KR960008856A - 용장회로를 갖는 반도체 기억장치 - Google Patents
용장회로를 갖는 반도체 기억장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은, 통상의 메모리셀 어레이 및 용장셀 어레이에 대하여 설치되는 회로를 공통화하여, 집적도의 향상 및 소비전력의 감소를 동시에 가능게 하는 반도체 기억장치를 실현하는 것을 목적으로 한다.
입력 어드레스의 상위 어드레스용의 제1의 메모리셀 어레이와 하위 어드레스용의 제2의 메모리셀 어레이로 나누어진 메모리셀 어레이와, 보정용 데이타를 기억하는 용장셀 어레이, 상기 제1의 메모리셀 어레이에 대하여 설치된 제1의 컬럼디코더와, 상기 제2의 메모리셀 어레이에 대하여 설치된 제2의 컬럼디코더로서 되고, 상기 입력 어드레스에 의해서 상기 제1의 메모리셀이 액세스되면, 상기 용장셀 어레이에서의 상위 어드레스의 보정용 데이타는, 상기 용장셀 어레이에 대한 센스앰프 및 컬럼디코더로서 동작하는 비선택으로 된 제2의 센스앰프 및 제2의 컬럼디코더를 거쳐서 출력되도록 구성한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명으로 되는 반도체기억장치의 1실시예의 요부를 표시한 블럭도.
제2도는 제1도에 표시하는 로우디코더의 요부를 표시하는 회로도.
제3도는 제1도에 표시하는 메모리셀 어레이의 요부를 표시하는 회로도.
Claims (6)
- 입력어드레스의 상위 어드레스용의 제1의 메모리셀 어레이와 하위 어드레스용의 제2의 메모리셀 어레이로 나누어지고 메모리 셀 이레이와, 보정용 데이타를 기억하는 용장셀 어레이와, 그 제1의 메모리셀에 대하여 설치된 제1의 센스앰프와, 그 제1의 메모리셀에 대하여 설치된 제1의 컬럼디코더와, 그 제2의 메모리셀에 대하여 설치된 제2의 센스앰프와, 그 제2의 메모리셀에 대하여 설치된 제2의 컬럼디코더로서 되고, 그 입력어드레스에 의해 그 제1의 메모리셀 어레이가 엑세스되면, 그 용장셀 어레이로 부터의 상위 어드레스의 보정용 데이타는 그 용장셀 어레이에 대한 센스앰프 및 컬럼디코더로서 동작하는 비선택으로 된 제2의 센스앰프 및 제2의 컬럼디코더를 거쳐서 출력되는, 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1의 센스앰프와, 상기 제1항의 컬럼디코더와, 상기 제2의 센스앰프와, 상기 제2항의 컬럼디코더는 각각 복수의 메모리셀 어레이에 대한 비트선과 공통으로 사용되는 반도체기억장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 용장셀 어레이에 대한 비트선은 상기 제2의 메모리셀 어레이에 대한 비트선과 공통으로 사용되는 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 용장셀 어레이에 대한 로우디코더 선택선은 상기 제2의 메모리셀에 대한 로우디코더 선택선과 공통으로 사용되는 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제2의 센스앰프는 상기 입력어드레스와 용장셀 어레이가 일치하는지의 여부를 나타내는 절환신호에 응답하여, 상기 제2의 메모리셀 어레이로부터의 데이타 및 상기 용장셀 어레이데이타중, 한쪽을 선택적으로 출력하는, 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2의 센스앰프는 각각 비동작시에는 한쪽의 논리레벨에 고정된 신호를 출력하는 반도체 기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101038983B1 (ko) * | 2005-06-28 | 2011-06-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 리던던시부를 갖춘 메모리 장치 |
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Also Published As
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