KR920017127A - 스태이틱형 ram - Google Patents
스태이틱형 ram Download PDFInfo
- Publication number
- KR920017127A KR920017127A KR1019920000720A KR920000720A KR920017127A KR 920017127 A KR920017127 A KR 920017127A KR 1019920000720 A KR1019920000720 A KR 1019920000720A KR 920000720 A KR920000720 A KR 920000720A KR 920017127 A KR920017127 A KR 920017127A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit
- complementary data
- column
- data line
- signal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/80—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/83—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with reduced power consumption
- G11C29/832—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with reduced power consumption with disconnection of faulty elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/84—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 대한 스태이틱형 RAM의 일실시예를 나타내는 주요 회로도, 제2도는 본 발명에 대한 스태이틱형 RAM에서의 메모리 매트의 일실시예를 나타내는 레이 아웃트도.
Claims (5)
- 복수쌍의 상보 데이터선으로 된 유니트 단위로 각각 대응하는 상보 데이터선을 공통 상보 데이터선에 접속하는 컬럼 선택회로와, 상기 유니트에 대응한 상보 데이터선쌍과 컬럼 선택회로로 된 용장회로와, 상기 컬럼 선택회로측에 근접해서 배치된 상보 데이터선의 부하를 구성하는 MOSFET와, 퓨즈수단을 구비하여 그의 절단에 의해 컬럼 선택동작이 금지되는 디코더회로와, 상기 퓨즈수단의 절단에 의해 상기부하를 구성하는 MOSFET를 오프상태로 하는 부하제어회로와, 상기 퓨즈수단의 선택적인 절단에 의해 불량 어드레스를 기억하고, 기억된 불량 어드레스의 억세스에 대응해서 컬럼 선택회로의 선택동작을 행하는 용장용 디코더회로와 구비하여 되는 것을 특징으로 하는 스태이틱형 RAM
- 제1항에 있어서, 상기 불량 어드레스 기억은 퓨즈수단에 의해 등가적으로 불량어드레스에 대응한 내부 어드레스신호 또는 프리디코더 신호를 전달하는 신호경로를 구성하는 것을 특징으로 하는 스태이틱형 RAM
- 제1항에 있어서, 상기 컬럼 디코더회로에는, 기입제어신호도 공급되어서 기입동작때에 선택이 지시된 유니트에 대응한 부하를 구성하는 MOSFET를 오프상태로 되는 기능이 부가된 것을 특징으로 하는 스태이틱형 RAM
- 제3항에 있어서, 하나의 메모리 매트는 복수 유니트에 의해 구성되고, 주워드선과 메모리 매트에 대응한 선택신호를 받는 서브워드 드라이버에 의해 선택되는 메모리 메트의 워드선을 가지며, 주워드선은 메인워드 드라이버에 의해 복수의 메모리 매트에 대해서 공통으로 설치되고, 이 메인워드 드라이버를 중심으로 해서 복수 유니트에 대응한 용장회로가 설치되는 것을 특징으로 하는 스태이틱형 RAM
- 상보 데이터선을 공통 상보 데이터선에 접속하는 컬럼 선택회로와, 상기 컬럼 선택회로측에 근접해서 배치되고 상보 데이터선의 부하를 구성하는 MOSFET와, 어드레스 신호를 받아서 상기 컬럼 선택회로의 선택신호를 형성하는 디코더회로와, 상기 디코더회로의 출력신호와 기입제어신호들을 받아서 기입동작이 행해지는 상보 데이터선에 대응한 부하 MOSFET를 오프상태로 하는 논리회로와를 구비하여 되는 스태이틱형 RAM※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03053344A JP3115623B2 (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | スタティック型ram |
JP91-053344 | 1991-02-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920017127A true KR920017127A (ko) | 1992-09-26 |
KR100216107B1 KR100216107B1 (ko) | 1999-08-16 |
Family
ID=12940154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920000720A KR100216107B1 (ko) | 1991-02-25 | 1992-01-20 | 스태이틱형 ram |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5274594A (ko) |
JP (1) | JP3115623B2 (ko) |
KR (1) | KR100216107B1 (ko) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0628846A (ja) * | 1992-07-09 | 1994-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2869260B2 (ja) * | 1992-08-25 | 1999-03-10 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5323353A (en) * | 1993-04-08 | 1994-06-21 | Sharp Microelectronics Technology Inc. | Method and apparatus for repair of memory by redundancy |
EP0646866A3 (en) * | 1993-09-30 | 1998-05-27 | STMicroelectronics, Inc. | Redundant line decoder master enable |
KR0172781B1 (ko) * | 1995-12-31 | 1999-03-30 | 김주용 | 반도체 메모리의 내부 어드레스 발생장치 |
JPH10214497A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US20150109025A1 (en) * | 2013-10-18 | 2015-04-23 | Qualcomm Incorporated | Area saving in latch arrays |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58137192A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-08-15 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
DE3485188D1 (de) * | 1983-03-28 | 1991-11-28 | Fujitsu Ltd | Statisches halbleiterspeichergeraet mit eingebauten redundanzspeicherzellen. |
JPH01184796A (ja) * | 1988-01-19 | 1989-07-24 | Nec Corp | 半導体メモリ装置 |
JPH02177087A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-10 | Nec Corp | リダンダンシーデコーダ |
KR920010347B1 (ko) * | 1989-12-30 | 1992-11-27 | 삼성전자주식회사 | 분할된 워드라인을 가지는 메모리장치의 리던던시 구조 |
-
1991
- 1991-02-25 JP JP03053344A patent/JP3115623B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-01-20 KR KR1019920000720A patent/KR100216107B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-02-25 US US07/840,819 patent/US5274594A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04271099A (ja) | 1992-09-28 |
KR100216107B1 (ko) | 1999-08-16 |
US5274594A (en) | 1993-12-28 |
JP3115623B2 (ja) | 2000-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR900015323A (ko) | 반도체 기억장치 | |
JP3019869B2 (ja) | 半導体メモリ | |
KR950034277A (ko) | 메모리 회로용 리던던시 회로 | |
KR930017043A (ko) | 정규 메모리 셀 어레이와 동시에 억세스가능한 용장 메모리 셀 컬럼을 갖고 있는 반도체 메모리 디바이스 | |
KR940022845A (ko) | 반도체 메모리 및 용장 어드레스 기입방법 | |
KR930006737A (ko) | 랜덤 억세스 메모리 장치 | |
KR960008544A (ko) | 다중 메모리 뱅크 선택을 위한 방법 및 장치 | |
KR920020495A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR950030151A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR940026948A (ko) | 결함구제회로 | |
KR900012161A (ko) | 집적된 매트릭스 메모리와 집적회로 | |
KR970024193A (ko) | 소형 칩 사이즈와 리던던시 액세스 타임을 갖는 반도체 메모리 디바이스(Semiconductor Memory Device Having Small Chip Size and Redundancy Access Time) | |
KR920020523A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR930022206A (ko) | 비트라인 스위치 어레이를 가진 전자 컴퓨터 메모리 | |
KR920017127A (ko) | 스태이틱형 ram | |
KR970012708A (ko) | 집적 반도체 메모리 장치 | |
KR910020724A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR930003159A (ko) | 반도체 기억장치 | |
US6426901B2 (en) | Logic consolidated semiconductor memory device having memory circuit and logic circuit integrated in the same chip | |
KR970029768A (ko) | 블럭 기록 기능이 있는 반도체 메모리 장치 | |
KR940026949A (ko) | 카네바 메모리를 구현하기 위한 디바이스, 시스템 및 메모리 | |
KR850004856A (ko) | 프로그래머블 반도체 메모리장치 | |
KR880004485A (ko) | 집적 메모리 회로 | |
KR960016500B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
CA2223222A1 (en) | Data-bit redundancy for semiconductor memories |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110421 Year of fee payment: 13 |
|
EXPY | Expiration of term |