JPS62206463A - 基板検査機 - Google Patents
基板検査機Info
- Publication number
- JPS62206463A JPS62206463A JP61048293A JP4829386A JPS62206463A JP S62206463 A JPS62206463 A JP S62206463A JP 61048293 A JP61048293 A JP 61048293A JP 4829386 A JP4829386 A JP 4829386A JP S62206463 A JPS62206463 A JP S62206463A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- substrate
- board
- pattern
- inner layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 31
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 75
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野コ
この発明は、印刷回路基板または同様な基板(この明細
書では基板と総称する)の導通検査、絶縁検査などの検
査を行う基板検査機に関する。
書では基板と総称する)の導通検査、絶縁検査などの検
査を行う基板検査機に関する。
[従来の技術]
基板の導通検査、絶縁検査などを行う基板検査機は、検
査すべき基板をプレスエレベータに設けられた基板保持
台」二に位置決め保持させ、プレスエレベータによって
プローバへ押し付け、その基板のテストポイントをプロ
ーバのプローブピンに押接させて検査を行う構成となっ
ている。
査すべき基板をプレスエレベータに設けられた基板保持
台」二に位置決め保持させ、プレスエレベータによって
プローバへ押し付け、その基板のテストポイントをプロ
ーバのプローブピンに押接させて検査を行う構成となっ
ている。
一般に基板関係ではインチ系によって寸法が決定すして
おり、プローブピンおよび基板のテストポイントとなる
スルーホール、パッドなとは通常、2.54mn+(1
00ミル)間隔の格子」−に配列されている。
おり、プローブピンおよび基板のテストポイントとなる
スルーホール、パッドなとは通常、2.54mn+(1
00ミル)間隔の格子」−に配列されている。
[解決しようとする問題点コ
さて、検査の対象となる基板として、第2図に示すよう
な内層基板10がある。この内層基板10は絶縁フィル
ムに2枚分の基板パターン12A。
な内層基板10がある。この内層基板10は絶縁フィル
ムに2枚分の基板パターン12A。
12Bを印刷したものである。14A、18Bは基板パ
ターン12Aの基準穴であって、14B。
ターン12Aの基準穴であって、14B。
16Bは基板パターン12Bの基準穴である。基板パタ
ーン12A、12Bのスルーホール、パ・ソドなどは、
それらの対応する基準穴を原点とした2、54mm間隔
の格子」二に配置されている。しかし、基板パターン1
2A用の基準穴14A、16Aと基板パターン12B用
の基準穴14B、16Bとの間隔は、その格子間隔の整
数倍となっていない。
ーン12A、12Bのスルーホール、パ・ソドなどは、
それらの対応する基準穴を原点とした2、54mm間隔
の格子」二に配置されている。しかし、基板パターン1
2A用の基準穴14A、16Aと基板パターン12B用
の基準穴14B、16Bとの間隔は、その格子間隔の整
数倍となっていない。
従来の基板検査機において、このような2面構成の内層
基板10を検査する場合、つぎのような問題があった。
基板10を検査する場合、つぎのような問題があった。
基板保持台にはプローブピンの配列格子1ユに位置決め
ピンが設けられており、内層基板10は、その基準穴1
4Aおよび16A(または基準穴14B、16B)と位
置決めピンとの嵌合によって位置決めされる。したがっ
て、一方の基板パターン12A(または12B)のテス
トポイントとプローブピンとの位置は一致するが、他方
の基板パターンのテストポイントはプローブピンと位置
がずれてしまう。
ピンが設けられており、内層基板10は、その基準穴1
4Aおよび16A(または基準穴14B、16B)と位
置決めピンとの嵌合によって位置決めされる。したがっ
て、一方の基板パターン12A(または12B)のテス
トポイントとプローブピンとの位置は一致するが、他方
の基板パターンのテストポイントはプローブピンと位置
がずれてしまう。
このような場合、従来の基板検査機においては、例えば
基板パターン12Aの検査を行ってから、内層基板10
を水平に180度向きを変えて基板保持台に1fセツト
し、他方の基板パターン12Bの検査を行う必要があり
、非能率的であった。また、そのような操作が必要であ
ったため、基板のハンドリングの自動化が容易でなかっ
た。
基板パターン12Aの検査を行ってから、内層基板10
を水平に180度向きを変えて基板保持台に1fセツト
し、他方の基板パターン12Bの検査を行う必要があり
、非能率的であった。また、そのような操作が必要であ
ったため、基板のハンドリングの自動化が容易でなかっ
た。
[発明の目的]
したがって、この発明の目的は、そのような内層基板な
どの検査を効率化できるようにした基板検査機を提供す
ることにある。
どの検査を効率化できるようにした基板検査機を提供す
ることにある。
[問題点を解決するための手段]
この目的を達成するために、この発明は、プローバに配
列された多数のプローブピンに基板を押し付け、そのテ
ストポイントを前記プローブピンに押接して前記基板の
導通検査などを行う基板検査機において、基板を位置決
めして保持するための基板保持台をプレスエレベータ」
―に特定方向にスライド可能に支持する手段と、前記基
板保持体を前記特定方向に移動させるため手段とを設け
るものである。
列された多数のプローブピンに基板を押し付け、そのテ
ストポイントを前記プローブピンに押接して前記基板の
導通検査などを行う基板検査機において、基板を位置決
めして保持するための基板保持台をプレスエレベータ」
―に特定方向にスライド可能に支持する手段と、前記基
板保持体を前記特定方向に移動させるため手段とを設け
るものである。
[作用]
このような構成であるから、基板保持台に基板を保持し
たまま、基板とプローブピンとの相対的位置を調整でき
る。
たまま、基板とプローブピンとの相対的位置を調整でき
る。
したがって、例えば第2図の内層基板10を検査する場
合、一方の基板パターン(12A)のテストポイントの
配列格子とプローブピンの配列格子と一致するように基
板保持台を位置させて、その基板パターンに関する検査
を行い、つぎに基板保持台を移動させて他方の基板パタ
ーン(12B)のテストポイントの配列格子とプローブ
ピンの配列格子とを一致させ、その基板パターンに関す
る検査を行うことができる。
合、一方の基板パターン(12A)のテストポイントの
配列格子とプローブピンの配列格子と一致するように基
板保持台を位置させて、その基板パターンに関する検査
を行い、つぎに基板保持台を移動させて他方の基板パタ
ーン(12B)のテストポイントの配列格子とプローブ
ピンの配列格子とを一致させ、その基板パターンに関す
る検査を行うことができる。
このように、従来と違って、基板の向きを変えて基板保
持台に再セットするというような面倒な操作が不要とな
り、検査を効率的に行うことができる。また、基板ハン
ドリングの自動化も容易になる。
持台に再セットするというような面倒な操作が不要とな
り、検査を効率的に行うことができる。また、基板ハン
ドリングの自動化も容易になる。
[実施例コ
以下、この発明の一実施例について図面を参照し説明す
る。
る。
第1図は、この発明による基板検査機の一実施例の要部
の構成を簡略化して示す概略部分断面正面図である。
の構成を簡略化して示す概略部分断面正面図である。
この図において、22はプローバであり、固定板24に
固定されている。このプローバ22の下面側には多数の
プローブピン26が格子状に配列されて設けられている
。このプローブピン26の配列格子のピッチは2.54
i+mである。各プローブピン26は、その先端(図中
下端)力月二下に移動可能であり、内蔵スプリングによ
って下向きに付勢されている。
固定されている。このプローバ22の下面側には多数の
プローブピン26が格子状に配列されて設けられている
。このプローブピン26の配列格子のピッチは2.54
i+mである。各プローブピン26は、その先端(図中
下端)力月二下に移動可能であり、内蔵スプリングによ
って下向きに付勢されている。
30は基板をプローバ22に押し付けるためのプレスエ
レベータであり、エアーシリンダ32によって昇降させ
られるようになっている。34は基板保持台であり、プ
レスエレベータ30に固定されたレール36に沿って左
右にスライド可能に支持されている。なお、レール36
は前後に2本並設されている。
レベータであり、エアーシリンダ32によって昇降させ
られるようになっている。34は基板保持台であり、プ
レスエレベータ30に固定されたレール36に沿って左
右にスライド可能に支持されている。なお、レール36
は前後に2本並設されている。
基板保持台34の最上部は交換可能なパレット38とな
っており、検査すべき基板は符号40で示すようにパレ
ット38 hに位置決め保持される。
っており、検査すべき基板は符号40で示すようにパレ
ット38 hに位置決め保持される。
この位置決めのために、基板40の位置決め穴に対応し
た位置決めピン42がパレット38に植設されている。
た位置決めピン42がパレット38に植設されている。
44は基板保持台34を図中左右方向に移動させるため
のモータであり、その回転軸はジヨイント46を介して
スクリューシャフト48に結合されている。スクリュー
シャフト48は軸受50゜52によって回転自在にプレ
スエレベータ30に支持されている。モータ44の回転
によってスクリューシャフト48に沿い移動するナツト
54は、基板保持台34に固定されている。
のモータであり、その回転軸はジヨイント46を介して
スクリューシャフト48に結合されている。スクリュー
シャフト48は軸受50゜52によって回転自在にプレ
スエレベータ30に支持されている。モータ44の回転
によってスクリューシャフト48に沿い移動するナツト
54は、基板保持台34に固定されている。
56は原点センサである。基板保持台34がその原点に
位置している場合に、この原点センサ56の出力信号が
オン状態になる。この信号は図示しない処理制御部に入
力される。また、モータ44およびエアーシリンダ32
の駆動制御もその処理制御部によってなされる。処理制
御部には導通検査、絶縁検査などのための電子回路が設
けられており、その電子回路はプローブピン26と電気
的に接続されている。
位置している場合に、この原点センサ56の出力信号が
オン状態になる。この信号は図示しない処理制御部に入
力される。また、モータ44およびエアーシリンダ32
の駆動制御もその処理制御部によってなされる。処理制
御部には導通検査、絶縁検査などのための電子回路が設
けられており、その電子回路はプローブピン26と電気
的に接続されている。
次に第2図に示した内層基板10を検査する場合を想定
し、この基板検査機の動作を説明する。
し、この基板検査機の動作を説明する。
この場合、内層基板10の基準穴(位置決め穴)14A
、14B、16A、16Bに対応した位置決めピン42
が設けられたパレット38が基板保持台34にセットさ
れ、内層基板10は符号40にλバすように位置決め保
持される。
、14B、16A、16Bに対応した位置決めピン42
が設けられたパレット38が基板保持台34にセットさ
れ、内層基板10は符号40にλバすように位置決め保
持される。
最初、基板保持台34を原点に位置させるようにモータ
44が制御される。基板保持台34が原点に位置した時
に、基準穴14A、IE3Aがプローブピン26の配列
格子に一致するように位置決めピン42の位置が決定さ
れるでいる。
44が制御される。基板保持台34が原点に位置した時
に、基準穴14A、IE3Aがプローブピン26の配列
格子に一致するように位置決めピン42の位置が決定さ
れるでいる。
エアーシリンダ32が順方向駆動されてプレスエレベー
タ30が押し上げられ、内層基板10はプローバ22に
押し付けられる。これにより、内層基板10の一方の基
板パターン12Aのテストポイントはプローブピン26
に押接させられ、処理制御部の検査のための電子回路と
接続され、検査される。他方の基板パターン12Bのテ
ストポイントの配列格子はプローブピン26の配列格子
と位置がずれるため、そのテストポイントとプローブピ
ン26とは押接しない。
タ30が押し上げられ、内層基板10はプローバ22に
押し付けられる。これにより、内層基板10の一方の基
板パターン12Aのテストポイントはプローブピン26
に押接させられ、処理制御部の検査のための電子回路と
接続され、検査される。他方の基板パターン12Bのテ
ストポイントの配列格子はプローブピン26の配列格子
と位置がずれるため、そのテストポイントとプローブピ
ン26とは押接しない。
このようにして、基板パターン12Aについての導通検
査、絶縁検査などが終了すると、エアーシリンダ32は
逆方向駆動されてプレスエレベータ30は降下する。
査、絶縁検査などが終了すると、エアーシリンダ32は
逆方向駆動されてプレスエレベータ30は降下する。
この降下が完rすると、基板保持台34をその原点から
内層基板10に対応した特定の距離および方向に移動さ
せるように、処理制御部によってモータ44が駆動され
る。これにより、基板パターン12B用の基準穴14B
、16Bの位置とプローブピン配列格子とが一致し、従
って基板パターン12Bのテストポイントの位置がプロ
ーブピン26と対応するようになる。
内層基板10に対応した特定の距離および方向に移動さ
せるように、処理制御部によってモータ44が駆動され
る。これにより、基板パターン12B用の基準穴14B
、16Bの位置とプローブピン配列格子とが一致し、従
って基板パターン12Bのテストポイントの位置がプロ
ーブピン26と対応するようになる。
なお、このような基板保持台34の移動制御のための情
報は予め処理制御部に記憶されており、その情報に基づ
いてモータ44の駆動制御が行われる。
報は予め処理制御部に記憶されており、その情報に基づ
いてモータ44の駆動制御が行われる。
このような基板保持台34の移動が完了すると、エアー
シリンダ32が順方向駆動されてプレスエレベータ30
は再び−に昇し、内層基板10は再びプローバ22に押
し付けられる。この場合、基板パターン12Bのテスト
ポイントとプローブピン26とが押接し、その検査が実
行される。
シリンダ32が順方向駆動されてプレスエレベータ30
は再び−に昇し、内層基板10は再びプローバ22に押
し付けられる。この場合、基板パターン12Bのテスト
ポイントとプローブピン26とが押接し、その検査が実
行される。
この検査が完了すと、プレスエレベータ30が降下させ
られ、次に基板保持台34は原点に戻される。
られ、次に基板保持台34は原点に戻される。
なお、基板保持台の構造、それを移動可能に支持したり
移動させる手段などは適宜変更してよいものである。
移動させる手段などは適宜変更してよいものである。
また、この発明は、基板のパターンの形状検査などを行
う基板検査機についても同様に適用し得るものである。
う基板検査機についても同様に適用し得るものである。
[発明の効果]
以上説明したように、この発明は、基板を位置決めして
保持するための基板保持台をプレスエレベータ−にに特
定方向にスライド可能に支持する手段と、前記基板保持
体を前記特定方向に移動させるため手段とを設けるもの
であって、基板保持台に基板を保持したまま、基板とプ
ローブピンとの相対的位置を調整できる。したがって、
この発明によれば、前記内層基板のような基板も効率的
に検査すことができる基板検査機を実現でき、また、そ
のような基板のハンドリングの自動化も容易に実現でき
る。
保持するための基板保持台をプレスエレベータ−にに特
定方向にスライド可能に支持する手段と、前記基板保持
体を前記特定方向に移動させるため手段とを設けるもの
であって、基板保持台に基板を保持したまま、基板とプ
ローブピンとの相対的位置を調整できる。したがって、
この発明によれば、前記内層基板のような基板も効率的
に検査すことができる基板検査機を実現でき、また、そ
のような基板のハンドリングの自動化も容易に実現でき
る。
第1図はこの発明による基板検査機の一実施例の要部の
構成を簡略化して示す概略部分断面正面図、第2図は2
而分の基板パターンが印刷された内層基板の概略平面図
である。 22・・・プローバ、26・・・プローブピン、30・
・・プレスエレベータ、34・・・基板保持台、36・
・・レール、44・・・モータ、48・・・スクリュー
シャフト、54・・・ナツト。
構成を簡略化して示す概略部分断面正面図、第2図は2
而分の基板パターンが印刷された内層基板の概略平面図
である。 22・・・プローバ、26・・・プローブピン、30・
・・プレスエレベータ、34・・・基板保持台、36・
・・レール、44・・・モータ、48・・・スクリュー
シャフト、54・・・ナツト。
Claims (1)
- (1)プローバに配列された多数のプローブピンに基板
を押し付け、そのテストポイントを前記プローブピンに
押接して前記基板の導通検査などを行う基板検査機であ
って、基板を位置決めして保持するための基板保持台を
プレスエレベータ上に特定方向にスライド可能に支持す
る手段と、前記基板保持体を前記特定方向に移動させる
ための駆動手段とを備えることを特徴とする基板検査機
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61048293A JPS62206463A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 基板検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61048293A JPS62206463A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 基板検査機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62206463A true JPS62206463A (ja) | 1987-09-10 |
Family
ID=12799388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61048293A Pending JPS62206463A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 基板検査機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62206463A (ja) |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP61048293A patent/JPS62206463A/ja active Pending
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