JPS62239330A - 光学ヘツド制御信号生成回路 - Google Patents
光学ヘツド制御信号生成回路Info
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- JPS62239330A JPS62239330A JP8151486A JP8151486A JPS62239330A JP S62239330 A JPS62239330 A JP S62239330A JP 8151486 A JP8151486 A JP 8151486A JP 8151486 A JP8151486 A JP 8151486A JP S62239330 A JPS62239330 A JP S62239330A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、VD、CD等に記録された情報を光ビーム
に依り読み出す光学的情報読取装置、或いは光ビームに
依り情報をディスク等に自き込む光学的情報書き込み装
置の傷検出補正にlするものである。
に依り読み出す光学的情報読取装置、或いは光ビームに
依り情報をディスク等に自き込む光学的情報書き込み装
置の傷検出補正にlするものである。
(発明の概要)
ディスク上の凹凸ピッドの人出の程度と状態に関する情
報を持っている4分υ1受光素子のトラック方向に垂直
な直線で分けられた同じ側にある夫々の受光素子の差出
力を、実質的に2つの!!準電圧と比較して出力する2
つのコンパレータに入力する。この2つのコンパレータ
のON、OFF状態で4分割受光素子の対角和の差出力
を取り出し、トラッキングエラー信号を発生させている
が、傷などの存在により、実質的に2つの基準電圧以内
になった場合、両コンバータは、OFF状態となり、ト
ラッキングエラーは生じなくなる。一方、トラッキング
エラー信号、及び、フォーカシングエラー信号を夫々一
定期聞保持するホールド回路を設けておき、両コンバー
タのOFF状態の時に、!・ラッキングエラー発生回路
には、前記トラッキング1ラーのホールド回路からの出
力を加算し、さらに、フォーカシングエラー発生回路を
、適所して、フォーカシングエラーのホールド回路出力
を選択する様にする。その結果、RF倍信号振幅低下に
よって傷検出を行う等の特別な回路を用いなくても、ト
ラッキングエラー発生回路で用いた信号で傷検出を行い
、l!!IIt1なホールド回路の出力をスイッチング
しているので、非常にntiな構成となり、安価となる
。その上、傷検出後に、フォーカシング、或いは、トラ
ッキングサーボのゲイン切り換えを行わないので、振動
による外乱の多い場所での使用にも非常に大きな効果を
もたらす。
報を持っている4分υ1受光素子のトラック方向に垂直
な直線で分けられた同じ側にある夫々の受光素子の差出
力を、実質的に2つの!!準電圧と比較して出力する2
つのコンパレータに入力する。この2つのコンパレータ
のON、OFF状態で4分割受光素子の対角和の差出力
を取り出し、トラッキングエラー信号を発生させている
が、傷などの存在により、実質的に2つの基準電圧以内
になった場合、両コンバータは、OFF状態となり、ト
ラッキングエラーは生じなくなる。一方、トラッキング
エラー信号、及び、フォーカシングエラー信号を夫々一
定期聞保持するホールド回路を設けておき、両コンバー
タのOFF状態の時に、!・ラッキングエラー発生回路
には、前記トラッキング1ラーのホールド回路からの出
力を加算し、さらに、フォーカシングエラー発生回路を
、適所して、フォーカシングエラーのホールド回路出力
を選択する様にする。その結果、RF倍信号振幅低下に
よって傷検出を行う等の特別な回路を用いなくても、ト
ラッキングエラー発生回路で用いた信号で傷検出を行い
、l!!IIt1なホールド回路の出力をスイッチング
しているので、非常にntiな構成となり、安価となる
。その上、傷検出後に、フォーカシング、或いは、トラ
ッキングサーボのゲイン切り換えを行わないので、振動
による外乱の多い場所での使用にも非常に大きな効果を
もたらす。
(従来の技術)
従来、トラッキングずれ検出法に、ヘテロダイン法を用
いた光学的情報読取装置が知られていた。
いた光学的情報読取装置が知られていた。
上述した方法を用いた光学的情報読取装置の概略図を第
2図に示す。
2図に示す。
半導体レーザ1より出射された光は、ビームスプリッタ
2によって、ディスク5方向に反射されコリメータレン
ズ3によって平行光とされ、対物レンズ4を介して、デ
ィスク5Lに収光される。
2によって、ディスク5方向に反射されコリメータレン
ズ3によって平行光とされ、対物レンズ4を介して、デ
ィスク5Lに収光される。
この光は、凹凸のピッド形状を持つ情報トラックにより
反射され、対物レンズ4.コリメータレンズ3.ビーム
スプリッタ2を介して、入射光束とは直交する向きに透
過し、受光素子6に入射する。
反射され、対物レンズ4.コリメータレンズ3.ビーム
スプリッタ2を介して、入射光束とは直交する向きに透
過し、受光素子6に入射する。
この受光素子6では、ディスク5からの反射光が検知さ
れて、その変化が信号として取り出される。
れて、その変化が信号として取り出される。
又、フォーカシング&制御もしくはトラッキング制御の
為、光学的読取装置を構成する対物レンズ4を駆動して
位置制御する為のu制御信号が形成される。
為、光学的読取装置を構成する対物レンズ4を駆動して
位置制御する為のu制御信号が形成される。
上述のトラッキング制御のうらヘテロダイン法(特許公
報昭56−30610)を説明する為の原理を第3図に
、実施する為の回路のブロック図を第4図に示す。ディ
スク5の読取光は、ビットにより口折された光の明暗パ
ターンとレーザ光のスポットの位I!関係により受光素
子6上で、第3図に示す様な回折パターンとなる。ビッ
トPに対するビームの位WI関係を示したのがa図、受
光素子6上のビームと回折光のパターンを示したのがb
図である。尚、斜線部分は、光量の少ない部分を示して
いる。(1)、 (2)、 (3)より、ビットがビー
ム内に人出する際に、回折光のパターンの対称性の崩れ
方が左右の場合で逆転している事がわかる。
報昭56−30610)を説明する為の原理を第3図に
、実施する為の回路のブロック図を第4図に示す。ディ
スク5の読取光は、ビットにより口折された光の明暗パ
ターンとレーザ光のスポットの位I!関係により受光素
子6上で、第3図に示す様な回折パターンとなる。ビッ
トPに対するビームの位WI関係を示したのがa図、受
光素子6上のビームと回折光のパターンを示したのがb
図である。尚、斜線部分は、光量の少ない部分を示して
いる。(1)、 (2)、 (3)より、ビットがビー
ム内に人出する際に、回折光のパターンの対称性の崩れ
方が左右の場合で逆転している事がわかる。
従ってビットがビーム内に人出する際のあるタイミング
でこの対称性を01.D2.D3.D4の受光素子から
の出力で判断できれば、トラッキングエラー信号とする
事ができる。
でこの対称性を01.D2.D3.D4の受光素子から
の出力で判断できれば、トラッキングエラー信号とする
事ができる。
第4図は、(公ml特許公報[57−74837)に基
づいた上記原理による実施例である。4分割受光素子6
のDlとD3の出力を側枠回路10に、又、D2とD4
の出力を加算回路9に入力し、両加算出力を減算回路1
2に入力し、両出力の差信号S1を得る。一方、Dlと
D4の出力を加算回路8に、又、D2とD3の出力を加
算回路7に入ft L、、再加算出力を加算出力11に
人力し、両出力の和信号S2を得る。信号S1は、第3
図に示した様に、スポットに対し、ビットが人出する際
の回折光の対称性の崩れに対応した出力信号なので、ト
ラッキングエラー情報を含む、又、信号82は、再生情
報信号となっている。加算回路11の出力は、立ち上り
パルス発生器13と立ち下がりパルス14に供給され、
夫々信号S3と84を発生ずる。一方、減算回路12の
出力は、サンプリングホールド回路15.16に供給さ
れ、夫々パルス信号S3と$4によりサンプリングされ
、その値をホールドし、減算回路17に供給され、トラ
ッキングエラー信号を得ている。第5図は、上記回路構
成によって生じた主要な各部の信号出力を表わした図で
ある。スポットに対し、ビットが左側からほぼ全部入っ
た状態から、ビットが右へ移動し、右側から出始める状
態の間の各信号出力の様子を表わしている。信号S1は
、トラッキングエラー情報を含む信号。信号82は、再
生信号出力。信号S3は、信号S2のゼロクロス点を基
準にした立ち上がりパルス信号。信号S4は、信Y5
S 2のゼロクロス点を基準にした立ち下がりパルス信
号。信号S6は、ビットがビームに対し、左から右へ移
動するにつれ、極性が負から正へ、又は、正から負へ反
転すると共に、トラックずれ同に対応した出力、即ち、
トラッキング1ラ一信号に対応する信号となっている。
づいた上記原理による実施例である。4分割受光素子6
のDlとD3の出力を側枠回路10に、又、D2とD4
の出力を加算回路9に入力し、両加算出力を減算回路1
2に入力し、両出力の差信号S1を得る。一方、Dlと
D4の出力を加算回路8に、又、D2とD3の出力を加
算回路7に入ft L、、再加算出力を加算出力11に
人力し、両出力の和信号S2を得る。信号S1は、第3
図に示した様に、スポットに対し、ビットが人出する際
の回折光の対称性の崩れに対応した出力信号なので、ト
ラッキングエラー情報を含む、又、信号82は、再生情
報信号となっている。加算回路11の出力は、立ち上り
パルス発生器13と立ち下がりパルス14に供給され、
夫々信号S3と84を発生ずる。一方、減算回路12の
出力は、サンプリングホールド回路15.16に供給さ
れ、夫々パルス信号S3と$4によりサンプリングされ
、その値をホールドし、減算回路17に供給され、トラ
ッキングエラー信号を得ている。第5図は、上記回路構
成によって生じた主要な各部の信号出力を表わした図で
ある。スポットに対し、ビットが左側からほぼ全部入っ
た状態から、ビットが右へ移動し、右側から出始める状
態の間の各信号出力の様子を表わしている。信号S1は
、トラッキングエラー情報を含む信号。信号82は、再
生信号出力。信号S3は、信号S2のゼロクロス点を基
準にした立ち上がりパルス信号。信号S4は、信Y5
S 2のゼロクロス点を基準にした立ち下がりパルス信
号。信号S6は、ビットがビームに対し、左から右へ移
動するにつれ、極性が負から正へ、又は、正から負へ反
転すると共に、トラックずれ同に対応した出力、即ち、
トラッキング1ラ一信号に対応する信号となっている。
(発明が解決しようとする@照点)
しかし従来のヘテロゲイン法による方法では、トラッキ
ングエラー生成回路に、パルス発生口路並びにサンプル
ホールド@路を用いて構成されていめので、回路構成が
複雑になり、高価になるという欠点がある。又、ディス
クの人血等に傷があった場合、トラッキングエラーに擬
似信号が乗り、トラッキングサーボが不安定になったり
、トラッキングジャンプが生じたりしていた。例えばデ
ィスク表面上にブラックドツト状の傷があった場合、第
6図に示す様に、傷による光束の遮蔽は、必ずビーム内
に点対称の影を生じさせる。なぜならば、700m程度
の傷が存在し、ディスク表面上のビーム(ビーム径70
0〜800趨)を侵食すると、入射光束が遮蔽された部
分は、当然、彰となるが、ディスクによって反射された
光束も、傷によって遮蔽される。従って、4分割受光素
子上では、点対称の影を生じる。この様な傷が、各信口
に与える彩管を示したのが、第7図である。ビットがオ
ントラック上にあるとして、傷によってビームが右半分
遮蔽された状態を示している。時刻t1以前は、傷がビ
ーム内に入って来ない状態で、この時には、信号S1は
ゼロで、信号S2は、ディスクの反射率とビット深さに
よって定まる変調を受けており、トラッキングエラー信
f)もピロである。
ングエラー生成回路に、パルス発生口路並びにサンプル
ホールド@路を用いて構成されていめので、回路構成が
複雑になり、高価になるという欠点がある。又、ディス
クの人血等に傷があった場合、トラッキングエラーに擬
似信号が乗り、トラッキングサーボが不安定になったり
、トラッキングジャンプが生じたりしていた。例えばデ
ィスク表面上にブラックドツト状の傷があった場合、第
6図に示す様に、傷による光束の遮蔽は、必ずビーム内
に点対称の影を生じさせる。なぜならば、700m程度
の傷が存在し、ディスク表面上のビーム(ビーム径70
0〜800趨)を侵食すると、入射光束が遮蔽された部
分は、当然、彰となるが、ディスクによって反射された
光束も、傷によって遮蔽される。従って、4分割受光素
子上では、点対称の影を生じる。この様な傷が、各信口
に与える彩管を示したのが、第7図である。ビットがオ
ントラック上にあるとして、傷によってビームが右半分
遮蔽された状態を示している。時刻t1以前は、傷がビ
ーム内に入って来ない状態で、この時には、信号S1は
ゼロで、信号S2は、ディスクの反射率とビット深さに
よって定まる変調を受けており、トラッキングエラー信
f)もピロである。
しかし、時刻t1以降傷によってビームが徐々に侵食さ
れ始めると、点対称の影が生じ始めるが放に、傷の信号
にビットの変調成分が噛った信号S が生成される。一
方、信号S2は、影によプて侵食された分だけビットに
よる変調が落らる。
れ始めると、点対称の影が生じ始めるが放に、傷の信号
にビットの変調成分が噛った信号S が生成される。一
方、信号S2は、影によプて侵食された分だけビットに
よる変調が落らる。
但し、信号S と信号S2の位相関係は、傷によって殆
ど乱される事はない。従って信号S2のビロクOスでサ
ンプルホールドすると、傷が、ビームの右半分に対称に
入いる時Al t 2までに、トラッキングエラー信号
は、殆ど負の擬似信号を発生する。又、時刻t2以降、
傷が徐々にビームよりはみ出すにつれ、上記状態と逆の
極性を持った信号が信号S1に生成されるので、トラッ
キングエラー信号は、殆ど正の擬似信号を発生する。
ど乱される事はない。従って信号S2のビロクOスでサ
ンプルホールドすると、傷が、ビームの右半分に対称に
入いる時Al t 2までに、トラッキングエラー信号
は、殆ど負の擬似信号を発生する。又、時刻t2以降、
傷が徐々にビームよりはみ出すにつれ、上記状態と逆の
極性を持った信号が信号S1に生成されるので、トラッ
キングエラー信号は、殆ど正の擬似信号を発生する。
従って、回折光の強度分布のパターン変化を、4分割受
光素子の対角和の差信号より得、トラッキングエラー信
号を生成する方式では、どの様な方法であっても、トラ
ッキングエラー信号中に、傷による擬信号が必ず現われ
る。この為、トラッキングサーボが不安定になり、トラ
ッキングジャンプを生じたりしていた。特に、傷がトラ
ック方向に対しビームの半分を遮蔽する場合には、この
傾向が著じるしく生じていた。
光素子の対角和の差信号より得、トラッキングエラー信
号を生成する方式では、どの様な方法であっても、トラ
ッキングエラー信号中に、傷による擬信号が必ず現われ
る。この為、トラッキングサーボが不安定になり、トラ
ッキングジャンプを生じたりしていた。特に、傷がトラ
ック方向に対しビームの半分を遮蔽する場合には、この
傾向が著じるしく生じていた。
又、フォーカスサーボにJ3いても、非点収差法等の様
に、4分割受光素子の対角和の差信号より、フォーカス
エラー信号を生成する方式では、前記現象と同様の影響
があり、フォーカスエラー信号中に、傷による擬信号が
現われる。この為、フォーカスアクチュエータが振られ
、過渡現象により、傷の大きさよりも広い範囲で合焦ず
れを生じる。
に、4分割受光素子の対角和の差信号より、フォーカス
エラー信号を生成する方式では、前記現象と同様の影響
があり、フォーカスエラー信号中に、傷による擬信号が
現われる。この為、フォーカスアクチュエータが振られ
、過渡現象により、傷の大きさよりも広い範囲で合焦ず
れを生じる。
イの結果、ビームら大きくなり、隣接トラックとのクロ
ストーク、並びに、次の信号とのクロストークを生じ、
回折光の分布が異常となり、対角差信号も異常となり、
トラッキングエラー信号も擬信号となる。
ストーク、並びに、次の信号とのクロストークを生じ、
回折光の分布が異常となり、対角差信号も異常となり、
トラッキングエラー信号も擬信号となる。
そこでこの発明は、従来のこの様な欠点を解決する為、
安価で、しかも、ヘテロダイン法と同笠のトラッキング
エラー信号を得、傷による擬似信号の発生を生じさせる
事なく、高精度で安定なトラッキングエラー信号及びフ
ォーカシングエラー信号を簡単に得る事を目的としてい
る。
安価で、しかも、ヘテロダイン法と同笠のトラッキング
エラー信号を得、傷による擬似信号の発生を生じさせる
事なく、高精度で安定なトラッキングエラー信号及びフ
ォーカシングエラー信号を簡単に得る事を目的としてい
る。
(問題点を解決するための手段)
上記問題点を解決する為にこの発明は、光学的読取装置
によりディスクに入射させられディスクで変調を受1ノ
た読取光を、事実上、トラック方向とトラック方向に垂
直な方向に分けた少なくとも4つの受光素子で受け、相
対する対角方向の夫々の受光素子の出力信号を加算する
第1.第2の加n回路と、トラック方向に垂直なd線で
分られた同じ側にある夫々の受光素子の出力信号を加算
する第3.第4の加算回路と、上記第1.第2の加算回
路の出力信号の差信号を生成する第5の減算回路と、上
記差信号に対し、極性が反転された信号を生成する第6
の回路と、上記第3.第4の加算回路の出力信号の差信
号から、少なくとも2つの基準電圧を設定し実質上3つ
の状態を作り、うち2つの状態の時に第5の回路の出力
と第6の回路の出力のいずれか一方を選択出力させ、残
り1つの状態の時に、第5の回路の出力と第6の回路の
出力を遮断する第7の回路と、ローパスフィルター回路
と、上記ローパスフィルター回路を経た信号を一定期間
保持する第8のホールド回路と、上記ローパスフィルタ
回路を経た出力と、上記第8のホールド回路の出力を上
記残り1つの状態の時に尋通さUた出力とを合成させる
第9の回路から成り、上記第9の回路を経た出力信号を
トラッキングエラー信号とし、受光素子より得たフォー
カシングエラー信号を、上記2つの状態の時に出力させ
る第10の回路と、上記フォーカシングエラー信号を一
定期間保持する第11のホールド回路と、上記第10の
回路を経た出力と、上記第11のホールド回路の出力を
上記残りの1つの状態の時にη通さけた出力とを合成さ
せる第12の回路から成り、上記第12の回路を経た出
力信号を新たなフォーカシングエラー信号とする事を特
徴とする。
によりディスクに入射させられディスクで変調を受1ノ
た読取光を、事実上、トラック方向とトラック方向に垂
直な方向に分けた少なくとも4つの受光素子で受け、相
対する対角方向の夫々の受光素子の出力信号を加算する
第1.第2の加n回路と、トラック方向に垂直なd線で
分られた同じ側にある夫々の受光素子の出力信号を加算
する第3.第4の加算回路と、上記第1.第2の加算回
路の出力信号の差信号を生成する第5の減算回路と、上
記差信号に対し、極性が反転された信号を生成する第6
の回路と、上記第3.第4の加算回路の出力信号の差信
号から、少なくとも2つの基準電圧を設定し実質上3つ
の状態を作り、うち2つの状態の時に第5の回路の出力
と第6の回路の出力のいずれか一方を選択出力させ、残
り1つの状態の時に、第5の回路の出力と第6の回路の
出力を遮断する第7の回路と、ローパスフィルター回路
と、上記ローパスフィルター回路を経た信号を一定期間
保持する第8のホールド回路と、上記ローパスフィルタ
回路を経た出力と、上記第8のホールド回路の出力を上
記残り1つの状態の時に尋通さUた出力とを合成させる
第9の回路から成り、上記第9の回路を経た出力信号を
トラッキングエラー信号とし、受光素子より得たフォー
カシングエラー信号を、上記2つの状態の時に出力させ
る第10の回路と、上記フォーカシングエラー信号を一
定期間保持する第11のホールド回路と、上記第10の
回路を経た出力と、上記第11のホールド回路の出力を
上記残りの1つの状態の時にη通さけた出力とを合成さ
せる第12の回路から成り、上記第12の回路を経た出
力信号を新たなフォーカシングエラー信号とする事を特
徴とする。
(作用)
上記の様に、回路を構成し、エラー信号を得ると、ピッ
トの人出に関する程度と状態に対する情報がデジタル化
されるので、ピットの人出に1′!!1′する情報のみ
となる。従って、トラッキングエラー信号には、ピット
のトラッキングずれ情報以外の信号は、混入しない。又
、第7の回路で、適切なスライスレベルを設定し、ピッ
トの人出に関する情報信号のレベルを制限すれば、傷の
存在の有無によって、トラッキングエラー信号を発生さ
せたり、消したりする事ができ、又、トラッキングエラ
ー信号が消えている間は、トラッキングエラー信号をホ
ールドした出力を出すので傷のある場合には、トラッキ
ングエラー信号は、平均的な信号レベルとなり、傷の無
い場合には、通常のトラッキングエラー信号となるので
、トラッキングエラー信号中に、擬似信号がU入する事
は、残留誤差範囲内のゆらぎ程度となり、実質上全くな
くなる。
トの人出に関する程度と状態に対する情報がデジタル化
されるので、ピットの人出に1′!!1′する情報のみ
となる。従って、トラッキングエラー信号には、ピット
のトラッキングずれ情報以外の信号は、混入しない。又
、第7の回路で、適切なスライスレベルを設定し、ピッ
トの人出に関する情報信号のレベルを制限すれば、傷の
存在の有無によって、トラッキングエラー信号を発生さ
せたり、消したりする事ができ、又、トラッキングエラ
ー信号が消えている間は、トラッキングエラー信号をホ
ールドした出力を出すので傷のある場合には、トラッキ
ングエラー信号は、平均的な信号レベルとなり、傷の無
い場合には、通常のトラッキングエラー信号となるので
、トラッキングエラー信号中に、擬似信号がU入する事
は、残留誤差範囲内のゆらぎ程度となり、実質上全くな
くなる。
又、フォーカシングエラー信号に対しても、トラッキン
グエラー信号を生成する信号を用いているので、トラッ
キングエラー信号と全く同期して、―検出及び補正を行
う事ができる。又、同様にフォーカシングエラー信号中
に、擬似信号が混入する事は、残留誤差範囲内のゆらぎ
程度となり、実質上全くなくなる。
グエラー信号を生成する信号を用いているので、トラッ
キングエラー信号と全く同期して、―検出及び補正を行
う事ができる。又、同様にフォーカシングエラー信号中
に、擬似信号が混入する事は、残留誤差範囲内のゆらぎ
程度となり、実質上全くなくなる。
従って、トラッキングサーボの不安定性を全く回避する
事が可能となり、トラッキングジ曳7ンブを生ずる事は
なくなり、高精度で安定なトラッキング制御及びフォー
カシング制御を実tSする°■ができる。
事が可能となり、トラッキングジ曳7ンブを生ずる事は
なくなり、高精度で安定なトラッキング制御及びフォー
カシング制御を実tSする°■ができる。
(実施例)
以下にこの発明の実施例を図面に基づいて説明づる。第
3図に示した様に、ビーム内にビットが人出する際、ト
ラックの左右で、回折光のパターンの対称性が崩れると
共に、CDやVDの様に、ビットの深さが、使用した光
の波長の175程度の場合には、トラック方向の前後に
も回折光の強度分布差が生じる。この強度分布差の差異
を信号として取り出すと、ビットがビーム内に人ってく
る状態か出ていく状態かを判別する事ができる。従って
、ビットがビーム内に人出する際の対称性の崩れを上記
信号より判断する事ができれば、トラッキングエラー信
号とする°■ができる。
3図に示した様に、ビーム内にビットが人出する際、ト
ラックの左右で、回折光のパターンの対称性が崩れると
共に、CDやVDの様に、ビットの深さが、使用した光
の波長の175程度の場合には、トラック方向の前後に
も回折光の強度分布差が生じる。この強度分布差の差異
を信号として取り出すと、ビットがビーム内に人ってく
る状態か出ていく状態かを判別する事ができる。従って
、ビットがビーム内に人出する際の対称性の崩れを上記
信号より判断する事ができれば、トラッキングエラー信
号とする°■ができる。
第1図は、上記原理による本発明を実施する為の回路の
ブロック図の一例である。
ブロック図の一例である。
6は4分割受光素子で、1−ラック方向Xと半径方向Y
とに分(Jられ、l)1.D2.I)3.04のそれぞ
れ4つの受光素子からなる。
とに分(Jられ、l)1.D2.I)3.04のそれぞ
れ4つの受光素子からなる。
7(jよ3つの状態のうちの2つの状態ぐ交互に第5の
減算回路25の出力S12と第6の回路26の出力S1
3とを出力し、残り1つの状態の時に第5の減n回路2
5の出力S12と第6回路26の出力S13を退所する
第7の回路で、この実施例ではコンパレータ(27,2
8)インバータ(33,34)J3よびゲートスイッチ
(29,30)よりなる。
減算回路25の出力S12と第6の回路26の出力S1
3とを出力し、残り1つの状態の時に第5の減n回路2
5の出力S12と第6回路26の出力S13を退所する
第7の回路で、この実施例ではコンパレータ(27,2
8)インバータ(33,34)J3よびゲートスイッチ
(29,30)よりなる。
9Cは、第8のホールド回路36の出力S21を、前記
残りの1つの状態の時に導通させて出し、その出力と、
ローパスフィルター回路35を経た出力S19とを合成
させる第9の回路で、この実施例ではAND回路38と
ゲートスイッチ39よりなる。
残りの1つの状態の時に導通させて出し、その出力と、
ローパスフィルター回路35を経た出力S19とを合成
させる第9の回路で、この実施例ではAND回路38と
ゲートスイッチ39よりなる。
10Cは受光素子より得たフォーカシングエラー信号を
、3つの状態のうち2つの状態の時に出力させる第10
の回路で、ここではゲートスイッチ(31,32)より
なる。
、3つの状態のうち2つの状態の時に出力させる第10
の回路で、ここではゲートスイッチ(31,32)より
なる。
12Gは第11のホールド回路37の出力を、前記残り
の1つの状態の時に導通させて出力し、その出力と前記
第10の回路10Gを経た出力とを合成させる第12の
回路である。
の1つの状態の時に導通させて出力し、その出力と前記
第10の回路10Gを経た出力とを合成させる第12の
回路である。
4分割受光素子6のDlとD2の出力を加算回路20に
、又、D3とD4の出力を加算回路21に入力し、再加
算出力を減算回路24に入力し、再出力の差信号S11
を得る。信号S11は、ビットの人出に関する情報を含
んでいる。一方、DlとD3の出力を加算回路22に、
又、D2とD4の出力を加算回路23に入力し、再加算
出力を減算回路25に人力し、再出力の差信号S1□を
得る。又、Dlと03の出力、並びに、D2と04の出
力を、信号S1□の極性と逆になる様に、減算回路26
に入力し、差信号S を得る。信号S1□。
、又、D3とD4の出力を加算回路21に入力し、再加
算出力を減算回路24に入力し、再出力の差信号S11
を得る。信号S11は、ビットの人出に関する情報を含
んでいる。一方、DlとD3の出力を加算回路22に、
又、D2とD4の出力を加算回路23に入力し、再加算
出力を減算回路25に人力し、再出力の差信号S1□を
得る。又、Dlと03の出力、並びに、D2と04の出
力を、信号S1□の極性と逆になる様に、減算回路26
に入力し、差信号S を得る。信号S1□。
S13は、お互い逆極性の信号ではあるが、第3図に示
した様に、スポットに対し、ビットが人出する際の回折
光の対称性の崩れに対応した出力信号なので、両信号共
、トラッキングエラー情報を含む。減算回路24の出力
S11を、2つの異なる基準電圧V rcflとV r
er2と夫々比較して出力するコンパレータ27.28
に入力し、夫々信号S14゜S を得る。この信号S1
4とSl、を、夫々インバ一タ33と34に入力して反
転信号S16と81□を得る。これらの信号の関係を第
8図に示す、基準電圧vref1とV ref2を大々
基準電圧にして、上記基準電圧よりも信号$11の出力
が大きい時に、信号S14.S15は、ハイレベルとな
り、信@816゜817は、ロウレベルとなる。又、上
記)さ準電圧よりも信号S の出力が低い時に、信号S
、Sは、ロウレベルとなり、信号S S は、ハイ1
6・ 17 レベルとなる。従って、信’Ai S 15は、V r
er2よりも高い電圧の時のみハイレベルとなり、信号
816は、V rcNよりも低い電圧の時のみハイレベ
ルとなる。一方、信号S14と817のAND回路38
の出力S2oは、V reflとV ref2の間の出
力の時のみハイレベルとなる。さて、信号815とS1
6のハイレベルの時にゲートが聞くスイッチング回路2
つ。
した様に、スポットに対し、ビットが人出する際の回折
光の対称性の崩れに対応した出力信号なので、両信号共
、トラッキングエラー情報を含む。減算回路24の出力
S11を、2つの異なる基準電圧V rcflとV r
er2と夫々比較して出力するコンパレータ27.28
に入力し、夫々信号S14゜S を得る。この信号S1
4とSl、を、夫々インバ一タ33と34に入力して反
転信号S16と81□を得る。これらの信号の関係を第
8図に示す、基準電圧vref1とV ref2を大々
基準電圧にして、上記基準電圧よりも信号$11の出力
が大きい時に、信号S14.S15は、ハイレベルとな
り、信@816゜817は、ロウレベルとなる。又、上
記)さ準電圧よりも信号S の出力が低い時に、信号S
、Sは、ロウレベルとなり、信号S S は、ハイ1
6・ 17 レベルとなる。従って、信’Ai S 15は、V r
er2よりも高い電圧の時のみハイレベルとなり、信号
816は、V rcNよりも低い電圧の時のみハイレベ
ルとなる。一方、信号S14と817のAND回路38
の出力S2oは、V reflとV ref2の間の出
力の時のみハイレベルとなる。さて、信号815とS1
6のハイレベルの時にゲートが聞くスイッチング回路2
つ。
30.31.32を設けておく。スイッチング回路29
.30は夫々、信号S16と815によって開閉する。
.30は夫々、信号S16と815によって開閉する。
第9図は、トラッキングエラー信号を生成する回路部分
の信号を表わした図である。スポットに対し、ビットが
左側からほぼ全部入った状態から、ビットが右へ移動し
、右側から出始める状態の間の各信号出力の様子を表わ
している。信@S11は、ビットの人出に関する状態と
程度を示す情報を含む信号。信号S S は、トラツ
キングエラー情報 を含む信号で、お互い逆の橘性を持っている。従って、
信号S15がハイレベルの時、即ら、ビットがビーム内
に侵入した場合には、ゲートスイッチ29により、信号
S12の出力を、又、信号S16がハイレベルの時、即
ち、ビットがビームから出始める時には、ゲートスイッ
チ30により、信号S13の出力を出せば、信号S18
が得られ、ローパスフィルター35に通す事で、トラッ
キングエラー信号S が得られる。さらに、信号S 、
S が共にローレベルの時、信@S2oは、ハイレベル
となり、トラッキングエラー信号は生成されない。
の信号を表わした図である。スポットに対し、ビットが
左側からほぼ全部入った状態から、ビットが右へ移動し
、右側から出始める状態の間の各信号出力の様子を表わ
している。信@S11は、ビットの人出に関する状態と
程度を示す情報を含む信号。信号S S は、トラツ
キングエラー情報 を含む信号で、お互い逆の橘性を持っている。従って、
信号S15がハイレベルの時、即ら、ビットがビーム内
に侵入した場合には、ゲートスイッチ29により、信号
S12の出力を、又、信号S16がハイレベルの時、即
ち、ビットがビームから出始める時には、ゲートスイッ
チ30により、信号S13の出力を出せば、信号S18
が得られ、ローパスフィルター35に通す事で、トラッ
キングエラー信号S が得られる。さらに、信号S 、
S が共にローレベルの時、信@S2oは、ハイレベル
となり、トラッキングエラー信号は生成されない。
この時、トラッキングエラー信号S19の出力を一定期
間保持したホールド回路36からの出力を加えると、滑
らかなトラッキングエラー信号819を得る。
間保持したホールド回路36からの出力を加えると、滑
らかなトラッキングエラー信号819を得る。
次に、ビットと共にブラックドツト状の傷が、ビーム内
に侵入した場合を考える。傷が存在すると、第7図に示
した様に、ビットによる変調レベルは、かなり低下する
。傷によって、4分割受光素子上では、点対称の影を生
じる。この様な影が各信号に与える影響を示したのが、
第10図である。ビットがオントラック上にあるとして
、傷によって、ビームが、右半分遮蔽された状態を示し
ている。時刻t1以降、傷によってビームが徐々に侵食
され始めると、点対称の影が生じ始めるが故に、傷の信
号に、ビットの変調成分が乗った信号S1□が生成され
る。又、同時に、信号S1□とは逆楊性の信号S13も
生成される。一方、信号811は、影によって侵食され
た分だけ、ビットによる変調が落ちる。従って、適正に
基準電圧V rerlとV rer2を設定する事によ
り、信号S15と816を得る。信号81.により、信
号S15と816の入力をスイッチングして出力し、信
号2゜により、ホールド回路36の出力を取り出すので
、トラッキングエラー信号は、若干の傷の影響を受番プ
はするが、層の影響が大きくなる範囲は、平均的トラッ
キングエラー信号となり、充分に通常のトラッキング信
号振幅の大きさに比べて小さくする事ができる。
に侵入した場合を考える。傷が存在すると、第7図に示
した様に、ビットによる変調レベルは、かなり低下する
。傷によって、4分割受光素子上では、点対称の影を生
じる。この様な影が各信号に与える影響を示したのが、
第10図である。ビットがオントラック上にあるとして
、傷によって、ビームが、右半分遮蔽された状態を示し
ている。時刻t1以降、傷によってビームが徐々に侵食
され始めると、点対称の影が生じ始めるが故に、傷の信
号に、ビットの変調成分が乗った信号S1□が生成され
る。又、同時に、信号S1□とは逆楊性の信号S13も
生成される。一方、信号811は、影によって侵食され
た分だけ、ビットによる変調が落ちる。従って、適正に
基準電圧V rerlとV rer2を設定する事によ
り、信号S15と816を得る。信号81.により、信
号S15と816の入力をスイッチングして出力し、信
号2゜により、ホールド回路36の出力を取り出すので
、トラッキングエラー信号は、若干の傷の影響を受番プ
はするが、層の影響が大きくなる範囲は、平均的トラッ
キングエラー信号となり、充分に通常のトラッキング信
号振幅の大きさに比べて小さくする事ができる。
従って、傷による擬似信号の発生は、残留誤差範囲内の
ゆらぎの程度となり、トラッキングサーボに対して影響
を与える事はなくなる。又、フォーカシングエラー信号
に対しては、信号S15と816で、夫々ゲートスイッ
チ32.31を開開する。
ゆらぎの程度となり、トラッキングサーボに対して影響
を与える事はなくなる。又、フォーカシングエラー信号
に対しては、信号S15と816で、夫々ゲートスイッ
チ32.31を開開する。
その出力をホールド回路37、及び、信号S2oによっ
て開1羽するゲートスイッチ40を設けておく。
て開1羽するゲートスイッチ40を設けておく。
従って、傷の影響が出始めると、平均的フォーカシング
エラー信号となり、充分に通常のフォーカシングエラー
信号振幅の大きさに比べて小さくする事ができる。従っ
て、トラッキングエラー信号と同期して、傷による擬似
信号の発生は、残留誤差範囲内のゆらぎの程度となり、
フォカシングサーボに対して影響を与える事はなくなる
。
エラー信号となり、充分に通常のフォーカシングエラー
信号振幅の大きさに比べて小さくする事ができる。従っ
て、トラッキングエラー信号と同期して、傷による擬似
信号の発生は、残留誤差範囲内のゆらぎの程度となり、
フォカシングサーボに対して影響を与える事はなくなる
。
(発明の効果)
以上述べた様に、本発明に依れば、トラッキングエラー
発生Jijl路に、パルス発生回路、並びにサンプルホ
ールド回路など複雑な回路構成を必要とせず、減算回路
、コンパレータ、ゲートスイッチ等でヘテロダイン法と
同等のトラッキングエラー信号を得る事ができるので、
非常に安価となる。
発生Jijl路に、パルス発生回路、並びにサンプルホ
ールド回路など複雑な回路構成を必要とせず、減算回路
、コンパレータ、ゲートスイッチ等でヘテロダイン法と
同等のトラッキングエラー信号を得る事ができるので、
非常に安価となる。
又、ビーム内のビットの人出に関する状態と程度の情報
が、コンパレータにより、ビットの人出に圓する状態の
みの信号となるので、トラッキングエラー信号には、ビ
ットのトラッキングずれ情報以外の信号成分は混入しな
い。
が、コンパレータにより、ビットの人出に圓する状態の
みの信号となるので、トラッキングエラー信号には、ビ
ットのトラッキングずれ情報以外の信号成分は混入しな
い。
又、ビーム内へのビットの人出に閏する程度の情報より
傷の有無を検知できるので、2つの基準電圧のレベルを
適正に設定し、傷が存在した時には、前置ホールドした
出力を加算する事で、トラッキングサーボに及ぼす傷の
もたらす擬似信号は、残留誤差範囲内にする事ができ、
実質上、全く影響を及ぼさない様にする事ができる。又
、フォーカシングエラー信号に対しても、上記事項と同
様の効果があると同時に、トラッキングエラー信号の生
成に使われるコンパレータの出力を利用して傷検出を行
っているので、特別な回路を設ける必要がなく、しかも
、トラッキングエラー信号に対する傷検出と同調したタ
イミングで傷検出を行なう事ができるので、精度が向上
りる。従って、傷によるトラックジャンプや、トラッキ
ング1ナーボの不安定性、フォーカシングザーボの不安
定性を全く回避する事が可能となる。又、ゲイン切り換
えを行って像補正をしているのではないので、サーボ帯
域の&ll限をする必要もなく、又、外乱に対する挙動
も、通常のサーボ状態と同等に行う事ができるので、振
動の多い場所での使用にも充分耐える事ができ、高I!
度なトラッキングサーボ、フォーカシングサーボを実施
する事ができる。
傷の有無を検知できるので、2つの基準電圧のレベルを
適正に設定し、傷が存在した時には、前置ホールドした
出力を加算する事で、トラッキングサーボに及ぼす傷の
もたらす擬似信号は、残留誤差範囲内にする事ができ、
実質上、全く影響を及ぼさない様にする事ができる。又
、フォーカシングエラー信号に対しても、上記事項と同
様の効果があると同時に、トラッキングエラー信号の生
成に使われるコンパレータの出力を利用して傷検出を行
っているので、特別な回路を設ける必要がなく、しかも
、トラッキングエラー信号に対する傷検出と同調したタ
イミングで傷検出を行なう事ができるので、精度が向上
りる。従って、傷によるトラックジャンプや、トラッキ
ング1ナーボの不安定性、フォーカシングザーボの不安
定性を全く回避する事が可能となる。又、ゲイン切り換
えを行って像補正をしているのではないので、サーボ帯
域の&ll限をする必要もなく、又、外乱に対する挙動
も、通常のサーボ状態と同等に行う事ができるので、振
動の多い場所での使用にも充分耐える事ができ、高I!
度なトラッキングサーボ、フォーカシングサーボを実施
する事ができる。
第1図 本発明に係る回路のブロック図第2図 光学的
読取装置の光学系の例を示す概略図 第3図 情報トラック上のビットとビームの位置関係に
伴う4分割受光素子上の回折 光のパターンを示す図 第4図 従来のヘテロゲイン法による回路のブロック図 第5図 従来のヘテロダイン法に係る主要な各部信q出
力の波形図 第6図 傷がある場合の4分割受光素子上の明暗パター
ンを示す図 第7図 傷がある場合の従来のヘテロゲイン法に係る主
要な各部信号出力の波形図 第8図 本発明に係るトラッキング方式のタイミングを
生成する一部の回路の各部 信号出力の波形図 第9図 本発明に係るトラッキング方式の主要な各部信
号出力の波形図 第10図 傷がある場合の、本発明に係るトラッキング
方式の主要な各部信号出力 の波形図 1:半導体レーザ 2:ビームスブリツタ 3;コリメータレンズ 4;対物レンズ 5;ディスク 6;4分割受光素子 7.8.9.10.11,20,21.22゜23;加
算回路 12.17.24.25,26:減算回路13:立ち上
がりパルス発生回路 14:立ら下がりパルス発生回路 15.16:ナンブルホールド回路 27.28:コンパレータ 29.30.31.39.40 :ゲートスイツチ 33.34 :インバーター 35;ローパスフィルター 36.37:ホールド回路 38:AND回路 出願人 セイコー電子工業株式会社 第2図 第3図 S4 第5図
読取装置の光学系の例を示す概略図 第3図 情報トラック上のビットとビームの位置関係に
伴う4分割受光素子上の回折 光のパターンを示す図 第4図 従来のヘテロゲイン法による回路のブロック図 第5図 従来のヘテロダイン法に係る主要な各部信q出
力の波形図 第6図 傷がある場合の4分割受光素子上の明暗パター
ンを示す図 第7図 傷がある場合の従来のヘテロゲイン法に係る主
要な各部信号出力の波形図 第8図 本発明に係るトラッキング方式のタイミングを
生成する一部の回路の各部 信号出力の波形図 第9図 本発明に係るトラッキング方式の主要な各部信
号出力の波形図 第10図 傷がある場合の、本発明に係るトラッキング
方式の主要な各部信号出力 の波形図 1:半導体レーザ 2:ビームスブリツタ 3;コリメータレンズ 4;対物レンズ 5;ディスク 6;4分割受光素子 7.8.9.10.11,20,21.22゜23;加
算回路 12.17.24.25,26:減算回路13:立ち上
がりパルス発生回路 14:立ら下がりパルス発生回路 15.16:ナンブルホールド回路 27.28:コンパレータ 29.30.31.39.40 :ゲートスイツチ 33.34 :インバーター 35;ローパスフィルター 36.37:ホールド回路 38:AND回路 出願人 セイコー電子工業株式会社 第2図 第3図 S4 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光学的読取装置によりディスクに入射させられ、ディス
クで変調を受けた読取光と、事実上、トラック方向とト
ラック方向に垂直な方向に分けた少なくとも4つの受光
素子で受け、 相対する対角方向の夫々の受光素子の出力信号を加算す
る第1、第2の加算回路と、 トラック方向に垂直な直線で分けられた同じ側にある夫
々の受光素子の出力信号を加算する第3、第4の加算回
路と、 前記第1、第2の加算回路の出力信号の差信号を生成す
る第5の減算回路と、 前記差信号に対し、極性が反転された信号を生成する第
6の回路と、 前記第3、第4の加算回路の出力信号の差信号から少な
くとも2つの基準電圧を設定し、実質上3つの状態を作
り、うち2つの状態で交互に第5の回路の出力と第6の
回路の出力を選択出力させ、残りの1つの状態の時に第
5の減算回路の出力と第6の回路の出力を遮断する第7
の回路と、前記第7の回路の出力をローパスフィルター
回路に入力し、該ローパスフィルター回路を経た信号を
一定期間保持する第8のホールド回路と、前記第8のホ
ールド回路の出力を残りの1つの状態の時に導通させて
出力し、該出力と前記ローパスフィルター回路を経た出
力とを合成させる第9の回路と、から成り、 前記第9の回路を経た出力信号をトラッキングエラー信
号とし; 受光素子より得たフォーカシングエラー信号を、前記2
つの状態の時に出力させる第10の回路と、前記フォー
カシングエラー信号を一定期間保持する第11のホール
ド回路と、前記第11のホールド回路の出力を前記残り
の1つの状態の時に導通させて出力し、該出力と前記第
10の回路を経た出力とを合成させる第12の回路と、
から成り、 前記第12の回路を経た出力信号を新たなフォーカシン
グエラー信号とする; ことを特徴とする光学ヘッド制御生成回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8151486A JP2789189B2 (ja) | 1986-04-09 | 1986-04-09 | 光学ヘツド制御信号生成回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8151486A JP2789189B2 (ja) | 1986-04-09 | 1986-04-09 | 光学ヘツド制御信号生成回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62239330A true JPS62239330A (ja) | 1987-10-20 |
JP2789189B2 JP2789189B2 (ja) | 1998-08-20 |
Family
ID=13748452
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8151486A Expired - Fee Related JP2789189B2 (ja) | 1986-04-09 | 1986-04-09 | 光学ヘツド制御信号生成回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2789189B2 (ja) |
-
1986
- 1986-04-09 JP JP8151486A patent/JP2789189B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2789189B2 (ja) | 1998-08-20 |
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