JPH1164426A - プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット - Google Patents
プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキットInfo
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- JPH1164426A JPH1164426A JP9227776A JP22777697A JPH1164426A JP H1164426 A JPH1164426 A JP H1164426A JP 9227776 A JP9227776 A JP 9227776A JP 22777697 A JP22777697 A JP 22777697A JP H1164426 A JPH1164426 A JP H1164426A
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- G01R1/07335—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards for double-sided contacting or for testing boards with surface-mounted devices (SMD's)
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】部品点数が少なく、部材コストが安く、軽量で
かつ精度の高いプリント基板の検査装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】両端に針部を有し、かつ外周にフランジを
有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ前
記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔を
有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と平
行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と反
対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当接
する位置に導電性のパターンを有するインターフェイス
部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イン
ターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配置
され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動であ
り、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接する
ものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材の
貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを特
徴とするプリント基板の検査装置。
かつ精度の高いプリント基板の検査装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】両端に針部を有し、かつ外周にフランジを
有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ前
記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔を
有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と平
行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と反
対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当接
する位置に導電性のパターンを有するインターフェイス
部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イン
ターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配置
され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動であ
り、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接する
ものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材の
貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを特
徴とするプリント基板の検査装置。
Description
【発明の属する技術分野】この発明は、プローブを用い
てプリント基板の不良を検査するためのプリント基板の
検査装置および前記検査装置の組み立てキットに関する
ものである。
てプリント基板の不良を検査するためのプリント基板の
検査装置および前記検査装置の組み立てキットに関する
ものである。
【従来の技術】従来、被検査基板であるプリント基板の
パターンの断線、パターン間のショート、およびプリン
ト基板に実装された電子部品の不良等を検査するため
に、図4に示す検査装置を使用して検査をしていた。図
4は被検査基板を検査中の検査装置の概要を示すもので
ある。図4を参照して従来の装置を説明する。インター
フェイス板401とソケット保持板402を含む検査ユ
ニット400は、駆動手段(図示せず)により上下動さ
れる。検査ユニットを上昇させた状態で被検査基板40
3を基板セット板404に載置した後、検査ユニット4
00を下降させてプローブ407を被検査基板403に
当接させ、検査を行う。ソケット保持板402にはソケ
ット406が固定されている。ソケットには、第1のプ
ローブ407と第2のプローブ405が挿入されてい
る。第1のプローブ407は被検査基板403上のパタ
ーン409に当接し、第2のプローブ405はインター
フェイス板401に設けられたパッド408に当接す
る。ソケット406の外周には環状の凸部が設けられて
おり、ソケット406を専用の工具を使用してソケット
保持板402に打ち込むことにより、ソケット406は
圧着固定される。ソケット保持板402とインターフェ
イス板401とは、支柱420で接続されている。この
支柱420の長さは、第2のプローブ405が所定のピ
ン圧力でインターフェイス板401に当接するように設
定されている。インターフェイス板401はプリント基
板であり、第2のプローブ405が当接するパッド40
8とコネクタA411のリードとをパターンで接続す
る。したがって、被検査基板403のパターンとテスタ
ーは、第1のプローブ407、ソケット406、第2の
プローブ405、インターフェイス基板401のパター
ン、コネクタA411、コネクタB412およびケーブ
ル413を介して接続されているので、テスターからプ
リント基板からなるインターフェイス板401のある箇
所に電気信号を与え、インターフェイス板401の所定
の箇所の電気信号をテスターで見ることにより被検査基
板403の検査をすることができる。
パターンの断線、パターン間のショート、およびプリン
ト基板に実装された電子部品の不良等を検査するため
に、図4に示す検査装置を使用して検査をしていた。図
4は被検査基板を検査中の検査装置の概要を示すもので
ある。図4を参照して従来の装置を説明する。インター
フェイス板401とソケット保持板402を含む検査ユ
ニット400は、駆動手段(図示せず)により上下動さ
れる。検査ユニットを上昇させた状態で被検査基板40
3を基板セット板404に載置した後、検査ユニット4
00を下降させてプローブ407を被検査基板403に
当接させ、検査を行う。ソケット保持板402にはソケ
ット406が固定されている。ソケットには、第1のプ
ローブ407と第2のプローブ405が挿入されてい
る。第1のプローブ407は被検査基板403上のパタ
ーン409に当接し、第2のプローブ405はインター
フェイス板401に設けられたパッド408に当接す
る。ソケット406の外周には環状の凸部が設けられて
おり、ソケット406を専用の工具を使用してソケット
保持板402に打ち込むことにより、ソケット406は
圧着固定される。ソケット保持板402とインターフェ
イス板401とは、支柱420で接続されている。この
支柱420の長さは、第2のプローブ405が所定のピ
ン圧力でインターフェイス板401に当接するように設
定されている。インターフェイス板401はプリント基
板であり、第2のプローブ405が当接するパッド40
8とコネクタA411のリードとをパターンで接続す
る。したがって、被検査基板403のパターンとテスタ
ーは、第1のプローブ407、ソケット406、第2の
プローブ405、インターフェイス基板401のパター
ン、コネクタA411、コネクタB412およびケーブ
ル413を介して接続されているので、テスターからプ
リント基板からなるインターフェイス板401のある箇
所に電気信号を与え、インターフェイス板401の所定
の箇所の電気信号をテスターで見ることにより被検査基
板403の検査をすることができる。
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の技術では以下の問題がある。第1に、プローブ40
7,405とソケット406との2つの部材を使用して
いる。このため、部材コストが高くかつ組立工数が増加
する。また、プローブ407,405をソケット406
に圧入するためにはプローブ407,405の外径とソ
ケット406の内径には所定の遊びが必要であり、これ
がプローブ407,405の先端の位置精度の誤差の要
因となっている。第2に、プローブ407,405の先
端の位置精度を高くするためには、ソケット406のソ
ケット保持板402に対する垂直度を高める必要があ
る。このためには、ソケット保持板402を厚くする必
要があるが、厚くすると検査ユニット400が重くなる
という欠点がある。第3に、半田付けの際に発生するフ
ラックスが被検査基板403に付着する場合があり、プ
ローブ407,405と被検査基板403の接触不良を
なくすためには、プローブ407,405から被検査基
板403に所定の荷重をかける必要がある。その際、プ
ローブ407,405の本数が多い場合には、ソケット
保持板402に相当の力がかかるので、ソケット保持板
402を厚くすることが必要になる。そのため、検査ユ
ニット400がさらに重くなるという欠点がある。第4
に、ソケット保持板402に多数のソケット406を正
確に打ち込むには、熟練した技能が必要である。したが
って、検査ユニット400にソケット406やプローブ
407,405を全て組み込んだ後に、検査ユニット4
00は検査装置製造業者からユーザーに送られる。この
ため、プローブ407,405の先端を保護するために
特別な梱包が必要であり、さらに組立品を送るので梱包
のサイズが大きいという問題もある。この発明は特殊な
プローブを使用することにより、ソケットを使用せずに
プローブをプローブ保持板に保持し、かつプローブがス
ライドできるようにしたもので、部品点数が少なく、部
材コストが安く、軽量でかつ精度の高いプリント基板の
検査装置を提供することを目的とする。さらに、ユーザ
ーでも組立が容易なプリント基板の検査装置の組立キッ
トを提供することを目的としている。
来の技術では以下の問題がある。第1に、プローブ40
7,405とソケット406との2つの部材を使用して
いる。このため、部材コストが高くかつ組立工数が増加
する。また、プローブ407,405をソケット406
に圧入するためにはプローブ407,405の外径とソ
ケット406の内径には所定の遊びが必要であり、これ
がプローブ407,405の先端の位置精度の誤差の要
因となっている。第2に、プローブ407,405の先
端の位置精度を高くするためには、ソケット406のソ
ケット保持板402に対する垂直度を高める必要があ
る。このためには、ソケット保持板402を厚くする必
要があるが、厚くすると検査ユニット400が重くなる
という欠点がある。第3に、半田付けの際に発生するフ
ラックスが被検査基板403に付着する場合があり、プ
ローブ407,405と被検査基板403の接触不良を
なくすためには、プローブ407,405から被検査基
板403に所定の荷重をかける必要がある。その際、プ
ローブ407,405の本数が多い場合には、ソケット
保持板402に相当の力がかかるので、ソケット保持板
402を厚くすることが必要になる。そのため、検査ユ
ニット400がさらに重くなるという欠点がある。第4
に、ソケット保持板402に多数のソケット406を正
確に打ち込むには、熟練した技能が必要である。したが
って、検査ユニット400にソケット406やプローブ
407,405を全て組み込んだ後に、検査ユニット4
00は検査装置製造業者からユーザーに送られる。この
ため、プローブ407,405の先端を保護するために
特別な梱包が必要であり、さらに組立品を送るので梱包
のサイズが大きいという問題もある。この発明は特殊な
プローブを使用することにより、ソケットを使用せずに
プローブをプローブ保持板に保持し、かつプローブがス
ライドできるようにしたもので、部品点数が少なく、部
材コストが安く、軽量でかつ精度の高いプリント基板の
検査装置を提供することを目的とする。さらに、ユーザ
ーでも組立が容易なプリント基板の検査装置の組立キッ
トを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】すなわちこの発明のプリ
ント基板の検査装置は、両端に針部を有し、かつ外周に
フランジを有するプローブと、前記プローブの径より大
きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫通す
る貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保
持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して被検
査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の
一方が当接する位置に導電性のパターンを有するインタ
ーフェイス部材とを具備し、プローブの前記フランジ
は、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部材
との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも一
つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査基
板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロー
ブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されて
いることを特徴とするものである。したがって、図4に
示すソケット406が無くても、検査時にプローブが被
検査基板に当接する際に、プローブがプローブ保持部材
に設けた貫通孔をスライドするので、被検査基板に所定
の荷重をプローブから与え、プリント基板の検査をする
ことができる。また、前記プローブ保持部材を、平行に
配置された複数の部材で構成することにより、プローブ
の垂直度が高まり、プローブの針(ピン)の先端の位置
精度が向上する。また、前記被検査基板と前記プローブ
保持部材の間に、被検査基板を支持する部材が、前記プ
ローブ保持部材に対して弾性を有して設けられているの
で、非検査時においては、弾性に依ってプローブ保持部
材と被検査基板を支持する部材の間隔が長くなり、プロ
ーブの先端が前記被検査基板を支持する部材に依って保
護される。さらに、前記プローブ保持部材と前記被検査
基板を支持する部材との間に、前記被検査基板に誤部品
が実装されていることを検知する手段が設けられている
ので、予定に反してプローブ保持部材と被検査基板を支
持する部材の間隔が狭くなった時に、誤部品が実装され
ていることを検知できる。この発明のプリント基板の検
査装置の組み立てキットは、両端に針部を有し、かつ外
周にフランジを有するプローブと、前記プローブの径よ
り大きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫
通する貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プロー
ブ保持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して
被検査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針
部の一方が当接する位置に導電性のパターンを有するイ
ンターフェイス部材とを具備し、プローブの前記フラン
ジは、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部
材との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも
一つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査
基板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロ
ーブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持され
ていることを特徴としている。したがって、組み立てキ
ットの各部材をネジ等を使用して組み立てることによ
り、容易に検査装置を作ることができる。以上説明して
きたように、この発明のプリント基板の検査装置および
プリント基板の検査装置の組み立てキットによれば、図
1に示すプローブを使用するだけで、従来はプローブを
保持するために必要とされていたソケットを不要にした
ものである。この結果、熟練した技能がなくても検査装
置を容易に組み立てることができる。また、検査装置の
分解が容易にあるので、不要になった検査装置を廃棄す
る際にも、材料別に分別して廃棄ができるので、産業廃
棄物の処理の観点からも好ましい。
ント基板の検査装置は、両端に針部を有し、かつ外周に
フランジを有するプローブと、前記プローブの径より大
きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫通す
る貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保
持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して被検
査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の
一方が当接する位置に導電性のパターンを有するインタ
ーフェイス部材とを具備し、プローブの前記フランジ
は、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部材
との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも一
つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査基
板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロー
ブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されて
いることを特徴とするものである。したがって、図4に
示すソケット406が無くても、検査時にプローブが被
検査基板に当接する際に、プローブがプローブ保持部材
に設けた貫通孔をスライドするので、被検査基板に所定
の荷重をプローブから与え、プリント基板の検査をする
ことができる。また、前記プローブ保持部材を、平行に
配置された複数の部材で構成することにより、プローブ
の垂直度が高まり、プローブの針(ピン)の先端の位置
精度が向上する。また、前記被検査基板と前記プローブ
保持部材の間に、被検査基板を支持する部材が、前記プ
ローブ保持部材に対して弾性を有して設けられているの
で、非検査時においては、弾性に依ってプローブ保持部
材と被検査基板を支持する部材の間隔が長くなり、プロ
ーブの先端が前記被検査基板を支持する部材に依って保
護される。さらに、前記プローブ保持部材と前記被検査
基板を支持する部材との間に、前記被検査基板に誤部品
が実装されていることを検知する手段が設けられている
ので、予定に反してプローブ保持部材と被検査基板を支
持する部材の間隔が狭くなった時に、誤部品が実装され
ていることを検知できる。この発明のプリント基板の検
査装置の組み立てキットは、両端に針部を有し、かつ外
周にフランジを有するプローブと、前記プローブの径よ
り大きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫
通する貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プロー
ブ保持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して
被検査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針
部の一方が当接する位置に導電性のパターンを有するイ
ンターフェイス部材とを具備し、プローブの前記フラン
ジは、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部
材との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも
一つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査
基板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロ
ーブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持され
ていることを特徴としている。したがって、組み立てキ
ットの各部材をネジ等を使用して組み立てることによ
り、容易に検査装置を作ることができる。以上説明して
きたように、この発明のプリント基板の検査装置および
プリント基板の検査装置の組み立てキットによれば、図
1に示すプローブを使用するだけで、従来はプローブを
保持するために必要とされていたソケットを不要にした
ものである。この結果、熟練した技能がなくても検査装
置を容易に組み立てることができる。また、検査装置の
分解が容易にあるので、不要になった検査装置を廃棄す
る際にも、材料別に分別して廃棄ができるので、産業廃
棄物の処理の観点からも好ましい。
【発明の実施の形態】以下、この発明のプリント基板の
検査装置およびプリント基板の検査装置の組み立てキッ
トの実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明
する。この発明に使用するプローブの詳細を図1に示
す。図1(a)は、プローブ10に荷重がかかっていな
い状態を示す。プローブ10は、外筒11と、外筒11
の下部に固定された固定針12と、外筒11の上部にお
いて伸縮自在に設けられた可動針13とを備えている。
外筒11内には、コイルバネ14等の弾性部材が収容さ
れている。上方から可動針13に力が加減されると、可
動針13は外筒11の内壁に沿って伸縮する。外筒11
の上端にはフランジ15が設けられている。固定針12
および可動針13の先端は、被検査基板のパターンと確
実に接触させるために多点構造を有している。図1
(b)は、プローブ10に荷重がかかり、可動針13が
外筒11内に沈み込んだ状態を示す。図2は、この発明
の上部検査ユニット100と下部検査ユニット200と
を従来から知られている検査装置本体に取り付け、被検
査基板20を検査装置本体にセットした状態を示すもの
である。図3は、上部検査ユニット100が下降し、下
部検査ユニット200が上昇して、検査をしている状態
を示すものである。図2、図3においては、上下に各1
本のプローブ10が示されているだけであるが、実際の
装置では数百本のプローブ10が設けられている。上部
および下部検査ユニット100、200からなる検査ユ
ニットは、被検査基板20であるプリント基板の種類毎
に異なる。しかし、検査ユニットおよび被検査基板20
を位置合わせするための機構、検査ユニットの固定機
構、検査ユニットを上下動させる駆動手段、被検査基板
20を搬入し、固定し、搬出する手段等で構成される検
査装置本体は、多種類の被検査基板20に対して共通に
使用される。図2、図3においては、検査装置本体のう
ちで、この発明を説明するのに必要な部分のみを示す。
被検査基板20を載置した基板セット板30は、検査装
置本体に搬入され、位置合わせ機構および固定手段(図
示せず)により、所定の位置で固定される。基板セット
板30には、被検査基板20を所定の位置に設置するた
めのガイドピン31と被検査基板20を支持する支柱3
2が設けられている。上部検査ユニット100は、ベー
ス板101、インターフェイス板102、第1のプロー
ブ保持板103、第2のプローブ保持板104、基板押
さえ板105、およびプローブ10等から構成される。
ベース板101、インターフェイス板102、第1およ
び第2のプローブ保持板103,104は、支柱107
および108,109,110等の連結手段で相互に固
定されている。基板押さえ板105は、第2のプローブ
保持板104に対して、バネ等の弾性部材を有する連結
部材111により上下動可能にとりつけられている。ま
た、ベース板101は、検査装置本体の上部プレート4
1に着脱可能に固定されている。したがって、上部プレ
ート41が上下動する事により、上部検査ユニット10
0全体が上下動する。ベース板101には、支柱107
と押さえ棒106が取り付けられている。インターフェ
イス板102にプローブ10から荷重がかかった時に、
支柱107がインタフェイス板102を上面から支持す
るので、インターフェイス板102は反らないようにな
っている。また、ベース板101とインターフェイス板
102は、支柱108によって固定されている。インタ
ーフェイス板102は、厚さが1.6mmのプリント基
板で作られており、プローブ10が当接する位置に導電
性のパターンであるパッド113が設けられている。図
4に示したように、パッド113のコネクタ(図示せ
ず)のリードをインターフェイス板102上のパターン
で接続することにより、テスター(図示せず)とプロー
ブ10の間で電気信号を伝達できる。第1および第2の
プローブ保持板103,104は、厚さが1.6mmの
ガラスエポキシ樹脂の板であり、従来技術を示す図4の
ソケット保持板402に相当するものである。そしてプ
ローブ10が通る位置には貫通孔114,115が設け
られている。直径が1.00mmのプローブを使用する
場合、貫通孔114,115の直径を1.03mmから
1.05mm程度にすることにより、所定の精度が出る
ようにしている。また、被検査基板20側のプローブ1
0の先端の必要とされる位置精度に応じて、貫通孔11
4,115の直径は、適宜拡大もしくは縮小される。プ
ローブ10に設けたフランジ15の直径は、貫通孔11
4,115の直径より大きくしてある。また、図2に示
す検査前の状態で、インターフェイス板102と第1の
プローブ保持板103の間隔は、図1(a)のP1より
も短く設定されている。したがって、プローブ10のフ
ランジ15がインターフェイス板102で動きが制限さ
れ、プローブ10の可動針13が沈み込み、僅かな荷重
がかかる。この結果、プローブ10とインターフェイス
板102とは常に接触しているので、接触不良が発生し
ない。また、その際の荷重が僅かであるので、第1のプ
ローブ保持板103にプローブ10のフランジ15を介
して過大な荷重がかかることがない。したがって、第1
のプローブ保持板103を薄くすることができ、上部検
査ユニット100の軽量化を実現できる。なお、予めプ
ローブ10の可動針13に荷重をかけておくこと、およ
び可動針13をインターフェイス板102側に置くこと
は、この発明の作用効果を高めることではあるが、必須
要件ではない。図3に示す検査時においては、プローブ
10に荷重がかかり、プローブ10は図1(b)に示す
状態となる。図2から図3の状態になる過程において、
プローブ10は、第1および第2のプローブ保持板10
3,104の貫通孔114,115に沿ってスライドす
る。このように、第1および第2のプローブ保持板10
3,104自体がソケットとして機能する。したがっ
て、ソケットを使う必要がなくなり、部品点数が減り装
置の信頼性を高めることができるとともに、ソケット4
06をソケット保持板402に打ち込むという作業が不
要になるというメリットがある。また、図3に示す検査
時においては、プローブ10からの荷重はインターフェ
イス板102にのみかかるので、第1および第2のプロ
ーブ保持板103,104には荷重がかからない。した
がって、第1および第2のプローブ保持板103,10
4を薄い部材で作ることができ、上部検査ユニット10
0の軽量化を実現することができる。第1のプローブ保
持板103と第2のプローブ保持板104との間隔は、
支柱110によって5mmに設定されている。この結
果、上記第1および第2のプローブ保持板103,10
4が薄くても、プローブ10の垂直精度を出すことがで
きる。なお、インターフェイス板102、第1および第
2のプローブ保持板103,104は、取り付け場所に
もよるが、例えば、両側が雌ネジの支柱109,110
とネジを用いて、または片側が雌ネジで他の側が雄ネジ
の支柱109,110とネジとナットとを用いて固定さ
れる。上記基板押さえ板105は、上部検査ユニット1
00の最下部に取り付けられている。基板押さえ板10
5には、支柱112が取り付けられている。そして図3
に示すように、被検査基板20が下面のプローブ10か
ら力を受けて上方に反らないように、支柱112で上面
から支持する。この支柱112は、ネジ、接着剤等によ
り基板押さえ板105に取り付けることができる。ま
た、ベース板101に取り付けられた押さえ棒106
が、基板押さえ板105に対して相対的に下降すること
により、検査装置本体の上部プレート41からの力を基
板押さえ板105に伝えることができる。つまり、押さ
え棒106、基板押さえ板105、支柱112とで、被
検査基板20を上面から支持する。基板押さえ板105
は、連結部材111を介して第2のプローブ保持板10
4に上下動可能に保持されている。第2のプローブ保持
板104と基板押さえ板105間に設けられた連結部材
111が通る貫通孔116,117は、所定の遊びを持
っている。前記遊びにより、基板押さえ板105が左右
に動いた際に、プローブ10が影響を受けないように、
基板押さえ板105に設けられたプローブ10が通る貫
通孔118の直径が決められている。上述のように上部
検査ユニット100は、支柱108,109,110お
よび連結部材111により、一体となっているので、検
査装置本体から取り外して棚等に容易に保管することが
できる。また、連結部材111のバネの力により、保管
時にプローブ10の先端が基板押さえ板105の支柱1
12よりも前に出ないので、プローブ10の先端を保護
することができる。実施例では、第1および第2のプロ
ーブ保持板103,104を使用したが、1枚の厚いプ
ローブ保持板で代用できることは言うまでもない。ま
た、第2のプローブ保持板104を省略して、基板押さ
え板105にその機能を併せ持たせることも可能であ
る。つまり、要求されているプローブ10先端の位置精
度、重量、価格等を総合的に判断して、採用する方法が
決められる。次に、下部検査ユニット200について説
明する。下部検査ユニット200は、ベース板201、
インターフェイス板202、第1のプローブ保持板20
3、第2のプローブ保持板204、プローブ10等から
構成される。下部検査ユニット200は、上部検査ユニ
ット100と類似の構成である。しかし、上部検査ユニ
ット100の基板押さえ板105に相当するものがない
ので、被検査基板20を押さえるための機構が異なって
いる。上部検査ユニット100では、プローブ10の移
動と基板押さえ板105の移動とが一体で行われたが、
下部検査ユニット200では、プローブ10と被検査基
板20を押さえるための機構とは独立に移動する。下部
検査ユニット200のベース板201が、検査装置本体
の下部プレート42に取り付けられているので、下部プ
レート42が昇降することにより、下部検査ユニット2
00も昇降する。押さえ棒206は下方にフランジを有
し、下部検査ユニット200から外れないようになって
いる。検査装置本体の一部である押さえ棒駆動板43に
は、押さえ棒駆動棒44が取り付けられ、押さえ棒駆動
棒44の上端は、押さえ棒206の下端に接している。
押さえ棒駆動板43が昇降することにより、押さえ棒2
06が単独に昇降するようになっている。そこで、実際
に検査を行う際の上部検査ユニット100および下部検
査ユニット200の動きについて説明する。図2の状態
から、押さえ棒駆動板43が上昇し、押さえ棒206の
上端が基板セット板30に接する位置まで上昇する。次
に、上部検査ユニット100が、図2に示すL1だけ下
降し、基板押さえ板105に取り付けられた支柱112
の下端が被検査基板20に接する。もし、被検査基板2
0の部品21の代わりに間違った部品21が実装されて
いて、その部品21が支柱112に当たると、基板押さ
え板105は所定の位置まで下降せず、基板押さえ板1
05と第2のプローブ保持板104の間隔が狭くなる。
図2には示してないが、例えば、第2のプローブ保持板
104の下面にリミットスイッチを設けておけば、この
ことを検知して、上部検査ユニット100の下降を停止
することにより、被検査基板20の破損を防止すること
ができる。さらに図2に示すL2の距離を下降すると、
プローブ10の先端が被検査基板20のパターン22に
接する。さらに図2に示す(L3−L2)距離を下降す
ると、押さえ棒106の下端が基板押さえ板105に当
接し、基板押さえ板105が下面から力を受けても動か
ないようになる。また、この状態ではプローブ10は当
初に比べて(L3−L2)だけ短くなり、所定の荷重で
被検査基板20に当接する。この時点で、上部検査ユニ
ット100は図3に示す状態となる。この際に、プロー
ブ10内のコイルバネ14(図1(b)参照)は縮みな
がら、プローブ10は第1および第2のスライド板10
3,104の貫通孔114,115に沿ってスライドす
る。なお、予め被検査基板20は押さえ棒206および
基板セット板30の支柱32で下面から支えられている
ので、上面のプローブ10から荷重がかかっても反るこ
とはない。次に、検査装置本体の下部プレート42が上
昇すると、押さえ棒206を除く下部検査ユニット20
0全体が上昇し、プローブ10の先端が被検査基板20
の下面のパターン23に接する。さらに下部検査ユニッ
ト200が上昇し、プローブ10に所定の荷重がかかる
位置までくると停止し、図3に示す状態となる。その
際、被検査基板20は予め基板押さえ板105の支柱1
12で上面から支えられているので、下面のプローブ1
0から荷重がかかっても反らないようになっている。上
部検査ユニット100の組み立て順序について説明す
る。第1に、ベース板101に押さえ棒106と支柱1
07とを取り付ける。第2に、基板押さえ板105に支
柱112を取り付ける。第3に、第1のプローブ保持板
103と第2のプローブ保持板104とを支柱109を
介して固定する。第4に、第2のプローブ保持板104
と基板押さえ板105とを連結部材111により連結さ
せる。第5に、プローブ10のフランジ15が第1のプ
ローブ保持板103の上面で引っかかるようにして、プ
ローブ10を第1および第2のプローブ保持板103,
104と基板押さえ板105とに挿入する。第6に、イ
ンターフェイス板102を押しながら、インターフェイ
ス板102と第1のプローブ保持板103とを支柱10
9を介して固定する。第7に、押さえ棒106をインタ
ーフェイス板102等に挿入して、ベース板101とイ
ンターフェイス板102を支柱108を介して固定す
る。なお、インターフェイス板102、プローブ保持板
103,104等の間の支柱109,110を固定する
ネジ等を外すことにより、容易にプローブ10を交換で
きる。下部検査ユニット200についても、上記と同様
の手順で組み立てができる。以上説明したように、上部
検査ユニット100および下部検査ユニット200は容
易に組み立て可能なような部品構成となっている。例え
ば、上部検査ユニット100は、「検査装置本体に取り
付けるためのベース板101」、「所望のパターンが配
線されたインターフェイス板102」、「プローブ10
および押さえ棒106が通る貫通孔114,115が設
けられた第1および第2のプローブ保持板103,10
4」、「支柱112を接着剤で付ける位置に印の付けら
れた、または支柱112を取り付ける位置に取り付け用
のネジ穴の設けられた基板押さえ板105」、「プロー
ブ10」、「連結部材111」、「押さえ棒106」、
その他「支柱107,108,109,110」、「ネ
ジ等」があれば、特別な技能がなくても容易に組み立て
ることができる。もちろん、下部検査ユニット200も
同様にして部品を準備することにより、簡単に組み立て
ることができる。つまり、検査装置製造業者で前記の部
品を作り、ユーザーに送れば、ユーザーが組み立てるこ
とができる。したがって従来のように検査ユニットを組
み立てて送るのではなく、部品の形態で送ることができ
るので、プローブを保護する梱包が不要であるととも
に、梱包が小さくなるという効果がある。以上、プリン
ト基板の検査装置についての実施例を説明したが、この
発明はこれらに限定されるものではなく、第1および第
2のプローブ保持板103,104の材質、厚さ、間隔
等についても適宜変更して使用できるものである。ま
た、プローブ10から受ける荷重により被検査基板20
の反りを防止する手段についても適宜変更して使用でき
るものである。例えば、上記実施例では支柱112で被
検査基板20を支持するようにしたが、支柱112に代
えて、被検査基板20上の部品21の形状に合わせてル
ータ加工等で削り取った板で押さえてもよい。また実施
例では、ベース板101を使用した場合について説明し
たが、押さえ棒106をインターフェイス板102に取
り付ける構成にしてベース板101を省略することもで
きる。さらに、実施例では被検査基板20の両面からプ
ローブ10を当接させて検査をする例を示したが、この
発明は被検査基板20の片面のみからプローブ10を当
接させて検査を行う際にも適用できるものである。なお
この発明は、電子部品を実装したプリント基板の検査の
みでなく、電子部品を実装する前のプリント基板の検査
にも使用することができる。
検査装置およびプリント基板の検査装置の組み立てキッ
トの実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明
する。この発明に使用するプローブの詳細を図1に示
す。図1(a)は、プローブ10に荷重がかかっていな
い状態を示す。プローブ10は、外筒11と、外筒11
の下部に固定された固定針12と、外筒11の上部にお
いて伸縮自在に設けられた可動針13とを備えている。
外筒11内には、コイルバネ14等の弾性部材が収容さ
れている。上方から可動針13に力が加減されると、可
動針13は外筒11の内壁に沿って伸縮する。外筒11
の上端にはフランジ15が設けられている。固定針12
および可動針13の先端は、被検査基板のパターンと確
実に接触させるために多点構造を有している。図1
(b)は、プローブ10に荷重がかかり、可動針13が
外筒11内に沈み込んだ状態を示す。図2は、この発明
の上部検査ユニット100と下部検査ユニット200と
を従来から知られている検査装置本体に取り付け、被検
査基板20を検査装置本体にセットした状態を示すもの
である。図3は、上部検査ユニット100が下降し、下
部検査ユニット200が上昇して、検査をしている状態
を示すものである。図2、図3においては、上下に各1
本のプローブ10が示されているだけであるが、実際の
装置では数百本のプローブ10が設けられている。上部
および下部検査ユニット100、200からなる検査ユ
ニットは、被検査基板20であるプリント基板の種類毎
に異なる。しかし、検査ユニットおよび被検査基板20
を位置合わせするための機構、検査ユニットの固定機
構、検査ユニットを上下動させる駆動手段、被検査基板
20を搬入し、固定し、搬出する手段等で構成される検
査装置本体は、多種類の被検査基板20に対して共通に
使用される。図2、図3においては、検査装置本体のう
ちで、この発明を説明するのに必要な部分のみを示す。
被検査基板20を載置した基板セット板30は、検査装
置本体に搬入され、位置合わせ機構および固定手段(図
示せず)により、所定の位置で固定される。基板セット
板30には、被検査基板20を所定の位置に設置するた
めのガイドピン31と被検査基板20を支持する支柱3
2が設けられている。上部検査ユニット100は、ベー
ス板101、インターフェイス板102、第1のプロー
ブ保持板103、第2のプローブ保持板104、基板押
さえ板105、およびプローブ10等から構成される。
ベース板101、インターフェイス板102、第1およ
び第2のプローブ保持板103,104は、支柱107
および108,109,110等の連結手段で相互に固
定されている。基板押さえ板105は、第2のプローブ
保持板104に対して、バネ等の弾性部材を有する連結
部材111により上下動可能にとりつけられている。ま
た、ベース板101は、検査装置本体の上部プレート4
1に着脱可能に固定されている。したがって、上部プレ
ート41が上下動する事により、上部検査ユニット10
0全体が上下動する。ベース板101には、支柱107
と押さえ棒106が取り付けられている。インターフェ
イス板102にプローブ10から荷重がかかった時に、
支柱107がインタフェイス板102を上面から支持す
るので、インターフェイス板102は反らないようにな
っている。また、ベース板101とインターフェイス板
102は、支柱108によって固定されている。インタ
ーフェイス板102は、厚さが1.6mmのプリント基
板で作られており、プローブ10が当接する位置に導電
性のパターンであるパッド113が設けられている。図
4に示したように、パッド113のコネクタ(図示せ
ず)のリードをインターフェイス板102上のパターン
で接続することにより、テスター(図示せず)とプロー
ブ10の間で電気信号を伝達できる。第1および第2の
プローブ保持板103,104は、厚さが1.6mmの
ガラスエポキシ樹脂の板であり、従来技術を示す図4の
ソケット保持板402に相当するものである。そしてプ
ローブ10が通る位置には貫通孔114,115が設け
られている。直径が1.00mmのプローブを使用する
場合、貫通孔114,115の直径を1.03mmから
1.05mm程度にすることにより、所定の精度が出る
ようにしている。また、被検査基板20側のプローブ1
0の先端の必要とされる位置精度に応じて、貫通孔11
4,115の直径は、適宜拡大もしくは縮小される。プ
ローブ10に設けたフランジ15の直径は、貫通孔11
4,115の直径より大きくしてある。また、図2に示
す検査前の状態で、インターフェイス板102と第1の
プローブ保持板103の間隔は、図1(a)のP1より
も短く設定されている。したがって、プローブ10のフ
ランジ15がインターフェイス板102で動きが制限さ
れ、プローブ10の可動針13が沈み込み、僅かな荷重
がかかる。この結果、プローブ10とインターフェイス
板102とは常に接触しているので、接触不良が発生し
ない。また、その際の荷重が僅かであるので、第1のプ
ローブ保持板103にプローブ10のフランジ15を介
して過大な荷重がかかることがない。したがって、第1
のプローブ保持板103を薄くすることができ、上部検
査ユニット100の軽量化を実現できる。なお、予めプ
ローブ10の可動針13に荷重をかけておくこと、およ
び可動針13をインターフェイス板102側に置くこと
は、この発明の作用効果を高めることではあるが、必須
要件ではない。図3に示す検査時においては、プローブ
10に荷重がかかり、プローブ10は図1(b)に示す
状態となる。図2から図3の状態になる過程において、
プローブ10は、第1および第2のプローブ保持板10
3,104の貫通孔114,115に沿ってスライドす
る。このように、第1および第2のプローブ保持板10
3,104自体がソケットとして機能する。したがっ
て、ソケットを使う必要がなくなり、部品点数が減り装
置の信頼性を高めることができるとともに、ソケット4
06をソケット保持板402に打ち込むという作業が不
要になるというメリットがある。また、図3に示す検査
時においては、プローブ10からの荷重はインターフェ
イス板102にのみかかるので、第1および第2のプロ
ーブ保持板103,104には荷重がかからない。した
がって、第1および第2のプローブ保持板103,10
4を薄い部材で作ることができ、上部検査ユニット10
0の軽量化を実現することができる。第1のプローブ保
持板103と第2のプローブ保持板104との間隔は、
支柱110によって5mmに設定されている。この結
果、上記第1および第2のプローブ保持板103,10
4が薄くても、プローブ10の垂直精度を出すことがで
きる。なお、インターフェイス板102、第1および第
2のプローブ保持板103,104は、取り付け場所に
もよるが、例えば、両側が雌ネジの支柱109,110
とネジを用いて、または片側が雌ネジで他の側が雄ネジ
の支柱109,110とネジとナットとを用いて固定さ
れる。上記基板押さえ板105は、上部検査ユニット1
00の最下部に取り付けられている。基板押さえ板10
5には、支柱112が取り付けられている。そして図3
に示すように、被検査基板20が下面のプローブ10か
ら力を受けて上方に反らないように、支柱112で上面
から支持する。この支柱112は、ネジ、接着剤等によ
り基板押さえ板105に取り付けることができる。ま
た、ベース板101に取り付けられた押さえ棒106
が、基板押さえ板105に対して相対的に下降すること
により、検査装置本体の上部プレート41からの力を基
板押さえ板105に伝えることができる。つまり、押さ
え棒106、基板押さえ板105、支柱112とで、被
検査基板20を上面から支持する。基板押さえ板105
は、連結部材111を介して第2のプローブ保持板10
4に上下動可能に保持されている。第2のプローブ保持
板104と基板押さえ板105間に設けられた連結部材
111が通る貫通孔116,117は、所定の遊びを持
っている。前記遊びにより、基板押さえ板105が左右
に動いた際に、プローブ10が影響を受けないように、
基板押さえ板105に設けられたプローブ10が通る貫
通孔118の直径が決められている。上述のように上部
検査ユニット100は、支柱108,109,110お
よび連結部材111により、一体となっているので、検
査装置本体から取り外して棚等に容易に保管することが
できる。また、連結部材111のバネの力により、保管
時にプローブ10の先端が基板押さえ板105の支柱1
12よりも前に出ないので、プローブ10の先端を保護
することができる。実施例では、第1および第2のプロ
ーブ保持板103,104を使用したが、1枚の厚いプ
ローブ保持板で代用できることは言うまでもない。ま
た、第2のプローブ保持板104を省略して、基板押さ
え板105にその機能を併せ持たせることも可能であ
る。つまり、要求されているプローブ10先端の位置精
度、重量、価格等を総合的に判断して、採用する方法が
決められる。次に、下部検査ユニット200について説
明する。下部検査ユニット200は、ベース板201、
インターフェイス板202、第1のプローブ保持板20
3、第2のプローブ保持板204、プローブ10等から
構成される。下部検査ユニット200は、上部検査ユニ
ット100と類似の構成である。しかし、上部検査ユニ
ット100の基板押さえ板105に相当するものがない
ので、被検査基板20を押さえるための機構が異なって
いる。上部検査ユニット100では、プローブ10の移
動と基板押さえ板105の移動とが一体で行われたが、
下部検査ユニット200では、プローブ10と被検査基
板20を押さえるための機構とは独立に移動する。下部
検査ユニット200のベース板201が、検査装置本体
の下部プレート42に取り付けられているので、下部プ
レート42が昇降することにより、下部検査ユニット2
00も昇降する。押さえ棒206は下方にフランジを有
し、下部検査ユニット200から外れないようになって
いる。検査装置本体の一部である押さえ棒駆動板43に
は、押さえ棒駆動棒44が取り付けられ、押さえ棒駆動
棒44の上端は、押さえ棒206の下端に接している。
押さえ棒駆動板43が昇降することにより、押さえ棒2
06が単独に昇降するようになっている。そこで、実際
に検査を行う際の上部検査ユニット100および下部検
査ユニット200の動きについて説明する。図2の状態
から、押さえ棒駆動板43が上昇し、押さえ棒206の
上端が基板セット板30に接する位置まで上昇する。次
に、上部検査ユニット100が、図2に示すL1だけ下
降し、基板押さえ板105に取り付けられた支柱112
の下端が被検査基板20に接する。もし、被検査基板2
0の部品21の代わりに間違った部品21が実装されて
いて、その部品21が支柱112に当たると、基板押さ
え板105は所定の位置まで下降せず、基板押さえ板1
05と第2のプローブ保持板104の間隔が狭くなる。
図2には示してないが、例えば、第2のプローブ保持板
104の下面にリミットスイッチを設けておけば、この
ことを検知して、上部検査ユニット100の下降を停止
することにより、被検査基板20の破損を防止すること
ができる。さらに図2に示すL2の距離を下降すると、
プローブ10の先端が被検査基板20のパターン22に
接する。さらに図2に示す(L3−L2)距離を下降す
ると、押さえ棒106の下端が基板押さえ板105に当
接し、基板押さえ板105が下面から力を受けても動か
ないようになる。また、この状態ではプローブ10は当
初に比べて(L3−L2)だけ短くなり、所定の荷重で
被検査基板20に当接する。この時点で、上部検査ユニ
ット100は図3に示す状態となる。この際に、プロー
ブ10内のコイルバネ14(図1(b)参照)は縮みな
がら、プローブ10は第1および第2のスライド板10
3,104の貫通孔114,115に沿ってスライドす
る。なお、予め被検査基板20は押さえ棒206および
基板セット板30の支柱32で下面から支えられている
ので、上面のプローブ10から荷重がかかっても反るこ
とはない。次に、検査装置本体の下部プレート42が上
昇すると、押さえ棒206を除く下部検査ユニット20
0全体が上昇し、プローブ10の先端が被検査基板20
の下面のパターン23に接する。さらに下部検査ユニッ
ト200が上昇し、プローブ10に所定の荷重がかかる
位置までくると停止し、図3に示す状態となる。その
際、被検査基板20は予め基板押さえ板105の支柱1
12で上面から支えられているので、下面のプローブ1
0から荷重がかかっても反らないようになっている。上
部検査ユニット100の組み立て順序について説明す
る。第1に、ベース板101に押さえ棒106と支柱1
07とを取り付ける。第2に、基板押さえ板105に支
柱112を取り付ける。第3に、第1のプローブ保持板
103と第2のプローブ保持板104とを支柱109を
介して固定する。第4に、第2のプローブ保持板104
と基板押さえ板105とを連結部材111により連結さ
せる。第5に、プローブ10のフランジ15が第1のプ
ローブ保持板103の上面で引っかかるようにして、プ
ローブ10を第1および第2のプローブ保持板103,
104と基板押さえ板105とに挿入する。第6に、イ
ンターフェイス板102を押しながら、インターフェイ
ス板102と第1のプローブ保持板103とを支柱10
9を介して固定する。第7に、押さえ棒106をインタ
ーフェイス板102等に挿入して、ベース板101とイ
ンターフェイス板102を支柱108を介して固定す
る。なお、インターフェイス板102、プローブ保持板
103,104等の間の支柱109,110を固定する
ネジ等を外すことにより、容易にプローブ10を交換で
きる。下部検査ユニット200についても、上記と同様
の手順で組み立てができる。以上説明したように、上部
検査ユニット100および下部検査ユニット200は容
易に組み立て可能なような部品構成となっている。例え
ば、上部検査ユニット100は、「検査装置本体に取り
付けるためのベース板101」、「所望のパターンが配
線されたインターフェイス板102」、「プローブ10
および押さえ棒106が通る貫通孔114,115が設
けられた第1および第2のプローブ保持板103,10
4」、「支柱112を接着剤で付ける位置に印の付けら
れた、または支柱112を取り付ける位置に取り付け用
のネジ穴の設けられた基板押さえ板105」、「プロー
ブ10」、「連結部材111」、「押さえ棒106」、
その他「支柱107,108,109,110」、「ネ
ジ等」があれば、特別な技能がなくても容易に組み立て
ることができる。もちろん、下部検査ユニット200も
同様にして部品を準備することにより、簡単に組み立て
ることができる。つまり、検査装置製造業者で前記の部
品を作り、ユーザーに送れば、ユーザーが組み立てるこ
とができる。したがって従来のように検査ユニットを組
み立てて送るのではなく、部品の形態で送ることができ
るので、プローブを保護する梱包が不要であるととも
に、梱包が小さくなるという効果がある。以上、プリン
ト基板の検査装置についての実施例を説明したが、この
発明はこれらに限定されるものではなく、第1および第
2のプローブ保持板103,104の材質、厚さ、間隔
等についても適宜変更して使用できるものである。ま
た、プローブ10から受ける荷重により被検査基板20
の反りを防止する手段についても適宜変更して使用でき
るものである。例えば、上記実施例では支柱112で被
検査基板20を支持するようにしたが、支柱112に代
えて、被検査基板20上の部品21の形状に合わせてル
ータ加工等で削り取った板で押さえてもよい。また実施
例では、ベース板101を使用した場合について説明し
たが、押さえ棒106をインターフェイス板102に取
り付ける構成にしてベース板101を省略することもで
きる。さらに、実施例では被検査基板20の両面からプ
ローブ10を当接させて検査をする例を示したが、この
発明は被検査基板20の片面のみからプローブ10を当
接させて検査を行う際にも適用できるものである。なお
この発明は、電子部品を実装したプリント基板の検査の
みでなく、電子部品を実装する前のプリント基板の検査
にも使用することができる。
【発明の効果】以上説明してきたように、この発明のプ
リント基板の検査装置およびプリント基板の検査装置の
組み立てキットによれば、図1に示すプローブを使用す
るだけで、従来はプローブを保持するために必要とされ
ていたソケットを不要にしたものである。この結果、熟
練した技能がなくても検査装置を容易に組み立てること
ができる。また、検査装置の分解が容易にあるので、不
要になった検査装置を廃棄する際にも、材料別に分別し
て廃棄ができるので、産業廃棄物の処理の観点からも好
ましい。この発明のプリント基板の検査装置およびプリ
ント基板の検査装置の組み立てキットによれば、プロー
ブのみの交換が極めて容易であり、上部検査ユニットお
よび下部検査ユニットの不良プローブを簡単に交換する
ことができるようになった。
リント基板の検査装置およびプリント基板の検査装置の
組み立てキットによれば、図1に示すプローブを使用す
るだけで、従来はプローブを保持するために必要とされ
ていたソケットを不要にしたものである。この結果、熟
練した技能がなくても検査装置を容易に組み立てること
ができる。また、検査装置の分解が容易にあるので、不
要になった検査装置を廃棄する際にも、材料別に分別し
て廃棄ができるので、産業廃棄物の処理の観点からも好
ましい。この発明のプリント基板の検査装置およびプリ
ント基板の検査装置の組み立てキットによれば、プロー
ブのみの交換が極めて容易であり、上部検査ユニットお
よび下部検査ユニットの不良プローブを簡単に交換する
ことができるようになった。
【図1】この発明のプリント基板の検査装置に使用する
プローブを示す概略断面図である。
プローブを示す概略断面図である。
【図2】被検査基板を検査する前の検査装置の状態を示
す概略断面図である。
す概略断面図である。
【図3】被検査基板を検査している時の検査装置の状態
を示す概略断面図である。
を示す概略断面図である。
【図4】従来のプリント基板の検査装置を示す概略断面
図である。
図である。
10 プローブ 20 被検査基板 30 基板セット板 41 上部プレート 42 下部プレート 43 押さえ棒駆動板 100 上部検査ユニット 200 下部検査ユニット 101,201 ベース板 102,202 インターフェイス板 103,203 第1のプローブ保持板 104,204 第2のプローブ保持板 105 基板押さえ板 106,206 押さえ棒
Claims (5)
- 【請求項1】 両端に針部を有し、かつ外周にフランジ
を有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ
前記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔
を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と
平行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と
反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当
接する位置に導電性のパターンを有するインターフェイ
ス部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イ
ンターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配
置され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動で
あり、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接す
るものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材
の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを
特徴とするプリント基板の検査装置。 - 【請求項2】 前記プローブ保持部材は、平行に配置さ
れた複数の部材で構成されている請求項1に記載のプリ
ント基板の検査装置。 - 【請求項3】 前記被検査基板と前記プローブ保持部材
の間に、被検査基板を支持する部材が、前記プローブ保
持部材に対して弾性を有して設けられている請求項1お
よび2に記載のプリント基板の検査装置。 - 【請求項4】 前記プローブ保持部材と前記被検査基板
を支持する部材との間に、前記被検査基板に誤部品が実
装されていることを検知する手段が設けられている請求
項3に記載のプリント基板の検査装置。 - 【請求項5】 両端に針部を有し、かつ外周にフランジ
を有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ
前記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔
を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と
平行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と
反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当
接する位置に導電性のパターンを有するインターフェイ
ス部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イ
ンターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配
置され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動で
あり、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接す
るものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材
の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを
特徴とするプリント基板の検査装置の組み立てキット。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9227776A JPH1164426A (ja) | 1997-08-25 | 1997-08-25 | プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット |
US09/201,681 US6130547A (en) | 1997-08-25 | 1998-11-30 | Test apparatus for printed circuit board and assembly kit therefor |
TW087119816A TW380205B (en) | 1997-08-25 | 1998-11-30 | Testing apparatus and its assembly for printed circuit board |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9227776A JPH1164426A (ja) | 1997-08-25 | 1997-08-25 | プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット |
US09/201,681 US6130547A (en) | 1997-08-25 | 1998-11-30 | Test apparatus for printed circuit board and assembly kit therefor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1164426A true JPH1164426A (ja) | 1999-03-05 |
Family
ID=26527860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9227776A Pending JPH1164426A (ja) | 1997-08-25 | 1997-08-25 | プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6130547A (ja) |
JP (1) | JPH1164426A (ja) |
TW (1) | TW380205B (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2016129261A (ja) * | 1999-04-19 | 2016-07-14 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | カセットを位置合わせするための方法と装置 |
CN113189469A (zh) * | 2021-03-30 | 2021-07-30 | 深圳市磐锋精密技术有限公司 | 一种用于手机线路全自动检测的设备及其使用方法 |
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WO2002008773A2 (en) | 2000-07-19 | 2002-01-31 | Orbotech Ltd. | Apparatus and method for electrical testing of electrical circuits |
US6581486B1 (en) * | 2001-10-11 | 2003-06-24 | Unisys Corporation | Integrated circuit tester having a fail-safe mechanism for moving IC-chips |
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CA2592901C (en) * | 2007-07-13 | 2012-03-27 | Martin Blouin | Semi-generic in-circuit test fixture |
DE102011016299A1 (de) * | 2011-04-07 | 2012-10-11 | Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh | Testkontaktor für eine Leiterplatte, Verwendung und Verfahren zum Prüfen |
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US5818248A (en) * | 1996-07-29 | 1998-10-06 | Delaware Capital Formation, Inc | Loaded board test fixture with integral translator fixture for testing closely spaced test sites |
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-
1997
- 1997-08-25 JP JP9227776A patent/JPH1164426A/ja active Pending
-
1998
- 1998-11-30 TW TW087119816A patent/TW380205B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-11-30 US US09/201,681 patent/US6130547A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW380205B (en) | 2000-01-21 |
US6130547A (en) | 2000-10-10 |
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