KR100649138B1 - 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치 및 정확한 트랙 에러 신호를 결정하기 위한 방법 - Google Patents

광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치 및 정확한 트랙 에러 신호를 결정하기 위한 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 광검출기(10)와 상기 광검출기(10)의 출력 신호(A+C, B+D) 사이의 위상 차이(φ)를 검출하는 위상 형성 유닛(13)을 구비하는, 광기록 매체로부터 판독 및/또는 광기록 매체에 기록하기 위한 장치에 관한 것이다. 본 발명의 목적은 가능한 한 정확한 위상 신호(φ)가 발생되는 장치를 제안하는 것이다. 본 발명의 다른 목적은 정확한 트랙 에러 신호(TE)가 위상 검출 방법을 사용하여 결정되는 방법을 제시하는 것이다. 본 발명에 따라, 이 목적을 위해 본 장치는 출력 신호의 에지 시퀀스를 검출하기 위한 에지 시퀀스 검출기(14)와, 위상 형성 유닛(13)의 출력 신호(φ)를 차단하는 신호 차단 유닛(15)을 구비한다.

Description

광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치 및 정확한 트랙 에러 신호를 결정하기 위한 방법{APPARATUS FOR READING FROM OR WRITING TO OPTICAL RECORDING MEDIA AND METHOD FOR DETERMINING A CORRECT TRACK ERROR SIGNAL}
도 1 은 본 발명에 따른 장치의 부분 개략도.
도 2 는 본 발명에 따른 장치의 부분 개략도.
도 3 은 본 발명에 따른 장치에서 발생하는 대각선 합 신호를 도시하는 도면.
도 4 는 본 발명에 따른 장치에서 발생하는 신호들 중 대각선 신호를 도시하는 도면.
도 5 는 본 발명에 따른 장치의 기능 시퀀스에 관련된 상태도.
도 6 은 본 발명에 따른 장치의 부분 개략도.
도 7 은 본 발명에 따른 장치의 부분 개략도.
<도면 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1 : 레이저 다이오드 3 : 시준 렌즈
4 : 반 투명 미러 7 : 광 기록 매체
10 : 광검출기 11, 12 : 대각선 합 신호 형성 유닛
13 : 위상 형성 유닛 14 : 에지 시퀀스 검출기
15 : 차단 유닛 16 : 트랙 에러 신호 발생기
25 : 결함 지시기
본 발명은 추적을 하기 위하여 위상 검출 방법, 특히 DPD 방법이라고 하는 차분 위상 검출 방법(DPD method : Differential Phase Detection method)을 사용하는, 광 기록 매체로부터 판독 및/또는 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치에 관한 것이다.
상기 유형의 장치는 유럽 특허 EP-A2-0 822 542 호에 개시되어 있다. 상기 장치는 네 개의 4분면으로 된 광검출기(a four-quadrant photodetector), 각 경우에 상기 광검출기에서 대각선으로 배치되어 있는 두 개의 4 분면으로부터 나오는 신호를 합산하는 두 개의 대각선 합 생성기, 및 상기 대각선 합 신호 사이의 위상 차이를 검출하는 위상 형성 유닛(이 위상 형성 유닛은 때때로 위상 검출기로도 지칭됨)을 구비한다. 이 위상 차이는 트랙 중심으로부터 기록 매체의 트랙을 스캐닝하는 광빔의 변이(deviation)에 비례한다. 이 차이는 추적 조절 회로에서 트랙 에러 신호로 사용된다.
공지된 장치는 서로에 대하여 대각선 합 신호의 위상각이 특정 경우에 부정확하게 결정되는 단점을 가지는 것으로 간주될 수 있다. 이러한 단점의 결과는 트랙 에러 신호가 부정확한 값을 나타내고, 결과적으로 그 추적이 최적 방식으로 달성되지 않는다는 것이다. 위상각은 예를 들어 스캐닝하는 광빔이 트랙 중심으로부터 상대적으로 벗어날 때, 또한 그 경우에 인접한 트랙으로부터 부분적으로 기인하 는 신호의 영향이 발생할 때 부정확하게 결정된다. 이 경우에, 정확한 위상각이 결정될 수 없는 경우가 발생한다.
본 발명의 목적은 가능한 한 정확한 위상 신호가 발생되는 장치를 제안하는 것이다. 본 발명의 다른 목적은 정확한 트랙 에러 신호가 위상 검출 방법, 특히 DPD 방법을 사용하여 결정되는 방법을 제시하는 것이다.
본 발명은 출력 신호의 에지, 즉 평가되어야 하는 신호의 에지들의 시퀀스를 검출하기 위한 에지 시퀀스 검출기(edge sequence detector)와 위상 형성 유닛의 출력 신호를 차단하는 신호 차단 유닛을 구비하는 장치를 제공한다. 이것은 부정확한 위상 신호가 출력되지 않는 이점을 가진다. 다른 대각선 합 신호의 에지들의 시간적 시퀀스의 평가는 잘못된 위상 신호가 검출되는지 여부를 식별하게 해준다. 위상 검출이 잘못되면, 이 경우에 잘못된 위상 신호의 출력이 방지된다. 일반적으로, 본 장치는 네 개의 4분면으로 된 광검출기를 구비하지만, 검출기 요소의 위상 차이가 직접 평가되거나 이전의 조합이나 처리 이후에 평가되는 더 적은 수나 더 많은 수의 검출기 요소를 가지는 광검출기도 본 발명의 범주 내에 또한 있다. 만약 네 개의 4분면 검출기가 존재한다면, DPD 방법에 대해 사용되는 대각선 합 신호가 발생된다. 본 발명은, 일반적으로 위상 차이가 결정되어야 하며 반드시 DPD 방법일 필요는 없지만 적어도 두 개의 신호가 비교되어지는 것으로 예상하는 장치에 대해 사용될 수 있다.
본 발명에 따라, 신호 차단 유닛은 위상 형성 유닛의 업스트림이나 다운스트림으로 직접 배열되지만, 신호 처리 스테이지의 삽입(interposition)도 유익하다. 그후 신호 차단 유닛은 예를 들어 위상 신호 대신에 트랙 에러 신호를 차단한다.
본 발명에 따라, 본 장치는 위상 형성 유닛에 공급되는 출력 신호를 갖는 대각선 합 신호 형성 유닛을 구비한다. 이것은 본 장치가 DPD 방법의 적용에 적합하다는 이점을 가진다.
위상 형성 유닛과 에지 시퀀스 검출기가 에지 검출기와 위상각 검출기에 할당되는 것이 유리하다. 이 경우에, 에지 검출기는 에지 검출기에 공급되며 평가되어야 하는 신호의 급상승이나 급하강의 존재를 검출한다. 위상각 검출기는 급상승이나 급하강의 시간적 위치를 검출한다. 이 경우에, 시간적 위치는 본 장치의 클록 신호에 대하여 결정되는 것이 바람직하다. 이 경우에, 에지 검출기와 위상각 검출기 출력 신호는, 평가되는 신호들, 특히 대각선 합 신호들 사이의 위상 이동을 결정하기 위하여 위상 형성 유닛에 공급되며, 에지 시퀀스를 검출하기 위하여 에지 시퀀스 검출기에 공급된다. 이것은 이 경우에 포함되는 것이 위상 형성 유닛과 에지 시퀀스 검출기에 의하여 모두 평가되기에 적합한 신호들의 조합이 되는 이점을 가진다. 요구되는 성분의 이용은 최적화된다. 이것은 또한 신호들의 평가를 가속시키기거나 그 정확도를 증가시킨다. 에지의 특성, 즉 에지가 상승하거나 하강하는 에지인지의 여부가 평가를 위해 여기에서는 요구되지 않지만 그 특성은 동일한 에지를 평가하기에 유익하다.
본 발명은 위상 형성 유닛과 에지 시퀀스 검출기가 서로 통합되는 장치를 제공한다. 이것은 공동으로 사용될 수 있는 특정 기능이 한번 실현되어야만 하는 이점을 가진다. 이것은, 통합된 공간절약형 디자인(an integrated, space-saving design)을 가능케 한다.
더욱이, 결정된 에지 시퀀스로부터 본 장치의 상태를 특징지우는 신호를 출력하는 결함 지시기가 제공된다. 이것은 본 장치가 현재 상태에 대응하는 방식으로 최적으로 동작되는 이점을 가진다.
위상 검출 방법에 따라 정확한 트랙 에러 신호를 결정하는 본 발명의 방법은, 상대적 위상이 평가되는 신호, 예를 들어 대각선 합 신호의 에지의 시퀀스가 허용할 수 없는 시퀀스에 대하여 체크되며, 허용할 수 없는 시퀀스가 존재할 때 위상 값의 출력이 방지된다는 사실에 있다. 이것은 트랙 에러 신호가 매우 정확한 방식으로 형성되는 이점을 가지는데, 그 이유는 위상 신호가 높은 확률로 잘못될 때만 위상 신호의 출력이 방지되기 때문이다. 이것은, 위상 값이 직접 형성되는 신호들이 잘못된 위상 신호를 야기하고 있는지 여부에 대하여 이 신호들이 체크된다는 사실에 의하여 달성된다. 이 경우에, 에지는 평가되는 신호의 제로 교차점(zero crossings)을 사용하여 결정되는 것이 유리하다. 사용되는 위상 검출 방법은 일례로 위에서 진술된 DPD 방법이다. 그후 비교되어야 하는 신호는 위상이 검출되는 신호에 대해 아래에서 주어지는 이름인 대각선 합 신호이다. 그러나, 본 발명에 따른 방법은 위상 정보의 항목이 평가되는 다른 트랙 에러 신호 발생 방법에도 적용될 수 있다.
제로 교차가 동일한 시간 주기에 다른 대각선 합 신호에서 발생하지 않고 대각선 합 신호 중 하나의 신호에서 두 개를 초과하는 연속하는 제로 교차의 시퀀스는 본 발명에 따라 허용할 수 없는 시퀀스로 간주된다. 이것은 이 경우에 포함되는 것이 허용할 수 없는 에지 시퀀스에 대한 명확한 조건이 되는 이점을 가진다. 트랙 중심의 한쪽에서부터 다른 쪽으로 스캐닝 빔이 횡단할 때, 두 개의 연속하는 제로 교차는 하나의 제로 교차가 이 시간 주기에서 다른 대각선 합 신호에서 발생하지 않고 하나의 대각선 합 신호에서 발생한다. 이것은 허용 가능한 시퀀스이다; 정확한 트랙 에러 신호가 이 경우에 형성된다. 그러나, 다른 대각선 합 신호에서 제로 교차가 발생하기 이전에 세 개의 연속하는 제로 교차가 대각선 합 신호 중 하나의 신호에서 일어날 때, 에러는 존재한다. 여기서부터 유도되는 위상 값은 일반적으로 부정확하다.
더욱이, 만약 하나의 대각선 합 신호의 제로 교차와 그후 짧게 일어나는 다른 하나의 대각선 합 신호의 제로 교차가 한 쌍의 제로 교차로 간주되는, 한 쌍 이상의 제로 교차의 시퀀스가 미리 결정된 시간 주기 내에 발생한다면, 이 시퀀스는 본 발명에 따라 허용할 수 없는 시퀀스로 간주된다. 이것은 트랙 에러 신호의 결정의 정확도가 더 증가되는 이점을 가진다. 일례로, 스캐닝 빔이 기록 매체의 한 트랙에서부터 그 다음 트랙으로 변화할 때, 두 개의 다른 트랙으로부터 기원하는 신호 성분이 평가되는 일이 발생한다. 비록 그후 대각선 합 신호의 에지가 외관상으로는 정확한 순서로 발생할지라도, 그럼에도 불구하고 그 에지는 그 에지들 사이에 극히 짧은 시간 간격을 가진다. 기록 매체의 구조로 인하여, 단일 트랙으로부터 나오는 신호 성분만이 평가된다면 그렇게 짧은 시간 간격은 발생할 수 없다. 이 경우에도, 부정확하게 위상각이 결정되고 따라서 본 발명에 따라 트랙 에러 신호를 결정하기 위하여 사용되지 않는다.
허용할 수 없는 시퀀스의 누적이 발생한다면, 에러 지시 신호가 생성된다. 이것은 시스템의 특정 상태를 지시하는 에러 지시 신호가 단순한 방식으로 유도될 수 있는 이점을 가진다. 스캐닝 빔이 두 트랙 사이에 위치될 때 허용할 수 없는 특히 다수의 시퀀스가 발생한다. 주파수가 특정 값을 초과한다면, 트랙 상호간 상태를 나타내는 결함 지시 신호가 출력된다. 기록 매체가 긁힘이 있거나 몇몇 다른 방식으로 악영향을 받는다면, 에러 지시 신호로서 검출되고 출력되는 허용할 수 없는 시퀀스의 특성 누적이 마찬가지로 발생된다.
더욱이 본 발명은 대각선 합 신호가 미리 결정된 클록 사이클 내에서 평가되게 하는 것을 제공한다. 이 경우에, 대각선 합 신호의 두 개의 연속하는 값들 중 하나의 값이 기준값 위에 놓여 있고, 상기 값들 중 다른 하나의 값이 기준값 아래에 놓여 있다면 제로 교차는 검출된다. 이 제로 교차의 시간 위치는 기준값 위 및/또는 아래에 놓여 있는 값 또는 값들을 사용하여 보간된다. 이것은 대각선 합 신호가 연속적으로 평가되지 않고, 오히려 디지털 값들이 사용될 수 있는 이점을 가진다. 그럼에도 불구하고 위상각의 정확한 결정은 이 보간에 의하여 수행된다. 이 경우에, 클록 사이클과 보간 방법은 서로 적절하게 조정되어야 한다; 만약 클록 신호가 큰 폭을 가지면, 적절하다면 제로 전후의 다수의 값이 그에 따라 이 보간에 포함되며, 이 보간은 바람직하게는 비선형 보간이다.
하나의 대각선 합 신호의 제로 교차와 다른 하나의 대각선 합 신호의 제로 교차 사이의 위상은 시간 위치의 각 보간 값으로부터 결정된다. 다수의 완전한 클록 사이클이 제로 교차점 사이에 놓여 있다면 이 클록 사이클의 수에 해당하는 값이 부가적으로 더해진다. 이것은 위상값의 정확도가 클록 사이클에 의하여 미리 결정된 시간 해상도보다 증가되고 시간 해상도 이상으로 증가된다는 이점을 가진다. 그 결과로서, 한편으로는 좀더 정확한 트랙 에러 신호가 좀더 정확한 위상각으로 인해 형성되고, 다른 한편으로 허용할 수 없는 시퀀스가 식별되는 속도가 증가되는데, 그 이유는 더 높은 시간 해상도가 시간적으로 일치하면서 보간되는 제로 교차의 개수가 더 적어지기 때문이다.
본 발명은 대각선 합 신호의 제로 교차가 허용할 수 없는 시퀀스인 경우에 외삽(extrapolate)되는 트랙 에러 신호를 제공한다. 트랙 에러 신호의 마지막 유효 값은 여기에서는 가장 간단한 경우에 유지된다. 그러나, 허용할 수 없는 시퀀스 이전의 최종 값으로부터 선형 또는 더 높은 외삽도 마찬가지로 유리하게 가능하다. 현재 위상 값이 없는 동안, 트랙 에러 신호는 예상되는 그 다음 계산 값에 가까운 값을 취한다. 이것은 트랙 에러 신호에서 급변화가 발생하지 않고 결과적으로 신뢰성 있는 추적이 보장되는 이점을 가진다.
본 발명은 구체적인 용어로 명시된 실시예로만 제한되지 않고 당업자의 능력 범위에 있는 변경과 진보 사항도 포함한다. 더욱이, 본 발명의 이점은 도면을 참조하여 아래에 기술되어 있는 바람직한 예시적인 실시예에 대하여 제시된다.
도 1 은 본 발명에 따른 장치의 부분 개략도이다. 레이저 다이오드(1)는 시준기(3)에 의하여 집중되는 스캐닝 빔(2)을 방출한다. 스캐닝 빔(2)은 반투명 미러(4)를 통과한 후, 초점 형성 렌즈(5)에 의하여 광 기록 매체(7)의 정보 트랙(6) 상에 초점 형성된다. 광 기록 매체(7)는 나선형 정보 트랙(6)이 존재하는 원형 디스크의 형태인데, 도면에는 단지 일부분만이 도시되어 있다. 도면에서 코일로 나타나 있는 작동체(8)를 통해, 초점 형성 렌즈(5)는 초점을 형성하기 위하여 스캐닝 빔(2)의 전파 방향과 평행하게 이동될 수 있으며, 추적을 하기 위하여 광 기록 매체(7)에 대해 반지름 방향으로 이동될 수 있다. 작동체(8)는 이러한 이동을 위하여 조절기(9)로 구동된다.
정보 트랙(6) 상에 초점 형성된 스캐닝 빔(2)은 광 기록 매체(7)로부터 반사되고, 초점 형성 렌즈(5)를 통과하며, 반투명 미러(4)에 의하여 예시적인 실시예에 있는 네 개의 4분면 검출기(a four-quadrant detector)(10)인 광검출기 상으로 향한다. 상기 네 개의 4분면 검출기(10)의 상기 검출기 요소(10A, 10B, 10C, 및 10D)는 이 요소에 도달하는 광의 강도에 따라 검출기 신호(A, B, C, 및 D)를 각각 출력한다. 대각선으로 배치된 검출기 요소(10A 및 10C)의 신호(A 및 C)는 대각선 합 신호 형성 유닛(11)에 공급되며, 상기 대각선 합 신호 형성 유닛(11)의 출력 신호는 제 1 대각선 합 신호(A+C)이다. 대각선으로 배치된 검출기 요소(10B 및 10D)의 검출기 신호(B 및 D)는 대각선 합 신호 형성 유닛(12)에 공급되며, 상기 대각선 합 신호 형성 유닛(12)의 출력 신호는 제 2 대각선 합 신호(B+D)이다. 제 1 및 제 2 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)는 위상 형성 유닛(13)(위상 검출기로 언급되기도 함)에 공급되며, 상기 위상 형성 유닛(13)은 상기 유닛(13)의 두 개의 입력 신호 사이의 위상 이동을 위상 차이 신호(φ)로서 출력한다. 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)는 더욱이 에지 시퀀스 검출기(14)에 공급되며, 상기 에지 시퀀스 검출기(14)는 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 에지 시퀀스 또는 다른 특징적 부분을 체크한다. 상기 에지 시퀀스 검출기(14)는 에러를 나타내는 시퀀스가 있는 경우에는 정지 신호(stop signal)(H)를 차단 유닛(15)에 출력한다. 그후 차단 유닛(15)은 위상 차이 신호(φ)가 트랙 에러 신호 발생기(16)로 전송되는 것을 방지한다. 만약 차단 유닛(15)이 활성화되지 않는다면, 트랙 에러 신호 발생기(16)는 위상 차이 신호(φ)로부터 트랙 에러 신호(TE)를 발생시킨다. 상기 트랙 에러 신호는 실제 값으로서 조절기(9)에 공급된다.
결함 지시기(25)는 에지 시퀀스 검출기(14)에 연결되고 잘못된 시퀀스의 누적을 평가한다. 예시적인 실시예에서, 정지 신호(H)는 상기 결함 지시기에 공급된다. 만약 특정 미리 결정 가능한 값을 초과하는 정지 신호(H)가 단위 시간당 발생한다면, 이 결함 지시기(25)는 에러 지시 신호(FI)를 출력한다. 결함 지시기(25)는 가장 간단한 경우에 카운터이다.
도 1의 개략도는 본 장치의 개별 소자의 가능한 배열 중 단지 하나의 배열을 나타내는 것이다. 일례로, 차단 유닛(15)은 트랙 에러 신호 발생기(16)와 조절기(9) 사이에도 배열될 수 있다. 트랙 에러 신호 발생기(16)는 이 경우에 위상 형성 유닛(13)에 통합될 수 있다. 그러나, 트랙 에러 신호 발생기(16)는 조절기(9)에 통합되는 것도 가능하다.
본 발명의 일 변형에 따라, 도 1의 트랙 에러 신호 발생기(16)는 차단 유닛(15)이 활성화될 때, 즉 갱신된 위상 차이 신호(φ)가 차단 유닛의 입력에 존재하지 않을 때 트랙 에러 신호(TE)를 또한 형성한다. 이 때문에, 제 1 변형에 따라 앞선 트랙 에러 신호(TE)는 갱신된 위상 차이 신호(φ)가 존재할 때까지 유지된다. 또다른 변형에 따라, 각 클록 사이클에 대하여 트랙 에러 신호(TE)는 두 개의 앞선 클록 사이클의 트랙 에러 신호의 값들로부터 선형적으로 외삽된다.
도 2 는 위상 형성 유닛(13), 에지 시퀀스 검출기(14) 및 차단 유닛(15)이 정정 위상 차이 검출기(correcting phase difference detector)(23)에 통합되어 있는 본 발명에 따른 장치의 일변형을 도시한다. 도 1 에 있는 것과 동일한 부분은 동일한 도면 부호로 제공되어 있다. 도 2 는 네 개의 4분면 검출기(10)와, 위상 차이 신호(φ)가 존재하는 출력 사이의 영역 만을 도시한다. 예시적인 실시예에서, 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)는 예를 들어 6 비트의 해상도를 갖는 디지털 값으로 존재한다. 상기 대각선 합 신호는 각각 FIR 고역 통과 필터(17, 17')를 통과하며 지연 소자(19, 19')를 거쳐 평균 계산 유닛(18, 18')과 검출기(20, 20')에 직접 공급된다. 고역 통과 필터(17, 17')가 없는 것도 가능하며, 이때는 본 장치의 기능이 어느 정도까지 또는 거의 분간하기 어려운 정도까지로만 적절히 제한된다. 고역 통과 필터(17)의 출력 신호는 an으로 지시되어 있고, 클록 사이클(T)에 의하여 지연되는 신호는 an-1로 지시되어 있다. 평균 계산 유닛(18)에 의하여 출력되는 평균 값은 SL1으로 지시되어 있다. 대응하는 방식으로, 고역 통과 필터(17')의 출력 신호는 bn으로 지정되어 있고, 지연 소자(19')의 출력 신호는 bn-1로 지정되어 있으며 평균 계산 유닛(18')의 출력 신호는 평균 값(SL2)으로서 지정되어 있다.
검출기(20)는 에지 검출기(21)와 위상각 검출기(22)를 가진다. 에지 검출기(21)는 제 1 대각선 합 신호(A+C)에서 에지가 발생할 때 한 비트의 해상도로 신호(E1)를 출력한다. 이 때문에, 에지 검출기(21)는 평균 값(SL1)과 신호(an 및 an-1)를 평가한다. 에지 신호(E1)는, 신호(an 및 an-1) 중 하나의 신호가 평균 값(SL1) 보다 더 큰 값을 취하는 한편, 각 다른 신호(an-1 또는 an)가 평균 값(SL1) 보다 더 작은 값을 취할 때에만, 제로가 아니다. 만약 두 신호(an 및 an-1)가 평균 값(SL1)보다 더 크거나, 두 신호가 평균 값(SL1)보다 모두 작다면, 에지 신호(E1)는 제로 값으로 유지된다. 위상각 검출기(22)는 대각선 합 신호(A+C)의 제로 교차와 순차적인 클록 사이클(T) 사이의 시간(t1)을 결정한다. 예시적인 실시예에서, 시간(t1)은 4비트 값으로 출력되고 대각선 합 신호의 위상 이동의 척도이다. 대응하는 방식으로, 검출기(20')의 에지 검출기(21')와 위상각 검출기(22')는 신호(bn 및 bn-1)와 평균 값(SL2)으로부터 에지 신호(E2)의 출력 값과 시간(t2)을 형성한다.
정정 위상 차이 검출기(23)에서, 시간(t1 및 t2)과 누적 클록 시간(TA)은 위상 차이 신호(φ)를 결정하기 위하여 위상 형성 유닛(13)에 의하여 사용된다. 에지 시퀀스 검출기(14)는 필요하다면 차단 유닛(15)을 활성화시키기 위하여 에지 신호(E1 및 E2)와 또한 논리식(t2 > t1)을 평가한다. 도 2의 예시적인 실시예의 일 변형은 에지 신호(E1, E2)의 값을 추가적으로 비교하는 비교기(24)를 제공한다. 비교기의 출력 신호(L1 = L2)는 에지 신호(E1, E2)가 각각의 이전의 상태에서와 같은지 같지 않은지를 나타낸다. 이것은 마찬가지로 도 5를 참조하여 아래에서 더 기술되는 바와 같이 잘못된 시퀀스를 나타낸다.
도 3에서, 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)는 일례로 시간(t)에 대하여 도시되어 있다. 시간 축(t)의 세부 구분은(subdivisions)은 디지털화된 대각선 합 신호(A+C 또는 B+D)가 평가되는 클록 사이클(T)에 대응한다. 대각선 합 신호(A+C 또는 B+D)의 대응하는 이산값(discrete value)은 점으로 표시되어 있다. 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)는 도 3에서 일정한 값으로 도시되어 있는 평균 값(SL1 및 SL2)에 대하여 각각 진동하는데, 간단하게 하기 위하여 이것은 평균 계산 유닛(18 및 18')의 큰 시정수(time constant)에 각각 해당한다.
a와 b로 각각 표시되어 있는, 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 제로 교차점 사이의 위상 차이(φ)는 도 3의 좌측편에 일례로 들어가 있다. 제로 교차점(a, b)은 일반적으로 클록 사이클(T)과 일치하지 않으므로, 제로 교차점의 시간 위치, 즉 시간(t1 및 t2)은 그 다음 클록 사이클로부터 각각 보간된다. 가장 간단한 경우에, 이를 위해, 선형 보간이, 제로(a)에 따라오는 값(an)과 제로에 앞서는 값(an-1) 및 클록 사이클(T){t1 = T * (an - a)/(an - an-1)}을 사용하여 수행된다. 이 경우에, 평균 값(SL1)은 제로(a) (a = SL1)의 값에 대해 취해진다. 대응하는 방식으로, 시간(t2)은, 제로(b)에 따라오는 값(bm)과, 제로에 앞선 값(bm-1)으로부터 결정되고, 즉 t2 = T * (bm - b)/(bm - bm-1)로 결정되며 여기서 b = SL2은 또한 여기에서 제로에 대해 고정된다. 이 경우에 지수(m 및 n)는 개별 클록 사이클의 연속적인 번호 매김을 나타낸다. 이리하여 값 an 및 bm 사이에, (m-n)개의 클록 사이클이 있게 된다. 시간(t1 및 t2)은 위상각 검출기(22 및 22')를 통해 각각 결정된다.
위상 차이(φ)는 시간(t1)과 an과 bm 사이의 클록 배수(T)와 마이너스 시간(t2)의 합으로부터 결정된다, 즉 φ = t1 + (m - n ) * T - t2로 결정된다. 이 결정은 위상 형성 유닛(13)이 위상 차이 신호(φ)를 결정하는 위상 차이 검출기(23)에서 이루어진다. 클록 사이클(T)의 수는 아래에서 또한 누적 시간(TA){여기서 TA = (m - n) * T}으로도 언급된다.
도 3 은 서로에 대해 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 위상각의 변화를 도시하는데, 제 1 대각선 합 신호(A+C)는 도 3의 좌측편에 나타나 있고, 제 2 대각선 합 신호(B+D)는 우측편에 나타나 있다. 다른 위상 차이 신호(φ')는 도면의 우측편에 도시되어 있다. 상기 위상 차이 신호는 시간(t1') 플러스(+) 제로들 사이의 클록 배수와 마이너스(-) 시간(t2')의 합으로 구성된다, 즉 φ'= t1' + (m-n) * T - t2'로 결정된다. 이 경우에, 값(m)은 값(n)보다 더 작다.
에지 검출기(21)에서, 대각선 합 신호(A+C)의 두 개의 연속적으로 디지털화된 값(an, an-1)이 평균 값(SL1)보다 더 큰지를 알아보기 위해 체크가 이루어진다: 즉, 부등식 an > SL1 과 an-1 > SL1 이 체크된다. 만약 두 부등식이 동일한 결과를 가져온다면, 제로 교차는 존재하지 않으며, 만약 두 부등식이 서로 다른 결과를 가져온다면, 제로 교차는 존재하며 에지 신호(E1)는 값 0 에서 값 1 로 설정된다.
도 4 는 본 발명에 따른 장치에서 발생하는 신호들의 신호도를 도시한다. 위에서부터 아래까지 시간(t)에 대하여 다음의 사항, 즉 에지 신호(E1), 에지 신호(E2), 시간(t1, t2)과 누적 시간(TA)으로 구성되어 있는 누적 위상(φA), 및 출력 위상 차이 신호(φ)가 도시되어 있다.
에지 신호(E1, E2)는 제로 교차가 대응하는 대각선 합 신호(A+C, B+D)에서 발생할 때 그 신호들의 값을 변화시킨다. 도 4 는 결함 에지 시퀀스를 도시하는데, 즉 에지 신호(E1)의 값에서의 두 가지 변화 사이에는 에지 신호(E2)에서는 네 가지 변화가 있게 된다. 에지 신호(E1)에서 제 1 변화 후에, 시간(t1)은 이전에는 제로였던 누적 시간(TA)의 값에 더해진다. 일례로 하나의 클록 사이클(T) 후에 일어나는 에지 신호(E2)에서의 연속하는 변화시, 클록 시간(T)은 누적 위상(φA)에 더해지며 시간(t2)은 이것으로부터 감산된다. 이 방식으로 누적된 위상(φA)은 그후 위상 차이 신호(φ)로서 출력되고 그후 제로로 리셋된다. 신호(E2)의 그 다음 전이(transition)시, 시간(t2)은 미리 제로로 설정되어 있던 값을 갖는 누적 위상(φA)으로부터 감산된다. 각 다른 클록 사이클에서, 클록 시간(T)은 누적 위상(φA)으로부터 감산된다. 이후 이어지는 그 다음 에지는 제 2 대각선 합 신호(B+D)에서 일어난다; 에지 신호(E2)는 변화된다. 이 경우에 수반되는 것은 허용할 수 없는 시퀀스인데; 그리하여 차단 유닛(15)에 의하여 에지 시퀀스 검출기(14)는 누적 위상(φA)에 대응하는 위상 차이 신호(φ)의 출력을 방지한다. 동시에, 누적 위상(φA)은 제로로 설정된다. 에지 신호(E2)에서의 그 다음 변화시, 시간(t1, t2 및 T)의 누적은 다시 시작된다. 에지 신호(E1)에서의 변화가 일어날 때, 시간(t1)은 누적 위상(φA)에 더해지며, 대응하는 위상 차이 신호(φ')는 출력되며, 또한 누적 위상(φA)은 결과적으로 제로로 설정된다.
도 5 는 본 발명에 따른 장치의 기능 시퀀스에 관한 상태도를 도시한다. 다른 상태(S0 내지 S5)는 정정 위상 차이 검출기(23)의 각 상태에서 수행되는 동작이 명시되는 접경 영역(bordered zone)으로 나타나 있다. 상태들 사이의 화살표에는 화살표의 방향으로 하나의 상태에서부터 다른 상태로 변화가 이루어지는 조건이 함께 제공된다.
아래의 명세서에서, 상태도의 배경에 있는 원리가 상태(S0)의 서술로부터 시작하여 상태도에 포함된 세부 사항과 이 원리의 서술로부터 이해될 수 있는 모든 세부 진술은 하지 않고 기술될 것이다.
상태(S0)에서 수행되는 동작은 누적 시간(TA)의 값과 시간(t1, t2)의 값을 값 0으로 리셋하는 것이다. 만약 그 다음 클록 사이클 내에서 에지 신호(E1, E2)에 변화가 일어나지 않으면, 상태(S0)는 유지된다. 이것은 상태(S0)를 나타내는 영역의 우측편에 위치되어 있는 화살표로 나타나 있다. 상기 화살표는 상태(S0)에서 시작하고 끝난다; 상기 상태는 조건 사항을 동반하지 않는다. 만약 다른 한편으로, 두 에지 신호(E1 및 E2)가 상태(S0)에서부터 진행하는 것을 변화시킨다면, 상태(S1)로 전이가 이루어진다. 이것은 상태(S0)로부터 상태(S1)로 지시되는 화살표로 나타나 있고 조건(E1 및 E2)과 함께 표시되어 있다. 만약 상태(S0)로부터 진행하는 동안 단지 에지 신호(E1)가 변화한다면, 상태(S2)로 전이가 이루어진다. 이것은 상태(S0)에서부터 상태(S2)로 지시되는 화살표로 도시되어 있고 도면에 명시된 조건(E1)을 동반한다. 대응하는 방식으로, 단지 에지 신호(E2)가 클록 사이클 내에서 변화하는 경우, 상태(S0)에서부터 상태(S3)로의 분기가 이루어진다. 이것도 조건(E2)이 함께 제공된 대응하는 화살표에 의하여 도시되어 있다.
상태(S0)를 나타내는 영역에서 끝나는 화살표는 다른 상태로부터 상태(S0)로 전이가 이루어지는 조건을 나타낸다. 그러한 전이는 클록 주기 내에 에지 신호(E1, E2)에서 변화가 일어나지 않는다면 상태(S1)로부터 일어난다. 클록 주기 내에 에지 신호(E1)에서만 변화가 일어난다면, 상태(S2)에서부터 상태(S0)로의 분기가 이루어진다. 클록 주기 내에 에지 신호(E2)에서만 변화가 일어난다면, 상태(S3)에서부터 상태(S0)로의 전이가 이루어진다. 클록 주기 내에 에지 신호(E1)에서의 변화만이 일어난다면, 상태(S4)에서부터 상태(S0)로의 전이가 발생된다. 변화가 에지 신호(E2)에서만 일어나고 에지 신호(E1)에서는 일어나지 않는다면, 상태(S5)에서 상태(S0)로의 전이가 발생된다.
상태(S1)에서, 먼저 위상 차이 신호(φ)는 클록 사이클 마다 출력된다. 상기 신호는 공식(φ = t1 +TA - t2)에 따라 결정되며, 여기서 t1, t2 및 TA 는 하나 이상의 앞선 클록 사이클에서 결정된 값을 취한다. 이 위상 차이 신호(φ)의 출력은 t1, t2 및 TA를 값(0)으로 리셋함으로써 수반된다. 이것은 상태(S1)를 나타내는 영역에 있는 정의(t1 : = 0, t2 : = 0 및 TA : = 0)와 문자(φ)의 규정으로 도시되어 있다. 이리하여, 상태(S1)가 상태(S0)로부터 도달하였다면, 누적 시간(TA)은 상태(S0)에서 설정된 값(TA=0)을 가진다. 이 경우에, 시간(t1 및 t2)은 에지 신호(E1 및 E2)에서의 변화를 또한 일으키는 대응하는 제로 교차에 대해 결정되어진 값을 가진다. 상태(S1)로부터 시작하고 상태(S1)에서 끝나는 전이는 상태(S0)에 대하여 설명된 바와 같이 조건이 함께 제공된 화살표로 도시되어 있다.
상태(S2)에서, 누적 시간(TA)은 각 클록 사이클 이후 클록 시간(T)만큼 증가된다. 그 결과로서, 에지 신호(E1)의 발생과 에지 신호(E2)의 연속하는 변화 사이에 일어나는 클록 사이클의 합{(m-n)*T}이 형성되는데, 이 합은 위에 더 설명되어 있다. 시간(t2)은 상태(S2)에서 제로로 설정되는데, 그 이유는 제로 교차의 정확한 시퀀스인 경우에 에지 신호(E2)의 전이와 새로운 시간(t2)이 상태(S2)를 뒤따를 것으로 예상되기 때문이다. 전이가 후속하는 클록 사이클에서 에지 신호(E2)에서만 일어난다면, 상태(S2)에서부터 상태(S1)로 전이가 이루어진다. 만약 다른 한편으로 전이가 에지 신호(E1)에서만 일어난다면, 그 신호는 부정확한 에지 시퀀스에 대응되며 그리하여 상태(S0)로의 전이가 이루어진다. 그 지점까지 누적된 시간(TA)과 시간(t1 및 t2)은 이 경우에 더 이상 고려하지 않는다. 상태(S0 및 S1)에 비하여 상태(S2)의 특별한 특징은, 두 에지 신호(E1 및 E2)가 클록 사이클 내에서 그 상태를 변화시킬 때, 그 시퀀스나 순서도 그 다음 상태를 결정하기 위하여 고려되어진다는 것이다. 만약 에지 신호(E1)에서의 변화가 에지 신호(E2)에서의 변화 이전에 일어난다면, 즉 시간(t1)이 시간(t2)보다 더 크다면, 부정확한 시퀀스가 존재하며; 상태(S7)로의 전이가 이루어진다. 만약 다른 한편으로 에지 신호(E2)에서의 전이가 에지 신호(E1)에서의 전이에 앞서 일어난다면, 다르게 말해 만약 t1 이 t2 보다 더 적다면 상태(S4)로의 분기가 이루어진다. 동일한 클록 사이클에서 일어나는 에지 신호(E1 및 E2)에서의 전이의 발생 순서를 유사하게 체크하는 것은 상태(S3)로부터 이루어진다. 부정확한 시퀀스인 경우에, 즉 만약 에지 신호(E2)에서의 전이가 에지 신호(E1)에서의 전이에 앞서 일어난다면, 상태(S6)로의 전이가 이루어진다; 만약 그 순서가 역전되면, 상태(S5)로의 분기가 이루어진다. 상태(S3)에서, 각 클록 사이클로 누적된 시간(TA)은 클록 시간(T)만큼 감소되고; 시간(t1)은 제로로 설정된다.
상태(S4)에서, 위상 차이 신호(φ)는 공식(φ = t1 + TA - t2)에 따라 출력되며, 누적 시간(TA)은 이후 클록 시간(T)의 값으로 설정되며, 또 시간(t2)은 제로로 설정된다. 에지 신호(E1)와 에지 신호(E2)에서 모두 전이가 일어난다면, 상기 신호들의 시퀀스가 고려되는 것은 상태(S4)로부터 시작될 때의 경우이다. 만약 이후 클록 사이클에서 먼저 에지 신호(E2)와 그후 에지 신호(E1)에서 변화가 일어난다면 상태(S4)는 그 다음 클록 사이클에서도 유지된다. 그 순서가 역전되면, 상태(S3)로의 전이가 이루어진다. 동일한 것이 상태(S5)에도 대응하게 적용되며 정확한 시퀀스인 경우에 우선 에지 신호(E1)에서의 변화가 예상되어야 한다. 부정확한 순서인 경우에, 다르게 말하면 우선 에지 신호(E2)에서 변화가 일어난다면, 에지 신호(E2)가 클록 사이클 내에서 변화되는 경우에만, 상태(S0)로의 분기가 이루어진다. 두 에지 신호(E2 및 E1)가 변화되면, 상태(S2)로 분기가 이루어진다.
본 발명의 일 변형에 따라, 도 5에 있는 도시로부터 시작하여, S4, S5로부터 시작하며, 에지 신호(E1) 및 에지 신호(E2)가 모두 클록 사이클 내에서 변화하는 조건을 가지는 화살표는 상태(S0)에서 끝난다. 이것은 에지 신호에서의 매우 짧은 시간적인 시퀀스의 변화와 제로 교차의 시간적 시퀀스가 있다면, 에러는 존재하는 것이 분명하고 그 결과로 나오는 정보는 매우 높은 확률로 잘못되며 그리하여 평가되어서는 아니된다는 가정을 고려하게 된다.
연관된 전이를 갖는 상태(S6 및 S7)는 여기에서 상세하게 진술되지 않을 것인데, 이는 이것이 도면에 있는 세부 사항과 위에서 주어진 다른 상태와 전이의 상세한 설명으로부터 이해될 수 있기 때문이다.
도 5에 따른 상태도에 따라 예시적인 실시예의 경우에, 에지의 금지된 순서가 일어났는지의 여부가 신뢰성 있게 식별된다. 그러나, 부정확한 시작 상태의 경우에, 후속하는 상태의 시퀀스는 항상 부정확하게 유지된다. 이것은 다른 입력 신호(L1= L2)의 도입으로 회피된다(도 2 참조). 이 입력 신호는, 에지 신호(E1, E2)가 각 이전 상태에서와 동일하였는지 동일하지 않았는지를 나타낸다. 에지 신호의 값은 상태(S0 및 S1)에서 동일하여야 하며, 이 신호는 상태(S2 내지 S7)에서 동일하여서는 않된다. 이 규칙의 위반은 부정확한 이전 상태를 나타낸다. 이전 상태가 정확하다는 것이 분명하지 않기 때문에, 명시적으로 도면에서 기술되지 않는 이 변형은 상태(S0)에 대한 경우에 에러 상황에 대해 미리 결정된 이후 상태로 리셋하여 제공한다.
도 6 은 검출기 신호(A, B, C, D)의 평가에 대한 대안적인 구성을 도시한다. 이 경우에, 각 검출기 신호(A, B, C, D)는 개별적으로 검출기(20A, 20B, 20C, 20D)에 공급되며, 상기 검출기는 위에서 진술된 검출기(20, 20')에 대응하는 방식으로 에지 위치 신호를 출력한다. 이 에지 위치 신호는 에지 신호(E1, E2)에 대응하는 에지의 발생에 대한 정보와, 시간(t1, t2)에 대응하는 상기 신호의 시간 위치에 대한 정보를 모두 포함한다. 검출기(20A, 20B)의 에지 위치 신호는 위상 차이 신호(φ')를 출력하는 제 1 정정 위상 차이 검출기(23')에 공급된다. 이 신호는 예를 들어 위에서 진술된 방식으로 결정된다. 대응하는 위상 차이 신호(φ'')는 검출기(20C 및 20D)의 에지 위치 신호를 평가하는 위상 차이 검출기(23'')에 의하여 출력된다. 위상 차이 신호(φ', φ'') 중 하나의 신호가 실제로 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기에 충분할지라도, 두 개의 신호가 도 6에 따라 다시 조합되며 위상 차이 신호(φ)로서 출력된다. 조합 중 가장 간단한 형태가 합이다.
도 7 은 본 발명에 따른 장치의 다른 변형의 개략도를 도시한다. 이 경우에 검출기 신호(A, B, C, D)는 검출기(20A, 20B, 20C, 20D)에 각각 개별적으로 공급되며, 이 검출기의 출력 신호, 즉 에지 위치 신호는 이 경우에 위상 차이 신호(φ)를 결정하기 위하여 상태를 적절히 평가하는 비교기(24')에 공급된다.
본 발명은 이리하여 DVD-영화, DVD-ROM, DVD-RW, DVD-R, CD, CD-ROM, CD-RW, CD-R 등을 위한 재생 장치와 대응하는 기록 장치에 있는 추적 시스템에 관한 것이다. DVD 방법에 따라 추적하는 현재의 재생 장치에서, 종래의 위상 형성 유닛은 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 에지들 사이의 시간 간격을 결정하기 위하여 사용되는 것이 일반적이다. 이 위상 형성 유닛은 이 검출기의 두 개의 입력 신호의 두 개의 에지들 사이의 간격을 결정하기 위한 것이다. 예를 들어, 이 검출기는 검출기의 입력에서 에지들 사이의 시간 차이에 대응하는 펄스를 검출기의 두 개의 출력 중 하나에 출력한다. 위상 형성 유닛이 특히 DPD 방법에 따라 추적하기 위하여 사용될 때, 입력 신호(A+C 및 B+D)는 쌍으로 변화되지 않는 일이 있을 수 있다. 종래의 위상 형성 유닛은 이것을 인식할 수 없고 그러한 경우에 검출기의 출력에 부정확한 펄스 길이를 출력한다. 그러한 부정확한 펄스 길이의 출력은 본 발명에 따라 억압된다.
두 대각선 합 신호(A+C, B+D)의 에지들 사이의 시간 간격은 스캐닝 빔(2)의 트랙 변이의 척도이다. 만약 스캐닝 빔(2)이 정보 트랙(6)의 트랙 중심을 정확하게 포착한다면, 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)는 이상적으로 동일한 형태와 시퀀스를 가진다. 이것은 신호(A+C 및 B+D)가 동시에 상승 에지 또는 하강 에지를 가진다는 것을 의미한다. 종래의 위상 비교기의 출력 신호는 이 경우에 제로이다.
스캐닝 빔(2)이 트랙 중심에 대하여 일정하지만 약간의 변위를 가진다면, 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 시퀀스는 여전히 동일하지만 이들 신호의 에지들은 더 이상 동시에 일어나지 않는다. 예로서, 만약 신호(A+C)의 양(positive)이나 음(negative)의 에지가 신호(B+D)의 에지에 앞서 일어난다면, 이 에지들 사이의 시간 간격은 위상 비교기에 의하여 위상 차이 신호(φ)로 결정된다. 이 경우에 입력 에지들의 순서는 위상 차이 신호(φ)의 값의 부호로 알 수 있다. 위상 비교기는 이리하여 위상 차이 신호(φ)에 대한 트랙 변이에 비례하는 값을 출력하는데, 이 값의 극성은 트랙 변이의 방향을 나타내고 그 크기는 트랙 중심으로부터의 거리를 나타낸다. 위상 차이 신호(φ)의 값은 디지털 값으로 존재하며; 두 개의 보수(complement), 오프셋 바이너리(offset binary) 등과 같은 표현 또는 다른 표현으로의 변환도 그리하여 가능하다.
많은 수의 정보 트랙(6)이 기록 매체(7) 상에 서로 인접하게 놓여 있다. 트랙 에러 신호(TE)는 그리하여 복수의 트랙이 횡단될 때 주기적 신호가 된다. 일례로 만약 스캐닝 빔(2)이 두 트랙 사이의 영역으로 향하여 이동될 때, 즉 트랙 중심으로부터 멀어질 때, 위상 차이 신호(φ)의 값과 그로 인한 트랙 에러 신호(TE)의 값은 증가된다. 이것은, 스캐닝 빔(2)이 스캐닝 빔이 멀어지게 이동하는 정보 트랙(6)을 여전히 검출하는 한, 발생한다. 만약 스캐닝 빔(2)이 두 트랙 사이에 정확히 위치된다면, 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 에지들의 시퀀스는 확실하지 않은데, 이는 스캐닝 빔(2)이 두 트랙으로부터 신호의 혼합을 포착하기 때문이다. 에지들의 시퀀스는 여기에서 좀더 무작위적으로 나타나며, 그 결과로 생기는 트랙 에러 신호(TE)는 다시 작은 값으로 된다. 만약 스캐닝 빔(2)이 그 다음 트랙을 향하여 다시 이동된다면, 그 다음 트랙으로부터 기원하는 에지들의 시퀀스는 다시 한정되며 트랙 에러 신호(TE)의 값은 유효한 트랙 변이를 보여준다.
위에서 진술된 바와 같이, 입력 신호들의 시퀀스는 정보 트랙(6) 상의 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 에지들의 시퀀스가 균일하며 트랙 변이에 비례하는 변위만을 나타낸다는 점에서 두 트랙 사이의 영역과 트랙 중심과는 다르다. 그러나, 트랙들 사이에, 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)의 시퀀스는 좀더 무작위적인데, 그 이유는 스캐닝 빔(2)이 이 경우에 두 트랙으로부터 신호의 혼합을 포착하기 때문이다. 대각선 합 신호(A+C 및 B+D)로부터 나오는 쌍을 지은 에지들은 이 경우에 발생하지 않는다. 본 발명에 따라, 그러한 부정확한 에지에 기반을 두고 있는 위상 차이 신호(φ)에 대한 출력 값은 억압된다. 도 5에 따른 상태도는 일례로 하나의 입력 신호, 즉 예를 들어 대각선 합 신호(A+C)의 고저 시퀀스(a high-low sequence)가 각 다른 신호, 즉 이 경우에 B+D에도 동일하게 포함되어 있는지를 보여준다. 이 경우에, 하나의 신호의 기껏해야 하나의 에지의 순서는 다른 신호에 있는 에지에 대하여 변화하도록 허용된다. 적어도 두 에지가 고려되는 각 다른 신호에 대하여 그 순서를 연속적으로 변화시킨다면, 이것은 허용된 순서를 위반하는 것이며 위상 차이 신호(φ)에 대하여 결정된 값이 출력되지 않는 효과를 가진다.
위에서 진술된 바와 같은 상황은 스캐닝 빔(2)이 트랙들 사이에 위치된다는 것을 추가적으로 나타낼 수 있다. 그 트랙 들 사이의 금지된 순서는 기본적으로 일어나지 않지만 누적되는 방식으로 발생하기 때문에, 이것을 신뢰성 있게 식별하기 위하여 카운터나 다른 기술을 추가하여 필터링이 여기에서 수행된다. 기본적인 가능성은 n 개의 에지들의 시퀀스에 존재하는 금지된 에지 순서(v)를 통계적으로 평가하는 것과, 미리 결정된 값(u=n-v)에 도달되지 못한 경우에 트랙들 사이의 영역을 식별하는 에러 지시 신호(FI)를 출력하는데에 있다. 만약 고려되는 시퀀스의 전체 개수(n) 내에서 유효한 시퀀스(n-v)의 비율이 미리 결정된 값(u) 이하로 떨어지는 경우, 두 트랙들 사이를 스캐닝 하는 것이 존재하는 상황이다. 더욱이, 에러 지시 신호(FI)는 신호(A+C 및 B+D)의 에지들의 순서가 기록 매체(7) 상의 긁힘이나 기타 에러 원인으로 인하여 교란되는지도 보여 줄 수 있다. 더욱이, 예를 들어 단위 시간당 평가와 같은 무효 에지의 개수의 통계적 평가나 에지들의 미리 결정된 전체 개수와 연관된 통계적 평가를 허용하는 다른 방법도 본 발명의 범주 내에 있다. 더욱이, 예시적인 실시예와 다른 것들 - 금지된 에지 시퀀스를 식별하고 결정된 위상 값의 출력을 억압하기 위하여 프로그램으로 실현된 상태 기계 또는 알고리듬도 본 발명의 범주 내에 있으며 에지 시퀀스의 위반을 평가하는 다른 방식도 또한 그렇다.

Claims (14)

  1. 두 개 이상의 검출기 요소(A, B, C, D)를 갖는 광검출기(10), 및 상기 광검출기(10)의 출력 신호(A, B, C, D, A+C, B+D) 사이의 위상 차이(φ)를 검출하기 위한 위상 형성 유닛(13)을 구비하는 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하거나 또는 광 기록 매체를 판독하고 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치에 있어서,
    상기 출력 신호(A, B, C, D, A+C, B+D)의 에지 시퀀스를 검출하기 위한 에지 시퀀스 검출기(14), 및 상기 위상 형성 유닛(13)에서 출력된 위상 차이 신호(φ)를 차단하기 위한 신호 차단 유닛(15)
    을 구비하는 것을 특징으로 하는, 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하거나 또는 광 기록 매체를 판독하고 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 신호 차단 유닛(15)은, 상기 위상 형성 유닛(13)에서 출력된 상기 위상 차이 신호(φ)로부터 유도되는 신호 또는 상기 위상 차이 신호(φ)를 형성하기 위해 사용되는 신호를 차단하는 것을 특징으로 하는, 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하거나 또는 광 기록 매체를 판독하고 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 광검출기(10)의 검출기 요소(10A, 10B, 10C, 10D)에 연결된 입력을 가지며, 상기 출력 신호(A+C, B+D)를 출력하는 대각선 합 신호 형성 유닛(11, 12)을 구비하는 것을 특징으로 하는, 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하거나 또는 광 기록 매체를 판독하고 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 출력 신호(A, B, C, D, A+C, B+D)가 공급되며 상기 위상 형성 유닛(13)과 상기 에지 시퀀스 검출기(14)에 연결된 출력을 갖는 에지 검출기(21, 21')와 위상각 검출기(22, 22')를 구비하는 것을 특징으로 하는, 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하거나 또는 광 기록 매체를 판독하고 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치.
  5. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 위상 형성 유닛(13)과 상기 에지 시퀀스 검출기(14)는 통합되어 있는 것을 특징으로 하는, 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하거나 또는 광 기록 매체를 판독하고 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치.
  6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 에지 시퀀스 검출기(14)의 출력에 연결된 결함 지시기(25)가 존재하는 것을 특징으로 하는, 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하거나 또는 광 기록 매체를 판독하고 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치.
  7. 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법에 있어서,
    신호(A, B, C, D, A+C, B+D)의 제로 교차(zero crossings)(a, b)의 시퀀스를 체크하는 단계와,
    허용할 수 없는 시퀀스에 대하여 상기 신호의 위상이 검출되며, 허용할 수 없는 시퀀스가 존재할 때 위상 값(φ)의 출력을 방지하는 단계
    를 구비하는 것을 특징으로 하는, 위상 검출 방법에 따라 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
  8. 제 7 항에 있어서, 하나의 신호(A, B, C, D, A+C, B+D)의 두 개를 초과하는 연속하는 제로 교차의 시퀀스는 다른 신호(A, B, C, D, B+D, A+C)에서의 제로 교차의 발생 없이는 허용할 수 없는 시퀀스인 것을 특징으로 하는, 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
  9. 제 7 항에 있어서, 상기 미리 결정된 시간 주기 내의 한 쌍을 초과하는 쌍의 제로 교차, 하나의 신호(A, B, C, D, A+C, B+D)의 제로 교차로 구성된 한 쌍의 제로 교차 및 다른 신호(A, B, C, D, B+D, A+C)의 연속하는 제로 교차의 시퀀스는 허용할 수 없는 시퀀스인 것을 특징으로 하는, 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
  10. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 에러 지시 신호(FI)가 허용할 수 없는 시퀀스의 누적 함수로서 발생되는 것을 특징으로 하는, 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
  11. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 신호(A, B, C, D, A+C, B+D)는 미리 결정된 클록 사이클(T)에서 평가되며, 상기 신호(A, B, C, D, A+C, B+D)의 두 개의 연속적인 값들(an, an-1, bn, bn-1) 중 하나의 값이 기준값(SL1, SL2) 위에 놓여 있고, 또 상기 값들 중 다른 하나의 값이 상기 기준값(SL1, SL2) 아래에 놓여 있으면, 제로 교차(a, b)가 존재하고, 상기 제로 교차(a, b)의 시간 위치가 상기 두 값들(an, an-1, bn, bn-1)을 사용하여 보간되는 것을 특징으로 하는, 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
  12. 제 11 항에 있어서, 하나의 신호(A, B, C, D, A+C, B+D)의 제로 교차(a, b)와 상기 다른 신호(A, B, C, D, B+D, A+C)의 제로 교차(b, a) 사이의 위상(φ)은 상기 각 보간된 시간 위치(t1, t2)와 상기 제로 교차(a, b) 사이에 놓여 있는 클록 사이클(TA)의 개수로부터 결정되는 것을 특징으로 하는, 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
  13. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 트랙 에러 신호(TE)는 허용할 수 없는 시퀀스인 경우에는 외삽(extrapolate)되는 것을 특징으로 하는, 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
  14. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 위상 검출 방법은 차분 위상 검출 방법(differential phase detection method)이고, 상기 비교되는 신호는 상기 대각선 합 신호(A+C, B+D)인 것을 특징으로 하는, 정확한 트랙 에러 신호(TE)를 결정하기 위한 방법.
KR1020000029075A 1999-05-31 2000-05-29 광 기록 매체로부터 판독하거나 광 기록 매체에 기록하기 위한 장치 및 정확한 트랙 에러 신호를 결정하기 위한 방법 KR100649138B1 (ko)

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