KR970051170A - 메모리 셀 어레이 및 그를 이용한 프로그램 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 메모리 셀 어레이 및 그를 이용한 프로그램 방법에 관한 것으로, 소자의 크기를 최소화시키기 위하여 제1 및 제2디코더에 의해 짝수번째 및 홀수번째의 소오스 라인에 선택적으로 프로그램 바이어스 전압이 인가되도록 하므로써 소자의 집적도를 향상시키며 소자의 동작을 단순화시킬 수 있도록 한 메모리 셀 어레이 및 그를 이용한 프로그램 방법에 관한 것이다.

Description

메모리 셀 어레이 및 그를 이용한 프로그램 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 메모리 셀 어레이를 설명하기 위한 회로도.

Claims (2)

  1. 메모리 셀 어레이에 있어서, 다수의 워드 라인과, 상기 다수의 워드 라인에 각각의 게이트가 접속된 다수의 메모리 셀과, 상기 다수의 워드 라인과 교차되는 다수의 비트 라인과, 상기 다수의 비트 라인과 평행하며, 상기 다수의 비트 라인 각각에 인접하는 두개의 상기 메모리 셀의 소오스가 각각 접속된 다수의 소오스 라인과, 상기 다수의 소오스 라인중 홀수번째의 소오스 라인과 접속되며, 상기 홀수번째의 소오스 라인에 바이어스 전압을 인가하기 위한 제1디코더와, 상기 다수의 소오스 라인중 짝수번째의 소오스 라인과 접속되며, 상기 짝수번째의 소오스 라인에 바이어스 전압을 인가하기 위한 제2디코더로 이루어지는 것을 특징으로 하는 메모리 셀 어레이.
  2. 프로그램 방법에 있어서, 다수의 워드 라인과, 상기 다수의 워드 라인에 각각의 게이트가 접속된 다수의 메모리 셀과, 상기 다수의 워드 라인과 교차되는 다수의 비트 라인과, 상기 다수의 비트 라인과 평행하며, 상기 다수의 비트 라인 각각에 인접하는 두개의 상기 메모리 셀의 소오스가 각각 접속된 다수의 소오스 라인과, 상기 다수의 소오스 라인중 홀수번째의 소오스 라인과 접속되며, 상기 홀수번째의 소오스 라인에 바이어스 전압을 인가하기 위한 제1디코더와, 상기 다수의 소오스 라인중 짝수번째의 소오스 라인과 접속되며, 상기 짝수번째의 소오스 라인에 바이어스 전압을 인가하기 위한 제2디코더로 이루어진 메모리 셀 어레이의 프로그램 하고져 하는 메모리 셀의 드레인과 접속된 상기 비트 라인에는 0V보다 큰 전압이 공급되도록 하고, 상기 메모리 셀의 게이트와 접속된 상기 워드 라인에는 상기 비트 라인에 공급되는 전압보다 큰 전압이 공급되도록 하며, 상기 제1 또는 제2디코더중 상기 메모리 셀의 소오스와 접속된 하나의 디코더의 출력이 0V가 되도록 하고, 상기 제1 또는 제2디코더중 다른 하나의 디코더의 출력이 플로팅 상태가 되도록 하는 것을 특징으로 하는 프로그램 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100704039B1 (ko) * 2006-01-20 2007-04-04 삼성전자주식회사 디코딩 신호가 워드라인 방향으로 버싱되는 반도체 메모리장치
KR100643481B1 (ko) * 1998-12-08 2007-12-04 삼성전자주식회사 비휘발성 반도체 메모리장치_

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100241523B1 (ko) * 1996-12-28 2000-02-01 김영환 플래쉬 메모리 소자 및 이를 이용한 프로그램, 소거 및 독출방법
JP2003157682A (ja) 2001-11-26 2003-05-30 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置
US9997253B1 (en) * 2016-12-08 2018-06-12 Cypress Semiconductor Corporation Non-volatile memory array with memory gate line and source line scrambling

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4281397A (en) * 1979-10-29 1981-07-28 Texas Instruments Incorporated Virtual ground MOS EPROM or ROM matrix
US4387447A (en) * 1980-02-04 1983-06-07 Texas Instruments Incorporated Column and ground select sequence in electrically programmable memory
US4651183A (en) * 1984-06-28 1987-03-17 International Business Machines Corporation High density one device memory cell arrays
JPS61110459A (ja) * 1984-11-02 1986-05-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体メモリ
KR910004166B1 (ko) * 1988-12-27 1991-06-22 삼성전자주식회사 낸드쎌들을 가지는 전기적으로 소거 및 프로그램 가능한 반도체 메모리장치
JP3032240B2 (ja) * 1990-05-22 2000-04-10 富士通株式会社 半導体記憶装置
JPH0567759A (ja) * 1991-07-05 1993-03-19 Sony Corp 浮遊ゲート型不揮発性半導体記憶装置及びその製造方法
DE69319162T2 (de) * 1992-03-26 1999-03-25 Hitachi Ltd Flash-Speicher
JPH05342892A (ja) * 1992-06-09 1993-12-24 Fujitsu Ltd 不揮発性半導体記憶装置
JP3695539B2 (ja) * 1993-02-01 2005-09-14 ナショナル・セミコンダクター・コーポレイション 超高密度交互金属仮想接地rom、ならびにその読み出し方法及びその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100643481B1 (ko) * 1998-12-08 2007-12-04 삼성전자주식회사 비휘발성 반도체 메모리장치_
KR100704039B1 (ko) * 2006-01-20 2007-04-04 삼성전자주식회사 디코딩 신호가 워드라인 방향으로 버싱되는 반도체 메모리장치

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