JP7304765B2 - Ｘ線診断装置および医用画像処理装置 - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置および医用画像処理装置に関する。
従来、Ｘ線管から被検体に対してＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線を検出器で検出することによってＸ線画像を撮像するＸ線診断装置が知られている。このようなＸ線診断装置では、検出器に入射したＸ線によって検出器に含まれる検出素子の感度が一時的に低下することによって、前に撮像された被写体の輪郭がＸ線画像に映り込む「ゴースト」と呼ばれる現象が発生する場合がある。また、このようなＸ線診断装置では、検出素子の劣化によって検出器の感度が不均一になる「焼き付き」等の現象も発生する場合がある。
従来においては、このようなゴーストや焼き付き等の現象が発生した場合に、Ｘ線画像を補正することが困難な場合があった。
特開２００３－１８５７５２号公報
本発明が解決しようとする課題は、Ｘ線画像を高精度に補正することである。
実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線照射部と、Ｘ線検出部と、生成部と、算出部と、補正部とを備える。Ｘ線照射部は、Ｘ線を照射する。Ｘ線検出部は、Ｘ線照射部によって照射されたＸ線を検出する。生成部は、照射期間にわたって照射されたＸ線の検出結果である第１の検出結果に基づいて、Ｘ線画像を生成する。算出部は、Ｘ線検出部の感度と、Ｘ線の照射条件と、Ｘ線の規定のパルス幅とに基づいて、照射期間の途中までのＸ線の検出結果である第２の検出結果の取得タイミングを算出する。補正部は、第２の検出結果に基づいて、Ｘ線画像を補正する。Ｘ線検出部は、シャッタ機能により、算出された取得タイミングまでに照射されたＸ線を検出する。
図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成の一例を示す図である。 図２は、第１の実施形態に係る処理タイミングの一例を示すタイムチャートである。 図３は、第１の実施形態に係る履歴情報の一例を示す図である。 図４は、第１の実施形態に係るＸ線画像の撮像および補正の処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図５は、第１の実施形態に係るゴースト補正処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図６は、第１の実施形態に係る焼き付き補正処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図７は、第１の実施形態に係る被照射Ｘ線量の算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図８は、第２の実施形態に係るＸ線画像の撮像および補正の処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図９は、第３の実施形態に係る医用画像処理装置の構成の一例を示す図である。
以下、図面を参照しながら、Ｘ線診断装置および医用画像処理装置の実施形態について詳細に説明する。
（第１の実施形態）
図１は、本実施形態に係るＸ線診断装置１０の構成の一例を示す図である。図１に示すように、Ｘ線診断装置１０は、Ｘ線高電圧装置１０１と、Ｘ線管１０２と、Ｘ線絞り器１０３と、天板１０４と、Ｃアーム１０５と、Ｘ線検出器１０６と、記憶回路１０７と、ディスプレイ１０８と、入力インターフェース１０９と、処理回路１１０とを備える。なお、本実施形態のＸ線診断装置１０は、医用画像処理装置ともいう。Ｘ線診断装置１０は、例えば、複数のＸ線画像を連続して撮像可能な動画対応のＸ線診断装置とするが、これに限定されるものではない。
Ｘ線高電圧装置１０１は、処理回路１１０による制御の下、Ｘ線管１０２に高電圧を供給する。例えば、Ｘ線高電圧装置１０１は、変圧器（トランス）および整流器等の電気回路を有し、Ｘ線管１０２に印加する高電圧を発生する高電圧発生装置と、Ｘ線管１０２が照射するＸ線に応じた出力電圧の制御を行うＸ線制御装置とを有する。なお、高電圧発生装置は、変圧器方式であっても良いし、インバータ方式であっても良い。
Ｘ線管１０２は、熱電子を発生する陰極（フィラメント）と、熱電子の衝突を受けてＸ線を発生する陽極（ターゲット）とを有する真空管である。Ｘ線管１０２は、Ｘ線高電圧装置１０１から供給される高電圧を用いて、陰極から陽極に向けて熱電子を照射することにより、Ｘ線を照射する。Ｘ線管１０２は、本実施形態におけるＸ線照射部の一例である。本実施形態においては、Ｘ線管１０２は、処理回路１１０によって設定された規定のパルス幅のＸ線を、複数回照射する。
Ｘ線絞り器１０３は、Ｘ線管１０２により照射されたＸ線の照射範囲を絞り込むコリメータと、Ｘ線管１０２から照射されたＸ線を調節するフィルタと、モータおよびアクチュエータ等の駆動機構とを有する。例えば、Ｘ線絞り器１０３は、後述する処理回路１１０による制御の下、駆動機構を動作させることにより、Ｘ線管１０２が発生させたＸ線を、被検体Ｐの関心領域（ＲＯＩ）に対して選択的に照射されるように絞り込む。
天板１０４は、被検体Ｐを載せるベッドであり、図示しない寝台装置の上に配置される。なお、被検体Ｐは、Ｘ線診断装置１０に含まれない。
Ｃアーム１０５は、Ｘ線管１０２およびＸ線絞り器１０３と、Ｘ線検出器１０６とを、被検体Ｐを挟んで対向するように保持する。例えば、Ｃアーム１０５は、モータおよびアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路１１０による制御の下、駆動機構を動作させることにより、回転したり移動したりする。なお、図１では、Ｘ線診断装置１０がシングルプレーンの場合を例に挙げて説明しているが、実施形態はこれに限定されるものではなく、バイプレーンの場合であっても良い。
Ｘ線検出器１０６は、Ｘ線管１０２によって照射されたＸ線を検出し、検出結果を処理回路１１０へ出力する。Ｘ線検出器１０６は、本実施形態におけるＸ線検出部の一例である。
Ｘ線検出器１０６は、例えば、マトリクス状に配列された複数の検出素子を有するＸ線平面検出器（Flat Panel Detector：ＦＰＤ）である。例えば、Ｘ線検出器１０６の複数の検出素子の各々は、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）センサと、シンチレータとを有する。各検出素子は、例えば、検出したＸ線を電荷に変換して蓄積し、蓄積した電荷を電圧または電流に変換して検出信号を生成する。各検出素子は、変換した検出信号を、Ｘ線の検出結果として処理回路１１０へ出力する。各検出素子は、検出結果に基づくＸ線画像の１画素に対応する。
また、Ｘ線検出器１０６の表面には、検出素子に入射する散乱線の線量を低減するグリッドが設けられている。グリッドは、例えば、Ｘ線を透過するアルミニウム等の箔と、Ｘ線を吸収する鉛等の箔とが交互に配置されたパターン構造を有するものとする。
散乱線は、Ｘ線管１０２から照射されたＸ線のうち、被検体Ｐを通過し、通過の際に被検体Ｐによって散乱されたＸ線である。これに対して、Ｘ線管１０２から照射されたＸ線のうち、Ｘ線管１０２の焦点から検出素子に対して直線的に入射するＸ線を、直接線という。
また、Ｘ線検出器１０６は、処理回路１１０による制御の下、Ｘ線の検出結果を任意の取得タイミングで取得可能な電気的なシャッタ機能を有する。例えば、Ｘ線検出器１０６は、Ｘ線管１０２によるＸ線の照射中、つまり、Ｘ線管１０２によるＸ線の照射と並行して、検出素子から取得タイミングまでに照射されたＸ線の検出結果を読み出して処理回路１１０へ出力する。シャッタ機能は公知の技術を採用可能であり、例えば、ＣＭＯＳセンサの電子シャッタ機能を利用しても良い。
また、Ｘ線検出器１０６は、複数段階のＸ線の感度設定を有する。Ｘ線検出器１０６は、処理回路１１０に基づいて、Ｘ線の感度設定を変更可能であるものとする。
記憶回路１０７は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。例えば、記憶回路１０７は、処理回路１１０によって生成されたＸ線画像データ（以下、Ｘ線画像データを、単に“Ｘ線画像”という）を記憶する。また、記憶回路１０７は、後述の第２の検出結果に基づく補正用Ｘ線画像の画素領域ごとのＸ線量の時系列の履歴情報を記憶する。当該画素領域は、例えば、予め定められた大きさの画素領域でも良いし、１画素単位でも良い。また、記憶回路１０７は、処理回路１１０によって読み出されて実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。記憶回路１０７は、記憶部の一例である。
ディスプレイ１０８は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ１０８は、処理回路１１０による制御の下、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩや、各種のＸ線画像を表示する。例えば、ディスプレイ１０８は、液晶ディスプレイやＣＲＴディスプレイである。なお、ディスプレイ１０８はデスクトップ型でも良いし、処理回路１１０と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。ディスプレイ１０８は、表示部ともいう。
入力インターフェース１０９は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路１１０に出力する。例えば、入力インターフェース１０９は、マウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、音声入力回路等により実現される。なお、入力インターフェース１０９は、処理回路１１０と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、入力インターフェース１０９は、マウスやキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、Ｘ線診断装置１０とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路１１０へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース１０９の例に含まれる。
処理回路１１０は、記憶回路１０７からプログラムを読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。本実施形態の処理回路１１０は、受付機能１１１と、決定機能１１２と、第１の算出機能１１３と、撮像制御機能１１４と、取得機能１１５と、生成機能１１６と、第２の算出機能１１７と、補正機能１１８と、表示制御機能１１９とを備える。受付機能１１１は、受付部の一例である。決定機能１１２は、決定部の一例である。第１の算出機能１１３は、第１の算出部の一例である。また、第１の算出機能１１３は、算出部の一例でもある。撮像制御機能１１４は、撮像制御部の一例である。取得機能１１５は、取得部の一例である。生成機能１１６は、生成部の一例である。第２の算出機能１１７は、第２の算出部の一例である。補正機能１１８は、補正部の一例である。表示制御機能１１９は、表示制御部の一例である。
ここで、例えば、処理回路１１０の構成要素である受付機能１１１と、決定機能１１２と、第１の算出機能１１３と、撮像制御機能１１４と、取得機能１１５と、生成機能１１６と、第２の算出機能１１７と、補正機能１１８と、表示制御機能１１９とは、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路１０７に記憶されている。処理回路１１０は、各プログラムを記憶回路１０７から読み出し、読み出した各プログラムを実行することで、各プログラムに対応する機能を実現する。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路１１０は、図１の処理回路１１０内に示された各機能を有することとなる。なお、図１においては、単一の処理回路１１０にて、受付機能１１１、決定機能１１２、第１の算出機能１１３、撮像制御機能１１４、取得機能１１５、生成機能１１６、第２の算出機能１１７、補正機能１１８、および表示制御機能１１９の各処理機能が実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路１１０を構成し、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても良い。
上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、およびフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。なお、記憶回路１０７にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。
受付機能１１１は、入力インターフェース１０９を介して、操作者による各種の操作を受け付ける。例えば、受付機能１１１は、操作者による撮像開始の操作、関心領域を指定する操作、または各種の撮像条件の入力等の操作を受け付ける。受付機能１１１は、受け付けた操作の内容を、撮像制御機能１１４、および第１の算出機能１１３に送出する。
決定機能１１２は、受付機能１１１によって受け付けられた関心領域および各種の撮像条件に基づいて、自動輝度調整（Automatic Brightness Control：ＡＢＣ）により、Ｘ線の照射条件と、Ｘ線のパルス幅とを決定する。Ｘ線の照射条件は、例えば、Ｘ線管の管電圧、管電流等である。ここで、自動輝度調整によって決定されるパルス幅は、表示用Ｘ線画像の撮像用のパルス幅である。表示用Ｘ線画像については、後述する。以下、表示用Ｘ線画像の撮像用のパルス幅を「規定のパルス幅」という。なお、Ｘ線のパルス幅は、Ｘ線の照射条件に含まれるのとしても良い。規定のパルス幅は、本実施形態における照射期間の一例である。
また、決定機能１１２は、自動露出制御（Automatic Exposure Control：ＡＥＣ）によってＸ線の照射条件およびＸ線のパルス幅を決定しても良い。なお、決定機能１１２は、Ｘ線管１０２がＸ線のパルスを連続して照射するように照射条件を決定しても良いし、パルスを一回のみ照射するように照射条件を決定しても良い。決定機能１１２は、決定した照射条件を第１の算出機能１１３、および撮像制御機能１１４に送出する。
また、決定機能１１２は、各種の撮像条件に基づいて、Ｘ線検出器１０６の感度設定を決定する。決定機能１１２は、決定した感度設定を、第１の算出機能１１３、第２の算出機能１１７、および撮像制御機能１１４に送出する。
第１の算出機能１１３は、決定機能１１２によって決定されたＸ線検出器１０６の感度と、Ｘ線の照射条件と、規定のパルス幅とに基づいて、Ｘ線の照射中の検出結果、つまり規定のパルス幅の途中までのＸ線の検出結果の取得タイミングを算出する。以下、規定のパルス幅の途中で取得される検出結果を第２の検出結果という。また、規定のパルス幅の途中における検出結果の取得タイミングを、第２のタイミングという。なお、第１のタイミングについては後述する。
第２のタイミングにおいては、規定のパルス幅のＸ線の照射が完了していないため、規定のパルス幅のＸ線の照射の完了後よりも、Ｘ線検出器１０６の検出素子に照射されたＸ線の量が少ない。本実施形態においては、第２のタイミングは、規定のパルス幅の数分の１とする。例えば、第２のタイミングは、規定のパルス幅の１０分の１とするが、これに限定されるものではない。例えば、第２のタイミングは、Ｘ線管１０２から照射されたＸ線が、Ｘ線検出器１０６の検出素子の最大入線量を超過しないタイミングとする。
例えば、Ｘ線管１０２から照射されたＸ線のうち、被検体Ｐを通過せずに、直接検出素子に入射するＸ線がある。規定のパルス幅ｗのＸ線が照射されると、被検体Ｐを通過しないＸ線の照射を直接受けた検出素子においては、被照射Ｘ線量が検出素子の最大入線量を超過する場合がある。このような場合は、Ｘ線画像において、被照射Ｘ線量が検出素子の最大入線量を超過した検出素子に相当する画面領域にハレーションが発生する。この場合、検出可能なＸ線量を超えた検出素子においては、検出値（画素値）がクリップされ、正確な被照射Ｘ線量が不明となる。このため、第２のタイミングは、補正用Ｘ線画像にハレーションが発生しないように、Ｘ線検出器１０６の検出素子の最大入線量を超過しないタイミングとする。
ハレーションが発生するタイミングは、Ｘ線検出器１０６の感度設定と、Ｘ線の照射条件によって異なるため、第１の算出機能１１３は、Ｘ線検出器１０６の感度と、Ｘ線の照射条件とに応じて、第２のタイミングを調整する。
図２は、本実施形態に係る処理タイミングの一例を示すタイムチャートである。図２に示すパルス幅ｗは、規定のパルス幅である。また、タイミングｔ０は、Ｘ線管１０２によるＸ線の照射開始のタイミングを示す。図２に示す時間ｔ２は、第２のタイミングの一例であり、Ｘ線の照射が開始されたタイミングｔ０から、規定のパルス幅ｗよりも短い時間間隔ｗ１が経過したタイミングである。第１の算出機能１１３は、算出した第２のタイミングｔ２を、撮像制御機能１１４に送出する。
図１に戻り、撮像制御機能１１４は、Ｘ線高電圧装置１０１、Ｘ線管１０２、Ｘ線絞り器１０３、およびＸ線検出器１０６を制御してＸ線画像の撮像処理を実行する。例えば、撮像制御機能１１４は、決定機能１１２によってＸ線の照射条件として決定された管電圧、管電流等と、規定のパルス幅ｗとに基づいて、Ｘ線高電圧装置１０１、Ｘ線管１０２、およびＸ線絞り器１０３を制御する。
また、撮像制御機能１１４は、Ｘ線検出器１０６を制御して、Ｘ線のパルスの照射の前に、Ｘ線検出器１０６の検出素子に蓄積された電荷をリセットする。
また、撮像制御機能１１４は、第１の算出機能１１３によって算出された第２のタイミングｔ２で、Ｘ線検出器１０６のシャッタ機能を制御してＸ線の検出結果を出力させる。第２のタイミングｔ２におけるＸ線の検出結果を、第２の検出結果という。例えば、図２に示したように、撮像制御機能１１４は、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射中である第２のタイミングｔ２で、Ｘ線検出器１０６に、第２の検出結果を出力させる。
また、撮像制御機能１１４は、Ｘ線検出器１０６を制御して、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射後に、Ｘ線の検出結果を出力させる。本実施形態においては、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射後のタイミングを、第１のタイミングｔ１という。また、第１のタイミングｔ１におけるＸ線の検出結果を、第１の検出結果という。換言すれば、第１の検出結果は、照射期間（既定のパルス幅ｗ）にわたって照射されたＸ線の検出結果である。
第１のタイミングｔ１は、例えば、図２に示すように、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射の完了後、かつ、Ｘ線検出器１０６に蓄積された電荷がリセットされる前の、Ｘ線が照射されていないタイミングである。なお、本実施形態においては、第１のタイミングｔ１における検出では、シャッタ機能を使用しないものとする。
図１に戻り、取得機能１１５は、第１のタイミングｔ１における第１の検出結果と、第２のタイミングｔ２における第２の検出結果とをＸ線検出器１０６から取得する。以下、第１の検出結果と、第２の検出結果とを特に区別しない場合は、単に検出結果という。取得機能１１５は、取得した検出結果を、生成機能１１６に送出する。
生成機能１１６は、取得機能１１５によって取得された第１の検出結果に基づいて表示用Ｘ線画像を生成し、生成した表示用Ｘ線画像を記憶回路１０７に格納する。また、生成機能１１６は、取得機能１１５によって取得された第２の検出結果に基づいて補正用Ｘ線画像を生成し、生成した補正用Ｘ線画像を記憶回路１０７に格納する。
第２の算出機能１１７は、補正用Ｘ線画像から所定の画素領域ごとのＸ線量を算出し、算出結果を撮像時刻および撮像回数と対応付けて、時系列の履歴情報として記憶回路１０７に保存する。本実施形態の履歴情報は、第２の検出結果に基づく前記Ｘ線量の積算値である。
所定の画素領域は、複数画素を含むものとしても良いし、１画素単位としても良い。一例として、所定の画素領域は、横方向に２画素、縦方向に２画素の２画素×２画素の領域とする。
図３は、本実施形態に係る履歴情報１０７１の一例を示す図である。図３に示すように、履歴情報は、Ｘ線の曝射時刻（照射時刻）と、検出回数と、所定の画素領域と、被照射Ｘ線量の積算値とが対応付けられている。
曝射時刻は、複数回の撮像の各々においてＸ線検出器１０６がＸ線の曝射（照射）を開始した時刻である。なお、曝射時刻の代わりに、複数回の撮像の各々における第２のタイミングｔ２を示す検出時刻が履歴情報１０７１に含まれても良い。検出時刻から、時間間隔ｗ１を減算すると、曝射時刻（タイミングｔ０）となる。検出時刻は、補正用Ｘ線画像の撮像時刻ともいう。
また、検出回数は、補正用Ｘ線画像の基となる第２の検出結果が検出された回数である。検出回数は、補正用Ｘ線画像の撮像回数ともいう。
また、履歴情報１０７１に登録された被照射Ｘ線量の積算値は、所定の画素領域に対応する１または複数の検出素子が、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射を受けた場合の被照射Ｘ線量の、過去の照射回数分の積算値である。また、１回の照射における被照射Ｘ線量は、所定の画素領域に対応する１または複数の検出素子が、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射を受けた場合のＸ線量である。具体的には、第２の算出機能１１７は、補正用Ｘ線画像を規定のパルス幅ｗ分のＸ線画像に変換し、該変換結果に基づいて、複数の所定の画素領域の各々の被照射Ｘ線量を算出する。当該変換は、規定のパルス幅ｗと時間間隔ｗ１との比に基づくものであり、具体的には、第２の算出機能１１７は、“ｗ／ｗ１”の値を補正用Ｘ線画像に乗算する。
例えば、第２のタイミングｔ２が規定のパルス幅ｗの１０分の１である場合、第２の算出機能１１７は、補正用Ｘ線画像の複数の所定の画素領域の各々のデータを１０倍することで、補正用Ｘ線画像を、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射を受けた場合のＸ線画像に変換する。また、第２の算出機能１１７は、変換したＸ線画像と、曝射時刻または検出時刻におけるＸ線検出器１０６の感度設定とに基づいて、所定の画素領域に対応する１または複数の検出素子が受けた被照射Ｘ線量を算出する。
第２の算出機能１１７は、補正用Ｘ線画像の撮像毎に、被照射Ｘ線量を算出し、算出した被照射Ｘ線量を過去の被照射Ｘ線量に加算した被照射Ｘ線量の積算値を、曝射時刻、検出回数、および所定の画素領域と対応付けて、履歴情報１０７１として記憶回路１０７に保存する。
また、履歴情報１０７１の登録内容は、定期メンテナンス等でキャリブレーションが実行された場合に、削除されるものとする。このため、履歴情報１０７１の検出回数は、前回のキャリブレーションが実行された後の検出回数となる。つまり、キャリブレーションが実行された後の最初の第２の検出結果の検出が、検出回数“１”となる。
図１に戻り、補正機能１１８は、第２のタイミングｔ２におけるＸ線の第２の検出結果に基づいて、表示用Ｘ線画像を補正する。より詳細には、補正機能１１８は、第２の検出結果に基づく補正用Ｘ線画像の所定の画素領域ごとのＸ線量の時系列の履歴情報１０７１を記憶回路１０７から読み出し、履歴情報１０７１に基づいて、表示用Ｘ線画像を補正する。
ここで、本実施形態においては、補正対象となるアーチファクトは、「ゴースト」と呼ばれるアーチファクトと、「焼き付き」と呼ばれるアーチファクトである。
「ゴースト」は、Ｘ線検出器１０６に照射されたＸ線によってＸ線検出器１０６に含まれる検出素子の感度が一時的に低下することによって、前回以前に撮像された被写体の輪郭がＸ線画像に映り込む現象である。ゴーストは、検出素子の感度が時間の経過と共に回復することにより緩和または消滅する。ゴーストの消滅にかかる時間は、一般的に、Ｘ線の照射から１～２日であるが、これに限定されるものではない。
また、「焼き付き」は、Ｘ線検出器１０６に照射されたＸ線によって検出素子が劣化することにより、Ｘ線検出器１０６に含まれる複数の検出素子の感度が不均一になる現象である。なお、Ｘ線検出器１０６に含まれる複数の検出素子の感度が不均一になることを、Ｘ線検出器１０６に感度ムラが生じるともいう。焼き付きは、検出素子の劣化によって生じるため、時間が経過しても回復しない。また、１回のＸ線の照射によって生じた焼き付きによる検出素子の感度の低下の度合は、１回のＸ線の照射によって生じたゴーストによる検出素子の感度の低下の度合よりも小さいものとする。
補正機能１１８は、ゴーストを補正するために、履歴情報１０７１に基づいて、時間の経過に伴うＸ線検出器１０６の感度の回復を加味した補正係数を算出し、該補正係数に基づいて、表示用Ｘ線画像を補正する。時間の経過に伴うＸ線検出器１０６の感度の回復は、換言すると、時間の経過に伴うゴーストの減衰である。
例えば、補正機能１１８は、下記の式（１）に履歴情報１０７１を入力することによって、時間の経過に伴うゴーストの減衰を加味した積算線量を算出する。
Figure 0007304765000001
Ｇ（ｘ，ｙ，ｎ）は、Ｘ線検出器１０６によるｎ回目の検出後（つまり、前回のキャリブレーションからｎ回目のＸ線の曝射後）におけるゴーストの減衰を加味した所定の画素領域ごとの被照射Ｘ線量の積算線量である。Ｇ（ｘ，ｙ，ｎ）は、所定の画素領域ごとのゴーストの程度を示す指標ともいう。ｘとｙは、Ｘ線画像上の所定の画素領域を示す座標である。
また、λは、時間の経過に伴うゴーストの減衰を示す時定数である。Δｔは、Ｘ線管１０２によるｎ－１回目とｎ回目の曝射の時間間隔である。Ｒ（ｘ，ｙ，ｎ）は、ｎ回目の曝射における被照射Ｘ線量である。なお、Ｒ（ｘ，ｙ，ｎ）は、上述の第２の算出機能１１７によって、補正用Ｘ線画像が規定のパルス幅ｗと時間間隔ｗ１との比とに基づいて変換された結果である。
すなわち、Ｘ線検出器１０６によるｎ回目の検出後におけるゴーストの減衰を加味した所定の画素領域ごとの被照射Ｘ線量の積算線量は、ｎ－１回目までのゴーストの減衰を加味した所定の画素領域ごとの被照射Ｘ線量の積算線量にｎ回目の曝射における被照射Ｘ線量を加算した値となる。
そして、補正機能１１８は、式（１）で得た時間の経過に伴うゴーストの減衰を加味した積算線量に基づいて、感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）とを算出する。
本実施形態においては、補正機能１１８は、第１の検出結果に基づく表示用Ｘ線画像を、該第１の検出結果が検出されたパルスよりも前のパルスに基づく第２の検出結果に基づいて補正する。例えば、補正機能１１８は、今回のＸ線の照射後の第１のタイミングにおける第１の検出結果に基づく表示用Ｘ線画像を、前回のＸ線の照射中の第２のタイミングｔ２における第２の検出結果に基づいて補正する。つまり、補正機能１１８は、前回の曝射までの積算線量に基づいて今回の曝射によって撮像された表示用Ｘ線画像を補正する。
このため、ｎ回目の曝射によって得られた表示用Ｘ線画像を補正する場合には、補正機能１１８は、ｎ－１回目までのゴーストの減衰を加味した積算線量Ｇ（ｘ，ｙ，ｎ－１）から、感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）とを算出する。例えば、ゴーストの減衰を加味した積算線量Ｇ（ｘ，ｙ，ｎ－１）の値と、感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）の値と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）の値とが予め対応付けられて記憶回路１０７に記憶されているものとする。なお、ゴーストの減衰を加味した積算線量Ｇ（ｘ，ｙ，ｎ－１）の値から、ａ（ｘ，ｙ，ｎ）の値と、ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）の値とを算出する数式が補正機能１１８に組み込まれていても良い。
そして、補正機能１１８は、算出した感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）とを用いて、表示用Ｘ線画像を補正する。
例えば、下記の式（２）に示すように、補正機能１１８は、ｎ回目の曝射で撮像された表示用Ｘ線画像Ｉｏｒｉｇ．（ｘ，ｙ，ｎ）に、感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）を乗算し、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）を加算することにより、補正後の表示用Ｘ線画像Ｉｃｏｒｒ．（ｘ，ｙ，ｎ）を得る。
Figure 0007304765000002
式（２）では、補正機能１１８は、感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）で表示用Ｘ線画像を補正することにより、Ｘ線の入射によって低下した検出素子の感度を補い、ゴーストの発生を低減している。
また、例えば、補正機能１１８は、焼き付きを補正するために、履歴情報１０７１に基づいて、第２の検出結果に基づく被照射Ｘ線量の積算値を算出し、該積算値に基づいて、表示用Ｘ線画像を補正する。
例えば、補正機能１１８は、下記の式（３）に履歴情報１０７１を入力することによって、時間の経過に伴う積算線量Ｇ´（ｘ，ｙ，ｎ）を算出する。焼き付きは時間によって減衰しないため、式（３）では、時間の経過に伴う減衰は加味しない。
Figure 0007304765000003
そして、補正機能１１８は、式（３）で得た積算線量に基づいて、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）を算出する。焼き付きの補正では、オフセットの補正は実施しない。また、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）は、ゴーストの補正で使用された感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）よりも小さい値とする。補正機能１１８は、ｎ－１回目までの積算線量Ｇ´（ｘ，ｙ，ｎ－１）から、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）を算出する。例えば、積算線量Ｇ´（ｘ，ｙ，ｎ－１）の値と、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）の値とが予め対応付けられて記憶回路１０７に記憶されても良いし、積算線量Ｇ´（ｘ，ｙ，ｎ－１）の値から、ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）の値を算出する数式が補正機能１１８に組み込まれていても良い。
そして、補正機能１１８は、算出した感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）を用いて、表示用Ｘ線画像を補正する。例えば、下記の式（４）に示すように、補正機能１１８は、ｎ回目の曝射で撮像された表示用Ｘ線画像Ｉｏｒｉｇ．（ｘ，ｙ，ｎ）に、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）を乗算することにより、補正後の表示用Ｘ線画像Ｉｃｏｒｒ．（ｘ，ｙ，ｎ）を得る。
Figure 0007304765000004
なお、ゴーストの補正と焼き付きの補正の両方を行う場合には、補正機能１１８は、例えば、式（２）によって算出された補正後の表示用Ｘ線画像Ｉｃｏｒｒ．（ｘ，ｙ，ｎ）を、式（４）の表示用Ｘ線画像Ｉｏｒｉｇ．（ｘ，ｙ，ｎ）として入力しても良い。
なお、本実施形態においては、補正機能１１８は、前回の曝射までの積算線量に基づいて今回の表示用Ｘ線画像を補正するものとしたが、今回の曝射までの積算線量に基づいて今回の表示用Ｘ線画像を補正しても良い。この場合、補正機能１１８は、ｎ回目までのゴーストの減衰を加味した積算線量Ｇ（ｘ，ｙ，ｎ）から、感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）とを算出する。また、この場合、補正機能１１８は、ｎ回目までの積算線量Ｇ´（ｘ，ｙ，ｎ）から、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）を算出する。
また、補正機能１１８は、表示用Ｘ線画像に対して、その他のノイズ補正処理等を実行しても良い。補正機能１１８は、補正後の表示用Ｘ線画像を、表示制御機能１１９に送出する。
表示制御機能１１９は、補正後の表示用Ｘ線画像を、ディスプレイ１０８に表示する。
次に、以上のように構成された本実施形態のＸ線診断装置１０で実行されるＸ線画像の撮像および補正の処理の流れについて説明する。
図４は、本実施形態に係るＸ線画像の撮像および補正の処理の流れの一例を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、例えば、受付機能１１１が、操作者による撮像開始の操作を受け付けた場合に開始する。
まず、決定機能１１２は、受付機能１１１によって受け付けられた関心領域および各種の撮像条件に基づいて、自動輝度調整または自動露出制御によって、Ｘ線管の管電圧、管電流等のＸ線の照射条件と、Ｘ線の規定のパルス幅ｗとを決定する（Ｓ１）。
次に、第１の算出機能１１３は、規定のパルス幅ｗと、Ｘ線のその他の照射条件と、Ｘ線管１０２の感度と、に基づいて、Ｘ線の照射中における検出結果の取得タイミング（第２のタイミングｔ２）を算出する（Ｓ２）。
次に、撮像制御機能１１４は、Ｘ線検出器１０６に、算出された第２のタイミングｔ２と、規定のパルス幅ｗに基づく表示用画像の撮像用の検出結果の取得タイミング（第１のタイミングｔ１）とを設定する（Ｓ３）。
次に、撮像制御機能１１４は、Ｘ線検出器１０６を制御して、Ｘ線検出器１０６の検出素子に蓄積された電荷をリセットする（Ｓ４）。
次に、撮像制御機能１１４は、Ｘ線高電圧装置１０１、Ｘ線管１０２、およびＸ線絞り器１０３を制御して、Ｘ線の照射（曝射）を開始する（Ｓ５）。
Ｘ線検出器１０６は、Ｘ線の照射の開始から、撮像制御機能１１４によって設定された第２のタイミングｔ２に至ったか否かを判断する（Ｓ６）。Ｘ線検出器１０６は、第２のタイミングｔ２に至っていないと判断した場合は（Ｓ６“Ｎｏ”）、Ｓ６の処理を繰り返して待機する。
また、Ｘ線検出器１０６は、第２のタイミングｔ２に至ったと判断した場合（Ｓ６“Ｙｅｓ”）、シャッタ機能により、第２のタイミングｔ２までに照射されたＸ線の検出結果を、第２の検出結果として取得する（Ｓ７）。Ｘ線検出器１０６は、第２の検出結果を処理回路１１０に送出する。
処理回路１１０の取得機能１１５は、第２の検出結果をＸ線検出器１０６から取得する。生成機能１１６は、取得機能１１５によって取得された第２の検出結果に基づいて補正用Ｘ線画像を生成し、生成した補正用Ｘ線画像を記憶回路１０７に保存する（Ｓ８）。
Ｘ線管１０２は、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射を終了する（Ｓ９）。そして、Ｘ線検出器１０６は、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射の終了後の第１のタイミングｔ１で、第１の検出結果を取得する（Ｓ１０）。Ｘ線検出器１０６は、第１の検出結果を処理回路１１０に送出する。
処理回路１１０の取得機能１１５は、第１の検出結果をＸ線検出器１０６から取得する。生成機能１１６は、取得機能１１５によって取得された第１の検出結果に基づいて表示用Ｘ線画像を生成し、生成した表示用Ｘ線画像を記憶回路１０７に保存する（Ｓ１１）。なお、この時点の表示用Ｘ線画像は、補正前の表示用Ｘ線画像である。
次に、補正機能１１８は、表示用Ｘ線画像に対してゴースト補正処理を実行する（Ｓ１２）。ゴースト補正処理の詳細については、図５で後述する。
また、補正機能１１８は、ゴースト補正処理後の表示用Ｘ線画像に対して焼き付き補正処理を実行する（Ｓ１３）。焼き付き補正処理の詳細については、図６で後述する。
次に、表示制御機能１１９は、補正後の表示用Ｘ線画像を、ディスプレイ１０８に表示する。
そして、第２の算出機能１１７は、Ｓ８で生成された補正用Ｘ線画像に基づいて被照射Ｘ線量の算出処理を実行する（Ｓ１５）。被照射Ｘ線量の算出処理の詳細については、図７で後述する。なお、被照射Ｘ線量の算出処理は、Ｓ１４の処理の後ではなく、Ｓ９～Ｓ１４と並行して実行されても良い。第２の算出機能１１７によって算出された被照射Ｘ線量は、履歴情報１０７１として記憶回路１０７に保存され、次回のＸ線撮像におけるゴースト補正処理および焼き付き補正処理に使用される。ここで、このフローチャートの処理は終了する。
なお、このフローチャートでは、撮像の開始前に、撮像制御機能１１４がＸ線検出器１０６に、第１のタイミングｔ１と、第２のタイミングｔ２とを設定するものとしたが、第１のタイミングｔ１または第２のタイミングｔ２になった際に、撮像制御機能１１４がＸ線検出器１０６に、検出の指示をするものとしても良い。
例えば、撮像制御機能１１４は、Ｓ６において、第２のタイミングｔ２になったか否かを判断し、第２のタイミングｔ２になったかと判断した場合に、Ｘ線検出器１０６を制御してシャッタ機能によって第２の検出結果を取得させても良い。また、撮像制御機能１１４は、Ｓ１０において、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射の終了後の第１のタイミングｔ１で、Ｘ線検出器１０６を制御して第１の検出結果を取得させても良い。
次に、ゴースト補正処理の流れについて説明する。
図５は、本実施形態に係るゴースト補正処理の流れの一例を示すフローチャートである。まず、補正機能１１８は、式（１）に履歴情報１０７１を入力することによって、時間の経過に伴うゴーストの減衰を加味した積算線量を算出する（Ｓ１２１）。ここで求められる時間の経過に伴うゴーストの減衰を加味した積算線量は、前回の曝射までの積算線量とする。
例えば、図５のフローチャートの処理が、１０回目の曝射後（今回の曝射）に実行されている場合、履歴情報１０７１には、９回目の曝射（前回の曝射）までの被照射Ｘ線量が保存されている。補正機能１１８は、式（１）に、ｎ＝９として、１回目の曝射から９回目の曝射までの、時間の経過に伴うゴーストの減衰を加味した積算線量を算出する。
次に、補正機能１１８は、式（１）で得た時間の経過に伴うゴーストの減衰を加味した積算線量に基づいて、感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）とを算出する（Ｓ１２２）。
そして、補正機能１１８は、表示用Ｘ線画像を、ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）とによって補正する（Ｓ１２３）。これにより、補正前の表示用Ｘ線画像におけるゴーストによるアーチファクトが軽減される。ここで、このフローチャートの処理は終了し、図４のフローに戻る。
次に、焼き付き補正処理の流れについて説明する。
図６は、本実施形態に係る焼き付き補正処理の流れの一例を示すフローチャートである。まず、補正機能１１８は、式（３）に履歴情報１０７１を入力することによって、前回の曝射までの積算線量を算出する（Ｓ１３１）。
次に、補正機能１１８は、式（３）で得た積算線量に基づいて、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）を算出する（Ｓ１３２）。
そして、補正機能１１８は、ゴースト補正後の表示用Ｘ線画像を、感度補正係数ａ´（ｘ，ｙ，ｎ）によって補正する（Ｓ１３３）。これにより、ゴースト補正後の表示用Ｘ線画像における焼き付きによるアーチファクトが軽減される。ここで、このフローチャートの処理は終了し、図４のフローに戻る。
なお、図４～図６のフローチャートでは、ゴースト補正の後に焼き付き補正が実施されるものとしたが、ゴースト補正と焼き付き補正の順番は逆でも良い。また、補正機能１１８は、ゴースト補正と焼き付き補正のいずれか一方のみを実行しても良い。
次に、被照射Ｘ線量の算出処理の流れについて説明する。
図７は、本実施形態に係る被照射Ｘ線量の算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。
まず、第２の算出機能１１７は、補正用Ｘ線画像を、規定のパルス幅ｗ分のＸ線画像に変換する（Ｓ１５１）。
次に、第２の算出機能１１７は、Ｓ１５１の処理で変換したＸ線画像と、補正用Ｘ線画像の撮像時（つまり、第２のタイミングｔ２）におけるＸ線検出器１０６の感度設定とに基づいて、所定の画素領域ごとの被照射Ｘ線量を算出する（Ｓ１５２）。
そして、第２の算出機能１１７は、算出した所定の画素領域ごとの被照射Ｘ線量を、履歴情報１０７１として記憶回路１０７に保存する（Ｓ１５３）。例えば、第２の算出機能１１７は、図３に示したように、算出した被照射Ｘ線量を、曝射時刻、検出回数、および所定の画素領域と対応付けて、履歴情報１０７１として記憶回路１０７に保存する。ここで、このフローチャートの処理は終了し、図４のフローに戻る。
このように、本実施形態のＸ線診断装置１０では、照射期間にわたって照射されたＸ線の検出結果である第１の検出結果に基づく表示用Ｘ線画像を、照射期間の途中までのＸ線の検出結果である第２の検出結果に基づいて補正する。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、照射期間にわたって照射されるＸ線の全量が照射されていない状態、つまりハレーションの発生が低減された状態の第２の検出結果を用いて表示用Ｘ線画像を補正することにより、表示用Ｘ線画像を高精度に補正することができる。
例えば、上述したように、規定のパルス幅ｗのＸ線が照射されると、被検体Ｐを通過しないＸ線の照射を直接受けた検出素子においては、被照射Ｘ線量が検出素子の最大入線量を超過する場合がある。このような場合は、Ｘ線画像において、被照射Ｘ線量が検出素子の最大入線量を超過した検出素子に相当する画面領域にハレーションが発生する。この場合、検出可能なＸ線量を超えた検出素子においては、検出値がクリップされ、正確な被照射Ｘ線量が不明となる。これに対して、本実施形態のＸ線診断装置１０は、Ｘ線の照射中である第２のタイミングｔ２で検出した第２の検出結果を補正に使用するため、検出値がクリップされた状態にならず、正確な被照射Ｘ線量を算出可能である。ゴーストや焼き付きといった現象は、検出素子に入射したＸ線によって検出素子の感度が一時的に低下したり、不可逆的に劣化したりすることによって発生する。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０は、正確な被照射Ｘ線量に基づいて表示用Ｘ線画像を補正することにより、表示用Ｘ線画像を高精度に補正することができる。
また、本実施形態のＸ線診断装置１０は、記憶回路１０７に保存された第２の検出結果に基づく画素領域ごとのＸ線量の時系列の履歴情報１０７１に基づいて、表示用Ｘ線画像を補正する。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、複数回の曝射によって蓄積された検出素子の感度の一時的な低下または検出素子の劣化を加味して表示用Ｘ線画像を補正することにより、表示用Ｘ線画像をより高精度に補正することができる。
また、本実施形態の履歴情報１０７１は、第２の検出結果に基づくＸ線量の積算値であり、本実施形態のＸ線診断装置１０は、Ｘ線量の積算値に基づいて、表示用Ｘ線画像を補正する。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、焼き付きのように、検出素子に入射したＸ線の総量に伴って劣化が進行することによって表示用Ｘ線画像に現れるアーチファクトを高精度に補正することができる。
また、本実施形態のＸ線診断装置１０は、履歴情報１０７１に基づいて、時間の経過に伴うＸ線検出器１０６の感度の回復を加味した補正係数を算出し、該補正係数に基づいて、表示用Ｘ線画像を補正する。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、時間の経過に伴うＸ線検出器１０６の感度の回復、つまり時間の経過に伴うゴーストの減衰を加味した感度補正係数ａ（ｘ，ｙ，ｎ）と、オフセット補正係数ｂ（ｘ，ｙ，ｎ）とに基づいて、表示用Ｘ線画像を補正することにより、ゴーストによる検出素子の感度の一時的な低下によって表示用Ｘ線画像に現れるアーチファクトを高精度に補正することができる。
また、本実施形態のＸ線診断装置１０は、第１の検出結果に基づく表示用Ｘ線画像を、該第１の検出結果が検出されたパルスよりも前のパルスに基づく第２の検出結果に基づいて補正する。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、前回までのＸ線の照射で蓄積したゴーストまたは焼き付き等が今回の撮像結果である表示用Ｘ線画像に及ぼす影響を、低減することができる。
また、本実施形態のＸ線診断装置１０は、Ｘ線管１０２の感度と、Ｘ線の照射条件と、Ｘ線の規定のパルス幅ｗとに基づいて、第２のタイミングｔ２を算出し、算出した第２のタイミングｔ２でＸ線を検出する。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、Ｘ線管１０２の感度、Ｘ線の照射条件、またはＸ線の規定のパルス幅ｗ等が変更されても、都度適切な第２のタイミングｔ２で補正に使用する第２の検出結果を取得することができる。
また、従来、ゴーストおよび焼き付き補正を軽減するために、定期的なキャリブレーションが管理者等によって実行されていたが、本実施形態のＸ線診断装置１０は、ゴーストおよび焼き付きを高精度に補正することができるため、定期的なキャリブレーションの実行頻度を低減することができる。このため、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、管理者等の作業負荷、およびキャリブレーションのための作業時間を低減することができる。
なお、本実施形態においては、表示用Ｘ線画像の撮像のための、第１のタイミングｔ１における検出では、シャッタ機能を使用しないものとしたが、第１のタイミングｔ１における検出においても、シャッタ機能を使用するものとしても良い。
また、本実施形態においては、第１の算出機能１１３は、Ｘ線管１０２の感度と、Ｘ線の照射条件と、Ｘ線の規定のパルス幅ｗとに基づいて、第２のタイミングｔ２を算出するものとしたが、第２のタイミングｔ２の算出手法はこれに限定されるものではない。例えば、第２のタイミングｔ２が規定のパルス幅ｗに占める割合が、“１０分の１”等と予め定められても良い。この場合、第１の算出機能１１３は、規定のパルス幅ｗと、予め定められた割合とに基づいて、第２のタイミングｔ２を算出する。
また、Ｘ線管１０２がＸ線のパルスを連続して照射する場合、第１の算出機能１１３は、撮像された表示用Ｘ線画像または補正用Ｘ線画像に基づいて、次のパルスにおける第２のタイミングｔ２を変更しても良い。例えば、第１の算出機能１１３は、ｎ回目のＸ線の照射によって撮像された表示用Ｘ線画像または補正用Ｘ線画像に基づいて、現在の第２のタイミングｔ２よりも後のタイミングでもハレーションが発生しないと判断した場合は、ｎ＋１回目のＸ線の照射におけるＸ線の照射が開始されたタイミングｔ０から第２のタイミングｔ２までの時間間隔ｗ１を延長しても良い。
（第２の実施形態）
第１の実施形態では、Ｘ線診断装置１０は、表示用Ｘ線画像に対してゴースト補正および焼き付き補正を実行していたが、この第２の実施形態では、さらに、散乱線補正を実行する。
Ｘ線検出器１０６の表面には、検出素子に入射する散乱線の線量を低減するグリッドが設けられているが、グリッドによって除去されずに検出素子に入射する散乱線もある。検出素子に入射した散乱線は、表示用Ｘ線画像においてノイズとなり、表示用Ｘ線画像のコントラストを低下させる要因となる。このような表示用Ｘ線画像に対する散乱線の影響を低減させる画像処理を、散乱線補正という。
以下、本実施形態におけるＸ線診断装置１０について説明する。
本実施形態のＸ線診断装置１０は、第１の実施形態と同様に、Ｘ線高電圧装置１０１と、Ｘ線管１０２と、Ｘ線絞り器１０３と、天板１０４と、Ｃアーム１０５と、Ｘ線検出器１０６と、記憶回路１０７と、ディスプレイ１０８と、入力インターフェース１０９と、処理回路１１０とを備える。
処理回路１１０は、受付機能１１１と、決定機能１１２と、第１の算出機能１１３と、撮像制御機能１１４と、取得機能１１５と、生成機能１１６と、第２の算出機能１１７と、補正機能１１８と、表示制御機能１１９とを備える。
受付機能１１１と、決定機能１１２と、第１の算出機能１１３と、撮像制御機能１１４と、取得機能１１５と、生成機能１１６と、第２の算出機能１１７と、表示制御機能１１９とは、第１の実施形態と同様の機能を備える。
本実施形態の補正機能１１８は、第１の実施形態の機能を備えた上で、第１の検出結果に基づく表示用Ｘ線画像を、該第１の検出結果と同一のパルスに基づく第２の検出結果に基づいて、散乱線補正する。つまり、補正機能１１８は、パルスの照射の途中で読み出された補正用Ｘ線画像を用いて、該パルスの照射の完了後に読み出された表示用Ｘ線画像を補正する。
より詳細には、例えば、式（５）に基づいて散乱性補正が実行される。具体的には、補正機能１１８は、補正用Ｘ線画像と散乱線関数Ｓとの畳み込み積分を計算することで、散乱線成分を算出する。そして、補正機能１１８は、算出した散乱線成分を表示用Ｘ線画像から減算することにより、表示用Ｘ線画像に対する散乱線の影響を低減させる。
Figure 0007304765000005
図８は、本実施形態に係るＸ線画像の撮像および補正の処理の流れの一例を示すフローチャートである。Ｓ１のＸ線の照射条件と規定のパルス幅との決定の処理から、Ｓ１１の表示用Ｘ線画像（補正前）の生成および保存の処理までは、第１の実施形態と同様である。
次に、本実施形態の補正機能１１８は、Ｓ８の処理で生成された補正用Ｘ線画像に基づいて、表示用Ｘ線画像に対する散乱線補正処理を実行する（Ｓ２０１）。Ｓ１２のゴースト補正処理では、散乱線補正処理後の表示用Ｘ線画像に対して、ゴースト補正を実行する。Ｓ１３の焼き付き補正処理から、Ｓ１５の被照射Ｘ線量の算出処理までは、第１の実施形態と同様である。
このように、本実施形態のＸ線診断装置１０は、最新の第１のタイミングにおける第１の検出結果に基づく表示用Ｘ線画像を、最新の第２のタイミングｔ２における第２の検出結果に基づいて補正することにより、表示用Ｘ線画像の撮像中に発生した散乱線が表示用Ｘ線画像に及ぼす影響を、高精度に低減することができる。
例えば、比較例としては、補正対象の表示用Ｘ線画像（原画像）に対して、散乱線関数をコンボリューション（畳み込み）して表示用Ｘ線画像における散乱線成分を推定し、推定した散乱線成分を表示用Ｘ線画像から減算することで散乱線補正する技術がある。このような技術では、表示用Ｘ線画像から散乱線成分を直接的に推定しているため、表示用Ｘ線画像においてハレーションの発生等により検出値（画素値）がクリップされた領域が存在すると、散乱線成分を高精度に推定することが困難な場合があった。
また、他の比較例としては、フーリエ変換を用いて空間周波数領域で散乱線補正を行う技術もあったが、当該技術においても、散乱線成分の算出の根拠となる表示用Ｘ線画像において検出値（画素値）がクリップされた領域が存在すると、散乱線成分を高精度に推定することが困難な場合があった。
これに対して、本実施形態のＸ線診断装置１０によれば、規定のパルス幅ｗのＸ線の全量を照射していない状態、つまりハレーションの発生が低減された状態の第２の検出結果を用いて表示用Ｘ線画像を補正することにより、正確な被照射Ｘ線量に基づいて、散乱線補正を実行することができる。
なお、本実施形態においては、Ｘ線診断装置１０は、ゴースト補正、焼き付き補正、および散乱線補正を実行するものとしたが、散乱線補正のみを実行しても良い。
（第３の実施形態）
上述の第１、第２の実施形態では、Ｘ線診断装置１０が各処理を実行する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、Ｘ線診断装置１０とは別個に設けられた医用画像処理装置が上述の処理を実行する構成を採用しても良い。
図９は、本実施形態に係る医用画像処理装置３０の構成の一例を示す図である。医用画像処理装置３０は、例えば病院内に設置されたサーバ装置またはＰＣ（Personal Computer）等である。図９に示すように、医用画像処理装置３０は、通信インターフェース３１と、記憶回路３２と、入力インターフェース３３と、ディスプレイ３４と、処理回路３５とを有する。
通信インターフェース３１は、処理回路３５に接続され、ネットワーク２０を介して接続されたＸ線診断装置１０との間で行われる各種データの伝送および通信を制御する。例えば、通信インターフェース３１は、ネットワークカードやネットワークアダプタ、ＮＩＣ（Network Interface Controller）等によって実現される。本実施形態では、通信インターフェース３１は、Ｘ線診断装置１０から第１の検出結果および第２の検出結果を受信し、受信した第１の検出結果および第２の検出結果を処理回路３５に出力する。
記憶回路３２は、第１の実施形態で説明した記憶回路１０７と同様の機能を備える。また、入力インターフェース３３は、第１の実施形態で説明した入力インターフェース１０９と同様の機能を備える。ディスプレイ３４は、第１の実施形態で説明したディスプレイ１０８と同様の機能を備える。
処理回路３５は、記憶回路３２からプログラムを読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。処理回路３５は、受付機能３５１と、決定機能３５２と、第１の算出機能３５３と、撮像制御機能３５４と、取得機能３５５と、生成機能３５６と、第２の算出機能３５７と、補正機能３５８と、表示制御機能３５９とを有する。処理回路３５の各機能は、第１の実施形態で説明した処理回路１１０の各機能と同様の機能を有する。また、処理回路３５は、第２の実施形態で説明した処理回路１１０のいずれかと同様の機能を備えるものとしても良い。また、本実施形態においては、処理回路３５は、補正後の表示用Ｘ線画像を医用画像処理装置３０のディスプレイ３４に表示しても良いし、Ｘ線診断装置１０に送信するものとしても良い。
（変形例）
なお、上述の各実施形態では、Ｘ線検出器１０６は、検出素子として、ＣＭＯＳセンサを有するものとしたが、検出素子はこれに限定されるものではない。例えば、Ｘ線検出器１０６は、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）センサを有しても良い。
ＣＣＤセンサが使用される場合は、規定のパルス幅ｗのＸ線の照射の途中の第２のタイミングｔ２で検出結果が読み出される際に、Ｘ線の照射の開始から第２のタイミングｔ２までの間に蓄積された電荷が出力され、蓄積がリセットされる。このため、当該変形例においては、処理回路１１０の生成機能１１６は、第２のタイミングｔ２に検出された第２の検出結果に基づく補正用Ｘ線画像と、第１のタイミングｔ１に検出された第１の検出結果に基づくＸ線画像とを合算することにより、表示用Ｘ線画像を生成する。
以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、Ｘ線画像を高精度に補正することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
１０ Ｘ線診断装置
３０ 医用画像処理装置
３１ 通信インターフェース
３２ 記憶回路
３３ 入力インターフェース
３４ ディスプレイ
３５ 処理回路
１０１ Ｘ線高電圧装置
１０２ Ｘ線管
１０３ Ｘ線絞り器
１０６ Ｘ線検出器
１０７ 記憶回路
１０８ ディスプレイ
１０９ 入力インターフェース
１１０ 処理回路
１１１ 受付機能
１１２ 決定機能
１１３ 第１の算出機能
１１４ 撮像制御機能
１１５ 取得機能
１１６ 生成機能
１１７ 第２の算出機能
１１８ 補正機能
１１９ 表示制御機能
３５１ 受付機能
３５２ 決定機能
３５３ 第１の算出機能
３５４ 撮像制御機能
３５５ 取得機能
３５６ 生成機能
３５７ 第２の算出機能
３５８ 補正機能
３５９ 表示制御機能
１０７１ 履歴情報

Claims (7)

  1. Ｘ線を照射するＸ線照射部と、
    前記Ｘ線照射部によって照射された前記Ｘ線を検出するＸ線検出部と、
    照射期間にわたって照射された前記Ｘ線の検出結果である第１の検出結果に基づいて、Ｘ線画像を生成する生成部と、
    前記Ｘ線検出部の感度と、前記Ｘ線の照射条件と、前記Ｘ線の規定のパルス幅とに基づいて、前記照射期間の途中までの前記Ｘ線の検出結果である第２の検出結果の取得タイミングを算出する算出部と、
    前記第２の検出結果に基づいて、前記Ｘ線画像を補正する補正部と、
    を備え、
    前記Ｘ線検出部は、シャッタ機能により、算出された前記取得タイミングまでに照射された前記Ｘ線を検出する、
    Ｘ線診断装置。
  2. 前記第２の検出結果に基づく画素領域ごとのＸ線量の時系列の履歴情報を記憶する記憶部、をさらに備え、
    前記補正部は、前記履歴情報に基づいて、前記Ｘ線画像を補正する、
    請求項１に記載のＸ線診断装置。
  3. 前記履歴情報は、前記第２の検出結果に基づく前記Ｘ線量の積算値であり、
    前記補正部は、前記積算値に基づいて、前記Ｘ線画像を補正する、
    請求項２に記載のＸ線診断装置。
  4. 前記補正部は、前記履歴情報に基づいて、時間の経過に伴う前記Ｘ線検出部の感度の回復を加味した補正係数を算出し、該補正係数に基づいて、前記Ｘ線画像を補正する、
    請求項２または３に記載のＸ線診断装置。
  5. 前記Ｘ線照射部は、規定のパルス幅の前記Ｘ線を複数回照射し、
    前記補正部は、前記第１の検出結果に基づく前記Ｘ線画像を、該第１の検出結果が検出されたパルスよりも前のパルスに基づく前記第２の検出結果に基づいて補正する、
    請求項１から４のいずれか１項に記載のＸ線診断装置。
  6. 前記Ｘ線照射部は、規定のパルス幅の前記Ｘ線を複数回照射し、
    前記補正部は、前記第１の検出結果に基づく前記Ｘ線画像を、該第１の検出結果と同一のパルスに基づく前記第２の検出結果に基づいて補正する、
    請求項１から４のいずれか１項に記載のＸ線診断装置。
  7. 照射期間にわたって照射されたＸ線の検出結果である第１の検出結果に基づいて、Ｘ線画像を生成する生成部と、
    照射された前記Ｘ線を検出するＸ線検出部の感度と、前記Ｘ線の照射条件と、前記Ｘ線の規定のパルス幅とに基づいて、前記照射期間の途中までの前記Ｘ線の検出結果である第２の検出結果の取得タイミングを算出する算出部と、
    前記算出部によって算出された前記取得タイミングで、前記Ｘ線検出部のシャッタ機能を制御して前記第２の検出結果を出力させる撮像制御部と、
    前記第２の検出結果に基づいて、前記Ｘ線画像を補正する補正部と、
    を備える医用画像処理装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2816655C1 (ru) * 2023-01-10 2024-04-02 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Нижегородский государственный педагогический университет имени Козьмы Минина" (НГПУ им. К. Минина) Способ очистки лактида от инициирующих примесей

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003209746A (ja) 2002-01-16 2003-07-25 Shimadzu Corp 放射線撮影装置
US20150279066A1 (en) 2014-03-28 2015-10-01 Michael Stark Method for Processing Images to Remove Bright-Burn Artifacts and X-Ray Device
JP2017213292A (ja) 2016-06-02 2017-12-07 キヤノン株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09289985A (ja) 1996-04-26 1997-11-11 Canon Inc Ｘ線画像表示方法及び装置
JPH11155848A (ja) * 1997-11-27 1999-06-15 Hitachi Medical Corp Ｘ線画像撮影方法及びｘ線画像撮影装置
JP3931648B2 (ja) 2001-12-17 2007-06-20 株式会社島津製作所 放射線検出器の画像補正方法及びその装置並びにそれを用いた放射線撮像装置
JP2004344249A (ja) 2003-05-20 2004-12-09 Canon Inc 放射線撮影装置、放射線撮影方法、放射線撮影プログラム及び記録媒体
JP5091659B2 (ja) 2007-12-25 2012-12-05 株式会社東芝 Ｘ線診断装置
JP5898081B2 (ja) * 2010-09-07 2016-04-06 株式会社日立メディコ Ｘ線ｃｔ装置
US8768035B2 (en) * 2011-04-27 2014-07-01 General Electric Company X-ray system and method for processing image data
US20130202085A1 (en) * 2012-02-03 2013-08-08 General Electric Company System and method for autonomous exposure detection by digital x-ray detector
TWI600000B (zh) 2013-05-23 2017-09-21 Joled Inc Image signal processing circuit, image signal processing method and display device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003209746A (ja) 2002-01-16 2003-07-25 Shimadzu Corp 放射線撮影装置
US20150279066A1 (en) 2014-03-28 2015-10-01 Michael Stark Method for Processing Images to Remove Bright-Burn Artifacts and X-Ray Device
JP2017213292A (ja) 2016-06-02 2017-12-07 キヤノン株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2816655C1 (ru) * 2023-01-10 2024-04-02 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Нижегородский государственный педагогический университет имени Козьмы Минина" (НГПУ им. К. Минина) Способ очистки лактида от инициирующих примесей

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