KR101803008B1 - 기판 처리 장치 및 그 동작 방법 - Google Patents
기판 처리 장치 및 그 동작 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101803008B1 KR101803008B1 KR1020110042698A KR20110042698A KR101803008B1 KR 101803008 B1 KR101803008 B1 KR 101803008B1 KR 1020110042698 A KR1020110042698 A KR 1020110042698A KR 20110042698 A KR20110042698 A KR 20110042698A KR 101803008 B1 KR101803008 B1 KR 101803008B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- pipe
- head unit
- gas
- inner space
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 111
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 57
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 20
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 21
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24C—ABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
- B24C1/00—Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods
- B24C1/04—Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods for treating only selected parts of a surface, e.g. for carving stone or glass
- B24C1/045—Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods for treating only selected parts of a surface, e.g. for carving stone or glass for cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24C—ABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
- B24C3/00—Abrasive blasting machines or devices; Plants
- B24C3/02—Abrasive blasting machines or devices; Plants characterised by the arrangement of the component assemblies with respect to each other
- B24C3/04—Abrasive blasting machines or devices; Plants characterised by the arrangement of the component assemblies with respect to each other stationary
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24C—ABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
- B24C7/00—Equipment for feeding abrasive material; Controlling the flowability, constitution, or other physical characteristics of abrasive blasts
- B24C7/0007—Equipment for feeding abrasive material; Controlling the flowability, constitution, or other physical characteristics of abrasive blasts the abrasive material being fed in a liquid carrier
- B24C7/0038—Equipment for feeding abrasive material; Controlling the flowability, constitution, or other physical characteristics of abrasive blasts the abrasive material being fed in a liquid carrier the blasting medium being a gaseous stream
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24C—ABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
- B24C7/00—Equipment for feeding abrasive material; Controlling the flowability, constitution, or other physical characteristics of abrasive blasts
- B24C7/0084—Equipment for feeding abrasive material; Controlling the flowability, constitution, or other physical characteristics of abrasive blasts the abrasive material being fed in a mixture of liquid and gas
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
기판 처리 장치가 제공된다. 상기 기판 처리 장치는, 기판이 배치되는 지지대, 처리 용액이 흐르는 제1 배관, 상기 처리 용액 내에 기체를 주입하는 제2 배관을 포함하되, 상기 제1 배관은 상기 기체가 주입된 상기 처리 용액을 상기 기판으로 분출하는 개구부를 포함한다.
Description
본 발명은 기판 처리 장치 및 그 동작 방법에 관한 것이다.
전자 산업이 고도로 발전함에 따라, 고신뢰성 및 고성능을 갖는 전자 장치에 대한 수요가 증가하고 있다. 이와 함께, 각종 전자 장치를 생산하기 위한 제조 비용이 날로 증가하고 있다.
특히, 각종 전자 장치에 포함된 전자 부품 및 전자 소자의 제조 비용 역시 증가하고 있다. 전자 부품 및 전자 소자의 제조 비용을 감소시키기 위해, 전자 부품 및 전자 소자가 형성되는 기판을 처리하는 장치 및 기판 처리 방법에 대한 많은 연구가 진행중이다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 기술적 과제는 저가격의 기판 처리 장치 및 그 동작 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는 운용 비용이 감소된 기판 처리 장치 및 그 동작 방법을 제공하는 것이다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 발명은 기판 처리 장치를 제공한다. 상기 기판 처리 장치는, 기판이 배치되는 지지대, 처리 용액이 흐르는 제1 배관, 상기 처리 용액 내에 기체를 주입하는 제2 배관을 포함하되, 상기 제1 배관은 상기 기체가 주입된 상기 처리 용액을 상기 기판으로 분출하는 개구부를 포함한다.
일 실시 예에 따르면, 상기 처리 용액은 물 및 연마제를 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 지지대는 상기 기판을 지지하는 상부면을 포함하고, 상기 기판 처리 장치는, 상기 제1 배관의 상기 개구부를 둘러싸고, 상기 지지대의 상기 상부면에 대하여 수직으로(vertically) 이동하는 헤드 유닛을 더 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 헤드 유닛은, 상기 헤드 유닛으로 둘러싸인 내부 공간을 정의하고, 상기 기체가 주입된 상기 내부 공간을 통해 상기 기판으로 분출될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기판 처리 장치는, 상기 헤드 유닛의 상기 내부 공간 내에 연마제를 공급하는 제3 배관을 더 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기판 처리 장치는 상기 헤드 유닛을 제1 방향으로 이동시키는 제1 이송 유닛을 더 포함하되, 상기 제1 이송 유닛은, 제1 방향으로 연장하는 가이드 레일(guide rail), 및 상기 가이드 레일에 결합되어 상기 제1 방향으로 이동하는 지지 로드(support rod)를 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 지지대는, 서로 대향하고 상기 제1 방향으로 연장된 제1 및 제2 측벽들을 포함하고, 상기 가이드 레일은 상기 지지대의 상기 제1 및 제2 측면들에 각각 제공되는 제1 및 제2 가이드 레일들을 포함하고, 상기 지지 로드는, 상기 제1 가이드 레일에 결합되고 제3 방향으로 연장된 제1 부분, 상기 제2 가이드 레일에 결합되고 상기 제3 방향으로 연장된 제2 부분, 및 상기 제1 및 제2 부분들을 연결하고 제2 방향으로 연장하는 제3 부분를 포함하되, 상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 직각(perpendicular)이고, 상기 제3 방향은 상기 지지대의 상기 상부면에 수직할(vertical) 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기판 처리 장치는, 상기 지지 로드의 상기 제3 부분에 결합되고, 상기 제3 부분을 따라 상기 제2 방향으로 상기 헤드 유닛을 이동시키는 제2 이송 유닛을 더 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기판은, 터치 스크린 패널, 유리 기판, 또는 가요성 기판 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기판은 복수로 제공되고, 상기 기체가 주입된 상기 처리 용액은 상기 복수의 기판들로 분출될 수 있다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 발명은 기판 처리 방법을 제공한다. 상기 기판 처리 방법은, 배관 내의 처리 용액의 압력을 증가시키는 단계, 상기 처리 용액 내에 기체를 주입하는 단계, 및 상기 기체가 주입된 상기 처리 용액을 기판에 분출하는 단계를 포함한다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기판 처리 방법은 상기 기체를 갖는 상기 처리 용액과 함께, 연마제를 상기 기판에 분출하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 표시 장치용 기판을 복수로 제공하고, 상기 기체가 주입된 상기 처리 용액은 상기 복수의 기판들을 절단할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 절단된 기판들의 절단면들은 곡면을 이룰 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기체가 주입된 상기 처리 용액은 상기 기판에 부착된 이물질을 제거할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따르면, 제1 배관 내의 처리 용액에 기체가 주입되어, 상기 제1 배관의 개구부에서 상기 기체가 주입된 상기 처리 용액이 표시 장치용 기판으로 분출된다. 이로 인해, 저가격 및 운용비용이 감소된 기판 처리 장치 및 그 동작 방법이 제공될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 사시도이다.
도 2 는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 용도를 설명하기 위한 사시도이다.
도 3 은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 4 는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치에 포함된 헤드 유닛을 설명하기 위한 것으로, 도 1에 도시된 헤드 유닛의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예의 변형 예에 따른 기판 처리 장치에 포함된 헤드 유닛을 설명하기 위한 헤드 유닛의 단면도이다.
도 6 은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 사시도이다.
도 7 은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 헤드 유닛을 설명하기 위한 것으로, 도 5에 도시된 헤드 유닛의 단면도이다.
도 2 는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 용도를 설명하기 위한 사시도이다.
도 3 은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 4 는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치에 포함된 헤드 유닛을 설명하기 위한 것으로, 도 1에 도시된 헤드 유닛의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예의 변형 예에 따른 기판 처리 장치에 포함된 헤드 유닛을 설명하기 위한 헤드 유닛의 단면도이다.
도 6 은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 사시도이다.
도 7 은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 헤드 유닛을 설명하기 위한 것으로, 도 5에 도시된 헤드 유닛의 단면도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "아래에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 사시도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치는 처리 대상물을 지지하는 지지대(110), 처리 용액을 공급하는 처리 용액 공급부(120), 기체를 공급하는 기체 공급부(130), 상기 기체를 갖는 상기 처리 용액이 분출되는 헤드 유닛(140), 및 상기 헤드 유닛(140)을 이동시키는 제1 및 제2 이송 유닛들(150, 160)을 포함한다.
상기 지지대(110) 상에 상기 처리 대상물이 배치된다. 상기 처리 대상물은 표시 장치용 기판(112)일 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(112)은 유리 기판, 플라스틱 기판, 또는 실리콘 기판 중 어느 하나일 수 있다. 또는, 상기 기판(112)은 액정 표시 장치용 기판, 유기발광 표시 장치 용 기판, 또는 터치 스크린 패널 중 어느 하나일 수 있다. 또는, 상기 기판(112)은 가요성 기판, 또는 비가요성 기판 중 어느 하나일 수 있다.
상기 지지대(110)는 상부면 및 상기 상부면에 대향하는 하부면을 갖는다. 상기 지지대(110)의 상기 상부면은 상기 기판(112)을 지지할 수 있다. 상기 지지대(110)는 상기 상부면 및 상기 하부면을 연결하는 측면들을 가질 수 있다. 상기 측면들은, 제1 방향으로 연장하고 서로 대향하는 제1 및 제2 측면들(110a, 110b), 및 제2 방향으로 연장하고 서로 대향하는 제3 및 제4 측면들을 포함할 수 있다. 상기 제1 방향은 상기 지지대(110)의 상기 상부면에 평행하다. 상기 제2 방향은 상기 지지대(110)의 상기 상부면에 평행하고, 상기 제1 방향과 교차한다. 상기 제2 방향은 상기 제1 방향과 직각(perpendicular)일 수 있다. 도면에서, 상기 제1 방향은 x 축 방향이고, 상기 제2 방향은 y 축 방향일 수 있다.
상기 처리 용액 공급부(120)는, 상기 헤드 유닛(140)과 연결된 제1 배관(122)을 통해, 상기 처리 용액을 상기 헤드 유닛(140)으로 공급한다. 일 실시 예에 따르면, 상기 처리 용액은 물 및 연마제를 포함할 수 있다. 상기 연마제는 상기 물과 함께 상기 기판(112)으로 공급되어, 상기 기판(112)을 연마시킬 수 있다.
상기 기체 공급부(130)는, 상기 헤드 유닛(160) 내의 상기 제1 배관(122)과 연결된 제2 배관(132)을 통해, 상기 제1 배관(122)에 흐르는 상기 처리 용액에 기체를 공급한다. 상기 기체는 기포 상태일 수 있다. 상기 제2 배관(132)의 내부 공간에서, 상기 기체가 형성된 영역을 제외한 다른 영역들은 진공상태일 수 있다.
상기 제1 이송 유닛(150)은 가이드 레일(152a, 152b, guide rail) 및 지지 로드(154a, 154b, 154c, support rod)를 포함한다. 상기 가이드 레일(152a, 152b)은 복수로 제공될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 가이드 레일(152a, 152b)은 제1 및 제2 측면들을 각각 따라 상기 제1 방향으로 연장하는 제1 및 제2 가이드 레일들(152a, 152b)을 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2 가이드 레일들(152a, 152b)은 상기 제1 및 제2 측면들(110a, 110b)에 각각 연결될 수 있다.
상기 지지 로드(154a, 154b, 154c)는 상기 제1 방향으로 이동하도록, 상기 제1 및 제2 가이드 레일들(152a, 152b)에 결합된다. 상기 지지 로드(154a, 154b, 154c)는 제1 내지 제3 부분들(154a, 154b, 154c)을 포함한다. 상기 지지 로드(154a, 154b, 154c)의 상기 제1 부분(154a)은, 상기 제1 가이드 레일(152a)에 결합되고, 제3 방향으로 연장한다. 상기 지지 로드(154a, 154b, 154c)의 상기 제2 부분(154b)은, 상기 제2 가이드 레일(152b)에 결합되고, 상기 제3 방향으로 연장한다. 상기 제3 방향은 상기 지지대(110)의 상기 상부면에 수직한(vertical) 방향일 수 있다. 도면에서, 상기 제3 방향은 z 축 방향일 수 있다. 상기 제3 방향으로 상기 제1 및 제2 부분들(154a, 154b)의 길이는 서로 동일할 수 있다. 상기 지지 로드(154a, 154b, 154c)의 상기 제3 부분(154c)은, 상기 제2 방향으로 연장하고, 상기 제1 및 제2 부분들(154a, 154b)과 연결될 수 있다.
상기 제2 이송 유닛(160)은 상기 제1 이송 유닛(150)의 상기 제3 부분(154c)에 결합되어, 상기 제3 부분(154c)을 따라 상기 제2 방향으로 이동한다. 상기 제2 이송 유닛(160)에는 상기 헤드 유닛(140)이 결합되어, 상기 헤드 유닛(140)은 상기 제2 이송 유닛(160)에 의해 상기 제2 방향을 이동할 수 있다.
상기 헤드 유닛(140)은 상기 제3 방향으로 이동할 수 있도록, 상기 제2 이송 유닛(160)에 결합된다. 상술된 바와 같이, 상기 헤드 유닛(140)은 상기 제2 방향이동하는 상기 제2 이송 유닛(160)에 연결되고, 상기 제2 이송 유닛(160)은 상기 제1 방향으로 이동하는 상기 제1 이송 유닛(150)에 연결된다. 이로 인해, 상기 헤드 유닛(140)은 상기 제1 내지 제3 방향으로 이동하면서, 상기 기판(112)에 상기 기체를 갖는 상기 처리 용액을 분출할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 기판(112)에 이물질들이 부착되어 있는 경우, 상기 헤드 유닛(140)에서 분출된 상기 기체를 갖는 상기 처리 용액에 의해, 상기 기판(112)에 부착된 상기 이물질들이 제거될 수 있다.
이와는 달리, 다른 실시 예에 따르면, 상기 헤드 유닛(140)에서 분출된 상기 기체를 갖는 상기 처리 용액에 의해, 상기 기판(112)이 절단될 수 있다. 이를, 도 2 를 참조하여 설명한다.
도 2 는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 용도를 설명하기 위한 사시도이다.
도 2 를 참조하면, 상기 헤드 유닛(140)에서 기체를 갖는 처리 용액이 분출된다. 상기 기체를 갖는 상기 처리 용액은 복수의 기판들(114)을 절단할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 기체를 갖는 처리 용액에 의해, 상기 복수의 기판들(114)은 일 방향으로 절단될 수 있다. 다른 실시 예에 따르면, 상기 기체를 갖는 처리 용액에 의해, 상기 복수의 기판들(114)은 곡면의 절단면을 갖도록 절단될 수 있다. 상기 기판들(114)은 표시 장치용 기판일 수 있다.
상기 기체는 상기 처리 용액으로 상기 헤드 유닛(140) 내에서 주입될 수 있다. 이를, 도 3 및 도 4를 참조하여 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치에 포함된 헤드 유닛을 설명하기 위한 것으로, 도 1에 도시된 헤드 유닛의 단면도이다.
도 1, 3, 및 도 4를 참조하면, 처리 용액(124)이 흐르는 상기 제1 배관(122)은 제1 단 및 제2 단을 포함한다. 상기 제1 배관(122)의 상기 제1 단은 상기 처리 용액 공급부(120)에 연결된다. 상기 제1 배관(122)의 상기 제1 단을 통해 상기 처리 용액(124)이, 상기 처리 용액 공급부(120)로부터 상기 제1 배관(122)으로 전달된다. 상기 제1 배관(122)의 상기 제2 단은 상기 헤드 유닛(140) 내에 배치된다. 상기 제1 배관(122)은 상기 제2 단에 형성된 개구부(126)를 포함한다. 상기 제1 배관(122)의 상기 개구부(126)는 상기 헤드 유닛(140) 내에 배치된다. 상기 제1 배관(122)의 폭은 상기 개구부(126)에 인접할수록 감소할 수 있다.
상기 기체(134)가 전달되는 상기 제2 배관(132)은 제1 단 및 제2 단을 포함한다. 상기 제2 배관(132)의 상기 제1 단은 상기 기체 공급부(130)에 연결된다. 상기 제2 배관(132)의 상기 제1 단을 통해 상기 기체(134)가 상기 기체 공급부(130)로부터 상기 제2 배관(132)으로 전달된다. 상기 제2 배관(132)의 상기 제2 단은 상기 제1 배관(122)과 연결된다. 일 실시 예에 따르면, 상기 제2 배관(132)의 상기 제2 단은, 상기 헤드 유닛(140) 내에 배치되고, 상기 헤드 유닛(140) 내의 상기 제1 배관(122)의 상기 제2 단에 인접한 부분에 연결될 수 있다. 상기 제2 배관(132)의 상기 제2 단을 통해, 상기 기체(134)는 상기 제1 배관(122) 내의 상기 처리 용액(124)으로 주입될 수 있다.
상기 헤드 유닛(140)은 상기 헤드 유닛(140)으로 둘러싸인 비어있는 내부 공간을 포함할 수 있다. 상기 제1 배관(122)의 상기 제2 단의 상기 개구부(126)에서 상기 내부 공간을 통하여, 상기 기판(112)으로 상기 기체(134)가 주입된 상기 처리 용액(124)이 분출될 수 있다.
S10 단계에서, 외부에서 상기 처리 용액 공급부(120)로 상기 처리 용액(124)이 공급된다. 상술된 바와 같이, 상기 처리 용액(124)은 물 및 연마제를 포함할 수 있다.
S20 단계에서, 상기 처리 용액 공급부(120)는 상기 처리 용액(124)의 압력증가시킨다. 예를 들어, 고압 펌프를 이용하여, 상기 처리 용액(124)의 압력을 증가시킬키고, 압력이 증가된 상기 처리 용액(124)을 상기 제1 배관(122)의 상기 제1 단을 통해 상기 제1 배관(122)으로 공급한다. 압력이 증가된 상기 처리 용액(124)은 상기 제1 배관(122) 내에 흐른다.
S30 단계에서, 기체(134)가 상기 제1 배관(122) 내의 상기 처리 용액(124)으로 공급된다. 예를 들어, 상기 기체 공급부(130)는 상기 제2 배관(132)의 상기 제1 단을 통해 상기 제2 배관(132)으로 기체(134)를 상기 처리 용액(124)으로 공급한다. 상기 기체(134)는 상기 제2 배관(132)의 상기 제2 단을 통해 상기 제1 배관(122) 내의 상기 처리 용액(124)으로 공급된다.
S40 단계에서, 상기 기체(134)를 갖는 상기 처리 용액은 상기 제1 배관(122)의 상기 개구부(126)에서 상기 헤드 유닛(140)의 상기 내부 공간을 통하여 상기 기판(112)으로 분출될 수 있다. 상기 기판(112)은 상기 기체(134)를 갖는 상기 처리 용액(124)에 의해 절단 및/또는 세정될 수 있다.
상술된 바와 같이, 상기 기체(134)를 갖는 상기 처리 용액(124)에 의해 처리 대상물이 절단되거나 또는 상기 처리 대상물들에 부착된 이물질들이 제거될 수 있다. 이로 인해, 상기 헤드 유닛(140)에서 분출되는 상기 처리 용액(124)의 압력을 상기 기체(134)가 주입되지 않은 처리 용액이 분출되는 압력과 동일한 수준으로 유지함과 동시에, 상기 기체(134)가 차지하는 부피만큼 상기 처리 용액(124)의 소비가 감소될 수 있다. 상기 처리 용액 내의 물 또는 연마제의 소비가 감소되어, 저가격에 최적화된 기판 처리 장치가 제공될 수 있다.
상술된 실시 예와는 달리, 상기 기체(134)를 갖는 상기 처리 용액(124)은 노즐을 통하여, 상기 기판(112)으로 분출될 수 있다. 이를, 도 5 를 참조하여 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예의 변형 예에 따른 기판 처리 장치에 포함된 헤드 유닛을 설명하기 위한 헤드 유닛의 단면도이다.
도 5를 참조하면, 도 4를 참조하여 설명된 제1 배관(122)의 개구부(126)에 노즐(142)이 연결될 수 있다. 상기 노즐(142)은 상기 헤드 유닛(140)으로 둘러싸인 비어있는 내부 공간 내에 배치될 수 있다. 기체(134)가 주입된 상기 처리 용액(124)은 상기 제1 배관(122)의 개구부(126)에서 상기 노즐(142)을 통과하여, 상기 기판(112)으로 분출될 수 있다.
상술된 실시 예들에서, 상기 처리 용액(124)은 물 및 연마제를 포함하였다. 이와는 달리, 표시 장치용 기판의 처리 용액은 연마제를 포함하지 않을 수 있다. 이를, 도 6 및 도 7 을 참조하여 설명한다.
도 6 은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 사시도이다. 도 7 은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 헤드 유닛을 설명하기 위한 것으로, 도 5에 도시된 헤드 유닛의 단면도이다. 본 발명의 다른 실시 예는 상술된 본 발명의 일 실시 예와 유사하다. 차이점이 주로 설명된다.
도 6 및 도 7 을 참조하면, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 기판 처리 장치는, 처리 대상물을 지지하는 지지대(110), 처리 용액(124a)을 공급하는 처리 용액 공급부(120a), 기체(134)를 공급하는 기체 공급부(130a), 상기 기체(134)를 갖는 상기 처리 용액(124a)이 분출되는 헤드 유닛(140a), 상기 헤드 유닛(140a)을 이동시키는 제1 및 제2 이송 유닛들(150, 160), 및 연마제(174)를 공급하는 연마제 공급부(170)를 포함한다.
상기 지지대(110), 상기 기체 공급부(130), 상기 제1 이송 유닛(150), 및 상기 제2 이송 유닛(160)은 각각, 도 1 을 참조하여 설명된 지지대(110), 기체 공급부(130), 제1 이송 유닛(150), 및 제2 이송 유닛(160)이다.
상기 처리 용액 공급부(120a)는 제1 배관(122a)을 통해 상기 처리 용액(124a)을 상기 헤드 유닛(160a)으로 공급한다. 일 실시 예에 따르면, 상기 처리 용액(124a)은 물을 포함할 수 있다. 상기 제1 배관(122a)은, 상기 처리 용액 공급부(120a)와 연결되어 상기 처리 용액(124a)을 공급받는 제1 단, 및 상기 헤드 유닛(140a) 내의 제2 단을 포함한다. 상기 제1 배관(122a)은 상기 제1 배관(122a)의 상기 제2 단에 형성된 개구부(126)를 포함한다. 상기 제1 배관(122a)의 상기 개구부(126)는 상기 헤드 유닛(140a) 내에 배치된다.
상기 기체 공급부(130)는 상기 제1 배관(122a)과 연결된 제2 배관(132)을 통해, 상기 제1 배관(122a) 내의 상기 처리 용액(124a)으로 기체(134)를 공급한다.
상기 헤드 유닛(140a)은 상기 헤드 유닛(140a)으로 둘러싸인 비어있는 내부 공간을 포함할 수 있다. 상기 제1 배관(122a)의 상기 제2 단에서 상기 내부 공간을 통하여, 상기 기판(112)으로 상기 기체(134)가 주입된 상기 처리 용액(124a)이 분출될 수 있다.
상기 연마제 공급부(170)는 상기 헤드 유닛(140a)과 연결된 제3 배관(172)을 통해, 상기 연마제(174)를 상기 헤드 유닛(140a)으로 공급한다. 상기 제3 배관(172)은 제1 단 및 제2 단을 포함한다. 상기 제3 배관(172)의 상기 제1 단은 상기 연마제 공급부(170)에 연결된다. 상기 제3 배관(172)의 상기 제2 단은 상기 헤드 유닛(140a) 내에 배치되어, 상기 연마제(174)는 상기 헤드 유닛(140a)의 상기 내부 공간으로 분출될 수 있다. 상기 연마제(174)는 상기 처리 용액(124a)과 함께 상기 기판(112)으로 공급되고, 상기 기판(112)을 연마시킬 수 있다.
상기 제2 이송 유닛(160)은 제1 방향으로 이동하는 제1 이송 유닛(150)에 결합되어, 제2 방향으로 이동한다. 상기 헤드 유닛(140a)은 제3 방향으로 이동할 수 있도록, 상기 제3 이송 유닛에 결합되어, 상기 헤드 유닛(140a)은 상기 제1 내지 제3 방향으로 이동하면서, 상기 기체(134)를 갖는 상기 처리 용액(124a) 및 상기 연마제(174)를 상기 기판(112)에 분출할 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 기준하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
110: 지지대
112: 기판
120: 처리 용액 공급부
122: 제1 배관
130: 기체 공급부
132: 제2 배관
140: 헤드 유닛
150: 제1 이송 유닛
160: 제2 이송 유닛
112: 기판
120: 처리 용액 공급부
122: 제1 배관
130: 기체 공급부
132: 제2 배관
140: 헤드 유닛
150: 제1 이송 유닛
160: 제2 이송 유닛
Claims (15)
- 기판이 배치되는 지지대;
상기 기판으로부터 이격되고, 상기 기판에 수직한 방향으로 연장되며, 상기 기판을 향하여 오픈된 제1 개구부를 가진 내부 공간을 포함하는 헤드 유닛;
상기 기판에 수직한 방향으로 연장되고, 상기 헤드 유닛 내에 삽입되며, 상기 내부 공간을 향하여 오픈된 제2 개구부를 가진 제1 배관; 및
상기 제1 배관과 교차하는 방향으로 연장되고, 상기 헤드 유닛을 관통하여 상기 제1 배관에 연결된 제2 배관을 포함하고,
상기 제1 배관을 통해 주입되는 처리 용액은 상기 제2 배관을 통해 주입되는 기체와 혼합되어 상기 제2 개구부를 통해 상기 내부 공간에 제공되고,
상기 내부 공간에 제공된 상기 기체가 혼합된 상기 처리 용액은 상기 제1 개구부를 통해 상기 기판에 제공되고,
평면상에서 볼 때, 상기 제1 개구부의 폭은 상기 내부 공간의 최대 폭보다 작은 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 처리 용액은 물 및 연마제를 포함하는 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 지지대는 상기 기판을 지지하는 상부면을 포함하고,
상기 헤드 유닛은 상기 지지대의 상기 상부면에 대하여 수직으로(vertically) 이동하는 기판 처리 장치. - 제3 항에 있어서,
상기 헤드 유닛은,
상기 제2 배관의 적어도 일부분 및 상기 제1 배관을 둘러싸는 몸통부; 및
상기 몸통부로부터 연장되어 상기 제1 개구부를 정의하는 연장부를 포함하고,
상기 내부 공간은 상기 제2 개구부가 정의되는 상기 제1 배관의 일단을 둘러싸는 상기 몸통부의 일면 및 상기 연장부의 내측면에 의해 정의되는 기판 처리 장치. - 제4 항에 있어서,
상기 연장부를 관통하며, 상기 헤드 유닛의 상기 내부 공간 내에 연마제를 공급하는 제3 배관을 더 포함하는 기판 처리 장치. - 제3 항에 있어서,
상기 헤드 유닛을 제1 방향으로 이동시키는 제1 이송 유닛을 더 포함하되,
상기 제1 이송 유닛은,
제1 방향으로 연장하는 가이드 레일(guide rail); 및
상기 가이드 레일에 결합되어 상기 제1 방향으로 이동하는 지지 로드(support rod)를 포함하는 기판 처리 장치. - 제6 항에 있어서,
상기 지지대는, 서로 대향하고 상기 제1 방향으로 연장된 제1 및 제2 측면들을 포함하고,
상기 가이드 레일은 상기 지지대의 상기 제1 및 제2 측면들에 각각 제공되는 제1 및 제2 가이드 레일들을 포함하고,
상기 지지 로드는, 상기 제1 가이드 레일에 결합되고 제3 방향으로 연장된 제1 부분, 상기 제2 가이드 레일에 결합되고 상기 제3 방향으로 연장된 제2 부분, 및 상기 제1 및 제2 부분들을 연결하고 제2 방향으로 연장하는 제3 부분을 포함하되,
상기 제2 방향은 상기 제1 방향에 직각(perpendicular)이고, 상기 제3 방향은 상기 지지대의 상기 상부면에 수직한(vertical) 기판 처리 장치. - 제7 항에 있어서,
상기 지지 로드의 상기 제3 부분에 결합되고, 상기 제3 부분을 따라 상기 제2 방향으로 상기 헤드 유닛을 이동시키는 제2 이송 유닛을 더 포함하는 기판 처리 장치. - 제1 항에 있어서,
상기 기판은, 터치 스크린 패널, 유리, 또는 가요성 기판 중에서 적어도 어느 하나를 포함하는 기판 처리 장치. - 제9 항에 있어서,
상기 기판은 복수로 제공되고,
상기 기체를 갖는 상기 처리 용액은 상기 복수의 기판들로 분출되는 기판 처리 장치. - 지지대 상에 배치된 기판 상에, 상기 기판으로부터 이격되고, 상기 기판에 수직한 방향으로 연장되며, 상기 기판을 향하여 오픈된 제1 개구부를 가진 내부 공간을 포함하는 헤드 유닛을 배치하는 단계;
상기 기판에 수직한 방향으로 연장되고, 상기 헤드 유닛 내에 삽입되며, 상기 내부 공간을 향하여 오픈된 제2 개구부를 가진 제1 배관 내에 주입된 처리 용액의 압력을 증가시키는 단계;
상기 제1 배관과 교차하는 방향으로 연장되고, 상기 헤드 유닛을 관통하여 상기 제1 배관에 연결된 제2 배관에 기체를 주입하여 상기 기체를 상기 처리 용액 내에 주입하는 단계; 및
상기 처리 용액은 상기 기체와 혼합되어 상기 제2 개구부를 통해 상기 내부 공간에 제공되고, 상기 내부 공간에 제공된 상기 기체가 혼합된 상기 처리 용액은 상기 제1 개구부를 통해 상기 기판에 분출되는 단계를 포함하고,
평면상에서 볼 때, 상기 제1 개구부의 폭은 상기 내부 공간의 최대 폭보다 작은 기판 처리 방법. - 제11 항에 있어서,
상기 기체를 갖는 상기 처리 용액과 함께, 연마제를 상기 기판에 분출하는 단계를 더 포함하는 기판 처리 방법. - 제11 항에 있어서,
상기 기판은 복수로 제공되고,
상기 기체가 주입된 상기 처리 용액은 상기 복수의 기판들을 절단하는 기판 처리 방법, - 제13 항에 있어서,
상기 절단된 기판들의 절단면들은 곡면을 이루는 기판 처리 방법. - 제11 항에 있어서,
상기 기체가 주입된 상기 처리 용액은 상기 기판에 부착된 이물질을 제거하는 기판 처리 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110042698A KR101803008B1 (ko) | 2011-05-04 | 2011-05-04 | 기판 처리 장치 및 그 동작 방법 |
US13/137,555 US9108296B2 (en) | 2011-05-04 | 2011-08-25 | Substrate processing apparatus and method of operating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110042698A KR101803008B1 (ko) | 2011-05-04 | 2011-05-04 | 기판 처리 장치 및 그 동작 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120124832A KR20120124832A (ko) | 2012-11-14 |
KR101803008B1 true KR101803008B1 (ko) | 2017-11-30 |
Family
ID=47090529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110042698A KR101803008B1 (ko) | 2011-05-04 | 2011-05-04 | 기판 처리 장치 및 그 동작 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9108296B2 (ko) |
KR (1) | KR101803008B1 (ko) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9108297B2 (en) | 2010-06-21 | 2015-08-18 | Omax Corporation | Systems for abrasive jet piercing and associated methods |
US8821213B2 (en) * | 2010-10-07 | 2014-09-02 | Omax Corporation | Piercing and/or cutting devices for abrasive waterjet systems and associated systems and methods |
US9586306B2 (en) | 2012-08-13 | 2017-03-07 | Omax Corporation | Method and apparatus for monitoring particle laden pneumatic abrasive flow in an abrasive fluid jet cutting system |
US8904912B2 (en) | 2012-08-16 | 2014-12-09 | Omax Corporation | Control valves for waterjet systems and related devices, systems, and methods |
US11577366B2 (en) | 2016-12-12 | 2023-02-14 | Omax Corporation | Recirculation of wet abrasive material in abrasive waterjet systems and related technology |
US11554461B1 (en) | 2018-02-13 | 2023-01-17 | Omax Corporation | Articulating apparatus of a waterjet system and related technology |
US11224987B1 (en) | 2018-03-09 | 2022-01-18 | Omax Corporation | Abrasive-collecting container of a waterjet system and related technology |
CN109290958A (zh) * | 2018-09-01 | 2019-02-01 | 哈尔滨工程大学 | 一种水下通气空泡协助高压水射流切割装置 |
CN109262471A (zh) * | 2018-11-01 | 2019-01-25 | 温州市宇田钢管有限公司 | 一种钢管加工机床 |
CN110480522B (zh) * | 2019-08-26 | 2022-06-17 | 宁波市鄞州吉欣成汽车零部件有限公司 | 一种汽车配件加工用喷砂装置 |
US11904494B2 (en) | 2020-03-30 | 2024-02-20 | Hypertherm, Inc. | Cylinder for a liquid jet pump with multi-functional interfacing longitudinal ends |
CN115916492A (zh) | 2020-07-15 | 2023-04-04 | 约翰豆科技公司 | 双切割器头分割及修剪 |
CN114131509A (zh) * | 2021-11-22 | 2022-03-04 | 徐州博诺威机械设备有限公司 | 一种用于钢结构件加工的原料切割装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002539924A (ja) | 1999-03-24 | 2002-11-26 | フロー インターナショナル コーポレイション | 流体ジェット形成方法および装置 |
JP2005539381A (ja) | 2002-09-13 | 2005-12-22 | トーワ−インターコン・テクノロジー・インコーポレーテッド | 基板のジェット個別切断 |
JP3751897B2 (ja) | 2002-03-27 | 2006-03-01 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP4005326B2 (ja) * | 2000-09-22 | 2007-11-07 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
US20080110312A1 (en) | 2001-08-27 | 2008-05-15 | Flow International Corporation | Apparatus for generating and manipulating a high-pressure fluid jet |
JP2008546918A (ja) | 2005-06-14 | 2008-12-25 | ユニフラックス I リミテッド ライアビリティ カンパニー | 流体ジェット切断方法 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3691695A (en) * | 1971-01-20 | 1972-09-19 | Norman Green | Rapid acting abrasive trimmer for micro-electronic devices |
US3877334A (en) * | 1973-11-23 | 1975-04-15 | Gerber Garment Technology Inc | Method and apparatus for cutting sheet material with a fluid jet |
US3978748A (en) * | 1974-11-25 | 1976-09-07 | Camsco, Inc. | Fluid jet cutting system |
US4555872A (en) * | 1982-06-11 | 1985-12-03 | Fluidyne Corporation | High velocity particulate containing fluid jet process |
US4468160A (en) * | 1982-09-09 | 1984-08-28 | Campbell Automation, Incorporated | Woodworking machine |
DE3339320C2 (de) * | 1983-10-29 | 1986-10-16 | VEGLA Vereinigte Glaswerke GmbH, 5100 Aachen | Verfahren zur Herstellung einer Verbundglasscheibe |
US4945688A (en) * | 1985-10-22 | 1990-08-07 | Electric Power Research Institute, Inc. | Nozzle for entraining abrasive granules within a high pressure fluid jet and process of using same |
US4738174A (en) * | 1985-12-26 | 1988-04-19 | Flow Systems, Inc. | Alignment method and apparatus for fluid jet cutting system |
EP0469221A1 (de) * | 1990-07-31 | 1992-02-05 | Peter Hediger | Einrichtung zum Zerlegen eines Werkstücks |
EP0594864B1 (en) * | 1992-04-16 | 1998-06-24 | Bando Kiko Co. Ltd. | Apparatus for cutting glass plate |
JPH0623670A (ja) | 1992-07-07 | 1994-02-01 | Yoshida Tekkosho:Kk | ウオータジェット切断用ノズル及びウオータジェットによる切断方法 |
US5472367A (en) * | 1993-10-07 | 1995-12-05 | Omax Corporation | Machine tool apparatus and linear motion track therefor |
US5765759C1 (en) * | 1995-11-27 | 2001-11-06 | Danville Engineering | Removable nozzle for a sandblaster handpiece |
US5785582A (en) * | 1995-12-22 | 1998-07-28 | Flow International Corporation | Split abrasive fluid jet mixing tube and system |
US5851139A (en) * | 1997-02-04 | 1998-12-22 | Jet Edge Division Of Tc/American Monorail, Inc. | Cutting head for a water jet cutting assembly |
US6155245A (en) * | 1999-04-26 | 2000-12-05 | Zanzuri; Clement | Fluid jet cutting system and method |
TW419395B (en) * | 1999-10-29 | 2001-01-21 | Acer Display Tech Inc | Multi-directional liquid spraying device for wet process |
US6222155B1 (en) * | 2000-06-14 | 2001-04-24 | The Esab Group, Inc. | Cutting apparatus with thermal and nonthermal cutters, and associated methods |
US20020066345A1 (en) * | 2000-12-06 | 2002-06-06 | Shepherd John D. | Waterjet edge cut taper controlling method |
JP4748503B2 (ja) * | 2004-03-23 | 2011-08-17 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 処理装置 |
KR20060096973A (ko) | 2006-08-23 | 2006-09-13 | (주)한국나노글라스 | 워터제트를 이용한 표시창 제조용 원판유리의 절단방법 및절단장치 |
US7591615B2 (en) * | 2007-03-09 | 2009-09-22 | Trimont Mfg. Inc | Sheet material cutting machine with vacuum cleaning system |
KR101145904B1 (ko) | 2008-10-02 | 2012-05-15 | 이유진 | 워터젯 커팅기를 이용한 글라스 커팅방법 |
US9044873B2 (en) * | 2010-03-22 | 2015-06-02 | Omax Corporation | Fluid-jet systems including multiple independently-controllable bridges and fluid-jet cutting heads, and associated methods |
-
2011
- 2011-05-04 KR KR1020110042698A patent/KR101803008B1/ko active IP Right Grant
- 2011-08-25 US US13/137,555 patent/US9108296B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002539924A (ja) | 1999-03-24 | 2002-11-26 | フロー インターナショナル コーポレイション | 流体ジェット形成方法および装置 |
JP4005326B2 (ja) * | 2000-09-22 | 2007-11-07 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
US20080110312A1 (en) | 2001-08-27 | 2008-05-15 | Flow International Corporation | Apparatus for generating and manipulating a high-pressure fluid jet |
JP3751897B2 (ja) | 2002-03-27 | 2006-03-01 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2005539381A (ja) | 2002-09-13 | 2005-12-22 | トーワ−インターコン・テクノロジー・インコーポレーテッド | 基板のジェット個別切断 |
JP2008546918A (ja) | 2005-06-14 | 2008-12-25 | ユニフラックス I リミテッド ライアビリティ カンパニー | 流体ジェット切断方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120282845A1 (en) | 2012-11-08 |
KR20120124832A (ko) | 2012-11-14 |
US9108296B2 (en) | 2015-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101803008B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 그 동작 방법 | |
TWI397120B (zh) | 用於蝕刻一基材的設備與方法 | |
KR20080075846A (ko) | 어브레이시브 워터 제트식의 절단 장치 | |
KR102171583B1 (ko) | 기판 고정 장치 및 그 방법 | |
CN101178543A (zh) | 吸附工作台以及基板处理装置 | |
JP5363746B2 (ja) | 切断装置及び切断方法 | |
TW200803994A (en) | Syringe pump, substrate processing apparatus and substrate processing method | |
TWI495033B (zh) | Top pin | |
JP2009202311A5 (ko) | ||
JP2007175841A (ja) | ステージ装置 | |
KR100596022B1 (ko) | 디스펜서 스테이지의 글라스 흡착구조 | |
CN1919470A (zh) | 处理液供给喷管和基板处理装置 | |
CN1275705C (zh) | 基片清洁装置和基片处理设备 | |
JP2005268270A (ja) | 液晶ガラス基板用載置台およびこれを用いた液晶ガラス基板のクリーニング装置 | |
JP2012004225A (ja) | 被切断基板の治具及び製品基板の製造方法 | |
JP2015149428A (ja) | 切削装置 | |
JP2013073943A (ja) | 基板切断装置 | |
KR101229775B1 (ko) | 기판 세정장치 | |
KR101311912B1 (ko) | 양각 금형 커팅 장치 | |
KR101410038B1 (ko) | 유리기판 절단장치 | |
CN102019255B (zh) | 用于滴下液体的设备 | |
JP2015104800A (ja) | 板状体の剥離方法及びその装置並びに板状体の製造方法 | |
KR101313655B1 (ko) | 기판식각장치 | |
KR100809596B1 (ko) | 기판 세정 장치 | |
KR101136147B1 (ko) | 기판의 부상반송 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
N231 | Notification of change of applicant | ||
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |