KR910003815A - 불휘발성 반도체 메모리장치 - Google Patents

불휘발성 반도체 메모리장치 Download PDF

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KR910003815A
KR910003815A KR1019900010150A KR900010150A KR910003815A KR 910003815 A KR910003815 A KR 910003815A KR 1019900010150 A KR1019900010150 A KR 1019900010150A KR 900010150 A KR900010150 A KR 900010150A KR 910003815 A KR910003815 A KR 910003815A
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memory cell
drain
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세이이치로 요코구라
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아오이 죠이치
가부시키가이샤 도시바
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Abstract

내용 없음.

Description

불휘발성 반도체 메모리장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 불휘발성 반도체메모리장치를 EPROM에서 실시한 경우의 1개의 메모리셀에 관계한 부분의 구성을 나타낸 회로도,
제2도 내지 제4도는 각각 상기 제1도의 실시예 장치에서 이용되는 메모리셀의 특성도.

Claims (1)

  1. 소오스, 드레인, 부유게이트 및 제어게이트를 갖춘 불휘발성 트랜지스터로 이루어진 메모리셀(11)을 구비하고, 데이터를 판독할 때에 2(V)이하의 전압을 상기 메모리셀의 드레인에 인가하도록 되어 있는 불휘발성 반도체 메모리장치에 있어서, 데이터를 판독할때에 셀전류의 값이 300(㎂)이하로 되도록 상기 메모리셀의 정수가 설정되는 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 메모리장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019900010150A 1989-07-05 1990-07-05 불휘발성 반도체메모리장치 KR930006983B1 (ko)

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2630119B2 (ja) * 1991-07-11 1997-07-16 松下電器産業株式会社 電圧設定装置
US5648930A (en) * 1996-06-28 1997-07-15 Symbios Logic Inc. Non-volatile memory which is programmable from a power source
US5838616A (en) * 1996-09-30 1998-11-17 Symbios, Inc. Gate edge aligned EEPROM transistor
US5661687A (en) * 1996-09-30 1997-08-26 Symbios Logic Inc. Drain excluded EPROM cell
US8320191B2 (en) 2007-08-30 2012-11-27 Infineon Technologies Ag Memory cell arrangement, method for controlling a memory cell, memory array and electronic device
KR101400691B1 (ko) * 2008-05-14 2014-05-29 삼성전자주식회사 메모리 장치 및 메모리 프로그래밍 방법

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4203158A (en) * 1978-02-24 1980-05-13 Intel Corporation Electrically programmable and erasable MOS floating gate memory device employing tunneling and method of fabricating same
JPS62222498A (ja) * 1986-03-10 1987-09-30 Fujitsu Ltd 消去及び書き込み可能な読み出し専用メモリ
JPS62229600A (ja) * 1986-03-31 1987-10-08 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
JPS63252481A (ja) * 1987-04-09 1988-10-19 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリ
EP0481531B1 (en) * 1987-05-21 1994-11-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Charge transfer device
EP0441409B1 (en) * 1987-07-29 1993-10-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device
US5095461A (en) * 1988-12-28 1992-03-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Erase circuitry for a non-volatile semiconductor memory device

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JPH0338067A (ja) 1991-02-19
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US5241498A (en) 1993-08-31

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