JPS6355797A - メモリ - Google Patents

メモリ

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JPS6355797A
JPS6355797A JP61198938A JP19893886A JPS6355797A JP S6355797 A JPS6355797 A JP S6355797A JP 61198938 A JP61198938 A JP 61198938A JP 19893886 A JP19893886 A JP 19893886A JP S6355797 A JPS6355797 A JP S6355797A
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JP
Japan
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clock
address
cas
strobe signal
timing
Prior art date
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JP61198938A
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English (en)
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Tomio Nakano
中野 富男
Hidenori Nomura
野村 英則
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6355797A publication Critical patent/JPS6355797A/ja
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    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は、メモリに於いて、アドレス・ラッチ回路に外
部人力アドレスを取り込むタイミングを制御する第2の
クロック(クロックφB)を発生 ゛させ、且つ、該ア
ドレス・ラッチ回路に内部入力アドレス(リフレッシュ
入力)を取り込むタイミングを制御する第3のクロック
(クロックφC)を前記第2のクロックよりも遅れたタ
イミングで発生させる回路を備えることに依り、できる
限りロウ・アドレス・ストローブ信号RASに対するコ
ラム・アドレス・ストローフ゛1言号CASのセットア
ツプ時間を短く、即ち、殆ど零、或いは、負にすること
を可能とし、システムが高速化の面で充分な機能を発揮
できるようにした。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、リフレッシュ動作に於けるアドレス・ラッチ
の動作タイミングを改変し、システム上で高速のアクセ
ス・タイムを実現するダイナミック・ランダム・アクセ
ス・メモリ (dynamic  random  a
ccess  memory:DRAM)に関する。
〔従来の技術〕
第8図は256にビットMO3(me t a 1ox
ide  semiconductor)DRAMの従
来例を説明する為の要部ブロック図を表している。
図に於いて、■は第1のクロック・ジェネレータ、2は
第2のクロ・ツク・ジェネレータ、3はライト・クロッ
ク・ジェネレータ、4はリフレッシュ・コントロール回
路、5はリフレッシュ・アドレス・カウンタ、6はコラ
ム側アドレス・バッファ、7はロウ側アドレス・バッフ
ァ、8はロウ・デコーダ、9はコラム・デコーダ、10
はセンス増幅器及び入出力(Ilo)ゲート、11は2
56にビット・メモリ・セル・アレイ、12はデータ入
カバソファ、13はデータ出力バッファ、14は基十反
バイアス・ジェネレータ、RASはロウ・アドレス伊ス
トローブ(row  addressstrobe)信
号、CASはコラム・アドレス・ストローブ(colu
mn  addressstrobe)信号、WEはラ
イト・イネーブル信号、DINはデータ入力信号、I)
atはデータ出力信号をそれぞれ示している。
このDRAMに於いては、ロウ・アドレス信号とコラム
・アドレス信号は時分割的にそれぞれ対応するロウ側ア
ドレス・バッファ7若しくはコラム側アドレス・バッフ
ァ6に入力されてくる。
この場合、アドレス・バッファ6及び7に於いては、ア
ドレスをバッファすると共にアドレス・ラッチの役割も
果し、そして、このランチしたアドレスでロウ・デコー
ダ7やコラム・デコーダ6を動作させている。
第9図はアドレス・ラッチを行う回路を説明する為の要
部回路説明図を表し、第8図に於いて用いた記号と同記
号は同部分を示すか或いは同じ意味を持つものとする。
図に於いて、ALはアドレス・ラッチ回路、N1はアド
レス・ラッチ回路ALの第1の入力接続点、N2はアド
レス・ラッチ回路ALの第2の入力接続点、Ql乃至Q
8はトランジスタ、CUはリフレッシュ・アドレス・カ
ウンタ、φLはアドレス・ラッチ回路を活性化するクロ
ック、Anは外部入力アドレス(TTLレベル)、φB
はl入力アドレスを制御するクロック、φCはリフレッ
シュ・アドレス入力(内部入力アドレス)を制御するク
ロック、Vrfは外部入力アドレスAnに対する基準レ
ベル(約1.5〔■〕)、Qnは内部リフレッシュ・カ
ウンタで発生されるリフレッシュ・アドレス、Qnはリ
フレッシュ・アドレスQnの相補データ、RAnはラン
チされたアドレス(MOSレベル)、RAnはアドレス
RAnの相補データ(MOSレベル)をそれぞれ示して
いる。
ここで、前記各トランジスタQ1乃至Q8について、そ
の機能を説明すると次の通りである。
■ トランジスタQ1及びQ3について読み出し時或い
は書き込み時に入力接続点N1に於ける電荷を外部アド
レス入力のデータに応じて放電させる。
■ トランジスタQ6及びQ8について読み出し或いは
書き込み時に入力接続点N2に於ける電荷を放電させ、
T T L人力の参照電圧を供給する。
■ トランジスタQ2及びQ4についてCBR(CAS
  befor  RAS)サイクル時に入力接続点N
1に於ける電荷をリフレッシュ・カウンタのデータQn
に応じて放電させる。
■ トランジスタQ5及びQlについてCBRサイクル
時に入力接続点N2に於ける電荷をリフレッシュ・カウ
ンタのデータQnに応じて放電させる。
第10図は第9図に関して説明した回路に於ける読み出
し或いは書き込み時に於ける動作波形図、また、第11
図はCBRリフレッシュ時に於ける動作波形図をそれぞ
れ表し、第8図及び第9図に於いて用いた記号と同記号
は同部分を示すか或いは同じ意味を持つものとする。
図に於いて、tは時間(横軸)、■は電圧(縦軸)、φ
AはクロックφB及びφCを発生させる為にロウ・アド
レス・ストローブ信号RASの立ち下がりから一定の遅
延をもって出るクロック、“L”はロー・レベルをそれ
ぞれ示している。
第12図はCBR判定回路及びクロックφB及びφC出
力回路の要部回路説明図を表し、第8図乃至第11図に
於いて用いた記号と同記号は同部分を示すか或いは同じ
意味を持つものとする。
図に於いて、15はロウ・アドレス・ストローブ信号入
力端子、16はコラム・アドレス・ストローブ信号入力
端子、17はロウ・アドレス・ストローブ・バッファ、
19並びに20はインバータ、Vccは正側電源レベル
をそれぞれ示している。
第13図は通常サイクル時にロウ・アドレス・ストロー
ブ信号RAS及びコラム・アドレス・ストローブ信号C
ASのタイミングを表すタイミング図である。
をそれぞれ示している。
第14図はCBRリフレッシュ時のロウ・アドレス・ス
トローブ信号RAS及びコラム・アドレス・ストローブ
信号CASのタイミングを表すタイミング図である。
図に於いて、t rcsはリフレッシュ・セットアツプ
時間、t FCMはりフレッシュ・ホールド時間をそれ
ぞれ示している。
さて、図示のDRAMに於いて、通常サイクル時に於け
る読み出し或いは書き込み動作(前者)とCBRリフレ
ッシュ時の動作(後者)との主たる相違点を挙げると、
前者に於ける動作では、外部からロウ・アドレスを取り
込むようにし、その取り込みのタイミングとして、ロウ
・アドレス・ストローブ信号RASが“H″レベルらL
”レベルに立ち下がる時点に於いて、コラム・アドレス
・ストローブ信号Uτゴが“H”レベルの状態にあるこ
と、また、後者に於ける動作では、ロウ・アドレス・ス
トローブ信号RASが“L”レベルになるよりも前にコ
ラム・アドレス・ストローブ信号CASを“L゛レベル
することで、このサイクルがリフレッシュであることを
リフレッシュ・コントロール回路に伝え、内部で発生さ
せたアドレスを用いてリフレッシュを行っていることで
ある。
第8図乃至第14図を参照しつつ従来例の動作について
詳細に説明する。
(1)通常サイクル時の読み出し或いは書き込み動作 第10図に見られるように、コラム・アドレス・ストロ
−7’信号CA Sがハイ・レベル(“Hルベル)の状
aにしておき、ロウ・アドレス・ストローブ信号RAS
を″L″レベルに降下させ、それから、所定時間の遅延
をもたせてクロックφAを立ち上げる。
このクロックφAは、前記“L”レベルに立ち下がった
ロウ・アドレス・ストローブ信号RASを第12図に見
られるロウ・アドレス・ストローブ信号入力端子15を
介してロウ・アドレス・ストローブ・バッファ17に入
力し、そこで所要遅延時間後に発生させるようにしてい
る。
そのようにして発生させたクロックφAは、クロックφ
B及びφC出力回路に入力され、該出力回路からはクロ
ックφBが出力され、そのクロックφBは第9図に見ら
れるトランジスタQ1及びQ6のゲートに入力される。
尚、ここで、前記出力回路からクロックφCが出力され
ずにクロックφBが出力される理由は、入力端子16に
入力されているコラム・アドレス・ストローブ信号CA
Sが“H”レベルになっていて、クロックφCを出力す
る側のインバータに於けるドライバであるトランジスタ
をオンに、また、クロックφBを出力する側のインバー
タに於けるドライバであるトランジスタをオフにしてい
るからである。
アドレス・ラッチ回路ALは第9図に見られる第1の入
力接続点N1及び第2の入力接続点N2を二つの入力端
子とするフリップ・フロップ回路と考えて良く、そして
、トランジスタQ1乃至Q8は、該フリップ・フロップ
回路に於ける電荷を放電させる電流パスを構成するもの
である。
例えば、第1の入力接続点N1は、トランジスタQ1及
びQ3、或いは、トランジスタQ2及びQ4のいずれか
の電流パスで接地と接続され、また、第2の入力接続点
N2は、トランジスタQ5及びQ7、或いは、トランジ
スタQ6及びQ8のいずれかの電流バスで接地と接続さ
れるようになっていて、第1の入力接続点N1に対する
電流、イスは所定データが人力されて閉路構成されるも
のとすると、第2の入力接続点N2に対する電流パスは
該所定データの相補データ或いは参照データである基準
レベルVrfで閉路構成されるものである。
さて、前記したように、クロックφBがトランジスタQ
1及びQ6のゲートに入力された場合、当然、それ等は
オンになる。
今、外部入力アドレスAnを取り込もうとしているので
、トランジスタQ3のゲートには、その外部入力アドレ
スAnを印加するようにしておけば、それが“H”レベ
ルか“L”レベルかに依ってトランジスタQ3の伝達コ
ンダクタンスg、は相違し、また、これに対して、相補
側に於けるトランジスタQ8のゲートに対しては外部入
力アドレスAnの″H″レベルとL”レベルの中間レベ
ルである基準レベル■、を印加して電荷を放電させるよ
うにしているから、トランジスタQ1及びQ3を介して
の放電の量とトランジスタQ6及びQ8を介してのそれ
とは相違するので、それに応じてアドレスは正しくラッ
チされる。即ち、外部アドレスがアドレス・ラッチ回路
ALに取り込まれるものである。尚、この場合、クロッ
クφCは出ていないので、トランジスタQ2及びQ5は
オフになっている。
(21CBRリフレッシュ時の動作 リフレッシュ時には、外部からのアドレスを取り込むこ
とはせずに、内部カウンタのアドレスを用いる。
この場合、第12図に見られるCBR判定回路に於いて
、クロックφAがクロックφB及びφC出力回路に入力
されると、該出力回路からはクロックφCが出力される
その理由は、第11図に見られるように、ロウ・アドレ
ス・ストローブ信号RASが立ち下がる前にコラム・ア
ドレス・ストローブ信号CASが立ち下がっていて、そ
れが第12図に見られるコラム・アドレス・ストローブ
信号入力端子16に入力されていることに依る。
さて、そのクロックφCは第9図に見られるトランジス
タq2及びQ5のゲートに入力される。
トランジスタQ2と直列接続されているトランジスタQ
4はカウンタCUからのリフレッシュ用カウンタ・アド
レスQnが入力されることに依ってオンとなり、また、
トランジスタQ5と直列接続されているトランジスタQ
7はリフレッシュ用カウンタ・アドレスQnの相補デー
タQnが入力されてオンとなり、それぞれ第1の入力接
続点N1或いは第2の入力接続点N2からアドレス・ラ
ッチ回路ALの電荷を放電させる。
これに依り、アドレス・ラッチ回路ALには内部のカウ
ンタCUからのアドレスが取り込まれたことになる。
前記(1)及び(2)に説明したようにデータのサンプ
リングを行った後、ラッチされたデータは、アドレス・
ラッチ回路ALにクロックφLが入力されてから、相補
データRAn或いはRAnとして最終的に出力される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前記説明したようなCBRリフレッシュ機能は64にビ
ン)DRAMが現れた際にその萌芽が見られ、256に
ビットDRAMに於いて一般化した。
ところで、DRAMにそのような動作を行わせる為には
、第12図に見られるインバータ19及び20の動作時
間分だけ、コラム・アドレス・ストローブ信号CASを
ロウ・アドレス・ストローブ信号RASに対して先にセ
ットすることが必要である。
因に、通常サイクル時に於けるロウ・アドレス・ストロ
ー−7’信号RASとコラム・アドレス・ストローブ信
号CASのタイミングは、第13図に見られるように、
ロウ・アドレス・ストローブ信号RASが立ち下がる前
にコラム・アドレス・ストローブ信号CASを立ち上げ
ておかなければならず、その時間としては10〜20(
ns)が必要である。
これに対し、CBRリフレッシュ時に於いては、第14
図に見られるように、ロウ・アドレス・ストローブ信号
RASが立ち下がる前にコラム・アドレス・ストローブ
信号CASを立ち下げて待機していなければならなず、
その時間と己では、前記したように、第12図に見られ
るインバータが動作することに依る遅延時間分を必要と
する。
現在、DRAMは非常に高速化されてはいるが、更に速
くなれば好ましいことは勿論である。然しなから、前記
したようなタイミング関係が存在することから、その高
速DRAMの性能をシステム上で充分に発揮することが
できない状態にある。
即ち、ロウ・アドレス・ストローブ信号RASは、シス
テムの上で決まってしまう最も早期のクロックであるが
、CBRリフレッシュ動作では、その最も早期のクロッ
クよりも前にコラム・アドレス・ストローブ信号CAS
の入力を行うことが必要とされるのであるから、種々と
困難な問題が発生する。
例えば、コラム・アドレス・ストローブ信号CAsを入
力しようとする場合、それを“I(”レベルで人力する
か、“L”レベルで入力するか、CPU(centra
l  processingunit)側から見た場合
、未だ、判定がついていない状態にある。
そのような判定をつけてからコラム・アドレス・ストロ
ーブ信号CASを入力しようとするのであれば、全体的
に、例えば50(nS)程度遅らせて動作させることが
必要になる。
然しなから、そのようなことでは、システムが充分な性
能を発揮することができないので、できる限りロウ・ア
ドレス・ストローブ信号RASに対するコラム・アドレ
ス・ストローブ信号CASのセットアツプ時間を短くす
るか、若しくは零、好ましくは負にしたい旨の要求がな
されている。
また、前記説明した従来のCBR判定回路は、ロウ・ア
ドレス・ストローブ信号RA S /’l<“H″レベ
ル状態でも動作しなければならず、スタンバイ電流を流
すことが必要であるが、低消費電力化の面から、このよ
うなスタンバイ電流を流さないで済むようにしたい旨の
要求もなされている。
本発明は、そのような諸要求に応えようとするものであ
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者らが、CBRリフレッシュ動作について、若干
の考察を試みた結果を記述すると次の通りである。
通常、CBRリフレッシュ時には、DRAMから外部に
対しては、アクセスの結果を何も出力しない。従って、
通常サイクル時のアクセスと比較すると、その重要度は
低下したものと゛考えて良い筈であり、そうであるなら
ば、その動作は遅くても構わない。
このようなことから、クロックφBは、できるだけ早期
に立ち上げたいが、余り早く立ち上げても、第12図に
見られるインバータに依る遅延時間より前になってしま
うとCBR判定に誤りを生ずることになる。これは、ク
ロックφB及びφCが立ち上がるタイミングが固定化さ
れているからであり、そのままでは、現在以上の高速化
は無理である。
従って、CBRリフレッシュ時のみアドレスのデータ取
り込みを遅くしても良いのではないか、との考えに到達
した。即ち、クロックφBのみは早期に立ち上げるよう
にし、クロックφCは何れの動作モードであるのかが充
分に判った後で立ち上げるようにすれば良い。
そのようにするには、当然、その目的を達成できる回路
が考えられなければならない。
従来は、前記説明したように、クロックφBとφCとは
、ロウ・アドレス・ストローブ信号RASが立ち下がっ
てから同一遅延時間を経て発生させ、ラッチ・データの
取り込みを行っていたが、ロウ・アドレス・ストローブ
信号RASから見たクロックφBとφCとの立ち上げ遅
延時間を異なったものとすれば、通常サイクルのアクセ
ス速度を犠牲にすることなく、ロウ・アドレス・ストロ
ーブ信号RASに対するコラム・アドレス・ストローブ
信号CASのセットアツプ・タイムを零或いは負にする
ことが可能である。
そこで、本発明に依るメモリは、ロウ・アドレスの取り
込みを制御する第1の制御信号(ロウ・アドレス・スト
ローブ信号)及びコラム・アドレスの取り込みを制御す
る第2の制御信号(コラム・アドレス・ストローブ信号
)で制御されるDRA Mであって、ロウ・アドレス・
ストローブ信号(例えばロウ・アドレス・ストローブ信
号RAS)の立ち下がりから一定の遅延時間をもって発
生される第1のクロック(例えばクロックφA)を要素
として発生され通常の読み出し及び書き込みサイクルで
アドレス・ラッチ回路(例えばアドレス・ラッチ回路A
L)に外部入力アドレス(例えば外部入力アドレスAn
)を取り込むタイミングを制御する第2のクロック(例
えばクロックφB)と、同じく前記第1のクロックを要
素とし且つ前記第2のクロックよりも遅いタイミングで
発生され内部リフレッシュ・サイクルでアドレス・ラッ
チ回路にリフレッシュ用内部入力アドレス(例えばリフ
レッシュ用内部入力アドレスQn及びその相補データQ
n)を取り込むタイミングを制御する第3のクロック(
例えばクロックφC)とをそれぞれ発生させる回路が含
まれ、第1及び第2の入力信号(クロックφB及びφC
)の時間差を利用して通常の読み出し及び書き込みサイ
クルと内部アドレスに依るリフレッシュ(CBRリフレ
ッシュ)サイクルの各動作モードで動作し得る構成にな
っている。
〔作用〕
そのような手段を採ることに依り、できる限りロウ・ア
ドレス・ストローブ信号RASに対するコラム・アドレ
ス・ストローブ信号CASのセットアツプ時間を短く、
即ち、殆ど零、或いは、負にすることが可能となり、シ
ステムが高速化の面で充分な機能を発揮できるようにな
った。
〔実施例〕
第1図は本発明一実施例に於けるクロック発生回路の要
部ブロック図を表し、第8図乃至第14図に於いて用い
た記号と同記号は同部分を表すか或いは同じ意味を持つ
ものとする。
図に於いて、CASはロウ・アドレス・ストローブ信号
RASがL”レベルである場合に活性化されるバッファ
に依ってコラム・アドレス・ストローブ信号CASを反
転して発生させたクロック、φXはクロックCASを反
転したクロックをそれぞれ示している。
第2図は本発明一実施例に於けるアドレス・ラッチを行
う回路を説明する為の要部回路説明図を表し、第1図及
び第8図乃至第14図に於いて用いた記号と同記号は同
部分を示すか或いは同じ意味を持つものとする。   
゛ 図に於いて、18は外部入力アドレスAnの入力端子、
Q9乃至Q12はトランジスタをそれぞれ示している。
ここで、前記各トランジスタQ9乃至Q12について、
その機能を説明すると次の通りである。
■ トランジスタQ9について 読み出し時或いは書き込み時に外部入力アドレスAnを
取り込む為のゲートの役目を果たす。
■ トランジスタQIOについて 読み出し時或いは吉き込み時に基準レベルVrfを取り
込む為のゲートの役目を果たす。
■ トランジスタQllについて CBRサイクル時に内部アドレスを取り込む為のゲート
の役目を果たす。
■ トランジスタQ12について CBRサイクル時に内部アドレス相補データを取り込む
為のゲートの役目を果たす。
第3図は第1図に関して説明した回路に於ける読み出し
或いは書き込み時に於ける動作波形の線図、また、第4
図はCBRリフレッシュ時に於ける動作波形の線図をそ
れぞれ表し、第1図及び第2図、第8図乃至第14図に
於いて用いた記号と同記号は同部分を示すか或いは同じ
意味を持つものとする。
第1図乃至第4図を参照しつつ本発明一実施例の動作に
ついて詳細に説明する。
本実施例に於いて、ロウ・アドレス・ストローブ信号入
力端子15からロウ・アドレス・ストローブ信号RAS
を入力し、適当なインバータの列を介して遅延時間をも
たせてからクロックφAを発生させる点は第12図に関
して説明した従来例と変わりない。
これに対し、コラム・アドレス・ストローブ信号入力端
子16に入力されるコラム・アドレス・ス[・ローブ信
号CASは、ロウ・アドレス・ストローブ信号RASが
入力されて活性化されるバッファの動作に依り、内部的
なりロックCASを発生させる。
このクロックCASは、コラム・アドレス・ストローブ
信号CASを反転したものであるが、ロウ・アドレス・
ストローブ信号RASが出なければ同じく出ないように
組まれた論理の制御下にあり、そして、クロックφAが
立ち上がる前に立ち上がるようになっていて、勿論、コ
ラム・アドレス・ストローブ信号CASが“H″レベル
あれば“L″レベルある。
さて、本実施例に依り、通常サイクル時にクロックφB
を発生させる場合について説明する。
このクロックφBは、前記説明したようにして発生させ
たクロックφAとクロックCASを反転させたクロック
φXとの論理をとることに依って発生させている。
即ち、アンド(AND)ゲートに“H”レベルのクロッ
クφXが入力されていて、クロックφAが“H”レベル
になるとクロックφBが“H”レベルになって送出され
るものである。
換言すると、通常サイクル時には、コラム・アドレス・
ストローブ信号CASは“H”レベルにあり、これに対
応するクロックCASは直流的にはL”レベルになって
いるので、そのクロックCASを入力とするインバータ
の出力であるクロックφXは“H”レベルになって待機
している状態にあり、そこへクロックφAが入力されて
くれば、そのタイミングでクロックψBが出てゆくこと
になる。
次に、本実施例に依り、CBRリフレッシュ時にクロッ
クφCを発生させる場合について説明する。
この場合には、第1図からも明らかなように、クロック
φAとクロ・ツクCASとのANDを採ってクロツタφ
Cを発生させている。
クロックφAの立ち上がり開始は、クロックCASの立
ち上がり開始よりも遅いのであるが、最終的には、立ち
上がり時間が遅いクロックCASの方が時間を決め、そ
のタイミングでクロックφCが出るようになっているも
のである。その理由は、通常、クロックCASの配線は
種々なところに用いられるので重い負荷が課されている
状態にある為、クロックCASの立ち上がりは非常に緩
慢であり、その結果、クロックφCが出るタイミングは
クロックCASに依って決められるのである。
要するに、本発明に於いては、コラム・アドレス・スト
ローブ信号CASをバッファリングするANDゲートと
ロウ・アドレス・ストローブ信号RASの遅延時間を作
るインバータとに於ける遅延時間の差を利用してクロッ
クφBとφCとの間に於いて立ち上がり時間に差を設け
ているものであり、そして、その時間差をもって、第2
図に見られるアドレス・ラッチ回路のデータ取り込みの
為のゲートを開くようにしているものであり、そのデー
タ取り込みの具体的動作に関しては従来技術と同様であ
る。
即ち、通常サイクル時では、クロックφBを印加するこ
とでトランジスタQ9及びQIOをオンとし、アドレス
・ラッチ回路ALに外部人力アドレスAn及びその外部
入力アドレスAnの中間レベルの電圧(約1.5 (V
)程度)である基土レベル■、を入力し、その差電圧を
クロックφLが入力された際に増幅してランチ・アドレ
スRAn及びRAnとして送出するよ゛うにしている。
尚、本実施例では、アドレス・ラッチ回路を活性化する
クロックφLは、第1図に見られるように、クロックφ
BとクロックφCとのオア(OR)を採って作り、デー
タ取り込みからラッチの動作までを通常サイクル時とC
BRリフレッシュ時とで動作タイミングを同一とし、ア
ドレス・ラッチ回路A Lの安定動作を期している。
また、C,BRソリフレッシュ時於いては、クロックφ
Cを印加することでトランジスタQll及びQ12をオ
ンとし、アドレス・ラッチ回路ALにリフレッシュ用カ
ウンタ・アドレス9 n及びその相補データQnを入力
し、前記同様、クロックφLが入力された際にラッチ・
アドレス・データを送出するようにしている。
ところで、前記説明した実施例は、主としてnチャネル
型トランジスタを用いて論理回路を構成し、正論理で動
作するようにしているが、0MO3(compleme
ntary  metaloxide  semico
nductor)で論理回路を構成すると、正論理で動
作するようにも負論理で動作するようにもでき、そして
、負論理の方が性能は向上する。
第5図は0MO3に依る負論理で構成した実施例の要部
回路説明図を表し、第1図乃至第4図及び第8図乃至第
14図に於いて用いた記号と同記号は同部分を表すか或
いは同じ意味を持つものとする。
図に於いて、AEはロウ・アドレス・ストローブ信号R
ASを立ち下げることに依ってアドレス・バ・ノファを
活性化する為のクロック、ノ〜LEはクロックφB及び
φCを発生させるクロック、Q13乃至Q16はトラン
ジスタ、19はアドレス・バッファをそれぞれ示してい
る。
前記トランジスタQ13乃至Q16は、nチャネルMO
Sトランジスタのソース側にクロックφAが入力され、
ゲート側には第9図に見られる入力接続点N1及びN2
と同様な入力接続点N1及びN2を有するCMOSイン
バータを構成している。
第6図は第5図に関して説明した回路に於ける読み出し
或いは書き込み時に於ける動作波形図、また、第7図は
CBRリフレッシュ時に於ける動作波形図をそれぞれ表
し、第1図乃至第5図、第8図乃至第14図に於いて用
いた記号と同記号は同部分を示すか或いは同じ意味を持
つものとする。
第5図乃至第7図を参照しつつ本発明に於ける第2の実
施例の動作について説明する。
さて、本実施例に於けるクロックAEはロウ・アドレス
・ストローブ信号RASの立ち下がりから所要段数のイ
ンバータを経て作られたクロックであり、これでアドレ
ス・バッファ19を動作させている。
クロックAEはクロックφAが立ち下がる前に立ち下が
り、それ依ってアドレス・バッファ19が動作開始し、
それと同時に、他のクロックの発生も開始されるもので
あり、図示されているように、クロックφAは、クロッ
クAEの立ち下がりから2段のインバータを経て立ち下
がるようになっている。
さて、アドレス・バッファ19に於いては、外部入力ア
ドレスAnをクロックAEのタイミングで増幅し、TT
Lレベルの電圧を例えば5〔V〕スイングするMOSレ
ベルの電圧であるクロックAに変換し、そのクロックA
及び相補データτをアドレス・ラッチ回路ALに入力し
ている。
また、にれとはyJ114こ、コラム・アドレス・スト
ローブ信号CAS入力のTTLレベルをMOSレベルに
変換して得たクロックCASを、ノア(NOR)ゲート
を介し最終的にクロックφBを作るトランジスタQ13
及びQ14からなるC M OSインバータに入力し、
そして、同じクロックCASを、クロックALEで1段
のインバ′−夕を通して制御されるゲートを介し最終的
にクロックφCを作るトランジスタQ15及びQ16か
らなるCMOSインバータに入力している。尚、ここで
用いたクロックCASを発生させるには、第1図に関し
て説明したようなコラム・アドレス・ストローブ信号C
ASからクロックCASを作った回路と同様な回路を用
いることができる。
図示の二つのCMOSインバータは、それぞれ第1の入
力接続点N1及び第2の入力接続点N2を備え、また、
クロックφAが入力されるようになっていて、それ自体
、負論理のAND回路であり、それに依りクロックφB
及びφCを発生させている。
即ち、第1の接続点N1が“H”レベルの状態にあり、
そこでクロックφAが“H″レベルら”L″レベル立ち
下がったとすると、クロックφBも同様に降下する。ま
た、第1の接続点N1が“L”レベルのままであると、
クロックφBは“H”レベルを維持する。
要するに、クロックφAのタイミングでクロックφB及
びφCの何れを出すのか、第1の入力接続点N1及び第
2の入力接続点N2に於ける電圧を制御することで決め
ているものであり、この場合、第1の入力接続点N1が
“H6レベルであればクロックφBが送出され、逆に、
第2の入力接続点N2が“H”レベルであればクロック
φCが送出される。通常、クロックCASは急速に立ち
上がらないので、第2の入力接続点N2が“H”レベル
になるのは遅く、従って、クロックφCはクロックφB
よりも遅く立ち下がることになる。
そのように、クロックφAからのタイミングを異にする
クロックφB或いはφCでアドレスのデータをアドレス
・ラッチ回路ALに於いてラッチし、クロックφLのタ
イミングで前記ラッチされたアドレスRAn及びその相
補データRAnを送出するようにしている。
〔発明の効果〕
本発明に依るメモリに於いては、アドレス・ラッチ回路
に外部入力アドレスを取り込むタイミングを制御するク
ロックφBを発生させ、且つ、該アドレス・ラッチ回路
に内部入力アドレス(リフレッシュ入力)を取り込むタ
イミングを制御するクロックφCを前記クロックφBよ
りも遅れたタイミングで発生させる回路を備えた構成に
なっている。
このような構成を採ることに依り、アクセス時間を遅く
することなく、ロウ・アドレス・ストローブ信号RAS
に対するコラム・アドレス・ストローブ信号CASのセ
ットアンプ時間を十分に短く、即ち、殆ど零、或いは、
負にすることを可能とし、システムが高速化の面で充分
な機能を発揮でき、また、コラム・アドレス・ストロー
ブ信号CASの状態を検出するスタティック・インバー
タが不要であるから、ロウ・アドレス・ストローブ信号
RASが“H”レベルである待機時に於ける消費電力の
増大が防止される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例に於けるクロック発生回路を説
明する為の要部ブロック図、第2図は同じ〈実施例に於
けるアドレス・ラッチ回路を説明する為の要部回路説明
図、第3図は同じ〈実施例に於ける通常サイクル時の動
作波形を説明する為の波形図、第4図は同じ〈実施例に
於けるCBRリフレッシュ時の動作波形を説明する為の
波形図、第5図はCMO3に依る負論理で構成した本発
明の第2の実施例を説明する為の要部回路説明図、第6
図は前記第2の実施例に於ける通常サイクル時の動作波
形を説明する為の波形図、第7図は前記第2の実施例に
於けるCBRリフレッシュ時の動作波形を説明する為の
波形図、第8図は256にビットDRAMに於ける従来
例の要部ブロック図、第9図は従来のアドレス・ラッチ
を行う回路を説明する為の要部回路説明図、第10図は
従来例の通常サイクル時に於ける動作波形を説明する為
の波形図、第11図は従来例のCBRリフレッシュ時に
於ける動作波形を説明する為の波形図、第12図は従来
のCBR判定回路及びクロックφB、φC出力回路の要
部回路説明図、第13図は従来例の通常サイクル時に於
けるRAS及びCASのタイミングを説明する為の波形
図、第14図は従来例のCBRリフレッシュ時に於ける
RAS及びCASのタイミングを説明する為の波形図を
それぞれ表している。 図に於いて、15はロウ・アドレス・ストローブ信号入
力端子、16はコラム・アドレス・ストローブ信号入力
端子、18は外部入力アドレスAnの入力端子、RAS
はロウ・アドレス・ストローブ信号、CASはコラム・
アドレス・ストローブ信号、φAはクロックφB及びφ
Cを発生させる為のクロック、φBは外部入力アドレス
を制j1■するクロック、φCはリフレッシュ人力(内
部入力アドレス)を制御するクロック、“H”はハイ・
レベル u L 11はロー・レベル、■ccは正側電
tAレベル、CASはロウ・アドレス・ストローフ信号
RASが“L”レベルである場合に゛活性化されるバッ
ファに依ってコラム・アドレス・ストロープ信号CAS
を反転して発生させたクロック、φXはクロックCAS
を反転したクロック、Q9乃至Q12はトランジスタ、
ALはアドレス・ラッチ回路、N1はアドレス・ラッチ
回路ALの第1の入力接続点、N2はアドレス・ラッチ
回路ALの第2の入力接続点、φLはアドレス・ラッチ
回路を活性化するクロック、Anは外部入力アドレス、
■、、rは外部入力アドレスAnに対する基準レベル(
約1.5 (V))、Qnは内部リフレッシュ・カウン
タの出力、Qnは内部リフレッシュ・カウンタの出力Q
nの相補データ、RAnはラッチされたアドレス、RA
nはアドレスRAnの相補データ(MOSレベル)をそ
れぞれ示している。 特許出願人   富士通株式会社(外I名ン代理人弁理
士  相 谷 昭 司 代理人弁理士  渡 邊 弘 − 第3図 第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ロウ・アドレス・ストローブ信号の立ち下がりから一定
    の遅延時間をもって発生される第1のクロックを要素と
    して発生され通常の読み出し及び書き込みサイクルでア
    ドレス・ラッチ回路に外部入力アドレスを取り込むタイ
    ミングを制御する第2のクロックと 同じく前記第1のクロックを要素とし且つ前記第2のク
    ロックよりも遅いタイミングで発生され内部リフレッシ
    ュ・サイクルでアドレス・ラッチ回路にリフレッシュ用
    内部入力アドレスを取り込むタイミングを制御する第3
    のクロックと をそれぞれ発生させる回路 が含まれてなることを特徴とするメモリ。
JP61198938A 1986-08-27 1986-08-27 メモリ Pending JPS6355797A (ja)

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