KR20140116774A - 고체 조명장치 - Google Patents

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scattered
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마사토 이시카와
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도시바 라이텍쿠 가부시키가이샤
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Abstract

고체 조명장치는 조사부(10), 산란부(20), 파장변환층(40), 지지판(50), 복귀광 도광부(90), 수광부(94) 및 제어회로(80)를 갖는다. 상기 조사부(10)는 레이저광(70)을 방출한다. 산란부(20)는 상기 레이저광(70)의 광축과 교차하도록 설치된 주면을 갖고, 레이저광(70)을 반사하여 산란광(72)으로서 방출하는 광 산란재를 포함한다. 파장변환층(40)은, 입사된 산란광(72)을 흡수하고, 산란광(72)의 파장보다 긴 파장을 갖는 파장변환광(73)을 방출한다. 지지판(50)은 파장변환층(40)이 설치된 광입사면과, 광출사면을 갖고, 산란광(72)과 파장변환광(73)이 복귀광(92)이 되어 내부를 전반한다. 복귀광 도광부(90)에는 복귀광(92)이 도입된다. 수광부(94)는 복귀광(92)을 검출한다. 제어회로(80)는 수광부(94)로부터 출력된 전기신호에 의해 복귀광(92)의 광량이 소정의 범위밖인 것을 검출하면, 레이저광(70)의 방출정지신호를 상기 조사부를 향하여 출력한다.

Description

고체 조명장치{SOLID STATE LIGHTING DEVICE}
본 발명은 고체 조명장치에 관한 것이다.
백색 고체 조명(SSL: Solid-State Lighting) 장치는 LED(Light Emitting Diode)나 LD(Laser Diode) 등의 반도체 발광소자나 파장변환층을 갖고 있다.
고체 조명장치에는 고휘도화·고출력화가 강하게 요구된다. 이 때문에, 반도체 발광소자의 방출광이나 파장변환층에 의한 파장변환광은 점점 고출력인 것이 요구된다.
이 때문에, 발광소자나 파장변환층으로부터 방출되는 광이 정상적으로 방출되지 않는 경우, 고체 조명장치는 이상을 검출하는 것이 가능한 자기진단기능을 갖는 것이 안전상 바람직하다.
조명장치 내에서 발생하는 복귀광을 사용하면, 조명광의 이상을 검출할 수 있다. 단, 복귀광을 검출하는 위치를 적정하게 선택하지 않으면 이상검출감도가 불충분해진다.
조명광의 이상이 감도 좋게 검출되고 안전성이 높아진 고체 조명장치를 제공한다.
실시형태의 고체 조명장치는 조사부(10), 산란부(20), 파장변환층(40), 지지판(50), 복귀광 도광부(90), 수광부(94) 및 제어회로(80)를 갖는다. 상기 조사부(10)는 레이저광(70)을 방출한다. 산란부(20)는 상기 레이저광(70)의 광축과 교차하도록 설치된 주면을 갖고, 레이저광(70)을 반사하여 산란광(72)으로서 방출하는 광 산란재를 포함한다. 파장변환층(40)은, 입사된 산란광(72)을 흡수하고, 산란광(72)의 파장보다 더 긴 파장을 갖는 파장변환광(73)을 방출한다. 지지판(50)은 파장변환층(40)이 설치된 광입사면과, 광출사면을 갖고, 산란광(72)과 파장변환광(73)이 복귀광(92)이 되어 내부를 전반(傳搬)한다. 복귀광 도광부(90)에는 복귀광(92)이 도입된다. 수광부(94)는 복귀광(92)을 검출한다. 제어회로(80)는 수광부(94)로부터 출력된 전기신호에 의해 복귀광(92)의 광량이 소정의 범위밖인 것을 검출하면, 레이저광(70)의 방출정지신호를 상기 조사부를 향하여 출력한다.
본 발명에 따르면 조명광의 이상이 감도 좋게 검출되고, 안전성이 높아진 고체 조명장치가 가능해진다.
도 1은 제1 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
도 2는 비교예에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
도 3a는 제2 실시형태에 관한 고체 조명장치의 모식평면도이다.
도 3b는 제2 실시형태에 관한 고체 조명장치의 A-A선을 따른 모식단면도이다.
도 4는 제3 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
도 5는 제4 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
도 6은 제5 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
도 7은 제6 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
도 8은 자기 진단 시스템을 설명하는 타이밍도이다.
이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 실시형태에 대해서 설명한다.
도 1은 제1 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
고체 조명장치는 조사부(10), 산란부(20), 파장변환층(40), 지지판(50), 복귀광 도광부(90), 수광부(94) 및 제어회로(80)를 갖는다.
조사부(10)는 반도체 레이저 소자 등의 광원(12)과, 그 구동회로(13)를 갖는다. 조사부(10)는 광원(12)으로부터의 레이저광(70)을 전송하는 도광부(11)를 추가로 갖고 있어도 좋다. 도광부(11)를 광파이버로 하면, 한쪽 단부에 도입된 레이저광을 도광하고, 다른쪽 단부로부터 산란부(20)를 향하여 방출할 수 있다. 레이저광(70)의 파장은 예를 들어 380 내지 490㎚의 파장으로 할 수 있다.
산란부(20)는 레이저광(70)의 광축(10a)과 교차하도록 설치된 주면(20p)을 갖는다. 산란부(20)는 입사된 레이저광(70)을 반사하여 산란광(72)으로서 방출하는 광산란재(20s)를 포함한다. 광산란재(20s)는 Al2O3, Ca2P2O7, BaSO4 등의 미립자(입자직경: 1 내지 20㎛ 등)을 포함할 수 있다. 또한, 산란부(20)는 세라믹판에 상기 미립자를 분산 배치한 것이어도 좋다.
파장변환층(40)은 제1 면(40a)으로부터 입사된 산란광(72)을 흡수하고 레이저광(70)의 파장보다 더 긴 파장을 갖는 파장변환광(73)을, 제1 면(40a)과는 반대측이 되는 제2 면(40b)으로부터 방출한다. 파장변환부(40)는 YAG(Yttrium-Aluminum-Garnet) 등으로 이루어진 형광체 입자로 할 수 있다. 형광체 입자는 예를 들어 380 내지 490㎚의 산란광(72)을 흡수하고 황색, 녹색, 적색 등의 파장변환광을 방출한다.
파장변환부(40)에 흡수되지 않고, 파장변환부(40) 내에서 반사나 산란되면서 투과한 산란광(72)과 파장변환광(73)은, 파장변환부(40)로부터 방출된 후 혼합광(74)을 생성한다. 산란광(72)의 파장을 380 내지 490㎚로 하고 파장변환광(73)을 황색광으로 하면, 혼합광(74)은 백색광 등으로 할 수 있다.
지지판(50)은 파장변환층(40)이 설치된 광입사면(50a)과, 광입사면(50a)과 반대측이 되는 광출사면(50b)을 갖고, 산란광(72)의 일부와 파장변환광(73)의 일부가 내부를 전반한 후 복귀광(92a)이 되어 외부로 방출된다.
복귀광 도광부(90)의 한쪽 단부(90a)에는 방출된 복귀광(92b)이 도입된다. 복귀광 도광부(90)를 광파이버로 하면 광파이버 내를 도광된 복귀광(92)을 다른쪽 단부로부터 방출한다.
수광부(94)는 광파이버의 다른쪽 단부(90b)로부터 방출된 복귀광(92)을 검출한다. 수광부(94)는 실리콘포토다이오드 등으로 할 수 있다.
제1 실시형태에서는 레이저광(70)의 광축(10a)은 산란부(20)의 주면(20p)과는 대각선으로 교차한다. 즉, 산란부(20)는 레이저광(70)의 광축(10a)과 대각선(수직이 아닌 것을 의미한다)으로 교차하도록 설치된 주면(20p)을 갖는다. 주면(20p)으로부터 산란부(20)에 입사된 레이저광(70)은 산란부(20) 내에 분산된 광산란재(20s)에 의해 반사되고 산란되어 방출된다. 만약 산란부(20)나 파장변환부(40)에 손상이 발생했다고 해도, 레이저광(70)이 조명대상물을 직접 조사하는 것을 억제할 수 있다. 이 때문에, 인간의 눈 등에 대해서 안전을 확보할 수 있다.
또한, 제어회로(80)는 수광부(94)로부터 출력된 전기신호(S1)에 의해 복귀광(92)의 광량이 소정의 범위밖에 있는 것을 검출하면, 레이저광(70)의 방출정지신호(S2)를 조사부(10)를 구성하는 구동회로(13)를 향하여 출력한다.
도 2는 비교예에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
광원, 구동회로, 수광부 및 제어회로는 도시하지 않는다. 파장변환층(140)은 지지판(150)의 광입사면(150a)에 설치된다. 또한, 파장변환층(141)은 레이저광(170)의 광축(110a)과 교차하도록 설치되어 있다. 파장변환층(141)으로부터는 파장변환광(173)과 산란광(172)이 지지판(150)을 향하여 방출된다.
복귀광 도광부를 구성하는 광파이버(190)는 파장변환층(141)으로의 입사측에서 복귀광(192)을 검출하지만, 파장변환층(140)의 출사측에서 복귀광을 검출할 수 없다. 이 때문에, 파장변환층(140, 141)이나 지지판(150)이 파손되었다고 해도, 복귀광(192)의 변동 레벨이 작아 이상검출감도가 충분하다고는 할 수 없다. 이 때문에, 안전성을 확보하는 것이 곤란하다. 이에 대하여, 제1 실시형태는 수광부(94)에 입사되는 복귀광(92)은 대상물에 대한 조명광의 일부를 직접 모니터하고 있다. 이 때문에, 이상검출감도를 높게 유지하고 안전성을 더욱 높일 수 있다.
도 3a는 제2 실시형태에 관한 고체 조명장치의 모식평면도, 도 3b는 A-A선을 따른 모식단면도이다.
고체 조명장치는 베이스부(60)를 추가로 구비할 수 있다. 베이스부(60)에는 그 상면(60d)으로부터 후퇴한 오목부(60a)가 설치된다. 오목부(60a)는 내벽(60b, 60c)을 갖는다. 산란부(20)는 오목부(60a)의 내벽(60b)에 설치된다. 또한, 조사부(10)는 오목부(60a)의 내벽(60c) 중 산란부(20)와 대향하는 영역에 설치된다.
도 3a에서 파장변환부(40)는 대략 정방형이다. 또한, 산란부(20)는 오목부(60a)의 내벽(60b)에 설치되고 직사각형이다. 본 실시형태의 형상은 이에 한정되지 않고, 산란부(20)의 형상은 다각형, 사다리꼴 등이어도 좋다. 또한, 오목부(60a)는 베이스부(60)의 상면(60d)으로부터 원추나 각추를 절취한 나머지이어도 좋다.
레이저광(70)의 출력이 높아지면 파장변환부(40)나 산란부(20)에서의 발열량이 커진다. 베이스부(60)가 Al, Cu, Ti, Si, Ag, Au, Ni, Mo, W, Fe, Nb 등의 금속으로 이루어진 것으로 하면 방열이 개선되고 발광효율이나 신뢰성을 개선할 수 있다. 레이저광(70)이 저출력인 경우, 베이스부(60)는 금속이 아니어도 좋고 세라믹, 열전도성 수지 등으로 할 수 있다.
또한, 파장변환부(40)는 지지판(50)의 광입사면(50a) 상에 도포되고 경화된 도포층으로 할 수 있다. 또한, 지지판(50)은 유리나 투명 세라믹 등으로 할 수 있다.
도 3b에 나타낸 바와 같이, 지지판(50)은 베이스부(60)의 오목부(60a)를 폐쇄 공간으로 하도록 설치된다. 지지판(50)의 광입사면(50a)과, 베이스부(60)의 상면(60d)을 접착하면, 레이저광(70)을 흡수하여 파장변환부(40)에 발생한 열을 베이스부(60)에 방열할 수 있다. 이 때문에, 파장변환부(40)의 온도 상승에 따른 변환 효율의 저하를 억제할 수 있다. 또한, 베이스부(60)의 상면(60d)에 절개부를 설치하고, 지지판(50)을 절개부에 삽입하여 접착해도 좋다. 또한, 산란부(20)를 생략하고 레이저광(70)을 베이스부(60)의 내벽(60b)에서 반사시키고, 지지판(50)을 향하여 방출해도 좋다.
도 4는 제3 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
지지판(50)은 제1 면(50a)과 제2 면(50b) 사이에 설치된 측면(50c)을 추가로 구비한다.
복귀광 도광부(90)를 구성하는 광파이버의 한쪽의 단부는 대각선 절단면(90c)을 갖는다.
지지판(50)의 측면(50c)으로부터 방출된 복귀광(92b)은 대각선 절단면(90c)에서 반사되어 광파이버에 확실하게 도입된다.
도 5는 제4 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
지지판(50)의 측면(50c)은 지지판(50)의 광입사면(50a)에 대하여 예각 α이다. 지지판(50) 내를 전반한 복귀광(92a) 중, 기울어진 측면(50c)에 대한 입사각이 임계각보다 큰 광은 전반사되어 광파이버의 한쪽의 단부를 향하여 진행된다.
또한, 지지판(50)의 기울어진 측면(50c)에 반사층(96)을 추가로 설치할 수 있다. 반사층(96)을 청색광에 대한 반사율이 높은 Ag나 Al로 이루어진 것으로 하면, 측면(50c)에 입사된 광의 대부분을 반사시킬 수 있어 복귀광(92)을 보다 높은 감도로 검출할 수 있다.
도 6은 제5 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
산란부 대신 제1 파장변환층(40)의 주면에 레이저광(70)을 조사해도 좋다. 레이저광(70)은 레이저광(70)의 파장보다 더 긴 파장을 갖는 제1 파장변환광과, 제1 파장변환층(40) 내에서 레이저광(70)으로부터 전환된 산란광(72)을 지지판(50)을 향하여 방출한다. 고체 조명장치는 지지판(50)의 광 입사면(50a)측에 산란재를 포함하는 산란부(20) 또는 제2 파장변환층(41)을 추가로 구비해도 좋다. 산란부(20)가 설치된 경우, 제1 파장변환광 및 산란광(72)이 추가로 산란되어 광 출사면(50b)으로부터 방출된다.
또한, 제2 파장변환층(41)이 설치된 경우, 제1 파장변환층(40)으로부터의 산란광(72)을 흡수하고, 산란광(72)보다 파장이 더 긴 제2 파장변환광이 지지판(50)의 광출사면(50b)으로부터 방출된다. 동시에, 제1 파장변환광 및 산란광(72)도 광출사면(50b)으로부터 방출된다.
도 7은 제 6 실시형태에 관한 고체 조명장치의 구성도이다.
제6 실시형태에 관한 고체 조명장치는 복수의 반도체 레이저 소자 등으로 이루어진 광원(12)을 갖는다. 복수의 반도체 레이저 소자와, 복수의 광파이버를 포함하는 경우, 어느 하나의 광로에 이상이 발생해도 복귀광(92)의 변화량은 전체에서 보면 작으므로 이상검출감도가 충분하지는 않다. 또한, 복수의 반도체 레이저 소자를 갖는 고체 조명장치의 경우, 이상발생부분을 특정할 필요가 있다. 제5 실시형태는 이상을 일으킨 반도체 레이저 소자를 특정하는 자기 진단 시스템을 구비한 고체 조명장치이다.
도 7에서 고체 조명장치는 3개의 반도체 레이저 소자(12a, 12b, 12c)와, 청색 레이저광(BL)을 각각 도광하는 3개의 광파이버(11a, 11b, 11c)를 갖고 있다. 반도체 레이저 소자로부터의 각각의 청색 레이저광(BL)은 대향하는 광파이버(11)의 한쪽의 단면에 각각 입사하여 도광된 후, 광파이버(11)의 다른쪽 단면으로부터 각각 출사하고 산란부(20)를 조사한다.
복귀광(92)은 복귀광 도광부(90)(광파이버) 내를 도광하고 청색 차단 필터(93)에 입사된다. 복귀광(92) 중, 청색광(BL) 근방의 발광 스펙트럼이 차단된 성분은 수광부(94)에 입사된다.
도 8은 자기 진단 시스템을 설명하는 타이밍도이다.
구동회로(13)는 펄스폭이 Tp인 기본 펄스 신호를, 반복 주파수(f)로 발생하고 있다. 반복 주파수(f)는 예를 들어 인간의 눈으로 감지 곤란한 수백 ㎐로 할 수 있다. 시간 T1~(T1+Tp) 동안은, 제1 반도체 레이저 소자(12a)만이 온이 된다. 제1 반도체 레이저 소자(12a)의 광량이 소정의 범위인 것을 수광부(94)가 검출하면 동작이 정상이라고 판단한다.
한편, 시간 T4~(T4+Tp) 동안에 나타내는 바와 같이, 제1 반도체 레이저 소자(12a)의 광량이 소정의 범위밖인 것을 수광부(94)가 검출하면, 광파이버(11a)의 파손이나, 파장변환층(40)의 파손이나, 반도체 레이저 소자(12a)의 열화 등의 이상으로 판단한다.
동일하게, 시간 T2~(T2+Tp) 동안은 제2 반도체 레이저 소자(12b)만이 온이 되고, 시간 T3~(T3+Tp) 동안은 제3 반도체 레이저 소자(12c)만이 온이 된다. 기본 펄스 신호의 발생이 한바퀴 돈 후 이 과정이 반복된다. 이 결과, 고체 조명장치(5)의 동작이 정상인지의 여부의 자기 진단이 가능하다.
즉, 반도체 레이저 소자(12), 광파이버(11) 및 파장변환층(40)을 포함하는 복수의 독립된 광로가 설치되어 있는 경우, 이상을 일으킨 광로를 특정하고, 레이저광(70)의 방출 정지 신호(S2)를 조사부(10)를 향하여 출력한다. 이 때문에, 이상을 일으킨 광로의 반도체 레이저 소자의 구동을 정지시킴으로써, 고체 조명 장치의 안전성을 높일 수 있다.
제1 내지 제6 실시형태에 따르면, 레이저광(70)의 광축(10a)은 산란부(20)의 주면(20p)과는 대각선으로 교차된다. 이 때문에, 산란부(20)나 파장변환부(40)에 손상이 발생했다고 해도, 레이저광(70)이 조명대상물을 직접 조사하는 것을 억제할 수 있다. 또한, 수광부(94)에 입사하는 복귀광(92)은 대상물을 조사하는 조명광의 일부를 직접 모니터하고 있다. 이 때문에, 이상검출감도를 높게 유지할 수 있다. 이들의 결과, 안전성이 높아진 고체 조명장치가 가능해진다.
본 발명의 몇 가지 실시형태를 설명했지만, 이들 실시형태는 예로서 제시한 것이고, 발명의 범위를 한정하려는 의도는 없다. 이들 신규의 실시형태는 그 밖의 다른 여러 가지 형태로 실시되는 것이 가능하고, 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위에서 여러가지 생략, 치환, 변경을 실시할 수 있다. 이들 실시형태나 그 변형은 발명의 범위나 요지에 포함되고 또한 특허청구범위에 기재된 발명과 그 균등한 범위에 포함된다.
10: 조사부 20: 산란부
40: 제1 파장변환층 41: 제2 파장변환층
50: 지지판 70: 레이저광
72: 산란광 73: 제1 파장변환광
80: 제어회로 90: 복귀광 도광부
92: 복귀광 94: 수광부
96: 반사층

Claims (9)

  1. 레이저광(70)을 방출하는 조사부(10),
    상기 레이저광(70)의 광축과 교차되도록 설치된 주면을 구비하고, 입사된 상기 레이저광(70)을 반사하여 산란광(72)으로서 방출하는 광산란재를 포함하는 산란부(20),
    제1 면으로부터 입사된 상기 산란광(72)을 흡수하고, 상기 산란광(72)의 파장보다 긴 파장을 갖는 파장변환광(73)을, 상기 제1 면과는 반대측이 되는 제2 면으로부터 방출하는 파장변환층(40),
    상기 파장변환층(40)이 설치된 광입사면과, 상기 광입사면과는 반대측이 되는 광출사면을 구비하고, 상기 산란광(72)의 일부와 상기 파장변환광(73)의 일부가 복귀광(92)이 되어 내부를 전반하는 지지판(50),
    한쪽의 단부에 상기 복귀광(92)이 도입되는 복귀광 도광부(90),
    상기 한쪽의 단부와는 반대측이 되는 제2 단부로부터 방출되는 상기 복귀광(92)을 검출하는 수광부(94), 및
    상기 수광부(94)로부터 출력된 전기신호에 의해, 상기 복귀광의 광량이 소정의 범위밖인 것을 검출하면, 상기 레이저광(70)의 방출 정지 신호를 상기 조사부(10)를 향하여 출력하는 제어회로(80)를 구비한 고체 조명장치.
  2. 레이저광(70)을 방출하는 조사부(10),
    상기 레이저광(70)의 광축과 교차되도록 설치된 주면을 갖고, 입사된 상기 레이저광(70)을 흡수하여 상기 레이저광(70)의 파장보다 긴 파장을 갖는 제1 파장변환광(73)과, 상기 레이저광(70)으로부터 전환된 산란광(72)을 상기 주면의 상방에 방출하는 제1 파장변환층(40),
    상기 제1 파장변환광(73)과 상기 산란광(72)이 입사되는 광입사면과, 상기 광입사면은 반대측이 되는 광출사면을 갖고, 상기 산란광(72)의 일부와 상기 제1 파장변환광(73)의 일부가 복귀광(92)이 되어 내부를 전반하는 지지판(50),
    한쪽의 단부에 상기 복귀광(92)이 도입되는 복귀광 도광부(90),
    상기 한쪽의 단부와는 반대측이 되는 제2 단부로부터 방출되는 상기 복귀광(92)을 검출하는 수광부(94),
    상기 수광부(94)로부터 출력된 전기신호에 의해, 상기 복귀광의 광량이 소정의 범위 밖인 것을 검출하면, 상기 레이저광(70)의 방출 정지 신호를 상기 조사부(10)를 향하여 출력하는 제어 회로(80)를 구비한 고체 조명장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 지지판(50)의 상기 광입사면에 설치되고, 상기 산란광(72)을 흡수하고 상기 산란광(72)의 파장보다 긴 파장을 갖는 제2 파장변환광(73)을 상기 광입사면에 입사시키고, 또한 상기 산란광(72)을 추가로 산란하여 상기 광입사면에 입사시키는 제2 파장변환층(41)을 추가로 구비한 고체 조명장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 지지판(50)의 상기 광입사면에 설치되고, 상기 제1 파장변환광(73)과 상기 산란광(72)을 추가로 산란하는 광산란재를 포함하는 산란부(20)를 추가로 구비한 고체 조명장치.
  5. 레이저광을 방출하는 조사부(10),
    상기 레이저광(70)의 광축과 직교하도록 설치되고 상기 레이저광(70)을 상방에 반사하는 반사층(96),
    상기 반사층(96)에 의한 반사광을 흡수하고 상기 레이저광(70)의 파장보다 긴 파장을 갖는 파장변환광(73)과, 상기 레이저광(70)으로부터 전환된 산란광(72)을 방출하는 파장변환층(40),
    상기 파장변환층(40)이 설치된 광입사면과, 상기 광입사면과는 반대측이 되는 광출사면을 구비하고, 상기 산란광(72)의 일부와 상기 파장변환광(73)의 일부가 복귀광이 되고 내부를 전반하는 지지판(50),
    한쪽의 단부에 상기 복귀광(92)이 도입되는 복귀광 도광부(90),
    상기 한쪽의 단부와는 반대측이 되는 제2 단부로부터 방출되는 상기 복귀광(92)을 검출하는 수광부(94), 및
    상기 수광부(94)로부터 출력된 전기 신호에 의해, 상기 복귀광(92)의 광량이 소정의 범위 밖인 것을 검출하면, 상기 레이저광(70)의 방출정지신호를 상기 조사부(10)를 향하여 출력하는 제어회로(80)를 구비한 고체 조명장치.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 복귀광 도광부(90)는 광파이버를 포함하는 고체 조명장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 지지판(50)은 상기 광입사면과 상기 광출사면 사이에 설치된 측면을 추가로 구비하고,
    상기 광파이버의 상기 한쪽의 단부는 대각선 절단면을 구비하며,
    상기 측면으로부터 방출된 상기 복귀광은, 상기 대각선 절단면에서 반사되어 상기 광파이버에 도입되는 고체 조명장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 지지판(50)의 상기 측면은, 상기 지지판(50)의 상기 광입사면에 대해서 예각인 고체 조명장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 지지판(50)의 상기 측면에 설치된 반사층(96)을 추가로 구비하는 고체 조명장치.
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