TW201445537A - 影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置 - Google Patents

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Abstract

影像信號處理電路包括：顯示面板，其包含配置於有效像素區域外之第1虛設像素；電流檢測部，其檢測第1虛設像素之電流變化；修正處理部，其基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值；及校正處理部，其基於藉由修正處理部經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。

Description

影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置
本揭示係關於一種影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置。
於顯示裝置、更具體而言於平板型(平面型)顯示裝置中，對於顯示面板之經時性亮度劣化，基於自像素信號之資訊與顯示面板之代表性劣化特性所預測的劣化值(劣化預測值)進行校正。然而，由於每一顯示面板中產生劣化特性之不均，故而僅利用代表性劣化預測值(估計值)則無法進行充分之劣化校正。
作為其對策，提出有如下技術：使用虛設像素，利用亮度感測器測定每一顯示面板之亮度實際劣化狀態，且基於該測定結果，將劣化預測值(估計值)以符合實際之劣化狀態之方式定期地進行修正，從而保證校正精度(例如，參照專利文獻1)。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2007-187761號公報
然而，如上述先前技術般，亮度感測器所進行之實際劣化狀態之測定難以精度良好地檢測對低亮度側之畫質劣化影響較大之亮度變化、即發光開始點之電壓漂移(發光開始電壓漂移(shift)/偏移 (offset))。
但是，並非無法使用亮度感測器，精度良好地檢測發光開始電壓漂移(灰度劣化)。然而，必須使用受光感光度較高之大面積之亮度感測器，而且測定需要長時間等作為亮度感測器需要與昂貴之測定器同等之性能，故而導致成本增加或調整步驟數之增加，並且對使用者使用時之便利性造成制約等之影響較大。
本揭示之目的在於提供一種即便不使用昂貴之亮度感測器等，亦可精度良好地校正對低亮度側之畫質劣化影響較大之發光開始電壓漂移之劣化預測值(估計值)之不均之影像信號處理電路、影像信號處理方法及包含該影像信號處理電路之顯示裝置。
用以達成上述目的之本揭示之影像信號處理電路係構成為包括：顯示面板，其包含配置於有效像素區域外之第1虛設像素；電流檢測部，其檢測第1虛設像素之電流變化；修正處理部，其基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值；及校正處理部，其基於藉由修正處理部經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
又，用以達成上述目的之本揭示之影像信號處理方法係構成如下：檢測配置於顯示面板之有效像素區域外之第1虛設像素之電流變化，基於檢測出之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值，基於經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
又，用以達成上述目的之本揭示之顯示裝置成為包含影像信號 處理電路之構成，且該影像信號處理電路包括：顯示面板，其包含配置於有效像素區域外之第1虛設像素；電流檢測部，其檢測第1虛設像素之電流變化；修正處理部，其基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值；及校正處理部，其基於藉由修正處理部經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
作為顯示面板之經時性亮度劣化之要素，不僅存在有效像素之發光部之發光效率之低下，而且存在驅動發光部之電晶體之特性之劣化(降低)。可藉由在顯示面板之有效像素區域外設置虛設像素，檢測該虛設像素之電流之實際劣化量，而檢測驅動發光部之電晶體之特性之劣化量。繼而，為了對驅動有效像素之影像信號進行校正，而可基於虛設像素之電流之實際劣化量修正預定之劣化預測值，且使用該經修正之劣化預測值進行校正處理，藉此，校正添加有電晶體特性之劣化量之亮度劣化。
根據本揭示，即便不使用昂貴之亮度感測器等，亦可精度良好地校正對低亮度側之畫質劣化影響較大之發光開始電壓漂移之劣化預測值(估計值)之不均，故而可提示顯示面板之經時性亮度劣化之校正精度。
再者，本說明書所記載之效果僅為例示，並不限定於此，又，亦可存在附加之效果。
1‧‧‧有機EL顯示裝置
10‧‧‧顯示面板模組(有機EL面板模組)
11‧‧‧資料驅動器
12(12A、12B)‧‧‧閘極掃描驅動器
13‧‧‧有機EL面板
14‧‧‧時序控制器
15‧‧‧有效像素區域
16‧‧‧亮度劣化測定用虛設像素群
17‧‧‧灰度劣化測定用虛設像素群
17A、17B‧‧‧虛設像素
18‧‧‧電源掃描驅動器
20‧‧‧校正處理部
21‧‧‧信號處理部
22‧‧‧重像校正部
23‧‧‧增益校正部
24‧‧‧偏移校正部
25‧‧‧虛設像素圖案產生部
26‧‧‧信號輸出部
30‧‧‧修正處理部
31‧‧‧亮度感測器
32‧‧‧電流感測器
33‧‧‧虛設像素感測器控制部
34‧‧‧感測器信號處理部
35‧‧‧初始特性保持部
36‧‧‧亮度/灰度劣化算出部
37‧‧‧劣化量預測LUT保持部
38‧‧‧虛設像素劣化歷程累積部
39‧‧‧劣化量預測LUT修正值算出部
41‧‧‧資料COF
42‧‧‧閘極COF
43、44‧‧‧中繼基板
50‧‧‧有效像素
51‧‧‧有機EL元件
52‧‧‧驅動電晶體
53‧‧‧取樣電晶體
54‧‧‧保持電容
55‧‧‧輔助電容
61‧‧‧掃描線
62‧‧‧電源供給線
63‧‧‧信號線
64‧‧‧共用電源線
71‧‧‧檢測電阻
72‧‧‧差動放大器電路
73‧‧‧AD轉換器
74、75‧‧‧開關
231‧‧‧亮度劣化預測LUT
232、242‧‧‧劣化歷程累積部
233‧‧‧亮度增益處理部
241‧‧‧灰度劣化預測LUT
243‧‧‧灰度偏移處理部
a1、a2、……‧‧‧亮度劣化係數
b1、b2、……‧‧‧灰度劣化係數
DS‧‧‧電源電壓
Lm‧‧‧歷程累積值
S11、S12、S21~S23、S31~S35‧‧‧步驟
Vcc_H‧‧‧第1電源電壓
Vcc_L‧‧‧第2電源電壓
Vofs‧‧‧基準電壓
Vsig‧‧‧信號電壓
WS‧‧‧掃描信號
圖1係表示本揭示之實施形態之顯示裝置之系統構成之方塊圖。
圖2係用以說明於校正處理部執行之重像校正之觀點之圖。
圖3A係表示初始處理之步驟之處理順序之流程圖，圖3B係表示 正常處理之正常動作模式之處理順序之流程圖。
圖4係表示正常處理之測定/LUT(lookup table，查找表)修正模式之處理順序之流程圖。
圖5A係表示棋盤圖案結構之檢測圖案之圖案，圖5B係表示縱條紋圖案結構之檢測圖案之圖案。
圖6係用以說明劣化量算出方法之圖。
圖7A係表示亮度劣化測定之情形時之初始測定時之V-L特性之圖，圖7B係表示亮度劣化測定之情形時之正常測定時之V-L特性之圖。
圖8A係表示灰度劣化測定之情形時之初始測定時之V-L特性之圖，圖8B係表示灰度劣化測定之情形時之正常測定時之V-L特性之圖。
圖9係表示亮度劣化曲線特性之圖。
圖10係表示有效像素之具體電路構成之一例之電路圖。
圖11係表示電流感測器(電流檢測電路)之構成一例之電路圖。
圖12係表示用於灰度劣化測定用虛設像素之電流檢測之電源供給線之配線牽引之一例之配線圖。
圖13係表示電流感測器之2個開關之動作例之圖。
圖14係表示適用於灰度劣化測定用虛設像素之用以檢測電流變化之檢測圖案之一例之圖。
圖15係表示適用於灰度劣化測定用虛設像素之用以檢測電流變化之檢測圖案之另一例之圖。
圖16係表示變化例之虛設像素之電路構成之電路圖。
以下，使用圖式，對用以實施本揭示之技術之形態(以下記作「實施形態」)進行詳細說明。本揭示並不限定於實施形態，且實施形態中 之各種數值等為例示。在以下說明中，對相同要素或具有相同功能的要素使用相同符號，且省略重複說明。再者，說明係依照以下順序進行。
1.對本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置整體之說明 2.對實施形態之說明 3.變化例 <對本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置整體之說明>
本揭示之影像信號處理電路或影像信號處理方法係有助於圖像顯示之有效像素之發光部用於包含根據電流之強度(大小)受到發光控制的電流驅動型發光元件之顯示裝置而較佳者。作為電流驅動型發光元件，例如可使用利用對有機薄膜施加電場則進行發光的現象的有機電致發光元件(以下記作「有機EL(electroluminescence，電致發光)元件」)。作為電流驅動型發光元件，除有機EL元件外，可例示無機EL元件、LED(light emitting diode，發光二極體)元件、半導體雷射元件等。
將有機EL元件用作像素之發光部之有機EL顯示裝置具有如下優點。即，由於有機EL元件能夠以10V以下之施加電壓驅動，故而有機EL顯示裝置為低消耗電力。有機EL元件係自發光元件，故而，有機EL顯示裝置與同為平面型顯示裝置之液晶顯示裝置相比，圖像之視認性較高，並且無需背光源等照明構件，故而易於實現輕量化及薄型化。進而，有機EL元件之應答速度為數μsec左右極高，故而有機EL顯示裝置於動態圖像顯示時不產生殘像。
在本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置中，電流檢測部所檢測之電流可設為流入將第1虛設像素之發光部進 行驅動之電晶體之電流。藉此，可檢測作為顯示面板之經時性亮度劣化之要素之一的驅動發光部之電晶體之特性之劣化(降低)。
於包含上述較佳之構成之本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置中，可設為如下構成：於有效像素區域外設置第2虛設像素，另一方面包含檢測該第2虛設像素之亮度變化之亮度檢測部。藉此，可檢測顯示面板之經時性亮度劣化之另一要素即有效像素之發光部之發光效率之降低量。此時，修正處理部可設為基於已檢測之電流之實際劣化量及已檢測之亮度之實際劣化量修正預定之劣化預測值之構成。
又，於包含上述較佳之構成之本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置中，第1虛設像素及第2虛設像素可設為如下構成：具有與有效像素同等之構成，並且動作條件亦與有效像素相同。又，第1虛設像素及第2虛設像素可設為於有效像素區域外設置有1列以上之構成。此處，第1虛設像素及第2虛設像素可設為包含共用之像素之構成。或者，第1虛設像素及第2虛設像素可設為具有遮光結構之構成。
又，於包含上述較佳之構成之本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置中，電流檢測部可設為具有檢測電阻與檢測放大器之構成。此處，檢測電阻係連接於將第1虛設像素驅動之驅動器之輸出端與對第1虛設像素供給電源電壓之電源供給線之間。檢測放大器係檢測產生於檢測電阻之兩端之電壓值。
又，於包含上述較佳之構成之本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置中，於顯示面板自左右兩側被供給電源電壓之構成之情形時，電流檢測部可設為具有在檢測電流變化時將來自顯示面板之單側之電源電壓之供給阻斷之開關的構成。又，電流檢測部可設為具有選擇性地使檢測電阻之兩端之間短路之開關之構成。或 者，電流檢測部可構成為於第1虛設像素之發光電流成為脈衝狀應答之情形時，與脈衝狀應答之發光電流同步地檢測電流變化。
又，於包含上述較佳之構成之本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置中，用以檢測電流變化之檢測圖案可設為將1條線分成複數個像素區塊，且包含亮度條件不同之1種以上之常時點亮像素區塊與非點亮像素區塊之構成。或者，用以檢測電流變化之檢測圖案可構成如下：包含1種以上之亮度條件之常時點亮像素與非點亮像素之組合，且該檢測圖案之區塊於1條線內週期性地配置複數個而成。
又，於包含上述較佳之構成之本揭示之影像信號處理電路、影像信號處理方法及顯示裝置中，第1虛設像素可設為不具有發光部之構成。即，有效像素至少包含發光部及驅動該發光部之電晶體，與此相對，第1虛設像素設為不存在發光部之構成。藉此，於配置有第1虛設像素之區域無需遮光結構。
<對實施形態之說明>
圖1係表示本揭示之實施形態之顯示裝置之系統構成之方塊圖。
本實施形態係列舉有助於圖像之顯示之有效像素之發光部包含根據電流之強度(大小)受到發光控制之電流驅動型發光元件(光電元件)、例如有機EL元件之主動矩陣型有機EL顯示裝置為例進行說明。
主動矩陣型有機EL顯示裝置係藉由與該有機EL元件設置於同一像素內之主動元件例如絕緣閘極型場效電晶體來控制流入有機EL元件之電流之顯示裝置。作為絕緣閘極型場效電晶體，典型而言可使用TFT(Thin Film Transistor；薄膜電晶體)。本實施形態之有機EL顯示裝置1係包括顯示面板模組(有機EL面板模組)10、校正處理部20、及修正處理部30。
於顯示面板模組10中，構成顯示面板之發光元件(本例為有機EL 元件)具有與其發光量及發光時間成正比地劣化之特性。另一方面，藉由顯示面板進行顯示之圖像之內容並不一致。因此，特定之顯示區域之發光元件之劣化易於進展。而且，劣化進展之特定之顯示區域之發光元件之亮度與其他顯示區域之發光元件之亮度相比，相對地低下。如此一來，顯示面板局部地引起亮度劣化之現象一般稱為「重像」。
於本實施形態中，成為該顯示面板之重像之原因之亮度劣化之校正處理係藉由校正處理部20及修正處理部30而進行。而且，校正處理部20及修正處理部30被稱為本揭示之影像信號處理電路。又，校正處理部20及修正處理部30之處理方法被稱為本揭示之影像信號處理方法。校正處理部20係基於預定之劣化預測值(估計值)，進行包含顯示面板(有機EL面板)之亮度劣化在內之各種校正處理。修正處理部30例如包含CPU(中央處理裝置，Central Processing Unit)，且進行下述各種感測器之控制，或進行使用各種感測器獲取所需之測定結果，且基於該獲取結果，修正預定之劣化預測值(估計值)之處理。
[顯示面板模組之構成]
顯示面板模組10包括包含資料驅動器11及閘極掃描驅動器12之有機EL面板13、以及驅動資料驅動器11或閘極掃描驅動器12等之時序控制器14。
有機EL面板13不僅包含矩陣狀地二維配置著有助於圖像顯示之有效像素而成之有效像素區域15，而且於該有效像素區域15之附近包含亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17。亮度劣化測定用虛設像素群16之虛設像素係用以監視亮度劣化之像素(第2虛設像素)，且不有助於圖像之顯示。灰度劣化測定用虛設像素群17係用以監視灰度劣化之像素(第1虛設像素)，且不有助於圖像之顯示。例如，將亮度劣化測定用虛設像素群16配置於有效像素區域15 之下側，且將灰度劣化測定用虛設像素群17配置於有效像素區域15之上側。但，對亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17之配置而言，並不限定於該配置例。
亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17之各虛設像素具有與有效像素區域15之有效像素同等之構成(其詳細情況將於後文敍述)，且於有效像素區域15之附近設置有1列以上。又，亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17之各虛設像素係驅動電壓或驅動時序等動作條件(驅動條件)亦與有效像素區域15之有效像素相同。而且，亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17之各虛設像素亦與有效像素區域15之有效像素同樣地，藉由閘極掃描驅動器12而驅動。
[校正處理部之構成]
校正處理部20不僅實施信號處理部21之各種信號處理，而且實施作為本揭示之重要功能之重像(亮度劣化)之校正處理。進行該校正處理之重像校正部22包括用以校正亮度劣化之增益校正部23、及用以校正灰度劣化之偏移校正部24。此處，於將亮度劣化之主要因素分為對高亮度側之畫質劣化影響較大之亮度變化(高亮度側變化)、及對低亮度側之畫質劣化影響較大之亮度變化(低亮度側變化)之2種之情形時，增益校正部23承擔對高亮度側變化之校正，偏移校正部24承擔對低亮度側變化之校正。
增益校正部23包括亮度劣化預測LUT231、劣化歷程累積部232、及亮度增益處理部233。亮度劣化預測LUT231係儲存有根據影像信號位準預測亮度劣化之劣化預測值(估計值)之表格(查找表)。偏移校正部24包括灰度劣化預測LUT241、劣化歷程累積部242、及灰度偏移處理部243。灰度劣化預測LUT241係儲存有根據影像信號位準預測灰度劣化之劣化預測值之表(查找表)。
校正處理部20不僅包含信號處理部21及重像校正部22(增益校正部23及偏移校正部24)，而且包含虛設像素圖案產生部25及信號輸出部26。虛設像素圖案產生部25產生用以於亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17之各測定用虛設像素區域顯示老化圖案或測定圖案之圖案信號。信號輸出部26係將經由重像校正部22之影像信號與自虛設像素圖案產生部25賦予之圖案信號適當混合或進行切換。
(重像校正之觀點)
此處，使用圖2，對在校正處理部20執行之重像校正之觀點進行說明。
自有機EL面板13之有效像素之點亮亮度條件與點亮時間，基於表示每一單位時間之亮度劣化之亮度劣化預測LUT231，根據下式(1)預測亮度劣化量△L。
△L=Σ△Ln…(1)
關於灰度劣化(電壓漂移)，亦可基於表示每一單位時間之灰度劣化之灰度劣化預測LUT241，使用相同方法算出劣化量。
基於以此方式算出之劣化預測值，對輸入影像信號進行重像增益及偏移校正。具體而言，對輸入影像信號執行校正係數值之乘法及加減運算處理。亮度劣化預測LUT231多為預先使用複數個製品投入前之評估專用面板或測試單元等，基於在特定亮度條件、環境時間下測定出之結果之平均值而製作。因此，於面板特性之不均較大之情形時，出現無法獲得充分之校正效果之情況。
本揭示之技術係提供一種對於亮度劣化、灰度劣化，即便個別面板中產生特性不均，亦能夠校正精度良好地獲得充分之校正效果之方法。以下對該方法進行說明。
關於重像校正，可個別地分成亮度劣化成分與灰度劣化成分而 執行。亮度劣化作為主要因素係由有機EL元件之材料自身之發光效率劣化而引起。灰度劣化係由用以驅動有機EL元件之電晶體之特性(發光開始電壓漂移)之劣化(降低)而引起。該等劣化最終以亮度變化呈現，故而亦可測定發光像素之亮度變化。但，電晶體之特性之劣化為低亮度側之亮度變化，故而若僅測定亮度變化，則無法進行有效之校正。
本揭示之技術係藉由分別以亮度變化、電流變化之形式測定亮度劣化與灰度劣化而測定實際像素之劣化，且基於該測定結果，適當自動地更新各劣化預測LUT231、241。藉此，便可減少每一面板之特性不均。進行該劣化預測LUT231、241之修正之部分係以下說明之修正處理部30。
[修正處理部之構成]
修正處理部30包括亮度感測器31、電流感測器32、虛設像素感測器控制部33、感測器信號處理部34、初始特性保持部35、亮度/灰度劣化算出部36、劣化量預測LUT保持部37、虛設像素劣化歷程累積部38、及劣化量預測LUT修正值算出部39。
亮度感測器31係檢測亮度劣化測定用虛設像素群16之虛設像素之亮度變化之亮度檢測部之一例。電流感測器32係檢測灰度劣化測定用虛設像素群17之虛設像素之電流變化之電流檢測部(電流檢測電路)之一例。虛設像素感測器控制部33係用以控制亮度感測器31及電流感測器32之動作、以及虛設像素之發光者。感測器信號處理部34係用以進行將亮度感測器31及電流感測器32之輸出信號平均化之處理者。
初始特性保持部35係用以保持檢測劣化量時成為基準之初始測定結果者。亮度/灰度劣化算出部36係用以根據老化後之亮度變化及電流變化之測定結果算出劣化量者。此處，所謂「老化」係指於使用者之使用期間中使虛設像素以固定亮度發光。劣化量預測LUT保持部37 係用以根據虛設像素之發光值預測各劣化量者。虛設像素劣化歷程累積部38係用以累積進行劣化量之預測所得之虛設像素之劣化量之歷程者。劣化量預測LUT修正值算出部39係用以基於根據歷程累積結果與實際像素之測定結果求出之亮度/灰度劣化量進行劣化預測LUT之修正者。
(劣化預測LUT之修正處理之概要)
對上述構成之修正處理部30中之劣化測定用虛設像素之亮度劣化預測LUT及灰度劣化預測LUT之修正處理之概要進行說明。
劣化預測LUT之修正處理係以初始處理之步驟、及於使用者正在使用之狀態下進行之正常處理之步驟之2個步驟而執行。初始處理較理想為於顯示面板模組10之出貨前實施。但，並不限於出貨前實施，即便於成為商品形態之後，使用者亦可於使用前之初始設定時實施。
使用圖3A之流程圖，對初始處理之步驟之處理順序進行說明。首先，藉由亮度感測器31及電流感測器32來測定成為用以算出劣化測定用虛設像素之劣化量之基準之老化開始前之發光電壓特性(V-L)與發光電流特性(I-L)、即虛設像素之初始特性作為基準資料(步驟S11)。繼而，經由感測器信號處理部34，將該經測定的虛設像素之初始特性保存於初始特性保持部35(步驟S12)。
於使用者正在使用之狀態下進行之正常處理包含正常動作模式及測定/LUT修正模式。
使用圖3B之流程圖，對正常處理之正常動作模式之處理順序進行說明。首先，使劣化測定用虛設像素以特定之亮度發光而老化，與此同時地相應於老化像素之灰度自劣化預測LUT算出虛設像素之劣化量歷程(步驟S21)。
繼而，進行是否經過固定期間之判定(步驟S22)。此處，作為固定期間(固定時間)例如設定為1顯示圖框週期。而且，於步驟S22中判 定為經過了固定時間之前，重複地執行步驟S21之處理即老化像素點亮&劣化量歷程算出之處理。藉此，於每一固定期間即每1顯示圖框週期累積劣化量歷程。繼而，定期地保存劣化歷程累積量(步驟S23)。該正常動作模式之處理成為虛設像素劣化歷程累積部38之處理。
繼而，使用圖4之流程圖，對正常處理之測定/LUT修正模式之處理順序進行說明。首先，對以特定時間t老化之後之劣化測定用虛設像素之發光電壓特性與發光電流特性進行測定(即獲取劣化資料)、保存(步驟S31)。繼而，基於初始處理中所測定之發光電壓特性及發光電流特性(即基準資料)與老化後所測定之發光電壓特性及發光電流特性(即劣化資料)，算出亮度劣化量(增益劣化量)△Ld(步驟S32)。該亮度劣化量△Ld之算出處理成為亮度/灰度劣化算出部36之處理。
繼而，讀出各老化條件之劣化歷程累積量△Lm(步驟S33)，繼之，基於根據上述測定結果而算出之亮度劣化量△Ld與以正常動作模式所累積之劣化歷程累積值△Ld，算出校正係數(步驟S34)。繼而，根據該算出之校正係數，將劣化預測LUT更新、保存(步驟S35)。該劣化預測LUT之更新&保存處理成為劣化量預測LUT保持部37及劣化量預測LUT修正值算出部39之處理。
藉由進行以上處理，而完成一系列之虛設像素之劣化預測LUT之更新處理。更新處理完成後再次移行至正常動作模式，且再次開始進行老化。以後，定期地交替重複實施正常動作模式與測定/LUT修正模式，將劣化預測LUT適當更新。正常動作模式與測定/LUT修正模式並不限於定期(設定間隔)重複，例如亦可採用對每一驅動模式實施之構成。
以上，舉例說明了亮度劣化預測LUT之修正處理，但灰度劣化預測LUT之修正處理基本上亦與亮度劣化預測LUT之修正處理相同。
(關於檢測圖案、感測器測定方法、及劣化量算出方法)
此處，對用於各劣化量檢測之檢測圖案、使用該檢測圖案之亮度感測器31之測定方法、及劣化量算出方法進行說明。
本實施形態之顯示面板模組(有機EL面板模組)10包括：亮度劣化測定用虛設像素群16，其係用以監視亮度劣化；及灰度劣化測定用虛設像素群17，其係用以監視灰度劣化(電流劣化)。
首先，對亮度劣化測定用虛設像素群16進行說明。所謂用於劣化量檢測之檢測圖案係指亮度劣化測定用虛設像素群16中之發光像素與非發光像素之配置圖案。作為檢測圖案，可使用發光像素(點亮像素)與非發光像素(非點亮像素)混合存在者。例如使用圖5A所示之發光像素與非發光像素成為棋盤狀之重複配置之棋盤圖案結構、或圖5B所示之發光像素與非發光像素成為縱條紋狀之重複配置之縱列(條紋)圖案結構之檢測圖案。
而且，於老化狀態下，以特定之亮度條件使發光像素持續常時點亮。非發光像素亦於老化中成為非點亮。如圖5A所示之棋盤圖案結構或圖5B所示之縱列圖案結構般使發光像素與非發光像素混合存在之原因在於可藉由非發光像素來檢測除發光造成之劣化量以外之變動量。
檢測圖案之尺寸係根據亮度感測器31之受光感光度或像素尺寸選擇最佳圖案尺寸。圖5A中以二點鏈線表示亮度感測器31之俯視之尺寸。如圖5A所示，檢測圖案係以成為比亮度感測器31之俯視尺寸大之尺寸(區域)之方式設置。檢測圖案適用於進行老化之所有顏色。又，檢測圖案較理想為以鄰接圖案不對測定產生影響般之間隔，配置與劣化預測LUT之亮度條件數量相應之圖案數。
以下，列舉使用圖5B所示之縱列圖案結構之檢測圖案之情形為例，對亮度感測器31之測定方法及劣化量算出方法進行說明。
於縱列圖案結構之檢測圖案中，例如將奇數行之虛設像素設為點亮(老化)像素，且將偶數行之虛設像素設為非點亮(非老化)像素。而且，測定時，點亮像素、非點亮像素均利用虛設像素圖案產生部25使顯示圖案信號Vsig於特定之顯示灰度範圍內可變，且利用亮度感測器31測定灰度-亮度之關係。
繼而，根據非點亮像素之灰度-亮度之初始測定之測定結果、及非點亮像素之灰度-亮度之經過特定時間t後之測定結果，算出經時及環境變動量Gain_ref/Offset_ref。繼而，基於經時及環境變動量Gain_ref/Offset_ref，校正老化後之點亮像素之灰度-亮度之測定值之經時及環境變動量。繼而，根據經時及環境變動量之校正結果、與作為劣化量算出基準值已初始地測定過之灰度-亮度之測定結果，算出經過點亮、老化後之各亮度/灰度劣化量。
具體算出方法係如下所述。即，如圖6所示，對所有測定點，求出初始測定時(初始特性)之亮度與老化後之亮度變得相等時之灰度，且將老化後灰度(劣化後灰度)-初始灰度(劣化前灰度)之關係導出。圖6所示之式係有機EL面板13之發光特性為例如γ=2.2之情況，且於該式中，y為亮度，x為灰度，a(a1、a2、……)為亮度劣化係數，b(b1、b2、……)為灰度劣化係數。
繼而，可藉由基於該導出結果，使用最小平方法之回歸運算而算出亮度劣化量(增益成分)與灰度劣化量(偏移成分)。更具體而言，算出與存在非老化之測定點(灰度)相同灰度時之老化之亮度相當於非老化之第幾灰度(測定點間進行線性內插)，且藉由回歸計算而算出亮度劣化量與灰度劣化量。
利用亮度感測器31測定灰度-亮度之關係時之測定灰度範圍與測定步驟係如下所述。圖7A係表示亮度劣化測定之情形時之初始測定時之V-L特性(電壓-亮度)，圖7B係表示亮度劣化測定之情形時之正常 測定時之V-L特性(電壓-電流)。於初始測定時，因初始之測定結果成為基準，故而，以相對細緻之步驟細緻地進行測定。另一方面，正常測定時係使用者使用時，故而利用相對較粗略之步驟粗略地進行測定。測定步驟係基本上均勻地設定，但亦可不均勻地設定。測定時之步驟之方向可任意進行變更。可藉由使步驟之方向可變更，而例如於兩方向上進行測定，且取其平均值。
圖8A中表示灰度劣化測定之情形時之初始測定時之V-L特性，圖8B中表示灰度劣化測定之情形時之正常測定時之V-L特性。測定步驟係基本上與亮度劣化測定之情形時相同之觀點。再者，灰度劣化測定之情形係檢測發光開始電壓漂移者，故而測定範圍亦可限定於低灰度側。
如上所述，亦可根據亮度感測器31之測定結果算出灰度劣化量(偏移成分)，但於本實施形態中，其特徵在於僅將亮度感測器31用於亮度劣化量(增益成分)之校正。
(關於亮度劣化預測LUT之校正)
繼而，對亮度劣化預測LUT231之校正之具體處理方法進行說明。
基於根據上述老化像素之亮度變化之測定結果算出之亮度劣化量(增益成分)、於正常動作時以特定亮度點亮之時間、及根據亮度劣化預測LUT231算出之劣化歷程累積值算出校正係數。就劣化歷程累積值而言，於利用CPU進行點亮時間之累積之情形時，可根據亮度劣化預測LUT231與時間累積值，以下述順序算出。
以下式(2)定義點亮累積時間T。
T=Tm…(2)
繼而，於圖9所示之亮度劣化曲線特性中，基於下式(3)算出相對於各變化率ai之時間△ti。
△ti=△L/ai…(3)
根據上述式(2)及式(3)，算出滿足下式(4)之Td及i。
Td=Tm-Σ△ti<0…(4)
而且，定義為滿足式(4)之i=n。
利用下式(5)，根據自上述式(4)求出之Td及n算出歷程累積值Lm。
Td=△L×n+an+1×△Td…(5)
如此，根據圖9所示之亮度劣化曲線特性算出已何種程度地劣化來作為歷程累積值Lm。
關於校正係數，基於各虛設像素之劣化量歷程累積結果△L_master與根據虛設像素之感測器檢測結果算出之劣化量△L_dummy，利用下式(6)算出各亮度之LUT校正係數Cof。
以此方式，將校正係數Cof作為取自前一次之亮度劣化量(增益成分)之資訊及前一次之劣化累積值之各個亮度劣化量之差值與劣化歷程累積值之差值之比算出。更新之亮度劣化預測LUT231係藉由對前一劣化預測LUT乘以該校正係數Cof而產生。藉由適當重複以上之處理，而將預先設定於有機EL顯示裝置1之亮度劣化預測LUT231不斷更新。關於有效像素之劣化歷程，使用校正係數Cof之平均值進行修正。
(有效像素之像素電路)
此處，使用圖10，對構成有機EL面板13之有效像素區域15之有效像素之具體電路構成進行說明。圖10係表示有效像素之具體電路構 成之一例之電路圖。有效像素50之發光部包含發光亮度相應於流入器件之電流值而變化之電流驅動型發光元件(光電元件)即有機EL元件51。
如圖10所示，有效像素50包括有機EL元件51、及藉由對有機EL元件51供給電流而驅動該有機EL元件51之驅動電路。有機EL元件51係陰極電極連接於對所有像素50共用地配線之共用電源線64。
驅動有機EL元件51之驅動電路包括驅動電晶體52、取樣電晶體(寫入電晶體)53、保持電容54、及輔助電容55。即，此處例示之驅動電路成為包含2個電晶體(22、23)及2個電容元件(24、25)之2Tr/2C型電路構成。
作為驅動電晶體52及取樣電晶體53，例如可使用N通道型TFT。但，此處所示之驅動電晶體52及取樣電晶體53之導電型之組合僅為一例，且並不限於其等之組合。即，亦可將P通道型TFT用作驅動電晶體52及取樣電晶體53之一者或兩者。
上述電路構成之驅動電路係藉由以下述方式，切換賦予至驅動電晶體52之電源電壓而控制有機EL元件51之發光/非發光(發光時間)。因此，於具有本像素電路之有機EL面板13中，作為驅動有效像素50之垂直驅動部(掃描驅動器)，不僅設置有閘極掃描驅動器12，而且設置有電源掃描驅動器18。
而且，於有效像素區域15，相對於矩陣狀之有效像素50之排列，掃描線61與電源供給線62沿列方向(像素列之像素之排列方向/水平方向)配線於每一像素列。進而，信號線63沿行方向(像素行之像素之排列方向/垂直方向)配線於每一像素行。掃描線61係連接於閘極掃描驅動器12之對應之列之輸出端。電源供給線62係連接於電源掃描驅動器18之對應之列之輸出端。信號線63係連接於資料驅動器11之對應之行之輸出端。
資料驅動器11係選擇性地輸出與自信號供給源(未圖示)供給之亮度資訊對應之影像信號之信號電壓Vsig與基準電壓Vofs。此處，基準電壓Vofs係成為影像信號之信號電壓Vsig之基準之電壓(例如，相當於影像信號之黑位準之電壓)，且用於周知之閾值電壓(Vth)之校正處理等。
閘極掃描驅動器12係於對有效像素50寫入影像信號之信號電壓時，進行藉由對掃描線61依序供給寫入掃描信號WS，而以列單位依序掃描有效像素區域15之各像素50之所謂之線序掃描。
電源掃描驅動器18係與閘極掃描驅動器12之線序掃描同步地，將能夠於第1電源電壓Vcc_H與低於該第1電源電壓Vcc_H之第2電源電壓Vcc_L進行切換之電源電壓DS供給至電源供給線62。藉由電源掃描驅動器18之電源電壓DS之Vcc_H/Vcc_L之切換，而進行有效像素50之發光/非發光(消光)之控制。
驅動電晶體52係一電極(源極/汲極電極)連接於有機EL元件51之陽極電極，另一電極(源極/汲極電極)連接於電源供給線62。取樣電晶體53係一電極(源極/汲極電極)連接於信號線63，另一電極(源極/汲極電極)連接於驅動電晶體52之閘極電極。又，取樣電晶體53之閘極電極係連接於掃描線61。
於驅動電晶體52及取樣電晶體53中，所謂一電極係指電性連接於一源極/汲極區域之金屬配線，所謂另一電極係指電性連接於另一源極/汲極區域之金屬配線。又，因一電極與另一電極之電位關係，而一電極可成為源極電極，亦可成為汲極電極，另一電極可成為汲極電極，亦可成為源極電極。
保持電容54係一電極連接於驅動電晶體52之閘極電極，另一電極連接於驅動電晶體52之另一電極、及有機EL元件51之陽極電極。輔助電容55係一電極連接於有機EL元件51之陽極電極，另一電極連 接於固定電位之節點(本例中為共用電源線64/有機EL元件51之陰極電極)。輔助電容55係為例如彌補有機EL元件51之電容不足量，提高對保持電容54之影像信號之寫入增益而設置。但，輔助電容55並非必須之構成要素。即，於無需彌補有機EL元件51之電容不足量之情形時，無需輔助電容55。
於上述構成之有效像素50中，取樣電晶體53係應答自閘極掃描驅動器12經由掃描線61施加至閘極電極之High主動之寫入掃描信號WS而成為導通狀態。藉此，取樣電晶體53將經由信號線63自資料驅動器11以不同時序供給之相應於亮度資訊之影像信號之信號電壓Vsig或基準電壓Vofs取樣後，寫入至像素50內。藉由取樣電晶體53而寫入之信號電壓Vsig或基準電壓Vofs被施加至驅動電晶體52之閘極電極，並且保持於保持電容54。
驅動電晶體52係於電源供給線62之電源電壓DS處於第1電源電壓Vcc_H時，一電極成為汲極電極，另一電極成為源極電極，於飽和區域進行動作。藉此，驅動電晶體52自電源供給線62接受電流之供給，且利用電流驅動將有機EL元件51發光驅動。更具體而言，驅動電晶體52藉由在飽和區域動作，而將與保持於保持電容54之信號電壓Vsig之電壓值對應之電流值之驅動電流供給至有機EL元件51，且藉由電流驅動使該有機EL元件51發光。
驅動電晶體52係進而於電源電壓DS自第1電源電壓Vcc_H切換成第2電源電壓Vcc_L時，一電極成為源極電極，另一電極成為汲極電極，從而作為開關電晶體進行動作。藉此，驅動電晶體52停止對有機EL元件51之驅動電流之供給，將有機EL元件51設為非發光狀態。即，驅動電晶體52亦兼具作為於電源電壓DS(Vcc_H/Vcc_L)之切換下控制有機EL元件51之發光時間(發光/非發光)之電晶體之功能。
上述有機EL面板13係成為分別將閘極掃描驅動器12及電源掃描 驅動器18配置於有效像素區域15之左右方向之一側之所謂之單側驅動之構成，但並不限於此。即，亦可採用將閘極掃描驅動器12及電源掃描驅動器18均配置於有效像素區域15之左右方向之兩側之所謂之兩側驅動之構成。可藉由採用該兩側驅動之構成，而消除起因於掃描線61及電源供給線62之配線電阻或配線電容(寄生電容)之傳輸延遲之問題。
(發光電流變化之檢測原理及電流感測器之構成)
繼而，以下，對檢測灰度劣化測定用虛設像素之發光電流Ids之變化之原理及電流感測器(電流檢測部/電流檢測電路)32之構成進行說明。
灰度劣化測定用虛設像素(電流變化檢測用專用像素)係於有效像素區域15外設置1掃描線(1列)以上。發光電流Ids之變化係如圖11所示，利用於***至對於該掃描線之閘極掃描驅動器12(12A、12B)之輸出端與作為面板發光電源用配線之電源供給線62之間之檢測電阻71之兩端所產生之電壓值進行檢測。關於用以檢測發光電流Ids之電流感測器32之具體構成將於後文敍述。
再者，於上述像素構成中，於藉由電源電壓DS之切換來控制有機EL元件51之發光時間之情形時等，流入有機EL元件51之發光電流Ids成為脈衝狀之應答。於此種情形時，與脈衝狀應答之發光電流同步地，更具體而言與發光時間之控制同步地檢測有效發光期間之發光電流Ids之電流變化。
且說，於對應彩色顯示之顯示裝置中，成為形成彩色圖像之單位之1個像素(單位像素/pixel)包含複數個子像素(subpixel)。而且，1個像素例如包含發出紅色(Red；R)光之子像素、發出綠色(Green；G)光之子像素、及發出藍色(Blue；B)光之子像素之3個子像素。此時，對於檢測電流變化之像素而言，老化及劣化檢測能夠以所有顏色之像 素為對象進行，但亦能夠以特定顏色(代表顏色)為對象進行。
圖11中圖示有灰度劣化測定用虛設像素群17之第1條線(1列)之2個虛設像素17A之像素電路。自圖10與圖11之對比明確可知，虛設像素17A成為與有效像素50同等之構成。即，虛設像素17A成為包含有機EL元件51、驅動電晶體52、取樣電晶體53、保持電容54、及輔助電容55之構成。進而，虛設像素17A係驅動電壓或驅動時序等動作條件亦與有效像素50相同。亮度劣化測定用虛設像素群16之虛設像素亦情況相同。
圖12係表示用於灰度劣化測定用虛設像素之電流檢測之電源供給線62之配線牽引之一例之配線圖。圖12中為了易於理解，而以虛線表示掃描線61，且以一點鏈線表示電源供給線62。於本例中，將閘極No.1~4之電源供給線62設為用於虛設像素之電流檢測之配線，且使用閘極No.1與No.3之配線進行電流檢測。
如圖12所示，連接於檢測電阻71之電源供給線62係經由搭載有資料驅動器11之資料COF(Chip On Film，薄膜覆晶)41(或搭載有閘極掃描驅動器12之閘極COF42)轉移至中繼基板43(或中繼基板44)。而且，轉移至中繼基板43(或中繼基板44)之電源供給線62係連接於配置於該中繼基板43(或中繼基板44)之檢測電阻71。
再者，用於電流變化檢測之灰度劣化測定用虛設像素群(區域)17係以虛設像素17A發出之光不洩漏至外部之方式由黑色遮罩等遮光結構覆蓋。
於圖11中，電流感測器32成為不僅包含用以檢測發光電流Ids之檢測電阻71，而且包含將微弱之檢測電壓放大之差動放大器電路72、及將類比電壓轉換成數位值之AD(Analog to Digital，類比-數位)轉換器73，且配置於中繼基板43(或中繼基板44)之構成。差動放大器電路72係檢測產生於檢測電阻71之兩端間之微弱之檢測電壓之檢測放大器之 一例。自AD轉換器73輸出之對於發光電流Ids之檢測電壓之數位值係供給至感測器控制部(虛設像素感測器控制部)33。感測器控制部33進行對電流感測器32之各種之設定、或轉換觸發、及測定值之讀出。
電流感測器32進而包括：開關74，其用以於正常動作時繞過檢測電阻71(短路)；及開關75，其用以於兩側驅動(兩側電源供給)之情形時，僅於檢測時切換為單側驅動(單側電源供給)。該等開關74、75係作為用以降低老化時之因檢測電阻71造成之電壓下降之影響，且有效地檢測測定時之電流微弱之電流之設計之一而設置。
1條線之檢測電流較為微弱。於此種狀況下，若包含電源掃描驅動器18之閘極掃描驅動器12A、12B隔著有效像素區域15存在於左右兩側，且自面板之兩側供給電源電壓DS，則存在電流之流動分散，導致無法均勻地測定，檢測精度降低之情況。開關75係作為其對策，即為了不使電流之流動分散而實現檢測精度之提示而設置。
將開關74、75之動作例示於圖13。作為電流變化檢測用專用像素即灰度劣化測定用虛設像素17A之模式，對老化模式．啟動時之模式1、單側驅動老化時之模式2、Ids/2之電流測定時之模式3、及電流測定模式之模式4之4種模式之情況進行說明。
於老化模式．啟動時之模式1中，將檢測電阻71側之開關74及切斷閘極側之開關75均設為關閉(Close)狀態。於單側驅動老化時之模式2中，將開關74設為關閉狀態，將開關75設為打開(Open)狀態。於Ids/2之電流測定時之模式3中，將開關74設為打開狀態，將開關75設為關閉狀態。於電流測定模式之模式4中，將開關74、75均設為打開狀態。
(電流變化檢測用之檢測圖案)
將適用於灰度劣化測定用虛設像素之用以檢測電流變化之檢測圖案之例示於圖14。檢測圖案係將1條線(1列)分成複數個像素區塊， 且包含亮度條件不同之1種以上之老化像素區域(常時點亮像素區塊)與非老化像素部(非點亮像素區塊)。為了校正電流感測器32之不均或經時劣化，而於各線***黑圖案(非老化像素部)。於測定時，測定0[nit]之特性，並與初始值進行比較，藉此可校正電流感測器32之不均或經時劣化。
又，亦可設為以降低老化時及測定時之面板位置造成之特性不均為目的之檢測圖案。具體而言，亦可如圖15所示地設為於1條線內週期性地配置複數個包含1種以上之亮度條件之常時點亮像素(老化像素)與非點亮像素(非老化像素)之組合之檢測圖案之區塊之構成。與亮度劣化測定用虛設像素時同樣地於老化狀態下，使發光像素以特定之亮度條件持續進行常時點亮。非發光像素於老化中亦成為非點亮。
於測定時(初始動作及正常動作)，發光、非發光像素均使顯示圖案信號Vsig(顯示灰度)於特定之顯示灰度範圍內可變，且測定顯示灰度-發光電流之關係作為產生於檢測電阻71之兩端間之電壓值。就發光電流劣化而言，檢測發光開始電壓較為重要，故而，可藉由設為尤其以提昇低亮度側之測定感光度為重點之檢測電路構成及取樣，而實現更高精度之檢測。
關於以後之灰度劣化預測LUT之更新處理，執行與亮度劣化測定用虛設像素與亮度感測器31之亮度劣化預測LUT之更新處理相同之處理。但，對於灰度劣化預測LUT之更新之特徵在於僅將算出之偏移成分(灰度劣化)用於校正。
可藉由執行以上說明之所有處理，而對於亮度劣化及灰度劣化，即便於個別面板之特性產生不均，亦可校正精度良好地獲得充分之校正效果。尤其，即便不使用高感光度且昂貴之亮度感測器等，亦可精度良好地校正對低亮度側之畫質劣化影響較大之發光開始電壓漂移之劣化預測值(估計值)之不均。亮度感測器31亦可藉由優先進行高 亮度側測定而縮短測定時間。又，可降低亮度感測器31自身之感光度之劣化或安裝位置之經時性偏移造成之測定誤差之影響，故而，校正精度提昇。
<變化例>
以上，使用實施形態，對本揭示之技術進行了說明，但本揭示之技術並不限定於上述實施形態所記載之範圍。即，可於不脫離本揭示之技術之主旨之範圍內對上述實施形態添加各種變更或改良，且添加此種變更或改良而成之形態亦包含於本揭示之技術之技術範圍。
例如，上述實施形態係設為個別地配置亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17之構成，但亦可為共用(使用共用之像素)之構成。可藉由將亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17設為共用之虛設像素群，而削減配置測定用虛設像素之區域，故而可最小限度地抑制因設置測定用虛設像素所導致之有機EL面板13之邊框之增加。
又，上述實施形態係列舉亮度劣化測定用虛設像素群16及灰度劣化測定用虛設像素群17之各虛設像素均使用與有效像素50相同之像素結構者之情形為例進行了說明，但並不限於此。灰度劣化係因驅動電晶體52之電晶體特性(發光開始電壓漂移)之劣化(降低)導致發光電流Ids變化而產生。因此，於著眼於該發光電流Ids之變化之情形時，即便檢測僅流入驅動電晶體52之電流變化，亦可測定灰度劣化。
因此，灰度劣化測定用虛設像素群17之虛設像素17B如圖16所示地設為與有效像素50之像素電路相同之結構(例如TFT結構)且未連接有有機EL元件51(不包含有機EL元件51)之像素構成。更具體而言，藉由將驅動電晶體52之一電極(源極/汲極電極)直接連接於共用電源線64，檢測流入驅動電晶體52之電流變化而測定灰度劣化。
如上述實施形態所述，於測定中使用使有機EL元件51發光之虛 設像素17A之情形時，必須進行用以避免該發光之影響波及有效像素區域15之設計。具體而言，自有效像素區域15相距某種程度地配置灰度劣化測定用虛設像素群17，或如上所述地需要遮光結構。對此，於如本變化例之虛設像素17B之電路構成般不包含有機EL元件51之像素構成之情形時，於有效像素區域15外配置虛設像素17B之制約消失，並且無需遮光結構，故而可進一步提昇面板設計之自由度。與例如包含有機EL元件51之像素構成之情形相比，可實現面板之窄邊框化，故而可增大畫面尺寸。
又，上述實施形態係設為將構成電流檢測部(電流感測器)32之檢測電阻71及差動放大器電路72等配置於中繼基板43(或中繼基板44)，但亦可內置於有機EL面板13上、或者資料驅動器11或閘極掃描驅動器12。於此情形時，亦經由資料COF41(或閘極COF42)對中繼基板44(或中繼基板45)傳送檢測電壓。
又，上述實施形態係將驅動有機EL元件51之驅動電路設為包含2個電晶體(52、53)及2個電容元件(54、55)之2Tr/2C型電路，但並不限於此。例如亦可設為追加選擇性地對驅動電晶體52賦予基準電壓Vofs之開關電晶體而成之電路構成、或視需要進而追加1個或複數個電晶體而成之電路構成。
進而，於上述實施形態中，作為有效像素50之發光元件，列舉了應用於使用有機EL元件之有機EL顯示裝置之情形為例進行說明，但本揭示並不限於該應用例。具體而言，本揭示可適用於無機EL元件、LED元件、半導體雷射元件等使用發光亮度相應於流入器件之電流值而變化之電流驅動型發光元件之所有顯示裝置。
再者，本揭示亦可採用如下構成。
[1]一種影像信號處理電路，其包括：顯示面板，其包含配置於有效像素區域外之第1虛設像素； 電流檢測部，其檢測第1虛設像素之電流變化；修正處理部，其基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值；及校正處理部，其基於藉由修正處理部經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
[2]如上述[1]之影像信號處理電路，其中電流檢測部所檢測之電流係流入將第1虛設像素之發光部驅動之電晶體之電流。
[3]如上述[1]或上述[2]之影像信號處理電路，其中顯示面板包含配置於有效像素區域外之第2虛設像素，且該影像信號處理電路包含檢測第2虛設像素之亮度變化之亮度檢測部，修正處理部係基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量及亮度檢測部所檢測之亮度之實際劣化量，修正預定之劣化預測值。
[4]如上述[1]至上述[3]中任一項之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像素具有與有效像素同等之構成，且動作條件亦與有效像素相同。
[5]如上述[1]至上述[4]中任一項之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像素係於有效像素區域外設置1列以上。
[6]如上述[1]至上述[5]中任一項之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像素包含共用之像素。
[7]如上述[1]至上述[6]中任一項之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像素具有遮光結構。
[8]如上述[1]至上述[7]中任一項之影像信號處理電路，其中電流檢測部包括：檢測電阻，其連接於驅動第1虛設像素之驅動器之輸出端與對第1虛設像素供給電源電壓之電源供給線之間；及 檢測放大器，其檢測產生於檢測電阻之兩端間之電壓值。
[9]如上述[8]之影像信號處理電路，其中顯示面板成為自左右兩側被供給電源電壓之構成，且電流檢測部包含於檢測電流變化時將來自顯示面板之單側之電源電壓之供給阻斷之開關。
[10]如上述[8]或上述[9]之影像信號處理電路，其中電流檢測部包含將檢測電阻之兩端間選擇性地短路之開關。
[11]如上述[1]至上述[10]中任一項之影像信號處理電路，其中電流檢測部係於第1虛設像素之發光電流成為脈衝狀應答之情形時，與脈衝狀應答之發光電流同步地檢測電流變化。
[12]如上述[1]至上述[11]中任一項之影像信號處理電路，其中用以檢測電流變化之檢測圖案係將1條線分成複數個像素區塊，且包含亮度條件不同之1種以上之常時點亮像素區塊與非點亮像素區塊。
[13]如上述[1]至上述[12]中任一項之影像信號處理電路，其中用以檢測電流變化之檢測圖案包含1種以上之亮度條件之常時點亮像素與非點亮像素之組合而構成，且將該檢測圖案之區塊於1條線內週期性地配置複數個而成。
[14]如上述[1]至上述[13]中任一項之影像信號處理電路，其中第1虛設像素成為不具有發光部之構成。
[15]如上述[1]至上述[14]中任一項之影像信號處理電路，其中有效像素及虛設像素之發光部係包含根據電流之強度受到發光控制之電流驅動型發光元件。
[16]如上述[15]之影像信號處理電路，其中電流驅動型發光元件係有機電致發光元件。
[17]一種影像信號處理方法，其檢測配置於顯示面板之有效像素區域外之第1虛設像素之電流變化， 基於檢測出之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值，且基於經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
[18]如上述[17]之影像信號處理方法，其檢測配置於顯示面板之有效像素區域外之第2虛設像素之電流變化，且基於檢測出之電流之實際劣化量及檢測出之亮度之實際劣化量，修正預定之劣化預測值。
[19]一種顯示裝置，其包含影像信號處理電路，該影像信號處理電路包括：顯示面板，其包含配置於有效像素區域外之第1虛設像素；電流檢測部，其檢測第1虛設像素之電流變化；修正處理部，其基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值；及校正處理部，其基於藉由修正處理部經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
[20]如上述[19]之顯示裝置，其中顯示面板包含配置於有效像素區域外之第2虛設像素，且包含檢測第2虛設像素之亮度變化之亮度檢測部，修正處理部係基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量及亮度檢測部所檢測之亮度之實際劣化量，修正預定之劣化預測值。
1‧‧‧有機EL顯示裝置
10‧‧‧顯示面板模組(有機EL面板模組)
11‧‧‧資料驅動器
12‧‧‧閘極掃描驅動器
13‧‧‧有機EL面板
14‧‧‧時序控制器
15‧‧‧有效像素區域
16‧‧‧亮度劣化測定用虛設像素群
17‧‧‧灰度劣化測定用虛設像素群
20‧‧‧校正處理部
21‧‧‧信號處理部
22‧‧‧重像校正部
23‧‧‧增益校正部
24‧‧‧偏移校正部
25‧‧‧虛設像素圖案產生部
26‧‧‧信號輸出部
30‧‧‧修正處理部
31‧‧‧亮度感測器
32‧‧‧電流感測器
33‧‧‧虛設像素感測器控制部
34‧‧‧感測器信號處理部
35‧‧‧初始特性保持部
36‧‧‧亮度/灰度劣化算出部
37‧‧‧劣化量預測LUT保持部
38‧‧‧虛設像素劣化歷程累積部
39‧‧‧劣化量預測LUT修正值算出部
231‧‧‧亮度劣化預測LUT
232、242‧‧‧劣化歷程累積部
233‧‧‧亮度增益處理部
241‧‧‧灰度劣化預測LUT
243‧‧‧灰度偏移處理部

Claims (20)

  1. 一種影像信號處理電路，其包括：顯示面板，其包含配置於有效像素區域外之第1虛設像素；電流檢測部，其檢測第1虛設像素之電流變化；修正處理部，其基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值；及校正處理部，其基於藉由修正處理部經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
  2. 如請求項1之影像信號處理電路，其中電流檢測部所檢測之電流係流入將第1虛設像素之發光部進行驅動之電晶體之電流。
  3. 如請求項1之影像信號處理電路，其中顯示面板包含配置於有效像素區域外之第2虛設像素，且該影像信號處理電路包含檢測第2虛設像素之亮度變化之亮度檢測部，且修正處理部基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量、及亮度檢測部所檢測之亮度之實際劣化量，修正預定之劣化預測值。
  4. 如請求項1之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像素具有與有效像素同等之構成，且動作條件亦與有效像素相同。
  5. 如請求項1之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像素係於有效像素區域外設置1列以上。
  6. 如請求項1之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像素包含共用之像素。
  7. 如請求項1之影像信號處理電路，其中第1虛設像素及第2虛設像 素具有遮光結構。
  8. 如請求項1之影像信號處理電路，其中電流檢測部包括：檢測電阻，其連接於驅動第1虛設像素之驅動器之輸出端與對第1虛設像素供給電源電壓之電源供給線之間；及檢測放大器，其檢測產生於檢測電阻之兩端間之電壓值。
  9. 如請求項8之影像信號處理電路，其中顯示面板係成為自左右兩側被供給電源電壓之構成，且電流檢測部包含於檢測電流變化時將來自顯示面板之單側之電源電壓之供給阻斷之開關。
  10. 如請求項8之影像信號處理電路，其中電流檢測部包含將檢測電阻之兩端間選擇性地短路之開關。
  11. 如請求項1之影像信號處理電路，其中電流檢測部係於第1虛設像素之發光電流成為脈衝狀應答之情形時，與脈衝狀應答之發光電流同步地檢測電流變化。
  12. 如請求項1之影像信號處理電路，其中用以檢測電流變化之檢測圖案係將1條線分成複數個像素區塊，且包含亮度條件不同之1種以上之常時點亮像素區塊與非點亮像素區塊。
  13. 如請求項1之影像信號處理電路，其中用以檢測電流變化之檢測圖案包含1種以上之亮度條件之常時點亮像素與非點亮像素之組合而構成，且將該檢測圖案之區塊於1條線內週期性地配置複數個而成。
  14. 如請求項1之影像信號處理電路，其中第1虛設像素成為不具有發光部之構成。
  15. 如請求項1之影像信號處理電路，其中有效像素及虛設像素之發光部包含根據電流強度受到發光控制之電流驅動型發光元件。
  16. 如請求項15之影像信號處理電路，其中電流驅動型發光元件係 有機電致發光元件。
  17. 一種影像信號處理方法，其檢測配置於顯示面板之有效像素區域外之第1虛設像素之電流變化，基於檢測出之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值，且基於經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
  18. 如請求項17之影像信號處理方法，其檢測配置於顯示面板之有效像素區域外之第2虛設像素之電流變化，且基於檢測出之電流之實際劣化量及檢測出之亮度之實際劣化量，修正預定之劣化預測值。
  19. 一種顯示裝置，其包含影像信號處理電路，該影像信號處理電路包括：顯示面板，其包含配置於有效像素區域外之第1虛設像素；電流檢測部，其檢測第1虛設像素之電流變化；修正處理部，其基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量，修正預定之劣化預測值；及校正處理部，其基於藉由修正處理部經修正之劣化預測值，校正驅動有效像素之影像信號。
  20. 如請求項19之顯示裝置，其中顯示面板包含配置於有效像素區域外之第2虛設像素，且包含檢測第2虛設像素之亮度變化之亮度檢測部，修正處理部係基於電流檢測部所檢測之電流之實際劣化量及亮度檢測部所檢測之亮度之實際劣化量，修正預定之劣化預測值。
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Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102083486B1 (ko) * 2013-10-04 2020-05-28 삼성디스플레이 주식회사 잔상 제어부와 이의 구동 방법
JP2016012073A (ja) * 2014-06-30 2016-01-21 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
KR101920169B1 (ko) * 2014-07-23 2018-11-19 샤프 가부시키가이샤 표시 장치 및 그 구동 방법
CN104299569B (zh) * 2014-10-30 2019-03-01 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其驱动方法、显示装置
KR102316986B1 (ko) * 2014-12-09 2021-10-25 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시장치
KR102236561B1 (ko) * 2014-12-31 2021-04-07 삼성디스플레이 주식회사 열화 보상 장치, 이를 포함하는 표시 장치 및 열화 보상 방법
US20160267834A1 (en) * 2015-03-12 2016-09-15 Microsoft Technology Licensing, Llc Display diode relative age
KR102372041B1 (ko) * 2015-09-08 2022-03-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR102438779B1 (ko) * 2015-10-01 2022-09-02 삼성디스플레이 주식회사 타이밍 컨트롤러 및 그의 구동 방법
CN105206217B (zh) * 2015-10-27 2018-02-06 京东方科技集团股份有限公司 显示处理方法、装置及显示器件
US10388207B2 (en) 2016-06-05 2019-08-20 Novatek Microelectronics Corp. External compensation method and driver IC using the same
US10482820B2 (en) * 2016-06-21 2019-11-19 Novatek Microelectronics Corp. Method of compensating luminance of OLED and display system using the same
JP2018032018A (ja) * 2016-08-17 2018-03-01 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、表示モジュール及び電子機器
US10181278B2 (en) * 2016-09-06 2019-01-15 Microsoft Technology Licensing, Llc Display diode relative age
CN110383368B (zh) * 2017-03-15 2022-02-11 夏普株式会社 有机电致发光显示装置及其驱动方法
US10522084B2 (en) 2017-05-04 2019-12-31 Apple Inc. Adaptive pixel voltage compensation for display panels
CN109426041B (zh) * 2017-08-21 2020-11-10 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及显示装置
CN107424561B (zh) * 2017-08-30 2020-01-07 京东方科技集团股份有限公司 一种有机发光显示面板、其驱动方法及驱动装置
KR102516362B1 (ko) * 2017-12-19 2023-03-31 삼성전자주식회사 배터리 충전 방법 및 장치
TWI635474B (zh) * 2018-02-09 2018-09-11 友達光電股份有限公司 顯示裝置及其畫素偵測方法
US11574979B2 (en) * 2018-03-30 2023-02-07 Sharp Kabushiki Kaisha Display device
US10984713B1 (en) * 2018-05-10 2021-04-20 Apple Inc. External compensation for LTPO pixel for OLED display
CN108630140A (zh) * 2018-05-11 2018-10-09 京东方科技集团股份有限公司 像素电路、像素电路感测方法及显示面板
JP7446995B2 (ja) * 2018-06-06 2024-03-11 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US10943541B1 (en) 2018-08-31 2021-03-09 Apple Inc. Differentiating voltage degradation due to aging from current-voltage shift due to temperature in displays
KR102648198B1 (ko) * 2019-01-14 2024-03-19 삼성디스플레이 주식회사 잔상 보상부 및 이를 포함하는 표시 장치
CN110060649B (zh) * 2019-05-21 2022-12-06 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、显示装置以及像素阵列的驱动电路、驱动方法
CN110767179B (zh) * 2019-06-10 2020-11-24 惠科股份有限公司 一种背光控制方法、驱动模块和显示装置
JP7304765B2 (ja) 2019-08-06 2023-07-07 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線診断装置および医用画像処理装置
CN115485762A (zh) * 2020-05-01 2022-12-16 索尼集团公司 信号处理装置、信号处理方法和显示装置
JP2022021644A (ja) * 2020-07-22 2022-02-03 武漢天馬微電子有限公司 表示装置
KR20220026001A (ko) * 2020-08-24 2022-03-04 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이를 이용한 표시 패널의 영상 보상 방법
KR20220026661A (ko) * 2020-08-25 2022-03-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR20220093873A (ko) * 2020-12-28 2022-07-05 엘지디스플레이 주식회사 열화가 보상된 표시장치 및 이의 열화보상방법
KR20230034742A (ko) * 2021-09-03 2023-03-10 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 구동 회로 및 디스플레이 구동 방법

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69825402T2 (de) * 1997-03-12 2005-08-04 Seiko Epson Corp. Pixelschaltung, anzeigevorrichtung und elektronische apparatur mit stromgesteuerter lichtemittierender vorrichtung
US7274363B2 (en) * 2001-12-28 2007-09-25 Pioneer Corporation Panel display driving device and driving method
JP2003202837A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Pioneer Electronic Corp 表示パネルの駆動装置及び駆動方法
JP2003202836A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Pioneer Electronic Corp 表示パネルの駆動装置及び駆動方法
JP4534031B2 (ja) * 2003-03-06 2010-09-01 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 有機ｅｌ表示装置
US7450094B2 (en) * 2005-09-27 2008-11-11 Lg Display Co., Ltd. Light emitting device and method of driving the same
JP4946062B2 (ja) * 2006-01-11 2012-06-06 ソニー株式会社 自発光表示装置、見積もり劣化情報修正装置、入力表示データ補正装置及びプログラム
US8242985B2 (en) * 2007-12-11 2012-08-14 Sharp Kabushiki Kaisha Display device and method for manufacturing the same
JP4605261B2 (ja) * 2008-06-23 2011-01-05 ソニー株式会社 表示装置、表示装置の駆動方法および電子機器
JP5293367B2 (ja) * 2009-04-17 2013-09-18 セイコーエプソン株式会社 自発光表示装置および電子機器
JP5246433B2 (ja) * 2009-09-18 2013-07-24 ソニー株式会社 表示装置
JP2011076025A (ja) * 2009-10-02 2011-04-14 Sony Corp 表示装置、表示装置の駆動方法および電子機器
CA2692097A1 (en) * 2010-02-04 2011-08-04 Ignis Innovation Inc. Extracting correlation curves for light emitting device
JP5598053B2 (ja) * 2010-03-30 2014-10-01 ソニー株式会社 信号処理装置、表示装置、電子機器、信号処理方法およびプログラム
JP5440340B2 (ja) * 2010-04-09 2014-03-12 ソニー株式会社 画像表示装置及び画像表示方法
JP5534336B2 (ja) 2010-09-29 2014-06-25 カシオ計算機株式会社 光源ユニット及びプロジェクタ
JP2012141332A (ja) * 2010-12-28 2012-07-26 Sony Corp 信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器
JP2012141333A (ja) * 2010-12-28 2012-07-26 Sony Corp 信号処理装置、信号処理方法、表示装置及び電子機器
JP2012141456A (ja) * 2010-12-28 2012-07-26 Casio Comput Co Ltd 発光装置及びその駆動制御方法並びに電子機器
JP2012173489A (ja) * 2011-02-21 2012-09-10 Seiko Epson Corp 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
JP2015080075A (ja) * 2013-10-16 2015-04-23 ソニー株式会社 映像表示システム、外部装置および映像表示方法
KR102215204B1 (ko) * 2013-11-29 2021-02-16 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치, 그 보상 데이터 산출 방법 및 그 구동 방법

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