu verwenden als für
das Grenz-Abtast-Testen erforderlich (hier wird „Kontakte" als allgemeiner Begriff für jede Anschlussstelle verwendet,
mit der der integrierte Schaltkreis mit äußeren Schaltkreisen verbunden
werden kann, einschließlich
beispielsweise Pins, Kontaktlager etc.).
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Dieser
bekannte integrierte Schaltkreis kann in einen Testmodus gewechselt
werden, in welchem er auf einen Schaltkreis wechselt, der eine besondere
Relation zwischen Signalen an seinen Eingabe- und Ausgabe-Kontakten
realisiert. Diese besondere Relation ist ausgebildet, eine vollständige Gruppe von
Fehlern in den Verbindungen zu und von dem integrierten Schaltkreis
an den Ausgabekontakten beobachtbar zu machen, indem über diese
Verbindungen eine Reihe von Eingabesignalen in den integrierten
Schaltkreis eingespeist werden.
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Bevorzugterweise
beinhaltet die Gruppe von beobachtbaren Fehlern Fehler aufgrund „Feststehens" oder „UND"-Fehlern. Um auf
solche Fehler zu testen, muss die besondere Relation so sein, dass
für einige
mögliche
Eingabesignalwerte eine beobachtbare Abweichung von dem erwarteten
fehlerfreien Signal an einer Ausgabe existiert, wenn das Signal
an einem Eingabekontakt oder einer Verbindung von einem Ausgabekontakt
an einem logischen Level feststeht, oder wenn sich sein logischer
Level nicht unabhängig
von dem der Signale auf anderen Eingabekontakten oder Verbindungen
von den Ausgabekontakten ändert.
Um diese Gruppe beobachtbar zu machen, offenbart
WO 99/39218 die Verwendung von besonderen
Relationen, welche die Erforderungen erfüllen, dass
- (1)
das Eingabesignal jedes Kontakts die Ausgabesignale von mindestens
einem der Ausgabekontakte beeinflussen sollte,
- (2) das Ausgabesignal auf jedem Ausgabekontakt als das „Exklusive-ODER" der Signale auf
zwei oder mehr der Eingabekontakte variieren muss,
- (3) die Ausgabesignale auf keinen zwei der Ausgabekontakten
nur auf den Eingabesignalen von denselben Eingabekontakten abhängen sollten.
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Diese
Eingabe-/Ausgaberelation kann realisiert sein über eine Gruppe von untereinander
verbundenen Exklusiv-ODER-Gates, oder über die Verwendung eines einfachen
Speichers, der über
Signale von den Eingabekontakten angesprochen wird, und dessen Datenausgaben
zu den Ausgabekontakten des integrierten Schaltkreises im Testmodus
gekoppelt sind. Dies ermöglicht
es, die Verbindungen zu dem integrierten Schaltkreis zu testen,
nachdem der integrierte Schaltkreis in einen elektronischen Schaltkreis
montiert wurde, indem Treiber von anderen Schaltkreisen in dem elektronischen
Schaltkreis verwendet werden, um Signale zu den Eingabekontakten
einzuspeisen und die resultierende Antwort aus den Ausgabekontakten
mit den anderen Schaltkreisen auszulesen.
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Diese
Technik sieht jedoch nicht die Möglichkeit
vor, dass einige der Kontakte des integrierten Schaltkreises entweder
als Eingabe oder als Ausgabe fungieren können, abhängig von dem elektronischen
Schaltkreis, in den der integrierte Schaltkreis integriert ist.
Dies ist beispielsweise der Fall mit Speichern, in welchen die Datenwortgröße anpassbar
ist im Austausch mit Adressenbreite. Wenn eine größere Wortgröße verwendet
wird, werden einige der Bits von jedem Wort auf Kontakten ausgegeben,
die als Adresskontakte dienen, wenn eine große Anzahl von Worten mit kleiner
Größe verwendet
wird. In diesem Fall treiben einige der elektronischen Schaltkreise,
in die der integrierte Schaltkreis integriert sein kann, die fraglichen
Kontakte und andere dieser elektronischen Schaltkreise lesen lediglich
Signale von diesen Kontakten aus. Wieder ein anderer elektronischer
Schaltkreis kann jedoch nicht in der Lage sein, die Kontakte zu
treiben zu einer Zeit, wenn der elektronische Schaltkreis andere
Ausgaben des integrierten Schaltkreises ausliest (wenn der redefinierbare Kontakt
beispielsweise als eine der Dateneingaben/-ausgaben eines Speichers
verwendet wird).
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In
Schaltkreisen, wo der redefinierbare Kontakt als Ausgabe verwendet
wird, sollte er als solcher von dem Testrasterkonverter verwendet
werden, um einen vollständigen
Test sicherzustellen, aber in Schaltkreisen, die den redefinierbaren
Kontakt nicht als Ausgabe verwenden, können die Signale an den redefinierbaren
Kontakt nicht beobachtet werden. Daher ist die Gruppe der Beobachtungen
unvollständig
und damit können
einige Fehler in den Verbindungen unbeobachtbar bleiben in einigen
elektronischen Schaltkreisen.
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Das
US-Patent US 5,155,733 offenbart
eine Anordnung zum Testen digitaler Schaltkreisvorrichtungen mit
bidirektionalen Ausgaben. Die Pins der digitalen Schaltkreise sind
sequentiell angeordnet und in eine oder mehr Gruppen gruppiert,
mit bidirektionalen Pins, die als Ausgabegins behandelt werden. Zu
jedem der Pins einer Gruppe wird eine testunterstützende Schaltkreisanordnung
hinzugefügt.
Das Verhalten der testunterstützenden
Schaltkreisanordnung während
des Tests erleichtert die Bestimmung des korrekten Verhaltens der
Pins in der Gruppe.
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Unter
anderem ist es ein Ziel der vorliegenden Erfindung, einen einzelnen
integrierten Schaltkreis bereitzustellen, der das Testen von Verbindungen
zu dem integrierten Schaltkreis erleichtert, sowohl wenn er in elektronischen
Schaltungen verwendet wird, in welchen ein redefinierbarer Kontakt
des integrierten Schaltkreises als Eingabe dient, als auch wenn
der integrierte Schaltkreis in einem elektronischen Schaltkreis
verwendet wird, indem der redefinierbare Kontakt als Ausgabekontakt
während
des Tests dient.
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Die
Erfindung sieht einen integrierten Schaltkreis gemäß Anspruch
1 vor. Dieser integrierte Schaltkreis sieht eine erste und zweite
Eingabe-Ausgabe-Relation im Testmodus vor, wobei eine Relation in
Abhängigkeit
von der Schaltkreiskonfiguration ausgewählt wird. Die erste Eingabe-Ausgabe-Relation verwendet
den redefinierbaren Kontakt als Eingabekontakt und die zweite Relation
verwendet den redefinierbaren Kontakt als Ausgabekontakt. Die Relationen
sind so ausgewählt,
um das Testen von Fehlern aufgrund Feststehens und Kreuz-Verbindung
unter Verwendung des redefinierbaren Kontakts als Eingabekontakt
und Ausgabekontakt entsprechend zu ermöglichen.
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Das
heißt,
jede der Relationen ist so, dass, für einige mögliche Signalwerte, die zu
den Eingaben der Relation über
die Verbindungen eingespeist werden können, eine beobachtbare Abweichung
von dem erwarteten fehlerfreien Signal an der Verbindung von einer
Ausgabe existiert, wenn das Signal an einem Eingabekontakt oder
einer Verbindung von einem Ausgabekontakt an einem logischen Level feststeht,
oder wenn der logische Level dieses Signals sich nicht unabhängig von
dem der Signale auf anderen Eingabe- oder Ausgabekontakten verändert.
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Es
wird zu verstehen gegeben, dass der Anspruch auch die Situation
abdeckt, wo der redefinierbare Kontakt einer von einer Vielzahl
von redefinierbaren Kontakten ist, und die Eingabe-/Ausgabe-Relationen
die Testbarkeit mit dieser Vielzahl, die als Eingabe oder Ausgabe
entsprechend verwendet werden, vorsieht.
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In
einer Ausführungsform
des integrierten Schaltkreises gemäß der Erfindung ist der Testrasterkonverter
realisiert mit einer Gruppe von Exklusiv-ODER-Gates, welche dazu
dienen, sowohl Eingabe- als auch Ausgaberelationen zu realisieren,
wobei zwischen den implementierten Relationen gewechselt wird über eine
steuerbare/regelbare Kopplung, wie einen Dreizustands-Treiber, der
in Abhängigkeit
von der Schaltkreiskonfiguration freigegeben wird. So wird Testbarkeit
realisiert mit einer kleinen Menge von Schaltkreisanordnungen.
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Bevorzugterweise,
erfüllt
der Testrasterkonverter die Bedingungen, dass
- 1)
jedes Eingabesignal, sowohl redefinierbare Eingaben und nicht redefinierbare
Eingaben, mindestens ein nicht redefinierbares Ausgabesignal beeinflussen
sollte,
- 2) jede Ausgabe ein Signal haben sollte, das zumindest davon
abhängt,
ob es einen Unterschied zwischen zweien der Signale von nicht redefinierbaren
Eingaben gibt,
- 3) keine zwei Ausgaben ein Signal haben sollten, das auf die
gleiche Weise von Signalen von den nicht redefinierbaren Eingaben
abhängt,
- 4) kein redefinierbares Ausgabesignal von dem redefinierbaren
Eingabesignal abhängen
sollte, zu dem es redefiniert sein könnte.
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In
einer anderen Ausführungsform
ist der Testrasterkonverter über
zwei Sub-Konverter
realisiert, von denen einer ausgewählt ist, die Ausgabesignale, in
Abhängigkeit
von der Schaltkreiskonfiguration auszuliefern.
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Diese
und andere Ziele und vorteilhafte Aspekte des Schaltkreises und
des Verfahrens gemäß der Erfindung
werden detaillierter beschrieben unter Verwendung der folgenden
Figuren.
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1 zeigt
einen Teil eines elektronischen Schaltkreises;
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2 zeigt
einen integrierten Schaltkreis;
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3 zeigt
einen Testrasterkonverter;
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4 zeigt
einen anderen Testrasterkonverter;
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5 zeigt
noch einen anderen Testrasterkonverter.
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1 zeigt
einen Teil eines elektronischen Schaltkreises, der einen ersten,
zweiten und dritten integrierten Schaltkreis 10, 12, 14 umfasst.
Der elektronische Schaltkreis hat eine Testschnittstelle TST/TDI/TDO,
die mit dem ersten und dritten integrierten Schaltkreis 10, 14 verbunden
ist. Der zweite integrierte Schaltkreis 12 hat binäre Logikeingaben 16 und
binäre
Logikausgaben 18, die mit dem ersten und dritten integrierten
Schaltkreis 10, 14 entsprechend gekoppelt sind.
Der Kontakt 17 des zweiten integrierten Schaltkreises 12 für eine der
Eingaben 16 ist separat angegeben. Der zweite Schaltkreis 12 hat eine
Konfigurationsauswahleingabe 13 zu einer Versorgungsspannung
Vss gekoppelt. In einem Beispiel kann der zweite integrierte Schaltkreis 12 ein
Flashspeicher sein, mit Adresseingaben 16 und Dateneingaben/-ausgaben 18.
Es wird zu verstehen gegeben, dass 1 nur einen
vereinfachten Teil des elektronischen Schaltkreises zeigt: In der
Praxis können mehr
unterschiedliche Verbindungen zwischen den integrierten Schaltkreisen 10, 12, 14 vorhanden
sein und viel mehr integrierte Schaltkreise können in dem elektronischen
Schaltkreis vorhanden sein, inklusive beispielsweise Zwischen-Treiber
zwischen dem zweiten integrierten Schaltkreis 12 und dem
ersten oder dritten integrierten Schaltkreis 10, 14.
Bevorzugterweise umfasst der elektronische Schaltkreis eine bedruckte
Leiterplatte, auf der die integrierten Schaltkreise 10, 12, 14 montiert
sind.
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Im
Betrieb versorgt der erste integrierte Schaltkreis 10 den
zweiten integrierten Schaltkreis 12 mit Signalen, wie Adresssignalen,
und der zweite integrierte Schaltkreis 12 versorgt den
dritten integrierten Schaltkreis 14 mit Signalen, wie Datensignalen.
Der Kontakt 17 des zweiten integrierten Schaltkreises 12 hat
eine definierbare Funktion. In dem elektronischen Schaltkreis von 1 dient
er dazu, eine Eingabe zu verbinden, aber in anderen Schaltkreisen
(nicht gezeigt) dient er dazu, eine Ausgabe zu verbinden. Die Auswahl
zwischen Eingabe- und Ausgabebetrieb wird über die Spannung an der Konfigurationsauswahleingabe 13 vorgenommen.
(Die externe Eingabe 13 ist nur ein Beispiel dafür, wie die Konfiguration
ausgewählt
werden kann. Beispielsweise kann auch eine Eingabe verwendet werden, die
zu Vss oder einer anderen internen Stromversorgung Vdd kontaktiert
ist, oder auf einen Chip über eine
auslösbare
Sicherung oder einen Leiter, der nur in Versionen des integrierten
Schaltkreises für
eine besondere Konfiguration beinhaltet ist, verbunden ist).
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In
dem Beispiel eines Flashspeichers, kann der Speicher beispielsweise
als ein Speicher mit N Adressen mit 16-Bit-Worten, und ein Speicher
mit 2N Adressen mit 8-Bit-Worten konfigurierbar sein. Der Kontakt 17 dient
als eine Daten-Bit-Ausgabe
in der 16-Bit-Wort-Konfiguration, und dient als eine Adressen-Bit-Eingabe in der 8-Bit-Wort-Konfiguration.
Es ist ersichtlich, dass das Zeigen eines redefinierbaren Kontakts 17 lediglich
ein Beispiel ist. In der Praxis können viel mehr solcher redefinierbaren
Kontakte vorhanden sein. Beispielsweise werden, wenn ein Speicher
Konfigurationen für
N Adressen von 8 Bits und 8N Adressen von 1 Bit hat, drei der Datenbitausgaben
der 8-Bit-Wort-Konfiguration als Adresseingaben von der 1-Bit-Wort-Konfiguration
verwendet werden.
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Der
elektronische Schaltkreis kann in einem normalen Modus und in einem
Testmodus betrieben werden. Im Testmodus werden Testsignale auf
den ersten und dritten integrierten Schaltkreis 10, 14 geschrieben
und ausgelesen. Der zweite integrierte Schaltkreis 12 hat
jedoch keine Kontakte für
eine Testschnittstelle. Um das Testen der Verbindungen 16, 18 zu
und von dem zweiten integrierten Schaltkreis zu ermöglichen,
müssen
besondere Maßnahmen
ergriffen werden.
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2 zeigt
eine Ausführungsform
des integrierten Schaltkreises 12. Der integrierte Schaltkreis 12 beinhaltet
einen funktionalen Schaltkreis 20, einen Testrasterkonverter 22,
einen Multiplexer 24, einen Dreizustands-Treiber 26 und
einen Modus-Wechsel-Schaltkreis 28. Die Eingaben 16 sind zu
dem funktionalen Schaltkreis 20 und dem Testrasterkonverter 22 gekoppelt.
Der funktionale Schaltkreis 20 und der Testrasterkonverter 22 sind über den Multiplexer 24 zu
den Ausgaben 18 gekoppelt. Ein Modus-Wechsel-Schaltkreis 28 erhält einige
der Eingaben 16 und hat eine Ausgabe zu der Steuer-/Regeleingabe
des Multiplexers 24 gekoppelt. Der Dreizustands-Treiber 26 ist
zwischen eine der Ausgaben des Multiplexers 24 und den
redefinierbaren Kontakt 17 gekoppelt. Die Konfigurationsauswahleingabe 13 ist
zu einer Steuer-/Regeleingabe des Dreizustands-Treibers 26 und zu dem funktionalen
Schaltkreis 20 gekoppelt. Der Dreizustands-Treiber 26 dient
zur Steuerung/Regelung, ob oder ob nicht eine Treiberkopplung zum
redefinierbaren Kontakt 17 existiert. Ein ähnliches
Ergebnis kann mit vielen anderen Schaltkreisen erzielt werden, wie
beispielsweise einem Schalter, der in Abhängigkeit von der Konfiguration
geöffnet
oder geschlossen ist.
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Im
Betrieb des normalen Betriebsmodus gibt der Moduswechselschaltkreis 28 ein
Steuer-/Regelsignal an den Multiplexer 24, um Ausgabesignale
von dem funktionalen Schaltkreis 20 an die Ausgaben 18 und
den Dreizustands-Treiber 26 weiterzugeben. Der funktionale
Schaltkreis 20 verwendet Eingabesignale von den Eingaben 16 als
Eingabe. Ein Signal von der Konfigurationswahleingabe 13 bestimmt,
ob der funktionale Schaltkreis 20 das Signal vom Kontakt 17 als
Eingabe verwendet und ob eine Ausgabe 21 der funktionalen
Einheit 20 als Ausgabe verwendet wird. Das Signal von Ausgabe 21 wird
vom Multiplexer 24 an den Dreizustands-Treiber 26 weitergegeben.
In der in 1 gezeigten Konfiguration gibt
der Dreizustands-Treiber 26 dieses Signal nicht zu Kontakt 17 weiter.
Wenn ein anderes Signal auf die Konfigurationsauswahleingabe 13 angewendet
wird, versorgt der Dreizustands-Treiber 26 jedoch den Kontakt 17 mit
dem Ausgabesignal von dem funktionalen Schaltkreis 20.
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Der
Schaltkreis 12 wird beispielsweise beim Einschalten in
den Testmodus gebracht oder durch Anwendung einer normalerweise
verbotenen Signalsequenz auf die Eingaben 16. Es ist nicht
relevant für die
Erfindung, welche Bedingungen verwendet werden, um in den Testmodus
zu wechseln. Der Moduswechselschaltkreis 28 detektiert
diese Bedingungen und gibt in Antwort Signale aus, die den Testmodus anzeigen.
In diesem Modus gibt der Multiplexer 24 Ausgabesignale
von dem Testrasterkonverter 22 zu den Ausgaben 18 und
zu dem Dreizustands-Treiber 26 weiter. Wie im normalen
Betriebsmodus, bestimmt das Signal an der Konfigurationsauswahleingabe 13, ob
der Dreizustands-Treiber 26 den Kontakt 17 mit dem
Ausgabesignal von dem Testschaltkreis 20 versorgt.
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Der
Testrasterkonverter 22 ist ausgebildet, um die Verbindungen
zu und von dem integrierten Schaltkreis 12 auf Fehler aufgrund „Feststehens" und Kreuz-Verbindung zu testen.
Ein Fehler aufgrund „Feststehens" ist ein Fehler,
der eine Eingabe oder eine Ausgabe veranlasst, auf einem festen
logischen Level zu bleiben, beispielsweise aufgrund eines Kurzschlusses
zwischen einer Stromversorgungsverbindung und der Eingabe oder der
Ausgabe. Ein Fehler aufgrund Kreuz-Verbindung ist ein Fehler, der es
für die
Signale auf zwei Eingaben, zwei Ausgaben oder einer Eingabe und
einer Ausgabe unmöglich macht,
eine bestimmte Kombination von Werten anzunehmen. Dies tritt beispielsweise
auf, wenn die beiden Eingaben, Ausgaben oder Eingabe und Ausgabe
in leitendem Kontakt stehen.
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Während des
Tests wird eine Reihe von Testsignalen von dem ersten integrierten
Schaltkreis 10 auf den zweiten integrierten Schaltkreis 12 angewendet
und die Ausgabesignale von dem zweiten integrierten Schaltkreis 12 in
den zweiten integrierten Schaltkreis gelesen. Bevorzugterweise werden
die Testsignale in den ersten integrierten Schaltkreis 10 transportiert
und die resultierenden Ausgabesignale von dem dritten Schaltkreis 14 über die
Testschnittstelle TST/TDI/TDO ausgelesen.
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Fehler
werden durch die Detektion von Abweichung zwischen den beobachteten,
resultierenden Ausgabesignalen und den Ausgabesignalen, die auftreten
sollten auf der Basis der Eingabe-/Ausgabe-Relation des Testrasterkonverters 22,
detektiert. Die Eingabe-Ausgabe-Relation des Testrasterkonverters 22 ist
ausgebildet, um es zu ermöglichen,
alle möglichen
Fehler aufgrund Feststehens und Kreuz-Verbindung in den Verbindungen
zwischen dem zweiten integrierten Schaltkreis 12 und dem
ersten und dritten integrierten Schaltkreis 10, 14 zu
detektieren.
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In
Abwesenheit der Möglichkeit,
alle Eingabe-/Ausgabe-Funktionen des redefinierbaren Kontakts 17 zu
redefinieren, wird dies realisiert, wenn die Eingabe-Ausgabe-Relation
drei Bedingungen erfüllt:
- 1) Jedes Eingabesignal sollte mindestens ein Ausgabesignal
beeinflussen.
- 2) Jedes Ausgabesignal sollte mindestens davon abhängen, ob
ein Unterschied zwischen zwei der Eingabesignale besteht.
- 3) Keine zwei Ausgabesignale sollten auf die gleiche Weise von
den Eingabesignalen abhängen.
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Viele
Schaltkreise erfüllen
diese Bedingungen. Ein einfacher Weg, einen solchen Schaltkreis
zu entwerfen, ist, eine Gruppe von Eingaben zu jeder Ausgabe zu
bestimmen, so dass jede Gruppe zwei Eingaben enthält, die
Gruppen für
keine zwei Ausgaben identisch sind und jede Eingabe zumindest zu
einer Gruppe gehört.
Dann sind die Anforderungen realisiert durch einen Schaltkreis mit
einem entsprechenden Sub-Schaltkreis für jede Gruppe, der die Exklusiv-ODER
der Eingaben von der Gruppe berechnet und die Ergebnisse an die
der Gruppe zugeordnete Ausgabe einspeist.
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Um
einen redefinierbaren Kontakt zu unterstützen, sind weitere Maßnahmen
erforderlich. 3 zeigt eine erste Ausführungsform
des Testrasterkonverters 22, um einen redefinierbaren Kontakt
zu unterstützen.
Der Konverter 22 umfasst einen Multiplexer 30 und
einen Lesespeicher 32. Die Eingaben des Konverters 22 sind
zu den Adresseingaben des Speichers 32 gekoppelt. Eine
Eingabe 36 des redefinierbaren Kontakts 17 (nicht
gezeigt) ist über
eine erste Eingabe des Multiplexers 30 zu einer Adresseingabe gekoppelt.
Eine zweite Eingabe des Multiplexers 30 ist zu einem vorgegebenen
logischen Level Vss gekoppelt. Eine Konfigurationsauswahleingabe 34 ist zu
einer Steuer-/Regeleingabe des Konverters 22 und zu einer
Adresseingabe des Speichers 32 gekoppelt.
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Im
Betrieb speichert der Speicher 32 zwei Eingabe-/Ausgabe-Relationen,
eine für
jede mögliche
Konfiguration des redefinierbaren Kontakts 17. Eine erste
der Eingabe-/Ausgabe-Relationen erfüllt die Bedingungen zur Erfüllung der
Testbarkeit, mit N = 8 Eingaben und M = 4 Ausgaben, die zweite der Relationen
erfüllt
die Bedingungen zur Testbarkeit mit N – 1 = 7 Eingaben und M + 1
= 5 Ausgaben. Ein Konfi gurationsausgabesignal von der Konfigurationsauswahleingabe 34 wählt aus,
welche der Eingabe-/Ausgabe-Relationen verwendet wird, um die Ausgabesignale
des Speichers zu bestimmen. In der Konfiguration, wo der redefinierbare
Kontakt als Eingabe dient, wird das Signal vom redefinierbaren Kontakt 17 über den
Multiplexer 30 zu der Adresseingabe des Speichers 32 eingespeist.
In der Konfiguration, wo der redefinierbare Kontakt als Ausgabe
dient, ersetzt ein vorgegebenes Signal Vss das Signal von dem redefinierbaren
Kontakt als Adresssignal.
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Es
ist ersichtlich, dass anstelle des Lesespeichers 32 andere
Schaltkreise zur Realisierung der erforderlichen Eingabe-/Ausgabe-Relation
verwendet werden können,
wie eine festgeschaltete Logik oder eine Gruppe von untereinander
verbundenen Exklusiv-ODER-Gates. Auf den Multiplexer 30 kann
verzichtet werden (Speicher 32 wird nur von dem Signal von
Eingabe 34 versorgt), wenn die Ausgabe des Speichers 32 nicht
von der Eingabe 34 abhängt, wenn
die Konfiguration zum Testen von N – 1 Eingaben ausgewählt ist.
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4 zeigt
eine andere Ausführungsform des
Konverters 22 zur Realisierung der Testbarkeit von redefinierbaren
Kontakten. Der Konverter 22 umfasst einen ersten und zweiten
Subkonverter 40, 42 und einen Multiplexer. Die
Eingaben des integrierten Schaltkreises sind zu beiden Subkonvertern
gekoppelt, die Eingabe 46 des redefinierbaren Kontakts 17 (nicht
gezeigt) ist nur zu dem ersten Subkonverter 40 gekoppelt.
Die Eingabe-/Ausgabe-Relationen der beiden Subkonverter 40, 42 sind
ausgebildet, um die Erforderungen zu erfüllen, um das Testen auf Fehler in
den Verbindungen zu dem integrierten Schaltkreis zu ermöglichen,
jeder in einer entsprechenden der Konfigurationen des redefinierbaren
Kontakts 17. Der erste Subkonverter 40 ist ausgebildet
für N(=
8) Eingaben und M(= 4) Ausgaben und der zweite Subkonverter 42 ist
ausgebildet für
N – 1
Eingaben und M + 1 Ausgaben. Die Ausgaben von beiden Subkonvertern 40, 42 sind
zu den Eingaben des Multiplexers 44 gekoppelt. Der erste
Subkonverter 40 hat eine Ausgabe weniger als der zweite
Subkonverter 42. Der Multiplexer 44 wird mit einem
vorgegebenen Signal Vss anstelle dieser Ausgabe versorgt. Die Ausgabe
des Multiplexers 44 stellt die Ausgabe des Konverters 22 dar.
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Im
Betrieb steuert/regelt ein Konfigurationsauswahlsignal von einer
Konfigurationsauswahleingabe 48 den Multiplexer 44 so,
dass die Ausgabe des ersten Subkonverters 40 (versorgt
mit dem vorgegebenen Signal) oder des zweiten Sub konverters 42 an die
Ausgabe des Konverters 22 weitergegeben wird, in Abhängigkeit
von der Konfiguration.
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5 zeigt
noch eine andere Ausführungsform
des Konverters 50 (in dieser Ausführungsform mit einer größeren Zahl
von Eingaben) mit Eingabe 54 und Ausgabe 56 für einen
redefinierbaren Kontakt 17 (nicht dargestellt). In dieser
Ausführungsform
realisiert eine Gruppe von Exklusiv-ODER-Gates 52a–i die erforderliche
Eingabe-/Ausgabe-Relation für
beide Konfigurationen. Daher ist dieser Schaltkreis ein Multifunktionskonverter.
Um die Erfordernisse für
beide Konfigurationen zu erfüllen,
ist ein solcher Multifunktionskonverter ausgebildet mit einer Eingabe-Ausgabe-Relation,
die modifizierte Erfordernisse erfüllt:
- 1)
jedes Eingabesignal, sowohl von redefinierbaren Eingaben 54 als
auch nicht redefinierbaren Eingaben 58, sollte zumindest
ein nicht redefinierbares Ausgabesignal 59 beeinflussen,
- 2) jede Ausgabe 56, 59 sollte zumindest ein
Signal haben, das davon abhängt,
ob ein Unterschied zwischen zweien der Signale der nicht redefinierbaren
Eingaben 58 vorliegt,
- 3) keine zwei Ausgaben 56, 59 sollten ein
Signal haben, dass auf dieselbe Weise von Signalen von den nicht
redefinierbaren Eingaben 58 abhängt,
- 4) kein redefinierbares Ausgabesignal 56 sollte von
der redefinierbaren Eingabe 54 abhängen, zu welcher es redefiniert
sein könnte.
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Letztere
Bedingung verhindert, dass der Schaltkreis Speichereffekte aufweist.
Im Betrieb realisiert ein solcher Schaltkreis die erforderliche
Eingabe-/Ausgabe-Relation,
welche das Testen für
Fehler in den Verbindungen zu dem integrierten Schaltkreis in beiden
Konfigurationen ermöglicht.
Nur ein Dreizustands-Treiber 26 ist erforderlich, um die
Konfiguration zu wechseln. Testen ist auch möglich, wenn Bedingung 4) nicht
erfüllt
ist, aber ein solches Testen involviert das Feststellen des Speicherzustands
des Testrasterkonverters als Teil des Testens und ist daher komplizierter.
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Viele
Schaltkreise erfüllen
diese Erfordernisse. Ein einfacher Weg, solche Schaltkreise zu entwerfen,
ist es, entsprechende Gruppen von Eingaben den Ausgaben zuzuordnen
und die der Gruppe zugeordnete Ausgabe von den Exklusiv-ODER der
Eingaben von jeder Gruppe zu versorgen. Jede Gruppe sollte zumindest
zwei nicht redefinierbare Eingaben enthalten, keine zwei Gruppen
sollten identisch sein bis auf ihre redefinierbaren Eingaben, jede
Eingabe sollte zu mindestens einer Gruppe gehören, und keine redefinierbaren
Eingaben sollten nicht zu der Gruppe der redefinierbaren Ausgabe
gehören,
zu welcher sie redefiniert sein können.
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5 zeigt
einen Schaltkreis, der diese Erforderungen erfüllt. Die Ausgabe eines Exklusiv-ODER-Schaltkreises
(oder äquivalent
ein Exklusiv-nicht-ODER) hängt
von der logischen Differenz zwischen ihren Eingabesignalen ab. Es
ist einfach zu sehen, dass jede Ausgabe 56, 59 von
der Ausgabe eines Exklusiv-ODER nicht-redefinierbarer Eingaben 58 abhängt, dass
jede Eingabe 54, 56 wenigstens eine nicht redefinierbare
Ausgabe 59 beeinflusst und dass keine zwei Ausgaben die
gleiche Abhängigkeit von
den Eingaben haben. Es ist ersichtlich, dass der in 5 gezeigte
Schaltkreis nur ein Beispiel eines Schaltkreises ist, der verwendet
werden kann, um die Erfordernisse zu erfüllen.
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Es
ist weiterhin ersichtlich, dass die Anzahl von Eingaben und Ausgaben,
sowohl der redefinierbaren Art als auch der nicht redefinierbaren
Art wie in den Figuren gezeigt, nur beispielsweise ausgewählt wurden.
Ohne von der Erfindung abzuweichen, können andere Anzahlen ausgewählt werden.